專利名稱：用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法與系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于光學(xué)存儲裝置的循軌偏移校準(track offset calibration)， 尤指用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移(recording track offset)的方法與 系統(tǒng)，其中光學(xué)存儲裝置存取(access)平面與溝槽記錄/重現(xiàn)類型(land and groove recording/reproduction type)的光學(xué)存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)：
針對數(shù)字多功能光盤(Digital Versatile Disc, DVD)，例如可記錄式數(shù)字 多功能光盤(DVD-Recordable， DVD-R)，在將數(shù)據(jù)記錄于其中的程序中，精 確地控制數(shù)字多功能光驅(qū)(DVD drive)的光學(xué)讀取頭的循軌偏移對記錄質(zhì)量 而言并非很重要，這是因為即使自光學(xué)讀取頭發(fā)射的激光光點(laser light spot) 沒有鎖定于可記錄式數(shù)字多功能光盤的溝槽軌道(groove track)的中央，也 不會有明顯的問題發(fā)生。然而，針對隨機存取記憶式數(shù)字多功能光盤 (DVD-RAM)而言，若當數(shù)字多功能光驅(qū)正在記錄數(shù)據(jù)于隨機存取記憶式數(shù) 字多功能光盤的第二軌道時，自光學(xué)讀取頭發(fā)射的激光光點沒有鎖定于第二 軌道的中央，則先前被寫在鄰近于第二軌道的第一軌道上的數(shù)據(jù)很可能被抹 除或被重寫，典型的結(jié)果是導(dǎo)致代表不良的記錄質(zhì)量的大跳動值(jittervalue)。
在最差狀況下，將無法讀取隨機存取記憶式數(shù)字多功能光盤上的至少一部分 數(shù)據(jù)。
例如第二軌道為中央對準于圖1所示的線(b)的溝槽軌道21G，其中地 址區(qū)塊16至地址區(qū)塊19分別被標示為ID1至ID4。若當數(shù)字多功能光驅(qū)正在 記錄數(shù)據(jù)于溝槽軌道21G時，激光光點24沿著線(a)掃描，則先前被寫在鄰近 于溝槽軌道21G的平面軌道(landtrack) 21L (即此狀況下的第一軌道)上的數(shù)據(jù)很可能被損壞。若當數(shù)字多功能光驅(qū)正在記錄數(shù)據(jù)于溝槽軌道21G時，
激光光點24沿著線(c)掃描，則先前被寫在鄰近于溝槽軌道21G的平面軌道 22L (即此狀況下的第一軌道)上的數(shù)據(jù)很可能被損壞。其中，圖1中的標號 16、 17、 18、 19是表示地址區(qū)塊，ID1、 ID2、 ID3、 ID4為地址區(qū)塊的辨識 碼，而22L、 23L與22G分別為平面軌道與溝槽軌道。
有時由于激光光點的亮度變化以及所謂的光檢測芯片增益(PDIC gain) 的不平衡，記錄循軌偏移(recording track offset)(即于記錄程序中的循軌偏 移)的數(shù)值會異于讀取循軌偏移(reading track offset)(即于讀取程序中的循 軌偏移)的數(shù)值。依據(jù)先前技術(shù)，進行在線閉回路控制(online closed loop control)可能對于控制記錄循軌偏移有所幫助，其中如圖2所示，對應(yīng)于射頻 (Radio Frequency, RF)信號RF的加總信號(All Sum signal) AS可用來控制 激光光點24沿著線(b)掃描。其中，圖2中的標號25是表示凹洞。
一般在記錄程序之前所進行的最優(yōu)功率校準(Optimal Power Calibration, OPC)的過程中，若記錄循軌偏移的初始值(例如零初始值)并不適當，其 是指記錄循軌偏移的初始值與實際值相距甚遠，其中實際值是對應(yīng)于光學(xué)讀 取頭相對于軌道的實際徑向位置(radial location)，則最優(yōu)功率校準很可能失 敗。即使沒有發(fā)生最優(yōu)功率校準失敗，光學(xué)讀取頭的記錄功率的校準值通常 會高于記錄功率的代表值，這會導(dǎo)致若干問題，例如隨機存取記憶式數(shù)字 多功能光盤上的整體重寫次數(shù)降低、較高的錯誤率、以及較大的跳動值。
針對未預(yù)先進行最優(yōu)功率校準的記錄程序，若記錄循軌偏移的初始值并 不恰當，先前記錄的數(shù)據(jù)(例如先前記錄在上述的第一軌道上的數(shù)據(jù))會
部分地/全然地被抹除或被后來記錄的數(shù)據(jù)(例如記錄在上述的第二軌道
上的數(shù)據(jù))所重寫。于是，隨機存取記憶式數(shù)字多功能光盤上的先前記錄的 數(shù)據(jù)中的至少一部分就損失了
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法與 系統(tǒng)，可解決記錄循軌偏移不恰當而造成數(shù)據(jù)丟失及重寫次數(shù)降低等問題。
其中該光學(xué)存儲裝置存取平面與溝槽類型(land and groove type)的光學(xué)存儲 介質(zhì)。
本發(fā)明的一個實施方式中提供一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏 移的系統(tǒng)，其中該光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該系 統(tǒng)包含有循軌伺服回路(tracking servo loop)，是安排來控制光學(xué)存儲裝置 的光學(xué)讀取頭的循軌操作；循軌偏移控制回路(track offset control loop)，是 安排來控制循軌伺服回路的記錄循軌偏移；控制器，是安排來使能(enable) 記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程序所利用，其中 最新值是取得自循軌偏移控制回路；以及比較器，是安排來比較記錄長度與 閾值，并產(chǎn)生旗標來代表記錄長度是否為長記錄長度。
本發(fā)明的另一實施方式中提供一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏 移的系統(tǒng)，其中光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該系統(tǒng) 包含有循軌伺服回路，是安排來控制光學(xué)存儲裝置的光學(xué)讀取頭的循軌操 作；循軌偏移控制回路，是安排來控制循軌伺服回路的記錄循軌偏移，該循 軌偏移控制回路包含補償單元，是安排來依據(jù)多個在循軌偏移控制回路中所 計算的差量，通過進行統(tǒng)計運算來控制記錄循軌偏移；以及控制器，是安排 來使能記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程序所利用， 其中最新值是取得自循軌偏移控制回路。
本發(fā)明的又一個實施方式中提供一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌 偏移的方法，其中光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該方 法包含有存儲記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程 序所利用，其中最新值是取得自光學(xué)存儲裝置的循軌偏移控制回路；以及比 較記錄長度與閾值，并依此決定是否來更新初始值。
本發(fā)明的再一個實施方式中提供一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法，其中光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該方 法包含有存儲記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程 序所利用，其中該新值是取得自光學(xué)存儲裝置的循軌偏移控制回路；以及通 過依據(jù)多個由該循軌偏移控制回路計算的差量進行統(tǒng)計運算來控制記錄循軌 偏移。
本發(fā)明所提供的方法及系統(tǒng)，能夠控制自光學(xué)讀取頭發(fā)射的激光光點在 軌道中央，避免了因循軌不當而使數(shù)據(jù)受破壞。


圖1為先前技術(shù)隨機存取記憶式數(shù)字多功能光盤上的溝槽軌道與平面軌 道的示意圖2為先前技術(shù)用來控制記錄循軌偏移的加總信號的示意圖； 圖3為依據(jù)本發(fā)明一個實施方式的光學(xué)存儲裝置的示意圖； 圖4繪示于本發(fā)明的一個實施方式中圖3所示的光學(xué)存儲裝置的相關(guān)信 號的波形；
圖5為本發(fā)明的一個實施方式中、繪示有多個校準步驟的流程圖，其中 該多個校準步驟是為光學(xué)存儲裝置于記錄使用者數(shù)據(jù)至平面與溝槽記錄/重 現(xiàn)類型的光學(xué)存儲介質(zhì)上之前所進行；
圖6為依據(jù)本發(fā)明一個實施方式所提供的一種用來校準光學(xué)存儲裝置的 記錄循軌偏移的方法的流程圖，其中該光學(xué)存儲裝置存取平面與溝槽記錄/ 重現(xiàn)類型的光學(xué)存儲介質(zhì)；
