專利名稱：確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的實施方式涉及石茲盤驅(qū)動器。更具體地，本發(fā)明的實施方式涉及 確定磁盤驅(qū)動器的可靠性。
背景技術(shù)：
磁盤驅(qū)動器的制造商執(zhí)行通常所說的連續(xù)進行的可靠性試驗，以便評估 其磁盤驅(qū)動器的質(zhì)量，以及監(jiān)視并且改進其制造過程。作為連續(xù)進行的可靠 性試驗的一部分，在磁盤驅(qū)動器的樣品上執(zhí)行用戶使用模擬，該樣品例如表 示一段時間如一個星期制造的磁盤驅(qū)動器。用戶使用模擬可以表示可能購買 磁盤驅(qū)動器的用戶使用該磁盤驅(qū)動器的方式。在常規(guī)的連續(xù)進行的可靠性試 驗中，分析具有硬失效的磁盤驅(qū)動器，以便確定其失效的本質(zhì)原因。該分析 的結(jié)果用于改進制造過程，以便阻止這類失效在將來的磁盤驅(qū)動器中出現(xiàn)。
而且，該分析的結(jié)果還可以用于確定某批磁盤驅(qū)動器是否好到足以出售 給用戶。例如，如果該連續(xù)進行的可靠性試驗失敗的磁盤驅(qū)動器的數(shù)量超過 可接受界限，則執(zhí)行風(fēng)險評估。例如，該風(fēng)險評估包括確定該用戶使用模擬 是否表示從中獲得樣品的磁盤驅(qū)動器將要出售給用戶。例如，磁盤驅(qū)動器典 型地定額1百萬小時平均時間失效。如果用戶典型地使用其磁盤驅(qū)動器小于 1百萬小時，則將磁盤驅(qū)動器出售給用戶的風(fēng)險較小。
購買磁盤驅(qū)動器的用戶典型地需要執(zhí)行連續(xù)進行的可靠性試驗。典型地
將該連續(xù)進行的可靠性試驗的某些結(jié)果如吞吐量(throughput)和尋道時間 提供給用戶。因為上述原因，可以看出連續(xù)進行的可靠性試驗是非常重要的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施方式與確定磁盤驅(qū)動器的可靠性有關(guān)。根據(jù)一個實施方 式，當(dāng)模擬磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，確定與該磁盤驅(qū)動器的特定類型的部
件有關(guān)的參數(shù)值。存儲該值以便能夠分析統(tǒng)計波動的值，從而確定該^磁盤驅(qū) 動器的可靠性。


將附圖合并為本說明書的一部分，所述

本發(fā)明的實施方式，并 且與實施方式一起用于解釋本發(fā)明的原理
附圖1描繪磁盤驅(qū)動器的平面圖，以便易于論述使用本發(fā)明的不同實施 方式確定磁盤驅(qū)動器的可靠性。
附圖2描繪根據(jù)一個實施方式確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的系統(tǒng)。
附圖3描繪描述根據(jù)本發(fā)明的 一個實施方式確定^f茲盤驅(qū)動器的可靠性的
方法的流程圖。
除非特別注釋，本實施方式中涉及的附圖不應(yīng)當(dāng)理解成是按比例描繪的。
具體實施例方式
現(xiàn)在詳細地介紹本發(fā)明的不同實施方式，其例子在附圖中說明。雖然與 這些實施方式一起描述本發(fā)明，但是應(yīng)當(dāng)理解這不是為了將本發(fā)明限制于這 些實施方式。相反，本發(fā)明覆蓋包括在由附加的權(quán)利要求限定的本發(fā)明的精 神和范圍內(nèi)的可選方案、變型以及等價方案。而且，在本發(fā)明下面的描述中， 闡述了許多特定的細節(jié)，以便提供對本發(fā)明全面的理解。在其它情況下，沒 有詳細地描述公知的方法、程序、部件和電路，以便不會不必要地混淆本發(fā) 明的各個方面。
概述
常規(guī)的連續(xù)進行的可靠性試驗經(jīng)受許多問題之苦。僅使用來自失效磁盤 驅(qū)動器的信息。未使用結(jié)束不會失效的磁盤驅(qū)動器具有許多有價值的信息。 在常規(guī)的連續(xù)進行的可靠性試驗期間未失效的磁盤驅(qū)動器可能接近于失效。 而且，即使它們未接近于失效，它們的信息也可以用于改進制造過程。
