專利名稱：記錄/再現(xiàn)方法以及分配光學記錄介質的區(qū)域的方法
技術領域：
本發(fā)明涉及盤的領域，更具體地說，涉及一種記錄/再現(xiàn)方法、一種記錄/再現(xiàn)設備、一種光學記錄介質和一種已經在其上記錄用于所述記錄/再現(xiàn)方法的程序的計算機可讀記錄介質。
背景技術：
近年來，光學記錄技術(即，用于在光盤上記錄數(shù)據(jù)的技術)已經取得了顯著的進步。隨著這些進步，各種類型的光盤記錄/再現(xiàn)設備已經被開發(fā)。
一次寫入光盤是一種數(shù)據(jù)僅可被寫入一次的光盤。例如，傳統(tǒng)的可記錄致密盤(CD-R)和可記錄數(shù)字多功能盤(DVD-R)是一次寫入光盤的形式。一般地，在一次寫入光盤中，通過將熱量施加于使用激光以形成記錄標記的記錄層的預定區(qū)域，記錄層的狀態(tài)被改變。
缺陷管理涉及重寫已經被記錄在產生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)，從而補償由缺陷的產生引起的數(shù)據(jù)丟失。傳統(tǒng)上，缺陷管理分為使用線性替換方法的缺陷管理和使用滑移替換方法的缺陷管理，在線性替換方法中，產生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的區(qū)域被沒有產生缺陷的備用區(qū)的區(qū)域替換。在滑移替換方法中，產生缺陷的區(qū)域被滑移過，而沒有使用這樣的區(qū)域，并且沒有產生缺陷的下一區(qū)域被使用。
在線性替換方法的情況下，產生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的塊被稱為缺陷塊，并且在盤的預定區(qū)域中設置備用區(qū)，所述備用區(qū)是用于替換缺陷塊的替換塊的空間。
因為一次寫入光盤不能被重寫，所以與可重寫光盤中的缺陷管理方法不同的缺陷管理方法可被采用。在一次寫入光盤的情況下，上述缺陷管理方法可被使用或可不被使用。因此，需要一種基于缺陷管理是否被使用來使用一次寫入光盤的方法。

發(fā)明內容
本發(fā)明的一方面提供了一種記錄/再現(xiàn)方法、一種記錄/再現(xiàn)設備、一種光學記錄介質和一種已經在其上記錄用于所述記錄/再現(xiàn)方法的程序的計算機可讀記錄介質，其中，根據(jù)缺陷管理是否被采用，一次寫入光盤可被使用。
在下面的描述中將部分地闡明本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點，通過描述，其會變得更加明顯，或者通過實施本發(fā)明可以了解。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，一種在記錄介質上記錄數(shù)據(jù)的方法包括在指示是否將對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的缺陷管理開模式和缺陷管理關模式之間選擇可選的缺陷管理模式；如果缺陷管理開模式被選擇，那么在對該記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質上；以及如果缺陷管理關模式被選擇，那么在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟包括將記錄介質初始化為缺陷開模式，所述初始化包括將用于替換在記錄介質的數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的備用區(qū)分配給數(shù)據(jù)區(qū)；以及將臨時缺陷管理信息記錄在記錄介質提供的臨時缺陷管理區(qū)中，所述臨時缺陷管理信息包括關于分配的備用區(qū)的信息和指示缺陷管理開模式的標識符。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟還包括以預定的操作為單位將替換塊記錄在備用區(qū)中，所述替換塊替換關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的缺陷塊；以及以預定的操作為單位在臨時缺陷管理區(qū)中更新關于缺陷的信息和作為臨時缺陷管理信息的對于缺陷管理的缺陷管理信息。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟還包括改變備用區(qū)的大小，以及在臨時缺陷管理區(qū)中更新臨時缺陷管理信息，所述臨時缺陷管理信息包括關于備用區(qū)的改變的大小的信息。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟還包括將缺陷管理開模式轉換為缺陷管理關模式。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，轉換為缺陷管理關模式的步驟包括將記錄介質重新初始化為缺陷管理關模式；以及在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，重新初始化為缺陷管理關模式的步驟包括將指示缺陷管理關模式的標識符記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；以及將在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的臨時缺陷管理信息記錄在記錄介質提供的缺陷管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述記錄方法還包括最終確定記錄介質，其中，最終確定記錄介質的步驟包括將指示記錄介質的最終確定的最終確定標志記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；將包括臨時缺陷管理區(qū)中的最終更新的關于缺陷的信息和缺陷管理信息的臨時缺陷管理信息記錄在記錄介質提供的缺陷管理區(qū)中；以及以預定數(shù)據(jù)填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理區(qū)的剩余區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，在缺陷管理關模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟包括以預定的操作為單位將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質中提供的數(shù)據(jù)區(qū)中；以及根據(jù)數(shù)據(jù)的記錄，在記錄介質中提供的臨時缺陷管理區(qū)中更新記錄管理信息。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述記錄方法還包括最終確定記錄介質，其中，最終確定記錄介質的步驟包括將指示記錄介質被最終確定的最終確定標志記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；將在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的記錄管理信息記錄在記錄介質中提供的缺陷管理區(qū)中；以及以預定數(shù)據(jù)填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理區(qū)的剩余區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種再現(xiàn)記錄在記錄介質上的數(shù)據(jù)的方法，所述記錄介質包括連續(xù)排列的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)，該方法包括從導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中提供的臨時缺陷管理區(qū)讀取指示是否對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的缺陷管理開/關模式信息，以更新關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的信息和用于每一預定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息；以及基于讀取的缺陷管理開/關模式信息來讀取在記錄數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述再現(xiàn)方法還包括如果讀取的缺陷管理開/關模式信息是缺陷管理開模式，那么從臨時缺陷管理區(qū)讀取最終更新的關于缺陷的信息和最終更新的缺陷管理信息。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述再現(xiàn)方法還包括從臨時缺陷管理區(qū)讀取指示記錄介質被最終確定的最終確定標志；以及從記錄介質中提供的缺陷管理區(qū)讀取最終更新的關于缺陷的信息和最終更新的缺陷管理信息。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述再現(xiàn)方法還包括如果讀取的缺陷管理開/關模式信息是缺陷管理關模式，那么從臨時缺陷管理區(qū)讀取最終的記錄管理信息。