圖7為依據(jù)本發(fā)明第一實施方式的光學(xué)存儲裝置的示意圖，其中第一實 施方式是為圖3所示的實施方式的變化例；
圖8繪示依據(jù)本發(fā)明的實施方式而在圖7所示的光學(xué)存儲裝置當中所利 用的分離光電檢測器；
圖9繪示針對某一種情形而在圖7所示的光學(xué)存儲裝置當中所利用的反射光量信號的峰對峰值；
圖10與圖11繪示針對某些其它的情形而在圖7所示的光學(xué)存儲裝置當 中所利用的該反射光量信號的峰對峰值；
圖12為依據(jù)本發(fā)明的第二實施方式的光學(xué)存儲裝置的示意圖，其中第二 實施方式是為第一實施方式的變化例；
圖13繪示應(yīng)用于圖12所示的光學(xué)存儲裝置的方法的流程圖14為依據(jù)本發(fā)明的第三實施方式的光學(xué)存儲裝置的示意圖，其中第三 實施方式是為第一實施方式的變化例；
圖15為依據(jù)本發(fā)明的第四實施方式的光學(xué)存儲裝置的示意圖，其中第四 實施方式是為第一實施方式的變化例；
圖16繪示于本發(fā)明的實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元的實施細節(jié) 的示意圖17與圖18繪示于圖16所示的實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元 的相關(guān)信號；
圖19繪示于本發(fā)明另一個實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元的實施 細節(jié)的示意圖20與圖21繪示于圖19所示的實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元 的相關(guān)信號。
具體實施例方式
在本專利說明書及權(quán)利要求書當中使用了某些詞匯來指稱特定的組件。 所屬領(lǐng)域中具有通常知識者應(yīng)可理解，硬件制造商可能會用不同的名詞來稱 呼同一個組件。本說明書及權(quán)利要求書并不以名稱的差異來作為區(qū)分組件的 方式，而是以組件在功能上的差異來作為區(qū)分的準則。在通篇說明書及后續(xù) 的請求項當中所提及的"包含"是開放式的用語，故應(yīng)解釋成"包含但不限 定于"。以外，"耦接" 一詞在此是包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置耦接于第二裝置，則代表第一裝置可直接電氣連 接于第二裝置，或透過其它裝置或連接手段間接地電氣連接至第二裝置。
請參考圖3，圖3為依據(jù)本發(fā)明一個實施方式的光學(xué)存儲裝置100的示意 圖，例如數(shù)字多功能光盤機的示意圖，其中光學(xué)存儲裝置100可存取平面與
溝槽記錄/重現(xiàn)類型的光學(xué)存儲介質(zhì)10，例如光盤，尤其是隨機存取記憶
式數(shù)字多功能光盤(DVD-RAM)。依據(jù)本實施方式，光學(xué)存儲裝置100的循 軌控葡j系統(tǒng)(tracking control system)包含循軌伺服回路(tracking servo loop)。 如圖3所示，循軌伺服回路包含循軌誤差信號檢測電路(tracking error signal detection circuit ) 50 、 循車九誤差補償器 (tracking error compensator, TE compensator) 110、與讀取頭驅(qū)動電路70，其中循軌伺服回路是用來控制光學(xué) 存儲裝置100的光學(xué)讀取頭30沿著相對于光學(xué)存儲裝置100的主軸電機
(spindle motor) 20的徑向(radial direction)的循軌操作。
循軌誤差信號檢測電路50可依據(jù)來自光學(xué)讀取頭30的重現(xiàn)信號
(reproduced signal)來產(chǎn)生循軌誤差信號TE，其中重現(xiàn)信號至少包含來自光 學(xué)讀取頭30的兩輸出信號其中之一。循軌誤差補償器110是用來進行補償， 依據(jù)循軌誤差信號TE，通過利用(utilize)讀取頭驅(qū)動電路70來控制光學(xué)讀 取頭30的徑向位置(radial location)，其中讀取頭驅(qū)動電路70依據(jù)循軌誤差 補償器110的輸出來驅(qū)動光學(xué)讀取頭30。
在本實施方式中，循軌控制系統(tǒng)另包含循軌偏移控制回路(track offset control loop)。如圖3所示，循軌偏移控制回路包含反射光量信號檢測電路
(reflected light amount signal detection circuit) 80 、兩取樣/〖呆t寺電足各
(sample/hold circuit) 122與124、差分電路(differential circuit) 126、與補 償器130，其中當光學(xué)存儲裝置100正記錄數(shù)據(jù)于光學(xué)存儲介質(zhì)10上時，上 述的循軌偏移控制回路被使能(enable)。
反射光量信號檢測電路80包含加法電路與低通濾波器(未顯示)，其中 加法電路是用來將來自光學(xué)讀取頭30的兩輸出相加來產(chǎn)生相加信號，而低通濾波器則用來對相加信號進行濾波來產(chǎn)生反射光量信號(reflected light amount signal) AS，本實施方式中也可稱為加總信號。取樣/保持電路122與取樣/ 保持電路124取樣/保持反射光量信號AS以分別產(chǎn)生兩輸出SI與S2。另外， 差分電路126計算輸出SI與S2之間的差量。依據(jù)本實施方式的第一個實施 選擇，輸出SI與S2分別對應(yīng)于圖2所示的檢測值VAS1與VAS2。依據(jù)本實 施方式的第二個實施選擇，輸出SI與S2分別對應(yīng)于圖2所示的檢測值VRF3 與VRF4。
通過應(yīng)用上述的任一個實施選擇，自差分電路126輸出的差量可被用作 為指標(indication)，用來指出放射自光學(xué)讀取頭30發(fā)射的激光光點的中心 位置是否對準線(b)，或者用來指出激光光點的中心位置是否移向線(a)或線(c)。 也就是說，自差分電路126輸出的差量可被用作光學(xué)讀取頭30的徑向位置的 指針。于是，通過利用差分電路126與補償器130，循軌偏移控制回路依據(jù)分 別來自取樣/保持電路122與取樣/保持電路124的輸出SI與輸出S2來調(diào) 整循軌誤差信號TE，其中耦接至補償器130的算術(shù)單元(arithmetic unit) 132 可用來將初始信號注入(inject)循軌偏移控制回路。
若控制信號WLDON對應(yīng)于用來代表讀取程序的邏輯值"0"，則耦接至 算術(shù)單元132的多任務(wù)器(multiplexer) 144選擇一個零輸入(zero input)， 使得透過算術(shù)單元132注入循軌偏移控制回路的初始信號實質(zhì)上 (substantially)是零，其中如圖4所示，上述的邏輯值"0"在本實施方式中 是對應(yīng)于低位準。相反地，若控制信號WLDON是對應(yīng)于用來代表記錄程序 的邏輯值"l"，則多任務(wù)器144選擇初始值INIT，使得透過算術(shù)單元132注 入循軌偏移控制回路的初始信號載有(carry)初始值INIT，其中如圖4所示，上述的邏輯值"1"在本實施方式中是對應(yīng)于高位準。
依據(jù)本實施方式，為了進行記錄，控制器，例如光學(xué)存儲裝置100的微處理單元(Micro-Processing Unit, MPU) 150，可用來設(shè)定上述的初始值INIT， 其中初始值INIT代表初始循軌偏移。如此，循軌偏移控制回路可利用初始循軌偏移作為初始狀態(tài)(或起始點)，用來進行向前控制(forward control)。 只要初始值大約在循軌偏移控制回路的穩(wěn)定值附近，記錄程序可由一個軌道 的中間開始。
需要注意的是，初始值INIT可在記錄循軌偏移校準的過程中首先取得， 故可以在記錄程序之前或在記錄程序之初根據(jù)初始值INIT來設(shè)定初始狀態(tài)。 于是，記錄使用者數(shù)據(jù)就可由一個軌道的中間開始。
依據(jù)本實施方式，微處理單元150在記錄程序之前設(shè)定初始值INIT。在 記錄開始的時候，控制信號WLDON上升至高位準，且算術(shù)單元132所輸出 的循軌偏移信號(track offset signal) TO等同于載有初始值INIT的初始信號。 循軌偏移控制回路利用代表初始循軌偏移的初始值INIT來開始操作。為了達 成此操作，在控制信號WLDON的上升沿(rising edge)的時間點(例如圖4 所示)，補償器130的內(nèi)部狀態(tài)及其輸出均被清除且被重設(shè)為零，這是因為 通常補償器會有記憶效應(yīng)，也就是先前的狀態(tài)及輸出可能會殘留。
如圖3所示，鎖存器(latch) 142是用來在控制信號WLDON的下降沿 (falling edge)(例如圖4所示的下降沿)的時間點來鎖存循軌偏移信號TO 的值。以圖4所示的狀況為例，當控制信號WLDON下降至低位準時，自鎖 存器142輸出的讀出值(readout value)信號RV代表鎖存值(latched value)， 其中微處理單元150將鎖存值存儲為讀出值，以供進一步利用。例如在后 續(xù)進行的另一記錄程序中，讀出值代表循軌偏移控制回路于先前的記錄程序 中的先前的控制結(jié)果，并可用來作為微處理單元150在后續(xù)進行的記錄程序 之前或在后續(xù)進行的記錄程序之初所設(shè)定的初始值INIT。于是，可發(fā)生如圖 4所示的相似的狀況。
