專利名稱：光拾取裝置和光分割體的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于向光盤記錄信息或從光盤再生信息的光拾取裝置和光 分割體。
背景技術(shù)：
光拾取裝置用于向光盤記錄信息或從光盤再生信息。作為光盤能舉出 小型盤(Compact Disc、簡(jiǎn)稱CD )、數(shù)字多功能盤(Digital Versatile Disc、 簡(jiǎn)稱DVD )和藍(lán)光盤(Blu-ray Disc、登錄商標(biāo))等。CD的記錄再生使用 7S0nm附近的紅外波長(zhǎng)區(qū)域的激光。用于DVD的記錄再生的激光，比用于 記錄再生CD的激光的波長(zhǎng)短，具體說就是使用650 nm附近的紅色波長(zhǎng)區(qū) 域的激光。用于藍(lán)光盤的記錄再生的激光，具有比DVD記錄再生所使用的 激光更短的波長(zhǎng)，具體說就是使用405nm附近的藍(lán)紫色波長(zhǎng)區(qū)域的激光。光盤上形成有記錄層。相對(duì)于這種光盤進(jìn)行信息的記錄/再生時(shí)，把 激光向光盤的記錄層進(jìn)行聚光而照射，并由受光部接受來自光盤的反射光。 這樣來進(jìn)行信息的記錄/再生，同時(shí)檢測(cè)包含有對(duì)焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差 信號(hào)的隨動(dòng)信號(hào)以進(jìn)行隨動(dòng)控制。圖14是把現(xiàn)有光拾取裝置1的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)略化表示的圖?，F(xiàn)有的光拾取裝 置1中，來自光源2的射出光被衍射光柵3分離成主光束和一對(duì)副光束， 透射光分割體4并被準(zhǔn)直透鏡5變換成平行光，由物鏡6向光盤7的記錄 層8聚光。來自光盤7記錄層8的反射光透射物鏡6和準(zhǔn)直透鏡5,并被光 分割體4分割，以被聚光的狀態(tài)由受光部9受光。這種現(xiàn)有的光拾取裝置l 被日本特開2004-288227號(hào)和日本特開2004-303296號(hào)所公開。圖15是表示光分割體4一例的圖。該例在光分割體4的符號(hào)末尾付與 "a"。圖15表示光分割體4a與受光部9的關(guān)系。受光部9具有用于生成 對(duì)焦誤差信號(hào)的對(duì)焦用受光部11,和用于生成跟蹤誤差信號(hào)的一對(duì)跟蹤用 受光部12a、 12b。光分割體4a由全息元件實(shí)現(xiàn)。光分割體4a具有把來自光盤7記錄層8的反射光向?qū)褂檬芄獠?1反射的對(duì)焦用分割區(qū)域13，和把來自光盤7記錄層8的反射光向各跟蹤用受光部12a、 12b分別反射的一對(duì)跟蹤用分 割區(qū)域14a、 14b。對(duì)焦用分割區(qū)域13與一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域14a、 14b的邊界線15大致 沿與光學(xué)系統(tǒng)的基準(zhǔn)光軸L正交且向跟蹤方向Tl延伸的假想線16形成。 所述邊界線15中，相對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸L的半徑方向靠近外側(cè)的部分 17沿所述假想線16形成。所述邊界線15中，相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L的半 徑方向靠近內(nèi)側(cè)的部分18從所述^iE線16偏離，與該部分18沿所述^iS、 線16的情況相比，以增加對(duì)焦用分割區(qū)域13。圖16是表示光分割體4其他例的圖。該例在光分割體4的符號(hào)末尾付 與"b"。圖16表示光分割體4b與受光部9的關(guān)系。由于該例的光分割體 4b與所述圖15所示例的光分割體4a類似，所以僅說明不同點(diǎn)。該例的光 分割體4b在所述邊界線15中相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L的半徑方向靠近外側(cè) 的部分17,從所述々支想線16偏離，與該部分17沿所述^^想線16的情況相 比，以增加所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域14a、 14b。光盤7中，為了增大記錄容量而在其厚度方向上層積有多層記錄層8。 相對(duì)于這種光盤7的信息記錄/再生，從光源2的射出光被聚光就不僅有 來自聚光記錄層8a的反射光由受光部9受光，而且有來自與聚光記錄層8a 不同的非聚光記錄層8b的反射光由受光部9受光。圖17是用于說明形成有雙層記錄層8的光盤7中光的透射和反射的概 要情況的圖。圖17設(shè)定為從光源2側(cè)看光盤7時(shí)，非聚光記錄層8b位于 聚光記錄層8a內(nèi)側(cè)的情況。來自光源2的射出光21向聚光記錄層8a聚光 并被聚光記錄層8a反射。這時(shí)，來自光源2的射出光的一部分透射聚光記 錄層8a。透射聚光記錄層8a的透射光22以欲于相對(duì)于非聚光記錄層8b與 光源2側(cè)相反的內(nèi)側(cè)、聚焦于假想焦點(diǎn)23的方式被非聚光記錄層8b反射。圖18是用于說明在使用圖15所示的光分割體4a時(shí)，來自非聚光記錄 層8b的反射光受光狀態(tài)的圖。圖19是用于說明在使用圖16所示的光分割 體4b時(shí)，來自非聚光記錄層8b的反射光受光狀態(tài)的圖。圖18和圖19設(shè) 定為從光源2側(cè)看光盤7時(shí)，非聚光記錄層8b位于聚光記錄層8a內(nèi)側(cè)的情 況。這時(shí)，來自非聚光記錄層8b的反射光25以比來自聚光記錄層8a的反 射光被擴(kuò)展的狀態(tài)到達(dá)對(duì)焦用受光部11和各跟蹤用受光部12a、 12b，并被這些受光部ll、 12a、 12b受光。由此存在對(duì)隨動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生惡劣影響的問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種光拾取裝置和光分割體，能抑制由來自與 聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光而引起的惡劣影響。本發(fā)明的光拾取裝置向形成有多層記錄層的光盤照射光，用于向光盤的記錄層記錄信息或從光盤的記錄層再生信息，包括 光源，其射出光；光學(xué)系統(tǒng)，其把來自光源的射出光向光盤的記錄層聚光，且把來自光 盤記錄層的反射光進(jìn)行聚光；受光部，把來自光盤記錄層的反射光經(jīng)由光學(xué)系統(tǒng)受光，其具有第一 受光部和第二受光部，該第一受光部配置在把來自匯聚光源射出光的聚光 記錄層的反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的反射光，該第二 受光部配置成從聚光記錄層的反射光聚光位置離開而與第一受光部鄰接， 接受來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光；校正部，其根據(jù)第二受光部的受光結(jié)果來校正第一受光部的受光結(jié)果。根據(jù)本發(fā)明，在向光盤的記錄層記錄信息或從光盤的記錄層再生信息 時(shí)，相對(duì)于光盤從光盤的一側(cè)照射光。來自光源的射出光利用光學(xué)系統(tǒng)向 光盤的記錄層聚光。來自光盤記錄層的反射光利用光學(xué)系統(tǒng)被聚光并由受 光部受光。受光部具有第一受光部和第二受光部。第一受光部配置在把來自匯聚 光源射出光的聚光記錄層的反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層 的反射光。第二受光部配置成從聚光記錄層的反射光聚光的位置離開而與 第 一受光部鄰接，接受來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光。來自非聚光記錄層的反射光以比來自聚光記錄層的反射光擴(kuò)展的狀態(tài) 到達(dá)受光部。因此，來自非聚光記錄層的反射光被第一受光部受光?？紤] 到這點(diǎn)，校正部根據(jù)第二受光部的受光結(jié)果校正第一受光部的受光結(jié)果。 這樣能抑制由非聚光記錄層的反射光而引起的惡劣影響。本發(fā)明的所述光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)選為把光源的射出光分離成主光束和一對(duì)副 光束，并向光盤的記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其配置在把來自聚光記錄層的主光束反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射光； 一對(duì)副光束受光元件，其分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束反射光 進(jìn)行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部具有用于將各副光束受光元件中、來自非聚光記錄層 的主光束反射光所到達(dá)的副光束受光元件的受光結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)正的副光束校 正用受光部分，該副光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的主 光束反射光進(jìn)行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進(jìn)行 聚光的位置這兩者離開，與所述副光束受光元件鄰接，接受來自非聚光記 錄層的主光束反射光，所述校正部根據(jù)副光束校正用受光部分的受光結(jié)果來校正所述副光束 受光元件的受光結(jié)果。根據(jù)本發(fā)明，光源的射出光被光學(xué)系統(tǒng)分離成主光束和一對(duì)副光束并 向光盤的記錄層聚光。來自聚光記錄層的主光束反射光被光學(xué)系統(tǒng)聚光并 由主光束受光元件受光。來自聚光記錄層的各副光束反射光被光學(xué)系統(tǒng)聚 光并分別由各副光束受光元件受光。來自非聚光記錄層的主光束反射光以比來自聚光記錄層的各光束反射 光擴(kuò)展的狀態(tài)到達(dá)受光部?？紤]到這點(diǎn)，以與各副光束受光元件中、來自 非聚光記錄層的主光束反射光到達(dá)的副光束受光元件鄰接的方式配置副光 束校正用受光部分。校正部根據(jù)副光束校正用受光部分的受光結(jié)果校正所 述副光束受光元件的受光結(jié)果。這樣能抑制由非聚光記錄層的主光束反射 光而引起的惡劣影響。本發(fā)明的所述副光束校正用受光部分優(yōu)選具有介于所述副光束受光元件與主光束受光元件之間的中介受光元件，和相對(duì)所述副光束受光元件 而配置在與中介受光元件相反側(cè)的相反側(cè)受光元件。根據(jù)本發(fā)明，副光束校正用受光部分具有中介受光元件和相反側(cè)受光 元件。中介受光元件介于各副光束受光元件中、來自非聚光記錄層的主光 束反射光到達(dá)的副光束受光元件與主光束受光元件之間。相反側(cè)受光元件 相對(duì)所述副光束受光元件配置在中介受光元件的相反側(cè)。在校正所述副光 束受光元件的受光結(jié)果時(shí)，使用如前所述的副光束校正用受光部分的受光 結(jié)果。因此，能高精度地校正所述副光束受光元件的受光結(jié)果。這樣能盡 量抑制由非聚光記錄層的主光束反射光？ 1起的惡劣影響。本發(fā)明中優(yōu)選把所述中介受光元件和所述相反側(cè)受光元件形成為一體。根據(jù)本發(fā)明，由于把中介受光元件和相反側(cè)受光元件形成為一體，所 以不需要用于把中介受光元件的受光結(jié)果與相反側(cè)受光元件的受光結(jié)果相 加的加法電路。這樣，能把校正部的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單化。