專利名稱：光盤的焦點位置調(diào)整方法及利用該方法的光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在光盤上記錄/再現(xiàn)信息的光盤裝置的光盤的焦點位置 調(diào)整方法及利用該方法的光盤裝置。
背景技術(shù)：
將激光束照射在圓盤狀的記錄介質(zhì)的光盤上，在光盤上記錄信息 或者將其反射光變換為電信號，讀出再現(xiàn)記錄的信息的光盤裝置，由
于近年來的HD-DVD或BD等大容量的記錄介質(zhì)的出現(xiàn)，由個人計算
機等開始，廣泛用作各種裝置的信息記錄介質(zhì)。
然而，在這種光盤裝置中，在光盤上記錄或再現(xiàn)信息時，必需調(diào)
整照射在光盤上的激光束的焦點位置。因此已知，以下的專利文獻等
記載的焦點控制裝置/方法。:日本專利特開2000-155961號公報， [專利文獻2]:日本專利特開2001-184678號公報。

發(fā)明內(nèi)容
艮口，上述專利文獻1的焦點控制裝置，在其制造的生產(chǎn)線上，預(yù) 先存儲誤差成為最小的焦點位置信息，以該焦點位置信息作為焦點位 置調(diào)整的開始點。另外，作為裝置的調(diào)整方法，再現(xiàn)記錄的數(shù)據(jù)(焦 點位置信息)，另一方面，如果未記錄該數(shù)據(jù)，則在驅(qū)動測試區(qū)域中進 行數(shù)據(jù)記錄，同時再現(xiàn)該數(shù)據(jù)。因此在誤差最小而RF信號振幅最大的 中間設(shè)定焦點位置。
另外，在上述專利文獻2的焦點控制方法中，進行如下控制，在 記錄有預(yù)先信息的區(qū)域的缺陷信息管理區(qū)(所謂的DMA (defect management aria))為未記錄的情況下，對PID區(qū)域進行再現(xiàn)，并設(shè)定 焦點位置，以使PID錯誤量成為最小，并利用驅(qū)動測試區(qū)進行信息的 記錄*再現(xiàn)，并在凸區(qū)和凹區(qū)上設(shè)定焦點位置，以使該再現(xiàn)信號的抖
動量或該再現(xiàn)信號的數(shù)據(jù)錯誤量成為最小，另外，在缺陷信息管理區(qū) 中記錄有信息的情況下，對缺陷信息管理區(qū)中的信號進行再現(xiàn)，并設(shè) 定焦點位置，以使該信號的抖動量成為最小，并進行信息的記錄或再 現(xiàn)。
然而，在上述的以往技術(shù)中，特別是在光盤的DMA (缺陷管理區(qū)
域)部分因破損或缺陷不能讀取的情況下，存在在驅(qū)動測試區(qū)記錄-再 現(xiàn)信息，調(diào)整時間長的問題。特別是在驅(qū)動測試區(qū)域中進行數(shù)據(jù)的記 錄-再現(xiàn)的方法中，記錄時的焦點位置使記錄的標記形狀變化，必需進 行調(diào)整使得在該記錄信號中的數(shù)據(jù)錯誤量最小，但仍存在得不到適當 的光束點形狀(例如最小彌散圓)的問題。
本發(fā)明是考慮上述以往技術(shù)的問題而提出的，其目的是要提供即
使在該DMA部分由于破損或缺陷不能讀取的情況下，也可以適當?shù)卣{(diào) 整焦點在光盤上的焦點位置的調(diào)整方法和利用該方法的光盤裝置。
為達到上述目的，根據(jù)本發(fā)明首先提供一種光盤的焦點位置調(diào)整 方法，是在具有記錄了光信息記錄介質(zhì)的預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記 錄介質(zhì)的記錄面上，調(diào)整光學再現(xiàn)模塊的焦點位置，并記錄或再現(xiàn)信 息的光盤的焦點位置調(diào)整方法，預(yù)先，對從光盤的記錄了上述預(yù)先信 息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息進行存儲，在 將光盤搭載在裝置中且不能對上述信息進行再現(xiàn)的情況下，利用上述 預(yù)先存儲的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息間的關(guān)系，由從上 述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個信號，來對搭載在裝置中的上 述光盤的焦點位置進行調(diào)整。
另外，為了達到上述目的，根據(jù)本發(fā)明提供一種光盤裝置，是對 在介質(zhì)的一部分上具有記錄了預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)記錄 或再現(xiàn)信息的光盤裝置，至少具有，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動搭載在裝置中的光信息 記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊；在利用上述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊進行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的 光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，照射用于記錄、再現(xiàn)信息的光束的光學 再現(xiàn)模塊；對上述光學再現(xiàn)模塊的光信息記錄介質(zhì)的半徑方向位置， 