專利名稱：光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤裝置。
背景技術(shù)：
在日本特開2002-342952號專利文獻中揭示了一種記錄再現(xiàn)裝置，該記 錄再現(xiàn)裝置是光學式記錄介質(zhì)的記錄再現(xiàn)裝置，具有像差修正、聚焦伺服 (focus servo)、循跡伺服(tracking servo)等的控制部。另外，在日本特開2005-332558號專利文獻中則揭示了一種光盤裝置， 該光盤裝置具備對光束中產(chǎn)生的球面像差進行預(yù)先修正的球面像差控制 部；對聚焦誤差信號進行檢測的聚焦誤差檢測部；在由球面像差控制部使球 面像差量與預(yù)定量一致之后，以使聚焦誤差檢測部的信號振幅成為預(yù)定值的 方式進行調(diào)整的控制器。在作為光盤裝置的再現(xiàn)，記錄對象的光盤記錄面上，有時候會存在所謂 雙折射的情況。雙折射是由光盤制造時產(chǎn)生的內(nèi)部應(yīng)力等而導(dǎo)致的。在存在 雙折射的情況下，激光會聚在光盤記錄面上時的聚光點形狀發(fā)生變形或者聚 光點變大，其結(jié)果是，導(dǎo)致光盤裝置所檢測的反射光量減少，或者發(fā)生不合 適的變化。上述反射光量減少和變化使基于反射光生成的再現(xiàn)信號、伺服信 號劣化，其結(jié)果是，導(dǎo)致執(zhí)行聚光點對記錄面軌道的追蹤的所謂伺服控制非 常不穩(wěn)定。但是，在上述專利文獻中并沒有針對由該雙折射所引起的再現(xiàn)信號和伺 服信號的劣化給出解決方法。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供一種防止由光盤中產(chǎn)生的雙折射所引起的再現(xiàn)信號和伺服 信號的劣化、并提高了伺服控制和再現(xiàn)信號質(zhì)量的光盤裝置。本發(fā)明提供一種光盤裝置，其具有像差修正部，其對在用物鏡使激光 會聚在光盤的記錄面上時在記錄面上產(chǎn)生的像差進行修正；伺服信號生成
部，其基于來自光盤的反射光而生成并輸出伺服信號；伺服控制部，其輸入 伺服信號，基于伺服信號控制物鏡的驅(qū)動，從而使聚光點追蹤光盤軌道。該 光盤裝置還具有雙折射檢測部。雙折射檢測部輸入有來自伺服信號生成部的 伺服信號。也就是說，伺服信號生成部對伺服控制部和雙折射檢測部雙方都 進行了伺服信號的輸出。雙折射檢測部基于伺服信號檢測出上述記錄面中的 雙折射程度，生成并輸出與所檢測出的雙折射程度相應(yīng)的用于像差修正的修 正信號。像差修正部輸入修正信號，基于修正信號來驅(qū)動預(yù)定的像差修正元 件，從而執(zhí)行像差修正。在光盤記錄面中存在雙折射時，聚光點形狀發(fā)生變 形或聚光點變大，由于可將上述這樣的聚光點形狀變化當作像差處理，并可 對其進行把握，在本發(fā)明中，可以在檢測出雙折射程度，并根據(jù)檢測出的程 度來進行像差修正。當對由雙折射所引起的像差進行了修正時，伺服信號生成部接收的上述 反射光接近正常量，其結(jié)果是，轉(zhuǎn)換反射光所得到的電信號值也與像差修正 前相比發(fā)生了變化。這里，在使用上述電信號和預(yù)定參數(shù)計算出伺服信號之 際，如果繼續(xù)沿用在像差修正前所設(shè)定的參數(shù)值，那么就無法計算出對于由 伺服控制部進行的伺服控制來說最佳的伺服信號。也就是說，在進行了上述 像差修正的情況下，根據(jù)像差修正量，伺服信號生成時所使用的各個參數(shù)值 也需要進行改變。因此，伺服信號生成部在使用與來自光盤反射光相應(yīng)的電 信號以及預(yù)定參數(shù)而生成上述伺服信號之際，根據(jù)上述像差修正的程度來決 定參數(shù)值。根據(jù)如上所述的本發(fā)明，由于因光盤的雙折射引起而生成的像差被修正 了，所以能夠避免由雙折射所導(dǎo)致的伺服信號和再現(xiàn)信號的劣化。而且，在 基于像差修正后的反射光和各種參數(shù)而生成伺服信號之際，由于選擇與像差 修正量相應(yīng)的最佳的參數(shù)值，所以總是能夠讓上述追蹤動作合適化，并能執(zhí) 行穩(wěn)定的伺服控制。雙折射的檢測方法可以采用各種方法。舉一個例子如下雙折射檢測部檢測出以預(yù)定基準電位為標準的伺服信號波形的非對稱性，并將該非對稱性 的大小作為雙折射的程度。伺服信號是表示聚光點相對于光盤軌道的偏差的 信號，可以說該信號波形的非對稱性的大小大致上可表示聚光點附近雙折射 的程度。因此，通過按照本發(fā)明所示那樣的方式檢測伺服信號波形的非對稱