在這諸多狀況中的每一個狀況中(例如圖4所示的狀況)，由控制信號 WLDON上升至高位準的時間點直到控制信號WLDON下降至低位準的時間 點，讀出值信號RV具有如循軌偏移信號TO—般相同的波形，其中在控制信 號WLDON上升至高位準的時間點，循軌偏移信號TO的初始值與初始信號所載的初始值INIT相同。另外，在控制信號WLDON下降至低位準的時間點， 鎖存器142鎖存循軌偏移信號TO并輸出鎖存值，所以微處理單元150將鎖存 值存儲為讀出值，以供進一步利用。在控制信號WLDON下降至低位準的時 間點，循軌偏移信號TO被重設(shè)為零，這是因為耦接至算術(shù)單元132的多任務(wù) 器144依據(jù)控制信號WLDON選擇零輸入。
需要注意的是， 一般而言，透過算術(shù)單元60注入循軌伺服回路的循軌偏 移信號TO載有循軌偏移。依據(jù)本實施方式的一個變化例，控制器，例如上述 的微處理單元150，可依據(jù)對應(yīng)于循軌偏移信號TO的讀出值(例如讀出值 信號RV的鎖存值)來取得循軌偏移，并將讀出值所代表的循軌偏移存儲進存 儲單元(未顯示)，例如光學(xué)存儲裝置100中的寄存器(或內(nèi)存)。依據(jù)本 變化例，用來存儲循軌偏移的寄存器(或內(nèi)存)位于微處理單元150中。在 記錄程序中，循軌偏移被稱為記錄循軌偏移(recording track offset)，其中上 述的補償器130可依據(jù)差分電路126所計算的差量來控制記錄循軌偏移。于 是，透過循軌偏移控制回路的組件的上述操作，循軌偏移控制回路可用來控 制記錄循軌偏移。另一方面，在讀取程序中，循軌偏移被稱為讀取循軌偏移 (reading track offset)或重現(xiàn)循軌偏移(reproduction track offset)。在圖3所 示的循軌控制系統(tǒng)中，記錄循軌偏移與讀取循軌偏移中的任一者可被設(shè)定為 具有透過算術(shù)單元132所注入的初始信號所載的初始值。依據(jù)本變化例，初 始信號所載的初始值INIT是由微處理單元150所設(shè)定。 一般而言，記錄循軌 偏移的代表值(typical value)并不一定和讀取循軌偏移的代表值相同或相近。在 某些狀況下，記錄循軌偏移的代表值和讀取循軌偏移的代表值相距甚遠。
請參閱圖5與圖6。圖5為本發(fā)明一個實施方式中、繪示有多個校準步驟 的流程圖，其中該多個校準步驟是光學(xué)存儲裝置在記錄使用者數(shù)據(jù)至平面與 溝槽記錄/重現(xiàn)類型的光學(xué)存儲介質(zhì)上之前所進行。圖6為依據(jù)本發(fā)明另一 個實施方式所提供的一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法的流 程圖，其中光學(xué)存儲裝置存取平面與溝槽記錄/重現(xiàn)類型的光學(xué)存儲介質(zhì)。圖5與圖6所示的流程圖的工作流程均可應(yīng)用于圖3所示的光學(xué)存儲裝置100， 其中依據(jù)本實施方式，圖6實質(zhì)上繪示了圖5所示的步驟920的詳細步驟。 此外，圖5與圖6所示的步驟的控制可通過利用控制器來實施，其中控制器 例如執(zhí)行固件碼(firmware code)的微處理單元150。
依據(jù)圖5所示的流程圖，光學(xué)存儲裝置100固件記錄使用者數(shù)據(jù)到光學(xué) 存儲介質(zhì)10上(步驟990)之前，會先進行記錄循軌偏移校準(步驟920)、 聚焦平衡(focus balance)校準(步驟950)、以及最優(yōu)功率校準(optimal power calibration, OPC)(步驟980)，其中最優(yōu)功率校準為本領(lǐng)域技術(shù)人員所知悉。 依據(jù)圖6所示的流程圖，用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法可說 明如下
步驟922:設(shè)定循軌偏移控制回路的補償器130的至少一個控制參數(shù)，來 驅(qū)動循軌偏移控制回路進入初始狀態(tài)，例如本實施方式的校準狀態(tài)。
步驟924:將記錄循軌偏移設(shè)定為初始信號所載的初始值INIT，其中初 始值INIT實質(zhì)上是為零或記錄循軌偏移的代表值。
步驟926:在循軌偏移控制回路被使能的狀況下將數(shù)據(jù)記錄到光學(xué)存儲介 質(zhì)10上，取得記錄循軌偏移的最新值，其中數(shù)據(jù)例如預(yù)定樣本(predetermined test pattern)或使用者數(shù)據(jù)的一部分。尤其是，在本實施方式中，微處理單元 150在循軌偏移控制回路被使能的狀況下控制光學(xué)存儲裝置100將數(shù)據(jù)記錄到 光學(xué)存儲介質(zhì)10上的測試區(qū)，來取得記錄循軌偏移的最新值。依據(jù)本實施方 式，如前面所述，微處理單元150由對應(yīng)于循軌偏移信號TO的讀出值(例如 讀出值信號RV的鎖存值)取得記錄循軌偏移的最新值。例如在圖4所示的狀 況中，在記錄程序的末期、控制信號WLDON下降至低位準的時間點，鎖存 器142鎖存循軌偏移信號TO并輸出鎖存值。
步驟928:存儲記錄循軌偏移的最新值(例如上述的讀出值)至存儲單元， 例如上述光學(xué)存儲裝置100中的寄存器(或內(nèi)存)。存儲單元中所存儲的最 新值可用來作為執(zhí)行后續(xù)步驟(例如步驟950、 980、或990)時、初始信號所載的預(yù)定值(例如初始信號所載的初始值INIT)。如前面所述，微處理 單元150可將鎖存值存儲為讀出值，以供進一步利用，故一旦將讀出值存儲 在存儲單元中，讀出值即可被視為記錄循軌偏移的最新值，以供后續(xù)進行的 記錄程序加以利用。關(guān)于校準結(jié)果的進一步利用的相似說明，例如利用微
處理單元150來設(shè)定初始值INIT、控制上述的控制信號WLDON上升至高位 準、以及在記錄開始時控制循軌偏移信號TO等同于載有初始值INIT的初始 信號等等，在此不重復(fù)描述。
步驟930:設(shè)定循軌偏移控制回路的補償器130的控制參數(shù)，來驅(qū)動循軌 偏移控制回路進入一種一般狀態(tài)，其中循軌偏移控制回路的回路響應(yīng)在校準 狀態(tài)下與在一般狀態(tài)下是彼此相異。更明確而言，依據(jù)本實施方式，循軌偏 移控制回路的回路響應(yīng)在校準狀態(tài)下比在一般狀態(tài)下更快。
步驟920E:結(jié)束。
本實施方式的補償器130是通過利用具有多個控制參數(shù)的濾波器來實現(xiàn)， 其中循軌偏移控制回路的回路帶寬(loop bandwidth)可通過適當?shù)卦O(shè)定控制 參數(shù)來加以控制。另外，循軌偏移控制回路的回路增益可通過改變控制參數(shù) 來加以調(diào)整。于是，補償器130依據(jù)控制參數(shù)來進行補償。
依據(jù)本實施方式，微處理單元150可在步驟922中設(shè)定控制參數(shù)來驅(qū)動 循軌偏移控制回路進入校準狀態(tài)，并在步驟930中設(shè)定控制參數(shù)來驅(qū)動循軌 偏移控制回路進入一般狀態(tài)，使得校準狀態(tài)中的回路帶寬大于一般狀態(tài)中的 回路帶寬。依據(jù)試用性實驗(trial experiment)，光學(xué)存儲裝置100為存取隨 機存取記憶式數(shù)字多功能光盤的數(shù)字多功能光驅(qū)，校準狀態(tài)中的回路帶寬對 一般狀態(tài)中的回路帶寬的比率的代表值的范圍分布在四到五之間。
需要注意的是，輸出Sl與S2為用來決定記錄循軌偏移的指標，這是因 為輸出Sl與S2之間的差量代表光學(xué)讀取頭30相對于軌道的徑向位置位移量 (radial location shift amount)。依據(jù)本實施方式，若輸出Sl與S2在校準狀 態(tài)中彼此相異，記錄循軌偏移可迅速地調(diào)整(time)至步驟926中的最新值，故光學(xué)讀取頭30的徑向位置可迅速地被對準至軌道的中央。另外，為了避免 在進行某些對噪聲較敏感的步驟(例如記錄使用者數(shù)據(jù))時易于出錯，一 般狀態(tài)中的較慢的回路響應(yīng)可在執(zhí)行步驟930之后被使用。
依據(jù)本實施方式的一個變化例，微處理單元150簡單地設(shè)定控制參數(shù)使 其在步驟922與930中分別具有不同的值，故控制參數(shù)設(shè)定循軌偏移控制回 路在校準狀態(tài)中具有第一回路增益，并設(shè)定循軌偏移控制回路在一般狀態(tài)中 具有第二回路增益，其中第一回路增益大于第二回路增益。依據(jù)試用性實驗， 光學(xué)存儲裝置100為存取隨機存取記憶式數(shù)字多功能光盤的數(shù)字多功能光驅(qū)， 第一回路增益對第二回路增益的比率的代表值大約是二。
依據(jù)本實施方式的一個變化例，步驟990可執(zhí)行N次，其中圖5所示的 步驟990可被代換為步驟990-0、 990-1、...、與990-(N-l)。另外，圖5所示 的步驟920可進一步地在步驟990-0、 990-1、...、與9卯-(N-l)中的兩步驟之 間被執(zhí)行至少一次。例如圖5所示的步驟920可進一步地執(zhí)行(N-1)次，在 此分別稱為步驟920-1、 920-2、...、與920-(N-l)，并分別緊接著步驟990-0、 990-1、...、與990-(N-2)而被執(zhí)行，其中對應(yīng)于步驟920-i的步驟926-i (i=l、 2、 ...、 (N-l))當中所記錄的數(shù)據(jù)并不必然被記錄到上述的測試區(qū)。