因此，根據(jù)一個實施方式，當(dāng)模擬磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，檢測磁盤 驅(qū)動器的與特定類型的部件如磁頭、磁盤、電動機或磁盤驅(qū)動卡有關(guān)的參數(shù)
值。存儲該4企測值以便能夠分析統(tǒng)計波動(statistical variations )的值，從而 確定該磁盤驅(qū)動器的可靠性。各個類型的部件的值也稱作參數(shù)值。參數(shù)的例 子包括重寫、不對稱、幅值、電阻、寫錯誤、軟錯誤率(SER)等等?？梢?br> 使用本發(fā)明的不同實施方式檢測和存儲不同參數(shù)的值。
根據(jù)一個實施方式，可以分析收集的表示制造過程的不同時期的磁盤驅(qū) 動器的不同樣品的參數(shù)值。例如，可以對一個星期制造的磁盤驅(qū)動器分析磁 盤驅(qū)動器的第一個樣品的參數(shù)值。然后，對下一星期的磁盤驅(qū)動器等分析磁 盤驅(qū)動器的第二個樣品的參數(shù)值。可以比較不同樣品的參數(shù)值，以便確定是 否在參數(shù)值中具有統(tǒng)計波動。在另一個例子中，例如可以將例如表示一個星 期制造的磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器樣品的參數(shù)值與多個星期取樣的磁盤驅(qū) 動器的參數(shù)值比較。
磁盤驅(qū)動器
附圖1描繪磁盤驅(qū)動器的平面圖，以便易于論述使用本發(fā)明的不同實施 方式確定磁盤驅(qū)動器的可靠性。磁盤驅(qū)動器110包括基座113、電動機穀組
件130、磁盤112、致動器軸132、致動器臂134、懸臂組件137、穀140、 音圈電動機150、磁讀寫頭156和滑塊155。其中，磁讀寫頭156包括用于 將數(shù)據(jù)寫入^f茲盤112的寫入器，以及用于從^t盤112讀出數(shù)據(jù)的讀出器。
將部件裝配到基座113中，該基座為部件和轂組件提供附著和配準點。 可以將多個懸臂組件137 (示出 一個)附著于梳形致動器臂134 (示出 一個)。 可以將多個傳感器頭或滑塊155 (示出一個)分別附著于懸臂組件137?；?塊155接近該磁盤112的表面135定位，以便通過磁頭156 (示出一個)讀 出和寫入數(shù)據(jù)。旋轉(zhuǎn)音圏電動機150繞致動器軸132旋轉(zhuǎn)致動器臂135,以 便將該懸臂組件150移動到磁盤112上所需的徑向位置。該致動器軸132、 轂140、致動器臂134和音圈電動機150共同稱作旋轉(zhuǎn)致動器組件。
將數(shù)據(jù)以被稱作數(shù)據(jù)磁道136的同心環(huán)圖案記錄在磁盤表面135上。該 磁盤表面135通過電動機轂組件130高速旋轉(zhuǎn)。數(shù)據(jù)磁道136通過磁頭156 記錄到旋轉(zhuǎn)的磁盤表面135上，該磁頭典型地位于滑塊155的末端。
附圖l是僅表示一個磁頭、滑塊和磁盤表面組合的平面圖。本領(lǐng)域的技
術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以將對一個磁頭-磁盤組合的描述應(yīng)用于多個磁頭-磁盤
組合，如磁盤堆(未示出)。然而，為了簡潔和清楚，附圖1僅表示一個磁 頭和一個石茲盤表面。
模擬
根據(jù)一個實施方式，在磁盤驅(qū)動器上執(zhí)行模擬。例如，將模擬設(shè)計成表 示用戶使用磁盤驅(qū)動器的方式(在此還稱作"用戶使用模擬")。根據(jù)一個實
施方式，該模擬是使用占空度、電壓極限、高低溫極值和變化的濕度的應(yīng)力 試驗。該模擬可以用作連續(xù)進行的可靠性試驗的一部分，其典型執(zhí)行1至6
個星期。更明顯地，可以將該;漠?dāng)M的結(jié)果用于評估-茲盤驅(qū)動器的可靠性，以
及改進制造。 各個類型的部件
如上所述，根據(jù)一個實施方式，當(dāng)模擬該磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，檢 測磁盤驅(qū)動器的與特定類型的部件如磁頭、磁盤、電動機和磁盤驅(qū)動卡相關(guān)