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述再現(xiàn)方法還包括從臨時缺陷管理區(qū)讀取指示記錄介質被最終確定的最終確定標志；以及從記錄介質中提供的缺陷管理區(qū)讀取最終更新的關于缺陷的信息和最終更新的缺陷管理信息。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種用于在記錄介質上再現(xiàn)和/或記錄數(shù)據(jù)的設備，包括記錄/讀取單元，其傳遞關于記錄介質的數(shù)據(jù)；以及控制單元，其將缺陷管理模式選擇為缺陷管理開模式和缺陷管理關模式的一種，所述缺陷管理模式指示在記錄介質上記錄數(shù)據(jù)的同時是否執(zhí)行缺陷管理，并且如果缺陷管理開模式被選擇，那么控制記錄/讀取單元在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質中，并且如果缺陷管理關模式被選擇，那么在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種用于在記錄介質上記錄數(shù)據(jù)和/或再現(xiàn)記錄在記錄介質上的數(shù)據(jù)的設備，所述記錄介質包括連續(xù)排列的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)，該設備包括讀取單元，其傳遞關于記錄介質的數(shù)據(jù)；以及控制單元，其控制讀取單元從導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中提供的臨時缺陷管理區(qū)讀取指示是否對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的缺陷管理開/關模式信息，以更新關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的信息和用于每一預定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息，并且基于讀取的缺陷管理開/關模式信息來控制讀取單元讀取記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種光學記錄介質，包括連續(xù)排列的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)；臨時缺陷管理區(qū)，用于記錄關于數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的信息，其中導入?yún)^(qū)或導出區(qū)和臨時缺陷管理信息用于缺陷的管理；以及缺陷管理區(qū)，用于記錄最終的關于缺陷的信息和最終的缺陷管理信息，并且所述缺陷管理區(qū)是在導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中，其中，記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的臨時缺陷管理信息包括缺陷管理開/關模式信息，其向記錄和/或再現(xiàn)設備指示數(shù)據(jù)是否將在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時被記錄在記錄介質上。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，如果記錄介質被初始化為缺陷管理開模式，那么用于記錄替換塊的備用區(qū)由該設備分配給數(shù)據(jù)區(qū)，所述替換塊以預定的記錄操作為單位替換關于在記錄介質的數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的缺陷塊，缺陷管理區(qū)為空，并且臨時缺陷管理區(qū)進入在其中關于缺陷的信息和用于缺陷的管理的缺陷管理信息可以以預定的記錄操作為單位被更新的狀態(tài)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，如果記錄介質的備用區(qū)的大小被改變并且記錄介質被重新初始化，那么關于備用區(qū)的改變的大小的信息被記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，如果記錄介質被重新初始化為缺陷管理關模式，那么指示缺陷管理關模式的信息被記錄在臨時缺陷管理區(qū)中，并且在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，當記錄介質被最終確定時，指示記錄介質被最終確定的最終確定標志被記錄在臨時缺陷管理區(qū)中，在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)中，并且預定數(shù)據(jù)填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理區(qū)的剩余區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，如果記錄介質被初始化為缺陷管理關模式，缺陷管理區(qū)為空，并且臨時缺陷管理區(qū)進入在其中根據(jù)數(shù)據(jù)區(qū)中數(shù)據(jù)的記錄記錄管理信息可以以預定的記錄操作為單位被更新的狀態(tài)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種編碼有編程指令的計算機可讀記錄介質，所述編程指令用于實現(xiàn)由計算機執(zhí)行的在記錄介質上記錄數(shù)據(jù)的方法，該方法包括將缺陷管理模式選擇為缺陷管理開模式和缺陷管理關模式的一種，所述缺陷管理模式指示是否對記錄介質執(zhí)行缺陷管理；并且如果缺陷管理開模式被選擇，那么在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質中；并且如果缺陷管理關模式被選擇，那么在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種編碼有處理指令的計算機可讀記錄介質，所述處理指令用于實現(xiàn)由計算機執(zhí)行的再現(xiàn)記錄在記錄介質上的數(shù)據(jù)的方法，該記錄介質具有連續(xù)排列的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)，該方法包括從導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中提供的臨時缺陷管理區(qū)讀取缺陷管理開/關模式信息，以更新關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的信息和用于每一預定記錄操作的缺陷的管理的缺陷管理信息，所述缺陷管理開/關模式信息指示對記錄介質執(zhí)行缺陷管理以及沒有執(zhí)行缺陷管理兩種情形中的一種；以及基于讀取的缺陷管理開/關模式信息來讀取記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的一次寫入記錄介質的狀態(tài)示圖；
圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的單記錄層記錄介質的數(shù)據(jù)結構示圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的雙記錄層記錄介質的數(shù)據(jù)結構示圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的一次寫入記錄介質的區(qū)域的詳細數(shù)據(jù)結構示圖；圖5是解釋根據(jù)本發(fā)明實施例的記錄在臨時盤管理區(qū)中的臨時盤管理信息的示圖；圖6是解釋根據(jù)本發(fā)明實施例的記錄在臨時盤管理區(qū)中的臨時盤管理信息的示圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的臨時盤管理信息的臨時缺陷定義結構(TDDS)#i的詳細數(shù)據(jù)結構示圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明實施例的臨時盤管理信息的空間位映射(SBM)#i的詳細數(shù)據(jù)結構示圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明實施例的臨時盤管理信息的臨時缺陷列表(TDFL)#i的詳細數(shù)據(jù)結構示圖；圖10是圖9中顯示的缺陷列表項#i的數(shù)據(jù)結構示圖；圖11是根據(jù)本發(fā)明實施例的記錄/再現(xiàn)設備的示意性方框圖；圖12A到圖12E是表示根據(jù)本發(fā)明實施例的以缺陷管理(DM)開模式或DM關模式使用一次寫入記錄介質的方法的流程圖；和圖13是解釋根據(jù)本發(fā)明實施例的缺陷管理的處理的參考示圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在將對本發(fā)明實施例進行詳細的描述，其示例表示在附圖中，其中，相同的標號始終表示相同的部件。為了解釋本發(fā)明，通過參照附圖，實施例被描述如下。
