專利名稱：測(cè)試裝置以及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備的測(cè)試裝置以及測(cè)試方法，尤其涉及對(duì)被測(cè)試存 儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試裝置以及測(cè)試方法，該被測(cè)試存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)在每頁(yè) 上附加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流。本申請(qǐng)與下述的日本申請(qǐng)有關(guān)。對(duì)于允 許加入?yún)⒖嘉墨I(xiàn)的指定國(guó)，將下述申請(qǐng)所記載的內(nèi)容加入到本申請(qǐng)中并作 為本申請(qǐng)的一部分。特愿2006-105394號(hào)申請(qǐng)日2006年4月6曰 背景技術(shù)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試裝置在每一測(cè)試周期，對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器的輸出與期 望值進(jìn)行邏輯比較，如果比較的結(jié)果一致則檢測(cè)為合格，如果不一致就檢 測(cè)為失效。因此，例如，如閃速存儲(chǔ)器那樣，存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)多個(gè)周期以 頁(yè)為單位進(jìn)行讀取，并且以頁(yè)為單位附加錯(cuò)誤訂正符號(hào)的被測(cè)試存儲(chǔ)器，只 要檢測(cè)出一次失效，則檢測(cè)該被測(cè)試存儲(chǔ)器為不合格。這里，閃速存儲(chǔ)器會(huì)有時(shí)因產(chǎn)生程序干擾模式而使寫入對(duì)象的存儲(chǔ)單 元以外的數(shù)據(jù)被改寫，產(chǎn)生非永久性的軟件錯(cuò)誤。對(duì)于產(chǎn)生這樣的錯(cuò)誤，希 望參照下述的非專利文獻(xiàn)1。在實(shí)際使用狀態(tài)下，如果產(chǎn)生這樣的軟件錯(cuò)誤， 則控制閃速存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)控制器對(duì)從閃速存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù)進(jìn)行錯(cuò)誤訂 正。從而，在進(jìn)行閃速存儲(chǔ)器的測(cè)試時(shí)，在產(chǎn)生屬于可通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào) 訂正的范圍內(nèi)的錯(cuò)誤的情況下，被測(cè)試存儲(chǔ)器應(yīng)被判斷為合格品。但是，由 于閃速存儲(chǔ)器的不同，既有由于上述的軟件錯(cuò)誤而容易發(fā)生錯(cuò)誤的情況，也 有一個(gè)比特(Bit)的不合格也不存在的情況。因此，對(duì)于可正常操作的閃 速存儲(chǔ)器，例如，為了決定其用途和銷售價(jià)格等，有時(shí)會(huì)希望根據(jù)產(chǎn)生錯(cuò) 誤的難易度來(lái)進(jìn)行分類。 .非專利文獻(xiàn)l:作田康司著，[面向Silicon Movie時(shí)代的大容量NAND 閃速存儲(chǔ)器技術(shù)]，F(xiàn)ED期刊，Vol.11, No. 3, 2000年，P76-88為了根據(jù)錯(cuò)誤產(chǎn)生的難易度來(lái)對(duì)閃速存儲(chǔ)器進(jìn)行分類，針對(duì)每一頁(yè)統(tǒng) 計(jì)在該頁(yè)產(chǎn)生的錯(cuò)誤的個(gè)數(shù)，并判斷該個(gè)數(shù)是否滿足預(yù)定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。對(duì) 于不滿足質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的頁(yè)，嘗試進(jìn)行用預(yù)備的存儲(chǔ)單元置換不合格的存儲(chǔ)單 元的修復(fù)處理。如果通過(guò)修復(fù)處理而滿足質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，則將該閃速存儲(chǔ)器分 類到與其質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)的級(jí)別。為此，可以從測(cè)試裝置輸出關(guān)于包含在所有頁(yè)中的全部存儲(chǔ)單元是否 合格的數(shù)據(jù)，并通過(guò)人工或者利用計(jì)算機(jī)等對(duì)該數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。但是由于 存儲(chǔ)單元的數(shù)量龐大，所以分析需要花費(fèi)功夫與時(shí)間。由于頁(yè)的不同，也有 已經(jīng)滿足質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)而不需要修復(fù)處理的情況，因此，存在輸出的數(shù)據(jù)成為 無(wú)用的情況。發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的在于提供一種可以解決上述問(wèn)題的測(cè)試裝置、電 路以及電子設(shè)備。該目的通過(guò)本發(fā)明的第一技術(shù)方案所記載的特征組合來(lái) 實(shí)現(xiàn)。并且，其他的技術(shù)方案提供了本發(fā)明更有利的具體實(shí)施例。'本發(fā)明第 一實(shí)施方式提供一種測(cè)試裝置，其對(duì)存儲(chǔ)每一 頁(yè)上附加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的被測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，包括測(cè)試處理部，其對(duì) 于每一個(gè)作為錯(cuò)誤訂正單位的頁(yè)，從被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取存儲(chǔ)于該頁(yè)的數(shù)據(jù) 流；邏輯比較器，其將從被測(cè)試存儲(chǔ)器中讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各比特值 與該比特的期望值進(jìn)行比較；第一失效存儲(chǔ)器，其根據(jù)邏輯比較器的比較 結(jié)果，對(duì)于被測(cè)試存儲(chǔ)器的每個(gè)存儲(chǔ)單元，存儲(chǔ)表示該存儲(chǔ)單元是否合格 的比特合格/失效信息；數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)部，其對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)與期望值不一致 的比特?cái)?shù)；頁(yè)分類部，對(duì)于將被測(cè)試存儲(chǔ)器根據(jù)質(zhì)量進(jìn)行分類的多個(gè)級(jí)別 的每一個(gè)，按照每一頁(yè)判斷與期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條 件；第二失效存儲(chǔ)器，其根據(jù)頁(yè)分類部的判斷結(jié)果，對(duì)于多個(gè)級(jí)別中的每 一個(gè)，存儲(chǔ)表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效信息；以及輸出部，其對(duì)于多 個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，輸出關(guān)于每個(gè)存儲(chǔ)單元的比特合格/失效信息時(shí)，以具有 與存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的比特的頁(yè)滿足該級(jí)別條件的頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)在第 二失效存儲(chǔ)器中為條件，將從第一失效存儲(chǔ)器輸出的表示該存儲(chǔ)單元不合 格的比特合格/失效信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。并且，還具有地址指示部，用于依次輸出第一地址，所述第一地址 依次讀取存儲(chǔ)'于第一失效存儲(chǔ)器的、每個(gè)存儲(chǔ)單元的比特合格/失效信息； 以及地址轉(zhuǎn)換部，其輸出第二地址，該第二地址是用于從地址指示部輸出 的地址中取出一部分的比特，并讀取存儲(chǔ)于第二失效存儲(chǔ)器中的、具有與 該地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元的頁(yè)的頁(yè)合格/失效信息，輸出部也可以將頁(yè)合格/ 失效信息和比特合格/失效信息的邏輯積作為該存儲(chǔ)單元的比特合格/失效 信息進(jìn)行輸出，所述頁(yè)合格/失效信息是從第二失效存儲(chǔ)器內(nèi)的第二地址讀 取的、當(dāng)該頁(yè)為不合格時(shí)為邏輯值H,當(dāng)該頁(yè)為合格時(shí)為邏輯值L;所述比 特合格/失效信息是從第 一失效存儲(chǔ)器內(nèi)的第 一地址讀取的、當(dāng)該存儲(chǔ)單元 為不合格時(shí)為邏輯值H，當(dāng)該存儲(chǔ)單元為合格時(shí)為邏輯值L。并且還可以具有修復(fù)處理部，其根據(jù)輸出部輸出的每一頁(yè)的比特合格/失效信息，進(jìn)行將不合格的存儲(chǔ)單元置換為預(yù)備的存儲(chǔ)單元的修復(fù)處理。