的參數(shù)值。附圖l描繪了磁頭156、磁盤112，并且該電動機包括附圖1中 描繪的VCM150。其中，該磁頭156包括用于將數(shù)據(jù)寫入磁盤的寫入器，以 及用于從磁盤讀出數(shù)據(jù)的讀出器。 參數(shù)
當(dāng)在該磁盤驅(qū)動器上執(zhí)行用戶使用模擬時，可以檢測與磁盤驅(qū)動器的特 定類型的部件相關(guān)的參數(shù)值。參數(shù)的例子包括但不限于重寫、不對稱、幅值、 電阻、寫錯誤、軟錯誤率(SER)、恢復(fù)的錯誤計數(shù)、增加的缺陷計數(shù)(也 稱作"再指定計數(shù)")、電動機電流、啟動該電動機的時間、可重復(fù)和不可重 復(fù)的故障錯誤、寫入通道芯片、伺服ARC (自動增益控制)、吞吐量以及尋 道時間。
根據(jù)一個實施方式，重寫表示在磁盤上反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)所需的電流。根據(jù)一個 實施方式，幅值表示讀出器從磁盤檢測的磁場的大小。根據(jù)一個實施方式， 電動機電流表示旋轉(zhuǎn)該磁盤所需的電流的大小。電動機電流可以是該電動機 可靠性的強指示器。然而，電動機電流還可以表示主軸的可靠性。吞吐量表 示每秒鐘轉(zhuǎn)移的數(shù)據(jù)量。其中，尋道時間表示為了從石茲盤讀出數(shù)據(jù)或者將數(shù) 據(jù)寫入磁盤，將致動器從磁盤的一部分重新定位到該-茲盤的另 一部分的時 間。
參數(shù)值可以用于指示一個或多個部件的可靠性。例如，吞吐量和尋道時 間可以指示磁盤的總可靠性。重寫可以指示讀出器和磁盤的可靠性。SER可 以指示磁頭和磁盤的可靠性。伺服ARC可以指示磁頭和磁盤的可靠性。不 對稱、幅值和電阻可以指示讀出器的可靠性。寫錯誤可以指示磁頭的可靠性。 恢復(fù)的錯誤計數(shù)和增加的缺陷計數(shù)可以指示磁盤的可靠性。電動機電流、啟 動電動機的時間、可重復(fù)和不可重復(fù)的故障錯誤可以指示該電動機的可靠 性。
分析值
根據(jù)一個實施方式，分析統(tǒng)計波動的值，以便確定該磁盤驅(qū)動器的可靠 性。例如，可以將一個以上磁盤驅(qū)動器樣品的特定類型的部件的值彼此比較， 以便確定就該特定類型的部件而論，是否在該磁盤驅(qū)動器樣品之間存在任何
統(tǒng)計波動。在一個更特定的例子中，將從在2006年7月1日至7月7曰之 間制造的磁盤獲得的磁盤驅(qū)動器樣品的重寫值與從在2006年5月1日至6 月31日之間制造的磁盤驅(qū)動器獲得磁盤驅(qū)動器樣品的重寫值比較。根據(jù)一 個實施方式，可以將該分析結(jié)果用于構(gòu)建磁盤驅(qū)動器運轉(zhuǎn)的預(yù)測模型。而且， 根據(jù)另一個實施方式，可以使用例如使用軟件、硬件、固件或其組合實現(xiàn)的 分析工具使該值的分析自動化。
#4居一個實施方式，可以為統(tǒng)計波動分析部件參數(shù)的值。例如，可以確 定統(tǒng)計波動是否由可指定的原因造成的或者是否是由誤報警造成的。如果該 統(tǒng)計波動是由可指定的原因造成的，則可以將其分類為對磁盤驅(qū)動器的總功 能的正面原因或負面原因。
確定原因后，不論其是正面的還是負面的，可以用作持續(xù)改進該制造過 程的一部分。例如，可以隔離負面原因，并且可以將該制造過程修正成減少 或消除該負面原因。還可以將正面原因的確定用作改進該制造過程的 一部 分。例如，如果發(fā)現(xiàn)正面原因，則可以采取盡可能多的步驟保證該制造過程 會連續(xù)通過與該正面原因相關(guān)的特征構(gòu)建磁盤驅(qū)動器。而且，可以分析表示 制造過程的磁盤驅(qū)動器，并且可以使用分析的結(jié)果連續(xù)改進制造過程，例如， 使用反饋回路法。
統(tǒng)計過禾呈4空制(statistical process control)
根據(jù)一個實施方式，將統(tǒng)計過程控制(SPC)用于分析檢測的部件參數(shù) 值。而且，可以將SPC用作使用在此描述的分析結(jié)果連續(xù)改進制造過程的一部分。
根據(jù) 一 個實施方式，統(tǒng)計過程控制涉及使用例如多個統(tǒng)計技術(shù)如