以及照射在該光信息記錄介質(zhì)的記錄面上的光束的焦點位置進行調(diào)整 的控制模塊，其中，上述控制模塊，預(yù)先對從光盤的記錄了上述預(yù)先 信息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當設(shè)定焦點位置的多個信息進行存儲，然 后，在將光盤搭載在裝置中且不能對記錄了上述預(yù)先信息的區(qū)域的信 息進行再現(xiàn)的情況下，利用上述預(yù)先存儲的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位 置的多個信息間的關(guān)系，由從上述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1 個信號，來對搭載在裝置中的上述光盤的焦點位置進行調(diào)整。
另外，在本發(fā)明中，上述光盤的焦點位置調(diào)整方法或利用該方法 的光盤裝置優(yōu)選為，預(yù)先從記錄了上述預(yù)先信息的區(qū)域得到的多個信 息包含，最密信號的振幅成為最大的焦點位置，疏信號的振幅成為最 大的焦點位置，和PID信號的振幅成為最大的焦點位置。進一步優(yōu)選 為，在將光盤搭載于裝置中且不能對記錄了上述預(yù)先信息的區(qū)域中的 信息進行再現(xiàn)的情況下，從上述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個
信號為上述PID信號。
如以上那樣，提供了即使在因該DMA部分破損或缺陷不能讀取的 情況下，頁可以適當?shù)卣{(diào)整焦點的光盤的焦點位置調(diào)整方法。利用該 方法可以提供性能優(yōu)良的光盤裝置，并具有實用上優(yōu)良的效果。


圖1為表示本發(fā)明的一個實施方式的光盤裝置的大致結(jié)構(gòu)的方框
圖2為可利用本發(fā)明的實施方式的光盤裝置對信息進行再現(xiàn) 記 錄的DVD的外觀圖3為上述圖2的DVD中的信息記錄部的凸區(qū)域和凹區(qū)域的截面
圖4為上述圖2的DVD中的凸區(qū)域和凹區(qū)域的形成格式的說明
圖5為在上述圖2的DVD中的凸區(qū)域和凹區(qū)域之間形成的坑地址 區(qū)域的一部分放大立體圖6為上述光盤裝置的光學再現(xiàn)模塊的光拾取器和處理其檢測信 號的信號處理部，以及包含其周邊部分的詳細結(jié)構(gòu)的方框圖7為在上述光盤的焦點位置調(diào)整方法的處理的流程圖8為在上述光盤的焦點位置調(diào)整方法中利用的各種焦點位置和 振幅的關(guān)系的一個例子的圖9為求得最密信號(3T信號)成為最大的焦點位置和振幅飽和 的疏信號(例如6T或其以上的寬度的信號)成為最大的焦點位置的具 體的電路結(jié)構(gòu)的一個例子的圖IO為求得表示PID信號的振幅成為最大的焦點位置的具體電路 結(jié)構(gòu)的一個例子的圖。
符號說明100:光盤(高密度光記錄介質(zhì))，
210:半導(dǎo)體激光器
220:聚光用光學透鏡，
230:半反射鏡
250:物鏡
260:受光元件(檢測器)
303、304:加法電路，
311:減法電路，
313、316: D/A
314:加法器，
317:模擬開關(guān)sw，
351:二進制化電路，
352:抖動測定電路，
354:數(shù)據(jù)解調(diào)電路，
361:PLL相位誤差檢測電路
362:積分電路
363:比較電路
400:微機。
具體實施例方式
以下，參照附圖，詳細說明本發(fā)明的實施方式。
首先參照圖1說明本發(fā)明的一個實施方式的光盤裝置的概略結(jié)構(gòu)。
圖1所示的光盤裝置為表示作為DVD"RAM等圓盤狀的高密度信息記 錄介質(zhì)的所謂可在光盤上讀寫的光盤裝置的大致結(jié)構(gòu)的方框圖。
在圖1中，符號100表示上述光盤(例如，DVD—RAM等)。另
外，符號200表示光拾取器，在其內(nèi)部構(gòu)成光學再現(xiàn)模塊，該光學再 現(xiàn)模塊例如包括，作為產(chǎn)生所希望的波長的激光的發(fā)光元件的半導(dǎo)體
激光器210;將發(fā)出的激光變?yōu)槠叫泄獾臏手蓖哥R220;將入射光引導(dǎo)
至后述的反射鏡，將反射光引導(dǎo)至后述的受光元件的半反射鏡(half mirror) 230;改變光的方向的反射鏡240，使激光收束為規(guī)定的光束直 徑并照射在上述光盤100的記錄面上的物鏡250;對來自上述半反射鏡 230的反射光進行受光并檢測的受光元件260等。
在該實施方式中，為了使物鏡250與光盤100的厚度一致，改變 焦距，通常跟蹤伺服系統(tǒng)進行工作。在這種情況下，由于穩(wěn)定點在最 優(yōu)位置，如果在透鏡移動時，向跟蹤控制系統(tǒng)施加突跳脈沖(kickpulse) 信號，則透鏡發(fā)生瞬時水平移動，快速達到另一透鏡的跟蹤穩(wěn)定點。
另外，在圖1中，符號300為信號處理部，用于將由上述光學再 現(xiàn)模塊的受光元件260檢測的反射光變換為電信號，并進行規(guī)定的處 理。該信號處理部300與為了對光盤裝置全體進行控制而設(shè)置的微型 計算機(以下簡稱為微機)400連接，并進行包括以后詳細說明的聚焦 控制的方法等的各種控制。即，該微機400與激光驅(qū)動部500、送進部 600、主軸控制部700、 二維促動器控制電路800連接，以進行各種控 制。
