專利名稱:擺動(dòng)信號(hào)讀出方法及光盤設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及讀出記錄在屬于是記錄介質(zhì)的光盤上的擺動(dòng)信號(hào)的 一種方法及執(zhí)行該讀出方法的光盤設(shè)備。
背景技術(shù):
自從操作光盤的設(shè)備,即光盤設(shè)備首次投入實(shí)用以來(lái),已經(jīng)很 長(zhǎng)時(shí)間了。這種光盤設(shè)備能用激光再現(xiàn)光盤上記錄的信息或用激光在 光盤上記錄信息。作為記錄介質(zhì)(光盤),現(xiàn)在普及的是符合數(shù)字通用
盤(DVD)標(biāo)準(zhǔn)的光盤。
在DVD標(biāo)準(zhǔn)的光盤中,除了 ROM型只重放光盤之外,在能夠只 寫一次的一次寫入多次讀出光盤或能被反復(fù)地重寫的可重寫光盤的 信息記錄表面(盤的表面)上成形記錄軌道(引導(dǎo)溝槽或與溝槽反極性 的平坦部分)。
盡管事先在記錄軌道記錄了物理地址,但還是需要通過使用其 中以固定周期擺動(dòng)(彎曲)該記錄軌道的擺頻調(diào)制系統(tǒng)來(lái)形成記錄軌 道,以降低檢測(cè)和讀出(再現(xiàn))已記錄物理地址的導(dǎo)引頭部(或某個(gè)特 定位置)所需的時(shí)間.
在記錄為物理地址的信息被完全讀出并且該記錄的信息內(nèi)容被 解譯時(shí),自然能夠得知當(dāng)前的物理地址。然而,通過特性化(反相一 個(gè)具體部分的相位)例如記錄軌道的擺動(dòng)相位,將能以更短的時(shí)間檢
測(cè)出該物理地址的導(dǎo)引頭(或者特定)位置。
例如,日本專利申請(qǐng)公開2005-166118 (
,圖5)披露了一 種按WDU或WAP單元來(lái)頻分的擺動(dòng)周期計(jì)數(shù)器,以便獲得同步。
另外,日本專利申請(qǐng)公開2005-190561 (
,圖4)披露了一
種技術(shù),通過比較相變點(diǎn)的檢測(cè)結(jié)果和同步模式來(lái)檢測(cè)同步位置。
而且,日本專利申請(qǐng)公開2005-166112 (圖l)中披露了一種技術(shù),
通過在〃與〃電路中獲得符號(hào)一致性來(lái)實(shí)現(xiàn)調(diào)整,其中該〃與〃電路用于 確定從邊緣電平獲得的同步到達(dá)檢測(cè)結(jié)果與規(guī)定的同步模式按符號(hào) 彼此重合的定時(shí)。
但是,由于信號(hào)轉(zhuǎn)換系統(tǒng)中出現(xiàn)的缺陷(數(shù)據(jù)缺失或損壞)、噪 音等原因,即便使用上述文件的任意方法之一或組合,也難于把能檢 測(cè)擺動(dòng)同步(完成擺動(dòng)的PLL鎖定)所要求的時(shí)間降低一個(gè)確切的固
定時(shí)間。
而且,通過使用上述文件的任意方法之一或組合,既不能得到
減少引起擺動(dòng)同步相移(其中在擺動(dòng)的PLL鎖定操作之時(shí)錯(cuò)誤地鎖定 到不同相位)的因素的方法,也不能得到提高物理地址讀出(再現(xiàn)) 精度的構(gòu)思。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種檢測(cè)方法以及施行一種讀出方法 的光盤設(shè)備,該檢測(cè)方法檢測(cè)記錄在屬于是記錄介質(zhì)的光盤上的預(yù)制 凹槽擺動(dòng)中的同步模式和以固定周期出現(xiàn)的擺動(dòng)同步。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供一種光盤設(shè)備,所述光盤設(shè)備檢 測(cè)與預(yù)先制備的用于判定的模式一致的包括在擺動(dòng)周期模式中的反 相部分的展現(xiàn)模式組合、確定是否啟動(dòng)PLL同步來(lái)將一致程度分類成 多個(gè)狀態(tài)、并通過根據(jù)所述狀態(tài)的一個(gè)預(yù)定處理過程來(lái)實(shí)現(xiàn)PLL同 步。
本發(fā)明其他目的和優(yōu)點(diǎn)將在以后的描述中闡明,并且其中的一 部分將被明確描述出,或通過實(shí)踐本發(fā)明得出。本發(fā)明的目的和優(yōu)點(diǎn) 可通過如下具體說明的技術(shù)手段及其組合裝置來(lái)體現(xiàn)并獲得。