Shewhart圖、Paretto、因果圖、直方圖和回歸分析的優(yōu)化技術(shù)，其可以用于 連續(xù)改進。根據(jù)本發(fā)明的不同實施方式，在該磁盤驅(qū)動器的模擬期間，可以 收集許多不同類型的磁盤驅(qū)動器部件的值，例如通過檢測和存儲值?？梢允?用一個或多個統(tǒng)計技術(shù)如連續(xù)的(變量)或離散的(屬性)監(jiān)視這些值。SPC 的更多細節(jié)參考合并在此的2002年9月16日出版的Peter Baxter的"SPC Analysis Unraved，，。
用于用可視的描繪使用SPC的結(jié)果的傳統(tǒng)工具如直方圖和說明圖，假 定統(tǒng)計上正常分布，因而屏蔽統(tǒng)計波動。因此，根據(jù)一個實施方式，用可視 的突出顯示強調(diào)超過特定閾值的結(jié)果。
根據(jù)一個實施方式，將西方電器公司(WECO)規(guī)則用作分析統(tǒng)計波動 值的一部分，以便找到統(tǒng)計上不可能圖案。才艮據(jù)一個實施方式，可以將WECO 規(guī)則用作確定統(tǒng)計波動是否是由于問題或誤報警造成的一部分。
確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的系統(tǒng)
附圖2描繪根據(jù)一個實施方式確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的系統(tǒng)。如附圖 2所描繪的，系統(tǒng)200包括參數(shù)值檢測器210和參數(shù)值存儲器220。當(dāng)在該 磁盤驅(qū)動器上執(zhí)行模擬如用戶使用模擬時，該參數(shù)值檢測器210例如用于檢 測與磁盤驅(qū)動器的特定類型的部件有關(guān)的參數(shù)值(還稱作"參數(shù)值")。該參 數(shù)值存儲器220用于存儲值，因而能夠?qū)崿F(xiàn)對統(tǒng)計波動值的分析，以便確定 該磁盤驅(qū)動器的可靠性。
根據(jù)一個實施方式，可以使用一個或多個參數(shù)值檢測器210確定磁盤驅(qū) 動器的第 一個樣品的參數(shù)值，當(dāng)在該磁盤驅(qū)動器的第 一個樣品上執(zhí)行模擬 時?？梢允褂靡粋€或多個參數(shù)值存儲器220存儲該參數(shù)值。可以將不同樣品 的參數(shù)值彼此比較，以便確定在該不同的樣品參數(shù)值之間是否具有統(tǒng)計波 動。
確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的方法
附圖3描繪描述根據(jù)本發(fā)明的一個實施方式確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的 方法的流程圖。雖然在流程圖300中公開了特定的步驟，但是該步驟是示范 性的。也就是說，本發(fā)明的實施方式較好地適于執(zhí)行不同的其他步驟或者流 程圖300中所述的步驟的變化。應(yīng)當(dāng)理解，可以以不同于表示的順序執(zhí)行流 程圖300中的步驟，并且可以不執(zhí)行流程圖300中的所有步驟。
可以使用計算機可讀和計算機可執(zhí)行的指令實施流程圖300所描述的實 施方式全部或其一部分，該指令例如存在于計算機系統(tǒng)或類似裝置的計算機 可用的介質(zhì)中。如上所述，在一個實施方式中，將本發(fā)明的某些過程和步驟 作為 一 系列存在于計算機系統(tǒng)的計算機可讀存儲器內(nèi)并且通過計算機系統(tǒng) 執(zhí)行的指令(例如，軟件程序)實現(xiàn)。當(dāng)執(zhí)行時，該指令使該計算機系統(tǒng)實 施如下所述的本發(fā)明的功能。
在步驟310中，該方法開始。
在步驟320中，當(dāng)模擬該磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，檢測與該磁盤驅(qū)動 器的特定類型的部件相關(guān)的參數(shù)值。例如，磁盤驅(qū)動器受到作為連續(xù)進行的 可靠性試驗的一部分的模擬，如用戶使用模擬。當(dāng)在該磁盤驅(qū)動器上執(zhí)行模 擬時，可以檢測與不同類型的磁盤驅(qū)動器部件相關(guān)的不同參數(shù)值。為了說明， 假定測量磁盤驅(qū)動器的讀出器的幅值。在這種情況下，該讀出器是一種類型 的部件的例子，而幅值是參數(shù)的例子。該幅值典型地隨時間變化。例如可以 使用參數(shù)值檢測器210檢測該幅值的值。
