專利名稱：用于比特圖形化介質(zhì)的基于區(qū)域的時(shí)序恢復(fù)的制作方法
用于比特圖形化介質(zhì)的基于區(qū)域的時(shí)序恢復(fù)
背景技術(shù)：
與常規(guī)磁記錄相比，比特圖形化介質(zhì)(BPM)上的磁記錄被視為一種增大區(qū) 域記錄密度的方式，同時(shí)能避免超順磁性限制的問(wèn)題。記錄介質(zhì)的表面包括島 和槽的陣列。不同的幾何形狀有可能用于比特島位置，包括交錯(cuò)的幾何形狀。
在比特圖形化介質(zhì)中，盤片上的磁性材料被圖形化成隔離的小塊或島，使 得在每一個(gè)島或"比特"中有單個(gè)磁疇。單個(gè)磁疇可以是單個(gè)晶?；蚨鄠€(gè)強(qiáng)耦 合的晶粒，它們作為單個(gè)磁體一致地切換磁狀態(tài)。這與連續(xù)介質(zhì)形成對(duì)比，在 連續(xù)介質(zhì)中單個(gè)"比特"可以具有多個(gè)由疇壁隔開的磁疇。該介質(zhì)可以被構(gòu)造
成使得在多個(gè)塊之間的區(qū)域中沒有磁性材料。
在使用連續(xù)介質(zhì)的磁記錄系統(tǒng)中，沒有必要使數(shù)據(jù)的寫入與介質(zhì)的位置同 步。因此，使用自由運(yùn)行的時(shí)鐘來(lái)寫入數(shù)據(jù)，并且在讀取過(guò)程中恢復(fù)出采樣實(shí) 例。然而，對(duì)于比特圖形化介質(zhì)，待寫入的比特的位置是預(yù)定的(即，在比特 島上)，并且需要寫入同步過(guò)程。

發(fā)明內(nèi)容
在一個(gè)方面中，本發(fā)明提供了一種方法，該方法包括根據(jù)位于比特圖形 化介質(zhì)的多個(gè)區(qū)域中的多個(gè)島，產(chǎn)生比特檢測(cè)信號(hào)；處理比特檢測(cè)信號(hào)以產(chǎn)生 同步信號(hào)，其中這種處理依賴于含多個(gè)島的區(qū)域中的島的特性；以及使用同步
信號(hào)來(lái)控制對(duì)比特圖形化介質(zhì)的寫入的時(shí)序。
在另一個(gè)方面，本發(fā)明提供了一種裝置，該裝置包括比特圖形傳感器， 它根據(jù)位于比特圖形化介質(zhì)的多個(gè)區(qū)域中的多個(gè)島產(chǎn)生比特檢測(cè)信號(hào)；用于處
理比特檢測(cè)信號(hào)以產(chǎn)生同步信號(hào)的電路，其中這種處理依賴于含多個(gè)島的區(qū)域
中的島的特性；以及寫入驅(qū)動(dòng)器，它使用同步信號(hào)來(lái)控制對(duì)比特圖形化介質(zhì)的 寫入的時(shí)序。
在閱讀下面的詳細(xì)描述時(shí)，這些和各種其它特征和優(yōu)點(diǎn)將很明顯。


圖1是數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備的多個(gè)部分的示意圖。 圖2是比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖。 圖3是圖2的比特圖形化介質(zhì)的橫截面圖。 圖4是時(shí)序恢復(fù)電路的框圖。
圖5是以數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤片為形式的比特圖形化介質(zhì)的示意圖。
圖6是以數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤片為形成的另一個(gè)比特圖形化介質(zhì)的示意圖。
圖7是比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖。
圖8是比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖。