請參考圖7，圖7為依據(jù)本發(fā)明的第一實施方式的光學(xué)存儲裝置100-1的 示意圖，其中第一實施方式是為圖3所示的實施方式的變化例。第一實施方 式與圖3所示的實施方式之間的差別可被描述如下。第一實施方式中，被任 意設(shè)定的設(shè)定值是用來取代圖3所示的實施方式的多任務(wù)器144的零輸入。 如此，當控制信號WLDON降到低位準，多任務(wù)器144選擇該設(shè)定值。此外， 在第一實施方式中并不需要通過如圖3所示的從微處理單元150至循軌誤差 補償器110的信號聯(lián)系所實施的控制功能。即此處微處理單元150可依據(jù)固 件來執(zhí)行其它功能。
如圖7所示，另一個反射光量信號檢測電路180是用來取代上述的反射 光量信號檢測電路80以產(chǎn)生另一反射光量信號AS1。本實施方式的取樣/保持電路122與取樣/保持電路124可依據(jù)特定時間點來取樣/保持反射光量 信號AS1以分別產(chǎn)生輸出Sl與S2。
圖8繪示依據(jù)本發(fā)明而在圖7所示的光學(xué)存儲裝置100-1當中所利用的分 離光電檢測器(splitphoto-detector)的一個實施方式，其中分離光電檢測器具 有第一檢測區(qū)域II與第二檢測區(qū)域12。典型地，兩檢測區(qū)域之間的分離器 SSPD是平行于投影的軌道軸向，且反射光量信號AS1實質(zhì)上代表分別來自 第一檢測區(qū)域II與第二檢測區(qū)域12的檢測結(jié)果之和。
需注意，上述的特定的時間點是依據(jù)符合特定的隨機存取記憶式數(shù)字多 功能光盤(DVD-RAM)規(guī)格的標頭類型而決定，且圖7的輸出Sl與輸出S2 可用來代表偏離自中央線的循軌偏移位移量。該中央線，例如圖9所示的線(a0) 為當盤片10轉(zhuǎn)動時，從光學(xué)讀取頭30放射至盤片10的激光光點的路徑。
圖9繪示針對某一種情形而在圖7所示的光學(xué)存儲裝置100-1當中所利用 的反射光量信號AS1的峰對峰值(peak-to-peak value)。本情形中，對應(yīng)于 圖8所示的分離光電檢測器中的第一檢測區(qū)域Il的路徑的信號振幅等于對應(yīng) 于圖8所示的分離光電檢測器中的第二檢測區(qū)域I2的路徑的信號振幅。峰對 峰值IVFOl 、 IVF02、 IVF03與IVF04分別被利用來代表標頭字段(header field) l至4當中、在中央線(aO)的不同側(cè)的標頭偏移情形。
由于上述的規(guī)格，圖9所示的標頭區(qū)域中的標頭字段1至4被安排來定 位于溝槽區(qū)域與平面區(qū)域之間的邊緣附近，且標頭字段1至4分別具有位置 相關(guān)數(shù)據(jù)PID1至PID4，其中PID代表物理識別數(shù)據(jù)(Physical Identification Data)。此外，標頭區(qū)域被設(shè)計為具有樣式，其中該樣式包含有重復(fù)出現(xiàn)的復(fù) 數(shù)組4T凹洞(pit)與4T平面(land)組(即所謂的VFO區(qū)域，其中VFO代表可 變頻率振蕩器)，且可依據(jù)峰對峰值是否彼此相等而控制光學(xué)存儲裝置100-1。 本實施方式中，因為標頭字段1與3大于標頭字段2與4，利用分別相對應(yīng)于 標頭字段1與3的峰對峰值IVFOl與IVF03來控制光學(xué)存儲裝置100-1的實 施較為容易。依據(jù)峰對峰值IVF01與IVF03，可調(diào)整記錄循軌偏移。只要峰對峰值IVFOl與IVF03彼此相等，便達到將放射自光學(xué)讀取頭30的激光光 點的中心位置對準線(aO)的目標。
當激光光點的中心位置對準中央線(aO)時，分別對應(yīng)于檢測區(qū)域II與檢 測區(qū)域12的峰對峰值(其信號路徑也可分別稱為II路徑與12路徑)彼此相等。 當激光光點的中心位置移向線(bO)時，峰對峰值IVFOl大于峰對峰值IVF03。 當激光光點的中心位置移向線(cO)時，峰對峰值IVFOl小于峰對峰值IVF03。
需要注意的是，圖9所示的AS1信號的振幅輪廓是依據(jù)理想情況而描述。 在此理想情況中，II路徑與I2路徑之間沒有差別，且分離光電檢測器完美地 對準其位置。相反地，在真實情況中，如圖10與圖11所示，11路徑與I2路 徑之間的不平衡可能會發(fā)生，及/或分離光電檢測器未適當?shù)貙势湮恢谩?br> 圖10與圖11繪示針對某些其它的情形而在圖7所示的光學(xué)存儲裝置 100-1當中所利用的反射光量信號AS1的峰對峰值IVFOl與IVF03。在該多 個情形中，分別對應(yīng)于檢測區(qū)域I1與檢測區(qū)域I2的信號振幅并不相等。舉例 來說，當放射自光學(xué)讀取頭30的激光光點的中心位置分別對準線(al)與線(a2) 時，對應(yīng)于檢測區(qū)域II的路徑(即II路徑)的信號振幅大于對應(yīng)于檢測區(qū)域12 的路徑(即I2路徑)的信號振幅。請注意，上述的第一檢測區(qū)域Il與第二檢測 區(qū)域I2如同寓言一般地繪示于圖10與圖11，以便對各個檢測區(qū)域所檢測的 相對光量能有更好的理解。
更明確而言，由于I1路徑的路徑增益大于I2路徑的路徑增益，對應(yīng)于溝 槽軌道與平面軌道的表現(xiàn)會不同，如圖10與圖11分別所示。首先請參閱圖 10。由于I1路徑的路徑增益大于I2路徑的路徑增益，且由于標頭字段l與標 頭字段3分別對應(yīng)于II路徑與12路徑，當激光光點的中心位置對準中央線(al) 時，峰對峰值IVFOl大于峰對峰值IVF03。當激光光點之后從中央線(al)偏 向線(bl)時，由于峰對峰值IVFOl原本大于峰對峰值IVF03，峰對峰值IVFOl 與IVF03之間的差異會變得更大。
另一方面，當激光光點之后從中央線(al)偏向線(cl)時，由于峰對峰值IVFOl原本小于峰對峰值IVF03，峰對峰值IVFOl與IVF03之間的差異會變 小。如此，當激光光點的中心位置對準線(dl)時，即激光光點微量地從中央線 (al)偏向線(cl)時，峰對峰值IVFOl與IVF03實質(zhì)上會達到相同的值。至于從 中央線(al)偏向線(dl)的偏移量，是依II路徑的路徑增益與12路徑的路徑增 益之間的差異而定。當此差異較大時，從中央線(al)偏向線(dl)的偏移量會較 大(即，線(dl)比較靠近線(cl));否則，該偏移量會較小(即，線(dl)比較 靠近中央線(al))。
相仿地，針對圖10所示的同一個溝槽軌道，當II路徑的路徑增益小于 12路徑的路徑增益時，激光光點之后就從中央線(al)偏向線(el)。
關(guān)于圖ll所示的情形，激光光點己從溝槽軌道移到其相鄰的平面軌道。 由于II路徑的路徑增益大于12路徑的路徑增益，且由于標頭字段1與標頭字 段3分別對應(yīng)于I 2路徑與11路徑，當激光光點的中心位置對準中央線(a2) 時，峰對峰值IVFOl小于峰對峰值IVF03。當激光光點之后從中央線(a2)偏 向線(c2)時，由于峰對峰值IVFOl原本小于峰對峰值IVF03，峰對峰值IVFOl 與IVF03之間的差異會變得更大。
另一方面，當激光光點之后從中央線(a2)偏向線(b2)時，由于峰對峰值 IVFOl原本小于峰對峰值IVF03，峰對峰值IVFOl與IVF03之間的差異會變 小。如此，當激光光點的中心位置對準線(e2)時，即激光光點微量地從中央線 (a2)偏向線(b2)時，峰對峰值IVFOl與IVF03實質(zhì)上會達到相同的值。至于 從中央線(a2)偏向線(e2)的偏移量，其是依II路徑的路徑增益與12路徑的路徑 增益之間的差異而定。當此差異較大時，從中央線(a2)偏向線(e2)的偏移量會 較大(即，線(e2)比較靠近線(b2));否則，該偏移量會較小(即，線(e2)比較 靠近中央線(a2))。
相仿地，針對圖11所示的同一個平面軌道，當II路徑的路徑增益小于 12路徑的路徑增益時，激光光點之后就從中央線(a2)偏向線(d2)。
關(guān)于從圖10所示的情形至圖11所示的情形的轉(zhuǎn)變，當原本對準線(dl)(即激光光點沿著溝槽軌道的目標)的激光光點移向平面軌道時，激光光點 的中心位置最初對準線(d2)。然而，激光光點沿著該平面軌道的目標卻是線
(e2)。于是，當記錄循軌偏移控制被使能時，激光光點會從線(d2)偏向線(e2)。
關(guān)于從圖11所示的情形至圖10所示的情形的轉(zhuǎn)變，當原本對準線(e2) (即激光光點沿著平面軌道的目標)的激光光點移向溝槽軌道時，激光光點 的中心位置最初對準線(el)。然而，激光光點沿著溝槽軌道的目標卻是線(dl)。 于是，當記錄循軌偏移控制被使能時，激光光點會從線(el)偏向線(dl)。
一般而言，激光光點在線(d')與線(e')之間擺動，其中線(d')代表線(dl)或 線(d2)，而線(e')則代表線(el)或線(e2)。補償器130的帶寬可進一步減低，以 減少或消除線(d')與線(e')之間的擺動效應(yīng)；于是，不論I1路徑的路徑增益與 12路徑的路徑增益是否相等，激光光點的中心位置實質(zhì)上就對準線(a')，其中 線(a，)代表真正的軌道中心，例如上述的中央線(a0)、 (al)與(a2)。
依據(jù)第一實施方式，與上述的理想情況相比，圖7所示的光學(xué)存儲裝置 100-1通過設(shè)定補償器130的帶寬也可以在真實情況中適當?shù)夭僮?，所以激?光點不會明顯地在線(d')與線(e')之間擺動。舉例來說，補償器130的帶寬的 上限可設(shè)定為比轉(zhuǎn)頻(rotational frequency)低特定百分比(例如從10%至 20%當中的百分比)。當補償器130的帶寬愈低，放射自光學(xué)讀取頭30的激 光光點的中心位置就愈精確地對準線(a')。
