專利名稱：：檢測(cè)缺陷光盤片的裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種檢測(cè)缺陷光盤片的裝置與方法，特別涉及利用波浪信號(hào)(WobbleSignal)來(lái)檢測(cè)缺陷光盤片的裝置與方法。
背景技術(shù)：
：請(qǐng)參照?qǐng)D1，其為一光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)示意圖，其中該光驅(qū)(opticaldiscdrive)主要具有一光學(xué)讀寫(xiě)頭(opticalpickuphead，簡(jiǎn)稱PUH)10，而光盤片110上有一個(gè)中心孔洞(centerhole)可固定于旋轉(zhuǎn)盤(turntable)122上并受一主軸馬達(dá)(spindlemotor)120的帶動(dòng)而旋轉(zhuǎn)。而光學(xué)讀寫(xiě)頭10可經(jīng)由驅(qū)動(dòng)器180產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)控制力用以使得光學(xué)讀寫(xiě)頭10產(chǎn)生徑向的移動(dòng)以及聚焦方向的移動(dòng)。而光學(xué)讀寫(xiě)頭10對(duì)光盤片110上進(jìn)行存取時(shí)產(chǎn)生微弱電信號(hào)，該電信號(hào)由前級(jí)放大器(pre-amplifier)150處理后可輸出一組伺服誤差信號(hào)(servoerrorsignal)，例如一射頻信號(hào)(Radio-Frequencysignal、RF)、次光加總信號(hào)(sub-beamaddedsignal、SBAD)、波浪信號(hào)(wobblesignal)、循軌誤差信號(hào)(trackingerrorsignal、TE)與聚焦誤差信號(hào)(Focusingerrorsignal、FE)等。之后，該組伺服誤差信號(hào)再輸入后端的控制器170(controller)進(jìn)行處理與運(yùn)用。根據(jù)該組伺服誤差信號(hào)，控制器170就可輸出一組伺服控制信號(hào)至驅(qū)動(dòng)器180。而該組伺服控制信號(hào)至少包括一循軌控制信號(hào)(trackingcontrolsignal)與一聚焦控制信號(hào)(focusingcontrolsignal)。此外，驅(qū)動(dòng)器180中至少包括循軌線圈(trackingcoil)與聚焦線圈(focusingcoil)，當(dāng)循軌控制信號(hào)輸入至循軌線圈時(shí)就可產(chǎn)生徑向驅(qū)動(dòng)控制力用以驅(qū)動(dòng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭10進(jìn)行光盤片徑向的細(xì)微移動(dòng)；而聚焦控制信號(hào)輸入至聚焦線圈時(shí)就可產(chǎn)生聚焦方向驅(qū)動(dòng)控制力用以驅(qū)動(dòng)光學(xué)讀寫(xiě)頭10進(jìn)行聚焦方向的移動(dòng)。因此，在正常運(yùn)作之下，徑向驅(qū)動(dòng)控制力與聚焦方向驅(qū)動(dòng)控制力可使光學(xué)讀寫(xiě)頭10維持在適當(dāng)?shù)木劢刮恢貌⒀毓獗P片的軌道移動(dòng)。然而，由于光盤片工藝的瑕疵或者光盤片的刮傷都會(huì)導(dǎo)致光盤片的缺陷。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭10在讀取光盤片的過(guò)程中遇到光盤片上的缺陷區(qū)域時(shí)，前級(jí)放大器150輸出的伺服誤差信號(hào)會(huì)不正常，因此，控制器170也會(huì)產(chǎn)生不正常的伺服控制信號(hào)并導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器180無(wú)法正確地控制光學(xué)讀寫(xiě)頭10，使得光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)呈現(xiàn)不穩(wěn)定的狀況。當(dāng)伺服控制系統(tǒng)不穩(wěn)定時(shí)，光學(xué)讀寫(xiě)頭10就可能產(chǎn)生聚焦失敗(focusingfail)或者滑軌(offtrack)，并進(jìn)而導(dǎo)致光盤片的數(shù)據(jù)無(wú)法存取或者數(shù)據(jù)存取錯(cuò)誤。此外，光驅(qū)的控制器170中都包含一增益自動(dòng)控制器(autogaincontroller，AGC)，用以動(dòng)態(tài)的調(diào)整波浪信號(hào)的增益。然而，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭10在讀取光盤片的過(guò)程中遇到光盤片上的缺陷區(qū)域時(shí)，增益自動(dòng)控制器會(huì)因?yàn)椴ɡ诵盘?hào)太小而不斷地增加波浪信號(hào)的增益值，因而導(dǎo)致光驅(qū)的誤動(dòng)作。此外，美國(guó)專利申請(qǐng)?jiān)缙诠_(kāi)第US2005/0265170號(hào)公開(kāi)一種光盤片上缺陷區(qū)塊的確定方法。該方法比較次光加總信號(hào)(SBAD)與經(jīng)過(guò)低通濾波器之后的次光加總信號(hào)(SBADLow_Pass)，當(dāng)兩信號(hào)相減的絕對(duì)值超過(guò)一臨界值(threshold)時(shí)，該區(qū)域就被確定為缺陷區(qū)域。請(qǐng)參照?qǐng)D2，其為公知光驅(qū)檢測(cè)光盤片缺陷的信號(hào)示意圖。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭發(fā)射的光束沿著光盤片軌道存取數(shù)據(jù)時(shí)，假設(shè)軌道上出現(xiàn)亮缺陷(brightdefect)時(shí)，例如反射率太強(qiáng)的區(qū)域，次光加總信號(hào)(SBAD)會(huì)快速上升而經(jīng)過(guò)低通濾波器之后的次光加總信號(hào)(SBADLow_Pass)會(huì)緩慢上升，當(dāng)兩信號(hào)相減的絕對(duì)值超過(guò)M值時(shí)，控制器170的缺陷信號(hào)(DEFECT)會(huì)產(chǎn)生一第一電平(例如高電平)，并且直到所述兩信號(hào)相減的絕對(duì)值低于M值時(shí)，缺陷信號(hào)(DEFECT)才會(huì)恢復(fù)為一第二電平(例如低電平)。