結(jié)合在說明書中并構(gòu)成說明書一部分的附圖示出了本發(fā)明的實(shí) 施例,并且與上面給出的概括描述及下面給出的實(shí)施例的詳細(xì)描述一 起用于解釋本發(fā)明的原理。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光盤設(shè)備的實(shí)例示意圖2是根據(jù)本發(fā)明圖1所示光盤設(shè)備實(shí)施例的擺動(dòng)處理電路單 元的實(shí)例示意圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的實(shí)例示意圖,示出加到符合高清晰 度(HD)DVD標(biāo)準(zhǔn)的盤的擺動(dòng)(WD)信號(hào)和使用相位調(diào)制嵌入信息的情 況的調(diào)制規(guī)則;
圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的加到符合HD DVD標(biāo)準(zhǔn)的盤的一個(gè)擺 動(dòng)格式的實(shí)例示意圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于檢測(cè)使用圖2所示擺動(dòng)處理電 路單元的一個(gè)同步碼的一個(gè)實(shí)例流程圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在檢測(cè)圖5所示同步碼的處理過程 中的狀態(tài)過渡的實(shí)例示意圖7是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的使用在用于檢測(cè)圖5所示同步碼的 處理過程中的一個(gè)同步字段的同步模式的實(shí)例示意圖8是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的通過使用圖7所示同步字段的同步 模式來(lái)校正同步相位的實(shí)例示意圖;以及
圖9是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的通過使用圖7所示同步字段的同步 模式來(lái)校正同步相位的實(shí)例示意圖。
具體實(shí)施例方式
以下將參照附圖來(lái)描述本發(fā)明的實(shí)施例的實(shí)例。 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供一種檢測(cè)方法以及施行該檢測(cè)方 法的光盤設(shè)備,所述的檢測(cè)方法檢測(cè)在屬于是記錄介質(zhì)的光盤上的擺 動(dòng)預(yù)制凹槽中以固定周期出現(xiàn)的同步模式和擺動(dòng)同步。
圖1示出能夠施行本發(fā)明實(shí)施例的一種光盤設(shè)備的實(shí)例。 圖1所示的光盤設(shè)備1包括光頭單元ll,用于以具有預(yù)定波 長(zhǎng)的激光照射光盤101的記錄面;托架12,用于支持光頭單元11以 便在沿著光盤記錄面的徑向上的預(yù)定范圍內(nèi)可任意地移動(dòng);信號(hào)處理
塊15,用于通過處理從該光盤的記錄面反射的激光以及從光頭單元
11獲得的激光等而獲得預(yù)定的信號(hào)。順便說明,雖然沒有詳細(xì)描述,
但光頭單元ll包括半導(dǎo)體激光器單元,用于輸出激光;物鏡,用于把激光會(huì)聚在光盤的記錄面并捕獲由該光盤反射的反射激光;光檢 測(cè)單元(光電二極管-IC(PDIC)),用于從由該物鏡捕獲的反射激光中 獲得預(yù)定的信號(hào);若干光學(xué)單元,用于在上述單元之間導(dǎo)引激光;等 等。
信號(hào)處理塊15從由該P(yáng)DIC光電轉(zhuǎn)換的信號(hào)中獲得記錄在記錄軌道上的信息,并且處理用于調(diào)整(聚焦控制)在物鏡和該光盤的記錄 面之間的距離的信號(hào)以及調(diào)整(軌道控制)在通過物鏡會(huì)聚到記錄軌 道的激光和該記錄軌道之間的未對(duì)準(zhǔn)的信號(hào)。
該信號(hào)處理塊15包括總線151、連接到總線151的系統(tǒng)控制電 路單元(主控單元)152、伺服控制器153等等。順便說明,至少一個(gè) 數(shù)據(jù)處理電路單元154和一個(gè)擺動(dòng)處理電路單元155被連接到該系統(tǒng) 控制電路單元152。另外,RF電路單元156連接到該數(shù)據(jù)處理電路單 元,并且來(lái)自該光頭單元11的電壓轉(zhuǎn)換后的光電轉(zhuǎn)換輸出信號(hào)被通 過前置放大器157輸入到該RF電路元件156。順便說明,無(wú)疑可與 PDIC集成地提供前置放大器157。
在上述信號(hào)處理塊15中,通過RF電路單元156從該P(yáng)DIC的(電 壓轉(zhuǎn)換后的)輸出中獲得RF信號(hào)(再現(xiàn)信號(hào))。