圖9是比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明一般涉及包括比特圖形化磁存儲(chǔ)介質(zhì)的磁存儲(chǔ)設(shè)備，其中每一個(gè)數(shù) 據(jù)比特都以磁隔離塊的形式被存儲(chǔ)在介質(zhì)上。在這種磁存儲(chǔ)設(shè)備中，根據(jù)多個(gè) 島在介質(zhì)中的位置，來(lái)控制寫入數(shù)據(jù)的時(shí)序。在一個(gè)方面中，本發(fā)明提供了一 種在包括比特圖形化介質(zhì)(BPM)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備中進(jìn)行時(shí)序恢復(fù)的方法和裝置。
圖1是數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備10的多個(gè)部分的示意圖，其中包括支架或浮動(dòng)塊12 以及相關(guān)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)14。在本示例中，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)是比特圖形化介質(zhì)， 它包括多個(gè)由溝槽18隔開的磁性材料的島16，溝槽18可以用非磁性材料來(lái)填充。
浮動(dòng)塊根據(jù)已知技術(shù)定位于存儲(chǔ)介質(zhì)的表面附近，并且包括寫入頭20和 讀取頭22。寫入頭包括寫入換能器24，寫入換能器24對(duì)存儲(chǔ)介質(zhì)施加磁場(chǎng)以 控制這些島的磁化方向。讀取頭包括傳感器26，比如磁阻(MR)傳感器、巨磁阻 (GMR)傳感器、或隧穿磁阻(TMR)傳感器，傳感器26根據(jù)磁化的島所產(chǎn)生的磁 場(chǎng)而產(chǎn)生模擬電壓信號(hào)。臂28可以用于使浮動(dòng)塊相對(duì)于介質(zhì)而定位。根據(jù)已 知的伺服技術(shù)可以控制該臂。
在正常操作期間，浮動(dòng)塊在軌道(若比特圖形是交錯(cuò)的，則是一對(duì)子軌道)上飛行，其中軌道包括多個(gè)由溝槽隔開的比特島。寫入頭在離這些島足夠近之 處穿行從而根據(jù)正寫入的信息比特使整個(gè)比特島磁化成期望的極化狀態(tài)(比 如，上或下)。然而，寫入頭場(chǎng)沒有充分穿透這些溝槽，沒有信息被寫入到這 些溝槽中。這些溝槽有效地充當(dāng)相鄰比特之間穩(wěn)定的疇壁邊界。
讀取頭和寫入頭連接到控制電路30，控制電路30包括寫入通道和讀取通
道34，寫入通道包括寫入驅(qū)動(dòng)器32以便將電壓或電流寫入脈沖傳遞到寫入頭， 而讀取通道34則處理由讀取頭所產(chǎn)生的信號(hào)。時(shí)序恢復(fù)電路36使用讀取信號(hào) 來(lái)提供控制信號(hào)，該控制信號(hào)可以被用于調(diào)節(jié)寫入脈沖的時(shí)序。伺服電路38 將附加的信息提供給時(shí)序恢復(fù)電路。
盤片驅(qū)動(dòng)器包括用于使讀取頭/寫入頭定位的旋轉(zhuǎn)式音圈電機(jī)(VCM)致動(dòng) 器。伺服控制系統(tǒng)接收由讀取頭/寫入頭從數(shù)據(jù)軌道中讀取的伺服定位信息，通 常該信息來(lái)自在軌道上大致徑向延伸的等角間隔伺服扇區(qū)。伺服控制系統(tǒng)為 VCM產(chǎn)生控制信號(hào)以使讀取頭/寫入頭保持在軌道上并將它們移至期望的軌道 以便讀取和寫入數(shù)據(jù)。伺服扇區(qū)也包括伺服時(shí)序標(biāo)記(STM)，用于指出伺服扇 區(qū)的起始處?？梢允褂帽忍貚u來(lái)產(chǎn)生一個(gè)用于寫入時(shí)鐘的基準(zhǔn)數(shù)字信號(hào)，它控 制來(lái)自盤片驅(qū)動(dòng)寫入頭的寫入脈沖的時(shí)序。
由伺服提供給時(shí)序恢復(fù)電路的附加信息可以指定浮動(dòng)塊和/或讀取傳感器 以及寫入傳感器相對(duì)于比特圖形化存儲(chǔ)介質(zhì)的位置。該信息在已知的伺服系統(tǒng) 中是可用的，并且可以被用于識(shí)別在該介質(zhì)上這些島具有共同特性的區(qū)域。