同理，假設(shè)軌道上出現(xiàn)暗缺陷(darkdefect)時(shí)，例如刮傷的區(qū)域，則次光加總信號(hào)(SBAD)會(huì)快速下降而經(jīng)過(guò)低通濾波器之后的次光加總信號(hào)(SBADLow_Pass)會(huì)緩慢下降，當(dāng)兩信號(hào)相減的絕對(duì)值超過(guò)M值時(shí)，控制器170的缺陷信號(hào)(DEFECT)會(huì)產(chǎn)生一第一電平，并且直到所述兩信號(hào)相減的絕對(duì)值低于M值時(shí)，缺陷信號(hào)(DEFECT)才會(huì)恢復(fù)為一第二電平。而利用該缺陷信號(hào)，驅(qū)動(dòng)器180可實(shí)時(shí)調(diào)整驅(qū)動(dòng)控制力使得光驅(qū)避免產(chǎn)生聚焦失敗或者滑軌。此外，利用射頻信號(hào)(RF)也可以確定光盤片上的缺陷區(qū)塊。請(qǐng)參照?qǐng)D3，其為公知光驅(qū)檢測(cè)光盤片缺陷的信號(hào)示意圖。該方法是判斷經(jīng)過(guò)高通處理器后的射頻信號(hào)(RFHigh_Pass)。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭發(fā)射的光束沿著光盤片軌道存取數(shù)據(jù)時(shí)，假設(shè)軌道為缺陷區(qū)域時(shí)，經(jīng)過(guò)高通處理器后的射頻信號(hào)(RFHigh_Pass)會(huì)突然下降，此時(shí)控制器170的缺陷信號(hào)會(huì)產(chǎn)生第一電平(例如高電平)，并且直到經(jīng)過(guò)高通處理器后的射頻信號(hào)(RFHigh_Pass)恢復(fù)正常時(shí)缺陷信號(hào)才會(huì)恢復(fù)為第二電平(例如低電平)。而利用該缺陷信號(hào)，驅(qū)動(dòng)器180可實(shí)時(shí)調(diào)整驅(qū)動(dòng)控制力使得光驅(qū)避免產(chǎn)生聚焦失敗或者滑軌。上述的缺陷區(qū)域確定方法都是利用激光束反射的能量加總的大小來(lái)確定光盤片的缺陷區(qū)域。然而，當(dāng)光盤片在制造時(shí)出現(xiàn)軌道形變?nèi)毕輹r(shí)，由于光驅(qū)存取光盤片時(shí)激光束反射的能量加總的大小無(wú)明顯的變化，會(huì)使得光驅(qū)無(wú)法檢測(cè)出軌道形變?nèi)毕菔沟霉怛?qū)無(wú)法對(duì)光學(xué)讀寫(xiě)頭進(jìn)行控制，并可能產(chǎn)生聚焦失敗或者滑軌并進(jìn)而導(dǎo)致光盤片的數(shù)據(jù)無(wú)法存取或者數(shù)據(jù)存取錯(cuò)誤。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提出一種檢測(cè)缺陷光盤片的裝置與方法，用以檢測(cè)光盤片上的軌道形變?nèi)毕荩沟霉怛?qū)避免產(chǎn)生聚焦失敗或者滑軌。本發(fā)明提出一種檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，該裝置包括一主軸馬達(dá)，用以旋轉(zhuǎn)一光盤片；一光學(xué)讀寫(xiě)頭，可存取該光盤片并經(jīng)由一組驅(qū)動(dòng)控制力來(lái)控制該光學(xué)讀寫(xiě)頭，進(jìn)行一徑向移動(dòng)以及一聚焦方向移動(dòng)；一前級(jí)放大器，連接至該光學(xué)讀寫(xiě)頭，用以接收該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取該光盤片時(shí)所產(chǎn)生的電信號(hào)并產(chǎn)生一組伺服誤差信號(hào)，其中該組伺服誤差信號(hào)至少包括一波浪信號(hào)；一控制器，連接至該前級(jí)放大器，用以根據(jù)該組伺服誤差信號(hào)產(chǎn)生一組伺服控制信號(hào)；一驅(qū)動(dòng)器，連接至該控制器，用以根據(jù)該組伺服控制信號(hào)產(chǎn)生該組驅(qū)動(dòng)控制力；以及一軌道缺陷檢測(cè)器，連接至該前級(jí)放大器，用以接收該波浪信號(hào)并根據(jù)該波浪信號(hào)來(lái)確定該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置是否為一缺陷區(qū)域，并且該軌道缺陷檢測(cè)器檢測(cè)出該缺陷區(qū)域時(shí)，產(chǎn)生一軌道缺陷信號(hào)至該控制器，使得該控制器可根據(jù)該軌道缺陷信號(hào)而維持該組伺服控制信號(hào)或者維持該波浪信號(hào)的一增益值。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該組驅(qū)動(dòng)控制力包括一徑向驅(qū)動(dòng)控制力與一聚焦方向驅(qū)動(dòng)控制力。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該組伺服誤差信號(hào)還包括一射頻信號(hào)、一次光加總信號(hào)、一循軌誤差信號(hào)與一聚焦誤差信號(hào)。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該組伺服控制信號(hào)包括一循軌控制信號(hào)與一聚焦控制信號(hào)。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中當(dāng)該控制器維持該組伺服控制信號(hào)時(shí)，該驅(qū)動(dòng)器會(huì)維持該組驅(qū)動(dòng)控制力不變。