專利名稱：檢測光盤片的方法及其光驅的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種檢測光盤片的方法及其光驅，特別是涉及一種利用光學讀取頭(Optical Pickup Unit；OPU)發(fā)射的激光是否有反射來判斷有無光盤片以及光盤片尺寸的檢測光盤片方法及其光驅。
背景技術：
隨著因特網(wǎng)及多媒體產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，用以儲存影音數(shù)據(jù)的光盤片取代了昔日的卡式磁帶，具有更大的數(shù)據(jù)儲存容量，且能將影音品質保存得更好也更久，因此，成為現(xiàn)今市場儲存媒體的主流，例如CD-ROM、DVD-ROM及CD-RW光盤片等。
一般常見的光盤片有兩種尺寸，分別是直徑12CM以及直徑8CM的光盤片。直徑12CM的光盤片為傳統(tǒng)的光盤片尺寸，可用以儲存一般影音數(shù)據(jù)以及MP3數(shù)據(jù)，而直徑8CM的光盤片為較新型的光盤片，主要是用來儲放MP3資料。在機構方面，光驅是用來存取光盤片數(shù)據(jù)的裝置，例如個人計算機或筆記本型計算機的光驅，可用以讀取光盤片數(shù)據(jù)，VCD及DVD播放機用以播放光盤片節(jié)目，而燒錄機則可以記錄及讀取光盤片的數(shù)據(jù)。
請參考圖1，其示出了已知光驅的結構示意圖。光驅100具有托盤110，用以承載光盤片120，例如12CM光盤片120a及8CM光盤片120b，并可沿圖中的箭頭方向退出或放入光驅100；主軸馬達(Spindle Motor)130，用以在光盤片120置入托盤110后固定住光盤片120，并帶動光盤片120旋轉。此外，光驅100還包括光學讀取頭140，用以讀取光盤片120所儲存的數(shù)據(jù)，并轉換為電氣訊號傳送至電路板150。
一般光驅100經(jīng)啟動在開始讀光盤片120之前，會先判斷托盤110中是否載有光盤片120，以避免在沒有承載光盤片120的情況下，讀取頭140會讀到錯誤的訊號而產(chǎn)生錯誤的操作。當判定光驅100載有光盤片120時，會再辨別是12CM光盤片120a或是8CM光盤片120b，以決定讀取頭140移動的范圍，并設定對應的參數(shù)。傳統(tǒng)檢測光盤片的方法是由電路板150送出一個控制信號，驅動主軸馬達130旋轉，利用光盤片120本身的慣量(Inertia)差異，尺寸愈大的光盤片120愈重，相對地，主軸馬達130帶動光盤片120所旋轉的速度也愈慢。
提供主軸馬達130一個固定力矩，在一定的旋轉時間內(nèi)檢測主軸馬達130所到達的轉速，或測量主軸馬達130旋轉到一定速度所需的時間。當轉速超過第一速度時，代表光驅100中沒有承載光盤片120，當轉速低于第二速度(第二速度小于第一速度)時，代表光驅100中承載12CM光盤片120a，而當轉速介于第一速度與第二速度之間時，則代表光驅100中承載8CM光盤片120b?；蛘?，當時間超過第一時間值表示載有12CM光盤片120a，當時間介于第一時間與第二時間表示載有8CM光盤片120b，而當時間低于第二時間(第二時間小于第一時間)表示光驅100沒有承載光盤片120。
然而依照傳統(tǒng)判斷有無光盤片120以及是12CM光盤片120a或是8CM光盤片120b的方式，具有下列幾個缺點1.利用主軸馬達旋轉來檢測光盤片的機械方式需要花費一定量的轉動時間，才能正確地檢測出光盤片尺寸，很難進一步縮短檢測時間。
