專利名稱：光學儲存媒體檢測裝置與方法及移動方向檢測方法與光驅的制作方法
技術領域：
本發(fā)明是有關于一種凸(land)/凹(groove)軌道類型以及讀寫頭移動方向檢測。
背景技術：
圖1顯示一個光學刻錄系統(tǒng)10的示意圖，用以將資料刻錄至一光盤12中或是自此光盤中讀出資料。光學刻錄系統(tǒng)10包括一讀寫頭20，其具有一激光二極管以及鏡片(lens)(未顯示)，其中激光二極管用以產(chǎn)生一激光束30，而鏡片則用以將激光束30聚焦到光盤12上。盤片驅動控制器14控制一主軸馬達(spindle motor)16以及一尋軌馬達(sled motor)18，主軸馬達16用以調整光盤12的轉速，尋軌馬達18則用以將讀寫頭20沿著光盤12的一半徑(radial)方向(徑向)作較大距離的移動。讀寫頭20包括一聚焦致動器以及一循跡致動器(focus and tracking actuator)(未顯示)，聚焦致動器負責調整鏡片的位置在一激光束30的軸向上，用以將激光束30聚焦到光盤12的軌道上；循跡致動器則負責將鏡片作較小距離(例如多個軌道)的移動，允許微調(fine-tuning)此激光束的徑向位置。此激光束相應于光盤12的徑向位置是由尋軌馬達18和循跡致動器的組合所控制。盤片驅動控制器14包括將寫入光盤12信號編碼的編碼電路、譯碼由光盤12所采集的資料的譯碼電路、以及連接一主機計算機(Host computer)19的接口電路。
圖2顯示一個光盤12的示意圖，此光盤包括一凹軌22以及一凸軌28，且每條軌道在光盤12上形成一螺旋線(spiral)。此螺旋線具有多重表示法。在下述描述中，此名詞“軌道”可表示凹軌和凸軌、多條凹軌、或是多條凸軌。
圖3顯示一凹軌22和凸軌28的立體圖。在進行讀寫操作時，軌道將引導讀寫頭20，通過修改部分軌道的反射系數(shù)，可將資料寫入到軌道中。當讀寫頭20掃描軌道時，自軌道上反射出激光束30，并且依據(jù)寫入軌道中的資料，調制此反射的激光束強度(intensity)。軌道邊緣具有一徑向方向50的循環(huán)偏差(recurring deviations)，即所謂的抖動(wobble)。此光盤12可包含一或多層未顯示于圖3的額外實體層，如一可刻錄層、一可覆寫層、一反射層以及一保護層。
在一實施例中，資料是儲存到凹軌上，并且凹軌22邊緣的抖動包括一個被調制以包含地址信息的正弦偏差。當讀寫頭20掃描軌道時，反射激光束30也被軌道抖動(track wobble)所調制，進而產(chǎn)生一個包含軌道抖動信息的抖動信號。此抖動信號可被解調制以采集其中的地址信息，系統(tǒng)10再用此地址信息將讀寫頭20放在凹軌的特定位置上。
為了從光盤12上的一特定位置寫入或讀出資料，系統(tǒng)10將激光束30鎖定在一特定的凹軌上，并且搜尋此特定位置。但由于光盤12的離心率(eccentricity)與偏差(misalignment)造成光盤產(chǎn)生不正常執(zhí)行(run-out)的問題，使得將激光束30鎖定在一特定的凹軌上的動作變得非常困難。
參考圖4，由于制造上的容錯能力因素影響，光盤12上的軌道可能不會與光盤12的中孔(center hole)58的中心點56形成同心圓。此外，由于在刻錄系統(tǒng)10中的光盤12的擺放位置上的容錯能力，也使得光盤12的中心點56可能不會完美的沿著此光盤的轉軸排列(此光盤轉軸是沿著主軸馬達16的中心軸排列)。因此，當光盤12開始轉動時，激光束30可能不會緊靠凹軌，而是，由一內圈軌道(如圖的P1位置)移到一外圈軌道(如圖的P2位置)，再由外圈軌道移回內圈軌道。圖中陰影點用來表示當光盤12旋轉一圈時，激光束30被投射到光盤12上的各個不同位置。
移動激光束30的動作包含尋軌馬達18和循跡致動器的控制。為了簡化描述，以下只提供控制讀寫頭的描述，省略控制循跡致動器的描述。當提到讀寫頭20是在一特定軌道上時，表示需控制讀寫頭20和鏡片的位置，使得激光束30的中心落在此特定軌道上，其中一部分的激光束30可能覆蓋相鄰的軌道；當提到讀寫頭20是鎖定在一特定軌道上時，表示需控制讀寫頭20和鏡片的位置，使得激光束30是鎖定在此特定軌道上。