艮口，根據(jù)上述構(gòu)成，半導(dǎo)體激光器210為上述光學再現(xiàn)模塊的光 拾取器200的發(fā)光元件，并由微機400控制向半導(dǎo)體激光器210供給 的電流，控制其發(fā)光強度，另外，通過控制送機控制用馬達650的旋 轉(zhuǎn)，控制上述光拾取器200在光盤100的半徑方向上的位置。在該實 施方式中，作為光盤100的半徑方向上的移動機構(gòu)，由齒輪660表示， 其用于根據(jù)上述送進控制用馬達650的旋轉(zhuǎn)，使光拾取器200在半徑 方向上移動，但是，在本發(fā)明中，并不限定于此。
另外，上述微機400，通過控制旋轉(zhuǎn)驅(qū)動主軸的馬達750的旋轉(zhuǎn)， 實現(xiàn)CLV (固定線速度)或ZCLV (區(qū)域的固定線速度)控制，它們 是在上述高密度信息記錄介質(zhì)中廣泛采用的線速度一定的控制。而且， 該微機400還通過二維促動器控制電路800，利用電磁線圈850作為其 動作模塊，由電磁作用實現(xiàn)上述光拾取器200的物鏡250的焦點位置 控制。這里，利用該二維促動器控制電路800實現(xiàn)的二維位置控制，
除了與上述光盤100的記錄面垂直的方向的物鏡250的位置控制(聚 焦控制)以外，還包含通過與其成直角的半徑方向上的微小的位置調(diào) 整，用于軌道跟隨的跟蹤位置控制，而且還進行上述聚光用光學透鏡 220的控制。
而且，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)的光盤裝置，可以利用接口控制電路(圖中 沒有示出)解讀來自個人計算機等圖中沒有示出的主機(外部設(shè)備) 發(fā)出的命令或信息數(shù)據(jù)，在基于微機400的控制下，執(zhí)行信息的記錄 再現(xiàn)或查找動作等。另外，還可以利用信號處理部300進行信號變換， 通過光拾取器200，將信息記錄在光盤IOO上，而且還可以將通過受光 元件260讀入的各種信號，經(jīng)信號處理部300解調(diào)為原來的數(shù)據(jù)，對 該解調(diào)后的數(shù)據(jù)與再現(xiàn)命令對應(yīng)地，從上述接口控制電路傳送至主機。 這里，省略信息的記錄和再現(xiàn)動作的詳細說明。
其次，參照圖2 圖5，在上述信息記錄介質(zhì)中，特別詳細說明 DVD—RAM的光盤100。首先，圖2為利用光盤裝置進行信息記錄，再 現(xiàn)的光盤100的外觀圖。圖2 (a)表示其立體圖，圖2 (b)表示其平 面圖。另外，圖3為圖2所示的光盤100的信息記錄部的凸區(qū)(land) L和凹區(qū)(groove) G的截面圖。圖4為表示光盤IOO的凸區(qū)L和凹區(qū) G的形成格式的說明圖。圖5為表示在光盤100的凸區(qū)L和凹區(qū)G之 間形成的坑地址區(qū)域的一部分放大立體圖。
首先，說明圖2所示的光盤100。在這種光盤中，特別是稱為 DVD—RAM的可記錄的介質(zhì)中，在其透明的基板上的記錄層上利用相 變化由激光照射作出結(jié)晶狀態(tài)或非晶狀態(tài)的標記(坑)，這樣可以寫入 信息。另外，再通過讀取由作出標記(坑)形成的結(jié)晶非晶的光反射 率的變化，再現(xiàn)記錄在光盤100上的信息。作為圖2所示的光盤100 的一個例子，可舉出上述稱為DVD—RAM的可記錄的信息記錄介質(zhì)。 如圖2所示，其分為在其中央部分上記錄規(guī)定的控制信息等(控制數(shù) 據(jù))的ROM區(qū)域110，和其周邊的RAM區(qū)域120。如圖2 (b)所示， 上述RAM區(qū)域120作為其信息記錄部分，沿著用于在圓盤上連續(xù)記錄 信息的的螺旋狀的軌道T，為了提高記錄密度，分別形成稱為凸區(qū) (land)及凹區(qū)(groove)的區(qū)域，由此可進行信息的記錄和讀取。
另外，上述RAM區(qū)域120分割成幾個區(qū)域，具體地是在RAM區(qū)
域120的內(nèi)側(cè)和外側(cè)，具有有關(guān)裝置控制的信息的管理區(qū)域121， 122， 在其間設(shè)置讀寫用戶信息的用戶區(qū)域123。上述管理區(qū)域121和122 圖中沒有示出，但是更詳細為，分成PID區(qū)域(物理ID)，光盤測試 區(qū)，驅(qū)動測試區(qū)，缺陷信息管理區(qū)等。驅(qū)動測試區(qū)在進行預(yù)寫時，作 為寫入?yún)^(qū)域使用。缺陷信息管理區(qū)為記錄光盤的缺陷管理信息的區(qū)域， 也稱為上述的DMA區(qū)域(DMA部分)。另外，上述用戶區(qū)域123還
由在半徑方向上進行多個分割的多個區(qū)域(區(qū))構(gòu)成。
其次，圖3表示這種信息記錄部的凸區(qū)L和凹區(qū)G的截面，這些 凸區(qū)L和凹區(qū)G在圓盤狀記錄介質(zhì)100的半徑方向交替地形成，且， 在這些凸區(qū)L和凹區(qū)G中分別有由圖中虛線表示的部分標記，作與其 以外的部分不同的狀態(tài)(非晶狀態(tài)或結(jié)晶狀態(tài))記錄信息。