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該缺陷區(qū)域?yàn)橐卉壍佬巫內(nèi)毕輩^(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該軌道缺陷檢測(cè)器產(chǎn)生該軌道缺陷信號(hào)時(shí)，該控制器可維持該波浪信號(hào)的一增益值。本發(fā)明還提出一種檢測(cè)缺陷光盤片的方法，該方法包括下列步驟確定一光學(xué)讀取頭在一鎖軌狀態(tài)存取一軌道上的數(shù)據(jù)；切割模擬的一波浪信號(hào)成為數(shù)字的一波浪時(shí)鐘信號(hào)；根據(jù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)確定該軌道是否為一缺陷區(qū)域；以及當(dāng)該軌道確定為該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該光學(xué)讀寫(xiě)頭的位置不變或者維持該波浪信號(hào)的一增益值。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中確定該軌道是否為該缺陷區(qū)域的步驟還包括在一第一時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)脈沖數(shù)目；以及當(dāng)所述多個(gè)脈沖數(shù)目的一第一計(jì)數(shù)值小于一第一臨界值時(shí)，判斷該軌道為該缺陷區(qū)域，否則，判斷該軌道不為該缺陷區(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域時(shí)，當(dāng)該第一計(jì)數(shù)值大于一第二臨界值時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域，其中該第二臨界值大于等于該第一臨界值。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域超過(guò)一第二時(shí)間時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中確定該軌道是否為該缺陷區(qū)域的步驟還包括在一第三時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)不合格脈沖寬度；以及當(dāng)所述多個(gè)不合格脈沖寬度的一第二計(jì)數(shù)值大于一第三臨界值時(shí)，判斷該軌道為該缺陷區(qū)域，否則，判斷該軌道不為該缺陷區(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域時(shí)，當(dāng)該第二計(jì)數(shù)值小于一第四臨界值時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域，其中該第三臨界值大于等于該第四臨界值。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域超過(guò)一第四時(shí)間時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中還包括當(dāng)該軌道確定位于該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該波浪信號(hào)的一增益值。因此，本發(fā)明還提出一種檢測(cè)缺陷光盤片的方法，包括下列步驟確定一光學(xué)讀取頭在一鎖軌狀態(tài)存取一軌道上的數(shù)據(jù)；根據(jù)模擬的一波浪信號(hào)的一峰對(duì)峰值確定該軌道是否為一缺陷區(qū)域；以及當(dāng)該軌道確定為該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該光學(xué)讀寫(xiě)頭的位置不變或者維持該波浪信號(hào)的一增益值。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中確定該軌道是否為該缺陷區(qū)域步驟還包括當(dāng)該峰對(duì)峰值小于一第五臨界值時(shí)，判斷該軌道為該缺陷區(qū)域，否則判斷該軌道不為該缺陷區(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域時(shí)，當(dāng)該峰對(duì)峰值大于一第六臨界值時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域，其中該第六臨界值大于等于該第五臨界值。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域超過(guò)一第五時(shí)間時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。本發(fā)明所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中還包括當(dāng)該軌道確定位于該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該波浪信號(hào)的一增益值。為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明特征及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，然而附圖僅提供參考與說(shuō)明，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制，其中圖1為一光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)示意圖。圖2為公知光驅(qū)檢測(cè)光盤片缺陷的信號(hào)示意圖。圖3為公知光驅(qū)檢測(cè)光盤片缺陷的信號(hào)示意圖。圖4為具有軌道形變?nèi)毕莸墓獗P片示意圖。圖5為本發(fā)明一光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)示意圖。圖6為波浪信號(hào)、波浪時(shí)鐘信號(hào)、軌道缺陷信號(hào)、循軌控制信號(hào)、聚焦控制信號(hào)與波浪信號(hào)增益值之間的關(guān)系。圖7為本發(fā)明檢測(cè)軌道缺陷方法的第一實(shí)施例。圖8為本發(fā)明檢測(cè)軌道缺陷方法的第二實(shí)施例。