通過知道讀寫頭20的目前位置是在一凹軌或在一凸軌，以及讀寫頭20是從內軌移到外軌還是從外軌移到內軌的信息，可以幫助光學刻錄系統(tǒng)10利用一控制反饋回路，將讀寫頭20鎖定在一特定軌道上。一個循跡誤差信號可由用來檢測反射激光束30的光檢測器(photo detector)的輸出信號來獲得。此循跡誤差信號可用以決定出讀寫頭20是否在一軌道的中心位置上。在一實施例中，當讀寫頭20是在一凸軌28或是在一凹軌22的中心位置時，此循跡誤差信號變成0，且當讀寫頭20脫離軌道中心位置時，此循跡誤差信號則變成一較大或較小的值。若只依靠循跡誤差信號，則光學刻錄系統(tǒng)10無法決定出讀寫頭20是在一凸軌28或是一凹軌22上。

發(fā)明內容
在一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括接收一光學儲存媒體，其具有多條凹軌以及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構。一檢測器掃描上述光學儲存媒體，以檢測來自上述光學儲存媒體的反射光，并依據(jù)上述檢測器的輸出，產(chǎn)生一抖動信號和一循跡誤差信號。再依據(jù)上述循跡誤差信號，取樣上述抖動信號，并依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號取樣值間的比較結果，決定出上述檢測器是在上述凹軌上或在上述凸軌上。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性，本方法包括當在一特定時間點得到的取樣值大于在另一時間點得到的另一取樣值時，決定出上述檢測器在上述特定時間點是在一凹軌上。本方法包括當循跡誤差信號為0時，取樣上述抖動信號。本方法在決定出上述檢測器是在上述凹軌上或在上述凸軌上的步驟中，包括比較上述抖動信號的一包封(envelope)在不同時間周期內積分的取樣積分值。計算上述抖動信號的一包封在不同時間周期內積分的取樣積分值是通過在上述循跡誤差信號的一斜率為正的一時段內或在上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內，對上述抖動信號的上述包封的振幅作積分。本方法包括取樣上述抖動信號的一振幅、上述抖動信號的一峰值(peakvalue)和上述抖動信號的一包封中的至少一個。
本方法還包括依據(jù)一第一軌道是一凹軌或一凸軌的已知知識，預測一第二軌道是一凹軌或一凸軌。本方法包括比較上述第二軌道的預測軌道類型(type)與上述第二軌道的一量測軌道類型，且上述量測軌道類型是部分依據(jù)上述抖動信號來決定。本方法包括對多數(shù)軌道執(zhí)行預測軌道類型與量測軌道類型的比較，并且當上述預測軌道類型是不同于上述量測軌道類型的比較次數(shù)小于一默認值(preset value)時，決定其最后預測軌道類型是正確的軌道類型。本方法包括對多數(shù)軌道執(zhí)行預測軌道類型與量測軌道類型的比較，并且當上述預測軌道類型是不同于上述量測軌道類型的比較次數(shù)大于一默認值時，決定其最后預測軌道類型是正確的軌道類型。
在另一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括接收一光學儲存媒體，其具有多條凹軌以及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構。驅動一檢測器掃描上述光學儲存媒體，以檢測來自上述光學儲存媒體的反射光，并依據(jù)上述檢測器的輸出，產(chǎn)生一抖動信號和一循跡誤差信號。再依據(jù)上述循跡誤差信號，取樣上述抖動信號；再依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值間的比較，決定上述檢測器的一移動(moving)方向。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性，其中上述抖動信號的取樣值間的比較包括比較在不同時間得到的兩個上述抖動信號的取樣值。上述抖動信號的取樣值是當上述循跡誤差信號為0時所得到；比較上述抖動信號的取樣值的步驟包括上述抖動信號的一包封的積分值比較，上述積分值是通過在上述循跡誤差信號的一斜率為正的一時段內或是在上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內，對上述抖動信號的上述包封作積分來得到。本方法包括通過比較上述循跡誤差信號和一臨界值，以產(chǎn)生一個二元(binary)信號，并依據(jù)上述循跡誤差信號和上述臨界值的比較結果，決定上述二元信號具有一高值或低值，并且依據(jù)上述二元信號以及上述抖動信號的取樣值間的比較，決定上述檢測器的上述移動方向。