另外，在圖4中表示上述高密度信息記錄介質(zhì)中的上述凸區(qū)L和 凹區(qū)G的形成格式。在該圖中，凸區(qū)L用斜線部分表示，另一方面， 在這些斜線部分之間形成凹區(qū)G。而且，這些凸區(qū)L和凹區(qū)G以光盤 100的一周為單位，在凸區(qū)L和凹區(qū)G之間交替地變化形成。在該圖 中，以點劃線的部分為邊界，凸區(qū)L和凹區(qū)G切換。另外，在這些凸 區(qū)L和凹區(qū)G中，利用多個稱為區(qū)段(sector)的單位構(gòu)成，各個區(qū)段 之間利用稱為坑地址區(qū)域PA的區(qū)域進行劃分。光盤內(nèi)RAM區(qū)域120， 從內(nèi)周向著外周分為多個區(qū)域(區(qū))。在各區(qū)域內(nèi)由同一區(qū)段數(shù)構(gòu)成。
而且，在圖5中表示這些形成在凸區(qū)L和凹區(qū)G之間坑地址區(qū)域。 首先，在圖5 (a)中表示從凸區(qū)L向凹區(qū)G移行的部分(上述圖4的 點劃線部分的坑地址區(qū)域)。檢測記錄信號的激光，如圖中點劃線的箭 頭所示，從凸區(qū)L,通過坑地址區(qū)域PA，向凹區(qū)G移動。
另一方面，在圖5(b)表示從凸區(qū)L向凸區(qū)L移行的部分。這里， 檢測記錄信號的激光，如圖中的點劃線箭頭所示，從凸區(qū)L通過坑地 址區(qū)域PA，向下一個凸區(qū)L移動。從凹區(qū)G向另一凹區(qū)G移動時， 與上述同樣，也通過坑地址區(qū)域PA。
在以上說明的光盤100中，信息交替地記錄在高度不同的凸區(qū)L 和凹區(qū)G中。由于這樣，為了可靠地從這種光盤100再現(xiàn)信息，必需 利用光學方法，分別對高度不同的凸區(qū)L和凹區(qū)G最優(yōu)地控制，作為 利用激光的反射，再現(xiàn)信息的光學由現(xiàn)裝置的光拾取器，特別是使激
光在記錄介質(zhì)表面收束照射的光學透鏡(物鏡)的焦點位置。另外，
由于檢測系統(tǒng)的像差，必需分別在凸區(qū)和凹區(qū)上加不同的偏移(offset)。 又，從圖可以看出，同時利用多個坑列P， P…，在上述坑地址區(qū)域PA 的兩側(cè)記錄上述光盤100上的地址編號。由于這樣，為了從光盤100 再現(xiàn)信息，必需正確地檢測坑地址區(qū)域PA上的這些多個坑P。
因此，在從上述光盤100再現(xiàn)信息時，進行最優(yōu)地控制上述光學 再現(xiàn)模塊的光學透鏡的焦點位置的所謂最優(yōu)位置控制是重要的，同時 必需可靠地檢測記錄上述坑地址區(qū)域PA的地址編號的坑列P。另外， 上述圖3 6中沒有示出，但在凸區(qū)L和凹區(qū)G的半經(jīng)方向的邊界上， 以一定的頻率為中心調(diào)制地址信息，形成蜿蜓的(半徑方向的微少量 搖動)凹區(qū)方式。通過擺動檢測電路(圖中沒有示出)檢測每旋轉(zhuǎn)一 周的擺動個數(shù)，可以通過上述主軸控制部700高效率而且穩(wěn)定對馬達 750進行旋轉(zhuǎn)控制。
另外，上述坑地址區(qū)域PA在圓周方向分為二個，分別設(shè)置坑列P。 通過比較從二個坑列P得到的ID信號，可以確定相鄰的區(qū)段的數(shù)據(jù)。
其次，在圖6中表示在本發(fā)明的一個實施方式中，對上述光盤進 行記錄，再現(xiàn)的光盤裝置，特別是作為光學再現(xiàn)模塊的光拾取器200的 受光元件260或處理其檢測信號的信號處理部300及其周邊部分的詳 細結(jié)構(gòu)。
從圖6可看出，受光元件260分割為4個檢測部分A,B，C，D。由上 述光盤100的記錄面反射，并入射在受光元件260上的反射光，利用 上述分割的各個檢測部分而分別變換為電信號輸出。將從上述分割的 各個檢測部分A，B，C，D的輸出，輸入至加法電路301 304，分別進行 (A+C)， (B+D)， (A+D)， (B+C)的加法運算。再將從上述加法電路 301和302的輸出，輸入至加法電路305，由此，輸出對來自上述各檢 測部分A,B,C，D的全部輸出進行加法運算后的(A+B+C+D)的信號(FR 信號)。
再將來自上述加法電路301和302的輸出同時輸入至減法電路 306，由此，在該輸出中輸出由((A+C) -(B+D))表示的用于跟蹤控 制的信號，即跟蹤誤差信號TE。
另一方面，該跟蹤誤差信號TE同時通過低通濾波器(LPF) 308
后，利用加法器309與來自D/A變換器310的偏移值進行加法運算。 為了進行凹區(qū)G中的跟蹤控制，首先利用反轉(zhuǎn)電路312使跟蹤誤差信 號TE的極性反轉(zhuǎn)，然后，通過開關(guān)元件315輸出至上述二維促動器控 制電路800。另一方面，為了進行凸區(qū)L的跟蹤控制，在其后通過開關(guān) 元件318，輸出至上述二維促動器控制電路800。其中，在其一方的開 關(guān)元件，即通過凸區(qū)L的跟蹤誤差信號的開關(guān)元件318中，經(jīng)由反轉(zhuǎn) 電路312輸入上述L/G切換信號。g卩，由此，根據(jù)跟蹤誤差信號TE， 交替地將凸區(qū)L的跟蹤控制信號和凹區(qū)G的跟蹤控制信號輸出至上述 二維促動器控制電路800。該輸出成為用于進行跟蹤控制的TR信號， 利用上述圖1的送進控制部600控制光拾取器200的半徑方向的位置。 在D/A變換部310中，從上述微機400經(jīng)由其A/D變換部施加偏離值。 這里，由于與本這明的關(guān)系不大，省略其詳細說明。