控制電路可以包含與本說(shuō)明書并無(wú)特別關(guān)聯(lián)的其它元件，因此都沒有示 出。寫入通道可以與控制電路中的其它組件和/或總線40上的主機(jī)設(shè)備相連。 讀取通道可以與控制電路中的其它組件和/或總線42上的主機(jī)相連。
比特圖形化記錄的實(shí)現(xiàn)過(guò)程中的挑戰(zhàn)是時(shí)序恢復(fù)或同步。寫入驅(qū)動(dòng)器需要 知道比特島的位置以便在寫入換能器在軌道上穿行時(shí)能精確地切換寫入場(chǎng)。相 似的是，讀取傳感器需要從回讀波形中恢復(fù)出正確的采樣瞬間。寫入同步方面 的故障可能導(dǎo)致比特的插入/刪除錯(cuò)誤以及非故意的比特翻轉(zhuǎn)。
圖2是比特圖形化介質(zhì)50的示意性平面圖。該介質(zhì)包括多個(gè)由溝槽54隔 開的磁性材料的島52。在本示例中，這些島按一種交錯(cuò)的配置排列以形成數(shù)據(jù) 軌道56，該軌道56由兩個(gè)子軌道58和60組成。傳感器62定位在軌道附近。
傳感器可以是圖1所示的讀取傳感器、或單獨(dú)的傳感器，該傳感器根據(jù)比特島 在該傳感器附近穿行或根據(jù)比特島存在于該傳感器附近而產(chǎn)生信號(hào)。這種傳感
器的示例包括磁阻(MR)傳感器、巨磁阻(GMR)傳感器、隧穿磁阻(TMR)傳感器、 熱傳感器、或電容傳感器。在這種描述中，傳感器62被稱為比特圖形傳感器， 無(wú)論它是圖l所示的讀取傳感器還是單獨(dú)的傳感器。單獨(dú)的傳感器可以被安裝 在浮動(dòng)塊上。
圖3是圖2的比特圖形化介質(zhì)的橫截面圖。磁島排列在記錄層64中，基 板66支撐著記錄層64。也可以包括其它層，比如散熱層68。為了形成平整化 介質(zhì)，非磁介電材料可以被置于這些島之間的溝槽之中。在非平整化的介質(zhì)中， 這些島可以被間隔開，同時(shí)這些島之間的空間中沒有任何固體材料。比特圖形 傳感器62定位于介質(zhì)上的一軌道附近。
在一個(gè)示例中，在與介質(zhì)表面相平行或相一致的平面中，這些島可以具有 正方形的橫截面形狀。這些島可以是磁性材料，溝槽中的介電材料可以是Si02。 應(yīng)該理解，這些島可以具有其它橫截面形狀，并且這些形狀可能不是均勻的。
在介質(zhì)相對(duì)于比特圖形傳感器移動(dòng)時(shí)，比特圖形傳感器可以根據(jù)來(lái)自磁化 的島的磁場(chǎng)，產(chǎn)生一個(gè)比特檢測(cè)信號(hào)。然后，控制電路處理該比特檢測(cè)信號(hào)以 產(chǎn)生同步信號(hào)，可以使用該同步信號(hào)來(lái)控制被傳遞給寫入頭的寫入脈沖的時(shí) 序。
圖4是時(shí)序恢復(fù)電路70的框圖。該時(shí)序電路包括前端和低通濾波器76， 該前端包括到通道74的輸入72。通道74可以是圖1的通道34。比特圖形傳 感器所產(chǎn)生的信號(hào)是二進(jìn)制信號(hào)^，該信號(hào)是通過(guò)該通道傳遞的，從而產(chǎn)生一 個(gè)接收信號(hào)"z)。低通濾波器對(duì)該接收信號(hào)進(jìn)行濾波以產(chǎn)生經(jīng)濾波的信號(hào)s(力。 然后，如采樣開關(guān)78所示，經(jīng)濾波的信號(hào)被采樣以便在線路80上產(chǎn)生采樣信
號(hào)h。均衡器82對(duì)該采樣信號(hào)進(jìn)行處理以便在線路84上產(chǎn)生一個(gè)均衡信號(hào)z 。 然后，在檢測(cè)器86中檢測(cè)到了均衡信號(hào)以產(chǎn)生一個(gè)輸出信號(hào)^。該輸出信號(hào)
可以用作同步信號(hào)，寫入驅(qū)動(dòng)器可以使用該同步信號(hào)來(lái)控制被傳遞給寫入頭的 寫入脈沖的時(shí)序。時(shí)序誤差檢測(cè)器88使用該均衡信號(hào)和輸出信號(hào)&從而在線