圖9為本發(fā)明檢測(cè)軌道缺陷方法的第三實(shí)施例。其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下10光學(xué)讀寫(xiě)頭110光盤片120主軸馬達(dá)122旋轉(zhuǎn)盤150前級(jí)放大器170控制器180驅(qū)動(dòng)器190光盤片195軌道形變?nèi)毕?10光學(xué)讀寫(xiě)頭515光盤片520主軸馬達(dá)522旋轉(zhuǎn)盤550前級(jí)放大器555軌道缺陷檢測(cè)器570控制器580驅(qū)動(dòng)器具體實(shí)施方式請(qǐng)參照?qǐng)D4，其為具有軌道形變?nèi)毕莸墓獗P片示意圖。理想上，光盤片的軌道是由內(nèi)而外的螺旋狀(spiral)軌道，由于光盤片的制造瑕疵會(huì)導(dǎo)致光盤片190上形成軌道形變?nèi)毕?95。當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭所發(fā)出的激光束經(jīng)過(guò)該軌道形變?nèi)毕?95時(shí)，次光加總信號(hào)(SBAD)與射頻信號(hào)(RF)不會(huì)產(chǎn)生明顯的變化，因此，光驅(qū)的控制器無(wú)法由經(jīng)過(guò)低通濾波器之后的次光加總信號(hào)(SBADLow_Pass)或者經(jīng)過(guò)高通處理器后的射頻信號(hào)(RFHigh_Pass)來(lái)檢測(cè)出該軌道形變?nèi)毕?95。因此，本發(fā)明提出一種利用波浪信號(hào)來(lái)檢測(cè)缺陷光盤片的裝置與方法，用以檢測(cè)出光盤片上的軌道形變?nèi)毕?。也就是說(shuō)，本發(fā)明是根據(jù)波浪信號(hào)的變化來(lái)確定光學(xué)讀寫(xiě)頭所在的位置是否為光盤片上的缺陷區(qū)域。請(qǐng)參照?qǐng)D5，其為本發(fā)明一光驅(qū)的伺服控制系統(tǒng)示意圖，其中該光驅(qū)主要具有一光學(xué)讀寫(xiě)頭510，而光盤片515上有一個(gè)中心孔洞可固定于旋轉(zhuǎn)盤522上并受一主軸馬達(dá)520的帶動(dòng)而旋轉(zhuǎn)。而光學(xué)讀寫(xiě)頭510可經(jīng)由驅(qū)動(dòng)器580產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)控制力，用以使得光學(xué)讀寫(xiě)頭510可以產(chǎn)生徑向的移動(dòng)以及聚焦方向的移動(dòng)。而光學(xué)讀寫(xiě)頭510對(duì)光盤片515上進(jìn)行存取時(shí)產(chǎn)生微弱電信號(hào)，該電信號(hào)由前級(jí)放大器550處理后可輸出一組伺服誤差信號(hào)，例如一射頻信號(hào)(RF)、次光加總信號(hào)(SBAD)、波浪信號(hào)、循軌誤差信號(hào)(TE)與聚焦誤差信號(hào)(FE)等。之后，該組伺服誤差信號(hào)再輸入后端的控制器570進(jìn)行處理與運(yùn)用。根據(jù)該組伺服誤差信號(hào)，控制器570就可輸出一組伺服控制信號(hào)至驅(qū)動(dòng)器580。而該組伺服控制信號(hào)至少包括一循軌控制信號(hào)與一聚焦控制信號(hào)。此外，驅(qū)動(dòng)器580中至少包括循軌線圈與聚焦線圈，當(dāng)循軌控制信號(hào)輸入至循軌線圈時(shí)就可產(chǎn)生徑向驅(qū)動(dòng)控制力，用以驅(qū)動(dòng)該光學(xué)讀寫(xiě)頭510進(jìn)行光盤片徑向的細(xì)微移動(dòng)；而聚焦控制信號(hào)輸入至聚焦線圈時(shí)就可產(chǎn)生聚焦方向驅(qū)動(dòng)控制力，用以驅(qū)動(dòng)光學(xué)讀寫(xiě)頭510進(jìn)行聚焦方向的移動(dòng)。因此，在正常運(yùn)作之下，徑向驅(qū)動(dòng)控制力與聚焦方向驅(qū)動(dòng)控制力可使光學(xué)讀寫(xiě)頭510維持在適當(dāng)?shù)木劢刮恢貌⒀毓獗P片的軌道移動(dòng)。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，在光驅(qū)中加入一軌道缺陷檢測(cè)器555，用以接收該前級(jí)放大器所輸出的波浪信號(hào)，并根據(jù)波浪信號(hào)來(lái)確定光學(xué)讀寫(xiě)頭510存取的軌道是否出現(xiàn)軌道變形缺陷。當(dāng)軌道缺陷檢測(cè)器555檢測(cè)出軌道變形缺陷時(shí)，該軌道缺陷檢測(cè)器555會(huì)輸出一軌道缺陷信號(hào)至控制器570。此外，當(dāng)控制器570接收到該軌道缺陷信號(hào)時(shí)，該控制器570不再根據(jù)該組伺服誤差信號(hào)來(lái)輸出相對(duì)應(yīng)的伺服控制信號(hào)組至驅(qū)動(dòng)器580，而是維持該組伺服控制信號(hào)，使得該組伺服控制信號(hào)不會(huì)隨著錯(cuò)誤的該組伺服誤差信號(hào)而產(chǎn)生聚焦失敗或者滑軌，進(jìn)而導(dǎo)致光盤片的數(shù)據(jù)無(wú)法存取或者數(shù)據(jù)存取錯(cuò)誤。此外，當(dāng)控制器570接收到該軌道缺陷信號(hào)時(shí)，該控制器570的增益自動(dòng)控制器不再自動(dòng)調(diào)整波浪信號(hào)的增益值而是維持原來(lái)的增益值，使得光驅(qū)不會(huì)產(chǎn)生誤動(dòng)作。請(qǐng)參照?qǐng)D6，其為波浪信號(hào)、波浪時(shí)鐘(wobbleclock)信號(hào)、軌道缺陷信號(hào)、循軌控制信號(hào)、聚焦控制信號(hào)與波浪信號(hào)的增益值之間的關(guān)系。由于波浪信號(hào)為模擬信號(hào)，因此利用一參考電平將該波浪信號(hào)進(jìn)行切割(slice)，可以得到數(shù)字的一波浪時(shí)鐘信號(hào)。此外，根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例利用該波浪信號(hào)或者該波浪時(shí)鐘信號(hào)就可確定光盤片的缺陷區(qū)域。