在數(shù)據(jù)處理電路單元154中,從由RF電路單元156所獲得的RF 信號(hào)中提取記錄在光盤上的數(shù)據(jù)(控制信息和記錄的數(shù)據(jù))。而且,在 該數(shù)據(jù)處理電路單元154中,產(chǎn)生寫入數(shù)據(jù)/用于把數(shù)據(jù)寫入一個(gè)可 寫光盤的控制信號(hào),例如激光調(diào)制信號(hào)等。
擺動(dòng)處理電路單元155用于檢測(cè)形成在光盤101的記錄面上的 一個(gè)軌道(預(yù)制凹槽)的特定位置,或檢測(cè)一個(gè)記錄標(biāo)記串,并獲得同 步信號(hào)。擺動(dòng)處理電路單元155包括例如擺動(dòng)(WD)計(jì)數(shù)器部分201、 擺動(dòng)單元(WDU)計(jì)數(shù)器單元202、鑒相器單元203、地址檢測(cè)電路單元 204、狀態(tài)計(jì)數(shù)器單元205、同步碼檢測(cè)單元206等,如圖2詳細(xì)所 示。順便說明,每一單元都可被制備作為主控單元的硬件或可通過使 用對(duì)應(yīng)于每一特定單元的電路或小規(guī)模IC來(lái)實(shí)現(xiàn)。
例如在系統(tǒng)控制電路單元152中,根據(jù)由數(shù)據(jù)處理電路單元154 獲得的控制信息來(lái)設(shè)置用于控制旋轉(zhuǎn)光盤的盤電機(jī)13的速度或控制用于移動(dòng)托架12 (即沿著光盤的記錄面移動(dòng)光頭單元11)的托架電
機(jī)14的進(jìn)給速率的受控變量。事實(shí)上,該盤電機(jī)13的轉(zhuǎn)速和該托架 電機(jī)14的進(jìn)給速率無(wú)疑是通過連接到該伺服控制器153的電機(jī)驅(qū)動(dòng) 器158和159直接控制的。
順便說明,控制光頭單元11的物鏡(或用于保持物鏡的致動(dòng)器) 的位置的方式是當(dāng)根據(jù)設(shè)置在伺服控制器153中的受控變量移動(dòng)或 移位磁驅(qū)動(dòng)單元(線圈/磁體)(沒示出)或者使其變形時(shí),相對(duì)于光盤 的記錄軌道來(lái)說該物鏡的位置是在一個(gè)固定允許誤差之內(nèi)。而且,當(dāng) 欲設(shè)置該物鏡(致動(dòng)器)的受控變量時(shí),當(dāng)利用從前置放大器157直接 提供到伺服控制器153的信號(hào)分量時(shí),一個(gè)比固定速度更高的隨動(dòng)速 度顯然是安全的。
圖3示出用于符合高清晰度(HD)DVD標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)盤的擺動(dòng)(WD)
信號(hào),具體地說是一種在使用相位調(diào)制嵌入信息的情況下的調(diào)制規(guī)則
的實(shí)例,其中該盤的記錄密度比記錄介質(zhì)即該光盤的數(shù)字通用盤(DVD)
標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)一步提高。
擺動(dòng)(WD)信號(hào)在實(shí)質(zhì)上規(guī)定為正弦波,其中設(shè)置了正常相位波 (NPW)和反相位波(IPW)。順便說明,"0〃被設(shè)置在NPW(正常相位波) 中作為比特(調(diào)制)信息,而〃1〃被設(shè)置在IPW(反相位波)中作為比特 (調(diào)帝J)信息。
而且如圖3顯見,在擺動(dòng)信號(hào)被更新同時(shí)照射光盤的激光束點(diǎn) 的位置被固定的一種狀態(tài)中,即在由盤的旋轉(zhuǎn)所移動(dòng)的該擺動(dòng)通過該 激光束點(diǎn)中位置的方向被假定為是由該箭頭指示的方向、即順時(shí)針方 向的情況中,84個(gè)擺動(dòng)(WD)信號(hào)構(gòu)成一個(gè)單元(WDU),該84個(gè)擺動(dòng) (WD)信號(hào)的每一個(gè)都是包括該信號(hào)幅度的最大值和最小值的1T擺動(dòng) 信號(hào)。T表示一個(gè)波長(zhǎng),并還稱為擺動(dòng)數(shù)。順便說明,通過組合NPW 和IPW的擺動(dòng)數(shù),能夠表示(能夠被嵌入的)同步模式和地址信息等。
圖4示出一種擺動(dòng)格式的實(shí)例。
在HD DVD標(biāo)準(zhǔn)的光盤中,R(只可寫一次)/RW(可重寫)/RAM(可 重寫)標(biāo)準(zhǔn)的任意之一都按照四個(gè)擺動(dòng)(4T)的單元把"r或"0"的信息 (比特)分配到擺動(dòng)相位。而且,信息(比特)即相變部分被斷續(xù)地排列在盤的整個(gè)記錄區(qū)域中。
每一個(gè)單元(wdu)被規(guī)定為下列之一
用于地址字段的wdu,包括用于對(duì)應(yīng)被表示為擴(kuò)大的部分a的三