2.主軸馬達必須夾緊光盤片才能準確地由主軸馬達的轉速或轉動時間來檢測光盤片的有無及尺寸，若因為制造上的偏差使得主軸馬達無法固定住光盤片，有可能在有存放光盤片情況下誤判為沒有，或存放12CM光盤片誤判為8CM光盤片，或是者8CM光盤片作得厚一點時，轉動得較慢反而誤判為12CM光盤片，皆造成檢測結果不可靠。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的目的是提供一種檢測光盤片的方法及其光驅，利用讀取頭發(fā)射的激光的反射來判斷光驅是否載有光盤片，以及判定載有12CM或8CM的光盤片，花費時間較短，且可以獲得較準確的檢測結果，配合傳統(tǒng)檢測方法，還可判斷主軸馬達是否固定住光盤片。
根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種光驅包括盤片承載區(qū)、主軸馬達、光學讀取頭，以及判斷裝置。盤片承載區(qū)用以承載被讀取光盤片，且被讀取光盤片可為第一尺寸光盤片以及第二尺寸光盤片，其中第二尺寸光盤片大于第一尺寸光盤片。主軸馬達，用以旋轉被讀取光盤片。光學讀取頭，用以讀取光盤片數(shù)據(jù)，而判斷裝置，電連接于光學讀取頭，用以判斷盤片承載區(qū)是否承載被讀取光盤片及辨別被讀取光盤片尺寸。光學讀取頭在第一位置發(fā)射第一激光，根據(jù)第一激光的反射判斷盤片承載區(qū)是否承載被讀取光盤片，并在確定盤片承載區(qū)承載光盤片后，光學讀取頭繼續(xù)在第二位置發(fā)射第二激光，根據(jù)第二激光的反射辨別被讀取光盤片尺寸。第一位置與主軸馬達相距第一尺寸光盤的半徑以內(nèi)，而第二位置與主軸馬達相距第一尺寸光盤的半徑到第二尺寸光盤的半徑之間。利用激光的反射來檢測光盤片狀態(tài)，可快速得到更準確的檢測結果。
根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種檢測光盤片的方法，用于光驅，被讀取光盤片可為第一尺寸光盤片以及第二尺寸光盤片，第二尺寸光盤片大于第一尺寸光盤片，光驅包括光學讀取頭及主軸馬達，本方法包括下列步驟將光學讀取頭移至第一位置；由光學讀取頭發(fā)射第一激光；藉由第一激光的反射，判斷光驅是否載有被讀取光盤片，若光驅未載有被讀取光盤片，結束本方法；將光學讀取頭移至第二位置；由光學讀取頭發(fā)射第二激光；以及藉由第二激光的反射判斷被讀取光盤片尺寸。
第一位置與主軸馬達相距第一尺寸光盤的半徑以內(nèi)，而第二位置與主軸馬達相距第一尺寸光盤的半徑到第二尺寸光盤的半徑之間，光學讀取頭接收的第一激光的反射超過一預定值時，判斷裝置判定盤片承載區(qū)承載被讀取光盤片。光學讀取頭接收的第二激光的反射低于預定值時，判斷裝置判定被讀取光盤片為第一尺寸光盤片，而光學讀取頭接收第二激光的反射超過預定值時，判斷裝置則判定被讀取光盤片承載第二尺寸光盤片。第一尺寸光盤片為8CM光盤片，而第二尺寸光盤片為12CM光盤片。利用激光檢測被讀取光盤片可得到更準確的判斷結果。
根據(jù)本發(fā)明的目的，提出一種檢測光盤片的方法，用于光驅，被讀取光盤片可為第一尺寸光盤片以及第二尺寸光盤片，第二尺寸光盤片大于第一尺寸光盤片，光驅包括光學讀取頭，用以讀取光盤片的數(shù)據(jù)，以及主軸馬達，用以固定光盤片并帶動光盤片旋轉，本方法包括下列步驟將光學讀取頭移至第一位置；由光學讀取頭發(fā)射第一激光；藉由第一激光的反射，判斷光驅是否載有被讀取光盤片，若光驅未載有被讀取光盤片，結束本方法；將光學讀取頭移至第二位置；由光學讀取頭發(fā)射第二激光；藉由第二激光的反射，判斷被讀取光盤片尺寸；啟動主軸馬達旋轉一個固定時間；以及根據(jù)主軸馬達旋轉此固定時間的轉速，判斷被讀取光盤片是否固定于主軸馬達上。其中亦可以啟動主軸馬達轉動至一固定轉速，再根據(jù)其所需時間判斷被讀取光盤片是否固定于主軸馬達上。
當判定被讀取光盤片為第一尺寸光盤片，且轉速大于第一速度時，判定被讀取光盤片未固定于主軸馬達上。當判定被讀取光盤片為第二尺寸光盤片，且轉速大于第二速度時，判定被讀取光盤片未固定于主軸馬達上，其中第二速度小于第一速度。將本發(fā)明配合傳統(tǒng)的檢測光盤片技術，不僅可判斷有無被讀取光盤片及被讀取光盤片尺寸，并可確定被讀取光盤片是否固定于主軸馬達上。