圖1根據(jù)本發(fā)明實施例的一次寫入記錄介質的狀態(tài)示圖，并且顯示根據(jù)DM開模式(DM-on mode)或DM關模式(DM-off mode)的從初始化到最終確定的一次寫入記錄介質的壽命。根據(jù)本發(fā)明一方面的一次寫入記錄介質可根據(jù)缺陷管理是否使用而在兩種模式下使用。第一模式是DM開模式，在該模式下，在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時數(shù)據(jù)被記錄在記錄介質上。第二模式是DM關模式，在該模式下，在缺陷管理沒有被執(zhí)行的同時數(shù)據(jù)被記錄在記錄介質上。
在DM開模式下，備用區(qū)被分配給在記錄介質上提供的數(shù)據(jù)區(qū)，并且在缺陷管理按照用戶或驅動器制造商的意圖被執(zhí)行的同時，數(shù)據(jù)通過驅動器裝置被記錄在記錄介質上。在DM關模式下，數(shù)據(jù)通過驅動器裝置被記錄在記錄介質上而沒有缺陷管理，其中記錄按照用戶或驅動器制造商的意圖被執(zhí)行。因為分配給部分數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)被提供以用于缺陷管理，并且因為在DM關模式下不執(zhí)行缺陷管理，所以在DM關模式下備用區(qū)沒有被分配是正常的。盡管圖1沒有顯示從DM關模式到DM開模式的重新初始化，但是應該理解，對于在最終確定之前DMA沒有被填滿的程度，這樣的從DM關模式到DM開模式的重新初始化是可能的。
DM開模式根據(jù)DM開模式的一次寫入光學介質的壽命顯示在圖1的上部中。在以下描述中，術語“盤”和“記錄介質”可相互交換并且未被限制為特定類型的介質。當由盤制造商制造的盤第一次使用時，該盤是在其上沒有數(shù)據(jù)被寫入的空盤1。然而?？毡P1包括在盤制造期間分配的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)。空盤1的結構顯示在圖2和圖3中。圖2和圖3中顯示的備用區(qū)在盤制造期間沒有被分配，而是在盤初始化期間被分配。另外，備用區(qū)的分配取決于是否對盤1執(zhí)行缺陷管理。因此，通過使用虛線來表示備用區(qū)。
如果確定空盤1將根據(jù)DM開模式被使用，那么空盤1被初始化為DM開模式。為了缺陷管理，備用區(qū)被分配給空盤1的數(shù)據(jù)區(qū)并且用于缺陷管理的初始化信息被記錄在空盤1的預定區(qū)域中。將參照圖2和圖3來描述備用區(qū)的分配。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的盤1的單記錄層記錄介質型式的數(shù)據(jù)結構示圖。參照圖2，在單記錄層中，導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)被連續(xù)地設置。導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)在盤制造期間被分配。如果在用于盤1使用的初始化期間通過驅動器裝置對盤1執(zhí)行缺陷管理，那么備用區(qū)被分配給數(shù)據(jù)區(qū)。參照圖2，兩個備用區(qū)被分配給數(shù)據(jù)區(qū)，并且數(shù)據(jù)區(qū)包括備用區(qū)#1、用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)#2。數(shù)據(jù)記錄在具有用戶數(shù)據(jù)區(qū)的邏輯扇區(qū)號(LSN)0的位置開始，并且向具有最后LSN的位置進行。盡管不是在所有方面都需要，但是在備用區(qū)#1被完全寫入(即，填充)之后備用區(qū)#2也可被使用。在備用區(qū)#2中，如果記錄在從導入?yún)^(qū)到用戶數(shù)據(jù)區(qū)的方向上進行，那么諸如擴充或減少的備用區(qū)#2的大小改變可被容易地執(zhí)行。
圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的盤1的雙記錄層記錄介質型式的數(shù)據(jù)結構示圖。雙記錄層記錄介質的結構與圖2中顯示的單記錄層記錄介質的結構相似。雙記錄層記錄介質1的一層包括連續(xù)的導入?yún)^(qū)#0、數(shù)據(jù)區(qū)#0和導出區(qū)#0。另一層包括連續(xù)的導入?yún)^(qū)#1、數(shù)據(jù)區(qū)#1和導出區(qū)#1。確定在盤初始化期間缺陷管理通驅動器裝置將被執(zhí)行。因此，備用區(qū)#1和備用區(qū)#2被分配給數(shù)據(jù)區(qū)#0，并且備用區(qū)#3和備用區(qū)#4被分配給數(shù)據(jù)區(qū)#1。換句話說，數(shù)據(jù)區(qū)#0包括備用區(qū)#1、用戶數(shù)據(jù)區(qū)#0和備用區(qū)#2，并且數(shù)據(jù)區(qū)1包括備用區(qū)#3、用戶數(shù)據(jù)區(qū)#1和備用區(qū)#4。為了便于備用區(qū)#4的擴充，希望但是不需要以LSN在從用戶數(shù)據(jù)區(qū)#0到用戶數(shù)據(jù)區(qū)#1的方向上增加的方式使用盤1。
圖2和圖3中顯示的記錄介質1的導入?yún)^(qū)和導出區(qū)的詳細結構將參照圖4來描述。圖4是根據(jù)本發(fā)明一方面的一次寫入記錄介質的區(qū)域的詳細數(shù)據(jù)結構示圖。參照圖4，如上所述，一次寫入記錄介質1包括連續(xù)的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)，并且在用于缺陷管理的盤初始化期間備用區(qū)#1和備用區(qū)#2被分配給數(shù)據(jù)區(qū)。導入?yún)^(qū)包括缺陷管理區(qū)(DMA)#1、驅動器信息區(qū)、臨時缺陷管理區(qū)(TDMA)、記錄條件測試區(qū)和DMA #2。導出區(qū)包括DMA #3和DMA#4。當然，分配給導入?yún)^(qū)的詳細區(qū)域，除了導入?yún)^(qū)外也可分配給導出區(qū)，或者分配給導出區(qū)而不是導入?yún)^(qū)。
備用區(qū)#1和備用區(qū)#2被提供用來在替換塊中重寫數(shù)據(jù)，所述替換塊當在記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)中產生缺陷時替換用戶數(shù)據(jù)區(qū)的塊。驅動器信息區(qū)被提供用來記錄關于驅動器裝置的信息，所述驅動器裝置加載盤并且在盤1中記錄數(shù)據(jù)或從盤1讀取數(shù)據(jù)。記錄條件測試區(qū)被提供用來允許驅動器裝置為了在加載的盤中搜索用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的最優(yōu)條件而執(zhí)行預定的測試。
DMA被提供用來記錄缺陷信息和缺陷管理信息(DMI)。DMA包括用于DMI的盤定義結構(DDS)和用于缺陷信息的缺陷列表(DFL)，并且DMI被提供以用于與可重寫記錄介質兼容或者被提供用來在盤最終確定期間讀取和記錄TDMA中記錄的最終的缺陷信息和DMI。
在臨時缺陷管理信息被更新的同時TDMA被寫入。臨時缺陷管理信息包括臨時缺陷定義結構；空間位映射(SBM)，其通過使用比特值來指示在盤的物理可用空間的塊中記錄或未記錄；以及用于臨時缺陷信息的臨時缺陷列表(TDFL)。換句話說，TDMA被提供用來記錄包括臨時盤定義結構(TDDS)、SBM和TDFL的臨時缺陷管理信息(TDMI)。
在一次寫入記錄介質中，TDMA被專門準備通過驅動器裝置來實現(xiàn)缺陷管理。特別地，在可重寫記錄介質中，僅有DMA被提供并且TDMA沒有被另外提供。這是因為一次寫入記錄介質不能像可重寫介質一樣被重寫。與可重寫記錄介質不同，因為當DMI將被更新時，一次寫入記錄介質不能被重寫，所以需要在其中更新的信息將被寫入的新的區(qū)域。因此，需要與DMI被更新的時間量成比例的相當多的區(qū)域。然而，因為在可重寫記錄介質中DMA不大，所以在一次寫入記錄介質中TDMA被另外提供并且在TDMA中DMI被更新。另外，在盤最終確定期間，在TDMA中最終更新的TDMI(即在最后記錄操作時的TDMI)作為DMI被記錄在DMA中。通過將DMI記錄在一次寫入記錄介質提供的DMA中，能夠實現(xiàn)與可重寫記錄介質的兼容性。為了便于解釋，在TDMA中更新的DMI稱為“TDMI”，并且記錄在DMA中的最終的TDMI稱為“DMI”。
在下文中，記錄在TDMA中的TDMI將被詳細地描述。TDMI包括TDDS、SBM和TDFL。當TDDS、SBM和TDFL被記錄在TDMA中時，TDDS和SBM可被記錄在同一塊中并且TDFL可被記錄在另一塊中。例如，如圖5所示，TDMI包括由TDFL #0、TDDS #0和SBM #0組成的TDMI #0，并且在TDMA中該TDMI可以以TDMI #i為單位被更新。如圖6所示的另一示例，TDMA被分為兩個部分，在一部分中TDDS #i和SBM #i可作為一個塊被更新，并且在另一部分中，TDFL #i可作為一個塊被更新。TDDS #i的詳細結構將參照圖7來描述。