另外，頁(yè)分類部具有多個(gè)寄存器，其對(duì)應(yīng)多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)進(jìn)行設(shè) 置，對(duì)于應(yīng)分類到該級(jí)別的被測(cè)試存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)頁(yè)內(nèi)所包含的錯(cuò)誤數(shù)量的 上限值；比較部，將存儲(chǔ)于多個(gè)寄存器的多個(gè)所述上限值分別與數(shù)據(jù)錯(cuò)誤 計(jì)數(shù)部的計(jì)數(shù)值進(jìn)行比較；以及判斷部，其以對(duì)于從被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取的 數(shù)據(jù)流的計(jì)數(shù)值是上限值以下為條件，判斷存儲(chǔ)了該數(shù)據(jù)流的頁(yè)滿足對(duì)應(yīng) 該上限值的級(jí)別的條件。
本發(fā)明的第二實(shí)施方式提供一種測(cè)試方法，其是對(duì)用于存儲(chǔ)每一 頁(yè)附 加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的被測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試方法，包括測(cè) 試處理步驟，按照每一個(gè)作為錯(cuò)誤訂正單位的頁(yè)，從被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取存 儲(chǔ)于該頁(yè)的所述數(shù)據(jù)流；邏輯比較步驟，將從被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù)流 所包含的各個(gè)比特值與該比特的期望值進(jìn)行比較；第一存儲(chǔ)步驟，根據(jù)邏 輯比較步驟的比較結(jié)果，對(duì)于被測(cè)試存儲(chǔ)器的每個(gè)存儲(chǔ)單元，將表示該存 儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息存儲(chǔ)到第一失效存儲(chǔ)器中；數(shù)據(jù)錯(cuò)誤 計(jì)數(shù)步驟，對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)與期望值不一致的比特?cái)?shù)；頁(yè)分類步驟，對(duì)于將 被測(cè)試存儲(chǔ)器根據(jù)質(zhì)量進(jìn)行分類的多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，對(duì)每一頁(yè)判斷與期 望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件；第二存儲(chǔ)步驟，根據(jù)頁(yè)分類 步驟的判斷結(jié)果，對(duì)于多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，將表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/ 失效信息存儲(chǔ)到第二失效存儲(chǔ)器中；以及輸出步驟，對(duì)于多個(gè)級(jí)別的每一 個(gè)，輸出每個(gè)存儲(chǔ)單元的比特合格/失效信息時(shí)，以具有與存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的 比特的頁(yè)滿足該級(jí)別條件的頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)在第二失效存儲(chǔ)器中為 條件，將從第一失效存儲(chǔ)器輸出的表示該存儲(chǔ)單元不合格的比特合格/失效 信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。
本發(fā)明的第三實(shí)施方式提供一種測(cè)試裝置，其對(duì)每頁(yè)具有1比特或者 多比特錯(cuò)誤訂正功能的被測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，包括測(cè)試 處理部，將測(cè)試用的數(shù)據(jù)流寫入所述被測(cè)試存儲(chǔ)器，并按照每一頁(yè)讀取已 經(jīng)寫入的所述數(shù)據(jù)流；第一失效存儲(chǔ)器，其接收按照每一頁(yè)讀取的所述數(shù) 據(jù)流，將該數(shù)據(jù)流依次與預(yù)定的期望值進(jìn)行比較，生成表示每一存儲(chǔ)單元 是否合格的比特合格/失效信息，并存儲(chǔ)所述比特合格/失效信息；以及級(jí) 別分選部，與向所述第一失效存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)動(dòng)作并行動(dòng)作，根據(jù)在每一頁(yè) 統(tǒng)計(jì)出的與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)的計(jì)數(shù)值，生成不可進(jìn)行錯(cuò)誤訂正、 可進(jìn)行1個(gè)比特的錯(cuò)誤訂正，或者可進(jìn)行多個(gè)比特的錯(cuò)誤訂正的判斷信息。
所述級(jí)別分選部包括數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)部，其對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)與所述期望 值不一致的比特?cái)?shù)；頁(yè)分類部，對(duì)于將所述被測(cè)試存儲(chǔ)器根據(jù)質(zhì)量進(jìn)行分 類的多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，按照每一頁(yè)判斷與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)是 否滿足該級(jí)別的條件；第二失效存儲(chǔ)器，其根據(jù)所述頁(yè)分類部的判斷結(jié)果，對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，存儲(chǔ)表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效信息； 以及輸出部，其對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，輸出每個(gè)存儲(chǔ)單元的所述比 特合格/失效信息時(shí)，以具有與所述存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的比特的頁(yè)滿足該級(jí)別條 件的所述頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)在第二失效存儲(chǔ)器中為條件，將從所述第一 失效存儲(chǔ)器輸出的、表示該存儲(chǔ)單元不合格的所述比特合格/失效信息變更 為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。
征組的其他組合也包括在本發(fā)明。 " ' ''、 '