為使本發(fā)明的上述目的、特征、和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，并結合附圖詳細說明如下。


圖1示出了已知光驅的結構示意圖；圖2A示出了依照本發(fā)明一較佳實施例光驅結構上視圖；圖2B示出了圖2A中光學讀取頭檢測光盤片的側視結構示意圖；以及圖3示出了依照本發(fā)明較佳實施例檢測光盤片方法的流程圖。
圖式標號說明100、200光驅110、210托盤120光盤片120a、220a12CM光盤片120b、220b8CM光盤片130、230主軸馬達140、250光學讀取頭150電路板220被讀取光盤片232夾片機構
252發(fā)光模塊254接收模塊260滑軌270判斷裝置具體實施方式
本發(fā)明的特點在于利用光驅中的光學讀取頭對光盤片發(fā)射激光，由激光的反射來檢測有無光盤片以及是12CM光盤片或是8CM光盤片，可以更快速完成檢測，并得到更準確的檢測結果，提高光驅啟動時檢測光盤片的效率及準確度。
請同時參考圖2A及圖2B，其分別示出了依照本發(fā)明一較佳實施例光驅結構上視圖及側視結構示意圖。光驅200主要包括托盤210、主軸馬達230、光學讀取頭250、以及判斷裝置270。托盤210用以承載被讀取光盤片220，例如12CM光盤片220a及8CM光盤片220b。主軸馬達230用以帶動被讀取光盤片220旋轉，且主軸馬達230包括一個夾片機構(Clamper)232，用以固定住被讀取光盤片220。光學讀取頭250，沿著滑軌260移動，用以讀取被讀取光盤片220上所記錄的數(shù)據(jù)。光學讀取頭250包括發(fā)光模塊252，以及接收模塊254，例如是一個光二極管(Photo Diode)。判斷裝置270電性連接光學讀取頭250的接收模塊254，并根據(jù)激光的反射，判斷光驅200是否載有被讀取光盤片220以及被讀取光盤片220的尺寸。當光驅200啟動時，一般會對光學讀取頭250先進行聚焦及鎖軌的操作，以校正激光源(未示于圖中)的焦距，以及將讀取頭250鎖定在滑軌260上的起始位置，通常是最靠近主軸馬達230的位置，接著會檢測光驅200是否載有被讀取光盤片220以及載有那一種尺寸的被讀取光盤片220。
如圖2B所示，本發(fā)明的特點在于利用光學讀取頭250發(fā)射激光L的反射來檢測有無被讀取光盤片220，以及被讀取光盤片220的尺寸。光學讀取頭250先于起始位置(例如是距主軸馬達230約2.5CM位置)發(fā)射一次激光。由發(fā)光模塊252對被讀取光盤片220發(fā)射激光L，并由接收模塊254接收激光的反射光L’。判斷裝置270根據(jù)接收到的反射訊號(或反射)來判斷是否有被讀取光盤片220存在。若接收到激光的反射高于一個預定值(代表有反射)，判斷裝置270判定光驅200載有被讀取光盤片220，反之則光驅200未載有被讀取光盤片220。
如上所述，當確定有被讀取光盤片220存在后，再驅動光學讀取頭250沿滑軌260移動至距離主軸馬達230中心約4CM至6CM之間的距離再發(fā)射一次激光，如圖2B中所示。同理可知，若接收模塊254接收到激光的反射超過此預定值(代表有反射)，判斷裝置270判定被讀取光盤片220為12CM光盤片；若接收到激光的反射低于此預定值(代表無反射)，則判斷裝置270判定被讀取光盤片220為8CM光盤片。因為此時由發(fā)光模塊252的位置發(fā)射出的激光只會被12CM尺寸的光盤片220a所反射，8CM光盤片220b由于直徑太短無法反射激光，據(jù)此可以辨別出光驅200所承載的被讀取光盤片220為12CM光盤片220a或是8CM光盤片220b。
本發(fā)明雖以具有托盤210的光驅200為例作說明，然而并不用以限制本發(fā)明，任何具有可用以承載光盤片220的盤片承載區(qū)的光驅200，例如是掀蓋式光驅或是吸碟式光驅，皆不脫離本發(fā)明的技術范圍。