圖7是根據(jù)本發(fā)明一方面的TDMI的TDDS #i的詳細數(shù)據(jù)結構示圖。參照圖7，TDDS #i包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)的開始位置信息、用戶數(shù)據(jù)區(qū)的結束位置信息、備用區(qū)#1的大小信息、備用區(qū)#2的大小信息、TDFL指針、記錄條件測試可用位置指針、最終確定標志和DM模式。
分配給數(shù)據(jù)區(qū)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的位置和大小以及備用區(qū)#1和備用區(qū)#2的位置可從用戶數(shù)據(jù)區(qū)的開始位置信息和用戶數(shù)據(jù)區(qū)的結束位置信息被獲得。備用區(qū)#1的大小信息和備用區(qū)#2的大小信息作為TDDS被記錄，并且如果備用區(qū)#1或備用區(qū)#2被擴大或減小，那么備用區(qū)#1或備用區(qū)#2的大小信息被改變。TDFL指針指示最近更新的TDFL的位置信息。通過使用TDFL指針，可容易地找到最終更新的TDFL。
記錄條件測試可用位置指針指示在盤的導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中設置的記錄條件測試區(qū)的位置信息，在所述記錄條件測試區(qū)中測試可被執(zhí)行。通過參照記錄條件測試可用位置指針，可容易地找到測試可被執(zhí)行的位置，而不用直接掃描記錄條件測試區(qū)。
最終確定標志是用于設置盤最終確定的標志，并且通過使用最終確定標志可確定盤是否被最終確定。雖然最終確定標志被設置在圖7中的TDDS #i中，但是最終確定標志也可被設置在如圖8所示的SBM #i中。
圖7的DM模式指示是否對相應的盤1執(zhí)行缺陷管理。例如，在對盤1執(zhí)行缺陷管理的同時數(shù)據(jù)被記錄在盤1上時，DM模式被設置為DM開模式，而在缺陷管理沒有被執(zhí)行的同時數(shù)據(jù)被記錄在盤1上時，DM模式被設置為DM關模式。
圖8是根據(jù)本發(fā)明一方面的臨時盤管理信息的SBM #i的詳細數(shù)據(jù)結構示圖。參照圖8，SBM #i包括SBM頭和位映射。SBM頭是指示SBM的標識符。位映射是信息映射，其通過使用比特值來指示在盤的物理可記錄區(qū)域的塊中記錄或沒有記錄。例如，其中記錄有數(shù)據(jù)的塊由“1”表示，并且其中沒有記錄數(shù)據(jù)的塊由“0”表示。這樣，可知道在每一塊中記錄或者沒有記錄。
圖9是根據(jù)本發(fā)明一方面的臨時盤管理信息的TDFL #i的詳細數(shù)據(jù)結構示圖。參照圖9，TDFL #i包括TDFL頭、缺陷列表項#0、缺陷列表項#1......TDFL頭是指示TDFL的標識符。缺陷列表項#i指示關于在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的信息。圖10顯示圖9中顯示的缺陷列表項#i的數(shù)據(jù)結構。
參照圖10，缺陷列表項#i包括狀態(tài)信息、缺陷塊物理地址和替換塊物理地址。缺陷塊物理地址指示用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷塊的物理地址，并且替換塊物理地址指示備用區(qū)的替換塊的物理地址，所述替換塊替換缺陷塊。狀態(tài)信息包括替換信息和連續(xù)缺陷信息。替換信息指示缺陷塊是否具有替換塊。換句話說，存在缺陷塊具有替換塊的狀態(tài)和缺陷塊不具有替換塊的狀態(tài)。連續(xù)缺陷信息指示當在用戶數(shù)據(jù)區(qū)產生的缺陷在連續(xù)的塊中產生時缺陷塊的狀態(tài)。換句話說，當缺陷在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的連續(xù)的塊中產生時，不產生對于連續(xù)的缺陷塊的每一塊的缺陷列表項，而是僅產生在連續(xù)的缺陷塊之中的第一缺陷塊的第一缺陷項和在連續(xù)的缺陷塊之中的最后缺陷塊的最后缺陷項。因此，可節(jié)省TDFL的空間。
至此，本發(fā)明可被施加于其的記錄介質的示例性結構被描述。參照圖1，在初始化為空盤1的DM開模式之后，盤的DMA是空的并且TDMA進入在其中TDMA可被更新的狀態(tài)2。TDMA的更新指示在TDMA中TDMI被更新。這樣的更新以預定記錄操作為單位來執(zhí)行，根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述單位可以是一個寫入后驗證單位或多個寫入后驗證單位或彈出單位，在寫入后驗證單位中塊被記錄然后被驗證。這里，塊指的是記錄在盤中的糾錯碼(ECC)單元。然而，應該理解，除了以記錄操作為單位以外其他更新方法可被使用和/或執(zhí)行。
在通過驅動器裝置對盤執(zhí)行缺陷管理的同時，數(shù)據(jù)被記錄在狀態(tài)2的盤1中。然后，根據(jù)與缺陷管理同時的數(shù)據(jù)記錄，圖4中所示的TDMA保持在其中TDMI被更新的狀態(tài)3。在使用狀態(tài)3的盤1的同時，如果在備用區(qū)中產生任何改變，那么盤1被重新初始化，TDMI的備用區(qū)的大小信息被改變，備用區(qū)的改變的大小信息被記錄在TDMA中，并且DMA仍然是空的。如果在盤初始化期間分配的備用區(qū)被完全地消耗并且備用區(qū)需要被擴大，或者如果用戶數(shù)據(jù)區(qū)缺少數(shù)據(jù)將被寫入的區(qū)域并且備用區(qū)需要被減少，那么在盤1的使用期間備用區(qū)的大小信息被改變(狀態(tài)4)。包括這樣的改變的TDDS #i被記錄在TDMA中。即使在備用區(qū)的大小被改變之后，在通過驅動器裝置對盤執(zhí)行缺陷管理的同時數(shù)據(jù)也被記錄在盤1中，并且TDMA被更新(狀態(tài)5)。
在與缺陷管理同時的數(shù)據(jù)記錄期間，盤1可被重新初始化為DM關模式。當盤1被重新初始化為DM關模式時，為了與可重寫記錄介質的兼容性，記錄在TDMA中的最終的TDDS和TDFL信息作為DDS和DFL信息被記錄在DMA中，并且TDMA被改變?yōu)镈M關模式。換句話說，通過將DM模式設置為DM關模式來在圖7中顯示的TDDS中做出更新，并且在TDMA中的最終更新的TDDS #n和TDFL #n被復制并且被記錄在DMA中(狀態(tài)11到13)。
具體地，在被重新初化為DM關模式之后，盤1的DMA被填充并且TDMA進入在其中TDMA可被更新的狀態(tài)11。因為DM模式被改變?yōu)镈M關模式，所以在沒有缺陷管理的情況下數(shù)據(jù)被記錄并且TDMA被更新(狀態(tài)12)。因為缺陷管理沒有被執(zhí)行，所以TDMA的更新主要涉及TDDS #i和SBM#i。然而，如果與缺陷管理無關的內容被包括在TDFL #i中，那么TDFL #i也可被更新。盡管盤1以這種方式被使用，但是如果盤1被最終確定，那么TDMA被填充并且進入狀態(tài)13，在所述狀態(tài)13中最終確定標志在TDMA中被設置(狀態(tài)13)。
在數(shù)據(jù)被記錄在狀態(tài)5的盤中并且通過驅動器裝置對盤1執(zhí)行缺陷管理的同時，如果盤被最終確定，那么在TDMA中最終確定標志被設置以防止在最終確定之后盤被使用，并且在TDMA中的最終更新的TDMI(即，TDDS #m和TDFL #m)填充DMA并且用作最終的DMI(狀態(tài)6)。參照圖7中的實施例，在TDDS中最終確定標志被設置為“1”以指示最終確定，并且TDDS被記錄在TDMA中以指示盤被最終確定。另外，為了防止TDMI在TDMA中被更新，預定比特(例如，“FFh”)，可填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的TDMA的剩余區(qū)域。結果，TDMA被填充。
DM關模式根據(jù)DM關模式的一次寫入光學介質的壽命顯示在圖1的下部中。如果確定盤1將根據(jù)DM關模式被使用，那么空盤1被初始化為DM關模式。初始化為DM關模式的盤的DMA是空的，并且TDMA進入在其中TDMA可被更新的狀態(tài)7。在盤初始化期間在TDMA中作為初始信息記錄的TDDS包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)的開始位置信息和用戶數(shù)據(jù)區(qū)的結束位置信息。備用區(qū)#1的大小信息和備用區(qū)#2的大小信息被記錄為“0”。另外，DM模式被設置為DM關模式。
因為在數(shù)據(jù)記錄期間缺陷管理沒有被執(zhí)行，所以在TDMA中TDDS和SBM被主要地更新。因為沒有執(zhí)行缺陷管理，所以在DM關模式下使用的TDDS的詳細數(shù)據(jù)可以是不同的。為了將在DM關模式下使用的TDDS和SBM與在DM開模式下使用的TDDS和SBM區(qū)分，在DM關模式下使用的TDDS和SBM被稱為記錄管理信息。
在DM關模式下，在沒有通過驅動器裝置執(zhí)行缺陷管理的情況下數(shù)據(jù)被記錄在盤1中，并且TDMA保持在其中TDMA可被更新的狀態(tài)8。當盤1被最終確定時，最終確定標志在TDMA中被設置以防止盤1在最終確定之后被使用(狀態(tài)9)。另外，在TDMA中更新的最終的TDMI(即，記錄管理信息)填充DMA并且用作最終的DMI(狀態(tài)9)。最終確定的盤1具有在其中指示最終確定的最終確定標志在記錄在TDMA中的TDDS或SBM中被設置的狀態(tài)，所述在TDMA中被最終更新的TDDS和SBM作為DMI被記錄在DMA中，并且與“FFh”相等的值被記錄在SBM可被記錄的剩余區(qū)域(即，TDMA的剩余區(qū)域)中，以防止數(shù)據(jù)被記錄在TDMA的剩余區(qū)域中。