其中上述臨界值可為0，且上述檢測器的上述移動方向是依據(jù)上述循跡誤差信號的一斜率來決定。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括以一光束掃描一光學儲存媒體，上述光學儲存媒體具有多條凹軌以及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構；依據(jù)來自上述光學儲存媒體的反射光，產(chǎn)生一抖動信號和一射頻(RF)信號，其中上述抖動信號具有關于被上述光束掃描過的一軌道的上述抖動結構信息，且上述射頻(RF)信號具有關于記錄在上述軌道內的資料信息；選取上述抖動信號和上述射頻(RF)信號中的一個；以及依據(jù)上述選取的信號，決定出上述光束是在一凹軌上或是在一凸軌上。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性。其中選取上述抖動信號和上述射頻(RF)信號中的一個的步驟包括依據(jù)上述光束是在上述光學儲存媒體的一具有資料的資料區(qū)間內或是在上述光學儲存媒體的一不具資料的的空白(blank)區(qū)間內作選取。本方法包括產(chǎn)生一循跡誤差信號，其振幅隨著上述檢測器相應于上述凹軌以及上述凸軌的一位置而變化，其中依據(jù)上述選取的信號，決定出上述光束是在一凹軌上或是在一凸軌上的步驟包括比較依據(jù)上述循跡誤差信號作取樣的上述選取信號的取樣值。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括依據(jù)由一檢測器掃描一光學儲存媒體所檢測得的光，產(chǎn)生一抖動信號、一循跡誤差信號、以及一射頻(RF)信號，其中上述光學儲存媒體具有多條凹軌及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構；選取上述抖動信號和上述射頻(RF)信號中的一個；以及依據(jù)上述選取的信號以及上述循跡誤差信號，決定出上述檢測器相應上述軌道的一移動方向。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性。本方法包括依據(jù)上述光束是在上述光學儲存媒體的一具有資料的資料區(qū)間內或是在上述光學儲存媒體的一不具資料的的空白(blank)區(qū)間內，選取上述抖動信號和上述射頻(RF)信號中的一個。本方法包括依據(jù)上述循跡誤差信號作取樣的上述選取信號的取樣值的比較結果，決定出上述檢測器的上述移動方向。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括產(chǎn)生一循跡誤差信號，其振幅隨著一光束相應于一光學儲存媒體的一位置而變化，上述光學儲存媒體具有一凹軌以及一凸軌，并且當上述光束是大體上落在上述軌道中的一個的一中線(centerline)時，上述循跡誤差信號大體上相等于一既定值；以及利用一反饋回路(feedback loop)，依據(jù)上述循跡誤差信號控制上述光束相對于上述凹軌的上述位置，其包括當上述光束是在上述凸軌上時，維持(holding)上述循跡誤差信號值，以及當上述光束是在上述凹軌上時，使用上述循跡誤差信號的一量測值。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括依據(jù)一檢測器檢測到的至少一反射光以及透射光，產(chǎn)生一射頻信號與一循跡誤差信號，上述檢測器掃描一光學儲存媒體，其具有多條軌道，并且上述軌道的反射率(reflectivity)或透射率(transmissivity)是與軌道外區(qū)域不同；以及依據(jù)上述射頻信號的取樣值比較，決定出上述檢測器是在一軌道或是在一介于軌道間的區(qū)域，其中上述射頻信號的取樣值是依據(jù)上述循跡誤差信號作取樣。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括依據(jù)一檢測器掃描一光學儲存媒體檢測到的反射光或透射光，產(chǎn)生一射頻信號與一循跡誤差信號，上述光學儲存媒體具有多條軌道，并且上述軌道的反射率或透射率是與上述軌道外區(qū)域不同；以及依據(jù)上述射頻信號的取樣值的比較結果，決定出上述檢測器的一移動方向，其中上述射頻信號的取樣值是依據(jù)上述誤差信號作取樣。