本發(fā)明的所述光學(xué)系統(tǒng)把光源的射出光分離成主光束和一對(duì)副光束并 向光盤的記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其被配置在把來自聚光記錄層的主光束反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射光； 一對(duì)副光束受光元件，其被分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束 反射光進(jìn)行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部具有用于校正主光束受光元件的受光結(jié)果的主光束校 正用受光部分，該主光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的主 光束反射光進(jìn)行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進(jìn)行 聚光的位置這兩者離開，與主光束受光元件鄰接，接受來自非聚光記錄層 的主光束反射光，所述校正部根據(jù)主光束校正用受光部分的受光結(jié)果校正主光束受光元 件的受光結(jié)果。根據(jù)本發(fā)明，光源的射出光被光學(xué)系統(tǒng)分離成主光束和一對(duì)副光束并 向光盤的記錄層聚光。來自聚光記錄層的主光束反射光被光學(xué)系統(tǒng)聚光并 由主光束受光元件受光。來自聚光記錄層的各副光束反射光被光學(xué)系統(tǒng)聚 光并分別由各副光束受光元件受光。來自非聚光記錄層的主光束反射光以比來自聚光記錄層的各光束反射 光擴(kuò)展的狀態(tài)到達(dá)受光部?？紤]到這點(diǎn)，與主光束受光元件鄰接地來配置 主光束校正用受光部分。校正部根據(jù)主光束校正用受光部分的受光結(jié)果來 校正主光束受光元件的受光結(jié)果。這樣能抑制由非聚光記錄層的主光束反 射光而引起的惡劣影響。本發(fā)明的所述主光束校正用受光部分優(yōu)選具有介于一側(cè)副光束受光 元件與主光束受光元件之間的一側(cè)受光元件，和介于另一側(cè)副光束受光元 件與主光束受光元件之間的另 一側(cè)受光元件。根據(jù)本發(fā)明，主光束校正用受光部分具有一側(cè)受光元件和另 一側(cè)受光元件。 一側(cè)受光元件介于一側(cè)副光束受光元件與主光束受光元件之間。另 一側(cè)受光元件介于另一側(cè)副光束受光元件與主光束受光元件之間。在校正 主光束受光元件的受光結(jié)果時(shí)，使用如前所述的主光束校正用受光部分的 受光結(jié)果。因此，能高精度地校正主光束受光元件的受光結(jié)果。這樣能盡 量抑制由非聚光記錄層的主光束反射光引起的惡劣影響。本發(fā)明中優(yōu)選把所述一側(cè)受光元件和所述另一側(cè)受光元件形成為一體。根據(jù)本發(fā)明，由于把一側(cè)受光元件和另一側(cè)受光元件形成為一體，所 以不需要用于把一側(cè)受光元件的受光結(jié)果與另 一側(cè)受光元件的受光結(jié)果相 加的加法電路。這樣，能把校正部的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單化。本發(fā)明的所述校正部根據(jù)來自非聚光記錄層反射光向第 一 受光部的入 射光量與向第二受光部的入射光量的比，預(yù)先設(shè)定第二受光部受光結(jié)果相 對(duì)于第一受光部受光結(jié)果的放大度，在校正第 一受光部的受光結(jié)果時(shí)，把第二受光部的受光結(jié)果按所述放 大度放大，并把該放大結(jié)果從第 一 受光部的受光結(jié)果中減去。根據(jù)本發(fā)明，基于來自非聚光記錄層反射光向第一受光部的入射光量 與向第二受光部的入射光量的比，把第二受光部受光結(jié)果相對(duì)于第一受光 部受光結(jié)果的放大度預(yù)先設(shè)定。在校正第一受光部的受光結(jié)果時(shí)，把第二 受光部的受光結(jié)果按所述放大度放大，并把該放大結(jié)果從第 一受光部的受 光結(jié)果中減去。因此，能高精度地校正第一受光部的受光結(jié)果。這樣能盡 量地抑制由非聚光記錄層的主光束反射光引起的惡劣影響。本發(fā)明優(yōu)選為所述受光部具有用于生成跟蹤誤差信號(hào)的、包括所述第 一受光部和所述第二受光部的 一對(duì)跟蹤用受光部，為了生成跟蹤誤差信號(hào)，所述光學(xué)系統(tǒng)把來自聚光記錄層的反射光分 割，并分別向各跟蹤用受光部反射。根據(jù)本發(fā)明，受光部具有用于生成跟蹤誤差信號(hào)的一對(duì)跟蹤用受光部。 來自聚光記錄層的反射光被光學(xué)系統(tǒng)分割并分別向各跟蹤用受光部反射。 各跟蹤用受光部包括第一受光部和第二受光部。根據(jù)第二受光部的受光結(jié) 果校正第一受光部的受光結(jié)果。因此，能降低跟蹤誤差信號(hào)中由來自非聚 光記錄層反射光引起的干擾成分和偏離成分。這樣能防止跟蹤隨動(dòng)特性的 惡化。本發(fā)明的光分割體是在所述光拾取裝置中，被所述光學(xué)系統(tǒng)所包含， 將來自光盤記錄層的反射光分割的光分割體，所述光拾取裝置的所述受光 部具有用于生成對(duì)焦誤差信號(hào)的對(duì)焦用受光部，和用于生成跟蹤誤差信 號(hào)、且包括所述第一受光部和所述第二受光部的一對(duì)跟蹤用受光部，該光分割體的特征在于，具有把來自聚光記錄層的反射光向?qū)褂檬芄獠糠瓷涞膶?duì)焦用分割區(qū)域， 和把來自聚光記錄層的反射光分別向各跟蹤用受光部反射的一對(duì)跟蹤 用分割區(qū)域。根據(jù)本發(fā)明，來自聚光記錄層的反射光被對(duì)焦用分割區(qū)域和各跟蹤用 受光部衍射并反射。來自對(duì)焦用分割區(qū)域的反射光以被聚光的狀態(tài)到達(dá)對(duì) 焦用受光部并被對(duì)焦用受光部受光。來自各跟蹤用分割區(qū)域的反射光以被 聚光的狀態(tài)分別到達(dá)各跟蹤用受光部并分別被各跟蹤用受光部受光。根據(jù) 對(duì)焦用受光部和各跟蹤用受光部的各受光結(jié)果能生成對(duì)焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)。各跟蹤用受光部包括第一受光部和第二受光部。根據(jù)第二受光部的受 光結(jié)果校正第一受光部的受光結(jié)果。因此，能降低跟蹤誤差信號(hào)中由來自 非聚光記錄層反射光引起的干擾成分和偏離成分。這樣能防止跟蹤隨動(dòng)特 性的惡化。本發(fā)明優(yōu)選所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線 中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近外側(cè)的部分，沿著與所 述基準(zhǔn)光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線。根據(jù)本發(fā)明，對(duì)焦用分割區(qū)域與一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中、相 對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近外側(cè)的部分，沿著與所述基準(zhǔn)光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線。因此，在利用刀刃法(亍一:7工:y"^法) 生成對(duì)焦誤差信號(hào)時(shí)，相對(duì)于對(duì)焦誤差信號(hào)能增大振幅，且能良好地平衡 正成分和負(fù)成分。本發(fā)明優(yōu)選所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線 中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近外側(cè)的部分，從所述假 想線偏離，與該部分沿著與所述基準(zhǔn)光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線 的情況相比、以增加所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域。根據(jù)本發(fā)明，對(duì)焦用分割區(qū)域與一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中、相對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近外側(cè)的部分從所述假想線偏離，與 該部分沿與所述基準(zhǔn)光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線的情況相比，能 增加一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域。這樣，相對(duì)于來自聚光記錄層的反射光能增加 到達(dá)各跟蹤用受光部的光量。因此，相對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)能提高S/N比。 本發(fā)明優(yōu)選所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線 中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近內(nèi)側(cè)的部分，從所述假 想線偏離，以使來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光向所述對(duì)焦用分 割區(qū)域入射。根據(jù)本發(fā)明，對(duì)焦用分割區(qū)域與一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中、相 對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近內(nèi)側(cè)的部分從所述假想線偏離，以 使來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光向?qū)褂梅指顓^(qū)域入射。這樣， 來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光不向跟蹤用分割區(qū)域入射。因此，來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光不到達(dá)各跟蹤用受光部。其結(jié)果 能抑制來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光引起的對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)的惡劣影響。本發(fā)明的目的、特色和優(yōu)點(diǎn)從下面的詳細(xì)說明和附圖能更加明確。


圖1是把本發(fā)明第一實(shí)施例光拾取裝置的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)略化表示的圖；圖2是表示受光部結(jié)構(gòu)的正面圖；圖3是表示光分割體結(jié)構(gòu)的正面圖；圖4是表示光分割體與受光部關(guān)系的圖；圖5是用于說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態(tài)的圖；圖6是表示具備本發(fā)明第二實(shí)施例光拾取裝置的受光部結(jié)構(gòu)的正面圖；圖7是表示光分割體結(jié)構(gòu)的正面圖；圖8是表示光分割體與受光部關(guān)系的圖；圖9是用于說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態(tài)的圖；圖10是表示具備本發(fā)明第三實(shí)施例光拾取裝置的受光部結(jié)構(gòu)的正面圖11是用于說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態(tài)的圖；圖12是表示具備本發(fā)明第四實(shí)施例光拾取裝置的受光部結(jié)構(gòu)的正面圖；圖13是用于說明來自非聚光記錄層的反射光受光狀態(tài)的圖； 圖14是把現(xiàn)有光拾取裝置的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)略化表示的圖； 圖15是表示光分割體一例的圖； 圖16是表示光分割體其他例的圖；圖17是用于說明形成有雙層記錄層的光盤中光的透射和反射概要情況的圖；圖18是用于說明在使用了圖15所示的光分割體時(shí)，來自非聚光記錄 層的反射光受光狀態(tài)的圖；圖19是用于說明在使用了圖16所示的光分割體時(shí)，來自非聚光記錄 層的反射光受光狀態(tài)的圖。