在下文中，可使用上述盤的記錄/再現(xiàn)設備將參照圖11來描述。圖11是根據(jù)本發(fā)明的記錄/再現(xiàn)設備的示意性方框圖。參照圖11，該記錄/再現(xiàn)設備包括記錄/讀取單元21和控制單元23。記錄/讀取單元21包括用于在盤22上記錄數(shù)據(jù)和/或讀取記錄在盤22上的數(shù)據(jù)的拾取器，所述盤22是根據(jù)本發(fā)明一方面的光學記錄介質?？刂茊卧?3根據(jù)預定文件系統(tǒng)的一方面控制記錄/讀取單元21以在盤22上記錄數(shù)據(jù)和從盤22讀取數(shù)據(jù)。具體地，根據(jù)本發(fā)明，控制單元23當空盤在記錄/讀取單元21中加載時確定在數(shù)據(jù)記錄期間是否執(zhí)行缺陷管理并且根據(jù)確定的結果初始化盤22。另外，控制單元23根據(jù)以下詳細描述的確定的結果控制記錄/讀取單元21在盤22中對數(shù)據(jù)重新編碼。
控制單元包括主機I/F 24、DSP 25、RF AMP 26、伺服系統(tǒng)27和系統(tǒng)控制器28。在數(shù)據(jù)記錄期間，主機I/F 24從主機29接收預定的記錄命令，并且將該預定的記錄命令發(fā)送到系統(tǒng)控制器28。系統(tǒng)控制器28控制DSP 25和伺服系統(tǒng)27以執(zhí)行從主機I/F 24接收的預定的記錄命令。DSP 25將例如奇偶校驗的附加數(shù)據(jù)添加到從主機I/F 24接收的數(shù)據(jù)中以用于糾錯，通過對數(shù)據(jù)執(zhí)行糾錯碼(ECC)編碼來生成糾錯塊(即，ECC塊)，并且以預定的方式調制ECC塊。RF AMP 26將從DSP 25輸出的數(shù)據(jù)轉換為RF信號。記錄/讀取單元21包括用于在盤22上記錄從RF AMP 26發(fā)送的RF信號的拾取器。伺服系統(tǒng)27從系統(tǒng)控制器28接收伺服控制所需的命令，并且對記錄/讀取單元21的拾取器進行伺服控制。
具體地，根據(jù)本發(fā)明的一方面，系統(tǒng)控制器28確定以DM開模式還是以DM關模式使用盤22。這樣的確定指示在數(shù)據(jù)被記錄在盤22中的同時缺陷管理是否將被執(zhí)行。盡管不是在本發(fā)明的所有方面都被需要，但是系統(tǒng)控制器28檢測來自用戶的輸入或檢測來自驅動器制造商的輸入，并且使用檢測的輸入來確定盤22處于DM開模式還是處于DM關模式。然而，應該理解輸入可以不同地被接收。
如果系統(tǒng)控制器28確定以DM開模式使用盤22，那么系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21在數(shù)據(jù)被記錄在盤22上的同時執(zhí)行缺陷管理。換句話說，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21以預定的操作為單位在記錄介質22的備用區(qū)中記錄替換塊，并且以預定的操作為單位在記錄介質的TDMA中更新關于缺陷的信息和用于缺陷的管理的TDMI，所述替換塊替換在其中產生缺陷的記錄介質的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷塊。正如需要的那樣，系統(tǒng)控制器28在盤22以DM開模式被使用的同時還改變備用區(qū)的大小。系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21在TDMA中記錄關于改變的備用區(qū)的大小(若有的話)的信息。
即使在盤初始化期間盤22被設置為DM開模式，系統(tǒng)控制器28也能在盤22以DM開模式使用的同時將盤22的DM開模式轉換為DM關模式。為了這樣的轉換，系統(tǒng)控制器28將盤22重新初始化為DM關模式，并且控制記錄/讀取單元21在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在盤22中。換句話說，在重新初始化期間，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21在TDMA中記錄指示盤22以DM關模式使用的信息，并且將在TDMA中最終更新的TDMI記錄在記錄介質22中提供的DMA中。
當以這種方式使用的盤22被最終確定時，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21在TDMA中記錄指示記錄介質22被最終確定的最終確定標志，將在TDMA中最終更新的TDMI作為DMI記錄在記錄介質22中提供的盤管理區(qū)(DMA)中，并且以預定數(shù)據(jù)填充未被寫入的TDMA的剩余區(qū)域。
當系統(tǒng)控制器28確定以DM關模式使用盤22時，其控制記錄/讀取單元21在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在盤22中。換句話說，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21以預定的操作為單位將數(shù)據(jù)記錄在盤21中提供的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中，并且根據(jù)這樣的記錄在盤21中提供的臨時缺陷管理區(qū)中更新記錄管理信息。另外，以與DM開模式相同的方式，當盤22被最終確定時，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元22在TDMA中記錄指示盤22被最終確定的最終確定標志，將在TDMA中最終更新的TDMI記錄在盤22中提供的盤管理區(qū)中，并且以預定數(shù)據(jù)填充未被寫入的TDMA的剩余區(qū)域。
在再現(xiàn)期間，主機I/F 24從主機29接收再現(xiàn)命令。系統(tǒng)控制器28執(zhí)行再現(xiàn)所需的初始化。記錄/讀取單元21將激光束投射到盤22上并且輸出通過接收從盤22反射的激光束獲得的光信號。RF AMP 26將從記錄/讀取單元21輸出的光信號轉換為RF信號，將從RF信號獲得的調制信號提供給DSP 25，并且將從RF信號獲得的用于控制的伺服信號提供給伺服系統(tǒng)27。伺服系統(tǒng)27從RF AMP 26接收伺服信號并且從系統(tǒng)控制器28接收伺服控制所需的命令，并且伺服系統(tǒng)27執(zhí)行對拾取器的伺服控制。主機I/F 24將從DSP 25接收的數(shù)據(jù)發(fā)送到主機29。
具體地，根據(jù)本發(fā)明的一方面，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21從盤22中提供的TDMA讀取模式信息，并且基于該讀取的信息讀取記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)。當讀取的模式信息是DM開模式時，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21從TDMA讀取最終更新的關于缺陷的信息和缺陷管理信息，并且如果指示記錄介質22被最終確定的最終確定標志從TDMA被讀取，那么系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21從盤28中提供的DMA讀取最終更新的關于缺陷的信息和缺陷管理信息。
當讀取的模式信息是DM關模式時，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21從TDMA讀取最終的記錄管理信息。如果指示記錄介質22被最終確定的最終確定標志從TDMA被讀取，那么系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21從盤22中提供的DMA讀取最終更新的記錄管理信息。
圖12A到圖12E是表示根據(jù)本發(fā)明實施例的以DM開模式或DM關模式使用一次寫入記錄介質的方法的流程圖。
盡管不是在所有的方面中都被需要，但是圖12A到圖12E中的方法也可實施為計算機可讀軟件。另外，應該理解，如果控制器28是通用計算機或專用計算機，那么圖12A到圖12E中的方法可通過控制器28讀取計算機可讀介質以檢索在計算機可讀介質上編碼的方法來實現(xiàn)。一旦一次寫入記錄介質22被加載在驅動器系統(tǒng)中，則驅動器系統(tǒng)的系統(tǒng)控制器28通過使用存儲在加載的盤22中的信息來識別加載的盤22(即，加載的盤22是什么類型)，加載的盤22是否可記錄并且加載的盤22是否已經被使用。如果在操作10中加載的一次寫入記錄介質被識別為空盤22，那么系統(tǒng)控制器28根據(jù)用戶的命令或驅動器制造商的意圖執(zhí)行初始化處理。