性，從而可以間接檢測出光盤具有的雙折射程度。除了上述檢測方法之外，或者說可用來替代上述方法的，還有一種雙折 射檢測部，從伺服信號中提取出直流成分，并檢測出該直流成分和預(yù)定標準 電位之間的電位差，該電位差的大小也可視為雙折射程度。在伺服信號直流 成分和上述標準電位的差為某個值以上時，稱為伺服信號波形發(fā)生了混亂， 該混亂可大體反映出光盤中存在雙折射。因此，通過比較伺服信號直流成分 和標準電位，從而可以間接檢測出光盤具有的雙折射程度。伺服信號生成部預(yù)先具備規(guī)定了修正信號和參數(shù)值之間對應(yīng)關(guān)系的參 數(shù)決定表，在根據(jù)雙折射檢測部生成的修正信號來決定各個參數(shù)值的時候， 就可以參照該參數(shù)決定表。也就是說，預(yù)先規(guī)定像差修正量與在基于像差修 正后的反射光生成伺服信號時的各個參數(shù)值之間的對應(yīng)關(guān)系，根據(jù)上述對應(yīng) 關(guān)系決定參數(shù)值。其結(jié)果是，可容易且適當?shù)厣伤欧盘?。上述表可以根?jù)不同條件設(shè)定多個。舉例來說，伺服信號生成部可以按 照雙折射傾向不同的光盤的不同種類而準備多個參數(shù)決定表。雙折射的傾向比如因光盤制造廠不同、制造批號不同、或者產(chǎn)品名稱(title)不同而不同。 因此，可根據(jù)光盤種類不同準備多個參數(shù)決定表。然后，伺服信號生成部獲 取此時作為信息的再現(xiàn)或記錄的對象的光盤的種類，g卩，獲取關(guān)于光盤制造 廠、制造批號、產(chǎn)品名稱的信息，并選擇與該獲取的種類相應(yīng)的參數(shù)決定表， 參照所選擇的參數(shù)決定表來選擇與上述修正信號對應(yīng)的參數(shù)值。其結(jié)果是， 可以容易地選擇在修正由作為信息的再現(xiàn)或記錄的對象的光盤的雙折射所 產(chǎn)生的像差時應(yīng)選擇的、用于生成伺服信號的最佳參數(shù)值。光盤中產(chǎn)生的雙折射的傾向不僅因光盤種類而不同，而且還因在光盤記 錄面中的位置而不同，因光盤附近溫度而不同。因此，伺服信號生成部還可 根據(jù)雙折射傾向不同的光盤記錄面上的不同位置而準備多個參數(shù)決定表。在 此情況下，伺服信號生成部獲取此時的與記錄面相對的物鏡位置，同時根據(jù) 獲取的位置選擇參數(shù)決定表，并參照所選擇的參數(shù)決定表來決定參數(shù)值。而 且，伺服信號生成部還可按照使雙折射傾向不同的溫度的不同而準備多個參 數(shù)決定表。在此情況下，伺服信號生成部獲取此時的光盤附近溫度，同時根 據(jù)所獲取的溫度來選擇數(shù)決定表，參照所選擇的參數(shù)決定表來決定參數(shù)值。伺服信號生成部生成聚焦誤差信號(FE)作為伺服信號之一，雙折射檢 測出的雙折射程度生成用于球面像差修正的球面像差修 正信號，像差修正部基于球面像差修正信號來驅(qū)動像差修正元件，從而修正 球面像差。另外，伺服信號生成部生成循跡誤差信號(TE)作為伺服信號之 一，雙折射檢測部根據(jù)基于TE檢測出的雙折射程度生成用于彗形像差修正 的彗形像差修正信號，像差修正部基于彗形像差修正信號來驅(qū)動像差修正元 件，從而修正彗形像差。也就是說，在本發(fā)明中，基于從FE檢測出的雙折 射程度生成修正信號，該修正信號用于修正由雙折射所導(dǎo)致的聚光點點像同 心圓變大、也就是所謂球面像差，基于該生成的修正信號來修正球面像差。 此外，基于從TE檢測出的雙折射程度生成修正信號，該修正信號用于修正 由雙折射所導(dǎo)致的聚光點點像向預(yù)定方向的延伸、也就是所謂彗形像差，基 于該生成的修正信號修正彗形像差。根據(jù)上述本發(fā)明，可檢測由雙折射引起 的各種像差的程度，并根據(jù)檢測結(jié)果對各種像差分別進行可靠的修正。


圖1是示出光盤裝置的概略結(jié)構(gòu)的框圖的一個例子。 圖2是示出像差修正和伺服信號生成處理的內(nèi)容的流程的一個例子。 圖3是說明雙折射的檢測方法的圖的一個例子。 圖4A-圖4C是示出雙折射和光束點形狀之間關(guān)系的一個例子的圖。 圖5是示出光電檢測器各個受光元件和各個輸出值之間的對應(yīng)關(guān)系的圖 的一個例子。圖6是示出FE生成過程的圖的一個例子。 圖7是示出參數(shù)決定表的一個例子的圖。
具體實施方式
下面，參照各個附圖對本發(fā)明的一個實施例進行說明。 圖1示出了本實施例光盤裝置100的概略結(jié)構(gòu)。光盤裝置ioo大致包括 光拾取器IO、伺服信號生成部20、雙折射檢測部30、 FE控制部40、 TE控 制部50、數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)部60、控制部70。光盤裝置100通過向置于轉(zhuǎn)臺(未 圖示)上的光盤200的記錄面照射激光，而將數(shù)據(jù)記錄在光盤200上，或者 讀出在光盤200中所記錄的數(shù)據(jù)。
光拾取器10具備物鏡ll、致動器(actuator) 12、像差修正部13、半 透半反鏡14、由激光器二極管構(gòu)成的光源15、光電檢測器16等。從光源15照射出來的激光經(jīng)過半透半反鏡14之后，入射至像差修正部 13，之后，通過物鏡11會聚至光盤200的記錄面上。在記錄面上反射的激 光(反射光)，再次通過物鏡ll、像差修正部13，然后通過半透半反鏡14 而轉(zhuǎn)換光路，并被光電檢測器16接收。光電檢測器16在本實施例中分割成 4個受光區(qū)域(受光元件)。也就是說，光電檢測器16是分割檢測器。光電 檢測器16在將由各個受光元件所接收的光轉(zhuǎn)換成電信號之后向外部輸出。伺服信號生成部20，基于來自光電檢測器16的輸出，生成聚焦誤差信 號(FE)和循跡誤差信號(TE)作為再現(xiàn)信號和伺服信號。