具體實(shí)施方式
以下參照附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例。圖1是把本發(fā)明第一實(shí)施例的光拾取裝置40的結(jié)構(gòu)筒略化表示的圖。 本實(shí)施例的光拾取裝置40相對(duì)于形成有多層記錄層41的光盤42，從光盤 42的一側(cè)照射光，為了向光盤42的記錄層41記錄信息或從光盤42的記錄 層41再生信息而使用。光盤42的各記錄層41在光盤42的厚度方向上層積。再生專用光盤42 的記錄層41中，4巴坑歹'J (匕°、;/卜歹IJ)形成螺旋狀，利用坑列形成石茲道。這 種再生專用的光盤42利用坑列表現(xiàn)信息。記錄用光盤42的記錄層41把凸 區(qū)(，y K)和凹槽(夕W—:7、)形成螺旋狀，利用凸區(qū)和凹槽來形成磁 道。這種記錄用的光盤42利用在凸區(qū)或凹槽形成的記錄標(biāo)記來表現(xiàn)信息。作為光盤42的 一例能舉出數(shù)字多用盤(Digital Versatile Disc、簡(jiǎn)稱 DVD )。本實(shí)施例中作為光盤42設(shè)定被稱為單面雙層盤的DVD來進(jìn)行說明。 以下把光盤42的各記錄層41中，后述的光源43的射出光聚光的記錄層41 被稱為聚光記錄層41a，光盤42的各記錄層41中與聚光記錄層41a不同的 記錄層41被稱為非聚光記錄層41b。光拾取裝置40包括射出光的光源43、把光源43的射出光向光盤42 的記錄層41聚光并把來自光盤42記錄層41的反射光進(jìn)行聚光的光學(xué)系統(tǒng) 44、經(jīng)由光學(xué)系統(tǒng)44接受來自光盤42記錄層41反射光的受光部45、 4艮據(jù)受光部45的受光結(jié)果來調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)44的光聚光位置的調(diào)整部46。這種 光拾取裝置40配置為使光學(xué)系統(tǒng)44的基準(zhǔn)光軸L與利用主軸電動(dòng)機(jī)而旋 轉(zhuǎn)的光盤42正交。所述光源43由激光二極管實(shí)現(xiàn)。從光源43射出適合于光盤42記錄再 生的波長(zhǎng)區(qū)域的光。本實(shí)施例中由于光盤42是DVD，所以作為光源43使 用射出適合于DVD記錄再生的650nm附近波長(zhǎng)區(qū)域的光的激光二極管。 650nm附近的波長(zhǎng)區(qū)域是紅色的波長(zhǎng)區(qū)域。所述光學(xué)系統(tǒng)44包括使光源43的射出光衍射并分離成主光束47和 一對(duì)副光束48、 49的衍射光4冊(cè)50、把來自衍射光柵50的各光束47 49分 別變換成平行光的準(zhǔn)直透鏡51 、把來自準(zhǔn)直透鏡51的各光束47 49向光盤 42的記錄層41聚光的物鏡52、把來自光盤42記錄層41的各光束47 49 的反射光進(jìn)行分割的光分割體53。所述衍射光柵50周期性地形成有凹凸。主光束47是衍射光柵50的0 級(jí)衍射光。各副光束48、 49是衍射光柵50的± 1級(jí)衍射光。各副光束48、 49在光盤42的記錄層41上相對(duì)主光束47向跟蹤方向Tl的兩側(cè)偏離，且 向切線方向T2的兩側(cè)偏離。5艮蹤方向Tl和切線方向T2與所述基準(zhǔn)光軸L 正交且相互正交。跟蹤方向Tl相當(dāng)于光盤42的半徑方向。切線方向T2相 當(dāng)于光盤42的切線方向。所述物鏡52在包含中立位置的可動(dòng)范圍內(nèi)被驅(qū)動(dòng)向?qū)狗较騀和跟蹤 方向T1位移。在中立位置物鏡52的光軸與所述基準(zhǔn)光軸L是同軸。對(duì)焦 方向F是沿所述基準(zhǔn)光軸L的方向，是相對(duì)光盤42接近和離開的方向。所述光分割體53夾在衍射光柵50與準(zhǔn)直透鏡51之間。光分割體53 不衍射而是透射光源43的射出光，且相對(duì)于來自光盤42記錄層41的反射 光是透射且衍射。所述調(diào)整部46具有驅(qū)動(dòng)物鏡52向?qū)狗较騀和跟蹤方向Tl位移的 驅(qū)動(dòng)部54和根據(jù)受光部45的受光結(jié)果來控制驅(qū)動(dòng)部54的控制部55?？刂?部55根據(jù)受光部45的受光結(jié)果來生成跟蹤誤差信號(hào)和對(duì)焦誤差信號(hào)，并 根據(jù)這些信號(hào)來進(jìn)行跟蹤隨動(dòng)控制和對(duì)焦隨動(dòng)控制。這樣，就能以使物鏡 52的聚光位置追隨聚光記錄層41a的磁道的方式，利用驅(qū)動(dòng)部54來驅(qū)動(dòng)物 鏡52向?qū)狗较騀和跟蹤方向Tl位移。本實(shí)施例中控制部55具有校正受 光部45受光結(jié)果的校正部56。圖2是表示受光部45結(jié)構(gòu)的正面圖。受光部45具有為了生成對(duì)焦 誤差信號(hào)而使用的對(duì)焦用受光部71和為了生成跟蹤誤差信號(hào)而使用的一對(duì) 跟蹤用受光部72a、 72b。對(duì)焦用受光部71和各跟蹤用受光部72a、 72b與 切線方向T2并列。對(duì)焦用受光部(以下稱為"FES受光部")71相對(duì)于切 線方向T2而被配置在與所述基準(zhǔn)光軸L為同一位置處。 一個(gè)跟蹤用受光部 (以下稱為"第一 TES受光部")72a相對(duì)于FES受光部71 -故配置在切線 方向T2的一側(cè)并與FES受光部71空開間隔。另一個(gè)跟蹤用受光部(以下 稱為"第二 TES受光部")72b相對(duì)于FES受光部71被配置在切線方向T2 的另一側(cè)并與FES受光部71空開間隔。FES受光部71被配置在把來自聚光記錄層41a的主光束反射光進(jìn)行聚 光的位置，具有接受來自聚光記錄層41a的主光束反射光的一對(duì)主光束受光 元件73、 74。各主光束受光元件73、 74在切線方向T2無間隙地鄰接。各 主光束受光元件73、 74的邊界線75包含在第一假想平面P1中。第一假想 平面Pl包含所述基準(zhǔn)光軸L并與切線方向T2正交。以下把相對(duì)第一假想 平面Pl在一側(cè)的主光束受光元件稱為第一主光束受光元件73。把相對(duì)第一 假想平面Pl在另一側(cè)的主光束受光元件稱為第二主光束受光元件74。第一TES受光部72a具有配置在把來自聚光記錄層41a的反射光進(jìn) 行聚光的位置而接受來自聚光記錄層41a反射光的第一受光部76a，和從把 來自聚光記錄層41a的反射光進(jìn)行聚光的位置離開而配置為與第一受光部 76a鄰接并接受來自非聚光記錄層41b反射光的第二受光部77a。第一受光部76a具有配置在把來自聚光記錄層41a的主光束反射光 進(jìn)行聚光的位置而接受來自聚光記錄層41a主光束反射光的主光束受光元 件80a,和被分別配置在把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光 的位置而分別接受來自聚光記錄層41a各副光束反射光的一對(duì)副光束受光 元件81a、 82a。主光束受光元件80a和各副光束受光元件81a、 82a在切線 方向T2并列。 一個(gè)副光束受光元件(以下稱為"第一副光束受光元件") 81a相對(duì)于主光束受光元件80a配置在切線方向T2的一側(cè)并與主光束受光 元件80a空開間隔。另一個(gè)副光束受光元件(以下稱為"第二副光束受光元 件")82a相對(duì)于主光束受光元件80a配置在切線方向T2的另一側(cè)并與主光 束受光元件80a空開間隔。第二受光部77a具有副光束校正用受光部分83a，用于校正一對(duì)副光束受光元件81a、 82a中、來自非聚光記錄層41b的主光束反射光到達(dá)的副光 束受光元件即第一副光束受光元件81a的受光結(jié)果。副光束校正用受光部分 83a從把來自聚光記錄層41a的主光束反射光進(jìn)行聚光的位置和把來自聚光 記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光的位置這兩者離開，而配置為與第一 副光束受光元件81a鄰接，接受來自非聚光記錄層41b的主光束反射光。本 實(shí)施例中副光束校正用受光部分83a具有夾在第一副光束受光元件81a與主 光束受光元件80a之間的中介受光元件84a。由于第二 TES受光部72b與第一 TES受光部72a相同，所以為了避免 重復(fù)而省略說明。在對(duì)應(yīng)部分的符號(hào)上使用同一數(shù)字，而符號(hào)的末尾替代 "a，，而使用"b"。受光部45的各受光元件73、 74、 80a 82a、 84a、 80b ~82b、 84b形成 有大致長(zhǎng)方形的受光面。各受光元件73、 74、 80a 82a、 84a、 80b 82b、 84b 的受光面在跟蹤方向T1延伸。這種各受光元件73、 74、 80a 82a、 84a、 80b 82b、 84b由光電二極管實(shí)現(xiàn)。.圖3是表示光分割體53結(jié)構(gòu)的正面圖。光分割體53由全息元件實(shí)現(xiàn)。 光分割體53沿與所述基準(zhǔn)光軸L垂直的第二假想平面設(shè)置。在沿所述基準(zhǔn) 光軸L的方向看時(shí)，光分割體53形成為包含有來自聚光記錄層41a反射光 通過的通過區(qū)域。本實(shí)施例的光分割體53從沿所述基準(zhǔn)光軸L的方向所看 到的外形是以所述基準(zhǔn)光軸L為中心的圓形。光分割體53具有把來自聚光記錄層41a的反射光向FES受光部71 反射的對(duì)焦用分割區(qū)域91，和把來自聚光記錄層41a的反射光分別向一對(duì) TES受光部72a、 72b反射的一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域92a、 92b。對(duì)焦用分割區(qū) 域91和各跟蹤用分割區(qū)域92a、 92b沿與所述基準(zhǔn)光軸L垂直的第二^f艮想 平面設(shè)置。對(duì)焦用分割區(qū)域91和各跟蹤用分割區(qū)域92a、 92b形成有多個(gè)槽。 根據(jù)衍射效率和受光部45的配置等來設(shè)定這些槽的深度和間隔。利用這種 槽來形成全息圖形。在此為了說明方便而設(shè)定有第一假想線86和第二假想線87。第一假想 線86在所述第二假想平面內(nèi)與所述基準(zhǔn)光軸L正交且向跟蹤方向T1延伸。 第二假想線87在所述第二假想平面內(nèi)與所述基準(zhǔn)光軸L正交且向切線方向 T2延伸。大致敘述就是，對(duì)焦用分割區(qū)域(以下稱為"FES分割區(qū)域")91其大部分相對(duì)第一假想線86被配置在一側(cè)。 一個(gè)跟蹤用分割區(qū)域(以下稱為"第一 TES分割區(qū)域")92a配置為相對(duì)第一假想線86在另 一側(cè)且相對(duì)第二假想 線87在一側(cè)，另一個(gè)跟蹤用分割區(qū)域(以下稱為"第二TES分割區(qū)域") 92b配置為相對(duì)第一假想線86在另一側(cè)且相對(duì)第二假想線87在另一側(cè)。光分割體53形成有FES分割區(qū)域91與各TES分割區(qū)域92a、 92b的 邊界線即第 一邊界線93 ，和第一 TES分割區(qū)域92a與第二 TES分割區(qū)域92b 的邊界線即第二邊界線94。第一邊界線93大致沿第一假想線86形成，兩 端部與光分割體53的邊緣95連接。