在一般狀況下，當在記錄程序中記錄長度夠長時，圖3所示的架構(gòu)就足 以克服擺動效應(yīng)。但是如果在記錄程序中遇到記錄長度總是很短的情況，記 錄于溝槽軌道上的機率與記錄于平面軌道上的機率可能會不相等，就有機會 造成圖3所示的架構(gòu)無法操作或效能低落。
舉例來說，當在記錄程序中記錄長度等于一個錯誤校準碼區(qū)塊(Error Correction Code block, ECC block)(在本實施方式中，例如十六個區(qū)段) 之時，尤其是，當記錄位置不連續(xù)地分布并且在整個盤片上廣泛地散布在內(nèi) 圈外圈當中之時，記錄于溝槽軌道上的機率與記錄于平面軌道上的機率就會不相等。因此，本發(fā)明的某些實施方式可供使用于這些記錄于溝槽軌道上的 機率與記錄于平面軌道上的機率不相等的狀況。
在最差的狀況下，記錄于溝槽軌道上的機率與記錄于平面軌道上的禾幾率 相差甚多。如果大部分數(shù)據(jù)記錄于溝槽軌道上，則激光光點的中心位置會落 在線(d')。由于在本實施方式中II路徑的路徑增益大于12路徑的路徑增益，
一旦這兩個路徑增益之間的差異較大，從線(a，)偏向線(d')的偏移量就會較大 (即，線(d，)會更靠近線(c，)，其中線(c，)代表線(cl)或線(c2))。甚至激光光點 的中心位置會落在線(c，)，以致有機會損壞鄰軌上的數(shù)據(jù)。
另一方面，如果大部分數(shù)據(jù)記錄在平面軌道上，則激光光點的中心〗立置 會落在線(e')。由于在本實施方式中II路徑的路徑增益大于12路徑的路徑增 益， 一旦這兩個路徑增益之間的差異較大，從線(a，)偏向線(e，)的偏移量就會較 大(即，線(e，)會更靠近線(b，)，其中線(b，)代表線(bl)或線(b2))。甚至激光光 點的中心位置會落在線(b，)，以致有機會損壞鄰軌上的數(shù)據(jù)。為了解決這些問 題，接下來依據(jù)本發(fā)明的更多個實施方式(例如對應(yīng)于圖12至圖18的那些 實施方式)來進一步說明。
圖12為依據(jù)本發(fā)明的第二實施方式的光學(xué)存儲裝置100-2的示意圖，其 中第二實施方式為第一實施方式的變化例。第二實施方式與第一實施方式之 間的差異描述如下。如圖12所示，比較器CMP比較記錄長度與閾值 (threshold)，并依據(jù)此比較操作來產(chǎn)生旗標RecLongLength,其中旗標 RecLongLength代表記錄長度是否為長記錄長度。也就是說，旗標 RecLongLength是用來代表記錄長度是否比閾值更長。
另夕卜，記錄長度傳送自光學(xué)存儲裝置100-2中的編碼器(未顯示)，且閾 值是由光學(xué)存儲裝置100-2所設(shè)定或由光學(xué)存儲裝置100-2從外部所接收。舉 例來說，閾值代表十個軌道的臨界。若記錄長度大于閾值，旗標RecLongLength 被設(shè)定為邏輯值"1"，來代表記錄長度為長記錄長度；否則，旗標 RecLongLength被設(shè)定為邏輯值"0"，來代表記錄長度并非長記錄長度。圖12所示的旗標RecLongLength是用來決定是否送出讀出值(取得自讀出值信 號RV)，以供用來作為初始值INIT，其中旗標RecLongLength可在記錄程序 開始之前就已經(jīng)決定好了，或在記錄程序結(jié)束之后才決定。
請參考圖13所示的流程圖；如此，在記錄程序結(jié)束時，微處理單元150 可依據(jù)旗標RecLongLength所指出的內(nèi)容(即，記錄長度是否為長記錄長度) 來操作，以決定是否將初始值INIT設(shè)定為讀出值RV或保持初始值INIT不作 改變。在步驟1310中，微處理單元150檢査旗標RecLongLength是否被設(shè)定 為邏輯值"1"。若旗標RecLongLength設(shè)定為邏輯值"1"，進入步驟1320， 故微處理單元150將INIT設(shè)定為RV;否則(即旗標RecLongLength設(shè)定為 邏輯值"0")，進入步驟1330，故微處理單元150保持INIT的值不作改變。
依此，在記錄數(shù)據(jù)至光學(xué)存儲介質(zhì)的程序結(jié)束時，當旗標RecLongLength 指出記錄長度為長記錄長度時，微處理單元150可用讀出值RV來更新初始值 INIT，以供后續(xù)進行的另一個記錄程序所利用。另一方面，當旗標 RecLongLength指出記錄長度并非長記錄長度時，微處理單元150可保持初始 值INIT不作改變。于是，在后續(xù)進行的記錄程序之前或在后續(xù)進行的記錄程 序之初，循軌偏移控制回路可利用如上所述取得的初始{直INIT來設(shè)定記錄循 軌偏移。因此，依據(jù)本實施方式，當記錄長度短時典型地發(fā)生的問題(例如 當II路徑與12路徑不平衡存在時且大部分時間所使用的軌道為平面軌道或溝 槽軌道的情況下所造成的錯誤的循軌偏移閉回路控制)可予以避免。本實施 方式與上述實施方式相似之處不再重復(fù)贅述。
圖14為依據(jù)本發(fā)明第三實施方式的光學(xué)存儲裝置100-3的示意圖，其中 第三實施方式為第一實施方式的變化例，也為第二實施方式的變化例。如圖 14所示，第三實施方式中的比較器CMP是用來控制插入于補償器130與算術(shù) 單元132之間的多任務(wù)器145。如此，當旗標RecLongLength設(shè)定為邏輯值"l" 時，算術(shù)單元132是耦接至補償器130 (如同在第一實施方式中)；否則(即 旗標RecLongLength設(shè)定為邏輯值"0")，算術(shù)單元132耦接至一個零輸入(zero input)。
依據(jù)圖14所示的第三實施方式，在記錄程序開始之前，旗標 RecLongLength必須已經(jīng)決定好了 ，并且通過利用比較器CMP事先予以設(shè)定 為邏輯值"1"或邏輯值"0"。如此，與圖12所示的實施方式相比較，用來 決定圖14所示的實施方式中的旗標RecLongLength的時機較為嚴格。
多任務(wù)器145插入于補償器130與算術(shù)單元132之間。如此，在記錄程 序開始之前，當旗標RecLongLength指出傳送自編碼器的記錄長度(例如 對應(yīng)于目前的記錄程序的記錄長度的數(shù)值)并非長記錄長度時，算術(shù)單元132 注入信號0 (即上述的零輸入)，且循軌偏移控制回路保持記錄循軌偏移為初 始值INIT。另一方面，當旗標RecLongLength指出傳送自編碼器的記錄長度 (例如對應(yīng)于目前的記錄程序的記錄長度的數(shù)值)為長記錄長度時，算術(shù) 單元132注入來自補償器130的補償結(jié)果，且循軌偏移控制回路正常地操作， 而不保持記錄循軌偏移為初始值INIT。本實施方式與上述實施方式相似之處 不再重復(fù)描述。
依據(jù)第三實施方式的一個變化例，在第三實施方式中耦接至比較器CMP 的多任務(wù)器145可插入于差分電路126與補償器130之間，以達到與第三實 施方式相仿的操作結(jié)果。也就是說，多任務(wù)器145是插入于差分電路126與 補償器130之間。如此，多任務(wù)器145依據(jù)旗標RecLongLength多任務(wù)選擇 差分電路126所計算的差量或一個零輸入作為輸出，且補償器130依據(jù)多任 務(wù)器145的輸出來控制記錄循軌偏移。本變化例與上述實施方式相似之處不 再重復(fù)描述。
依據(jù)圖12與圖14所示的這兩個實施方式，本發(fā)明的系統(tǒng)與方法克服某 些錯誤控制的問題(例如在線記錄循軌偏移閉回路追蹤朝向一個不想要的 方向的問題，這樣的問題會導(dǎo)致激光光點的中心位置無法對準軌道的中央)。 舉例來說，本發(fā)明可應(yīng)用于具有小記錄長度的隨機寫入操作。
圖15為依據(jù)本發(fā)明的第四實施方式的光學(xué)存儲裝置100-4的示意圖，其中第四實施方式也為第一實施方式的變化例。不論上述的錯誤控制的問題是 否存在，本實施方式中的架構(gòu)均可正常操作。第四實施方式與第一實施方式
之間的差異描述如下。上述的補償器130被代換為補償單元130'。本實施方 式的補償單元130，包含補償器130以及其它組件(例如多個開關(guān))，上述 的其它組件是用來控制補償器130的輸入端的連接狀態(tài)，其中補償單元130' 的實施細節(jié)后續(xù)將進一步說明。兩個開關(guān)的切換狀態(tài)可依據(jù)溝槽/平面信號 GL來決定。于是，溝槽/平面信號GL可被某些其它組件加以利用，來于每 兩個軌道控制補償單元130'中的補償器130在特定時期(例如短時期)耦接 至差分電路126。
圖16繪示于本發(fā)明一個實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元130'的實 施細節(jié)的示意圖。如圖16所示，除了補償器130以及代表上述的兩個開關(guān)的 開關(guān)1646G與1646L，補償單元130，另包含邊沿檢測器1610、兩個延伸單元 (extension unit) 1622與1624、與門(AND gate) 1630、至少一個延遲單元 如延遲單元1639-1與1639-2、解多任務(wù)器(demultiplexer) 1642、兩個計算 單元1644G與1644L、以及算術(shù)單元(arithmetic unit)如加法器1648。算術(shù) 單元是用來取得其多個輸入的線性組合。由于本實施方式中的算術(shù)單元為加 法器1648，線性組合代表加法器1648的兩輸入之和。