路90上產(chǎn)生誤差信號(hào)。環(huán)路濾波器92對(duì)該誤差信號(hào)進(jìn)行濾波，并且使用該環(huán)
路濾波器的輸出來(lái)控制電壓受控振蕩器94的頻率。電壓受控振蕩器控制被用
于對(duì)濾波信號(hào)^力進(jìn)行采樣的采樣時(shí)刻。
因此，可以看出，對(duì)于時(shí)序檢測(cè)，比特圖形傳感器產(chǎn)生一模擬信號(hào)，對(duì)該 模擬信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生多個(gè)樣本。時(shí)序恢復(fù)電路包括時(shí)序誤差檢測(cè)器，它處 理接收到的樣本以便在線路90上產(chǎn)生數(shù)量或誤差信號(hào)，該信號(hào)是時(shí)序相差的
度量。通過(guò)電壓受控振蕩器(vco)來(lái)驅(qū)動(dòng)采樣器，該數(shù)量進(jìn)一步穿過(guò)環(huán)路濾波
器以產(chǎn)生一個(gè)校正信號(hào)，使用該校正信號(hào)來(lái)控制采樣時(shí)序。輸出信號(hào)4中檢測(cè) 到的比特被時(shí)序恢復(fù)算法使用，同時(shí)假定它們沒有誤差。
均衡器和檢測(cè)器是檢測(cè)終端用戶數(shù)據(jù)比特所需的功能。通常，將更復(fù)雜的 檢測(cè)器用于該目的，而時(shí)序恢復(fù)使用簡(jiǎn)單的檢測(cè)器使等待時(shí)間或時(shí)序環(huán)路延遲
保持較小。圖4的系統(tǒng)所執(zhí)行的時(shí)序恢復(fù)過(guò)程可以被視為"時(shí)序恢復(fù)算法"， 或更具體地，被視為"決定導(dǎo)向的時(shí)序恢復(fù)算法"，因?yàn)樗诜答伃h(huán)路中使用 了決定比特。
采樣實(shí)例可能偏離與系統(tǒng)中相位偏移量有關(guān)的正確的那些實(shí)例。相似的 是，采樣實(shí)例可能偏離與頻率偏移量有關(guān)的正確的那些實(shí)例。此外，如果系統(tǒng) 中有任何頻率偏移，則偏離的量在每隔一個(gè)樣本處累積。實(shí)際樣本與期望樣本 之間的偏離導(dǎo)致系統(tǒng)性能下降，或者甚至可能導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)垮掉。
在理想的操作過(guò)程中，時(shí)序恢復(fù)算法以這樣一種方式更新時(shí)序相位，使得 在恰當(dāng)?shù)奈恢锰帉?duì)經(jīng)濾波的比特回讀信號(hào)進(jìn)行采樣。然而，系統(tǒng)的噪聲或其它 特性可能有時(shí)候?qū)е虏徽_的時(shí)序更新。在寫入過(guò)程中，時(shí)序相位必須與比特 島位置理想地同步。在讀取操作過(guò)程中，時(shí)序相位必須與所寫入的脈沖理想地 同步。由此，時(shí)序相位和寫入脈沖的時(shí)序必須理想地同步。
比特圖形化介質(zhì)可以具有固有的用于比特島的組織機(jī)構(gòu)，并且可以使用比 特島的具體特征來(lái)改善時(shí)序恢復(fù)性能。
在一個(gè)方面中，本發(fā)明提供了一種考慮到BPM的具體特征的時(shí)序恢復(fù)的 方法。介質(zhì)上的區(qū)域可以被標(biāo)識(shí)，其中每一個(gè)區(qū)域中的比特島具有相似的物理 特征。然后，這些區(qū)域中的比特島的物理特征的相關(guān)信息可以被用于修改時(shí)序 恢復(fù)電路。
在圖4中，在線路96、 98、 100和/或102上，可以提供區(qū)域信息。然后， VC0 94、均衡器82、檢測(cè)器86和/或時(shí)序誤差檢測(cè)器88可以使用該區(qū)域信息
來(lái)改善時(shí)序恢復(fù)功能的準(zhǔn)確度。例如，可以根據(jù)線路96上的區(qū)域信號(hào)來(lái)調(diào)節(jié)
VCO的額定頻率。或者在組合中，可以根據(jù)線路98上所提供的區(qū)域信號(hào)來(lái)選