比特的一個(gè)地址和一個(gè)ipw的數(shù)據(jù),
用于單位字段的wdu,其中被表示為擴(kuò)大的部分b的相變部分被 全部缺失(無(wú)規(guī)定),以及
用于同步字段的wdu,被表示為擴(kuò)大的部分c的 6T (ipw) -4T (npw)-6T (ipw)被加在該同步字段的導(dǎo)引頭。
順便說明,全部17個(gè)wdu構(gòu)成一個(gè)地址單元〃wap〃。該wap是 一種格式,其中收集了多個(gè)單元的比特,以便表示一個(gè)物理地址。
順
便說明,同步字段總被分配到一個(gè)wap的引導(dǎo)頭。g卩,在任意數(shù)目的 wdu字串中的其引導(dǎo)頭處具有同步字段的17個(gè)wdu被作為一個(gè)wap 管理。
換言之,同步字段的wdu被用于表示一個(gè)wap導(dǎo)引頭同步碼, 使用在該地址字段中的每一 WDU通過第一組的四個(gè)擺動(dòng)的反相(IPW) 表示一個(gè)同步位置,并且隨后的4擺動(dòng)x3組的擺動(dòng)相位表示3比特 的數(shù)據(jù)。
當(dāng)要解調(diào)這種hd dvd擺動(dòng)數(shù)據(jù)時(shí),必須在沒有甚至一個(gè)擺動(dòng)誤 差的條件下來(lái)正確地檢測(cè)該反相部分(ipw)的擺動(dòng)位置。
另一方面,要求即使當(dāng)由于盤上的缺陷、由信號(hào)傳送系統(tǒng)的損 壞狀態(tài)不利地引起的該擺動(dòng)信號(hào)的s/n比(信噪比)中的劣化而造成 相變點(diǎn)中的擺動(dòng)缺失時(shí),也能夠校正這樣一個(gè)不利的狀態(tài),從而恢復(fù) 該地址(使得該物理地址能夠被獲取)。
但在后一要求中,如果過度地進(jìn)行校正,則擺動(dòng)檢測(cè)位置上的 準(zhǔn)確性將下降。
因此,自然要求擺動(dòng)檢測(cè)位置上的準(zhǔn)確性(擺動(dòng)檢測(cè)位置上的精 度)和解調(diào)性能彼此適合。
下面將參照?qǐng)D2描述使用該信號(hào)處理塊的擺動(dòng)處理電路來(lái)檢測(cè)擺動(dòng)的方法。
通過鑒相器電路單元203從盤上檢測(cè)的擺動(dòng)信號(hào)中提取碼信息,
并將該信息輸入到地址檢測(cè)電路單元204和同步碼檢測(cè)電路單元 206。從同步碼檢測(cè)電路單元206輸出的同步碼檢測(cè)標(biāo)志信息被輸入 到狀態(tài)計(jì)數(shù)器單元205,并且管理該同步碼的檢測(cè)狀態(tài)。順便說明, 同步碼檢測(cè)標(biāo)志信息還被使用在地址檢測(cè)電路單元204中。
同步碼檢測(cè)電路單元206中的檢測(cè)條件將根據(jù)從狀態(tài)計(jì)數(shù)器單 元205輸出的同步狀態(tài)而切換。
另一方面,擺動(dòng)信號(hào)(WD)被輸入到該擺動(dòng)計(jì)數(shù)器部分201,并且 在其中計(jì)數(shù)該擺動(dòng)波數(shù)。在擺動(dòng)計(jì)數(shù)部分201中,在計(jì)數(shù)值為對(duì)應(yīng)于 一個(gè)WDU的84(0至83)時(shí)清除計(jì)數(shù)值,同時(shí)(每次該計(jì)數(shù)器部分201 被清除時(shí)),該擺動(dòng)單元(WDU)計(jì)數(shù)器(WDU計(jì)數(shù)器)單元202遞增1。 在WDU計(jì)數(shù)器單元202中,在計(jì)數(shù)值為對(duì)應(yīng)于WAP的17(0至16)時(shí) 清除計(jì)數(shù)值,同時(shí)(每次該計(jì)數(shù)器單元202被清除時(shí)),清除定時(shí)信 息被輸入到同步碼檢測(cè)電路單元206。如將被稍后描述的那樣,該同 步碼檢測(cè)電路單元206還可以輸出一個(gè)同步碼位置校正信號(hào),該同步 碼位置校正信號(hào)可用于校正WDU計(jì)數(shù)器單元202中的計(jì)數(shù)值。
圖5示出在檢測(cè)同步碼時(shí)使用的狀態(tài)轉(zhuǎn)換表。
如圖5所示,根據(jù)同步狀態(tài)把狀態(tài)轉(zhuǎn)換劃分成四個(gè)狀態(tài)。狀態(tài)0 指示同步完全沒有獲得的一個(gè)狀態(tài)。狀態(tài)1指示檢測(cè)到一個(gè)WDU的狀 態(tài)。狀態(tài)2指示能夠檢測(cè)到連續(xù)WDU并且實(shí)現(xiàn)WDU同步的一個(gè)狀態(tài)。 狀態(tài)3指示檢測(cè)到WAP的最高處的一個(gè)WDU并且完全實(shí)現(xiàn)WAP同步的 一種狀態(tài)。