圖1表示本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置10的構(gòu)成。
圖2表示本發(fā)明實(shí)施方式的被測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)區(qū)域。
圖3與比較器160和邏輯比較器170 —起表示本發(fā)明實(shí)施方式的分類
模塊180的構(gòu)成。
圖4表示本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置10的動(dòng)作定時(shí)。
圖5表示利用本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置IO對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器100進(jìn)行
測(cè)試，并輸出其結(jié)果的處理流程。
圖6表示通過(guò)本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置IO輸出的測(cè)試結(jié)果的一個(gè)例子。
100:被測(cè)試存儲(chǔ)器110測(cè)試處理部
120:定時(shí)信號(hào)發(fā)生器130圖案(信號(hào))發(fā)生器
140:波形整形器150驅(qū)動(dòng)器
160:比較器170邏輯比較器
180:分類模塊190修復(fù)處理部
200:可訂正區(qū)域210數(shù)據(jù)
220:錯(cuò)誤訂正符號(hào)230.不可^r正區(qū)i或
240:主區(qū)域250:預(yù)備區(qū)域
300:處理部30$:定時(shí)檢測(cè)部
310:計(jì)數(shù)部315:"與，，門
320:"與"門321:計(jì)數(shù)值變更部
322:"或"門324."與"門
326:"或，，門328:加法器
330:比較部332寄存器
334:判斷部340:頁(yè)分類部
360: AFM365地址指示部
370: BBM375:地址轉(zhuǎn)換部380:輸出部
具體實(shí)施例方式
以下，通過(guò)發(fā)明實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說(shuō)明，但是以下的實(shí)施方式并 不是對(duì)權(quán)利要求范圍的發(fā)明的限定，并且，在實(shí)施方式中所說(shuō)明的所有特 征組合也不 一 定是本發(fā)明的解決方法所必需的。
圖1表示本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置10的結(jié)構(gòu)。測(cè)試裝置10對(duì)被測(cè) 試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)器功能進(jìn)行測(cè)試。這里，被測(cè)試存儲(chǔ)器100例如是半 導(dǎo)體存儲(chǔ)器或者附加有存儲(chǔ)器功能的SoC (system . on . chip)等，用于存 儲(chǔ)附加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流。本實(shí)施方式的測(cè)試裝置10即使在從被測(cè) 試存儲(chǔ)器100讀取的數(shù)據(jù)流與期望值數(shù)據(jù)流不一致，在通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào) 可以進(jìn)行訂正的條件下，不判斷該被測(cè)試存儲(chǔ)器100為不合格。另外，測(cè)試 裝置IO針對(duì)各頁(yè)，即使在包含于該頁(yè)的數(shù)據(jù)流可以通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)進(jìn)行 訂正的情況下，根據(jù)該頁(yè)所產(chǎn)生錯(cuò)誤的數(shù)量，對(duì)該頁(yè)按級(jí)別進(jìn)行分類。并 且，測(cè)試裝置10將表示各頁(yè)所產(chǎn)生的每個(gè)比特的錯(cuò)誤的比特合格/失效信 息按照每個(gè)級(jí)別進(jìn)行輸出。此時(shí)，當(dāng)各頁(yè)所產(chǎn)生的錯(cuò)誤的數(shù)量滿足預(yù)定級(jí) 別的條件時(shí)，測(cè)試裝置10就不輸出原來(lái)的比特合格/失效信息，而是輸出 顯示完全沒(méi)有產(chǎn)生比特失效的含義的比特合格/失效信息。由此，當(dāng)進(jìn)行對(duì) 應(yīng)級(jí)別的修復(fù)處理時(shí)，可以省去對(duì)于輸出的比特合格/失效信息的分析作 業(yè)。這樣，測(cè)試裝置10的目的在于，對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器100的各頁(yè)質(zhì)量進(jìn)行 適當(dāng)判斷，并且，提高分析處理其結(jié)果的效率。以下，以被測(cè)試存儲(chǔ)器100 是閃速存儲(chǔ)器為例進(jìn)行說(shuō)明。
測(cè)試裝置10包括測(cè)試處理部110，驅(qū)動(dòng)器150、比較器160、邏輯比較 器170、分類模塊180以及修復(fù)處理部190。測(cè)試處理部110控制對(duì)被測(cè)試 存儲(chǔ)器100的測(cè)試。更具體地說(shuō)，在被測(cè)試存儲(chǔ)器100的測(cè)試中，測(cè)試處 理部110對(duì)于成為錯(cuò)誤訂正單位的每一頁(yè)，將數(shù)據(jù)流寫入該頁(yè)的存儲(chǔ)區(qū)域， 并從該頁(yè)的存儲(chǔ)區(qū)域讀取數(shù)據(jù)流。并且，測(cè)試處理部110將從被測(cè)試存儲(chǔ) 器100讀取的數(shù)據(jù)提供給邏輯比較器170。這樣，測(cè)試處理部110通過(guò)對(duì)于 同一存儲(chǔ)區(qū)域， 一邊使數(shù)據(jù)流改變一邊進(jìn)行讀寫，由此，可以使邏輯比較 器170以及分類模塊180檢測(cè)出該存儲(chǔ)區(qū)域的存儲(chǔ)單元不合格的情況。
測(cè)試處理部110具有定時(shí)信號(hào)發(fā)生器120、圖案發(fā)生器130、波形整形 器140。定時(shí)信號(hào)發(fā)生器120利用通過(guò)從圖案發(fā)生器130輸出的定時(shí)組信號(hào) (TS信號(hào))指定的定時(shí)數(shù)據(jù)，生成表示測(cè)試的一個(gè)周期的周期時(shí)鐘，以及表 示測(cè)試周期開(kāi)始定時(shí)的RATE信號(hào)。并且，定時(shí)信號(hào)發(fā)生器120將周期時(shí)鐘 提供給圖案發(fā)生器130,將RATE信號(hào)以及TS信號(hào)與測(cè)試裝置10的標(biāo)準(zhǔn)時(shí) 鐘一起提供給波形整形器140。圖案發(fā)生器130根據(jù)周期時(shí)鐘，生成提供給被測(cè)試存儲(chǔ)器100的測(cè)試 圖案數(shù)據(jù)，并提供給波形整形器140。該測(cè)試圖案數(shù)據(jù)包含有，用于將數(shù)據(jù) 流寫入被測(cè)試存儲(chǔ)器100，而應(yīng)提供給被測(cè)試存儲(chǔ)器100的信號(hào)所構(gòu)成的測(cè) 試圖案；以及用于從被測(cè)試存儲(chǔ)器100讀取已經(jīng)寫入的數(shù)據(jù)流，而應(yīng)提供 給被測(cè)試存儲(chǔ)器100的信號(hào)所構(gòu)成的測(cè)試圖案。
波形整形器140根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘、RATE信號(hào)以及TS信號(hào)，對(duì)應(yīng)該將測(cè)試 圖案數(shù)據(jù)提供給被測(cè)試存儲(chǔ)器100的定時(shí)信號(hào)的波形進(jìn)行整形。
驅(qū)動(dòng)器150將通過(guò)波形整形器140進(jìn)行了整形的測(cè)試圖案數(shù)據(jù)作為測(cè) 試圖案信號(hào)提供給被測(cè)試存儲(chǔ)器100。比較器160根據(jù)測(cè)試圖案將被測(cè)試存 儲(chǔ)器100輸出的輸出信號(hào)與預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較，獲得輸出信號(hào)的邏 輯值。，