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括以一光束掃描一光學儲存媒體，上述光學儲存媒體具有多條軌道，且上述軌道的反射率是與上述軌道外區(qū)域不同。接著依據(jù)來自上述光學儲存媒體的反射光，產(chǎn)生一射頻信號，并依據(jù)上述射頻信號的取樣值的比較結果，決定出上述以上述光束掃描上述光學儲存媒體的步驟在一軌道或是在一介于上述軌道間的區(qū)域進行。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括驅動一檢測器掃描一光盤，上述光盤具有多條軌道，用以檢測來自上述光盤的反射光，并且上述軌道的反射率是與軌道外區(qū)域的反射率不同。接著依據(jù)上述檢測器的輸出結果，產(chǎn)生一射頻信號。再依據(jù)上述射頻信號的取樣值的比較結果，決定出上述檢測器是由一外軌往一內軌移動或是由一內軌往一外軌移動。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括依據(jù)一抖動信號的取樣值的比較結果，決定出掃描動作是發(fā)生在一刻錄媒體的一凹軌上或在一凸軌上，其中上述抖動信號的取樣值是由掃描上述凹軌或上述凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差(recurring deviations)所得到。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性?？啼浢襟w包括一光學刻錄媒體，并且驅動上述檢測器掃描上述光盤的步驟包括以一光束掃描上述光盤刻錄媒體。循環(huán)偏差包括上述軌道的一邊界在上述軌道的一橫切(transverse)方向上的偏差。抖動信號的取樣值是當掃描動作發(fā)生在一凸軌或一凹軌的一中心時所得到。決定出上述掃描動作是發(fā)生在上述凹軌或上述凸軌中的一個的動作也依據(jù)一信號的一斜率，其隨著上述掃描是由一凸軌移到一凹軌或是由一凹軌移到一凸軌來改變斜率。而上述抖動信號的取樣值包括上述抖動信號的一包封對時間積分的值。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括激活(enabling)一抖動信號以及一射頻信號中的一個，用以依據(jù)上述選取信號的取樣值的比較結果來決定出掃描是發(fā)生在一刻錄媒體的一凹軌或是一凸軌上，并且每一上述軌道有具有循環(huán)偏差的一實體特性。
本發(fā)明的實施可包含下列特性。選取上述抖動信號以及上述射頻信號中的一個的動作包括依據(jù)上述掃描是發(fā)生在上述光學儲存媒體的一具有資料的資料區(qū)間上或是在一不具資料的空白區(qū)間上來選取。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一方法特征包括依據(jù)一抖動信號的取樣值的比較結果，決定出一讀寫頭相應一刻錄媒體上的一凹軌以及一凸軌的一移動方向，其中上述抖動信號的取樣值是通過檢測上述凹軌或上述凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到。
本發(fā)明的實施可包含下列特性。刻錄媒體包括一盤片，并且決定出上述讀寫頭的上述移動的動作包括決定出上述讀寫頭的一移動方向的一要素(component)，其中上述要素是沿著上述盤片的一徑向方向。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一裝置其包括一讀寫頭、一抖動信號產(chǎn)生器、一循跡誤差信號產(chǎn)生器以及一凸/凹軌信號產(chǎn)生器。讀寫頭用以掃描具有多條凹軌和凸軌的一光學儲存媒體以及在上述軌道的一實體特性中檢測循環(huán)偏差，其中上述光學儲存媒體具有凹軌和凸軌。抖動信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一抖動信號，其中上述抖動信號用以表示上述循環(huán)偏差，并且具有隨著上述讀寫頭相應上述凹軌或上述凸軌的一位置作變化的一振幅。循跡誤差信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一循跡誤差信號。