下面示出狀態(tài)轉(zhuǎn)換的條件。
在沒有實(shí)現(xiàn)同步的狀態(tài)中,重復(fù)進(jìn)行模式一致確定,直到檢測(cè) 到與圖6中由〃全部〃、〃S0"、 "S1〃和"S2〃所示模式一致的任何數(shù)據(jù)為
止。順便說明,圖6中的"x"意指隨意性(g卩"r和"o"任何之一都可被
采用)。
當(dāng)實(shí)現(xiàn)與任何模式的一致時(shí)(當(dāng)檢測(cè)到數(shù)據(jù)一致模式),起動(dòng)擺 動(dòng)(WD)計(jì)數(shù)器部分201,從而把狀態(tài)移到屬于是WDU檢測(cè)狀態(tài)的狀態(tài)
在狀態(tài)1中,在該擺動(dòng)計(jì)數(shù)器部分201的計(jì)數(shù)值已經(jīng)變?yōu)?4(對(duì) 應(yīng)于一個(gè)WDU的擺動(dòng)數(shù))的倍數(shù)的位置處,同步碼檢測(cè)電路單元206 的同步檢測(cè)門被打開,并且確定這些同步碼模式是否彼此一致(模式 一致確定)。即,通過狀態(tài)l的門控處理,避免同步碼的錯(cuò)誤檢測(cè)。
當(dāng)在門控位置正常執(zhí)行同步碼模式一致時(shí),獲得實(shí)現(xiàn)WDU同步 的狀態(tài),并且狀態(tài)移到下一個(gè)狀態(tài),即狀態(tài)2。
在狀態(tài)2中,在擺動(dòng)計(jì)數(shù)器也已經(jīng)計(jì)數(shù)了 84的倍數(shù)的一個(gè)位置, 確定該同步字段模式是否彼此一致(模式一致確定)。當(dāng)在狀態(tài)2中檢 測(cè)到一個(gè)同步字段模式時(shí),意味著實(shí)現(xiàn)了 WAP同步,狀態(tài)移到狀態(tài)3。
順便說明,當(dāng)在狀態(tài)1或2中的一個(gè)指定的擺動(dòng)計(jì)數(shù)數(shù)目?jī)?nèi)不 能探測(cè)到一致的模式時(shí),提供其中把狀態(tài)返回到狀態(tài)0的一個(gè)轉(zhuǎn)移, 并且從頭開始再次進(jìn)行同步。這作為應(yīng)對(duì)其中由于噪音、盤缺陷等原 因而在一個(gè)不正確位置實(shí)現(xiàn)同步的情況的措施是很有價(jià)值的。
實(shí)例1的出色之處在于對(duì)傳輸系統(tǒng)中的盤的缺陷或噪音的抵抗 力,以及能夠快速和正確地檢測(cè)擺動(dòng)同步。
如上述實(shí)例1中那樣,根據(jù)圖6所示的同步模式一致確定來(lái)檢 測(cè)同步碼。
更具體地,在狀態(tài)0(S0)和狀態(tài)l(Sl)中,執(zhí)行嚴(yán)格的擺動(dòng)模式 一致確定,從而減小極度同步滑動(dòng)的產(chǎn)生。
相反,當(dāng)狀態(tài)從狀態(tài)2移動(dòng)到下一個(gè)狀態(tài)時(shí),擺動(dòng)計(jì)數(shù)器部分
201的同步檢測(cè)位置如在實(shí)例1中那樣被保護(hù),從而弱化了一致模式
確定條件。例如,即使當(dāng)缺少四擺動(dòng)(擺動(dòng)單元)中的一個(gè)擺動(dòng)時(shí),也 可以根據(jù)其他三個(gè)擺動(dòng)的極性進(jìn)行校正(在由圖6的部分D指示的區(qū)
域中,在這五個(gè)模式的第二到第五的四個(gè)連續(xù)擺動(dòng)中,雖然一個(gè)擺動(dòng) 的極性不同于其他擺動(dòng)的極性,但采用其中如圖6所示的四個(gè)擺動(dòng)彼 此一致的第一模式)。就是說,在質(zhì)量等級(jí)不一定是充分的低擺動(dòng)狀 態(tài)中,在執(zhí)行管理的同時(shí)提高了模式一致的可能性,以便不引起錯(cuò)誤的檢測(cè)。
順便說明,在狀態(tài)2中,例如能夠在一個(gè)單位字段(緊隨對(duì)應(yīng)于 單位字段的WDU)之后檢測(cè)屬于是如圖7所示的同步字段的同步模式 的"6T-4T-6T"模式,用于升級(jí)到狀態(tài)3、即WAP同步完成(OK)的條件 被加到狀態(tài)2(如果檢測(cè)到由圖6中的"全部"指示的一個(gè)模式)。
另外,除了上述的轉(zhuǎn)換之外,當(dāng)在所有的同步狀態(tài)的任一狀態(tài) 中檢測(cè)到由"6T-4T-6T"模式(圖7所示的任意模式)構(gòu)成的一個(gè)完美 一致模式和在上述模式之前和之后的擺動(dòng)極性,則通過跳過中間狀態(tài) 來(lái)提供移動(dòng)到狀態(tài)3(完全鎖定狀態(tài))的一個(gè)轉(zhuǎn)換。這種狀態(tài)具有的一 個(gè)優(yōu)點(diǎn)是縮短了該同步處理的時(shí)間(完成PLL鎖定所要求的時(shí)間)。