在另 一個例子中，該參數(shù)值檢測器210可以檢測重寫值。在這種情況下， 重寫是部件如寫入器和磁盤的參數(shù)的例子。
在步驟330中，存儲該值以便能夠分析統(tǒng)計波動的值，從而確定該磁盤 驅(qū)動器的可靠性。參數(shù)值存儲器220可以存儲在步驟320中檢測的值。根據(jù) 一個實施方式，檢測時一次存儲一個值。根據(jù)另一個實施方式， 一次存儲多 于一個的值。例如，檢測時可以緩存(也稱作緩沖)值，然后可以存儲該緩 存的值。當(dāng)存儲值時，可以使用本領(lǐng)域中公知的交叉方法填充緩存，以及清 空該緩存。
在步驟340中，該方法結(jié)束。
如上所述，可以一次纟企測多于一個的》茲盤的可靠性。例如，可以-使用在 此描述的不同實施方式在磁盤驅(qū)動器的樣品上同時執(zhí)行連續(xù)進行的可靠性 試驗。例如，對許多磁盤驅(qū)動器的樣品來說，可以使用步驟32(H全測，并且 使用步驟330存儲?？梢詫⒋疟P驅(qū)動器的 一個樣品的值與磁盤驅(qū)動器另 一個 樣品的值比較，以便確定在不同樣品的值之間是否存在統(tǒng)計波動。
長期需要確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的改進方法，例如，通過根據(jù)不同的 實施方式分析在連續(xù)進行的可靠性試驗期間收集的參數(shù)值。許多磁盤驅(qū)動器 的制造商未能改進確定^f茲盤驅(qū)動器的可靠性的方法。而且，因為為確定^i盤 驅(qū)動器的可靠性的改進方法提供不同的實施方式，該實施方式又用于改進磁 盤驅(qū)動器的質(zhì)量，因而不同的實施方式會形成商業(yè)成功。
為了說明和描述的目的，已經(jīng)介紹了本發(fā)明特定實施方式的上述描述。
多變型和變化都是可能的。選擇和描述在此描述的實施方式，以便最好解釋 本發(fā)明的原理及其實際應(yīng)用，由此能夠使本領(lǐng)域的其他技術(shù)人員最好利用本
范圍由附加的權(quán)利要求及其等價物限定。
權(quán)利要求
1.一種確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的方法，該方法包括當(dāng)模擬所述磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，檢測與所述磁盤驅(qū)動器的特定類型的部件相關(guān)的參數(shù)值；以及存儲所述值以便能夠分析統(tǒng)計波動的值，從而確定所述磁盤驅(qū)動器的可靠性。
2. 如權(quán)利要求l所述的方法，其中，還包括 將所述統(tǒng)計波動的值作為連續(xù)進行的可靠性試驗的一部分來分析。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述分析所述統(tǒng)計波動的值還包括使用統(tǒng)計過程控制分析所述值。
4. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述檢測與所述磁盤驅(qū)動器的特 定類型的部件有關(guān)的參數(shù)值的步驟還包括;險測與所述》茲盤驅(qū)動器的特定類型的部件有關(guān)的參數(shù)值，其中，所述》茲 盤驅(qū)動器選自某一段時間內(nèi)制造的磁盤驅(qū)動器。
5. 如權(quán)利要求4所述的方法，其中，還包括使用所述值的分析來改進用于制造所述磁盤驅(qū)動器的制造過程。
6. 如權(quán)利要求l所述的方法，其中，還包括 如果超出特定的閾值，用可視的突出顯示強調(diào)所述值。
7. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述部件選自由石茲頭、電動機、 》茲盤和f茲盤驅(qū)動卡組成的組。