在操作15中，系統(tǒng)控制器28根據(jù)用戶或驅動器制造商的意圖確定是否執(zhí)行DM模式。當系統(tǒng)控制器28根據(jù)用戶或驅動器制造商的意圖確定不執(zhí)行缺陷管理并且選擇DM關模式時，在操作20中初始化信息被記錄在盤22中，并且處理轉到圖12E中的A。因為在DM關模式下缺陷管理沒有被執(zhí)行并且備用區(qū)沒有被分配，所以備用區(qū)的大小信息在記錄在TDMA中的TDDS中被記錄為“0”，并且DM模式被設置為DM關模式。
當系統(tǒng)控制器28選擇DM開模式時，其將備用區(qū)分配給盤22的數(shù)據(jù)區(qū)的一部分，并且在盤中記錄通過驅動器裝置的缺陷管理所需的信息和初始化信息(操作30)。更具體地講，初始化信息被包括在TDDS #0、SBM #0和TDFL#0中，然后被記錄在TDMA中。參照如圖7所示的實施例，TDDS #0包括在數(shù)據(jù)區(qū)中提供的備用區(qū)的大小和位置信息、用戶數(shù)據(jù)區(qū)的開始位置信息和結束位置信息、TDFL指針和設置為DM開模式的DM模式。一旦盤22被初始化，則盤22的DMA是空的并且TDMA進入在其中TDMA可被更新的狀態(tài)。
在初始化之后，記錄/讀取單元21和控制單元23響應主機的記錄命令，通過用于缺陷管理的寫入后驗證過程來執(zhí)行記錄(操作40)。在下文中，操作40的寫入后驗證過程將參照圖12B被更詳細地描述。在操作41中，用戶數(shù)據(jù)以寫入后驗證過程被執(zhí)行的單元被記錄在用戶區(qū)中。在操作42中，記錄的數(shù)據(jù)被驗證以發(fā)現(xiàn)在其中產生缺陷的部分，并且替換缺陷塊的替換塊被記錄在備用區(qū)中。在操作43中，關于缺陷的信息被生成并且被存儲在存儲器中。在操作44中，確定預定的記錄操作是否完成。如果預定的記錄操作沒有完成，那么處理轉到操作41并且記錄被重復。如果預定的記錄操作完成，那么處理轉到圖在12A中顯示并在圖12C中詳細顯示的操作50。
在操作50中，缺陷信息和缺陷管理信息以操作為單位被更新。操作50的更新過程將參照圖12C被詳細地描述。在操作51中，存儲器中存儲的關于缺陷的信息被讀入。在操作52中，包括關于缺陷的信息的缺陷列表被生成。在操作53中，生成的缺陷列表作為TDFL #i被記錄在TDMA中，其中i對應于記錄操作的數(shù)量。在操作54中，TDDS #i和SBM #i被記錄在TDMA中。上述通過寫入后驗證過程來執(zhí)行記錄的操作40和更新缺陷信息和缺陷管理信息的操作50的示例將參照圖13來描述。
圖13是用于解釋根據(jù)本發(fā)明一方面的缺陷管理的處理的參考示圖。這里，數(shù)據(jù)處理單元可被分成扇區(qū)和簇。扇區(qū)是可通過計算機的文件系統(tǒng)或應用程序來管理的最小數(shù)據(jù)單元。簇是每次可被物理地記錄在盤中的最小數(shù)據(jù)單元。一般地，至少一個扇區(qū)組成一個簇。
扇區(qū)包括物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是在其中與一個扇區(qū)相應的數(shù)據(jù)被記錄的盤的空間。用于找到物理扇區(qū)的地址稱為物理扇區(qū)號(PSN)。邏輯扇區(qū)是用于在文件系統(tǒng)或應用程序中管理數(shù)據(jù)的扇區(qū)單元。同樣地，邏輯扇區(qū)號(LSN)被分配給邏輯扇區(qū)。例如圖11中顯示的將數(shù)據(jù)記錄到盤或從盤讀取數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)記錄/再現(xiàn)設備，通過使用PSN來找到在盤上數(shù)據(jù)將被記錄或再現(xiàn)的位置，然而，用于記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)的計算機或應用程序以邏輯扇區(qū)為單位管理全部數(shù)據(jù)，并且通過使用LSN來找到數(shù)據(jù)的位置。通過使用是否產生缺陷的事實和數(shù)據(jù)記錄開始的位置，LSN和PSN之間的聯(lián)系被轉換。
參照圖13，用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)被顯示。在用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)中，有多個PSN被順序地分配給其的物理扇區(qū)(未顯示)。LSN被分配給至少一個物理扇區(qū)單元。然而，除了在其中產生缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷區(qū)，LSN被分配給備用區(qū)的替換區(qū)。結果，雖然物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)在大小上是相同的，但是如果產生缺陷區(qū)，那么PSN和LSN變得不同。
根據(jù)順序記錄模式或隨機記錄模式，用戶數(shù)據(jù)被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中。在順序記錄模式下，用戶數(shù)據(jù)被順序地并且連續(xù)地記錄。在隨機記錄模式下，用戶數(shù)據(jù)不需要被連續(xù)地記錄，而是被隨機地記錄。(1)到(7)指示在其中寫入后驗證過程被執(zhí)行的單元區(qū)。數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將用戶數(shù)據(jù)記錄在單元區(qū)(1)中，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備返回單元區(qū)(1)的開始位置并且驗證用戶數(shù)據(jù)是被正常地記錄還是產生缺陷。如果在其中產生缺陷的簇被發(fā)現(xiàn)，那么該簇被識別為缺陷簇并且被指定為缺陷區(qū)(即，缺陷#1)。另外，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備在備用區(qū)中重寫已經被記錄在缺陷#1中的數(shù)據(jù)。在其中用戶數(shù)據(jù)被重寫的備用區(qū)的一部分被指定為替換#1。接下來，在將用戶數(shù)據(jù)記錄在單元區(qū)(2)中之后，數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備返回單元區(qū)(2)的開始位置并且驗證用戶數(shù)據(jù)是被正常地記錄還是產生缺陷。如果至少一個在其中產生缺陷的簇被發(fā)現(xiàn)，那么這個簇被指定為缺陷#2。以與以上同樣的方式，與缺陷#2相應的替換#2被指定。另外，在單元區(qū)(3)中，缺陷區(qū)(即，缺陷#3)和與缺陷#3相應的替換#3被指定。在單元區(qū)(4)中，沒有發(fā)現(xiàn)產生缺陷的部分，并且沒有缺陷區(qū)。
在完成對單元區(qū)(4)的記錄和驗證之后，如果期望終止記錄操作#1(例如，如果用戶按下彈出按鈕或分配給記錄操作#1的用戶數(shù)據(jù)的記錄被完成)，那么數(shù)據(jù)記錄和/或再現(xiàn)設備將在單元區(qū)(1)到單元區(qū)(4)中產生的缺陷#1到缺陷#3的位置信息記錄在TDFL臨時缺陷信息(即，TDFL #1)中。另外，用于TDFL #1的管理的管理信息作為TDDS #1被記錄在TDMA中。
一旦記錄操作#1開始，那么數(shù)據(jù)以與單元區(qū)(1)到單元區(qū)(4)相同的方式被存儲在(5)到(7)中。因此，缺陷#4和缺陷#5以及與其相應的替換#4和替換#5被指定。缺陷#1、#2、#3和#4是單一缺陷塊，其每一個包括一個缺陷。缺陷#5是連續(xù)缺陷塊，其連續(xù)的塊包括缺陷。替換#5是替換缺陷#5的連續(xù)替換塊。塊是物理或邏輯記錄單元并且可改變。如果期望完成記錄操作#1，那么記錄設備記錄包括關于缺陷#4和缺陷#5的信息的臨時缺陷信息#2(即，TDFL #2)，并且還記錄在臨時缺陷信息#1中累積記錄的信息。同樣地，用于TDFL #2的管理的缺陷管理信息作為TDDS #2被記錄在TDMA中。
參照圖12A，在操作60中，當備用區(qū)不足并且備用區(qū)需要被擴大或者用戶數(shù)據(jù)區(qū)不足并且備用區(qū)需要被減少時，系統(tǒng)控制器28確定是否改變備用區(qū)大小。如果系統(tǒng)控制器28確定改變備用區(qū)大小，那么在操作70中，重新初始化信息被記錄在盤22中并且處理轉到操作40。換句話說，備用區(qū)的改變的大小信息被包括在TDDS中并且TDDS被記錄在TDMA中。
接下來，系統(tǒng)控制器28確定是否將盤22重新初始化為DM關模式(操作80)。如果系統(tǒng)控制器28確定重新初始化盤22，那么在操作81中，重新初始化信息被記錄在盤22中并且處理轉到圖12E中顯示的A。如果盤22被重新初始化為DM關模式，那么在TDDS中設置的DM開模式被轉換為DM關模式以更新TDDS，并且為了與可重寫介質的兼容性，在TDMA中最終更新的TDDS和TDFL被記錄在DMA中。
接下來，系統(tǒng)控制器28確定是否最終確定盤22(操作90)。如果系統(tǒng)控制器28確定不最終確定盤22，那么處理轉到操作40并且通過寫入后驗證過程記錄被執(zhí)行。如果系統(tǒng)控制器28確定最終確定盤，那么系統(tǒng)控制器28將最終確定信息記錄在盤中(操作100)。