對于FE和TE 的生成在后面再進行詳細敘述。從伺服信號生成部20輸出的再現(xiàn)信號輸入至數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)部60。在數(shù) 據(jù)記錄再現(xiàn)部60中，通過對再現(xiàn)信號實施解調(diào)處理、誤差檢測以及訂正處 理等，將信息再現(xiàn)成為預(yù)定形式的數(shù)字數(shù)據(jù)(MPEG2等形式)，并基于從 控制部70輸入的顯示輸出命令向外部輸出需要的影像等。另外，對于數(shù)據(jù) 記錄再現(xiàn)部60來說， 一旦從電視廣播接收部或者外部裝置(未圖示)等輸 入了記錄用數(shù)據(jù)，則將其轉(zhuǎn)換成RF信號后輸出至光拾取器IO。在光拾取器 10中，將根據(jù)記錄用數(shù)據(jù)調(diào)制后的激光照射至光盤200的記錄面?？刂撇?0由CPU、存儲有各種程序的ROM等構(gòu)成?？刂撇?0從數(shù)據(jù) 記錄再現(xiàn)部60開始以能夠與光盤裝置100的各個部分實施通信的狀態(tài)進行 了連接，而進行對光盤裝置100整體的控制。伺服信號生成部20將FE和TE分別輸出至雙折射檢測部30和伺服控制 部90。伺服控制部90是總稱FE控制部40和TE控制部50時的名稱。在伺 服控制部90中，分別基于FE、 TE，生成用于使FE值為O (標準級別)的 聚焦驅(qū)動信號和用于使TE值為0 (標準級別)的循跡驅(qū)動信號，然后將其 輸出至光拾取器10的致動器12中。致動器12是一種可以使保持物鏡11的透鏡支架在激光光軸方向(聚焦 方向)上進行微調(diào)驅(qū)動、而且可在光盤200半徑方向(循跡方向)上移動的 裝置。也就是說，致動器12基于聚焦驅(qū)動信號和循跡驅(qū)動信號使透鏡支架 微調(diào)驅(qū)動，從而執(zhí)行在聚焦方向和循跡方向上的伺服控制。通過該伺服控制，
從而能夠使從物鏡11照射出的激光跟隨著光盤200的所期望的軌跡，并且， 可以使激光的焦點與該軌跡配合。雖然省略了圖示，但是，光盤裝置100具備用于驅(qū)動轉(zhuǎn)臺以預(yù)定轉(zhuǎn)速進 行旋轉(zhuǎn)的主軸馬達(spindle motor)，該主軸馬達由控制部70控制。而且， 光盤裝置100還具備在光盤200半徑方向上延伸的導(dǎo)軌(未圖示)，根據(jù)導(dǎo) 軌的旋轉(zhuǎn)而使與該導(dǎo)軌螺合的光拾取器10在上述半徑方向上移動。導(dǎo)軌通 過步進馬達(未圖示)進行旋轉(zhuǎn)。用步進馬達實現(xiàn)的導(dǎo)軌旋轉(zhuǎn)是基于由控制 部70輸出的搜索(seek)控制信號來控制的。在雙折射檢測部30中，基于所輸入的FE、 TE來檢測出光盤200中產(chǎn)生 的雙折射程度。而且，根據(jù)檢測出的雙折射程度，生成球面像差修正信號和 彗形像差修正信號，然后將其輸出至像差修正部13。在像差修正部13中， 基于各個像差修正信號來驅(qū)動其自身具備的像差修正元件，從而進行像差修 正。對于雙折射的檢測以及在檢測中伴隨的像差修正在后面再進行詳細敘 述。此外，雙折射檢測部30將生成的球面像差修正信號和彗形像差修正信 號通知到伺服信號生成部20。圖2以流程圖形式示出了在光盤裝置100中按照預(yù)定的程序執(zhí)行的、像 差修正和伺服信號生成處理的內(nèi)容。執(zhí)行該處理的程序存儲在控制部70的 ROM等中。步驟S100(下面省略步驟的記載)中，雙折射檢測部30檢測出光盤200 的雙折射程度。雙折射檢測部30被輸入了由伺服信號生成部20生成并輸出 的FE以及TE，而檢測出各信號波形的非對稱性，基于非對稱性程度來把握 雙折射程度。圖3是用于說明伺服信號波形非對稱性的檢測方法的圖。在該圖中，雖 然是以FE波形為例進行的說明，但是對于檢測TE信號波形的非對稱性的情 況來說，也可采用相同的方法。雙折射檢測部30，在將預(yù)定標準電位設(shè)為Vs、波形最大值和Vs之差設(shè) 為a 、 Vs和波形最小值之間的差設(shè)為P的情況下，依據(jù)下列公式計算出非對 稱性S (%)。S={(a—p)/( a+P)}X100…(1)標準電位Vs在本實施例中設(shè)定為0V 3.3V的大致中間值、即1.65V左
右。3.3V對應(yīng)于光盤裝置100所安裝的LSI的驅(qū)動電壓。上述S的絕對值越大，則FE (對于TE也是一樣)振幅中心和標準電位 Vs的偏差就越大，也就是所說的非對稱性越大。這樣一來，雙折射檢測部 30檢測出FE、 TE各自波形的非對稱性S，將其視為光盤200的雙折射程度。光盤200的雙折射程度檢測方法并非僅限于采用上述公式(1)的方法。 也可以是如下這樣的方法雙折射檢測部30在被輸入FE和TE之后，對各 信號的直流成分進行檢測，并計算出直流成分和上述標準電位之間的電位 差，將該電位差當作雙折射程度。此外，F(xiàn)E (TE也是一樣)的直流成分可 以通過使FE輸入至預(yù)定的平滑化電路來除去交流成分而獲取。圖3中，示出了FE的直流成分DC，雙折射檢測部30計算出DC和Vs 之間的電位差。如此計算出來的電位差，其絕對值越大，則FE振幅中心和 標準電位Vs的偏差就越大，也就是所說的非對稱性越大。