第一邊界線93中相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸 L的半徑方向靠近外側(cè)的部分96沿第一假想線86形成。第一邊界線93中 相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L的半徑方向靠近內(nèi)側(cè)的部分97從第一假想線86偏 離而相對(duì)于第 一假想線86向另 一側(cè)形成，在本實(shí)施例中被形成為以所述基 準(zhǔn)光軸L為中心的半圓弧狀。第二邊界線94沿第二假想線87形成， 一端 部與第一邊界線93兩端部之間的中間部連接，另一端部與光分割體53的 邊緣95連接。換言之，F(xiàn)ES分割區(qū)域91具有在光分割體53整體中、相對(duì)第一假 想線86由一側(cè)部分構(gòu)成的本體部分98，和與本體部分98相連且從本體部 分98相對(duì)第一假想線86向另一側(cè)突出的突出部分99。本實(shí)施例中，突出 部分99被形成為以所述基準(zhǔn)光軸L為中心的半圓形狀。第一 TES分割區(qū)域 92a由這樣的部分構(gòu)成從在光分割體53整體中相對(duì)第一假想線86在另一 側(cè)、且相對(duì)第二假想線87在一側(cè)的部分中，把與所述突出部分99重疊的 部分除去的殘余部分。第二TES分割區(qū)域92b由這樣的部分構(gòu)成從在光 分割體53整體中相對(duì)第一假想線86在另一側(cè)、且相對(duì)第二假想線87在另 一側(cè)的部分中，把與所述突出部分99重疊的部分除去的殘余部分。圖4是表示光分割體53與受光部45關(guān)系的圖。為了容易理解，圖4 中省略了來自非聚光記錄層41b的反射光而僅表示來自聚光記錄層41a的 反射光。來自聚光記錄層41a的主光束反射光和來自聚光記錄層41a的各副 光束反射光向光分割體53入射。來自聚光記錄層41a的主光束反射光一皮FES分割區(qū)域91和各TES分 割區(qū)域92a、 92b衍射并反射。來自FES分割區(qū)域91的反射光以被聚光的 狀態(tài)到達(dá)FES受光部71的各主光束受光元件73、 74的邊界線75附近，并 在這些各主光束受光元件73、 74上形成光斑101。來自第一TES分割區(qū)域92a的反射光以被聚光的狀態(tài)到達(dá)第一 TES受光部72a的主光束受光元件 80a并在該主光束受光元件80a上形成光斑102。來自第二TES分割區(qū)域92b 的反射光以被聚光的狀態(tài)到達(dá)第二TES受光部72b的主光束受光元件80b， 并在該主光束受光元件80b上形成光斑103。來自聚光記錄層41a的各副光束反射光被FES分割區(qū)域91和各TES 分割區(qū)域92a、 92b衍射并反射。來自FES分害'J區(qū)域91的各反射光以被聚 光的狀態(tài)分別到達(dá)第一 TES受光部72a與FES受光部71之間的部分、以及 第二 TES受光部72b與FES受光部71之間的部分，并分別在第一 TES受 光部72a與FES受光部71之間的部分、以及第二 TES受光部72b與FES 受光部71之間的部分形成光斑104、 105。來自第一 TES分割區(qū)域92a的各 反射光以被聚光的狀態(tài)分別到達(dá)第一 TES受光部72a的各副光束受光元件 81a、 82a，并分別在這些各副光束受光元件81a、 82a上形成光斑106、 107。 來自第二 TES分割區(qū)域92b的各反射光以被聚光的狀態(tài)分別到達(dá)第二 TES 受光部72b的各副光束受光元件81b、 82b,并分別在這些各副光束受光元 件81b、 82b上形成光斑108、 109。來自聚光記錄層41a的反射光不到達(dá)第一 TES受光部72a的中介受光 元件84a和第二TES受光部72b的中介受光元件84b。詳細(xì)說就是，來自聚 光記錄層41a的主光束反射光和來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到 達(dá)各中介受光元件84a、 84b。圖5是用于說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態(tài)的圖。為了 容易理解，圖5中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。為了更加容易理解，圖5中省略了來自非聚光記錄 層41b的各副光束的反射光而僅表示來自非聚光記錄層41b的主光束的反 射光。圖5設(shè)定為在從光源43側(cè)看光盤42時(shí)，非聚光記錄層41b位于聚 光記錄層41a內(nèi)側(cè)的情況。來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光和來 自非聚光記錄層41b的主光束土 1級(jí)衍射光向光分割體53入射。來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光在光分割體53上的所述基 準(zhǔn)光軸L附近形成光斑111。該光斑111在光分割體53的各分割區(qū)域91 、 92a、 92b中僅形成在FES分割區(qū)域91。反過來說就是，為了使該光斑lll 在光分割體53的各分割區(qū)域91 、 92a、 92b中僅形成在FES分割區(qū)域91 ， 設(shè)定光分割體53，特別是FES分割區(qū)域91的突出部分99的形狀和尺寸。優(yōu)選設(shè)定FES分割區(qū)域91的突出部分99形狀和尺寸，以即使在所述光斑111最大時(shí)也把所述光斑111整體包含。所述光斑111最大是指聚光記錄層41a與非聚光記錄層41b之間層的折射率最大，且聚光記錄層41a與非聚光 記錄層41 b之間的層間隔最小時(shí)的情況。來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光被FES分割區(qū)域91衍射并 反射。來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光的、來自FES分割區(qū)域 91的反射光到達(dá)FES受光部71,并在該FES受光部71上形成光斑113。 該光斑113比來自聚光記錄層41a主光束反射光的光斑101擴(kuò)展。本實(shí)施例 中，來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光的、來自FES分割區(qū)域91 的反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、 74受光。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光在光分割體53上相對(duì)于 所述基準(zhǔn)光軸L分別在跟蹤方向Tl的兩側(cè)形成光斑112a、 112b。 +1級(jí)衍 射光的光斑112a跨越第一TES分割區(qū)域92a和FES分割區(qū)域91形成。- 1 級(jí)衍射光的光斑112b跨越第二 TES分割區(qū)域92b和FES分割區(qū)域91形成。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光被FES分割區(qū)域91衍射 并反射。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光的、來自FES分割區(qū) 域91的反射光到達(dá)FES受光部71，并在該FES受光部71上形成大致共通 的光斑114。該光斑114比來自聚光記錄層41a主光束反射光的光斑101擴(kuò) 展。本實(shí)施例中來自非聚光記錄層41b的主光束土l級(jí)衍射光的、來自FES 分割區(qū)域91的反射光由FES受光部71的第二主光束受光元件74受光。來自非聚光記錄層41b的主光束+1級(jí)衍射光被第一 TES分割區(qū)域92a 衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的主光束+1級(jí)衍射光的、來自第一 TES 分割區(qū)域92a的反射光到達(dá)第一 TES受光部72a，并在該第一 TES受光部 72a上形成光斑115a。該光斑115a比來自聚光記錄層41a各光束反射光的 各光斑102、 106、 107擴(kuò)展。本實(shí)施例中，來自非聚光記錄層41b的主光 束+1級(jí)衍射光的、來自第一 TES分割區(qū)域92a的反射光由第一 TES受光部 72a的主光束受光元件80a、第一副光束受光元件81a和中介受光元件84a 受光。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級(jí)衍射光被第二 TES分割區(qū)域92b 衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級(jí)衍射光的、來自第一 TES分割區(qū)域92a的反射光到達(dá)第二 TES受光部72b,并在該第二 TES受光部72b形成光斑115b。該光斑115b比來自聚光i己錄層41a各光束反射光 的各光斑103、 108、 109擴(kuò)展。本實(shí)施例中，來自非聚光記錄層41b的主 光束-1級(jí)衍射光的、來自第二 TES分割區(qū)域92b反射光由第二 TES受光 部72b的主光束受光元件80b、第一副光束受光元件81b和中介受光元件 84b受光。對(duì)焦誤差信號(hào)通過刀刃法生成。本實(shí)施例中把光分割體53的第一邊界 線93作為刀刃。刀刃法通過取FES受光部71中各主光束受光元件73、 74 的受光結(jié)果S73、 S74的差來得到對(duì)焦誤差信號(hào)。具體說就是對(duì)焦誤差信號(hào) FES能由以下的式(1 )的運(yùn)算來得到。FES = S73 - S74 ( 1 )光源43的射出光相對(duì)聚光記錄層41a在光源43側(cè)(近側(cè))聚結(jié)焦點(diǎn) 時(shí)，來自聚光記錄層41a的反射光相對(duì)FES受光部71在跟前側(cè)聚結(jié)焦點(diǎn)。 這時(shí)，第二主光束受光元件74的受光結(jié)果S74比第一主光束受光元件73 的受光結(jié)果S73大，對(duì)焦誤差信號(hào)FES是負(fù)的。相反，光源43的射出光相對(duì)聚光記錄層41a在光源43側(cè)相反的內(nèi)側(cè) (遠(yuǎn)側(cè))聚結(jié)假想焦點(diǎn)時(shí)，來自聚光記錄層41a的反射光相對(duì)FES受光部 71在內(nèi)側(cè)聚結(jié)假想焦點(diǎn)。這時(shí)，第一主光束受光元件73的受光結(jié)果S73比 第二主光束受光元件74的受光結(jié)果S74大，對(duì)焦誤差信號(hào)FES是正的。跟蹤誤差信號(hào)通過差動(dòng)推挽法(Differential Push Pull,簡(jiǎn)稱DPP) 生成。DPP法根據(jù)第一 TES受光部72a的受光結(jié)果和第二 TES受光部72b 的受光結(jié)果生成跟蹤誤差信號(hào)。在生成跟蹤誤差信號(hào)時(shí)，各TES受光部72a、 72b^4居第二受光部77a、 77b的受光結(jié)果來校正第一受光部76a、 76b的受光結(jié)果。本實(shí)施例中第一 TES受光部72a中，根據(jù)副光束校正用受光部分83a即中介受光元件84a 的受光結(jié)果S84a來校正第一副光束受光元件81a的受光結(jié)果S81a。第二 TES受光部72b中，根據(jù)副光束校正用受光部分83b即中介受光元件84b 的受光結(jié)果S84b來校正第一副光束受光元件81b的受光結(jié)果S81b。具體說 就是通過以下的式(2)和式(3)的運(yùn)算來進(jìn)行校正。S81aR = S81a-kll x S84a (2)S81bR=S81b-kl2xS84b (3)上述式(2)和式(3 )中，S81aR和S81b R是沖交正第 一副光束受光元件81a、 81b受光結(jié)果S81a、 S81b的校正結(jié)果。