由圖6可知，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭在鎖軌(trackon)狀態(tài)進(jìn)行軌道數(shù)據(jù)的存取時(shí)，在正常軌道上讀取時(shí)前級(jí)放大器550輸出的波浪信號(hào)為弦波式的信號(hào)；反之，在形變軌道上讀取時(shí)，前級(jí)放大器550無(wú)法輸出正常弦波式的信號(hào)。因此，軌道缺陷檢測(cè)器555就可利用波浪信號(hào)或者波浪時(shí)鐘信號(hào)來(lái)確定此時(shí)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的軌道為缺陷區(qū)域并產(chǎn)生一第一電平(例如高電平)的軌道缺陷信號(hào)，并且直到波浪信號(hào)恢復(fù)為弦波式的信號(hào)時(shí)軌道缺陷信號(hào)才會(huì)恢復(fù)為一第二電平(例如低電平)。此外，當(dāng)控制器570接收到該第一電平的軌道缺陷信號(hào)時(shí)，該控制器570維持該組伺服控制信號(hào)不變，也就是說(shuō)維持循軌控制信號(hào)與聚焦控制信號(hào)，使得驅(qū)動(dòng)器280維持光學(xué)讀寫(xiě)頭現(xiàn)在的聚焦位置以及循軌位置。當(dāng)軌道缺陷信號(hào)恢復(fù)為第二電平時(shí)，該控制器570才會(huì)再次根據(jù)該組伺服誤差信號(hào)產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的伺服控制信號(hào)組。請(qǐng)參照?qǐng)D7，其為本發(fā)明檢測(cè)軌道缺陷方法的第一實(shí)施例。首先，在S710確定光學(xué)讀取頭在鎖軌狀態(tài)存取軌道上的數(shù)據(jù)，接著在S720使能(enable)軌道缺陷檢測(cè)器。此時(shí)，在S730軌道缺陷檢測(cè)器可切割(slice)模擬的波浪信號(hào)成為數(shù)字的一波浪時(shí)鐘信號(hào)。接著，在S740以一第一時(shí)間為單位持續(xù)地計(jì)數(shù)(count)該波浪時(shí)鐘信號(hào)的脈沖(pulse)數(shù)目成為一第一數(shù)值。接著，在S750比較第一數(shù)值與第一臨界值的關(guān)系。當(dāng)該第一數(shù)值大于該第一臨界值時(shí)，代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置并無(wú)軌道缺陷發(fā)生，因此，繼續(xù)進(jìn)行S750比較的步驟。當(dāng)該第一數(shù)值小于該第一臨界值時(shí)，代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置進(jìn)入缺陷區(qū)域，此時(shí)，在S760軌道缺陷檢測(cè)器輸出一第一電平(例如高電平)。接著，在S770進(jìn)行軌道缺陷區(qū)域判斷的步驟。當(dāng)?shù)谝浑娖捷敵龅臅r(shí)間超過(guò)一第二時(shí)間或者第一數(shù)值大于一第二臨界值時(shí)，可視為光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置離開(kāi)該缺陷區(qū)域，因此在S780軌道缺陷檢測(cè)器輸出一第二電平(例如低電平)。相反地，當(dāng)?shù)谝浑娖捷敵龅臅r(shí)間還未超過(guò)一第二時(shí)間以及第一數(shù)值小于該第二臨界值時(shí)，可視為光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置還未離開(kāi)該缺陷區(qū)域，因此回到判斷步驟S770。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，利用光驅(qū)控制芯片以一第一時(shí)間為單位持續(xù)地計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)的脈波數(shù)目并將計(jì)數(shù)值持續(xù)地更新于控制芯片的緩存器中，也就是說(shuō)，每隔該第一時(shí)間緩存器就會(huì)更新最新的脈波數(shù)目。因此，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置并非為缺陷區(qū)域時(shí)，波浪信號(hào)的頻率會(huì)維持在一特定頻率附近，因此波浪時(shí)鐘信號(hào)的頻率也會(huì)維持在該特定頻率附近。反之，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置為缺陷區(qū)域時(shí)，波浪信號(hào)的頻率會(huì)下降且無(wú)法維持在該特定頻率附近，因此波浪時(shí)鐘信號(hào)的頻率也會(huì)下降。利用上述特性，可根據(jù)波浪時(shí)鐘信號(hào)的脈沖數(shù)目來(lái)判斷光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置是否位于缺陷區(qū)域，也就是說(shuō)，在S750步驟中，當(dāng)?shù)谝粩?shù)值大于第一臨界值時(shí)，即代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置不是缺陷區(qū)域。相反地，當(dāng)?shù)谝粩?shù)值小于第一臨界值時(shí)，即代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置為缺陷區(qū)域。此外，為了防止缺陷檢測(cè)器的誤動(dòng)作，該第二臨界值大于該第一臨界值，也就是說(shuō)，必須確定第一數(shù)值已經(jīng)到達(dá)該第二臨界值時(shí)方可確定該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。請(qǐng)參照?qǐng)D8，其為本發(fā)明檢測(cè)軌道缺陷方法的第二實(shí)施例。首先，在S810確定光學(xué)讀取頭于鎖軌狀態(tài)存取軌道上的數(shù)據(jù)，接著在S820使能(enable)軌道缺陷檢測(cè)器。