這樣，雙折射檢測部30可以采用使用了上述公式(1)的方法或者對直 流成分和標準電位Vs之間的電位差進行計算的方法中的任一種方法或者同 時采用這兩種方法，來檢測出FE、 TE各自波形的非對稱性，而將非對稱性 的大小視為光盤200的雙折射程度。S200中，雙折射檢測部30根據(jù)在S100中檢測出的雙折射程度而生成用 于像差修正的修正信號。具體而言，根據(jù)FE非對稱性的大小而生成用于球 面像差的修正的修正信號(球面像差修正信號)，根據(jù)TE非對稱性的大小 而生成用于彗形像差的修正的修正信號(彗形像差修正信號)。圖4A-圖4C示出了有無雙折射與光盤200記錄面中激光聚光點(光束 點)形狀之間的關(guān)系。在圖4A中示出了光盤200中未發(fā)生雙折射狀態(tài)下的 光束點。在不存在雙折射的情況下，光束點大致為圓形且其直徑較小。在圖 4B、圖4C中示出了在光盤200中存在雙折射時的光束點。在圖4B中示出 了與圖4A相比以近似圓形擴大后的狀態(tài)，該情況稱為發(fā)生由雙折射所導(dǎo)致 的所謂球面像差。在圖4C中示出了與圖4A相比較光束點向光盤200的近似 半徑方向延伸后的狀態(tài)，該情況稱為發(fā)生由雙折射所導(dǎo)致的所謂彗形像差。本實施例中，在基于來自光盤200的反射光而生成的伺服信號中，如果 FE信號波形的非對稱性越大，則判斷存在會造成上述球面像差產(chǎn)生那樣的雙 折射，如上述那樣根據(jù)FE非對稱性的大小生成球面像差修正信號。另一方
面，在基于來自光盤200的反射光而生成的伺服信號中，如果TE信號波形 的非對稱性越大，則判斷存在會造成上述彗形像差產(chǎn)生的雙折射，如上述那 樣根據(jù)上述TE非對稱性的大小生成彗形像差修正信號。像差修正部13具備作為像差修正元件的液晶元件和通過向液晶元件施 加驅(qū)動信號來使其驅(qū)動的液晶驅(qū)動電路。球面像差修正信號和彗形像差修正 信號均為0 3.3V (或者5V)的液晶驅(qū)動用電壓。雙折射檢測部30生成修 正信號時，根據(jù)FE、 TE非對稱性(比如用0 100%來表示的數(shù)值)數(shù)值的 大小，使修正信號電壓電平例如線性增加地生成。在S300中，像差修正部13根據(jù)在S200中生成的修正信號執(zhí)行各種像 差的修正。在液晶元件中分別形成有用于修正球面像差的電極圖形和用于修 正彗形像差的電極圖形。對于這樣用于修正各種像差的電極圖形的具體形 態(tài)，比如在日本特開2006-120297號專利文獻中已有揭示。在像差修正部13 中，液晶驅(qū)動電路基于球面像差修正信號來控制向用于球面像差修正的電極 圖形所施加的電壓，由此來改變液晶分子的取向。其結(jié)果是，通過改變激光 通過液晶元件之際的折射率而修正了球面像差。此外，液晶驅(qū)動電路，基于 彗形像差修正信號來控制向用于彗形像差修正的電極圖形所施加的電壓，由 此來改變液晶分子的取向。其結(jié)果是，通過改變激光通過液晶元件之際的折 射率修正了彗形像差。此外，在上述中，像差修正部13是使用液晶元件來實施像差修正的， 但是作為用于像差修正的其它技術(shù)手段，比如還可以使用可改變激光的光 束直徑的光束擴散透鏡(beam expand lens)，或者可改變光束點任意位置的 反射角度的MEMS (Micro Electro Mechanical Systems:微機電系統(tǒng))反射鏡 等。在S400、 S500中，用伺服信號生成部執(zhí)行FE和TE的生成處理。FE 和TE的計算可使用來自光電檢測器16的輸出值和各種參數(shù)來進行。這里， 如果是如上述那樣對由雙折射所導(dǎo)致的各種像差進行修正，那么從光電檢測 部16向伺服信號生成部20的輸出值也發(fā)生變化。因此，如果在像差修正后 仍然適用像差修正前所設(shè)定的參數(shù)并由此來生成FE、 TE，那么無法得到伺 服控制用的最佳伺服信號，某些情況下，恐怕基于該FE、 TE所實施的伺服 控制不過是多余的步驟。
因此，在S400中，伺服信號生成部20根據(jù)在S200中生成的修正信號 重新確定在FE、 TE生成之際所使用的各個參數(shù)值。而且，在S500中，伺服信號生成部20使用在S400中重新確定的各個 參數(shù)值以及來自光電檢測器16的輸出值，并根據(jù)下述公式生成FE和TE。 FE=FB1 (Ia+Ic) —FB2 (Ib+Id) +FO…(2) TE=TB1 (Ia+Id) —TB2 (Ib+Ic) +TO …(3) Ia， Ib， Ic， Id是從光電檢測器16的4個受光元件輸出的電信號。 圖5示出了構(gòu)成光電檢測器16的4個受光元件A D與各個輸出值之 間的對應(yīng)關(guān)系。光電檢測器16從其近似中心處沿橫向和縱向分割成了 4個 受光元件，在該圖中，從左上的受光元件開始按順時針方向分別是受光元件 A D。來自受光元件A D的輸出值用Ia Id表示。該圖中的標記了影線的近似圓形部分表示光電檢測器1接收的來自光盤 200的反射光形狀。光盤200記錄面中光束點周圍的方向和圖5的光電檢測 器16上的方向之間的對應(yīng)關(guān)系如下該圖中從左向右的方向?qū)?yīng)于從光盤 中心向半徑方向外側(cè)的方向，圖中上下方向?qū)?yīng)于光盤的旋轉(zhuǎn)方向(光盤圓 周的切線方向)。