邏輯比較器170根據(jù)測(cè)試圖案將從被測(cè)試存儲(chǔ)器100中讀取的數(shù)據(jù)流 中所包含的數(shù)據(jù)分別與預(yù)先通過(guò)圖案發(fā)生器130生成的期望值進(jìn)行比較。 分類模塊180根據(jù)邏輯比較器170生成的比較結(jié)果，將被測(cè)試存儲(chǔ)器100分 類到多個(gè)級(jí)別中的一個(gè)，或者，判斷被測(cè)試存儲(chǔ)器100是否為不合格。修 復(fù)處理部190根據(jù)分類模塊180的輸出部380所輸出的每一頁(yè)的比特合格/ 失效信息，進(jìn)行將不合格的存儲(chǔ)單元置換為預(yù)備的存儲(chǔ)單元的修復(fù)處理。
圖2表示本發(fā)明實(shí)施方式的被測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)區(qū)域。本實(shí)施方 式的被測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)區(qū)域被分割成多個(gè)區(qū)塊，各區(qū)塊例如具有64KB 的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量，例如由32個(gè)等的多個(gè)頁(yè)構(gòu)成。本實(shí)施方式的被測(cè)試存儲(chǔ) 器100例如以具有2KB等的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量的頁(yè)為單位進(jìn)行數(shù)據(jù)流的讀寫。 更具體地說(shuō)，被測(cè)試存儲(chǔ)器100具有例如8比特等的多個(gè)數(shù)據(jù)10端子，經(jīng) 由這多個(gè)數(shù)據(jù)10端子每一個(gè)輸入輸出周期就傳送一個(gè)字(例如8比特)的 數(shù)據(jù)。并且，在一次的讀取或?qū)懭胩幚碇?，通過(guò)將頁(yè)*內(nèi)的各字按照列方向 順序傳送，以頁(yè)為單位進(jìn)行讀寫。
被測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)區(qū)域包含有主區(qū)域240以及預(yù)備區(qū)域250。主 區(qū)域240是存儲(chǔ)被測(cè)試存儲(chǔ)器100應(yīng)該存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)210的區(qū)域。預(yù)備區(qū)域 250是存儲(chǔ)用于訂正數(shù)據(jù)210中產(chǎn)生的比特錯(cuò)誤的錯(cuò)誤訂正符號(hào)220、以及 表示該頁(yè)中禁止使用的信息等的區(qū)域。另外，被測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)區(qū) 域從錯(cuò)誤訂正的可能性的觀點(diǎn)出發(fā)，分為可訂正區(qū)域200以及不可訂正區(qū) 域230。可訂正區(qū)域200是本發(fā)明的第一存儲(chǔ)區(qū)域的一個(gè)示例，是通過(guò)存儲(chǔ) 數(shù)據(jù)210以及錯(cuò)誤訂正符號(hào)220而存儲(chǔ)附加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的區(qū) 域。當(dāng)實(shí)際使用被測(cè)試存儲(chǔ)器100時(shí)，與被測(cè)試存儲(chǔ)器100連接并控制被 測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)控制器，即使在可訂正區(qū)域200內(nèi)產(chǎn)生比特錯(cuò)誤，也 可以通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)220在可訂正的范圍內(nèi)進(jìn)行錯(cuò)誤訂正。另一方面，不 可訂正區(qū)域230是本發(fā)明第二存儲(chǔ)區(qū)域的一個(gè)示例，是存儲(chǔ)沒(méi)有附加錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的區(qū)域。即使在不可訂正區(qū)域230產(chǎn)生比特錯(cuò)誤，存儲(chǔ) 控制器也不能進(jìn)行訂正。圖3將本發(fā)明實(shí)施方式的分類模塊180的構(gòu)成與 比較器160以及邏輯比較器170 —起進(jìn)行表示。比較器160對(duì)于分別從被 測(cè)試存儲(chǔ)器100的不同存儲(chǔ)區(qū)域讀取的多個(gè)數(shù)據(jù)流，分別將各數(shù)據(jù)流所包 含的數(shù)據(jù)以8比特為單位順次從被測(cè)試存儲(chǔ)器100的數(shù)據(jù)10端子輸入，并 將分別從各比特輸入的電壓與表示邏輯值H的閾值電壓VH0以及表示邏輯 值L的閾值電壓VOL進(jìn)行比較。并且，比較器160在每個(gè)比特上，當(dāng)該比 特為邏輯值H時(shí)，輸出SH4，當(dāng)該比特為邏輯值L輸出SL=1。
邏輯比較器170在多個(gè)不同的項(xiàng)目方面對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器100進(jìn)行測(cè)試。 在第一測(cè)試中，邏輯比較器170對(duì)在被測(cè)試存儲(chǔ)器100的各個(gè)比特上是否 正確寫入數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)試。在該測(cè)試中，邏輯比較器170對(duì)于多個(gè)數(shù)據(jù)流的 每一個(gè)，依次將各數(shù)據(jù)流所包含的數(shù)據(jù)分別與期望值進(jìn)行比較。具體地說(shuō)， 本實(shí)施方式的邏輯比較器170將比較結(jié)果作為合格/失效信號(hào)輸出，所述輸 出結(jié)果為，在每一個(gè)輸入輸出周期，將一個(gè)字(=8比特)份的數(shù)據(jù)與一個(gè) 字份的期望值相比較， 一致的比特取為0 (表示合格的信號(hào))，不一致的比 特取為1 (表示失效的信號(hào))。
在第二測(cè)試中，邏輯比較器170對(duì)從被測(cè)試存儲(chǔ)器100讀取各個(gè)比特 的數(shù)據(jù)的定時(shí)進(jìn)行測(cè)試。在該測(cè)試中，例如，邏輯比較器170對(duì)于包含在 該數(shù)據(jù)流中的各個(gè)比特，在對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器100的存儲(chǔ)控制器發(fā)出數(shù)據(jù)讀 取請(qǐng)求之后，在經(jīng)過(guò)了預(yù)先設(shè)定的期間的時(shí)刻，將從被測(cè)試存儲(chǔ)器100輸 出的使該比特值改變的數(shù)據(jù)與預(yù)先設(shè)定的邏輯值進(jìn)行多次比較。由此，例 如對(duì)于同一個(gè)比特進(jìn)行100次比較，可以調(diào)查出其中有幾次與該邏輯值相 一致，從而可以對(duì)數(shù)據(jù)讀取定時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
分類模塊180具有處理部300-1 - 8、計(jì)數(shù)值變更部321、"或"門 326-1 ~ 8、加法器328、頁(yè)分類部340、 AFM360、地址指示部365、 BBM370、 地址轉(zhuǎn)換部375和輸出部380。處理部300-1 ~ 8分別從邏輯比較器170輸 入每個(gè)比特的合格/失效信號(hào)。即，例如處理部300-l輸入一個(gè)字份數(shù)據(jù)中 第1比特的合格/失效信號(hào)，各處理部300-2 ~ 8分別輸入從第2比特至第8 比特的合格/失效信號(hào)。