此時(shí)，在S830軌道缺陷檢測(cè)器可切割模擬的波浪信號(hào)成為數(shù)字的波浪時(shí)鐘信號(hào)。接著，在S840以一第三時(shí)間為單位持續(xù)地計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)中的不合格脈沖寬度的數(shù)目成為一第二數(shù)值。接著，在S850比較第二數(shù)值與第三臨界值的關(guān)系。當(dāng)該第二數(shù)值小于第三臨界值時(shí)，代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置非缺陷區(qū)域，因此，繼續(xù)進(jìn)行S850比較的步驟。當(dāng)該第二數(shù)值大于該第三臨界值時(shí)，代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置進(jìn)入缺陷區(qū)域，此時(shí)，在S860軌道缺陷檢測(cè)器輸出一第一電平(例如高電平)。接著，在S870進(jìn)行軌道缺陷區(qū)域判斷的步驟。當(dāng)?shù)谝浑娖捷敵龅臅r(shí)間超過(guò)一第四時(shí)間或者第二數(shù)值小于一第四臨界值時(shí)，可視為光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置離開(kāi)缺陷區(qū)域，因此在S880軌道缺陷檢測(cè)器輸出一第二電平(例如低電平)。相反地，當(dāng)?shù)谝浑娖捷敵龅臅r(shí)間還未超過(guò)一第四時(shí)間以及第二數(shù)值大于第四臨界值時(shí)，可視為光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置還未離開(kāi)缺陷區(qū)域，因此回到判斷步驟S870。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，利用光驅(qū)控制芯片以一第三時(shí)間為單位持續(xù)地計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)中不合格脈沖寬度數(shù)目并將計(jì)數(shù)值持續(xù)地更新于控制芯片的緩存器中，也就是說(shuō)，每隔該第三時(shí)間緩存器就會(huì)更新最新的不合格脈沖寬度數(shù)目。因此，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置并無(wú)軌道缺陷發(fā)生時(shí)，波浪信號(hào)的頻率與振幅會(huì)維持在一特定頻率與一特定振幅附近，因此，經(jīng)過(guò)切割后的波浪時(shí)鐘信號(hào)的脈沖寬度會(huì)維持在一特定脈沖寬度附近。反之，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置為軌道缺陷區(qū)域時(shí)，波浪信號(hào)的頻率與振幅會(huì)下降，因此波浪時(shí)鐘信號(hào)的脈沖寬度不會(huì)維持在該特定脈沖寬度附近，此時(shí)的脈沖寬度可能太寬或者太窄，也就是說(shuō)，這類的脈沖就被視為不合格脈沖寬度。利用上述特性，可根據(jù)不合格脈沖寬度的脈沖數(shù)目來(lái)確定光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置是否為軌道缺陷區(qū)域，也就是說(shuō)，在S850步驟中，當(dāng)?shù)诙?shù)值小于第三臨界值時(shí)，即代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置不是缺陷區(qū)域。相反地，當(dāng)?shù)诙?shù)值大于第三臨界值時(shí)，即代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置為缺陷區(qū)域。此外，為了防止缺陷檢測(cè)器的誤動(dòng)作，該第三臨界值大于該第四臨界值，也就是說(shuō)，必須確定第二數(shù)值已經(jīng)低于該第四臨界值時(shí)才可確定該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。請(qǐng)參照?qǐng)D9，其為本發(fā)明檢測(cè)軌道缺陷方法的第三實(shí)施例。首先，在S910確定光學(xué)讀取頭在鎖軌狀態(tài)存取軌道上的數(shù)據(jù)，接著在S920使能(enable)軌道缺陷檢測(cè)器。這時(shí)，在S930軌道缺陷檢測(cè)器可持續(xù)地測(cè)量模擬波浪信號(hào)的一峰對(duì)峰值(picktopickvalue)。當(dāng)該峰對(duì)峰值大于一第五臨界值時(shí)，代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置并非位于缺陷區(qū)域，因此，繼續(xù)進(jìn)行S940比較的步驟。當(dāng)該峰對(duì)峰值小于該第五臨界值時(shí)，代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置進(jìn)入缺陷區(qū)域，這時(shí)，在S950軌道缺陷檢測(cè)器輸出一第一電平(例如高電平)。接著，進(jìn)行軌道缺陷區(qū)域判斷的步驟S960。當(dāng)?shù)谝浑娖捷敵龅臅r(shí)間超過(guò)一第五時(shí)間或者該峰對(duì)峰值大于一第六臨界值時(shí)，可視為光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置離開(kāi)缺陷區(qū)域，因此在S970軌道缺陷檢測(cè)器輸出一第二電平(例如低電平)。相反地，當(dāng)?shù)谝浑娖捷敵龅臅r(shí)間還未超過(guò)一第五時(shí)間以及該峰對(duì)峰值小于第六臨界值時(shí)，可視為光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置還未離開(kāi)缺陷區(qū)域，因此回到判斷步驟S960。