也就是說，受光元件B、 C接收對應(yīng)于在光盤記錄面上形成的光束點的 大致一半的范圍、且遠離光盤中心一側(cè)的范圍的反射光。另外，受光元件A、 D接收對應(yīng)于在光盤記錄面上形成的光束點的大致一半的范圍、且遠離光盤 中心一側(cè)范圍的反射光。所以，TE的關(guān)鍵因素Ia+Id、 Ib+Ic分別表示來自 對應(yīng)于光盤旋轉(zhuǎn)方向而相鄰的受光元件的輸出值的和。另一方面，F(xiàn)E的關(guān)鍵 因素Ia+Ic、 Ib+Id則分別表示來自在光電檢測器16中存在對角關(guān)系的受光 元件的輸出值的和。圖6示出了根據(jù)上述公式(2)生成FE的過程。FB1、 FB2均為聚焦平衡參數(shù)，將FBl與Ia+Ic、 FB2與Ib+Id實施乘 法運算。然后，從FBI (Ia+Ic)中減去FB2 (Ib+Id)，進而，加上針對 FE給出的表示偏移量的參數(shù)FO。 FB1、 FB2是用于調(diào)整振幅平衡使得FE波 形上下對稱的參數(shù)。對于TE的生成過程也是一樣，將循跡平衡參數(shù)TB1、 TB2分別與Ia+Id、 Ib+Ic進行乘法運算，然后，從TBI (Ia+Id)中減去 TB2 (Ib+Ic)，進而，加上針對TE給出的表示偏移量的參數(shù)TO。 TB1、TB2是用于調(diào)整振幅平衡使得TE波形上下對稱的參數(shù)。在上述本實施例中，各個參數(shù)FB1、 FB2、 FO、 TB1、 TB2、 TO的值均 是根據(jù)在S200中生成的修正信號重新確定的。該確定方式可參照預(yù)先準備 的參數(shù)決定表來進行。具體而言，根據(jù)光電檢測器16給出的輸出值相對于 球面像差修正量的變化特性，預(yù)先生成確定了雙折射檢測部20所生成的球 面像差修正信號的各個值與FB1、 FB2、 FO之間的對應(yīng)關(guān)系的信息表。而且， 根據(jù)光電檢測器16給出的輸出值相對于彗形像差修正量的變化特性，預(yù)先 生成確定了雙折射檢測部20所生成的彗形像差修正信號的各個值與TB1、 TB2、 TO之間的對應(yīng)關(guān)系的信息表?？刂撇?0將如此生成的表預(yù)先保存在 預(yù)定存儲區(qū)域中。伺服信號生成部20根據(jù)需要參考上述保存的表。圖7示出確定了球面像差修正信號的各個值與FB1、 FB2、 FO之間的對 應(yīng)關(guān)系的參數(shù)決定表80的一個例子。如該圖所示，在表80中由于分別針對球面像差修正信號的各個值唯一 確定了FB1、 FB2、 FO，所以伺服信號生成部20在S400中參照該表80，來 選擇與在S200中生成的球面像差修正信號值相應(yīng)的FB1、 FB2、 FO，在S500 中，基于該選擇的FB1、 FB2、 FO以及來自光電檢測器16的輸出值來生成 FE。生成TE之際也沒有區(qū)別，參照確定了彗形像差修正信號的各個值與 TB1、 TB2、 TO之間的對應(yīng)關(guān)系的表，選擇與在S200中生成的彗形像差修 正信號值相應(yīng)的TB1、 TB2、 TO，在S500中，基于TB1、 TB2、 TO以及來 自光電檢測器16的輸出值來生成TE。在S600中，伺服信號生成部20將在S500中生成的FE、 TE分別輸出 至伺服控制部90和雙折射檢測部30。伺服控制部90基于所輸出的FE、 TE 執(zhí)行上述伺服控制。雙折射檢測部30接著再次執(zhí)行上述雙折射的檢測處理 (S畫)。這里，上述參數(shù)決定表可以根據(jù)雙折射傾向不同的條件而細化并預(yù)先準 備。雙折射傾向不同的條件例如可以列舉出光盤制造廠、制造批號、產(chǎn)品名 稱(作品名稱)這樣的光盤種類的不同。也就是說，如果光盤種類不同，則 雙折射傾向也不同。因此，例如，根據(jù)光盤的制造廠的種類不同而預(yù)先生成 參數(shù)決定表，該參數(shù)決定表規(guī)定了像差修正信號的各個值與分別對應(yīng)于該像
差修正信號的各個值的參數(shù)值之間的關(guān)系，該像差修正信號是預(yù)測為由雙折射檢測部30根據(jù)一個制造廠的光盤中的雙折射程度而生成的像差修正信號。 在控制部70具備的預(yù)定存儲區(qū)域中保存了上述那樣的光盤不同種類的 參數(shù)決定表的情況下，在S400中，首先，由伺服信號生成部20獲取的作為 信息的再現(xiàn)或記錄的對象的光盤200的種類(光盤制造廠、制造批號、產(chǎn)品 名稱中的任一個)。由于表示光盤200種類的信息(盤種類信息)已記錄在 光盤200自身上，所以根據(jù)控制部70的控制，數(shù)據(jù)記錄再現(xiàn)部60從光盤200 上的特定軌道讀出盤種類信息，并將讀出的盤種類信息通知到伺服信號生成 部20。伺服信號生成部20根據(jù)所通知的盤種類信息，從按照光盤種類所保 存的參數(shù)決定表中選擇一個表，并且，參照該選擇的表，來選擇與在上述S200 中生成的修正信號相應(yīng)的各種參數(shù)。雙折射傾向不同的條件并非僅限于光盤種類。雙折射傾向還因光盤記錄 面上的位置而不同。