在盤中記錄最終確定信息的操作100將參照圖12D來描述。在操作101中，在TDDS或SBM中系統(tǒng)控制器28將最終確定標志設置為“1”，并且在操作102中，系統(tǒng)控制器28將特定值記錄在未被寫入的SBM的全部剩余區(qū)域中。根據(jù)顯示的實施例，特定值可被記錄在未被寫入的TDMA全部剩余區(qū)域中。在操作103中，記錄在TDMA中的最終更新的TDDS和TDFL填充DMA。
接下來，當選擇DM關模式時的操作將參照圖12E來描述。在操作110中，系統(tǒng)控制器28控制記錄/讀取單元21在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在盤22中。在操作120中，系統(tǒng)控制器28更新TDMA。因為缺陷管理沒有被執(zhí)行，所以在TDMA中的更新主要是TDDS和SDM。在操作130中，系統(tǒng)控制器28確定是否最終確定盤22。
如果系統(tǒng)控制器28確定最終確定盤22，那么最終確定信息被記錄在DMA中(操作140)。在操作140中最終確定信息的記錄與以上參照圖12D闡述的描述相同，并且不再闡述。如果系統(tǒng)控制器28確定不最終確定盤22，那么處理轉到操作110，并且在沒有缺陷管理的情況下記錄被執(zhí)行。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的一方面，記錄介質可被選擇性地使用，并且根據(jù)該選擇對記錄介質執(zhí)行或不執(zhí)行缺陷管理。另外，即使在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時使用記錄介質之后，也可在沒有缺陷管理的情況下使用該記錄介質。另外，記錄介質可與可重寫介質兼容地使用。另外，記錄介質可以是執(zhí)行缺陷管理的CD-R、DVD-R、藍光盤、高級光盤(AOD)、可重寫介質、磁介質和/或磁光介質。
所述記錄/再現(xiàn)方法可被實施為計算機可讀記錄介質中的計算機可讀代碼。計算機可讀記錄介質包括各種可通過計算機系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)被存儲在其中的記錄設備。這樣的計算機可讀記錄介質是ROM、RAM、CD-ROM、磁帶、軟盤和光學數(shù)據(jù)存儲器，以及經過互聯(lián)網(wǎng)(例如，載波)的傳輸。計算機可讀記錄介質可被分布在連接到網(wǎng)絡的計算機系統(tǒng)中，并且可以按照計算機可讀代碼的形式被存儲和操作。用于實現(xiàn)所述記錄/再現(xiàn)方法的功能程序、代碼和代碼段可由本領域編程技術人員容易地解釋。
盡管已經參照其示例性實施例具體表示和描述了本發(fā)明的實施例，但是本領域普通技術人員應該理解，在不脫離由所附權利要求及其等同物限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對其進行形式上和細節(jié)上的各種改變。
權利要求
1.一種在記錄介質上記錄數(shù)據(jù)的方法，該方法包括在缺陷管理開模式和缺陷管理關模式之間選擇可選的缺陷管理模式，從而選擇的模式指示是否將對記錄介質執(zhí)行缺陷管理；如果缺陷管理開模式被選擇，那么在對該記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質上；和如果缺陷管理關模式被選擇，那么在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質上。
2.如權利要求1所述的方法，其中，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟包括將該記錄介質初始化為缺陷管理開模式，其中所述初始化包括將備用區(qū)分配給記錄介質的數(shù)據(jù)區(qū)，以用于替換在該記錄介質的數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷；和將臨時缺陷管理信息記錄在記錄介質提供的臨時缺陷管理區(qū)中，所述臨時缺陷管理信息包括關于分配的備用區(qū)的信息和指示缺陷管理開模式的標識符。
3.如權利要求2所述的方法，其中，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟還包括以預定的操作為單位將替換塊記錄在備用區(qū)中，所述替換塊替換關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的缺陷塊；和以預定的操作為單位在臨時缺陷管理區(qū)中更新關于缺陷的信息和作為臨時缺陷管理信息的對于缺陷管理的缺陷管理信息。
4.如權利要求3所述的方法，其中，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟還包括改變備用區(qū)的大小；和更新臨時缺陷管理信息以包括關于備用區(qū)的改變的大小的信息，并且將更新的臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。
5.如權利要求3所述的方法，其中，在缺陷管理開模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟還包括將缺陷管理開模式轉換為缺陷管理關模式。
6.如權利要求5所述的方法，其中，轉換為缺陷管理關模式的步驟包括將記錄介質重新初始化為缺陷管理關模式；和在記錄介質被重新初始化為缺陷管理關模式之后，在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質中。
7.如權利要求6所述的方法，其中，重新初始化為缺陷管理關模式的步驟包括將指示缺陷管理關模式的標識符記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；和將在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的臨時缺陷管理信息記錄在記錄介質的缺陷管理區(qū)中。
8.如權利要求3所述的方法，還包括最終確定記錄介質。
9.如權利要求8所述的方法，其中，最終確定記錄介質的步驟包括將指示記錄介質的最終確定的最終確定標志記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；將臨時缺陷管理信息記錄在記錄介質的缺陷管理區(qū)中，所述記錄臨時缺陷管理信息包括記錄最終更新的關于缺陷的信息和臨時缺陷管理區(qū)的缺陷管理信息；和以預定數(shù)據(jù)填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理區(qū)的剩余區(qū)域。
10.如權利要求1所述的方法，其中，在缺陷管理關模式下記錄數(shù)據(jù)的步驟包括以預定的操作為單位將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質的數(shù)據(jù)區(qū)中；和根據(jù)數(shù)據(jù)的記錄，在記錄介質的臨時缺陷管理區(qū)中更新記錄管理信息。
11.如權利要求10所述的方法，還包括最終確定記錄介質。
12.如權利要求11所述的方法，其中，最終確定記錄介質的步驟包括將指示記錄介質被最終確定的最終確定標志記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；將在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的記錄管理信息記錄在記錄介質的缺陷管理區(qū)中；和以預定數(shù)據(jù)填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理區(qū)的剩余區(qū)域。
13.一種再現(xiàn)記錄在記錄介質上的數(shù)據(jù)的方法，所述記錄介質具有連續(xù)排列的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)，該方法包括從導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中的臨時缺陷管理區(qū)讀取指示是否對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的缺陷管理開/關模式信息，以用于更新關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的信息和用于每一預定操作的缺陷的管理的缺陷管理信息；和基于所述讀取的缺陷管理開/關模式信息，來讀取記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)。
14.如權利要求13所述的方法，還包括如果讀取的缺陷管理開/關模式信息是缺陷管理開模式，那么從臨時缺陷管理區(qū)讀取最終更新的關于缺陷的信息和最終更新的缺陷管理信息。
15.如權利要求14所述的方法，還包括從臨時缺陷管理區(qū)讀取指示記錄介質被最終確定的最終確定標志；和從記錄介質的缺陷管理區(qū)讀取最終更新的關于缺陷的信息和最終更新的缺陷管理信息。
16.如權利要求13所述的方法，還包括如果讀取的缺陷管理開/關模式信息是缺陷管理關模式，那么從臨時缺陷管理區(qū)讀取最終的記錄管理信息。