kll和kl2是系數(shù)，是相對(duì) 第一副光束受光元件81a、 81b受光結(jié)果S81a、 S81b的中介受光元件84a、 84b受光結(jié)果S84a、 S84b的放大度。放大度根據(jù)來自非聚光記錄層41b的 主光束土l級(jí)衍射光中、向第一副光束受光元件81a、 81b的入射光量與向 中介受光元件84a、 84b的入射光量的比而預(yù)先設(shè)定。跟蹤誤差信號(hào)TES能通過以下的式(4)的運(yùn)算得到。TES = ( S80a - S80b ) - k13 x { ( S81a R - S81b R) + ( S82a - S82b ) }(4)式(4)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信號(hào)。(S81a R - S81b R ) 和(S82a-S82b)是各副光束的推挽信號(hào)。在使用DPP法時(shí)，使各副光束 推挽信號(hào)的相位相對(duì)主光束推挽信號(hào)的相位錯(cuò)開180度，以此設(shè)定衍射光 柵50的凹凸間距。這樣，能消除跟蹤誤差信號(hào)中表現(xiàn)出的由物鏡52的漂 移而引起的偏離。kl3是系數(shù)，用于校正主光束與各副光束光強(qiáng)度的不同。 強(qiáng)度比若為主光束 一個(gè)副光束另一個(gè)副光束二a: b: b時(shí)，則kl3二a/ (2b )。 k13能根據(jù)衍射光柵50的槽的深度來決定。信息再生信號(hào)能通過取FES受光部71中各主光束受光元件73、 74的 受光結(jié)果S73、 S74、第一TES受光部72a中主光束受光元件80a的受光結(jié) 果S80a和第二 TES受光部72b中主光束受光元件80b的受光結(jié)果S80b的 和來得到。具體說就是信息再生信號(hào)RF能通過以下的式(5)的運(yùn)算得到。RF = S73+ S74 + S80a+S80b (5)根據(jù)以上的本實(shí)施例，來自非聚光記錄層41b的主光束士l級(jí)衍射光 的、來自各TES分割區(qū)域92a、 92b的反射光由各TES受光部72a、 72b的 第一副光束受光元件81a、 81b受光?？紤]到這點(diǎn)，如前所述，校正部56 根據(jù)中介受光元件84a、 84b的受光結(jié)果S84a、 S84b來校正第一副光束受 光元件81a、 81b的受光結(jié)果S81a、 S81b。因此，相對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)能抑 制由來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光所引起的惡劣影響。由于各副光束的光強(qiáng)度相對(duì)主光束的光強(qiáng)度低到1/10左右，所以在 生成3艮蹤誤差信號(hào)時(shí)，4巴各副光束受光元件81a、 81b、 82a、 82b的受光結(jié) 果S81a、 S81b、 S82a、 S82b的放大度設(shè)定為大于各主光束受光元件80a、 80b的受光結(jié)果S80a、 S80b的放大度。因此來自非聚光記錄層41b的主光 束± 1級(jí)衍射光被各副光束受光元件81a、 81b、 82a、 82b受光時(shí)就產(chǎn)生大的惡劣影響。于是如前所述校正第一副光束受光元件81a、 81b的受光結(jié)果 S81a、 S81b。這樣，能有效地抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束土l級(jí) 衍射光所引起的惡劣影響。在校正第一副光束受光元件81a、 81b的受光結(jié)果S81a、 S81b時(shí)，把 中介受光元件84a、 84b的受光結(jié)果S84a、 S84b》文大，并4巴該放大結(jié)果從 第一副光束受光元件81a、 81b的受光結(jié)果S81a、 S81b中減去(參照上述 式(2)和式(3))。根據(jù)來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光中向 第一副光束受光元件81a、 81b的入射光量與向中介受光元件84a、 84b的入 射光量的比，預(yù)先設(shè)定相對(duì)第一副光束受光元件81a、 81b受光結(jié)果S81a、 S81b的中介受光元件84a、 84b受光結(jié)果S84a、 S84b的放大度。因此能高 精度地校正第一副光束受光元件81a、 81b的受光結(jié)果S81a、 S81b。這樣， 能盡量地抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光所引起的惡劣 影響。以使來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光在光分割體53的各分 割區(qū)域91、 92a、 92b中僅向FES分割區(qū)域91入射的方式，設(shè)定光分割體 53，特別是FES分割區(qū)域91的突出部分99的形狀和尺寸。這樣，來自非 聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光不向TES分割區(qū)域92a、 92b入射。因 此，來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光不到達(dá)各TES受光部72a、 72b。其結(jié)果是相對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)能抑制由來自非聚光記錄層41b的主光 束O級(jí)衍射光的惡劣影響。這樣，相對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)能抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束0 級(jí)衍射光的惡劣影響，而且能抑制由來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí) 衍射光的惡劣影響。這樣，相對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)能減少由來自非聚光記錄 層41b的主光束反射光所引起的干擾成分和偏離成分。這樣能防止跟蹤隨 動(dòng)特性的惡化。來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光中來自FES分割區(qū)域91的 反射光由FES受光部71的各主光束受光元件73、 74受光。但來自FES分 割區(qū)域91的反射光與來自聚光記錄層41a的主光束反射光相比，被形成非 常才莫糊的光斑113。因此，在FES受光部71的各主光束受光元件73、 74 中來自非聚光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光的入射光量與來自聚光記錄 層41a的主光束反射光的入射光量相比，足夠小。而且在生成對(duì)焦誤差信號(hào)時(shí)，取FES受光部71的各主光束受光元件73、 74的受光結(jié)果S73、 S74的 差(參照上述式(l))。因此，包含在各主光束受光元件73、 74受光結(jié)果 S73、 S74中的干擾相互抵消。其結(jié)果是相對(duì)于對(duì)焦誤差信號(hào)能把來自非聚 光記錄層41b的主光束0級(jí)衍射光所引起的干擾成分和偏離成分變得非常 小。來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光中，來自FES分割區(qū)域 91的反射光由FES受光部71的第二主光束受光元件74受光。但來自FES 分割區(qū)域91的反射光與來自聚光記錄層41a的主光束反射光相比形成非常 模糊的光斑114。且來自非聚光記錄層41b的主光束± 1級(jí)衍射光的光強(qiáng)度 與來自聚光記錄層41a的主光束反射光的光強(qiáng)度相比，非常小。因此，相對(duì) 于對(duì)焦誤差信號(hào)能把來自非聚光記錄層41b的主光束土 l級(jí)衍射光所引起的 干擾成分和偏離成分變得非常小。光分割體53的第一邊界線93中相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L的半徑方向而 靠近外側(cè)的部分96，沿第一假想線86形成。因此在利用刀刃法生成對(duì)焦誤 差信號(hào)時(shí)相對(duì)于對(duì)焦誤差信號(hào)能增大振幅，且能良好平衡正成分和負(fù)成分。圖6是表示具備本發(fā)明第二實(shí)施例光拾取裝置的受光部120結(jié)構(gòu)的正 面圖。由于本實(shí)施例的光拾取裝置與上述第 一實(shí)施例的光拾取裝置40類似， 所以在同 一部分上付與同 一符號(hào)而省略說明，僅對(duì)不同點(diǎn)進(jìn)行說明。第一 TES受光部72a的第二受光部77a具有用于校正第一副光束受 光元件81a的受光結(jié)果的第一副光束校正用受光部分121a,和用于校正第 二副光束受光元件82a的受光結(jié)果的第二副光束校正用受光部分122a。第一副光束校正用受光部分12la從把來自聚光記錄層41a的主光束反 射光進(jìn)行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光 的位置這兩者離開，而配置為與第一副光束受光元件81a鄰接。第一副光束 校正用受光部分121a具有夾在第一副光束受光元件81a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件123a。第二副光束校正用受光部分122a從把來自聚光記錄層41 a的主光束反 射光進(jìn)行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光 的位置這兩者離開，而配置為與第二副光束受光元件82a鄰接。第二副光束 校正用受光部分122a具有夾在第二副光束受光元件82a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件124a。第一 TES受光部72a中第二受光部77a的各中介受光元件123a、 124a 形成有大致長(zhǎng)方形的受光面。各中介受光元件123a、 124a的受光面向跟蹤 方向T1延伸。這種各中介受光元件123a、 124a由光電二極管實(shí)現(xiàn)。由于第二 TES受光部72b的第二受光部77b與第一 TES受光部72a的 第二受光部77a相同，所以為了避免重復(fù)而省略說明。在對(duì)應(yīng)部分的符號(hào)上 使用同一數(shù)字，而符號(hào)的末尾替代"a"而使用"b"。圖7是表示光分割體130結(jié)構(gòu)的正面圖。FES分割區(qū)域131其大部分 相對(duì)第一假想線86被配置在一側(cè)。第一 TES分割區(qū)域132a配置為其大部 分相對(duì)第一假想線86在另一側(cè)且相對(duì)第二假想線87在一側(cè)。第二 TES分 割區(qū)域132b配置為其大部分相對(duì)第一假想線86在另一側(cè)且相對(duì)第二假想 線87在另一側(cè)。第一邊界線93中相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L的半徑方向靠近外側(cè)的部分 96 A^第一々支想線86偏離，以與該部分96沿第一々i想線86形成的情況相比 增加一對(duì)TES分割區(qū)域132a、 132b。本實(shí)施例第一邊界線93中相對(duì)于所述 基準(zhǔn)光軸L的半徑方向靠近外側(cè)的部分96相對(duì)第一假想線86傾斜，以隨 著相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L向外側(cè)而從第一假想線86離開。圖8是表示光分割體130與受光部120關(guān)系的圖。為了容易理解圖8 中省略了來自非聚光記錄層41b的反射光而僅表示來自聚光記錄層41a的 反射光。來自聚光記錄層41a的反射光不到達(dá)第一 TES受光部72a的各中介受 光元件123a、 124a。