比如，在光拾取器10從光盤200外側(cè)附近的軌道向接 近中心的軌道沿半徑方向移動的過程中，記錄面中產(chǎn)生的雙折射傾向也徐徐 變化。因此，比如還可以在光盤半徑方向?qū)⒐獗P分成多個區(qū)域，按照光盤的上 述區(qū)域不同而預(yù)先生成參數(shù)決定表，該參數(shù)決定表規(guī)定了像差修正信號的各 個值以及與該像差修正信號的各個值分別對應(yīng)的參數(shù)值之間的關(guān)系，該像差 修正信號的各個值是預(yù)測為由雙折射檢測部30根據(jù)1個區(qū)域的雙折射程度 所生成的值。在控制部70具備的預(yù)定存儲區(qū)域中保存了光盤的不同區(qū)域的參數(shù)決定 表的情況下，在S400中，首先，由伺服信號生成部20獲取此時與光盤200 記錄面相對的物鏡ll的位置。如上所述那樣，光拾取器10可以通過朝向光 盤200的半徑方向的導(dǎo)軌移動，導(dǎo)軌上的光拾取器10的位置可根據(jù)導(dǎo)軌此 前的轉(zhuǎn)速來判斷。因此，控制使導(dǎo)軌旋轉(zhuǎn)的步進電機的控制部70，將此時的 與導(dǎo)軌的轉(zhuǎn)速相應(yīng)的光拾取器10的位置信息通知到伺服信號生成部20。伺 服信號生成部20將所通知的光拾取器10的位置信息視為物鏡11的位置信 息，根據(jù)該位置，從按照光盤的區(qū)域的不同所保存的參數(shù)決定表中選擇一個 表，然后參照該選擇的表，來選擇與在上述S200中生成的修正信號相應(yīng)的 各種參數(shù)。 進一步，雙折射傾向還因光盤200附近的溫度而不同。因此，比如還可 以針對多個溫度范圍的每一個預(yù)先生成參數(shù)決定表，該參數(shù)決定表規(guī)定了像 差修正信號的各個值以及與該像差修正信號的各個值分別對應(yīng)的參數(shù)值之 間的關(guān)系，該像差修正信號的各個值是預(yù)測為由雙折射檢測部30根據(jù)某個 溫度范圍內(nèi)的在光盤中的雙折射程度所生成的值。在控制部70具備的預(yù)定存儲區(qū)域中保存了關(guān)于不同溫度范圍的參數(shù)決 定表的情況下，在S400中，首先，伺服信號生成部20利用在光盤裝置100 內(nèi)設(shè)置的溫度傳感器(未圖示)獲取光盤200附近的溫度。然后，伺服信號 生成部20根據(jù)所獲取的溫度，從按照溫度范圍的不同所保存的參數(shù)決定表 中選擇一個表，并且，參照該選擇的表，來選擇與在上述S200中生成的修 正信號相應(yīng)的各種參數(shù)。如此，通過按照每一個可使得在光盤中產(chǎn)生的雙折射傾向不同的條件預(yù) 先準備專用的參數(shù)決定表，從而可容易地進行與像差修正的結(jié)果相應(yīng)的參數(shù) 的決定處理。而且，可以按照光盤的種類不同、且光盤的區(qū)域不同、且溫度 范圍不同而準備參數(shù)決定表，S卩，組合上述各種條件后進一步細化，根據(jù)細 化后的條件的不同而準備參數(shù)決定表。根據(jù)本發(fā)明，雙折射檢測部30基于伺服信號FE、 TE檢測出光盤200 所具有的雙折射程度，根據(jù)檢測結(jié)果生成像差修正信號，像差修正部13基 于像差修正信號來修正像球面像差或彗形像差這樣的各種像差。因此，由于 上述雙折射所導(dǎo)致產(chǎn)生的像差得到了修正，避免了基于來自光盤200的反射 光所生成的再現(xiàn)信號和伺服信號的劣化。而且，在像差修正之后生成伺服(FE、 TE)信號之際，根據(jù)像差修正信號值重新決定像FB1、 FB2、 FO、 TB1、 TB2、 TO這樣的各種參數(shù)值。其結(jié)果是，通過上述像差修正，即是從 光電檢測器16輸入的電信號量發(fā)生了變化，伺服信號生成部20也可生成具 有振幅已平衡的波形的、在伺服控制中最佳的FE、 TE，總是能夠?qū)崿F(xiàn)穩(wěn)定 的伺服控制。這里，作為使用了本發(fā)明構(gòu)思的一個例子， 一種光盤裝置，具有光源， 其用于照射激光；物鏡，其使所照射的激光會聚并聚光至相對的光盤的記錄 面上；像差修正部，其對在光源和物鏡之間設(shè)置的液晶元件提供驅(qū)動信號， 來驅(qū)動該液晶元件，以修正在激光的聚光點附近產(chǎn)生的像差；分割檢測器， 其通過被分割成多個的受光區(qū)域接收來自光盤的反射光，并且，將在各個區(qū)域中接收到的光轉(zhuǎn)換成電信號而輸出；伺服信號生成部，其基于來自分割檢 測器的電信號而生成并輸出聚焦誤差信號(FE)和循跡誤差信號(TE);伺 服控制部，其基于所輸入的FE而生成聚焦驅(qū)動信號，并且，基于所輸入的 TE而生成循跡驅(qū)動信號；致動器，其基于所輸入的聚焦驅(qū)動信號以及循跡 驅(qū)動信號而使物鏡分別在聚焦方向和循跡方向上驅(qū)動，從而使聚光點追蹤光 盤的軌道。