8. —種確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的方法，所述系統(tǒng)包括 當(dāng)模擬所述磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，用于檢測與所述磁盤驅(qū)動器的特定類型的部件有關(guān)的參數(shù)值的參數(shù)檢測器；以及參數(shù)值存儲器，用于存儲所述值以便能夠分析統(tǒng)計波動的值，從而確定 所述^f茲盤驅(qū)動器的可靠性。
9. 如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述部件選自由磁頭、電動機、 》茲盤和石茲盤驅(qū)動卡組成的組。
10. 如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述參數(shù)選自由重寫、不對稱、 幅值、電阻、寫錯誤、軟錯誤率、恢復(fù)的錯誤計數(shù)、增長的缺陷計數(shù)、電動機電流、啟動所述電動機的時間、可重復(fù)和不可重復(fù)的故障錯誤、寫通道芯 片、伺服自動增益控制、吞吐量以及尋道時間組成的組。
11. 如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，將所述值作為連續(xù)進行的可靠性 試驗的一部分來分析。
12. 如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述^i盤驅(qū)動器選自在某一段時間內(nèi)制造的磁盤驅(qū)動器。
13. 如權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其中，所述自動分析器分析所述值， 以便改善用于制造所述^f茲盤驅(qū)動器的制造過程。
14. 如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，如果超過特定的閾值則將所述值 用可視的突出顯示強調(diào)。
15. —種確定磁盤驅(qū)動器的可靠性的方法，所述方法包括當(dāng)在^F茲盤驅(qū)動器的第 一個樣品上執(zhí)行模擬時，確定所述^f茲盤驅(qū)動器的第 一個樣品的特定類型的部件的參數(shù)值；以及將所述磁盤驅(qū)動器的第 一 個樣品的參數(shù)值與磁盤驅(qū)動器的第二個樣品 的參數(shù)值比較，以便確定在所述磁盤驅(qū)動器的第一個樣品和磁盤驅(qū)動器的第 二個樣品之間是否存在統(tǒng)計波動。
16. 如權(quán)利要求15所述的方法，其中，還包括使用所述比較的結(jié)果來改進制造所述磁盤驅(qū)動器的第 一和第二樣品的 制造過程。
17. 如權(quán)利要求16所述的方法，其中，所述磁盤驅(qū)動器的第一樣品和 第二樣品是在不同的時間期間制造的。
18. 如權(quán)利要求15所述的方法，其中，所述參數(shù)值的比較還包括 使用所述參數(shù)值的比較評估出售磁盤驅(qū)動器的風(fēng)險。
19. 如權(quán)利要求15所述的方法，其中，所述部件選自由磁頭、磁盤和 磁盤驅(qū)動卡組成的組。
20. 如權(quán)利要求15所述的方法，其中，所述參數(shù)選自由重寫、不對稱、 幅值、電阻、寫錯誤、軟錯誤率、恢復(fù)的錯誤計數(shù)、增加的缺陷計數(shù)、電動 機電流、啟動所述電動機的時間、可重復(fù)和不可重復(fù)的故障錯誤、寫通道芯 片、伺服自動增益控制、吞吐量以及尋道時間組成的組。
全文摘要
本發(fā)明的實施方式與確定磁盤驅(qū)動器的可靠性有關(guān)。根據(jù)一個實施方式，當(dāng)模擬磁盤驅(qū)動器的用戶使用時，確定與磁盤驅(qū)動器的特定類型的部件有關(guān)的參數(shù)值。存儲該值以便能夠分析統(tǒng)計波動的值，從而確定該磁盤驅(qū)動器的可靠性。
文檔編號G11B5/455GK101169938SQ20071016259
公開日2008年4月30日 申請日期2007年10月19日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月23日
發(fā)明者卡拉·Q·努涅斯, 林志隆, 水町雅俊, 羅伯特·T·朗博頓 申請人:日立環(huán)球儲存科技荷蘭有限公司