處理部300-1具有定時(shí)檢測(cè)部305、計(jì)數(shù)部310、"與"門315和"與" 門320。定時(shí)檢測(cè)部305是用于上述第二測(cè)試而設(shè)置的，根據(jù)輸入的合格/ 失效信號(hào)，計(jì)算出該比特值與預(yù)定的邏輯值相一致的次數(shù)，相對(duì)于將各個(gè) 比特與預(yù)定的邏輯值進(jìn)行比較的次數(shù)的比率。并且，定時(shí)纟企測(cè)部305根據(jù) 該比率檢測(cè)出各個(gè)比特值變化的定時(shí)。例如，如果在100次的比較中有50 次是各個(gè)比特值與預(yù)定的邏輯值相一致，則定時(shí)檢測(cè)部305判斷出，在發(fā) 出讀取請(qǐng)求之后經(jīng)過(guò)了預(yù)定的期間的時(shí)刻，該比特的數(shù)據(jù)發(fā)生改變。"與"門315將合格/失效信號(hào)的各個(gè)比特與表示計(jì)測(cè)失效信號(hào)數(shù)量的 期間的INC信號(hào)的邏輯積輸出到計(jì)數(shù)部310。由此，"與"門315在應(yīng)計(jì)測(cè) 失效信號(hào)數(shù)量的期間中將合格/失效信號(hào)提供給計(jì)數(shù)部310,在不計(jì)測(cè)失效 信號(hào)數(shù)量的期間中將值0輸出到計(jì)數(shù)部310。計(jì)數(shù)部310與后述的加法器 328 —起發(fā)揮作為本發(fā)明的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)部的功能。計(jì)數(shù)部310對(duì)于從被測(cè) 試存儲(chǔ)器100讀取的各數(shù)據(jù)流，對(duì)包含在該數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)中的、與預(yù)先生 成的期望值不一致的數(shù)據(jù)的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)。這里，在計(jì)數(shù)部310中也可以 對(duì)可計(jì)數(shù)的失效信號(hào)的數(shù)量進(jìn)行限制。例如，計(jì)數(shù)部310可以利用4比特 存儲(chǔ)與期望值不一致的數(shù)據(jù)比特的數(shù)量，當(dāng)統(tǒng)計(jì)的失效信號(hào)的數(shù)量為15時(shí)， 可以停止對(duì)該計(jì)數(shù)器的值的加算。另外，計(jì)數(shù)部310如果從圖案發(fā)生器130 輸入CLR信號(hào)，則將計(jì)數(shù)值初始化，即，使計(jì)數(shù)值取O。
另外，各處理部300-2 ~8對(duì)于第2比特至第8比特，分別進(jìn)行與上述 處理部300-1大致同樣的動(dòng)作。有關(guān)具體的結(jié)構(gòu)，由于與處理部300-1大 致相同，所以省略說(shuō)明。
"與"門320如果從圖案發(fā)生器130輸入LD信號(hào)，則將計(jì)數(shù)器值與LD 信號(hào)的邏輯積(即，計(jì)數(shù)器值本身)對(duì)"或，，門326-1輸出。"或"門326-1 ~ 8分別求出輸入的計(jì)數(shù)器值和"與"門324的輸出的邏輯積，輸出給加法器 328。另外，有關(guān)"與"門324的輸出在后面詳細(xì)敘述，但是當(dāng)INC信號(hào)為 邏輯值1時(shí)，"與"門324的輸出為0,對(duì)"或"門326-1 ~ 8的輸出沒(méi)有影 響。加法器328對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)通過(guò)"或"門326-1 - 8輸出的計(jì)數(shù)器值，并 向頁(yè)分類部340輸出。 ， -
頁(yè)分類部340對(duì)于根據(jù)質(zhì)量將被測(cè)試存儲(chǔ)器100分類的多個(gè)級(jí)別的每 一個(gè)，對(duì)每一頁(yè)判斷與期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件。具 體地說(shuō)，頁(yè)分類部340具有寄存器332-1 ~ 4、比較部330-1 ~ 4以及判斷部 334。各寄存器332-1 - 4分別對(duì)應(yīng)根據(jù)質(zhì)量將被測(cè)試存儲(chǔ)器100分類的多 個(gè)級(jí)別而設(shè)置。并且，相對(duì)于應(yīng)分類到對(duì)應(yīng)的級(jí)別的被測(cè)試存儲(chǔ)器IOO，各 寄存器332-1 ~ 4存儲(chǔ)包含在頁(yè)內(nèi)的錯(cuò)誤的數(shù)量的上限值。各比較部330-1 ~ 4將存儲(chǔ)在寄存器332-1 - 4的多個(gè)上限值分別與由計(jì)數(shù)部310計(jì)數(shù)并由加 法器328統(tǒng)計(jì)的計(jì)數(shù)值相比較。判斷部334以從被測(cè)試存儲(chǔ)器100讀取的 數(shù)據(jù)流的計(jì)數(shù)值小于等于上限值為條件，判斷存儲(chǔ)該數(shù)據(jù)流的頁(yè)滿足與該 上限值對(duì)應(yīng)的級(jí)別的條件。
另外，INC信號(hào)為邏輯值"0"時(shí)，與發(fā)生錯(cuò)誤信號(hào)的比特?cái)?shù)無(wú)關(guān)，當(dāng)具 有與期望值不一致的數(shù)據(jù)時(shí)，測(cè)試裝置10以檢測(cè)被測(cè)試存儲(chǔ)器100不合格 的操作模式進(jìn)行操作。在該操作模式中，當(dāng)具有與期望值不一致的數(shù)據(jù)時(shí)， 計(jì)數(shù)值變更部321將比存儲(chǔ)于寄存器332-1 ~ 4的任何一個(gè)上限值大的值作 為計(jì)數(shù)值進(jìn)行輸出。作為實(shí)現(xiàn)該操作模式的具體構(gòu)成為，計(jì)數(shù)值變更部321具有"或，，門322以及"與"門324。"或"門322從邏輯比較器170輸入 有關(guān)從第1比特到第8比特的各個(gè)比特的合格/失效信號(hào)，并將它們的邏輯 和輸出到"與"門324。即，如果在從第1比特到第8比特的任何一個(gè)比特 檢測(cè)出失效，則對(duì)"與，，門324輸出邏輯值"1"。"與"門324求出"或" 門322的輸出與從圖案發(fā)生器輸入的INC信號(hào)的"非，，的邏輯積，并分別 對(duì)"或"門326-1 8進(jìn)行輸出。由于各"或"門326-1 ~8分別接收邏輯 值'T，的輸入，因此以4比特將可表現(xiàn)的最大值(=15 )輸出給加法器328。 并且，加法器328將這些最大值的合計(jì)輸出給比較部330-1 ~4。這樣，通 過(guò)計(jì)數(shù)值變更部321可以將比存儲(chǔ)于寄存器332-1 ~ 4中的任何一個(gè)上限值 都大的值作為計(jì)數(shù)值，輸出到比較部330-1 - 4。此時(shí)，比較部330—1 ~4的 比較結(jié)果與計(jì)數(shù)部310輸出比存儲(chǔ)于寄存器332-1 ~ 4中的任何一個(gè)上限值 大的值的情況相同。
AFM (地址失效存儲(chǔ)器)360是本發(fā)明的第一失效存儲(chǔ)器的一個(gè)示例， 根據(jù)邏輯比較器170的比較結(jié)果，存儲(chǔ)相對(duì)于被測(cè)試存儲(chǔ)器100的每個(gè)存 儲(chǔ)單元的，表示該存儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息。BBM(不合格 模塊存儲(chǔ)器)370是本發(fā)明第二失效存儲(chǔ)器的一個(gè)示例，根據(jù)頁(yè)分類部340 的判斷結(jié)果，對(duì)于多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，將表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效 信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。地址指示部365依次輸出 存儲(chǔ)于AFM360中的、用于依次讀取每個(gè)存儲(chǔ)單元的比特合格/失效信息的 第一地址。由此，從AFM360依次讀取比特合格/失效信息，并提供給輸出 部380。地址轉(zhuǎn)換部375輸出第二地址，該第二地址是從地址指示部365輸 出的地址中取出一部分比特，并存儲(chǔ)于BBM370中的，用于讀取具有與該地 址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元的頁(yè)的頁(yè)合格/失效信息。即，例如第二地址是第一地址 中預(yù)定數(shù)量的高位比特。由此，從BBM370依次讀取頁(yè)合格/失效信息，并 提供給輸出部380。輸出部380針對(duì)多個(gè)級(jí)別分別輸出每個(gè)存儲(chǔ)單元的比特 合格/失效信息。在這種情況下，輸出部380分別針對(duì)多個(gè)級(jí)別，以具有與 各存儲(chǔ)單元相對(duì)應(yīng)的比特的頁(yè)滿足該級(jí)別的條件的頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ) 在BBM370中為條件，將從AFM360輸出的表示該存儲(chǔ)單元不合格的比特合 格/失效信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。即。例如，當(dāng)某頁(yè) 產(chǎn)生的錯(cuò)誤滿足某級(jí)別的條件時(shí)，相對(duì)于該級(jí)別的該頁(yè)的比特合格/失效信 息被變更為表示該頁(yè)沒(méi)有任何錯(cuò)誤的比特合格/失效信息進(jìn)行輸出。