擇由均衡器所實(shí)現(xiàn)的算法。在一個(gè)示例中，可以對(duì)均衡器進(jìn)行編程以實(shí)現(xiàn)多個(gè) 均衡功能，這些均衡功能參照了一個(gè)查詢表格。然后，可以使用區(qū)域信號(hào)來(lái)標(biāo) 識(shí)該表格中合適的均衡功能。
可以使用沖壓過(guò)程來(lái)產(chǎn)生比特圖形化介質(zhì)，在該沖壓過(guò)程中主比特圖形被 印在空白的存儲(chǔ)介質(zhì)上。主圖形可以包括用于導(dǎo)致島的形成的缺陷或變化，這 些島不具有均勻的形狀或大小，或者彼此也不等距，或者也不剛好位于介質(zhì)中
的數(shù)據(jù)軌道的中心線上。這些變化可能導(dǎo)致根據(jù)讀取傳感器信號(hào)而產(chǎn)生的時(shí)序 信號(hào)不準(zhǔn)確。
此外，可以利用平版印刷過(guò)程來(lái)制造介質(zhì)，這可能引入比特島位置誤差。 比特位置誤差可能導(dǎo)致不同的軌道的抖動(dòng)噪聲統(tǒng)計(jì)不一樣。凈效應(yīng)是記錄表面 的不同部分具有固有的介質(zhì)特性差異，比如比特島幾何形狀和抖動(dòng)統(tǒng)計(jì)方面的
差異。在一個(gè)方面中，本發(fā)明利用了同步算法中的這些差異。
另外，對(duì)于記錄表面的不同部分，比特位置的幾何結(jié)構(gòu)可以不同。在比特 圖形化盤片介質(zhì)的一個(gè)示例中，比特島間距可以與軌道半徑有關(guān)。例如，與更 靠近盤片中心的軌道中的比特島相比，離盤片中心更遠(yuǎn)的軌道中的比特島彼此
間隔得更遠(yuǎn)。該示例示出在圖5中，其中盤片被分割成若干個(gè)區(qū)域，使得在每 一個(gè)區(qū)域中介質(zhì)特性保持幾乎恒定。
圖5是形如數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤片110的比特圖形化介質(zhì)的示意圖。在圖5中，記 錄表面被分成三個(gè)區(qū)域112、 114和116，使得在每一個(gè)區(qū)域中比特間距是固定 的。比特島間距、或比特寬度T可以隨著離中心的距離而增大。
不同區(qū)域具有不同的比特寬度T的標(biāo)稱值，圖5示出T!、 T2和T3。這導(dǎo) 致比特圖形傳感器針對(duì)不同的區(qū)域所產(chǎn)生的信號(hào)的波特率不一樣。在這種情況 下，區(qū)域信息可以被提供給圖4的VCO，使得可以基于操作的區(qū)域來(lái)調(diào)節(jié)VCO 的額時(shí)序鐘頻率。VCO是受電壓控制的。當(dāng)來(lái)自環(huán)路濾波器的信號(hào)是零時(shí)， VCO按額定頻率振蕩。如果該信號(hào)是正的，則振蕩頻率稍大一些，如果它是負(fù) 的，則該頻率就小一些。所以，來(lái)自96的信號(hào)大體上可以被添加到環(huán)路濾波 器的輸出從而獲得單個(gè)電壓來(lái)控制VCO。然后，96中的信號(hào)可以被視為VCO
輸入的偏壓項(xiàng)，它將被設(shè)計(jì)成根據(jù)區(qū)域來(lái)產(chǎn)生正確的額定頻率。
圖6是以數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤片為形式的另一個(gè)比特圖形化介質(zhì)120的示意圖。在
圖6中，記錄表面包括多個(gè)形狀不規(guī)則的區(qū)域122、 124、 126、 128和130。在
這種情況下，可以基于操作的區(qū)域來(lái)調(diào)節(jié)時(shí)序恢復(fù)電路的各種組件。
基于每一個(gè)所討論的區(qū)域中的比特島的特性，可以調(diào)整均衡器、檢測(cè)器和
/或時(shí)序檢測(cè)器中的一個(gè)或多個(gè)所使用的算法以適于該區(qū)域。例如，均衡器模塊
可以包含多個(gè)均衡器，其中均衡器可以被調(diào)整成針對(duì)這些區(qū)域之一中的比特島