詳細(xì)說就是，來自聚光記錄層41a的主光束反射光和 來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到達(dá)各中介受光元件123a、 124a。來自聚光記錄層41a的反射光不到達(dá)第二 TES受光部72b的各中介受 光元件123b、 124b。詳細(xì)說就是，來自聚光記錄層41a的主光束反射光和 來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到達(dá)各中介受光元件123b、 124b。圖9是用于說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態(tài)的圖。為了 容易理解圖9中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。為了更加容易理解圖9中省略了來自非聚光記錄層 41b的各副光束的反射光而僅表示來自非聚光記錄層41b的主光束的反射 光。圖9設(shè)定為在從光源43側(cè)看光盤42時(shí)，非聚光記錄層41b位于聚光 記錄層41a內(nèi)側(cè)的情況。來自非聚光記錄層41b的主光束士 1級(jí)衍射光在光分割體130上相對(duì)于 所述基準(zhǔn)光軸L分別在跟蹤方向Tl的兩側(cè)形成光斑112a、 112b。 +1級(jí)書亍 射光的光斑112a形成在第一TES分割區(qū)域132a。 - 1級(jí)衍射光的光斑112b 形成在第二 TES分割區(qū)域132b 。來自非聚光記錄層41 b的主光束+1級(jí)衍射光被第一 TES分割區(qū)域132a 衍射并反射。對(duì)于來自非聚光記錄層41b的主光束+1級(jí)衍射光，來自第一 TES分割區(qū)域132a的反射光到達(dá)第一 TES受光部72a，并在該第一 TES受 光部72a上形成光斑135a。該光斑135a比來自聚光記錄層41a各光束反射 光的各光斑102、 106、 107擴(kuò)展。本實(shí)施例中，來自非聚光記錄層41b的 主光束+1級(jí)衍射光的來自第一 TES分割區(qū)域132a的反射光由第一 TES受 光部72a的主光束受光元件80a、各副光束受光元件81a、 82a和各中介受 光元件123a、 124a受光。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級(jí)衍射光被第二 TES分割區(qū)域 132b衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的主光束-1級(jí)衍射光的來自第 二 TES分割區(qū)域132b的反射光到達(dá)第二 TES受光部72b，并在該第二 TES 受光部72b上形成光斑135b。該光斑135b比來自聚光記錄層41a各光束反 射光的各光斑103、 108、 109擴(kuò)展。本實(shí)施例中，來自第二TES分割區(qū)域 132b的反射光由第二 TES受光部72b的主光束受光元件80b、各副光束受 光元件81b、 82b和各中介受光元件123b、 124b受光。在生成跟蹤誤差信號(hào)時(shí)，各TES受光部72a、 72b根據(jù)第二受光部77a、 77b的受光結(jié)果校正第一受光部76a、 76b的受光結(jié)果。本實(shí)施例中，第一 TES受光部72a根據(jù)各中介受光元件123a、 124a的受光結(jié)果S123a、 S124a 校正各副光束受光元件81a、 82a的受光結(jié)果S81a、 S82a。第二TES受光部 72b根據(jù)各中介受光元件123b、 124b的受光結(jié)果S123b、 S124b校正各副光 束受光元件81b、 82b的受光結(jié)果S81b、 S82b。具體說就是，通過以下的式 (6) ~式(9)的運(yùn)算來進(jìn)行校正。S81aR= S81a-k21 x S123a (6)S82aR= S82a-k22 x S124a (7)S81bR = S81b_k23 x S123b (8)S82bR=S82b-k24x S124b (9)上述式(6)和式(7)中，S81a R和S82a R是校正第一TES受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a受光結(jié)果S81a、 S82a的4交正結(jié)果。k21 和k22是系數(shù)，是相對(duì)第一 TES受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a 受光結(jié)果S81a、 S82a的、各中介受光元件123a、 124a受光結(jié)果S123a、 S124a 的放大度。放大度根據(jù)來自非聚光記錄層41b的主光束+1級(jí)衍射光中向各 副光束受光元件81a、 82a的入射光量與向各中介受光元件123a、 124a的入 射光量的比而預(yù)先設(shè)定。上述式(8)和式(9)中，S81b R和S82b R是校正第二TES受光部 72b中各副光束受光元件81b、 82b受光結(jié)果S81b、 S82b的校正結(jié)果。k23 和k24是系數(shù)，是相對(duì)第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、 82b 受光結(jié)果S81b、S82b的、各中介受光元件123b、124b受光結(jié)果S123b、S124b 的放大度。放大度根據(jù)來自非聚光記錄層41b的主光束-1級(jí)衍射光中向各 副光束受光元件81b、 82b的入射光量與向各中介受光元件123b、 124b的 入射光量的比而預(yù)先設(shè)定。跟蹤誤差信號(hào)TES能通過以下的式(10)的運(yùn)算得到。 TES=( S80a-S80b) - k25 x {( S81a R - S81b R) + ( S82a R _ S82b R)} (10)式(IO)中，(S80a-S80b)是主光束的推4免信號(hào)。(S81a R - S81b R ) 和(S82aR-S82bR)是各副光束的推挽信號(hào)。k25是系數(shù)，用于校正主光 束與各副光束光強(qiáng)度的不同。以上的本實(shí)施例也能達(dá)到與上述第一實(shí)施例同樣的效果。根據(jù)本實(shí)施 例，光分割體130的第一邊界線93中、相對(duì)于所述基準(zhǔn)光軸L的半徑方向 靠近外側(cè)的部分96從第一假想線86偏離，以與該部分96沿第一假想線86 形成的情況相比增加一對(duì)TES分割區(qū)域132a、 132b。這樣，能使來自聚光 記錄層41a的反射光增加到達(dá)各TES受光部72a、 72b的光量。因此相對(duì)于 跟蹤誤差信號(hào)能提高S/N比。圖IO是表示具備本發(fā)明第三實(shí)施例光拾取裝置的受光部140結(jié)構(gòu)的正 面圖。由于本實(shí)施例的光拾取裝置與上述第二實(shí)施例的光拾取裝置類似， 所以在同 一部分上付與同 一符號(hào)而省略說明，僅對(duì)不同點(diǎn)進(jìn)行說明。第一 TES受光部72a的第二受光部77a具有用于校正第一副光束受 光元件81a的受光結(jié)果的第一副光束校正用受光部分141a、用于校正第二 副光束受光元件82a的受光結(jié)果的第二副光束校正用受光部分142a、用于校正主光束受光元件80a的受光結(jié)果的主光束校正用受光部分143a。第一副光束^f交正用受光部分141a/人4巴來自聚光記錄層41a的主光束反 射光進(jìn)行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光 的位置這兩者離開，配置為與第一副光束受光元件81a鄰接。第一副光束校 正用受光部分141a具有夾在第一副光束受光元件81a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件144a，相對(duì)第一副光束受光元件81a而被配置在中 介受光元件144a相反側(cè)的相反側(cè)受光元件145a。第二副光束校正用受光部分142a從把來自聚光記錄層41a的主光束反 射光進(jìn)行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光 的位置這兩者離開，配置為與第二副光束受光元件82a鄰接。第二副光束校 正用受光部分142a具有夾在第二副光束受光元件82a與主光束受光元件 80a之間的中介受光元件146a，相對(duì)第二副光束受光元件82a而被配置在中 介受光元件146a相反側(cè)的相反側(cè)受光元件147a。主光束校正用受光部分143a從把來自聚光記錄層41a的主光束反射光 進(jìn)行聚光的位置和把來自聚光記錄層41a的各副光束反射光進(jìn)行聚光的位 置這兩者離開，配置為與主光束受光元件80a鄰接。主光束校正用受光部分 143a具有夾在第一副光束受光元件81a與主光束受光元件80a之間的一 側(cè)受光元件148a，夾在第二副光束受光元件82a與主光束受光元件80a之 間的另 一側(cè)受光元件149a。第一 TES受光部72a中第二受光部77a的各受光元件144a 149a形成 有大致長(zhǎng)方形的受光面。各受光元件144a 149a的受光面在蹤方向Tl延伸。 這種各受光元件144a 149a由光電二極管實(shí)現(xiàn)。來自聚光記錄層41a的反射 光不到達(dá)各受光元件144a 149a。詳細(xì)i兌就是，來自聚光記錄層41a的主光 束反射光和來自聚光記錄層41a的各副光束反射光不到達(dá)各受光元件 144a 149a。由于第二 TES受光部72b的第二受光部77b與第一 TES受光部72a的 第二受光部77a相同，所以為了避免重復(fù)而省略說明。在對(duì)應(yīng)部分的符號(hào)上 使用同一數(shù)字，而符號(hào)的末尾替代"a"而使用"b"。圖11是用于說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態(tài)的圖。為了 容易理解圖11中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。圖11設(shè)定為在從光源43側(cè)看光盤42時(shí)，非聚光記錄層41b位于聚光記錄層41a內(nèi)側(cè)的情況。來自非聚光記錄層41b的各光束 0級(jí)衍射光和來自非聚光記錄層41b的各光束± 1級(jí)衍射光向光分割體130 入射。來自非聚光記錄層41b的各光束0級(jí)衍射光在光分割體130上的所述 基準(zhǔn)光軸L附近分別形成光斑151、 152、 153。這些各光斑151 153在光分 割體130的各分割區(qū)域131、 132a、 132b中僅形成在FES分割區(qū)域131。反 過來說就是，為了使這些各光斑151 153在光分割體130的各分割區(qū)域131、 132a、 132b中僅形成在FES分割區(qū)域131,設(shè)定光分割體130，特別是FES 分割區(qū)域131的突出部分99的形狀和尺寸。優(yōu)選將FES分割區(qū)域131的突 出部分99形狀和尺寸設(shè)定為即使在所述各光斑151 153最大時(shí)也把所述各 光斑151 153整體包含。所述各光斑151-153最大是指聚光記錄層41a與 非聚光記錄層41b之間層的折射率最大，且聚光記錄層41a與非聚光記錄層 41 b之間的層間隔最小時(shí)的情況。來自非聚光記錄層41b的各光束0級(jí)衍射光被FES分割區(qū)域131衍射 并反射。來自非聚光記錄層41b的各光束0級(jí)衍射光的、來自FES分割區(qū) 域131的各反射光到達(dá)FES受光部71，并在該FES受光部71上分別形成 光斑161、 162、 163。這些各光斑161 163比來自聚光記錄層41a主光束反 射光的光斑101擴(kuò)展。本實(shí)施例中來自非聚光記錄層41b的各光束0級(jí)衍 射光的、來自FES分割區(qū)域131的各反射光由FES受光部71的各主光束受 光元件73、 74受光。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級(jí)衍射光在光分割體130上相對(duì)所 述基準(zhǔn)光軸L在跟蹤方向Tl的一側(cè)分別形成光斑154a、 155a、 156a。