對(duì)利用輸出部380進(jìn)行的處理進(jìn)行更具體地說(shuō)明。首先，輸出部380 從BBM370內(nèi)的第二地址讀取頁(yè)合格/失效信息，該頁(yè)合格/失效信息當(dāng)各頁(yè) 為不合格時(shí)為邏輯值H,當(dāng)該頁(yè)合格時(shí)為邏輯值L。并且輸出部380從AFM360 內(nèi)的第 一地址讀取比特合格/失效信息，該比特合格/失效信息當(dāng)各存儲(chǔ)單 位不合格時(shí)為邏輯值H，當(dāng)該存儲(chǔ)單位合格時(shí)為邏輯值L。并且，輸出部380將對(duì)于各存儲(chǔ)單元讀取的比特合格/失效信息與包含該存儲(chǔ)單元的頁(yè)的頁(yè) 合格/失效信息的邏輯積，作為該存儲(chǔ)單元的比特合格/失效信息進(jìn)行輸出。
輸出的比特合格/失效信息提供給修復(fù)處理部190,可以不需要任何分析處
理地用于》f復(fù)處理。
圖4表示本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置10的動(dòng)作定時(shí)。測(cè)試處理部110 對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器100的各頁(yè)寫入測(cè)試用數(shù)據(jù)。并且，測(cè)試處理部110從各 頁(yè)讀取已經(jīng)寫入的數(shù)據(jù)，并與期望值進(jìn)行比較。圖4表示從被測(cè)試存儲(chǔ)器 100中讀取已經(jīng)寫入某頁(yè)的數(shù)據(jù)，并與期望值相比較的一部分動(dòng)作定時(shí)。
首先，圖案發(fā)生器130在重新讀取數(shù)據(jù)流并與期望值進(jìn)行比較之前，將 CLR信號(hào)取為"1"并對(duì)計(jì)數(shù)部310的計(jì)數(shù)值進(jìn)行初始化(周期0)。接著， 測(cè)試處理部110根據(jù)測(cè)試波形數(shù)據(jù)將存儲(chǔ)器讀取指令提供給被測(cè)試存儲(chǔ)器 100 (從周期1至7 )。更具體地說(shuō)，測(cè)試處理部110在周期1提供指令，在 周期2至3提供列地址，在周期4至6提供頁(yè)地址，使被測(cè)試存儲(chǔ)器100 開(kāi)始讀取處理。
接著，被測(cè)試存儲(chǔ)器100根據(jù)存儲(chǔ)器讀取指令，逐字地依次輸出存儲(chǔ) 于指定頁(yè)的數(shù)據(jù)流所包含的數(shù)據(jù)(從周期x到x+2112 )。這里，被測(cè)試存儲(chǔ) 器100在周期x到x+2047之間輸出可訂正區(qū)域200內(nèi)的數(shù)據(jù)210，在周期 x+2048到x+2050之間輸出可訂正區(qū)域200內(nèi)的錯(cuò)誤訂正符號(hào)220。由于這 些數(shù)據(jù)可以通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)進(jìn)行訂正，所以圖案發(fā)生器130將INC信號(hào) 取為T。由此，"或"門322以"與"門324發(fā)出的單一比特錯(cuò)誤的通知 被禁止。另外，"與"門315以及計(jì)數(shù)部310開(kāi)始失效比特?cái)?shù)的計(jì)數(shù)。其結(jié) 果是，分類部380對(duì)于從可訂正區(qū)域200讀取的數(shù)據(jù)流，當(dāng)計(jì)數(shù)值超過(guò)作 為通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)可訂正數(shù)據(jù)流的錯(cuò)誤的最大數(shù)的上限值時(shí)，可以檢測(cè) 出被測(cè)試存儲(chǔ)器100不合格。
接著，被測(cè)試存儲(chǔ)器100在周期x+2051至x+2112之間，輸出不可訂 正區(qū)域230內(nèi)的數(shù)據(jù)。由于這些數(shù)據(jù)不可訂正，所以圖案發(fā)生器130將INC 信號(hào)取為0。由此，允許"或"門322以"與"門324發(fā)出單一比特錯(cuò)誤的 通知。并且，"與"門315以及計(jì)數(shù)部310停止失效比特?cái)?shù)的計(jì)數(shù)。其結(jié)果 是，分類部380對(duì)于從不可訂正區(qū)域230讀取的數(shù)據(jù)流，當(dāng)包含于該數(shù)據(jù) 流的至少一個(gè)數(shù)據(jù)與期望值不一致時(shí)，就可以檢測(cè)出被測(cè)試存儲(chǔ)器100不 合格。
接著，當(dāng)數(shù)據(jù)流與期望值數(shù)據(jù)流的比較結(jié)束后，則圖案發(fā)生器130將 LD信號(hào)取為1。由此，計(jì)數(shù)部310的計(jì)數(shù)值經(jīng)由"或"門326-1 ~8提供給 加法器328。由此，比較部330-1 - 4將該計(jì)數(shù)值分別與存儲(chǔ)于寄存器 332-1 ~4的上限值進(jìn)行比較。該比較結(jié)果被存儲(chǔ)在BBM370中。另外，根據(jù) 該比較結(jié)果，判斷部334可以判斷被測(cè)試存儲(chǔ)器100的各頁(yè)是否滿足各級(jí)別的條件。
根據(jù)上述處理，測(cè)試裝置IO讀取已寫入被測(cè)試存儲(chǔ)器100中的數(shù)據(jù)流， 并針對(duì)該數(shù)據(jù)流可以檢測(cè)被測(cè)試存儲(chǔ)器100的不合格，或者，可以將被測(cè) 試存儲(chǔ)器100的各頁(yè)按級(jí)別分類。并且，測(cè)試處理部110當(dāng)結(jié)束對(duì)某數(shù)據(jù) 流的不合格的檢測(cè)時(shí)，通過(guò)將CLR信號(hào)取為"1"而將計(jì)數(shù)器310內(nèi)的計(jì)數(shù) 值初始化。并且，圖案發(fā)生器130使邏輯比較器170開(kāi)始對(duì)下一個(gè)數(shù)據(jù)流 進(jìn)行與期望值的比較。
圖5表示通過(guò)本發(fā)明實(shí)施方式的被測(cè)試裝置IO對(duì)被測(cè)試存儲(chǔ)器100進(jìn) 行測(cè)試，并輸出其結(jié)果的處理的流程。測(cè)試裝置IO進(jìn)行讀取記錄于被測(cè)試 存儲(chǔ)器100的各比特的數(shù)據(jù)流，并與期望值數(shù)據(jù)流相比較的功能測(cè)試 (S500 )。詳細(xì)地說(shuō)，首先，測(cè)試處理部110對(duì)每一個(gè)作為錯(cuò)誤訂正單位的 頁(yè)，從被測(cè)試存儲(chǔ)器IOO讀取在該頁(yè)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)流。并且，邏輯比較器170 將從被測(cè)試存儲(chǔ)器100讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各個(gè)比特值與該比特的期望 值相比較。然后，AFM360根據(jù)邏輯比較器170的比較結(jié)果，對(duì)于每個(gè)被測(cè)
臺(tái)
接著，計(jì)數(shù)部310以及加法器328在每一頁(yè)對(duì)與期望值不一致的比特 數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)(S510)。并且，頁(yè)分類部340對(duì)于將被測(cè)試存儲(chǔ)器IOO根據(jù)質(zhì) 量進(jìn)行分類的多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，對(duì)每一頁(yè)判斷與期望值不一致的比特?cái)?shù) 是否滿足該級(jí)別的條件(S520 )。輸出部380分別將各頁(yè)的比特合格/失效 信息按照每一頁(yè)進(jìn)行輸出(S530 )。此時(shí)，對(duì)于某一級(jí)別以及某一頁(yè)，當(dāng)在 該頁(yè)產(chǎn)生的失效數(shù)量滿足其級(jí)別條件時(shí)，則該頁(yè)的比特合格/失效信息被變 更為沒(méi)有發(fā)生任何失效時(shí)的比特合格/失效信息進(jìn)行輸出。然后，修復(fù)處理 部190根據(jù)輸出部38G輸出的每一頁(yè)的比特合格/失效信息，進(jìn)行將不合格 的存儲(chǔ)單元置換為預(yù)備的存儲(chǔ)單元的修復(fù)處理(S540 )。