請參考圖3，其示出了依照本發(fā)明較佳實施例檢測光盤片方法的流程圖。首先，在步驟300，啟動光驅200，此時會對光學讀取頭250進行鎖軌操作，將光學讀取頭250設定在起始位置，接著，在步驟310，由光學讀取頭250發(fā)射第一激光，并由接收模塊254接收其反射光，在步驟320中，判斷裝置270根據(jù)接收模塊254所收到第一激光的反射判斷光驅200是否載有被讀取光盤片220。當?shù)谝患す獾姆瓷涞陀谏鲜龅念A定值時，代表無反射，即判定光驅200未載有被讀取光盤片220，流程結束。若第一激光的反射超過此預定值，代表有反射，即判定光驅200載有被讀取光盤片220，繼續(xù)進行步驟330。
在步驟330，將光學讀取頭250快速移動至上述距主軸馬達230中心4CM至6CM之間距離。一般是驅動讀取頭的馬達(未示于圖中)轉動，并帶動光學讀取頭230沿著滑軌260移動。由馬達轉速及轉動時間來控制光學讀取頭250移動的距離。接著，在步驟340中，由光學讀取頭230發(fā)射第二激光，并由接收模塊254接收其反射光。在步驟350，判斷裝置270根據(jù)第二激光的反射判定被讀取光盤片220的尺寸。當?shù)诙す獾姆瓷涞陀陬A定值時，判斷裝置270判定被讀取光盤片220為8CM光盤片220b，而當?shù)诙す獾姆瓷涑^此預定值時，判斷裝置270判定被讀取光盤片220為12CM光盤片220a，并結束流程。
如上所述，本發(fā)明的檢測光盤片方法，是在起始位置先發(fā)射一次激光，而起始位置可于距主軸馬達230中心4CM以內(nèi)，且發(fā)射的激光能被固定于主軸馬達230的被讀取光盤片220反射的任何距離。接下來發(fā)射第二次激光時是將讀取頭250位置移至距離主軸馬達230處4CM至6CM位置，用以判定被讀取光盤片220為12CM光盤片220a或8CM光盤片220b。然而對于例如是9CM的長方形盤片，由于9CM光盤片靠近邊緣的空間并不記錄數(shù)據(jù)，因此可歸類為8CM光盤片220b。將讀取頭250位置移至靠近但不超過距主軸馬達230處6CM的地方，對9CM光盤片發(fā)射激光不會有反射光，此時光驅200將判斷所承載的被讀取光盤片220為8CM光盤片220b。
另外，利用本發(fā)明的檢測光盤片方法，再配合傳統(tǒng)的檢測方式，可以判斷被讀取光盤片220是否固定于主軸馬達230上。先利用本發(fā)明上述的方法，判定光驅220載有被讀取光盤片220，且被讀取光盤片220為8CM光盤片220b或12CM光盤片220a。接者，利用傳統(tǒng)的檢測方法，啟動主軸馬達230旋轉一個固定時間并測量其轉速。如上所述，當轉速超過第一速度，表示無被讀取光盤片220，當轉速介于第一速度及第二速度之間，表示被讀取光盤片220為8CM光盤片220b，而當轉速低于第二速度時，表示被讀取光盤片220為12CM光盤片220a。
在光驅220載有被讀取光盤片220的情況下，而傳統(tǒng)的檢測方式卻測出無被讀取光盤片220(主軸馬達230的轉速超過第一速度時)，或者本發(fā)明的方法檢測出被讀取光盤片220為12CM光盤片220a，而傳統(tǒng)的方式卻測出為8CM光盤片220b(主軸馬達230的轉速超過第二速度)，則表示主軸馬達230沒有固定住被讀取光盤片220，并可據(jù)以修復或更換主軸馬達230。當然，上述配合傳統(tǒng)檢測被讀取光盤片220的方法，亦可以啟動主軸馬達230轉動至一個固定的轉速，再測量其所需時間，依此判斷被讀取光盤片220是否固定于主軸馬達230上。
根據(jù)上述的較佳實施例，本發(fā)明檢測光盤片的方法具有以下的優(yōu)點1.利用第一次激光的有無反射來判定光驅是否載有光盤片，其檢測所需時間很短。在確定光驅載有光盤片后，快速移動光學讀取頭，再發(fā)射第二次激光并根據(jù)其有無反射判定光盤片尺寸。因此，本發(fā)明比已知靠主軸馬達旋轉檢測光盤片的方式快得多。