17.如權利要求16所述的方法，還包括從臨時缺陷管理區(qū)讀取指示記錄介質被最終確定的最終確定標志；和從記錄介質的缺陷管理區(qū)讀取最終更新的關于缺陷的信息和最終更新的缺陷管理信息。
18.一種在記錄介質上記錄數(shù)據(jù)的方法，該方法包括檢測在缺陷管理開模式和缺陷管理關模式之間可選的缺陷管理模式的信息，在所述缺陷管理開模式中，執(zhí)行缺陷管理以管理在記錄介質上的缺陷，在所述缺陷管理關模式中，沒有執(zhí)行缺陷管理以管理在記錄介質上的缺陷；和根據(jù)選擇的缺陷管理模式來傳遞關于記錄介質的數(shù)據(jù)。
19.如權利要求18所述的方法，其中，所述檢測信息的步驟包括通過輸入裝置接收信息以確定選擇的管理模式。
20.如權利要求18所述的方法，其中，所述檢測信息的步驟包括從設備接收信息，該設備將執(zhí)行傳遞以確定選擇的缺陷管理模式。
21.如權利要求20所述的方法，其中，所述傳遞數(shù)據(jù)的步驟包括記錄數(shù)據(jù)，并且所述方法還包括如果檢測的信息是缺陷管理開模式，那么通過使用用于管理在記錄數(shù)據(jù)期間發(fā)生的缺陷的缺陷管理來記錄數(shù)據(jù)。
22.如權利要求18所述的方法，其中，所述傳遞數(shù)據(jù)的步驟包括記錄數(shù)據(jù)，并且所述方法還包括如果檢測的信息是缺陷管理關模式，那么在沒有用于管理在記錄數(shù)據(jù)期間發(fā)生的缺陷的缺陷管理的情況下記錄數(shù)據(jù)。
23.如權利要求18所述的方法，其中所述傳遞數(shù)據(jù)的步驟包括根據(jù)選擇的缺陷管理模式記錄數(shù)據(jù)；選擇的缺陷管理模式是缺陷管理開模式和缺陷管理關模式中的一種；并且該方法還包括在記錄數(shù)據(jù)之后，檢測另一缺陷管理模式，該另一缺陷管理模式選擇缺陷管理開模式和缺陷管理關模式中的另一種，和根據(jù)所述檢測的另一缺陷管理模式傳遞另外的數(shù)據(jù)。
24.如權利要求23所述的方法，其中所述記錄介質包括臨時缺陷管理區(qū)，在其中具有在記錄介質的最終確定之前的臨時缺陷信息和用于管理缺陷的臨時缺陷管理信息；以及最終缺陷管理區(qū)，其包括在記錄介質的最終確定期間記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，并且所述方法還包括在記錄數(shù)據(jù)之后并且如果所述檢測的另一缺陷管理模式是缺陷管理關模式，那么在記錄介質的最終確定之前，將臨時缺陷信息和用于記錄的數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理信息記錄在最終缺陷管理區(qū)中，和將填充數(shù)據(jù)記錄在除了臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被記錄在其中的區(qū)域之外的在最終缺陷管理區(qū)的區(qū)域中。
25.一種分配與記錄和/或再現(xiàn)設備一起使用的光學記錄介質的區(qū)域的方法，所述方法包括分配在所述光學記錄介質中連續(xù)排列的導入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導出區(qū)；分配臨時缺陷管理區(qū)，所述臨時缺陷管理區(qū)用于記錄關于數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的臨時信息和用于缺陷的管理的臨時缺陷管理信息，所述臨時缺陷管理區(qū)在導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中；和分配缺陷管理區(qū)，所述缺陷管理區(qū)用于記錄最終的關于缺陷的信息和最終的缺陷管理信息，并且所述缺陷管理區(qū)在導入?yún)^(qū)或導出區(qū)中，其中，在臨時缺陷管理區(qū)中的臨時缺陷管理信息包括缺陷管理開/關模式信息，其向記錄和/或再現(xiàn)設備指示數(shù)據(jù)將在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時被記錄在記錄介質上和數(shù)據(jù)將在沒有缺陷管理的情況下被記錄兩種情形中的一種。
26.如權利要求25所述的方法，其中，如果缺陷管理開/關模式信息向所述設備指示記錄介質被初始化為缺陷管理開模式，那么還分配用于記錄替換塊的備用區(qū)，所述備用區(qū)由該設備分配給數(shù)據(jù)區(qū)，所述替換塊以預定的記錄操作為單位替換關于在記錄介質的數(shù)據(jù)區(qū)中由該設備產生的缺陷的缺陷塊；缺陷管理區(qū)為空；并且臨時缺陷管理區(qū)進入在其中關于缺陷的信息和用于缺陷的管理的缺陷管理信息以預定的記錄操作為單位通過該設備來更新的狀態(tài)。
27.如權利要求26所述的方法，其中，如果記錄介質的備用區(qū)的大小由該設備改變并且記錄介質被重新初始化，那么關于備用區(qū)的改變的大小的信息由該設備記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。
28.如權利要求26所述的方法，其中，如果缺陷管理開/關模式信息向該設備指示記錄介質被重新初始化為缺陷管理關模式，那么指示缺陷管理關模式的信息由該設備記錄在臨時缺陷管理區(qū)中，并且在臨時缺陷管理區(qū)中最終更新的臨時缺陷管理信息由該設備記錄在缺陷管理區(qū)中。
29.如權利要求26所述的方法，其中，當記錄介質被最終確定時，指示記錄介質被最終確定的最終確定標志被記錄在臨時缺陷管理區(qū)中，在臨時缺陷管理區(qū)中最終記錄的臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)中，并且預定數(shù)據(jù)填充在其中沒有記錄數(shù)據(jù)的臨時缺陷管理區(qū)的剩余區(qū)域。
30.如權利要求25所述的方法，其中，如果缺陷管理開/關模式信息向該設備指示記錄介質被初始化為缺陷管理關模式，那么缺陷管理區(qū)為空，并且臨時缺陷管理區(qū)進入在其中根據(jù)數(shù)據(jù)區(qū)中數(shù)據(jù)的記錄的記錄管理信息以預定的記錄操作為單位由該設備更新的狀態(tài)。
31.一種分配與記錄和/或再現(xiàn)設備一起使用的記錄介質的區(qū)域的方法，所述方法包括分配數(shù)據(jù)區(qū)，對于該數(shù)據(jù)區(qū)，數(shù)據(jù)將被記錄在記錄介質上；和分配缺陷管理區(qū)，所述缺陷管理區(qū)包括在缺陷管理開模式和缺陷管理關模式之間可選的缺陷管理模式信息，在所述缺陷管理開模式中，執(zhí)行缺陷管理以管理在記錄介質上的缺陷，在所述缺陷管理關模式中，沒有執(zhí)行缺陷管理以管理在記錄介質上的缺陷，其中，根據(jù)在缺陷管理模式信息中選擇的缺陷管理開模式和缺陷管理關模式中的一種，該設備將數(shù)據(jù)傳遞到數(shù)據(jù)區(qū)。
32.如權利要求31所述的方法，其中所述缺陷管理區(qū)還包括臨時缺陷管理區(qū)，用于記錄關于在數(shù)據(jù)區(qū)中產生的缺陷的臨時缺陷信息和用于缺陷的管理的臨時缺陷管理信息；和最終缺陷管理區(qū)，用于記錄最終的關于缺陷的信息和最終的臨時缺陷管理信息，并且記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的臨時缺陷管理信息包括缺陷模式信息。
33.如權利要求32所述的方法，其中臨時缺陷管理區(qū)還包括指示記錄介質是否已經被最終確定的最終確定信息，并且如果最終確定信息向該設備指示記錄介質沒有被最終確定并且缺陷模式信息向該設備指示缺陷管理關模式的選擇，那么最終缺陷管理區(qū)被填充以防止該設備將最終的缺陷信息和最終的管理信息寫入最終缺陷管理區(qū)中。
34.如權利要求32所述的方法，其中，如果最終確定信息向該設備指示記錄介質沒有被最終確定并且缺陷模式信息向該設備指示缺陷管理關模式的選擇，那么最終缺陷管理區(qū)包括在缺陷管理關模式的選擇之前最后記錄的臨時缺陷信息和最后記錄的被記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的臨時缺陷管理信息。
35.如權利要求32所述的方法，其中，如果最終確定信息向該設備指示記錄介質沒有被最終確定并且缺陷模式信息向該設備指示缺陷管理關模式的選擇，那么最終的缺陷管理信息區(qū)不包括臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。
全文摘要
一種由設備使用和/或在計算機可讀介質上編碼的記錄方法，包括選擇缺陷管理開模式或缺陷管理關模式，所述缺陷管理開模式或缺陷管理關模式指示在數(shù)據(jù)被記錄在記錄介質中的同時缺陷管理是否將被執(zhí)行；如果缺陷管理開模式被選擇，那么在對記錄介質執(zhí)行缺陷管理的同時將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質中；以及如果缺陷管理關模式被選擇，那么在沒有缺陷管理的情況下將數(shù)據(jù)記錄在該記錄介質中。
文檔編號G11B20/18GK101079272SQ200710126968
公開日2007年11月28日 申請日期2004年4月14日 優(yōu)先權日2003年4月15日
發(fā)明者黃盛凞, 高禎完 申請人:三星電子株式會社