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，利用光驅(qū)控制芯片來(lái)檢測(cè)波浪信號(hào)的峰對(duì)峰值并將峰對(duì)峰值持續(xù)地更新于控制芯片的緩存器中。因此，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置并無(wú)軌道缺陷發(fā)生時(shí)，波浪信號(hào)的頻率與振幅會(huì)維持在一特定頻率與一特定振幅附近。反之，當(dāng)光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置為軌道缺陷區(qū)域時(shí)，波浪信號(hào)的頻率與振幅會(huì)下降。利用上述特性，可根據(jù)模擬的波浪信號(hào)的峰對(duì)峰值來(lái)確定光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置是否為缺陷區(qū)域，也就是說(shuō)，在S940步驟中，當(dāng)峰對(duì)峰值大于第五臨界值時(shí)，即代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置不是缺陷區(qū)域。相反地，當(dāng)峰對(duì)峰值小于第五臨界值時(shí)，即代表光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置為缺陷區(qū)域。此外，為了防止缺陷檢測(cè)器的誤動(dòng)作，該第六臨界值大于該第五臨界值，也就是說(shuō)，必須確定峰對(duì)峰值已經(jīng)到達(dá)該第六臨界值時(shí)才可確定該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。此外，由于光驅(qū)判斷光學(xué)讀取頭處于鎖軌狀態(tài)的方式有很多種，本發(fā)明并未限定光驅(qū)根據(jù)何種方法來(lái)確定光學(xué)讀取頭處于鎖軌狀態(tài)。舉例來(lái)說(shuō)，光驅(qū)控制芯片中有一鎖軌信號(hào)(trackonsignal)，最常用的方式就是根據(jù)鎖軌信號(hào)來(lái)確定光學(xué)讀取頭是否處于鎖軌狀態(tài)?；蛘?，將模擬的該波浪信號(hào)進(jìn)行譯碼用以獲得該波浪信號(hào)中的同步圖樣(synchronouspattern)，當(dāng)該波浪信號(hào)可連續(xù)譯碼出多個(gè)同步圖樣時(shí)，也可以判斷光學(xué)讀取頭正處于鎖軌狀態(tài)?；蛘?，比較波浪時(shí)鐘信號(hào)以及光驅(qū)中的參考時(shí)鐘信號(hào)(referenceclock)之間的頻率關(guān)系也可以作為確認(rèn)光學(xué)讀取頭正處于鎖軌狀態(tài)與否的方式。因此，本發(fā)明根據(jù)波浪信號(hào)來(lái)確定光盤讀取頭所在的位置是否位于缺陷區(qū)域，使得光驅(qū)可以檢測(cè)出軌道形變?nèi)毕莶⒓皶r(shí)對(duì)光學(xué)讀寫(xiě)頭進(jìn)行控制，并可以有效解決光驅(qū)的誤動(dòng)作以及聚焦失敗或者滑軌。綜上所述，雖然本發(fā)明已公開(kāi)優(yōu)選實(shí)施例，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉該項(xiàng)技術(shù)的人，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可以作各種變動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所附的權(quán)利要求書(shū)的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。權(quán)利要求1.一種檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，包括一主軸馬達(dá)，用以旋轉(zhuǎn)一光盤片；一光學(xué)讀寫(xiě)頭，可存取該光盤片并經(jīng)由一組驅(qū)動(dòng)控制力來(lái)控制該光學(xué)讀寫(xiě)頭進(jìn)行一徑向移動(dòng)以及一聚焦方向移動(dòng)；一前級(jí)放大器，連接至該光學(xué)讀寫(xiě)頭，用以接收該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取該光盤片時(shí)所產(chǎn)生的電信號(hào)，進(jìn)而產(chǎn)生一組伺服誤差信號(hào)，其中該組伺服誤差信號(hào)至少包括一波浪信號(hào)；一控制器，連接至該前級(jí)放大器，用以根據(jù)該組伺服誤差信號(hào)產(chǎn)生一組伺服控制信號(hào)；一驅(qū)動(dòng)器，連接至該控制器，用以根據(jù)該組伺服控制信號(hào)產(chǎn)生該組驅(qū)動(dòng)控制力；以及一軌道缺陷檢測(cè)器，連接至該前級(jí)放大器，用以根據(jù)該波浪信號(hào)來(lái)確定該光學(xué)讀寫(xiě)頭存取的位置是否為一缺陷區(qū)域，其中若該軌道缺陷檢測(cè)器檢測(cè)出該缺陷區(qū)域時(shí)，產(chǎn)生一軌道缺陷信號(hào)至該控制器，進(jìn)而使得該控制器維持該組伺服控制信號(hào)。2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該組驅(qū)動(dòng)控制力包括一徑向驅(qū)動(dòng)控制力與一聚焦方向驅(qū)動(dòng)控制力。3.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該組伺服誤差信號(hào)還包括一射頻信號(hào)、一次光加總信號(hào)、一循軌誤差信號(hào)與一聚焦誤差信號(hào)。4.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該組伺服控制信號(hào)包括一循軌控制信號(hào)與一聚焦控制信號(hào)。5.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中當(dāng)該控制器維持該組伺服控制信號(hào)時(shí)，該驅(qū)動(dòng)器會(huì)維持該組驅(qū)動(dòng)控制力不變。6.