2.根據(jù)第一次激光的有無反射，可判斷光驅是否載有光盤片。確定載有光盤片后，再根據(jù)第二次激光的有無反射，可判定光盤片為12CM光盤片或8CM光盤片。利用這種簡單幾何概念來作判斷，比傳統(tǒng)利用主軸馬達轉動的慣量作用，更為直覺可靠，不會出現(xiàn)上述因為主軸馬達沒有固定好光盤片而產(chǎn)生判斷錯誤的問題。
3.若將本發(fā)明的檢測光盤片方法搭配傳統(tǒng)的方式，不僅可檢測有無光盤片以及光盤片的尺寸，還可檢測主軸馬達是否固定好光盤片，以便進行修復或更換。
綜上所述，雖然本發(fā)明已以一較佳實施例披露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，本領域的技術人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍視后附的權利要求為準。
權利要求
1.一種檢測光盤片的方法，用于一光驅，使用的一被讀取光盤片可為一第一尺寸光盤片以及一第二尺寸光盤片，該第二尺寸光盤片大于該第一尺寸光盤片，該光驅包括一光學讀取頭，用以讀取該被讀取光盤片的數(shù)據(jù)，以及一主軸馬達，用以固定該被讀取光盤片并帶動該被讀取光盤片旋轉，該方法包括下列步驟(a)將該光學讀取頭移至一第一位置；(b)由該光學讀取頭發(fā)射一第一激光；(c)藉由該激光的反射，判斷該被讀取光盤片尺寸；(d)啟動該主軸馬達旋轉一固定時間；以及(e)根據(jù)該主軸馬達旋轉該固定時間的一轉速，判斷該被讀取光盤片是否固定于該主軸馬達上。
2.如權利要求1所述的方法，其中該預定位置是與該主軸馬達相距該第一尺寸光盤片的半徑至該第二尺寸光盤片的半徑之間。
3.如權利要求1所述的方法，其中當該激光的反射低于一預定值時，判定該被讀取光盤片為該第一尺寸光盤片，而當該激光的反射超過該預定值時，判定該被讀取光盤片為該第二尺寸光盤片。
4.如權利要求1所述的方法，其中當判定該被讀取光盤片為該第一尺寸光盤片，且該轉速大于一第一速度時，判定該被讀取光盤片未固定于該主軸馬達上。
5.如權利要求1所述的方法，其中當判定該被讀取光盤片為該第二尺寸光盤片，且該轉速大于一第二速度時，判定該被讀取光盤片未固定于該主軸馬達上，其中該第二速度小于該第一速度。
6.如權利要求1所述的方法，其中該主軸馬達包括一夾片機構，用以固定住該光盤片。
7.一種檢測光盤片的方法，用于一光驅，使用的一被讀取光盤片可為一第一尺寸光盤片以及一第二尺寸光盤片，該光驅包括一光學讀取頭，用以讀取該被讀取光盤片的數(shù)據(jù)，以及一主軸馬達，用以固定該被讀取光盤片并帶動該被讀取光盤片旋轉，該方法包括下列步驟(a)將該光學讀取頭移至一預定位置；(b)由該光學讀取頭發(fā)射一激光；(c)藉由該激光的反射，判斷該被讀取光盤片尺寸；(d)啟動該主軸馬達旋轉至一固定轉速；以及(e)根據(jù)該主軸馬達旋轉至該固定轉速所需時間，判斷該被讀取光盤片是否固定于該主軸馬達上。
8.如權利要求7所述的方法，其中該預定位置是與該主軸馬達相距該第一尺寸光盤片的半徑至該第二尺寸光盤片的半徑之間。
全文摘要
一種檢測光盤片的方法，用于光驅，光驅包括主軸馬達以及光學讀取頭，本方法包括，將光學讀取移至第一位置；由光學讀取頭發(fā)射第一激光；藉由第一激光的反射判斷光驅是否載有被讀取光盤片，若未載有被讀取光盤片，結束本方法；將光學讀取頭移至第二位置；由光學讀取頭發(fā)射第二激光；以及藉由第二激光的反射判斷被讀取光盤片尺寸。
文檔編號G11B7/00GK1949380SQ200610077210
公開日2007年4月18日 申請日期2003年10月28日 優(yōu)先權日2003年10月28日
發(fā)明者李國駿 申請人:明基電通股份有限公司