這些 各光斑154a 156a在光分割體130中僅形成在第一 TES分割區(qū)域132a。反 過來說就是，為了使這些各光斑154a 156a在光分割體130的各分割區(qū)域 131、 132a、 132b中僅形成在第一 TES分割區(qū)域132a，以此設(shè)定光分割體 130,特別是第一TES分割區(qū)域132a的形狀和尺寸。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級(jí)衍射光被第一 TES分割區(qū)域132a 衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級(jí)衍射光的、來自第一 TES 分割區(qū)域132a的反射光到達(dá)第一 TES受光部72a，并在該第一 TES受光部 72a上分別形成光斑164a、 165a、 166a。這些各光斑164a 166a比來自聚光 記錄層41a各光束反射光的各光斑102、 106、 107擴(kuò)展。本實(shí)施例中來自非聚光記錄層41b的各光束+1級(jí)衍射光的、來自第一 TES分割區(qū)域132a的 各反射光由第一 TES受光部72a的各受光元件80a 82a、 144a 149a受光。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級(jí)衍射光在光分割體130上相對(duì)所 述基準(zhǔn)光軸L在跟蹤方向Tl的另一側(cè)分別形成光斑154b、 155b、 156b。這 些各光斑154b 156b在光分割體130中僅形成在第二TES分割區(qū)域132b。 反過來說就是，為了使這些各光斑154b 156b在光分割體130的各分割區(qū) 域131、 132a、 132b中僅形成在第二 TES分割區(qū)域132b地這樣來設(shè)定光分 割體130，特別是第二 TES分割區(qū)域132b的形狀和尺寸。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級(jí)衍射光被第二 TES分割區(qū)域 132b衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級(jí)衍射光的、來自 第二TES分割區(qū)域132b的各反射光到達(dá)第二TES受光部72b，并在該第二 TES受光部72b上分別形成光斑164b、 165b、 166b。這些各光斑164b 166b 比來自聚光記錄層41a各光束反射光的各光斑103、 108、 109擴(kuò)展。本實(shí)施 例中來自非聚光記錄層41b各光束-1級(jí)衍射光的、來自第二 TES分割區(qū) 域132b的各反射光由第二 TES受光部72b的各受光元件80b 82b、 144b 149b受光。在生成跟蹤誤差信號(hào)時(shí)，各TES受光部72a、 72b根據(jù)第二受光部77a、 77b的受光結(jié)果來校正第一受光部76a、 76b的受光結(jié)果。第一 TES受光部72a根據(jù)第 一副光束校正用受光部分141 a的中介受光 元件144a和相反側(cè)受光元件145a的受光結(jié)果S144a、 S145a,校正第一副 光束受光元件81a的受光結(jié)果S81a。且根據(jù)第二副光束校正用受光部分142a 的中介受光元件146a和相反側(cè)受光元件146a的受光結(jié)果S146a、 S147a, 校正第二副光束受光元件82a的受光結(jié)果S82a。根據(jù)主光束校正用受光部 分143a的一側(cè)受光元件148a和另一側(cè)受光元件149a的受光結(jié)果S148a、 S149a，校正主光束受光元件80a的受光結(jié)果S80a。第二 TES受光部72b 也是同樣。具體說就是通過以下的式(11) 式(16)的運(yùn)算來進(jìn)行校正。S81aR = S81a-k31 x ( S144a + S145a ) (11)S82a R = S82a - k32 x ( S146a + S147a ) (12)S80aR=S80a_k33 x ( S148a + S149a ) (13)S81bR = S81b-k34x ( S144b + S145b ) (14)S82bR = S82b-k35 x ( S146b + S147b ) (15)S80bR = S80b-k36 x ( S148b + S149b ) (16) 上述式(11 ) 式(13 )中，S81aR、 S82aR和S80a R是校正第一 TES 受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a和主光束受光元件80a受光結(jié)果 S81a、 S82a、 S80a的校正結(jié)果。上述式(14) 式(16)中，S81bR、 S82b R和S80b R是校正第二 TES受光部72b中各副光束受光元件81b、 82b和 主光束受光元件80b受光結(jié)果S81b、 S82b、 S80b的校正結(jié)果。K31 k36是 表示放大度的系數(shù)。放大度根據(jù)入射光量的比而預(yù)先設(shè)定。跟蹤誤差信號(hào)TES通過以下的式(17)的運(yùn)算得到。 TES = ( S80a R - S80b R) - k37 x {( S81a R - S81b R) + ( S82a R - S82b R)} (17)式(17)中，(S80a-S80b)是主光束的推挽信號(hào)。(S81a R - S81b R ) 和(S82aR-S82bR)是各副光束的推挽信號(hào)。K37是系數(shù)，用于校正主光 束與各副光束光強(qiáng)度的不同。以上的本實(shí)施例也能達(dá)到與上述第二實(shí)施例同樣的效果。根據(jù)本實(shí)施 例，來自非聚光記錄層41b的各光束± 1級(jí)衍射光的、來自各TES分割區(qū) 域132a、 132b的反射光由各TES受光部72a、 72b的主光束受光元件80a、 80b受光?？紤]到這點(diǎn)，如前所述，校正部56校正各光束受光元件80a、 80b 的受光結(jié)果。因此，相對(duì)于跟蹤誤差信號(hào)能更加抑制由來自非聚光記錄層 41b的主光束土 1級(jí)衍射光所引起的惡劣影響。在校正各TES受光部72a、 72b的主光束受光元件80a、 80b的受光結(jié) 果時(shí)，使用了一側(cè)受光元件148a、 148b和另一側(cè)受光元件149a、 149b的各 受光結(jié)果。這樣，能高精度校正各TES受光部72a、 72b的主光束受光元件 80a、 80b的受光結(jié)果。在校正第一TES受光部72a的第一副光束受光元件 81a的受光結(jié)果時(shí)，使用了中介受光元件144a和相反側(cè)受光元件145a的各 受光結(jié)果。這樣，能高精度校正第一 TES受光部72a的第一副光束受光元 件81a的受光結(jié)果。相對(duì)于其他的副光束受光元件82a、 81b、 82b也是同樣。 因此能盡量地抑制由來自非聚光記錄層41b的各光束± 1級(jí)衍射光所引起的 惡劣影響。圖12是表示的本發(fā)明第四實(shí)施例光拾取裝置所具有的受光部170結(jié)構(gòu) 的正面圖。由于本實(shí)施例的光拾取裝置與上述第三實(shí)施例的光拾取裝置類 似，所以在同一部分上付與同一符號(hào)而省略說明，僅對(duì)不同點(diǎn)進(jìn)行說明。第一 TES受光部72a的第二受光部77a中，第一副光束校正用受光部 分171a構(gòu)成為中介受光元件144a和相反側(cè)受光元件145a形成為一體。本 實(shí)施例把第一副光束校正用受光部分171a形成為包圍在第一副光束受光元 件81a周圍。第二副光束校正用受光部分172a構(gòu)成為中介受光元件146a 和相反側(cè)受光元件147a形成為一體。本實(shí)施例把第二副光束校正用受光部 分172a形成為包圍在第二副光束受光元件82a周圍。主光束校正用受光部 分173a構(gòu)成為一側(cè)受光元件148a和另一側(cè)受光元件149a形成為一體。本 實(shí)施例把主光束校正用受光部分173a形成為包圍在主光束受光元件80a周 圍。由于第二 TES受光部72b的第二受光部77b與第一 TES受光部72a的 第二受光部77a相同，所以為了避免重復(fù)而省略說明。在對(duì)應(yīng)部分的符號(hào)上 使用同一數(shù)字，而符號(hào)的末尾替代"a"而使用"b"。圖13是用于說明來自非聚光記錄層41b的反射光受光狀態(tài)的圖。為了 容易理解圖13中省略了來自聚光記錄層41a的反射光而僅表示來自非聚光 記錄層41b的反射光。圖13設(shè)定為在從光源43側(cè)看光盤42時(shí)，非聚光記 錄層41b位于聚光記錄層41a內(nèi)側(cè)的情況。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級(jí)衍射光被第一 TES分割區(qū)域132a 衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的各光束+1級(jí)衍射光的、來自第一 TES 分割區(qū)域132a的各反射光到達(dá)第一 TES受光部72a,并在該第一 TES受光 部72a上分別形成光斑164a 166a。這些各光斑164a 166a比來自聚光記錄 層41a各光束反射光的各光斑102、 106、 107擴(kuò)展。本實(shí)施例中來自非聚光 記錄層41b的各光束+l級(jí)衍射光的、來自第一TES分割區(qū)域132a的各反 射光由第一 TES受光部72a的各受光元件80a 82a和各校正用受光部分 171a 173a受光。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級(jí)衍射光被第二 TES分割區(qū)域 132b衍射并反射。來自非聚光記錄層41b的各光束-1級(jí)衍射光的、來自 第二 TES分割區(qū)域132b的各反射光到達(dá)第二 TES受光部72b，并在該第二 TES受光部72b上分別形成光斑164b 166b。這些各光斑164b 166b比來自 聚光記錄層41a各光束反射光的各光斑103、 108、 109擴(kuò)展。本實(shí)施例中來 自非聚光記錄層41b的各光束_ 1級(jí)衍射光的、來自第二 TES分割區(qū)域132b 的各反射光由第二 TES受光部72b的各受光元件80b 82b和各校正用受光部分171b 173b受光。在生成跟蹤誤差信號(hào)時(shí)，各TES受光部72a、 721)#>據(jù)第二受光部77a、 77b的受光結(jié)果來校正第一受光部76a、 76b的受光結(jié)果。第一TES受光部72a根據(jù)第一副光束校正用受光部分171a的受光結(jié)果 S171a來校正第一副光束受光元件81a的受光結(jié)果S81a。且根據(jù)第二副光束 校正用受光部分172a的受光結(jié)果S172a來校正第二副光束受光元件82a的 受光結(jié)果S82a。根據(jù)主光束校正用受光部分173a的受光結(jié)果S173a來校正 主光束受光元件80a的受光結(jié)果S80a。第二 TES受光部72b也是同樣。具 體說就是通過以下的式(18) 式(23)的運(yùn)算來進(jìn)行校正。S81aR-S81a-k41 x (S171a) (18)S82aR = S82a-k42 x (S172a) (19)S80aR = S80a-k43 x (S173a) (20)S81bR = S81b-k44x (S171b) (21)S82bR=S82b-k45 x (S172b) (22)S80bR=S80b-k46x (S173b) (23)上述式(18) ~式(20)中，S81aR、 S82a R和S80a R是校正第一 TES 受光部72a中各副光束受光元件81a、 82a和主光束受光元件80a受光結(jié)果 S81a、 S82a、 S80a的校正結(jié)果。上述式(21) 式(23)中，S81bR、 S82b R和S80b R是校正第二TES受光部72b中各副光束受光元件81b、 82b和 主光束受光元件80b受光結(jié)果S81b、 S82b、 S80b的4交正結(jié)果。