圖17與圖18繪示于圖16所示的實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元 130'的相關(guān)信號。圖17對應(yīng)于當溝槽/平面信號GL的第一個邊沿為下降沿 的狀況，而圖18對應(yīng)于當溝槽/平面信號GL的第一個邊沿為上升沿的狀況。 依據(jù)本實施方式，邊沿檢測器1610檢測溝槽/平面信號GL的多個邊沿，來 產(chǎn)生多個檢測結(jié)果并透過檢測結(jié)果信號Er與Ef輸出檢測結(jié)果，其中檢測結(jié)果 信號Er與Ef所載的檢測結(jié)果(即檢測結(jié)果信號Er與Ef的脈沖)分別代表檢 測到上升沿與檢測到下降沿。
另外，這兩個延伸單元1622與1624分別保持檢測結(jié)果信號Er與Ef所載 的檢測結(jié)果，來產(chǎn)生中間信號ErSU與EfSU，如圖17與圖18所示。與門1630可依據(jù)中間信號ErSU與EfSU進行與運算(AND叩eration)，來產(chǎn)生輸出(于 圖17與圖18中是標示為"與門的輸出")如切換信號1638，以供控制開關(guān) 1646G與開關(guān)1646L;因此，當切換信號1638的延遲版本對應(yīng)于邏輯值"1 " 時，兩個延伸單元1622與1624所分別存儲的檢測結(jié)果的保持值均被切換信 號1638的延遲版本所清除。
延遲單元1639-1與1639-2以延遲量來延遲切換信號1638，來產(chǎn)生切換 信號1638的延遲版本，其中延遲量是依據(jù)理論計算或試誤性實驗而適當?shù)卦O(shè) 計。于是，延遲版本中的延遲脈沖的上升沿被對準切換信號1638中的相對應(yīng) 脈沖的下降沿。如此，每當切換信號1638的延遲版本中的延遲脈沖出現(xiàn)，兩 個延伸單元1622與1624就被重設(shè)。
此外，當切換信號1638對應(yīng)于邏輯值"1"時，開關(guān)1646G與開關(guān)1646L 透過解多任務(wù)器1642并通過計算單元1644G或1644L耦接加法器1648至差 分電路126，以致補償器130透過圖16所示的中間組件耦接至差分電路126 的輸出。否則當切換信號1638對應(yīng)于邏輯值"0"時，開關(guān)1646G與開關(guān)1646L 分別將加法器1648的輸入從計算單元1644G與計算單元1644L斷路。
請注意，圖17所示的與門的輸出的脈沖的出現(xiàn)對應(yīng)于溝槽/平面信號GL 的上升沿，而圖18所示的與門的輸出的脈沖的出現(xiàn)對應(yīng)于溝槽/平面信號GL 的下降沿。如此，不論溝槽/平面信號GL的第一個邊沿是為上升沿(即圖17 所示的狀況)或下降沿(即圖18所示的狀況)，與門的輸出的波形于每兩個 軌道就具有脈沖。
在本實施方式中，溝槽/平面信號GL的高位準代表溝槽軌道，而溝槽/平 面信號GL的低位準代表平面軌道。于是，在圖17所示的狀況中，切換信號 1638 (即圖17所示的與門的輸出)在接續(xù)出現(xiàn)的溝槽軌道的每一者開始時 觸發(fā)開關(guān)1646G與1646L。另外，在圖18所示的狀況中，切換信號1638 (即 圖18所示的與門的輸出)在接續(xù)出現(xiàn)的平面軌道的每一者開始時觸發(fā)開關(guān) 1646G與1646L。在本實施方式的一個變化例中，雖然溝槽/平面信號GL的位準的意義可能有所改變，與門的輸出的波形卻依然于每兩個軌道就具有脈 沖。
在說明了開關(guān)1646G與開關(guān)1646L的切換操作之后，由差分電路126至 補償器130的路徑上的組件進一步說明如下。
解多任務(wù)器1642依據(jù)溝槽/平面信號GL來解多任務(wù)選擇(demultiplex) 差分電路126的輸出，在本實施方式中，其中差分電路126的輸出代表峰對 峰值IVFOl與IVF03之間的差量。當溝槽/平面信號GL處于高位準(于本實 施方式即邏輯值"l")，這表示激光光點已經(jīng)移向特定溝槽軌道，解多任務(wù) 器1642透過標示為"1"的輸出端來將差分電路126的輸出轉(zhuǎn)送至計算單元 1644G。如此，計算單元1644G依據(jù)特定溝槽軌道中的每一區(qū)段的峰對峰值 IVFOl與IVF03之間的差量來進行統(tǒng)計運算來產(chǎn)生數(shù)值GRV一VFOdiff。 例 如，計算單元1644G通過計算對應(yīng)于特定溝槽軌道中的全部(或某些)區(qū)段 的峰對峰值IVFOl與IVF03之間的差量當中的最大值，來取得數(shù)值 GRV_VFOdiff。
另一方面，當溝槽/平面信號GL處于低位淮(于本實施方式即邏輯使'0")， 這表示激光光點己經(jīng)移向特定平面軌道，解多任務(wù)器1642透過標示為"0" 的輸出端來將差分電路126的輸出轉(zhuǎn)送至計算單元1644L。如此，計算單元 1644L依據(jù)該特定平面軌道中的每一區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間的 差量來進行統(tǒng)計運算來產(chǎn)生數(shù)值LND—VFOdiff。例如，計算單元1644L通過 計算對應(yīng)于特定平面軌道中的全部(或某些)區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03 之間的差量當中的最大值，來取得數(shù)值LND_VFOdiff。
依據(jù)本實施方式，在圖17所示的狀況中，切換信號1638在接續(xù)出現(xiàn)的 溝槽軌道的每一者開始時觸發(fā)開關(guān)1646G與1646L。另外，在圖18所示的狀 況中，切換信號1638在接續(xù)出現(xiàn)的平面軌道的每一者開始時觸發(fā)幵關(guān)1646G 與1646L。因此，針對每兩個軌道，加法器1648可將數(shù)值GRV一VFOdiff與 LND VFOdiff相加，來產(chǎn)生一個和以供輸入至補償器130供其操作之用。第四實施方式可通過參考圖10或圖11來進一步說明。請參考圖10，當
發(fā)射自光學(xué)讀取頭30的激光光點的中心對準中央線(al)時(例如針對特定 溝槽軌道)，峰對峰值IVFOl大于峰對峰值IVF03，故數(shù)值GRV—VFOdiff 大于零。請參考圖11，當發(fā)射自光學(xué)讀取頭30的激光光點的中心對準中央線 (a2)時(例如針對特定平面軌道)，峰對峰值IVFOl小于峰對峰值IVF03， 故數(shù)值LND一VFOdiff小于零。于是，數(shù)值GRV_VFOdiff與LND一VFOdiff之 和可接近或達到零；因此，循軌偏移就不會被循軌偏移控制回路所調(diào)整。
另外，請參考圖10，當激光光點的中心對準線(bl)時，峰對峰值IVFOl 確實會大于峰對峰值IVF03，故數(shù)值GRV—VFOdiff大于零。然而，請參考圖 11，當激光光點的中心對準線(b2)時，由于I1路徑的信號振幅大于I2路徑的 信號振幅，數(shù)值LND—VFOdiff (其于本實施方式中例如對應(yīng)于特定平面軌 道中的全部/某些區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間的差量當中的最大 值)的絕對值相較于激光光點的中心對準圖9所示的線(b0)的狀況就減少了。 于是，數(shù)值GRV一VFOdiff與LND—VFOdiff之和就大于零；因此，循軌偏移 控制回路就會沿著一個正確的方向來調(diào)整循軌偏移。
此外，請參考圖11，當激光光點的中心對準線(c2)時，峰對峰值IVFOl 確實會小于峰對峰值IVF03，故數(shù)值LND—VFOdiff小于零。然而，請參考圖 10，當激光光點的中心對準線(cl)時，由于I1路徑的信號振幅大于I2路徑的 信號振幅，數(shù)值GRV—VFOdiff (其于本實施方式例如對應(yīng)于特定溝槽軌道 中的全部/某些區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間的差量當中的最大值) 的絕對值相較于激光光點的中心對準圖9所示的線(c0)的狀況就減少了。于是， 數(shù)值GRV一VFOdiff與LND—VFOdiff之和就小于零；因此，循軌偏移控制回 路就會沿著一個正確的方向來調(diào)整循軌偏移。本實施方式與前述實施方式相 似之處不再重復(fù)描述。
依據(jù)圖16所示的實施方式的一個變化例，計算單元1644G與1644L的計 算可加以變化。例如計算單元1644G通過計算對應(yīng)于特定溝槽軌道中的全部(或某些)區(qū)段的峰對峰值IVF01與IVF03之間的差量當中的最小值，來 取得數(shù)值GRV—VFOdiff;而計算單元1644L通過計算對應(yīng)于特定平面軌道中 的全部(或某些)區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間的差量當中的最小值， 來取得數(shù)值LND—VFOdiff。本變化例與上述實施方式相似之處不再重復(fù)描述。
依據(jù)圖16所示的實施方式的另一個變化例，計算單元1644G通過計算對 應(yīng)于特定溝槽軌道中的全部(或某些)區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間 的差量的平均值，來取得數(shù)值GRV—VFOdiff;而計算單元1644L通過計算對 應(yīng)于特定平面軌道中的全部(或某些)區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間 的差量的平均值，來取得數(shù)值LND—VFOdiff。如此，依據(jù)本變化例，加法器 1648可對通過平均(averaging)對應(yīng)于溝槽軌道中的全部(或某些)區(qū)段的 差量所取得的數(shù)值GRV一VFOdiff以及通過平均對應(yīng)于鄰接該溝槽軌道的平面 軌道中的全部(或某些)區(qū)段的差量所取得的數(shù)值LND—VFOdiff進行加總， 來產(chǎn)生一個和以供輸入至補償器130供其操作之用。本變化例與上述實施方 式相似之處不再重復(fù)描述。