另外，將從上述加法電路303， 304輸出的信號(A+D)和(B+C) 輸入減法電路311，這樣，得到由((A+D) - (B+C))表示的聚焦誤 差信號FE。而且，聚焦誤差信號FE分成上述凸區(qū)L的聚焦誤差信號 FE和凹區(qū)G的聚焦誤差信號FE來處理，然后，通過二維促動器控制 電路800，控制上述光拾取器200的物鏡250的焦點位置(與光盤100 的表面垂直的方向)。
艮口，作為來自減法電路311的輸出的聚焦誤差信號FE ((A+D)-(B+C))，利用加法器314加聚焦偏移，輸出至二維促動器控制電路 800。在D/A313和D/A316中的凹區(qū)G、凸區(qū)L的偏移設(shè)定，通過模 擬開關(guān)SW317加在加法器314上。而且，在D/A變換器313， 316中， 由微機400施加上述凹區(qū)G和凸區(qū)L的聚焦控制用的偏移值。另外， 在上述模擬開關(guān)SW317的控制輸入中，仍輸入從微機400輸出的切換 控制信號，即凸區(qū)L/凹區(qū)G的切換信號。
另外，通過上述D/A變換器313， 316對聚焦誤差信號FE進行加 法運算的偏離值，在本發(fā)明中，成為在將光學透鏡的焦點位置控制在 最優(yōu)位置而采用的學習控制中所學習的、結(jié)果發(fā)生變動的變數(shù)。而且， 作為該光盤裝置的制品在出廠時等，初始設(shè)定為預(yù)先規(guī)定的值。該初 始設(shè)定值記錄在作為上述微機400的記錄裝置的EPROM等中。然后， 來自上述加法電路305的和信號(A+B+C+D)，通過高通濾波器(HPF)
320，低通濾波器(LPF) 321，并經(jīng)過二進制化電路351，由數(shù)據(jù)解調(diào) 電路354解調(diào)信息記錄數(shù)據(jù)，在微機400中，讀入作為來自光盤100 的讀取數(shù)據(jù)。另外，在本實施方式中，與數(shù)據(jù)解調(diào)同時，在微機400 中分別通過355， 356讀入ECC錯誤計數(shù)和PID錯誤計數(shù)。如后所述， 抖動(jitter)測定電路352，將基于二進制化電路351輸出的抖動量的 數(shù)據(jù)變換為抖動錯誤脈沖數(shù)而輸出。該脈沖數(shù)通過抖動錯誤脈沖計數(shù) 器353讀入微機400。
然而， 一般當利用上述以往技術(shù)的光盤裝置，對記錄在光盤上的 信息進行記錄 再現(xiàn)時，對記錄在作為信息記錄區(qū)域的一部分的上述 缺陷信息管理區(qū)(DMA區(qū)域)中的數(shù)據(jù)(焦點位置信息)進行再現(xiàn)， 并進行焦點位置的最優(yōu)位置控制。然而，在該區(qū)域中沒記錄(未記錄) 該數(shù)據(jù)的情況下，則在驅(qū)動測試區(qū)域進行數(shù)據(jù)的記錄，同時，再現(xiàn)該 記錄的數(shù)據(jù)，并使誤差最小，而且在RF信號振幅成為最大的中間，設(shè) 定焦點位置(上述專利文獻l)?；蛘撸谏鲜鋈毕菪畔⒐芾韰^(qū)(DMA 區(qū)域)中記錄信息的情況下，設(shè)定焦點位置，以使對記錄在該區(qū)域中 的信號進行再現(xiàn)，且信號的抖動量或數(shù)據(jù)錯誤量成為最?。涣硪环矫?， 在DMA區(qū)域為未記錄的情況下，再現(xiàn)PID區(qū)域，設(shè)定焦點位置，以 使PID的誤差量成為最?。贿€對驅(qū)動測試區(qū)中的信息進行記錄，再現(xiàn)， 并設(shè)定凸區(qū)域和凹區(qū)域上的焦點位置，以使該再現(xiàn)信號的抖動量或該 再現(xiàn)信號的數(shù)據(jù)錯誤量成為最小(上述專利文獻2)。
但是，如上所述，當上述缺陷信息管理區(qū)(DMA區(qū)域)因破損或 缺陷而不能再現(xiàn)的情況下，不能調(diào)整聚焦。因此，在本發(fā)明中，預(yù)先 在生產(chǎn)線中存儲，作為焦點位置調(diào)整的結(jié)果的焦點位置(Padj)，和PID (物理標識Physical Identification)信號電平成為最大的焦點位置 (PPIDmaX)的信息。然后，在利用該缺陷信息管理區(qū)(DMA區(qū)域) 的振幅信息調(diào)整焦點位置的情況下，特別是在該DMA區(qū)域因破損或缺 陷而不能再現(xiàn)的情況下，例如，利用上述預(yù)先記錄的信息(Padj及 PPIDmax)，和搭載光盤后實際上使焦點位置可變(即，在使焦點位置控 制電路閉合的狀態(tài)下)并使上述PID信號電平成為最大的焦點位置， 來設(shè)定適當?shù)慕裹c位置。
而且，在本發(fā)明中，作為求得最優(yōu)的焦點位置的方法有，找到DMA
區(qū)域中的最密信號(例如3T-3T信號)的振幅成為最大(max)的焦點 位置，和疏信號(例如6T或其以上的寬度的信號(作為一個例子8T-8T 信號))的振幅成為最大(或飽和)的焦點位置，在它們之間設(shè)定焦點 位置(例如，其中間值)。在最密信號成為最大的情況下，存在光點寬 度在軌道行進方向上變小，而在與軌道垂直方向上加寬的可能。在最 疏信號成為最大的情況下，存在光點寬度大，而在與軌道垂直的方向 上變窄的可能。在其間存在，軌道行進方向和垂直的方向同時都小， 而成為適合記錄再現(xiàn)的所謂最小彌散圓的焦點位置。而且此時，在該 DMA區(qū)域(部分)因破損或缺陷不能再現(xiàn)的情況下，不能進行調(diào)整， 因此采用對策。