該光盤裝置還具有雙折射檢測部，該雙折射檢測部，輸入上述FE，通過 檢測出FE波形的非對稱性來獲取上述記錄面的雙折射程度，并根據(jù)該雙折 射程度而生成并輸出用于修正球面像差的球面像差修正信號，其中，該FE 波形的非對稱性是由FE的最大值和預(yù)定標準電位之間的電位差與該標準電 位和FE的最小值之間的電位差的差值所表示的；并且，輸入上述TE，通過 檢測出TE波形的非對稱性來獲取上述記錄面的雙折射程度，并根據(jù)該雙折 射程度生成并輸出用于修正彗形像差的彗形像差修正信號，其中，該TE波 形的非對稱性是由TE的最大值和上述預(yù)定標準電位之間的電位差與上述標 準電位和TE的最小值之間的電位差的差值所表示的；上述像差修正部，基 于球面像差修正信號來驅(qū)動液晶元件中的預(yù)定電極圖形，從而使液晶的取向 狀態(tài)發(fā)生變化，而對球面像差進行修正；并且，基于彗形像差修正信號來驅(qū) 動液晶元件中的預(yù)定電極圖形，從而使液晶的取向狀態(tài)發(fā)生變化，而對彗形 像差進行修正，上述分割檢測器具有對應(yīng)于光盤的循跡方向和光盤的旋轉(zhuǎn)方 向而分割的4個受光區(qū)域；上述伺服信號生成部，在使用由分割檢測器的各 個受光區(qū)域輸出的各個電信號Ia、 Ib、 Ic、 Id、聚焦平衡參數(shù)(FB1、 FB2)、 聚焦偏移參數(shù)(FO)、循跡平衡參數(shù)(TB1、 TB2)、循跡偏移參數(shù)(TO) 并根據(jù)下述公式來生成FE和TE之際，通過參照規(guī)定了球面像差修正信號和 FBl、FB2、FO的各個值之間的對應(yīng)關(guān)系以及彗形像差修正信號和TB1、TB2、 TO的各個值之間的對應(yīng)關(guān)系的參數(shù)決定表，從而決定與球面像差修正信號 和彗形像差修正信號分別相應(yīng)的參數(shù)值。FE二FB1 (Ia+Ic) _FB2 (Ib+Id) +FO;TE=TB1 (Ia+Id) —TB2 (Ib+Ic) +TO;其中，Ia+Id (Ib+Ic也同樣)表示經(jīng)由對應(yīng)于上述旋轉(zhuǎn)方向而相鄰的
受光區(qū)域所輸出的電信號的和，并且，Ia+Id表示經(jīng)由上述循跡方向中與接 近光盤中心一側(cè)對應(yīng)的受光區(qū)域所輸出的電信號的和，此夕卜，Ia+Ic (Ib+Id 也同樣)表示經(jīng)由處于對角關(guān)系的受光區(qū)域所輸出的電信號的和。雖然本發(fā)明已由上述優(yōu)選實施例進行了特別展示和說明，但是本領(lǐng)域技 術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離由權(quán)利要求所限定的本發(fā)明構(gòu)思和范圍的情況 下，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可以對本發(fā)明的形式和具體細節(jié)進行前述以及其它形 式的像差。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，具有光源，其用于照射激光；物鏡，其使所照射的激光會聚并聚光至相對的光盤的記錄面上；像差修正部，其對在光源和物鏡之間設(shè)置的液晶元件提供驅(qū)動信號，來驅(qū)動該液晶元件，以修正在激光的聚光點附近產(chǎn)生的像差；分割檢測器，其通過被分割成多個的受光區(qū)域接收來自光盤的反射光，并且，將在各個區(qū)域中接收到的光轉(zhuǎn)換成電信號而輸出；伺服信號生成部，其基于來自分割檢測器的電信號而生成并輸出聚焦誤差信號FE和循跡誤差信號TE；伺服控制部，其基于所輸入的FE而生成聚焦驅(qū)動信號，并且，基于所輸入的TE而生成循跡驅(qū)動信號；致動器，其基于所輸入的聚焦驅(qū)動信號以及循跡驅(qū)動信號而使物鏡分別在聚焦方向和循跡方向上驅(qū)動，從而使聚光點追蹤光盤的軌道，其特征在于，該光盤裝置還具有雙折射檢測部，該雙折射檢測部，輸入上述FE，通過檢測出FE波形的非對稱性來獲取上述記錄面的雙折射程度，并根據(jù)該雙折射程度而生成并輸出用于修正球面像差的球面像差修正信號，其中，該FE波形的非對稱性是由FE的最大值和預(yù)定標準電位之間的電位差與該標準電位和FE的最小值之間的電位差的差值所表示的；并且，輸入上述TE，通過檢測出TE波形的非對稱性來獲取上述記錄面的雙折射程度，并根據(jù)該雙折射程度生成并輸出用于修正彗形像差的彗形像差修正信號，其中，該TE波形的非對稱性是由TE的最大值和上述預(yù)定標準電位之間的電位差與上述標準電位和TE的最小值之間的電位差的差值所表示的；上述像差修正部，基于球面像差修正信號來驅(qū)動液晶元件中的預(yù)定電極圖形，從而使液晶的取向狀態(tài)發(fā)生變化，而對球面像差進行修正；并且，基于彗形像差修正信號來驅(qū)動液晶元件中的預(yù)定電極圖形，從而使液晶的取向狀態(tài)發(fā)生變化，而對彗形像差進行修正，上述分割檢測器具有對應(yīng)于光盤的循跡方向和光盤的旋轉(zhuǎn)方向而分割的4個受光區(qū)域；上述伺服信號生成部，在使用由分割檢測器的各個受光區(qū)域輸出的各個電信號Ia、Ib、Ic、Id、聚焦平衡參數(shù)FB1、FB2、聚焦偏移參數(shù)FO、循跡平衡參數(shù)TB1、TB2、循跡偏移參數(shù)TO并根據(jù)下述公式來生成FE和TE之際，通過參照規(guī)定了球面像差修正信號和FB1、FB2、FO的各個值之間的對應(yīng)關(guān)系以及彗形像差修正信號和TB1、TB2、TO的各個值之間的對應(yīng)關(guān)系的參數(shù)決定表，從而決定與球面像差修正信號和彗形像差修正信號分別相應(yīng)的參數(shù)值，F(xiàn)E＝FB1(Ia+Ic)-FB2(Ib+Id)+FO；TE＝TB1(Ia+Id)-TB2(Ib+Ic)+TO；其中，Ia+Id和Ib+Ic表示經(jīng)由對應(yīng)于上述旋轉(zhuǎn)方向而相鄰的受光區(qū)域所輸出的電信號的和，并且，Ia+Id表示經(jīng)由上述循跡方向中與接近光盤中心一側(cè)對應(yīng)的受光區(qū)域所輸出的電信號的和，此外，Ia+Ic和Ib+Id表示經(jīng)由處于對角關(guān)系的受光區(qū)域所輸出的電信號的和。