上述循跡誤差信號以及上述抖動信號是依據(jù)上述讀寫頭的輸出結果來產(chǎn)生。凸/凹軌信號產(chǎn)生器，則用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生一凸/凹軌信號以表示上述讀寫頭是正在掃描一凹軌或一凸軌。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性。凸/凹軌信號產(chǎn)生器包括一比較器，用以比較上述抖動信號的一目前取樣值與一閂鎖取樣值(latchedsampled value)，以產(chǎn)生一比較信號，其中上述閂鎖取樣值是延遲目前取樣值而得。凸/凹軌信號產(chǎn)生器亦包括一凸/凹(land/groove)信號產(chǎn)生器，用以相應上述循跡誤差信號的一斜率變化來閂鎖上述比較信號，并且將上述閂鎖的比較信號輸出為上述凸/凹信號。凸/凹信號產(chǎn)生器可包括一積分器，用以在上述循跡誤差信號的一斜率為正或上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內對上述抖動信號的一包封作積分，并且上述凸/凹信號產(chǎn)生器依據(jù)上述積分器的一目前輸出結果與一閂鎖的輸出結果的比較結果，產(chǎn)生上述凸/凹信號，其中上述閂鎖的輸出結果是延遲上述目前輸出結果而得。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一裝置其包括一檢測器、一抖動信號產(chǎn)生器、一循跡誤差信號產(chǎn)生器以及一移動方向信號產(chǎn)生器。檢測器用以檢測在一光學儲存媒體上的變化，其中上述光學儲存媒體具有多條凹軌和凸軌。抖動信號產(chǎn)生器用以產(chǎn)生一抖動信號，其中上述抖動信號用以表示上述凹軌或上述凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差，并且其振幅隨著上述檢測器相應于上述凹軌或上述凸軌的一位置而變化。循跡誤差信號產(chǎn)生器則用以產(chǎn)生一循跡誤差信號，上述循跡誤差信號以及上述抖動信號是依據(jù)上述讀寫頭的輸出來產(chǎn)生。移動方向信號產(chǎn)生器則用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生表示上述檢測器相應軌道的一移動方向的一方向信號。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性。在一實施例中，移動方向檢測器包括一比較器，用以比較上述抖動信號的一目前取樣值與一閂鎖取樣值，其中上述閂鎖取樣值是延遲上述目前取樣值而得；以及一方向信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述比較器的一輸出結果，產(chǎn)生上述方向信號。在另一實施例中，移動方向檢測器包括一積分器，用以在上述循跡誤差信號的一斜率為正或在上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內對上述抖動信號的一包封作積分；以及一方向信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)上述積分器的一目前輸出結果與一閂鎖的輸出結果的比較結果，產(chǎn)生上述方向信號，其中上述閂鎖的輸出結果是延遲上述目前輸出結果而得。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括一光學讀寫頭、一抖動信號產(chǎn)生器、一循跡誤差信號產(chǎn)生器、一檢測單元(unit)以及一軌道存取模塊。光學讀寫頭用以檢測在一光盤上的變化，其中上述光盤具有一凹軌和一凸軌。抖動信號產(chǎn)生器用以產(chǎn)生一抖動信號，其中上述抖動信號用以表示上述凹軌或上述凸軌的邊緣(border)的循環(huán)偏差。循跡誤差信號產(chǎn)生器用以產(chǎn)生一循跡誤差信號，其表示上述讀寫頭相應上述軌道的一位置，上述循跡誤差信號以及上述抖動信號是依據(jù)上述讀寫頭的輸出結果來產(chǎn)生。檢測單元(unit)用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生至少一凸/凹信號以及一移動方向信號，并且上述凸/凹信號用來表示上述讀寫頭是在上述凹軌或上述凸軌上，而上述移動方向信號用來表示上述讀寫頭相應上述軌道的一移動方向。