圖6表示由本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試裝置10輸出的測(cè)試結(jié)果的一個(gè)示 例。該圖的立體圖表示被測(cè)試存儲(chǔ)器100內(nèi)的存儲(chǔ)單元的集合。另外，構(gòu)成 該立體圖的各平面表示被測(cè)試存儲(chǔ)器100的各頁(yè)。圖中的X標(biāo)記表示檢測(cè) 出不合格的存儲(chǔ)單元。級(jí)別0表示即使在不能通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)(ECC: Error Check and Correction)進(jìn)行任何訂正的情況下也能保證正常操作的質(zhì)量。 級(jí)別1表示當(dāng)通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)在每一頁(yè)可訂正1比特錯(cuò)誤時(shí)，可以保證 正常操作的質(zhì)量。級(jí)別2表示當(dāng)通過(guò)錯(cuò)誤訂正符號(hào)在每一頁(yè)可訂正2比特 的錯(cuò)誤時(shí)可以保證正常操作的質(zhì)量。
在級(jí)別0中，在某一頁(yè)只要有一個(gè)不合格的存儲(chǔ)單元，則有關(guān)該頁(yè)的 頁(yè)合格/失效信息就表示不合格。因此，輸出部380對(duì)于級(jí)別0，直接輸出 比特合格/失效信息。即，在本圖中在某一頁(yè)即使僅有一個(gè)X標(biāo)記，也判斷該頁(yè)為不合格。另一方面，在級(jí)別1中，在某一頁(yè)即使具有一個(gè)以下的不 合格存儲(chǔ)單元，對(duì)于該頁(yè)的頁(yè)合格/失效信息也表示為合格品。因此輸出部
380對(duì)于只包含有一個(gè)不合格存儲(chǔ)單元的頁(yè)，不直接輸出該頁(yè)的比特合格/ 失效信息。取而代之，輸出部380輸出在該頁(yè)沒(méi)有產(chǎn)生任何不合格時(shí)的比 特合格/失效信息。在圖中從上數(shù)第3個(gè)以及第9個(gè)頁(yè)與此相當(dāng)。
在級(jí)別2中，在某一頁(yè)即使具有2個(gè)以下的不合格存儲(chǔ)單元，對(duì)于該 頁(yè)的頁(yè)合格/失效信息也表示合格品。因此，輸出部380對(duì)于包含有2個(gè)以 下不合格存儲(chǔ)單元的頁(yè)，不直接輸出該頁(yè)的比特合格/失效信息。取而代之， 輸出部38G輸出在該頁(yè)沒(méi)有產(chǎn)生任何不合格時(shí)的比特合格/失效信息。在圖 中，從上數(shù)第3個(gè)、第4個(gè)、第9個(gè)、第10個(gè)頁(yè)與此相當(dāng)。
這樣，輸出部380對(duì)于各級(jí)別，對(duì)于滿足該級(jí)別的頁(yè)，取代該頁(yè)的比 特合格/失效信息，而輸出在該頁(yè)沒(méi)有產(chǎn)生任何不合格時(shí)的比特合格/失效 信息。由此，利用該輸出的修復(fù)處理部190可以只對(duì)需要修復(fù)處理的頁(yè)獲 取比特合格/失效信息，可以省略對(duì)哪一頁(yè)需要修復(fù)處理進(jìn)行分析和判斷的 處理。
以上，利用實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了說(shuō)明，但是本發(fā)明的技術(shù)范圍并 不限定于上述實(shí)施方式所記載的范圍?？梢詫?duì)上述實(shí)施方式施加多種變更 與改良，這對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員是顯而易見(jiàn)的。施加了這樣的變更與改良的 實(shí)施方式也包含在本發(fā)明的技術(shù)范圍之內(nèi)是從權(quán)利要求保護(hù)的范圍可明確 的。
1權(quán)利要求
1、一種測(cè)試裝置，其對(duì)用于存儲(chǔ)在每一頁(yè)附加有錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的被測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，包括測(cè)試處理部，其對(duì)于每一個(gè)作為錯(cuò)誤訂正單位的頁(yè)，從所述被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取存儲(chǔ)于該頁(yè)的所述數(shù)據(jù)流；邏輯比較器，將從所述被測(cè)試存儲(chǔ)器中讀取的所述數(shù)據(jù)流所包含的各比特值與該比特的期望值相比較；第一失效存儲(chǔ)器，根據(jù)所述邏輯比較器的比較結(jié)果，對(duì)于所述被測(cè)試存儲(chǔ)器的每個(gè)存儲(chǔ)單元，存儲(chǔ)表示該存儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息；數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)部，對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)；頁(yè)分類部，對(duì)于將所述被測(cè)試存儲(chǔ)器根據(jù)質(zhì)量進(jìn)行分類的多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，對(duì)每一頁(yè)判斷與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件；第二失效存儲(chǔ)器，根據(jù)所述頁(yè)分類部的判斷結(jié)果，對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，存儲(chǔ)表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效信息；輸出部，其對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，輸出每個(gè)存儲(chǔ)單元的所述比特合格/失效信息時(shí)，以具有與所述存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的比特的頁(yè)滿足該級(jí)別條件的所述頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)在所述第二失效存儲(chǔ)器中為條件，將從所述第一失效存儲(chǔ)器輸出的、表示該存儲(chǔ)單元不合格的所述比特合格/失效信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值并進(jìn)行輸出。
2、 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，還具有地址指示部，其依次輸出第一地址，該第一地址用于依次讀取存儲(chǔ)在 所述第一失效存儲(chǔ)器中的、每個(gè)存儲(chǔ)單元的所述比特合格/失效信息；地址轉(zhuǎn)換部，其輸出第二地址，該第二地址是用于從所述地址指示部 輸出的地址中取出一部分的比特，并讀取存儲(chǔ)于所述第二失效存儲(chǔ)器中的、 具有與該地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元的頁(yè)的所述頁(yè)合格/失效信息，所述輸出部將所述頁(yè)合格/失效信息和所述比特合格/失效信息的邏輯 積作為所述存儲(chǔ)單元的所述比特合格/失效信息進(jìn)行輸出，所述頁(yè)合格/失 效信息是從所述第二失效存儲(chǔ)器內(nèi)的所述第二地址讀取的，當(dāng)該頁(yè)為不合 格時(shí)為邏輯值H,當(dāng)該頁(yè)為合格時(shí)為邏輯值L，所述比特合格/失效信息是 從所述第 一失效存儲(chǔ)器內(nèi)的所述第 一地址讀取的，當(dāng)該存儲(chǔ)單元為不合格 時(shí)為邏輯值H，當(dāng)該存儲(chǔ)單元為合格時(shí)為邏輯值L。
3、 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，還具有修復(fù)處理部，其根據(jù)所述輸 出部輸出的每一頁(yè)的比特合格/失效信息，進(jìn)行將不合格的存儲(chǔ)單元置換為預(yù)備的存儲(chǔ)單元的修復(fù)處理。