特征來(lái)提供最佳響應(yīng)。然后，線路98上所提供的區(qū)域信息信號(hào)可以被用于在
不同的均衡器中做出選擇。
相似的是，檢測(cè)器模塊可以包含多個(gè)檢測(cè)器，其中檢測(cè)器被調(diào)整成針對(duì)這
些區(qū)域之一中的比特島特征提供最佳響應(yīng)。然后，線路100上所提供的區(qū)域信
息信號(hào)可以被用于在不同的檢測(cè)器中做出選擇。
另外，時(shí)序誤差檢測(cè)器模塊可以包含多個(gè)時(shí)序誤差檢測(cè)器，其中時(shí)序誤差
檢測(cè)器被調(diào)整成針對(duì)這些區(qū)域之一中的比特島特征來(lái)提供最佳響應(yīng)。然后，線
路102上所提供的區(qū)域信息信號(hào)可以被用于在不同的時(shí)序誤差檢測(cè)器中做出選擇。
對(duì)于不同的區(qū)域而言，抖動(dòng)噪聲統(tǒng)計(jì)可以是不同的。對(duì)該信息的了解可被 用于改善數(shù)據(jù)比特的檢測(cè)以及同步。每一個(gè)區(qū)域的幾何特性都可以基于對(duì)制造 過(guò)程的了解來(lái)確定，而比特抖動(dòng)的統(tǒng)計(jì)特性可以通過(guò)訓(xùn)練而事先估計(jì)好。基于 每一個(gè)區(qū)域的比特抖動(dòng)統(tǒng)計(jì)的事先估計(jì)，可以開發(fā)出最佳訓(xùn)練序列。然后，根 據(jù)每一個(gè)區(qū)域的比特抖動(dòng)統(tǒng)計(jì)，便可以產(chǎn)生區(qū)域信息信號(hào)。
圖7是示出抖動(dòng)的比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖。在圖7的示例中，島 140從其期望的位置移動(dòng)了一段距離&。如果給定區(qū)域中大量比特島都已移動(dòng) 了某一距離S,，則抖動(dòng)值的平均可以被確定為
并且方差抖動(dòng)可以被確定為:
<formula>formula see original document page 12</formula>
然后，可以使用比特島位置的平均和/或方差來(lái)產(chǎn)生區(qū)域信息信號(hào)，該信號(hào) 可以被用于調(diào)節(jié)均衡算法。這些抖動(dòng)噪聲量基本上都在制造過(guò)程中"被消除 了"，并且對(duì)于每一次寫入操作都不會(huì)變。
在另一個(gè)示例中，不同的區(qū)域可以具有不同的比特寬度T的標(biāo)稱值，這導(dǎo) 致不同的區(qū)域的波特率不一致。圖8是比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖，其中 T值變化了。在本示例中，比特島150和152之間的距離T,小于比特島152和 154之間的距離T2。用于解釋比特島間距差異的一種方法是基于操作的區(qū)域來(lái) 調(diào)整同步化裝置中的VCO的額時(shí)序鐘頻率。
在另一個(gè)方面中，本發(fā)明解決了島寬度變化影響碼元間干擾分布的情況。 圖9是比特圖形化介質(zhì)的示意性平面圖，其中島寬度變化了。在這種情況下， 比特島162和164比比特島160和166要寬。這可能導(dǎo)致在比特圖形傳感器檢 測(cè)比特島162和164時(shí)比特圖形傳感器所產(chǎn)生的電壓信號(hào)發(fā)生重疊。這被稱為 碼元間干擾(ISI)。在這種情況下，圖4的時(shí)序誤差檢測(cè)器可以被調(diào)諧到每一個(gè) 操作的區(qū)域中的ISI分布。有許多己知的時(shí)序誤差檢測(cè)器(TED)。示例包括Muller 和Muller時(shí)序TED或基于斜率的TED，它們基于具有時(shí)序誤差的回讀信號(hào)的 泰勒級(jí)數(shù)展開來(lái)計(jì)算時(shí)序誤差。所有這些方法都依賴于通道ISI分布。所以不 管使用何種方法，ISI分布都將影響TED。