實(shí)例2的出色之處在于抵抗在傳送系統(tǒng)中的盤的缺陷或噪音的 能力,并且能夠快速和正確地檢測(cè)擺動(dòng)同步。
在PLL鎖定處理中(當(dāng)狀態(tài)是小于狀態(tài)2 (S2)時(shí)),當(dāng)能夠檢測(cè)到 包括圖7所示模式的五個(gè)類型的正常數(shù)據(jù)時(shí),該擺動(dòng)計(jì)數(shù)器部分201 的計(jì)數(shù)值被校正為一個(gè)"初始檢測(cè)的值",從而校正擺動(dòng)同步相位,這 是本發(fā)明重要的特征之一。即,在狀態(tài)O(SO)或l(Sl)中,即使當(dāng)在 一個(gè)不正確的相位(即在一個(gè)不正確的位置)中的同步檢測(cè)完成(同步 實(shí)現(xiàn))時(shí),也變得有可能通過下面描述的處理來(lái)把該同步恢復(fù)到正常 位置。
如圖8所示,當(dāng)檢測(cè)到"4T-8T-4T-4T"的檢測(cè)位置"延遲了一個(gè) 擺動(dòng)〃時(shí),能夠通過把〃1〃添加到擺動(dòng)計(jì)數(shù)器部分201的計(jì)數(shù)值來(lái)校正 該同步相位。同樣如圖9所示,當(dāng)檢測(cè)到〃6T-4T-6T-4T"的檢測(cè)位置"
超前一個(gè)擺動(dòng)"時(shí),能夠通過從擺動(dòng)計(jì)數(shù)器部分2oi的計(jì)數(shù)值減"r
來(lái)校正該同步相位。
通過探測(cè)可能有時(shí)發(fā)生在擺動(dòng)鎖定處理中的擺動(dòng)同步相位滑動(dòng) 來(lái)提高同步位置精度和可靠性,并且自動(dòng)地把同步相位校正到正常的 擺動(dòng)相位。
如上已經(jīng)描述的那樣,根據(jù)本發(fā)明的任意一個(gè)實(shí)施例,實(shí)例3
在抵抗盤的缺陷或該傳送系統(tǒng)中的噪音的能力上出色,并且能夠快速 和正確地檢測(cè)擺動(dòng)同步。
而且,通過探測(cè)可能時(shí)常發(fā)生在擺動(dòng)鎖定處理中的擺動(dòng)同步相 位滑動(dòng)將提高同步位置的精確性和可靠性,并且自動(dòng)地將同步相位校 正到正常的擺動(dòng)相位。
因此,縮短了再現(xiàn)記錄在光盤上的數(shù)據(jù)所需的時(shí)間,并且提高 了用戶的便利。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以很容易了解其它優(yōu)點(diǎn)并進(jìn)行修改。因此, 本發(fā)明并不僅限于這里的描述和展示的具體細(xì)節(jié)和具有代表性的實(shí) 施例。.因此,在不背離本發(fā)明思想的精神和范圍的基礎(chǔ)上可以根據(jù)所 附的權(quán)利要求或等同物作各種修改。
例如,存儲(chǔ)介質(zhì)不局限于硬盤驅(qū)動(dòng)器,并顯然可以結(jié)合使用電 機(jī)來(lái)旋轉(zhuǎn)記錄介質(zhì)盤的一個(gè)存儲(chǔ)器系統(tǒng),例如使用光盤的光盤驅(qū)動(dòng) 器。
權(quán)利要求
1.一種光盤設(shè)備,其特征在于包括包括至少一個(gè)光源、透鏡和光檢測(cè)器的光頭,用于接收反射光并獲得對(duì)應(yīng)于所述光的輸出信號(hào),所述反射光是來(lái)自由一個(gè)記錄介質(zhì)的信息記錄區(qū)反射的光源的光;第一信號(hào)處理部分,用于從來(lái)自所述光檢測(cè)器的輸出信號(hào)中獲得預(yù)先記錄在一個(gè)信息記錄區(qū)上的具有周期性模式的第一信息;和第二信號(hào)處理部分,用于獲得記錄在跟隨由所述第一信號(hào)處理部分檢測(cè)的所述第一信息的特定位置之后的一個(gè)位置的第二信息,其特征在于所述第一信號(hào)處理部分根據(jù)所述周期模式的相位被反相的所在位置的組合來(lái)標(biāo)識(shí)所述第一信息的引導(dǎo)頭位置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1的光盤設(shè)備,其特征在于所述第一信號(hào)處理部分根據(jù)屬于是預(yù)先制備的多個(gè)模式中每一 個(gè)的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件來(lái)檢測(cè)所述第 一信息的一個(gè)特定位置。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1的光盤設(shè)備,其特征在于在檢測(cè)到屬于是預(yù)先制備的多個(gè)模式中每一個(gè)的周期模式的相 位被反相的所在位置的組合的條件中的至少一個(gè)已經(jīng)變?yōu)橐恢聲r(shí),所 述第一信號(hào)處理部分檢測(cè)所述第一信息的一個(gè)特定位置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤設(shè)備,其特征在于所述第一信號(hào)處理部分檢測(cè)制備在所述第一信息的引導(dǎo)頭或特 定位置的用于確定的模式作為屬于是預(yù)先制備的多個(gè)模式中每一個(gè) 的周期模式的相位被反相所在位置的組合的條件。