艮口，例如在生產(chǎn)線等上，預(yù)先在例如構(gòu)成上述微機400的一部分 的存儲器內(nèi)存儲，在DMA區(qū)域中使焦點位置可變(由焦點位置控制電 路)得到的、上述密信號成為最大(max)的焦點位置(P密信號max)， 和上述疏信號成為最大(max)的焦點位置(P疏信號max)，以及PID 信號的振幅成為最大(max)的焦點位置(PPIDmax)的信息。
然后，在將光盤搭載在裝置內(nèi)并進行記錄，再現(xiàn)動作的情況下，再 現(xiàn)記錄在DMA區(qū)域中的數(shù)據(jù)(焦點位置信息)，進行焦點位置的最優(yōu) 位置控制。但是，其結(jié)果是，在該DMA區(qū)域中有缺陷的情況下，在搭 載光盤后，進行圖7所示的處理。在上述微機400中，利用存儲在其 一部分的存儲器內(nèi)的軟件執(zhí)行該處理。
在圖7中，當處理開始時，首先判定該DMA區(qū)域中是否有缺陷(即 是否因破損或缺陷而不能再現(xiàn))(S71)。其結(jié)果，在沒有缺陷(NO)， 即該(DMA區(qū)域)的缺陷信息管理信息可以讀取的情況下，利用其振 幅信息執(zhí)行通常的焦點位置調(diào)整(S72)。
另一方面，在上述判定(S71)的結(jié)果為，判定在該DMA區(qū)域中 有缺陷(YES)的情況下，首先，使焦點位置可變(由焦點位置控制 電路)求得該DMA區(qū)域中的PID信號電平成為最大(max)的焦點位 置(S73)。其次，如以下那樣，由上述預(yù)先記錄的(1)上述密信號成 為最大(max)的焦點位置(P密信號max), (2)上述疏信號電平成 為最大(max)的焦點位置(p疏信號max)，和(3) PID信號電平成 為最大(max)的焦點位置(PPIDmax)的信息，求得作為焦點位置調(diào) 整結(jié)果的焦點位置(Padj)和PID (物理標識)信號電平最大(max) 的焦點位置(PpIDmaX)之間的關(guān)系(例如差分)(S74)。 (P密信號max + P疏信號max) /2-PPIDmax=AP。
而且，在圖8中表示上述DVD-RAM的上述各種焦點位置和振幅 的關(guān)系的一個例子。圖中的"L"表示凸區(qū)的焦點位置，"G"表示凹區(qū)的 焦點位置。而且如上所述，這些有關(guān)焦點位置的信息(調(diào)整值)保持 在EEPROM等存儲器內(nèi)。
然后，在搭載于裝置內(nèi)的光盤的DMA區(qū)域屮，使焦點位置可變， (山焦點位置控制電路(lo叩))求得PID信號電平成為最大(max) 的焦點位置(PPIDmax') (S75)。然后，考慮(修正)由上述得到的調(diào) 整焦點位置的結(jié)果的焦點位置(Padj)和PID信號的電平成為最大(max) 的焦點位置(PPIDmax)之間的關(guān)系(差分-AP)，并如下那樣，設(shè)定 該搭載的光盤的焦點位置P (S76)，從而結(jié)束一系列的處理。
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艮口，調(diào)整預(yù)先求出的焦點位置的結(jié)果的焦點位置(Padj)，即P密 信號max與PPIDmax，以及PID信號的電平成為最大(max)的焦點 位置(PPIDmax)之間的關(guān)系，具體地說為，若其間的差分(=AP)，則 即使在搭載于裝置內(nèi)的光盤的該DMA區(qū)域中有缺陷的情況下，因為可 在該DMA區(qū)域中檢測上述PID信號，因此可以求得其電平成為最大 (max)的焦點位置(PPIDmax)。然后，由此，可根據(jù)由預(yù)先求出的結(jié) 果而求得的上述關(guān)系(差分二AP)，適當?shù)卣{(diào)整所搭載的光盤上的焦點 位置。
通常，在裝置的生產(chǎn)線上，搭載測試用光盤進行在焦點位置調(diào)整， 然后通過進行記錄，再現(xiàn)，進行該裝置的性能測試。這時，通常，焦點 位置調(diào)整的判定是根據(jù)記錄，再現(xiàn)動作產(chǎn)生的錯誤率(error rate)來確 認是否得到良好的記錄，再現(xiàn)。在錯誤率不好的情況下，在記錄的區(qū)域 中，使焦點位置可變，再進行再現(xiàn)，以使錯誤率為最小。在本發(fā)明中， 優(yōu)選為，以預(yù)先在生產(chǎn)線上，存儲作為焦點位置調(diào)整的結(jié)果的焦點位 置(Padj)和PID (物理標識)信號電平成為最大(max)的焦點位置 (PPIDmax)的信息(關(guān)系)為目的，在該狀態(tài)再次進行測試，同時記錄 其焦點位置。
艮P，在記錄錯誤率最小(min)的信息的情況下，有必要在對發(fā)生 串話(crosstalk)的相鄰軌道進行記錄的區(qū)域中進行聚焦調(diào)整。在這種 情況下，主要是在光點在與軌道垂直的方向?qū)挼那闆r下發(fā)生。然而， 在上述DMA區(qū)域中，由于在相鄰的兩個軌道(凸區(qū)域和凹區(qū)域)上不 進行記錄，因此在這種裝置中，不能進行適當調(diào)整。與此相對，在生 產(chǎn)線上測試時，因為在數(shù)十個軌道以上進行記錄，再現(xiàn)，因此存在對相 鄰軌道進行記錄的區(qū)域，可以更適當?shù)剡M行調(diào)整。