在一個(gè)方面中，本發(fā)明提供了一種在具有比特圖形化介質(zhì)的磁記錄盤片驅(qū) 動(dòng)中控制寫入同步的方法和裝置。根據(jù)介質(zhì)的不同區(qū)域中的島的物理特性，來(lái) 控制寫入時(shí)鐘信號(hào)，使得它沒有顯著地受到這些島的形狀、尺寸或位置不規(guī)則 性的影響。由此，數(shù)據(jù)可以被準(zhǔn)確地寫入圖形化的數(shù)據(jù)塊。
盡管已通過(guò)若干個(gè)示例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，但是很明顯，在不背離權(quán)利 要求書所闡明的本發(fā)明的范圍的情況下可以做出各種改變。上述各種實(shí)現(xiàn)方式 以及其它實(shí)現(xiàn)方式都在權(quán)利要求書的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種方法，包括根據(jù)位于比特圖形化介質(zhì)的多個(gè)區(qū)域中的多個(gè)島，產(chǎn)生比特檢測(cè)信號(hào)；處理比特檢測(cè)信號(hào)以產(chǎn)生同步信號(hào)，其中所述處理依賴于包含多個(gè)島的區(qū)域中的島的特征；以及使用同步信號(hào)來(lái)控制對(duì)比特圖形化介質(zhì)進(jìn)行寫入的時(shí)序。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)；以及 根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域，控制采樣的時(shí)序。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)；以及 根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域，使經(jīng)采樣的信號(hào)均衡。
4. 如權(quán)利要求l所述的方法，還包括 對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)； 使經(jīng)采樣的信號(hào)均衡以產(chǎn)生均衡信號(hào)；以及 根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域，檢測(cè)均衡信號(hào)。
5. 如權(quán)利要求1所述的方法，還包括 對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)； 使經(jīng)采樣的信號(hào)均衡以產(chǎn)生均衡信號(hào)； 檢測(cè)均衡信號(hào)以產(chǎn)生輸出信號(hào)；以及根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域，檢測(cè)均衡信號(hào)和輸出信號(hào)之間的誤差。
6. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述區(qū)域位于比特圖形化介質(zhì)上 的多個(gè)環(huán)中。
7. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，不同的區(qū)域具有不同的比特寬度 標(biāo)稱值。
8. 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，不同的區(qū)域具有不同的抖動(dòng)噪聲統(tǒng)計(jì)。
9. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，不同的區(qū)域具有不同的島寬度標(biāo) 稱值。