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該缺陷區(qū)域?yàn)橐卉壍佬巫內(nèi)毕輩^(qū)域。7.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)缺陷光盤片的裝置，其中該軌道缺陷檢測(cè)器產(chǎn)生該軌道缺陷信號(hào)時(shí)，該控制器可維持該波浪信號(hào)的一增益值。8.一種檢測(cè)缺陷光盤片的方法，包括下列步驟確定一光學(xué)讀取頭在一鎖軌狀態(tài)存取一軌道上的數(shù)據(jù)；切割一波浪信號(hào)成為一波浪時(shí)鐘信號(hào)；根據(jù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)確定該軌道是否為一缺陷區(qū)域；以及當(dāng)該軌道確定位于該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該光學(xué)讀寫(xiě)頭的位置不變。9.如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中確定該軌道是否為該缺陷區(qū)域的步驟還包括在一第一時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)脈沖數(shù)目；以及當(dāng)所述多個(gè)脈沖數(shù)目的一第一計(jì)數(shù)值小于一第一臨界值時(shí)，判斷該軌道為該缺陷區(qū)域，否則，判斷該軌道不為該缺陷區(qū)域。10.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域時(shí)，當(dāng)該第一計(jì)數(shù)值大于一第二臨界值時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域，其中該第二臨界值大于等于該第一臨界值。11.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域超過(guò)一第二時(shí)間時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。12.如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中確定該軌道是否為該缺陷區(qū)域的步驟還包括在一第三時(shí)間內(nèi)計(jì)數(shù)該波浪時(shí)鐘信號(hào)所產(chǎn)生的多個(gè)不合格脈沖寬度；以及當(dāng)所述多個(gè)不合格脈沖寬度的一第二計(jì)數(shù)值大于一第三臨界值時(shí)，判斷該軌道為該缺陷區(qū)域，否則，判斷該軌道不為該缺陷區(qū)域。13.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域時(shí)，當(dāng)該第二計(jì)數(shù)值小于一第四臨界值時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域，其中該第三臨界值大于等于該第四臨界值。14.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域超過(guò)一第四時(shí)間時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。15.如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中還包括當(dāng)該軌道確定位于該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該波浪信號(hào)的一增益值。16.一種檢測(cè)缺陷光盤片的方法，包括下列步驟確定一光學(xué)讀取頭在一鎖軌狀態(tài)存取一軌道上的數(shù)據(jù)；根據(jù)一波浪信號(hào)的一峰對(duì)峰值確定該軌道是否為一缺陷區(qū)域；以及當(dāng)該軌道確定為該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該光學(xué)讀寫(xiě)頭的位置不變。17.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中確定該軌道是否為該缺陷區(qū)域步驟還包括當(dāng)該峰對(duì)峰值小于一第五臨界值時(shí)，判斷該軌道為該缺陷區(qū)域，否則判斷該軌道不為該缺陷區(qū)域。18.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域時(shí)，當(dāng)該峰對(duì)峰值大于一第六臨界值時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域，其中該第六臨界值大于等于該第五臨界值。19.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，還包括在該光學(xué)讀取頭位于該缺陷區(qū)域超過(guò)一第五時(shí)間時(shí)，判斷該光學(xué)讀取頭已離開(kāi)該缺陷區(qū)域。20.如權(quán)利要求16所述的檢測(cè)缺陷光盤片的方法，其中還包括當(dāng)該軌道確定位于該缺陷區(qū)域時(shí)，維持該波浪信號(hào)的一增益值。全文摘要本發(fā)明公開(kāi)一種檢測(cè)缺陷光盤片的裝置與方法，該方法包括下列步驟確定一光學(xué)讀取頭在一鎖軌狀態(tài)存取一軌道上的數(shù)據(jù)；切割模擬的一波浪信號(hào)成為數(shù)字的一波浪時(shí)鐘信號(hào)；根據(jù)波浪時(shí)鐘信號(hào)確定該軌道是否為一缺陷區(qū)域；以及當(dāng)該軌道確定為缺陷區(qū)域時(shí)，維持該光學(xué)讀寫(xiě)頭的位置不變，用以檢測(cè)光盤片上的軌道形變?nèi)毕荩沟霉怛?qū)避免產(chǎn)生聚焦失敗或者滑軌。文檔編號(hào)G11B20/18GK101038774SQ20071010396公開(kāi)日2007年9月19日申請(qǐng)日期2007年5月17日優(yōu)先權(quán)日2007年5月17日發(fā)明者陳慶全,林義鈞申請(qǐng)人:凌陽(yáng)科技股份有限公司