另外，在上述例子中，由搭載后進行調(diào)整的焦點位置(PPIDmax)， 考慮上述差異成分(例如，加法運算或減法修正)而對焦點位置進行 設(shè)定，但是，特別是在對上述的DVD-RAM等在串話大的高密度信息 記錄介質(zhì)進行記錄，再現(xiàn)的裝置中，不能只用從光盤表面得到的信號電 平(例如RF信號)設(shè)定適當?shù)慕裹c位置。
而且，在上述例子中，作為由DMA區(qū)域中的最密信號(3T信號) 成為最大的聚焦位置，和振幅飽和的疏信號(例如6T或其以上寬度的 信號)成為最大的焦點位置求得最優(yōu)的焦點位置的方法，如上所述， 說明了對記錄信號影響沒有影響的調(diào)整方法，S卩，測定密信號和長標 記或長空白的信號(疏信號)的各振幅成為最大的焦點位置，并在其 中間調(diào)整為光點直徑成為最小的彌散圓的最優(yōu)的焦點位置。然而，也 存在利用光拾取器，使最小彌散圓，和密信號成為最大的焦點位置一 致的情況。因此，將焦點位置調(diào)整設(shè)定為密信號成為最大的位置和疏 信號成為最大的位置的中間的何位置，可利用光拾取器特性進行評價 及最終設(shè)定。例如，除了上述例子以外，可在密信號成為最大的位置 和疏信號成為最大的位置之間，調(diào)整為2: 1比例的位置。
另外，在圖9中表示用于求得最密信號(3T信號)成為最大(max) 的焦點位置，和振幅飽和的疏信號(例如6T或其以上的寬度的信號) 成為最大(max)的焦點位置的具體的電路結(jié)構(gòu)的一個例子。在圖10 中表示用于求得PID信號的振幅成為最大(max)的焦點位置的具體 的電路結(jié)構(gòu)的一個例子。
另外，由于密信號和疏信號成為最大的焦點位置與記錄信號品質(zhì) 無關(guān)，而相同，因此即使為記錄功率不適合的錯誤(error)多的信號， 也可適當?shù)剡M行調(diào)整。特別是在DVD-RAM中，在市售的光盤上設(shè)置
有預(yù)先記錄的DMA (缺陷管理區(qū)域defect management aria)區(qū)域。 這是記錄稱為主要缺陷清單(Primary defect list: PDL)和次要缺陷清 單(secondary defect list: SDL)的交換(交替)信息的地方，在光盤 的最內(nèi)周上有2個，在最外周上也有二個。在有驗證(Verify)狀態(tài)下 對該部分進行記錄時，在記錄區(qū)域上有缺陷，其結(jié)果，在空白區(qū)域中 進行改寫，此時為了更新信息而需要對其進行改寫。即如果在這個區(qū) 域中進行焦點位置調(diào)整，則也可以在購入的空白(Blank)(未記錄) 盤上進行調(diào)整。
而且，在這個區(qū)域中進行調(diào)整時的問題是，由于該區(qū)域為受限的 部分，在因為傷痕或污染欠缺的情況下，不能調(diào)整。作為與這個問題 對應(yīng)的方法，如在上述以往技術(shù)中那樣，有在光盤測試區(qū)域記錄，在 該部分上調(diào)整的方法。然而，利用這種方法，在裝置達到可以記錄再 現(xiàn)狀態(tài)，即準備好狀態(tài)前需要時間、使用方便性惡化。
在本發(fā)明中，焦點位置調(diào)整時，除了密信號和疏信號的振幅成為 最大的焦點位置以外，還優(yōu)選偏移該位置以便不受損傷或污染的影響， 而對可取得的信號和焦點位置的信息進行取得。而且，例如，除上述 PID(物理ID)信號的振幅，還考慮擺動(wobble)振幅或推挽(push-pull) 振幅。特別是，作為本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，優(yōu)選取得上述PID信號 的VFO (4T-4T重復(fù)信號、Date PLL (數(shù)據(jù)推挽)相位同步用)部分 的振幅(PID二VFO振幅)成為最大的焦點位置的信息。而且，該PID 信號作為DVD-RAM盤的RAM區(qū)域的地址用信號，是預(yù)寫入 (prewrite)的信號，在光盤的全部表面上，設(shè)置于各個區(qū)段(sector) 的每一個(全部為2376143個區(qū)段)。
另外，當進行上述焦點位置調(diào)整時，將密信號成為最大、疏信號 成為最大以及PID-VFO成為最大的焦點位置，記錄在例如EEPROM 等非易失性存儲器中，然后，可以利用密信號成為最大和疏信號成為 最大的位置的規(guī)定比率，設(shè)定為焦點位置。又如上所述，焦點位置調(diào) 整可在光盤的最內(nèi)周和最外周上進行調(diào)整，在其間，優(yōu)選由其結(jié)果設(shè) 定為線形，另外，由于基本上在生產(chǎn)線上進行測試時進行，沒有上述 DMA欠缺，調(diào)整可正常地結(jié)束。然而，在上述DMA欠缺的情況下， 可以設(shè)定為PID-VFO最大的焦點位置。然后，如果搭載光盤時，上述
DMA沒有欠缺，則與上述同樣，進行測定，并利用密信號成為最大和 疏信號成為最大的規(guī)定比率，設(shè)定為焦點位置。
權(quán)利要求
1. 一種光盤的焦點位置調(diào)整方法，是在具有記錄了光信息記錄介質(zhì)的預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，調(diào)整光學再現(xiàn)模塊的焦點位置，并記錄或再現(xiàn)信息的光盤的焦點位置調(diào)整方法，其特征在于預(yù)先，對從光盤的記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息進行存儲，在將光盤搭載在裝置中且不能對上述信息進行再現(xiàn)的情況下，利用所述預(yù)先存儲的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息間的關(guān)系，由從所述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個信號，來對搭載在裝置中的所述光盤的焦點位置進行調(diào)整。