依據(jù)圖16所示的實施方式的另一個變化例，計算單元1644G通過針對對 應(yīng)于特定溝槽軌道中的全部(或某些)區(qū)段的峰對峰值IVFOl與IVF03之間 的差量進行移動平均(moving average)操作，來取得數(shù)值GRV—VFOdiff;而 計算單元1644L通過針對對應(yīng)于特定平面軌道中的全部(或某些)區(qū)段的峰 對峰值IVFOl與IVF03之間的差量進行移動平均操作，來取得數(shù)值 LND—VFOdiff。上述的移動平均操作通過動態(tài)地平均若干樣本(例如上述 的差量)來計算多個平均值，也就是說，此移動平均操作舍棄最舊的樣本并 且新增新的樣本，來取得接續(xù)地得到的多個平均值中之一，且取得自此移動 平均操作的平均值會比一般方法更加精確。如此，依據(jù)本變化例，加法器1648 可對通過移動平均(moving-averaging)對應(yīng)于溝槽軌道中的全部(或某些) 區(qū)段的差量所取得的數(shù)值GRV—VFOdiff以及通過移動平均對應(yīng)于鄰接該溝槽 軌道的平面軌道中的全部(或某些)區(qū)段的差量所取得的數(shù)值LND—VFOdiff進行加總，來產(chǎn)生一和以供輸入至補償器130供其操作之用。本變化例與上 述實施方式相似之處不再重復(fù)描述。
請參閱圖19， 一并參閱圖20與圖21。圖19繪示于本發(fā)明另一個實施方 式中關(guān)于圖15所示的補償單元130'的實施細節(jié)的示意圖，其中圖19所示的 實施方式為圖16所示的實施方式的變化例。圖20與圖21繪示在圖19所示 的實施方式中關(guān)于圖15所示的補償單元130'的相關(guān)信號。依據(jù)本實施方式， 上述的切換信號1638是代換為切換信號1938，而用來產(chǎn)生切換信號1638的 組件是對應(yīng)地代換為分頻器(frequency divider) 1910、至少延遲單元如延遲 單元1939、以及異或門(XORgate) 1930。
不論溝槽/平面信號GL的第一個邊沿是為下降沿(即圖21所示的狀況) 或上升沿(即圖20所示的狀況)，分頻器1910對溝槽/平面信號GL進行分 頻操作，以產(chǎn)生如圖中所繪示的分頻信號GLH，其中分頻信號GLH的頻率對 溝槽/平面信號GL的頻率的比例可采用1/2作為范例。延遲單元1939延遲分 頻信號GLH以產(chǎn)生延遲版本GLHD，如圖20與圖21所示。異或門1930依 據(jù)分頻信號GLH及其延遲版本GLHD進行異或操作(XOR operation)，以 產(chǎn)生輸出(于圖20與圖21中是標示為"異或門的輸出")如切換信號1938， 以供用來控制開關(guān)1646G與1646L。本實施方式與上述實施方式相似之處不 再重復(fù)描述。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施方式，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等 變化與修飾，都應(yīng)屬于本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1. 一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)，其特征在于，該光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該系統(tǒng)包含有循軌伺服回路，是安排來控制所述的光學(xué)存儲裝置的光學(xué)讀取頭的循軌操作；循軌偏移控制回路，是安排來控制所述的循軌伺服回路的記錄循軌偏移；控制器，是安排來使能所述的記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程序所利用，其中所述的最新值取得自所述的循軌偏移控制回路；以及比較器，是安排來比較記錄長度與閾值，并產(chǎn)生旗標來代表該記錄長度是否為長記錄長度。
2. 如權(quán)利要求1所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，當所述的旗標指出所述的記錄長度為長記錄長度時，所述的控 制器用所述的讀出值來更新所述的循軌偏移控制回路使用的初始值，以供后 續(xù)進行的所述的記錄程序所利用。
3. 如權(quán)利要求2所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，在后續(xù)進行的所述的記錄程序之前或在后續(xù)進行的所述的記錄 程序之初，所述的控制器另將所述的初始值設(shè)定為初始循軌偏移，其中所述 的初始循軌偏移是被所述的循軌偏移控制回路所利用。
4. 如權(quán)利要求1所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，當所述的旗標指出所述的記錄長度并非長記錄長度時，所述的 控制器保持初始值不作改變。
5. 如權(quán)利要求1所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，該系統(tǒng)另包含有多任務(wù)器，是安排來多任務(wù)選擇初始值或設(shè)定值作為輸出，其中在后續(xù)進行的所述的記錄程序之前或在后續(xù)進行的所述的記錄程序之初，所述的循 軌偏移控制回路利用所述的輸出來設(shè)定所述的記錄循軌偏移。
6. 如權(quán)利要求1所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，該循軌伺服回路包含循軌誤差信號檢測電路，是安排來依據(jù)來自所述的光學(xué)讀取頭的重現(xiàn)信 號來產(chǎn)生循軌誤差信號；循軌誤差補償器，是安排來依據(jù)控制參數(shù)進行補償，以依據(jù)所述的循軌 誤差信號來控制所述的光學(xué)讀取頭的徑向位置；以及讀取頭驅(qū)動電路，是安排來依據(jù)所述的循軌誤差補償器的輸出來驅(qū)動所 述的光學(xué)讀取頭。
7. 如權(quán)利要求1所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，該循軌偏移控制回路包含反射光量信號檢測電路，是安排來依據(jù)來自所述的光學(xué)讀取頭的至少一 個輸出來產(chǎn)生反射光量信號；多個取樣/保持電路，是安排來取樣/保持該反射光量信號以及分別產(chǎn) 生多個輸出；差分電路，是安排來計算來自所述的多個取樣/保持電路的所述的多個 輸出之間的差量；以及補償器，用來依據(jù)所述的差量來控制所述的記錄循軌偏移。
8. 如權(quán)利要求7所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，該系統(tǒng)另包含-多任務(wù)器，是安排來依據(jù)所述的旗標多任務(wù)選擇所述的補償器的輸出或 一個零輸入。
9. 如權(quán)利要求7所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)， 其特征在于，該系統(tǒng)另包含-多任務(wù)器，是安排來依據(jù)所述的旗標多任務(wù)選擇所述的差量或一個零輸入作為輸出；其中所述的補償器耦接至所述的多任務(wù)器，且被安排來依據(jù)所述的多任 務(wù)器的輸出來控制所述的記錄循軌偏移。
10. —種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)，其特征在于，所述的光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該系統(tǒng)包含有循軌伺服回路，是安排來控制所述的光學(xué)存儲裝置的光學(xué)讀取頭的循軌操作；循軌偏移控制回路，是安排來控制所述的循軌伺服回路的記錄循軌偏移， 所述的循軌偏移控制回路包含補償單元，是安排來依據(jù)多個在所述的循軌偏 移控制回路中所計算的差量，通過進行統(tǒng)計運算來控制所述的記錄循軌偏移； 以及控制器，是安排來使能所述的記錄循軌偏移的最新值作為一讀出值，以 供后續(xù)進行的記錄程序所利用，其中所述的最新值是取得自所述的循軌偏移 控制回路。
11. 如權(quán)利要求10所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，所述的控制器可利用所述的讀出值來更新使用于所述的循 軌偏移控制回路的初始值，以供后續(xù)進行的所述的記錄程序所利用。
12. 如權(quán)利要求11所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，在后續(xù)進行的所述的記錄程序之前或在后續(xù)進行的所述的 記錄程序之初，所述的控制器另將所述的初始值設(shè)定為初始循軌偏移，其中 所述的初始循軌偏移是被所述的循軌偏移控制回路所利用。
13. 如權(quán)利要求10所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，該循軌伺服回路包含循軌誤差信號檢測電路，是安排來依據(jù)來自所述的光學(xué)讀取頭的重現(xiàn)信 號產(chǎn)生循軌誤差信號；循軌誤差補償器，是安排來依據(jù)所述的控制參數(shù)迸行補償，以依據(jù)所述的循軌誤差信號來控制所述的光學(xué)讀取頭的徑向位置；以及讀取頭驅(qū)動電路，是安排來依據(jù)所述的循軌誤差補償器的輸出來驅(qū)動所 述的光學(xué)讀取頭。