5. 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤設(shè)備,其特征在于- 當(dāng)所述第一信號(hào)處理部分檢測(cè)到制備在所述第一信息的引導(dǎo)頭 或特定位置的用于確定的模式己經(jīng)完全變?yōu)榕c屬于是預(yù)先制備的多 個(gè)模式中每一個(gè)的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件一致時(shí),所述第一信號(hào)處理部分使得所述第二信號(hào)處理部分立即開始 信號(hào)處理。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1的光盤設(shè)備,特征在于還包括 第三信號(hào)處理部分,當(dāng)檢測(cè)到屬于是預(yù)先制備的多個(gè)模式中每一個(gè)的周期模式的相位被反相器的所在位置的組合條件至少之一已 經(jīng)變?yōu)橐恢聲r(shí),所述第三信號(hào)處理部分用于根據(jù)所述第二信息的內(nèi)容 來(lái)檢驗(yàn)所述第一信息的特定位置,以便檢測(cè)所述第一信息的被檢測(cè)到 的特定位置是不正確的。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3的光盤設(shè)備,特征在于還包括 第三信號(hào)處理部分,當(dāng)檢測(cè)到屬于是預(yù)先制備的多個(gè)模式中每一個(gè)的周期模式的相位被反相器的所在位置的組合條件至少之一已 經(jīng)變?yōu)橐恢聲r(shí),所述第三信號(hào)處理部分用于根據(jù)所述第二信息的內(nèi)容 來(lái)檢驗(yàn)所述第一信息的特定位置,以便檢測(cè)所述第一信息的被檢測(cè)到 的特定位置是不正確的。
8. —種光盤設(shè)備,其特征在于包括包括至少一個(gè)光源、透鏡和光檢測(cè)器的光頭,用于接收反射光 并獲得對(duì)應(yīng)于所述光的輸出信號(hào),所述反射光是來(lái)自從一個(gè)記錄介質(zhì) 的信息記錄區(qū)反射的光源的光;鑒相器單元,用于從光檢測(cè)器的輸出信號(hào)中檢測(cè)由預(yù)先記錄在該信息記錄區(qū)上的擺動(dòng)周期模式的布局所標(biāo)識(shí)的一個(gè)反相部分;第一計(jì)數(shù)器單元,用于從所述光檢測(cè)器的輸出信號(hào)中計(jì)數(shù)預(yù)先記錄在所述信息記錄區(qū)上的擺動(dòng)周期模式的重復(fù)的數(shù)目;第二計(jì)數(shù)單元,用于按照一個(gè)預(yù)定數(shù)的單元從所述第一計(jì)數(shù)器 單元的計(jì)數(shù)結(jié)果中計(jì)數(shù)所述擺動(dòng)周期模式的重復(fù)數(shù)目; 地址檢測(cè)單元,用于根據(jù)由所述鑒相器單元檢測(cè)的反相部分的 展現(xiàn)模式來(lái)檢測(cè)所述反相部分的展現(xiàn)模式的一個(gè)組合與預(yù)先制備的 用于確定的一個(gè)模式相一致;狀態(tài)計(jì)數(shù)單元,用于根據(jù)與由所述地址檢測(cè)單元檢測(cè)的用于確 定的所述模式相一致的程度來(lái)確定一個(gè)位置是在PLL同步位置的附 近、PLL同步位置、或PLL同步被啟動(dòng)的位置;以及同步碼檢測(cè)單元,用于根據(jù)來(lái)自所述狀態(tài)計(jì)數(shù)單元的輸出和來(lái) 自所述第二計(jì)數(shù)單元的輸出而實(shí)現(xiàn)PLL同步。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備,其特征在于 所述狀態(tài)計(jì)數(shù)單元檢測(cè)在PLL同步位置附近的位置、是PLL同步位置的位置、以及PLL同步被啟動(dòng)的位置中的至少一個(gè),這些位置 是根據(jù)在被檢測(cè)的反相部分的展現(xiàn)模式和預(yù)先制備的用于確定的模 式之間的一致程度而確定的。
10. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備,其特征在于 所述狀態(tài)計(jì)數(shù)單元檢測(cè)所述反相部分的展現(xiàn)模式與引導(dǎo)頭確定模式和預(yù)先準(zhǔn)備的用于確定的模式的特定位置確定模式中的至少一 個(gè)一致。
11. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備,其特征在于當(dāng)所述反相部分的檢測(cè)的展現(xiàn)模式與一個(gè)引導(dǎo)頭確定模式和預(yù) 先準(zhǔn)備的用于確定的所述模式的一個(gè)特定位置確定模式都一致時(shí),所 述狀態(tài)計(jì)數(shù)單元喚醒所述同步碼檢測(cè)單元。
12. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備,其特征在于根據(jù)由所述地址檢測(cè)單元檢測(cè)的所述反相部分的展現(xiàn)模式的組 合,所述同步碼檢測(cè)單元校正所述第一計(jì)數(shù)單元的輸出,以便檢測(cè)到在不正確位置實(shí)現(xiàn)了 PLL同步。
13. 根據(jù)權(quán)利要求8的光盤設(shè)備,其特征在于一經(jīng)檢測(cè)到用于確定的模式中的至少一個(gè)已經(jīng)變?yōu)橐恢?,所?同步碼檢測(cè)單元將根據(jù)由所述地址檢測(cè)單元檢測(cè)的所述反相部分的 展現(xiàn)模式的組合來(lái)校正所述第一計(jì)數(shù)單元的輸出,以便檢測(cè)到在不正 確的位置實(shí)現(xiàn)了 PLL同步。
14. 根據(jù)權(quán)利要求9的光盤設(shè)備,其特征在于一經(jīng)檢測(cè)到用于確定的模式中的至少一個(gè)已經(jīng)變?yōu)橐恢拢?同步碼檢測(cè)單元將根據(jù)由所述地址檢測(cè)單元檢測(cè)的所述反相部分的 展現(xiàn)模式的組合來(lái)校正所述第一計(jì)數(shù)單元的輸出,以便檢測(cè)到在不正確的位置實(shí)現(xiàn)了 PLL同步。
15. —種用于檢測(cè)光盤中的記錄層上的擺動(dòng)的方法,其特征在于包括步驟從對(duì)應(yīng)于記錄介質(zhì)的信息記錄區(qū)所反射的反射光的一個(gè)輸出信 號(hào)中檢測(cè)由預(yù)先記錄在該信息記錄區(qū)上的擺動(dòng)周期模式的布局所標(biāo)識(shí)的一個(gè)反相部分;從對(duì)應(yīng)于記錄介質(zhì)的信息記錄區(qū)所反射的反射光的輸出信號(hào)中 計(jì)數(shù)預(yù)先記錄在所述信息記錄區(qū)上的擺動(dòng)周期模式的重復(fù)的數(shù)目(擺動(dòng)數(shù)目);以一個(gè)預(yù)定數(shù)量為單位對(duì)計(jì)數(shù)獲得的所述擺動(dòng)周期模式的重復(fù) 數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù);根據(jù)所述反相部分的檢測(cè)的展現(xiàn)模式,獲得在所述反相部分的 展現(xiàn)模式和預(yù)先制備的用于確定的模式之間的一致程度;根據(jù)獲得的與用于確定的所述模式相一致的程度來(lái)確定一個(gè)位 置是在PLL同步位置的附近、PLL同步位置、或PLL同步被啟動(dòng)的位置;以及根據(jù)與用于確定的模式的確定的一致程度以及通過按照一個(gè)預(yù) 定數(shù)的單位計(jì)數(shù)擺動(dòng)周期模式所獲得的計(jì)數(shù)結(jié)果來(lái)實(shí)現(xiàn)PLL同步。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤設(shè)備,所述光盤設(shè)備檢測(cè)包括在擺動(dòng)周期模式中的反相部分的展現(xiàn)模式組合與預(yù)先制備的用于確定的模式的一致性、確定是否啟動(dòng)PLL同步來(lái)將各個(gè)一致程度分類成多個(gè)狀態(tài)、并通過根據(jù)所述狀態(tài)的一個(gè)預(yù)定處理過程來(lái)實(shí)現(xiàn)PLL同步。
文檔編號(hào)G11B27/19GK101174450SQ200710165250
公開日2008年5月7日 申請(qǐng)日期2007年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月31日
發(fā)明者荒川信一郎 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