10. —種裝置，包括比特圖形傳感器，它根據(jù)位于比特圖形化介質(zhì)的多個(gè)區(qū)域中的多個(gè)島產(chǎn)生比特檢測(cè)信號(hào)；用于處理比特檢測(cè)信號(hào)以產(chǎn)生同步信號(hào)的電路，其中所述處理依賴于包含多 個(gè)島的區(qū)域中的島的特征；以及寫入驅(qū)動(dòng)器，它使用同步信號(hào)來(lái)控制對(duì)比特圖形化介質(zhì)進(jìn)行寫入的時(shí)序。
11. 如權(quán)利要求IO所述的裝置，其特征在于，所述電路包括 采樣器，用于對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)；以及電壓受控振蕩器，用于根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域控制采樣的時(shí)序。
12. 如權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述電路包括采樣器，用于對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)；以及 均衡器，用于根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域使經(jīng)采樣的信號(hào)均衡。
13. 如權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述電路包括采樣器，用于對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)；均衡器，用于使經(jīng)采樣的信號(hào)均衡以產(chǎn)生均衡信號(hào)；以及 檢測(cè)器，用于根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域檢測(cè)均衡信號(hào)。
14. 如權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，所述電路包括 采樣器，用于對(duì)比特檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行采樣以產(chǎn)生經(jīng)采樣的信號(hào)； 均衡器，用于使經(jīng)采樣的信號(hào)均衡以產(chǎn)生均衡信號(hào)； 第一檢測(cè)器，用于檢測(cè)均衡信號(hào)以產(chǎn)生輸出信號(hào)；以及第二檢測(cè)器，用于根據(jù)包含多個(gè)島的區(qū)域檢測(cè)均衡信號(hào)和輸出信號(hào)之間的誤差。
15. 如權(quán)利要求IO所述的裝置，其特征在于，所述區(qū)域位于比特圖形化介質(zhì) 上的多個(gè)環(huán)中。
16. 如權(quán)利要求IO所述的裝置，其特征在于，不同的區(qū)域具有不同的比特寬 度標(biāo)稱值。
17. 如權(quán)利要求IO所述的裝置，其特征在于，不同的區(qū)域具有不同的抖動(dòng)噪 聲統(tǒng)計(jì)。
18. 如權(quán)利要求IO所述的裝置，其特征在于，不同的區(qū)域具有不同的島寬度 標(biāo)稱值。
全文摘要
一種方法包括根據(jù)位于比特圖形化介質(zhì)的多個(gè)區(qū)域中的多個(gè)島，產(chǎn)生比特檢測(cè)信號(hào)；處理比特檢測(cè)信號(hào)以產(chǎn)生同步信號(hào)，其中所述處理依賴于包含多個(gè)島的區(qū)域中的島的特征；以及使用同步信號(hào)來(lái)控制對(duì)比特圖形化介質(zhì)進(jìn)行寫入的時(shí)序。同步信號(hào)也可以被用于控制從比特圖形化介質(zhì)中進(jìn)行讀取的時(shí)序。
文檔編號(hào)G11B5/09GK101339771SQ20081012509
公開日2009年1月7日 申請(qǐng)日期2008年6月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年6月28日
發(fā)明者M·F·厄頓, R·C·凡卡塔拉曼尼, S·?？ɡ{瑞雅南 申請(qǐng)人:希捷科技有限公司