k41 k46是 表示放大度的系數(shù)。放大度根據(jù)入射光量的比而預(yù)先設(shè)定。跟蹤誤差信號(hào)TES能通過以下的式(24)的運(yùn)算得到。 TES = ( S80a R - S80b R) - k47 x {( S8la R - S8lb R) + ( S82a R - S82b R)} (24)式(24)中，(S80a-S80b)是主光束的推4免信號(hào)。(S81a R - S81b R) 和(S82aR-S82bR)是各副光束的推挽信號(hào)。k47是系數(shù)，用于校正主光 束與各副光束光強(qiáng)度的不同。根據(jù)以上的本實(shí)施例能達(dá)到與上述第三實(shí)施例同樣的效果。根據(jù)本實(shí) 施例，第一 TES受光部72a的第 一 副光束才交正用受光部分171a構(gòu)成為中介 受光元件144a和相反側(cè)受光元件145a形成為一體，所以不需要用于4巴中介 受光元件144a的受光結(jié)果和相反側(cè)受光元件145a的受光結(jié)果相加的加法電路。這樣能把校正部56的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單化。其他的副光束校正用受光部分172a、 171b、 172b也同樣。且第一 TES受光部72a的主光束校正用受光部 分173a構(gòu)成為一側(cè)受光元件148a和另一側(cè)受光元件149a形成為一體，所 以不需要用于把一側(cè)受光元件148a的受光結(jié)果和另一側(cè)受光元件149a的受 光結(jié)果相加的加法電路。這樣能把校正部56的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單化。其他的主 光束校正用部分173b也同樣。上述各實(shí)施例不過是本發(fā)明的例示，在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以變更結(jié)構(gòu)。 上述各實(shí)施例雖然例示了把用于生成對(duì)焦誤差信號(hào)的結(jié)構(gòu)和用于生成跟蹤 誤差信號(hào)的結(jié)構(gòu)一體化的結(jié)構(gòu)，但并不限定于此。例如也可以把用于生成 對(duì)焦誤差信號(hào)的光分割體和受光部與用于生成跟蹤誤差信號(hào)的光分割體和 受光部分離。在這種情況下也能達(dá)到與上述各實(shí)施例同樣的效果。上述各實(shí)施例說明了作為光盤而設(shè)定單面雙層盤的情況，但并不限定 于此。例如光盤也可以形成三層以上的記錄層。本發(fā)明能不脫離其精神或主要特點(diǎn)地以其他各種形態(tài)實(shí)施。因此，上 述實(shí)施例從各方面看不過是單單進(jìn)行例示，本發(fā)明的范圍由權(quán)利要求的范 圍表示而不受說明書本文的任何約束。且屬于權(quán)利要求范圍的變形和變更 都在本發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種光拾取裝置，用于向形成有多層記錄層的光盤照射光而向光盤的記錄層記錄信息或從光盤的記錄層再生信息，其特征在于，包括光源，其射出光；光學(xué)系統(tǒng)，其把來自光源的射出光向光盤的記錄層聚光，且把來自光盤記錄層的反射光進(jìn)行聚光；受光部，其把來自光盤記錄層的反射光經(jīng)由光學(xué)系統(tǒng)受光，具有第一受光部和第二受光部，該第一受光部配置在把來自匯聚光源射出光的聚光記錄層的反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的反射光；該第二受光部配置成從聚光記錄層的反射光聚光的位置離開，與第一受光部鄰接，接受來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光；校正部，其根據(jù)第二受光部的受光結(jié)果來校正第一受光部的受光結(jié)果。
2、 如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述光學(xué)系統(tǒng)把光源的射出光分離成主光束和一對(duì)副光束并向光盤的記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其被配置在把來自聚光記錄 層的主光束反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射 光； 一對(duì)副光束受光元件，其被分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束 反射光進(jìn)行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部，具有用于將各副光束受光元件中、來自非聚光記錄 層的主光束反射光所到達(dá)的副光束受光元件的受光結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)正的副光束 校正用受光部分，該副光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的 主光束反射光進(jìn)行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進(jìn) 行聚光的位置這兩者離開，與所述副光束受光元件鄰接，接受來自非聚光 記錄層的主光束反射光，所述校正部根據(jù)副光束校正用受光部分的受光結(jié)果來校正所述副光束 受光元件的受光結(jié)果。
3、 如權(quán)利要求2所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述副光束校正用受光部分具有介于所述副光束受光元件與主光束受光元件之間的中介受光元件，和相對(duì)所述副光束受光元件而配置在與中介受光元件相反側(cè)的相,l側(cè)受光元件。
4、 如權(quán)利要求3所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述中介受光元件和所述相反側(cè)受光元件形成為一體。
5、 如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于，所述光學(xué)系統(tǒng)把光源的射出光分離成主光束和一對(duì)副光束并向光盤的 記錄層聚光，所述第一受光部包括主光束受光元件，其被配置在把來自聚光記錄 層的主光束反射光進(jìn)行聚光的位置，接受來自聚光記錄層的主光束的反射 光； 一對(duì)副光束受光元件，其被分別配置在把來自聚光記錄層的各副光束 反射光進(jìn)行聚光的位置，分別接受來自聚光記錄層的各副光束的反射光，所述第二受光部，具有用于校正主光束受光元件的受光結(jié)果的主光束 校正用受光部分，該主光束校正用受光部分配置為從把來自聚光記錄層的 主光束反射光進(jìn)行聚光的位置、和把來自聚光記錄層的各副光束反射光進(jìn) 行聚光的位置這兩者離開，與主光束受光元件鄰接，接受來自非聚光記錄 層的主光束反射光，所述校正部根據(jù)主光束校正用受光部分的受光結(jié)果來校正主光束受光 元件的受光結(jié)果。
6、 如權(quán)利要求5所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述主光束校正用受光部分具有介于一側(cè)副光束受光元件與主光束受光元件之間的一側(cè)受光元件，和介于另一側(cè)副光束受光元件與主光束受 光元件之間的另 一側(cè)受光元件。
7、 如權(quán)利要求6所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述一側(cè)受光元件和所述另一側(cè)受光元件形成為一體。
8、 如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述校正部根據(jù)來自非聚光記錄層反射光向第一受光部的入射光量與向第二受光部的入射光量的比，預(yù)先設(shè)定第二受光部受光結(jié)果相對(duì)于第一 受光部受光結(jié)果的放大度，在校正第 一受光部的受光結(jié)果時(shí)，把第二受光部的受光結(jié)果按所述放 大度放大，并把該放大結(jié)果從第 一受光部的受光結(jié)果中減去。
9、 如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于， 所述受光部具有用于生成跟蹤誤差信號(hào)的、包括所述第一受光部和所述第二受光部的 一對(duì)跟蹤用受光部，為了生成跟蹤誤差信號(hào)，所述光學(xué)系統(tǒng)把來自聚光記錄層的反射光分 割，并分別向各跟蹤用受光部反射。
10、 一種光分割體，是在權(quán)利要求1所述的光拾取裝置中，被所述光 學(xué)系統(tǒng)所包含，將來自光盤記錄層的反射光分割的光分割體，所述光拾取裝置的所述受光部具有用于生成對(duì)焦誤差信號(hào)的對(duì)焦用受光部，和用于生成跟蹤誤差信號(hào)、且包括所述第一受光部和所述第二受光部的一對(duì)跟蹤 用受光部，該光分割體的特征在于，具有把來自聚光記錄層的反射光向?qū)褂檬芄獠糠瓷涞膶?duì)焦用分割區(qū)域， 和把來自聚光記錄層的反射光分別向各跟蹤用受光部反射的一對(duì)跟蹤 用分割區(qū)域。
11、 如權(quán)利要求IO所述的光分割體，其特征在于， 所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近外側(cè)的部分，沿著與所述基準(zhǔn)光軸 正交且向跟蹤方向延伸的假想線。
12、 如權(quán)利要求IO所述的光分割體，其特征在于， 所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近外側(cè)的部分，從所述假想線偏離， 與該部分沿著與所述基準(zhǔn)光軸正交且向跟蹤方向延伸的假想線的情況相 比、以增加所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域。
13、 如權(quán)利要求11所述的光分割體，其特征在于， 所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近內(nèi)側(cè)的部分，從所述假想線偏離， 以使來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光向所述對(duì)焦用分割區(qū)域入射。
14、 如權(quán)利要求12所述的光分割體，其特征在于， 所述對(duì)焦用分割區(qū)域與所述一對(duì)跟蹤用分割區(qū)域的邊界線中，相對(duì)于所述光學(xué)系統(tǒng)基準(zhǔn)光軸的半徑方向靠近內(nèi)側(cè)的部分，從所述假想線偏離， 以使來自非聚光記錄層的反射光中0級(jí)衍射光向所述對(duì)焦用分割區(qū)域入射。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光拾取裝置和光分割體，能抑制由來自與聚光記錄層不同的非聚光記錄層的反射光而引起的惡劣影響。在各TES受光部(72a、72b)，把中介受光元件(84a、84b)與第一副光束受光元件(81a、81b)鄰接配置。中介受光元件(84a、84b)從把來自聚光記錄層(41a)的主光束的反射光聚光的位置、和把來自聚光記錄層41a的各副光束的反射光聚光的位置這兩者離開，配置為與第一副光束受光元件(81a、81b)，接受來自非聚光記錄層(41b)的主光束的反射光。校正部(56)根據(jù)中介受光元件(84a、84b)的受光結(jié)果(S84a、S84b)校正第一副光束受光元件(81a、81b)的受光結(jié)果(S81a、S81b)。
文檔編號(hào)G11B7/135GK101271700SQ20081008720
公開日2008年9月24日 申請(qǐng)日期2008年3月19日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月19日
發(fā)明者村上晉三 申請(qǐng)人:夏普株式會(huì)社