2. 如權(quán)利要求1所述的光盤的焦點位置調(diào)整方法，其特征在于 預(yù)先從記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域得到的多個信息包含，最密信號的振幅成為最大的焦點位置，疏信號的振幅成為最大的焦點位置， 和PID信號的振幅成為最大的焦點位置。
3. 如權(quán)利要求2所述的光盤的焦點位置調(diào)整方法，其特征在于 在將光盤搭載于裝置中且不能對記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域中的信息進行再現(xiàn)的情況下，從所述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個 信號為所述PID信號。
4. 一種光盤裝置，是對在介質(zhì)的一部分上具有記錄了預(yù)先信息的 區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)記錄或再現(xiàn)信息的光盤裝置，其特征在于，至 少具有，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動搭載在裝置中的光信息記錄介質(zhì)的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊； 在利用所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動模塊進行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，照射用于記錄、再現(xiàn)信息的光束的光學再現(xiàn)模塊；對所述光學再現(xiàn)模塊的光信息記錄介質(zhì)的半徑方向位置，以及照射在該光信息記錄介質(zhì)的記錄面上的光束的焦點位置進行調(diào)整的控制 模塊，其中，所述控制模塊，預(yù)先對從光盤的記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域得到 的、有關(guān)適當設(shè)定焦點位置的多個信息進行存儲，然后，在將光盤搭 載在裝置中且不能對記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域的信息進行再現(xiàn)的情 況下，利用所述預(yù)先存儲的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息間 的關(guān)系，由從所述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個信號，來對搭 載在裝置中的所述光盤的焦點位置進行調(diào)整。
5. 如權(quán)利要求4所述的光盤裝置，其特征在于在所述控制模塊中，預(yù)先從記錄了所述預(yù)先信息區(qū)域得到的多個 信號包含，最密信號的振幅成為最大的焦點位置，疏信號的振幅為最 大的焦點位置，和PID信號的振幅成為最大的焦點位置。
6. 如權(quán)利要求5所述的光盤裝置，其特征在于-在將光盤搭載于裝置中且不能對記錄了所述預(yù)先信息的區(qū)域中的 信息進行再現(xiàn)的情況下，在所述控制模塊中，從所述光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個信號為所述PID信號。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤的焦點位置調(diào)整方法及利用該方法的光盤裝置，即使DMA部分因破損或缺陷不能讀取的情況下，可以適當?shù)剡M行聚焦調(diào)整。是在具有記錄了光信息記錄介質(zhì)的預(yù)先信息的區(qū)域的光信息記錄介質(zhì)的記錄面上，調(diào)整光學再現(xiàn)模塊的焦點位置，并記錄或再現(xiàn)信息的光盤的焦點位置調(diào)整方法中，預(yù)先，對從光盤的記錄了預(yù)先信息的區(qū)域得到的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息進行存儲，在將光盤搭載在裝置中且不能對上述信息進行再現(xiàn)的情況下，利用預(yù)先存儲的、有關(guān)適當設(shè)定的焦點位置的多個信息間的關(guān)系，由從光盤得到的有關(guān)焦點位置的至少1個信號，來對搭載在裝置中的光盤的焦點位置進行調(diào)整。
文檔編號G11B7/09GK101377932SQ20081012811
公開日2009年3月4日 申請日期2008年7月3日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月27日
發(fā)明者原井充, 山田敦史, 川嶋徹, 星倫哉 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司