14. 如權(quán)利要求10所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，該循軌偏移控制回路包含反射光量信號檢測電路，是安排來依據(jù)來自所述的光學(xué)讀取頭的至少一 個輸出來產(chǎn)生反射光量信號；多個取樣/保持電路，是安排來取樣/保持所述的反射光量信號來分別 產(chǎn)生多個輸出；以及差分電路，是安排來計算來自所述的多個取樣/保持電路的所述的多個 輸出之間的差量作為所述的多個差量之一。
15. 如權(quán)利要求10所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，該補償單元包含算術(shù)單元，是安排來取得來自所述的統(tǒng)計運算的多個統(tǒng)計運算結(jié)果的線性 組合；補償器，是安排來依據(jù)所述的多個統(tǒng)計運算結(jié)果的線性組合來控制所述 的記錄循軌偏移；以及兩個開關(guān)，是安排來依據(jù)溝槽/平面信號來于每兩個軌道提供所述的多 個統(tǒng)計運算結(jié)果的線性組合給所述的算術(shù)單元。
16. 如權(quán)利要求15所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，該循軌偏移控制回路是利用來控制所述的多個開關(guān)，且另 包含邊沿檢測器，是被安排來檢測所述的溝槽/平面信號的多個邊沿來產(chǎn)生 分別代表檢測到上升沿與檢測到下降沿的檢測結(jié)果；兩個延伸單元，是安排來分別保持所述的多個檢測結(jié)果；以及與門，是安排來依據(jù)來自所述的多個延伸單元的所述的多個檢測結(jié)果來進行與運算來產(chǎn)生切換信號，提供來控制所述的多個開關(guān)；其中被所述的多個延伸單元保持的所述的多個檢測結(jié)果可根據(jù)所述的切 換信號的延遲版本而被清除。
17. 如權(quán)利要求15所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，所述的循軌偏移控制回路是利用來控制所述的多個開關(guān)， 且該循軌偏移控制回路另包含有分頻器，是安排來對所述的溝槽/平面信號進行分頻操作來產(chǎn)生分頻信 號；以及異或門，是安排來依據(jù)所述的分頻信號與所述的分頻信號的延遲版本以 產(chǎn)生切換信號來控制所述的多個開關(guān)。
18. 如權(quán)利要求10所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系 統(tǒng)，其特征在于，所述的補償單元包含有解多任務(wù)器，是安排來解多任務(wù)選擇在所述的循軌偏移控制回路中所計 算的所述的多個差量；以及兩個計算單元，是安排來依據(jù)被所述的解多任務(wù)器所解多任務(wù)選擇的所述的多個差量來進行所述的統(tǒng)計運算來產(chǎn)生多個統(tǒng)計運算結(jié)果；其中所述的補償單元依據(jù)來自所述的統(tǒng)計運算的所述的多個統(tǒng)計運算結(jié) 果的線性組合來控制所述的記錄循軌偏移。
19. 一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法，其特征在于，所 述的光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該方法包含有存儲所述的記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程 序所利用，其中所述的最新值是取得自所述的光學(xué)存儲裝置的循軌偏移控制 回路；以及比較記錄長度與閾值，并依此決定是否來更新初始值。
20. 如權(quán)利要求19所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，當所述的記錄長度大于所述的閾值時，所述的初始值是由所述的讀出值來更新以供后續(xù)進行的所述的記錄程序所利用。
21. 如權(quán)利要求19所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法，其特征在于，當所述的記錄長度小于所述的閾值時，保留所述的初始值 以供后續(xù)進行的所述的記錄程序所利用。
22. 如權(quán)利要求19所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，比較所述的記錄長度與所述的閾值的步驟另包含產(chǎn)生旗標 來代表所述的記錄長度是否大于所述的閾值；以及所述的方法另包含有依據(jù)取得自所述的循軌偏移控制回路中的差量，利用所述的循軌偏移控 制回路中的補償器來控制所述的記錄循軌偏移；以及依據(jù)所述的旗標來多任務(wù)選擇所述的補償器的輸出或一個零輸入。
23. 如權(quán)利要求19所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，比較所述的記錄長度與所述的閾值的步驟另包含產(chǎn)生旗標 來代表所述的記錄長度是否大于所述的閾值；以及所述的方法另包含有依據(jù)所述的旗標來多任務(wù)選擇取得自所述的循軌偏移控制回路中的差量 或一個零輸入作為多任務(wù)器的輸出；以及依據(jù)所述的多任務(wù)器的輸出，利用所述的循軌偏移控制回路中的補償器 來控制所述的記錄循軌偏移。
24. —種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法，其中該光學(xué)存儲 裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)，該方法包含有存儲所述的記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，以供后續(xù)進行的記錄程 序所利用，其中所述的最新值是取得自所述的光學(xué)存儲裝置的循軌偏移控制 回路；以及依據(jù)多個由所述的循軌偏移控制回路計算的差量進行統(tǒng)計運算，來控制 所述的記錄循軌偏移。
25. 如權(quán)利要求24所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，該方法另包含有用所述的讀出值來更新所述的循軌偏移控制回路使用的初始值，以供后 續(xù)進行的所述的記錄程序所利用。
26. 如權(quán)利要求24所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方法，其特征在于，依據(jù)所述的多個差量進行所述的統(tǒng)計運算包含有計算對應(yīng)于特定的溝槽軌道中的多個區(qū)段的差量當中的最大值，且計算 對應(yīng)于特定的平面軌道中的多個區(qū)段的差量當中的最大值。
27. 如權(quán)利要求24所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，依據(jù)所述的多個差量進行所述的統(tǒng)計運算包含有-計算對應(yīng)于特定的溝槽軌道中的多個區(qū)段的差量當中的最小值，且計算 對應(yīng)于特定的平面軌道中的多個區(qū)段的差量當中的最小值。
28. 如權(quán)利要求24所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，依據(jù)所述的多個差量進行所述的統(tǒng)計運算包含有計算對應(yīng)于特定的溝槽軌道中的多個區(qū)段的差量的平均值，且計算對應(yīng) 于特定的平面軌道中的多個區(qū)段的差量的平均值。
29. 如權(quán)利要求24所述的用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的方 法，其特征在于，依據(jù)所述的多個差量進行所述的統(tǒng)計運算包含有針對對應(yīng)于特定的溝槽軌道中的多個區(qū)段的差量進行移動平均操作，且 針對對應(yīng)于特定的平面軌道中的多個區(qū)段的差量進行移動平均操作。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用來校準光學(xué)存儲裝置的記錄循軌偏移的系統(tǒng)及方法，其中光學(xué)存儲裝置存取平面/溝槽類型的光學(xué)存儲介質(zhì)。該系統(tǒng)包含有循軌伺服回路，是安排來控制光學(xué)存儲裝置的光學(xué)讀取頭的循軌操作；循軌偏移控制回路，是安排來控制循軌伺服回路的記錄循軌偏移；控制器，是安排來使能記錄循軌偏移的最新值作為讀出值，來以供后續(xù)進行的記錄程序所利用；以及比較器，是安排來比較記錄長度與閾值，并產(chǎn)生旗標來代表記錄長度是否為長記錄長度。其中最新值取得自循軌偏移控制回路。本發(fā)明所提供的方法及系統(tǒng)，能夠控制自光學(xué)讀取頭發(fā)射的激光光點在軌道中央，避免了因循軌不當而使數(shù)據(jù)受破壞。
文檔編號G11B7/09GK101286327SQ200810091700
公開日2008年10月15日 申請日期2008年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月14日
發(fā)明者蔡明憲, 辛國鼎 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司