2. —種光盤裝置，具有像差修正部，其對在使用物鏡而使激光聚光在光盤記錄面上時所產(chǎn)生的 像差進行修正；伺服信號生成部，其基于來自光盤的反射光而生成并輸出伺服信號；伺服控制部，其輸入伺服信號，并基于伺服信號來控制物鏡的驅(qū)動，從 而使聚光點追蹤光盤的軌道，其特征在于，該光盤裝置還具有雙折射檢測部，該雙折射檢測部，輸入上述伺服信號， 并且基于伺服信號而檢測出上述記錄面中的雙折射程度，生成并輸出與所檢 測出的雙折射程度相應(yīng)的、用于像差修正的修正信號，上述像差修正部，輸入上述修正信號，并基于修正信號來驅(qū)動預(yù)定的像 差修正元件，從而執(zhí)行像差修正，上述伺服信號生成部，在使用與來自光盤的反射光相應(yīng)的電信號和預(yù)定 參數(shù)來生成上述伺服信號之際，根據(jù)上述像差修正的程度來決定參數(shù)值。
3. 如權(quán)利要求2所述的光盤裝置，其特征在于，上述雙折射檢測部檢測出以預(yù)定標準電位為基準的伺服信號波形的非 對稱性，并將該非對稱性的大小作為雙折射的程度。
4. 如權(quán)利要求2或3所述的光盤裝置，其特征在于， 上述雙折射檢測部從伺服信號中提取出直流成分，并檢測出該直流成分 與預(yù)定標準電位之間的電位差，并將該電位差的大小作為雙折射的程度。
5. 如權(quán)利要求2 4中任一項所述的光盤裝置，其特征在于， 上述伺服信號生成部具有規(guī)定了上述修正信號和參數(shù)值之間的對應(yīng)關(guān)系的參數(shù)決定表，通過參照該參數(shù)決定表，從而決定與修正信號的大小相應(yīng) 的參數(shù)值。
6. 如權(quán)利要求5所述的光盤裝置，其特征在于，上述伺服信號生成部，根據(jù)光盤的種類不同而具有多個上述參數(shù)決定 表，該上述伺服信號生成部獲取作為信息的再現(xiàn)或者記錄的對象的光盤的種 類，并且，選擇與該獲取的種類相應(yīng)的參數(shù)決定表，并參照所選擇的參數(shù)決 定表來決定參數(shù)值。
7. 如權(quán)利要求5或6所述的光盤裝置，其特征在于， 上述伺服信號生成部，根據(jù)光盤的記錄面上的位置不同而具有多個上述參數(shù)決定表，該伺服信號生成部獲取與記錄面相對的物鏡位置，并且，根據(jù) 該獲取的位置來選擇參數(shù)決定表，并參照所選擇的參數(shù)決定表來決定參數(shù) 值。
8. 如權(quán)利要求5 7中任一項所述的光盤裝置，其特征在于， 上述伺服信號生成部，根據(jù)溫度的不同而具有多個上述參數(shù)決定表，該伺服信號生成部獲取光盤附近的溫度，并且，根據(jù)該獲取的溫度來選擇參數(shù) 決定表，并參照所選擇的參數(shù)決定表來決定參數(shù)值。
9. 如權(quán)利要求2 8中任一項所述的光盤裝置，其特征在于， 上述伺服信號生成部生成聚焦誤差信號FE作為伺服信號中的一個，上述雙折射檢測部，根據(jù)基于FE檢測出的雙折射程度而生成用于球面像差修 正的球面像差修正信號，上述像差修正部，基于球面像差修正信號來驅(qū)動像 差修正元件，從而對球面像差進行修正。
10. 如權(quán)利要求2 9中任一項所述的光盤裝置，其特征在于， 上述伺服信號生成部生成循跡誤差信號TE作為伺服信號中的一個，上述雙折射檢測部，根據(jù)基于TE檢測出的雙折射程度而生成用于彗形像差修 正的彗形像差修正信號，上述像差修正部，基于彗形像差修正信號來驅(qū)動像 差修正元件，從而對彗形像差進行修正。
全文摘要
一種光盤裝置，具有對在使用物鏡而使激光聚光至光盤記錄面上時所產(chǎn)生的像差進行修正的像差修正部；基于來自光盤的反射光而生成并輸出伺服信號的伺服信號生成部；該光盤裝置還具有雙折射檢測部，該雙折射檢測部基于所輸入的伺服信號檢測出記錄面中的雙折射程度，生成并輸出與雙折射程度相應(yīng)的用于像差修正的修正信號，像差修正部基于所輸入的修正信號來驅(qū)動預(yù)定的像差修正元件，從而執(zhí)行像差修正；伺服信號生成部在使用與來自光盤的反射光相應(yīng)的電信號和預(yù)定參數(shù)而生成伺服信號之際，根據(jù)像差修正的程度來決定參數(shù)值。
文檔編號G11B7/09GK101154401SQ20071016160
公開日2008年4月2日 申請日期2007年9月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月27日
發(fā)明者永座強, 清水真彌, 紫原哲也 申請人:船井電機株式會社