4、 如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，所述頁(yè)分類部具有 多個(gè)寄存器，其對(duì)應(yīng)所述多個(gè)級(jí)別中的每一個(gè)進(jìn)行設(shè)置，對(duì)于應(yīng)分類到該級(jí)別的所述被測(cè)試存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)頁(yè)內(nèi)所包含的錯(cuò)誤數(shù)量的上限值；比較部，分別將存儲(chǔ)于所述多個(gè)寄存器的多個(gè)所述上限值與所述數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)部的計(jì)數(shù)值相比較；以及判斷部，其以對(duì)于從所述被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取的所述數(shù)據(jù)流的所述計(jì)數(shù)值是所述上限值以下為條件，判斷存儲(chǔ)有該數(shù)據(jù)流的頁(yè)滿足對(duì)應(yīng)該上限值的級(jí)別的條件。
5、 一種測(cè)試方法，是對(duì)用于存儲(chǔ)在每一頁(yè)附加有錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù) 流的被測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試方法，其包括測(cè)試處理步驟，對(duì)于每一個(gè)作為錯(cuò)誤訂正單位的頁(yè)，從所述被測(cè)試存 儲(chǔ)器讀取存儲(chǔ)于該頁(yè)的所述數(shù)據(jù)流；邏輯比較步驟，將從所述被測(cè)試存儲(chǔ)器讀取的所述數(shù)據(jù)流所包含的各 個(gè)比特值與該比特的期望值進(jìn)行比較；第一存儲(chǔ)步驟，根據(jù)所述邏輯比較步驟的比較結(jié)果，將對(duì)所述被測(cè)試 存儲(chǔ)器的每個(gè)存儲(chǔ)單元的、表示該存儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息 存儲(chǔ)到第一失效存儲(chǔ)器中；數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)步驟，對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)；頁(yè)分類步驟，對(duì)于將所述被測(cè)試存儲(chǔ)器根據(jù)質(zhì)量進(jìn)行分類的多個(gè)級(jí)別 的每一個(gè)，對(duì)每一頁(yè)判斷與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件；第二存儲(chǔ)步驟，根據(jù)所述頁(yè)分類步驟的判斷結(jié)果，對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別 的每一個(gè)，將表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)到第二失效存儲(chǔ)器 中；以及輸出步驟，對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，輸出每個(gè)存儲(chǔ)單元的所述比 特合格/失效信息時(shí)，以具有與所述存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的比特的頁(yè)滿足該級(jí)別條 件的所述頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)在所述第二失效存儲(chǔ)器中為條件，將從所述 第一失效存儲(chǔ)器輸出的、表示該存儲(chǔ)單元不合格的所述比特合格/失效信息 變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值并進(jìn)行輸出。
6、 一種測(cè)試裝置，其對(duì)在每一頁(yè)具有1比特或者多比特的錯(cuò)誤訂正功 能的被測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，包括測(cè)試處理部，將測(cè)試用的數(shù)據(jù)流寫入所述被測(cè)試存儲(chǔ)器，并對(duì)每一頁(yè) 讀取已經(jīng)寫入的所述數(shù)據(jù)流；第一失效存儲(chǔ)器，其接收對(duì)每一頁(yè)讀取的所述數(shù)據(jù)流，將該數(shù)據(jù)流依 次與預(yù)定的期望值進(jìn)行比較，生成表示每一存儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息，并存儲(chǔ)所述比特合格/失效信息；以及級(jí)別分選部，與對(duì)所述第一失效存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)動(dòng)作并行動(dòng)作，根據(jù)對(duì)每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)出的與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)的計(jì)數(shù)值，生成用于判斷不可進(jìn)行錯(cuò)誤訂正、可進(jìn)行1比特的錯(cuò)誤訂正、或者可進(jìn)行多個(gè)比特的錯(cuò)誤訂正的判斷信息。
7、如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，所述級(jí)別分選部包括 數(shù)據(jù)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)部，其對(duì)每一 頁(yè)統(tǒng)計(jì)與所述期望值不 一致的比特?cái)?shù)； 頁(yè)分類部，對(duì)于將所述^f皮測(cè)試存儲(chǔ)器根據(jù)質(zhì)量進(jìn)行分類的多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，對(duì)每一 頁(yè)判斷與所述期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件；第二失效存儲(chǔ)器，其根據(jù)所述頁(yè)分類部的判斷結(jié)果，對(duì)于所述多個(gè)級(jí) 別的每一個(gè)，存儲(chǔ)表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效信息；以及輸出部，其對(duì)于所述多個(gè)級(jí)別的每一個(gè)，輸出每個(gè)存儲(chǔ)單元的所述比 特合格/失效信息時(shí)，以具有與所述存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的比特的頁(yè)滿足該級(jí)別條 件的所述頁(yè)合格/失效信息存儲(chǔ)在第二失效存儲(chǔ)器中為條件，將從所述第一 失效存儲(chǔ)器輸出的、表示該存儲(chǔ)單元不合格的所述比特合格/失效信息變更 為表示該存儲(chǔ)單元合格的值并進(jìn)行輸出。
全文摘要
本發(fā)明提供一種對(duì)用于存儲(chǔ)附加了錯(cuò)誤訂正符號(hào)的數(shù)據(jù)流的被測(cè)試存儲(chǔ)器(以下稱為DUT)進(jìn)行有效測(cè)試的測(cè)試裝置。該測(cè)試裝置將從DUT讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各比特與期望值相比較。該比較結(jié)果作為表示DUT的每個(gè)存儲(chǔ)單元是否合格的比特合格/失效信息被存儲(chǔ)在第一失效存儲(chǔ)器(以下稱為FM)中。存儲(chǔ)裝置在每一頁(yè)統(tǒng)計(jì)與期望值不一致的比特?cái)?shù)，并在DUT的每一級(jí)別及每一頁(yè)，判斷與期望值不一致的比特?cái)?shù)是否滿足該級(jí)別的條件。該判斷結(jié)果作為在每個(gè)級(jí)別表示各頁(yè)是否合格的頁(yè)合格/失效信息被存儲(chǔ)在第二FM中。如果包含有對(duì)應(yīng)某存儲(chǔ)單元的比特的頁(yè)滿足某級(jí)別條件的比特合格信息存儲(chǔ)在第二FM中，則測(cè)試裝置將第一FM的比特合格/失效信息變更為表示該存儲(chǔ)單元合格的值進(jìn)行輸出。
文檔編號(hào)G11C29/44GK101310342SQ20078000011
公開(kāi)日2008年11月19日 申請(qǐng)日期2007年3月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月6日
發(fā)明者佐藤新哉, 小澤大樹(shù) 申請(qǐng)人:愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試株式會(huì)社