軌道存取模塊則用以依據(jù)至少一上述凸/凹軌信號以及上述移動方向信號，擺放上述讀寫頭相應上述光盤的位置。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性。在一實施例中，檢測單元包括一保護單元，用以當上述讀寫頭通過上述軌道的一速度低于一默認值時，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放上述讀寫頭。在另一實施例中，檢測單元包括一保護單元，用以當上述抖動信號的上述取樣值間的差異量低于一默認值時，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放上述讀寫頭。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括一光學讀寫頭、一抖動信號產(chǎn)生器、一射頻(RF)信號產(chǎn)生器、一循跡誤差信號產(chǎn)生器、一選取單元、一檢測單元以及一軌道存取模塊。光學讀寫頭用以掃描一光盤，其中上述光盤具有一凹軌和一凸軌。抖動信號產(chǎn)生器用以產(chǎn)生一抖動信號；射頻(RF)信號產(chǎn)生器用以產(chǎn)生一射頻信號；循跡誤差信號產(chǎn)生器用以產(chǎn)生一循跡誤差信號以指出上述讀寫頭相應上述軌道的一位置。選取單元用以依據(jù)上述讀寫頭是正在掃描上述光盤的一具有資料的資料區(qū)間或是一不具資料的空白區(qū)間，選取上述抖動信號以及上述射頻信號中的一個。檢測單元用以依據(jù)一循跡誤差信號以及上述選取的信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生至少一凸/凹軌信號以及一移動方向信號，并且上述凸/凹信號用來表示上述讀寫頭是在掃描上述凹軌或上述凸軌，而上述移動方向信號用來表示上述讀寫頭相應上述軌道的一移動方向。軌道存取模塊則用以依據(jù)上述凸/凹軌信號或上述讀寫頭移動方向信號，擺放上述讀寫頭相應上述光盤的位置。
本發(fā)明的實施可包含一個或多個下列特性。在一實施例中，檢測單元包括一保護單元，用以當其跨軌(track-crossing)速度低于一預設速度時，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放讀寫頭。在另一實施例中，檢測單元包括一保護單元，用以當上述選取到的信號的取樣值間的差異量低于一默認值時，阻止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放讀寫頭。在又一實施例中，檢測單元包括一保護單元，用以在上述讀寫頭由掃描一數(shù)據(jù)區(qū)間換到掃描一空白區(qū)間或是由掃描一空白區(qū)間換到掃描一資料區(qū)間后的一段預設時間，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放讀寫頭。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括一比較器，用以比較一抖動信號的取樣值，上述抖動信號的取樣值是由掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到；以及一電路，用以依據(jù)上述比較器的一輸出結果，產(chǎn)生一輸出結果以表示上述掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差的動作是發(fā)生在上述凹軌或在上述凸軌上。
本發(fā)明的實施可包含下列特性。上述光驅包括一光學讀寫頭，其掃描穿過上述刻錄媒體的一光束并且檢測來自上述刻錄媒體的反射光或將光經(jīng)由上述刻錄媒體透射，用以檢測上述循環(huán)偏差。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括一多任務器，用以選取一抖動信號以及一射頻信號中的一個，上述抖動信號具有通過掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌所得的兩信號間的差異量信息，每一軌道具有一實體特性，上述實體特性具有循環(huán)偏差，上述射頻信號具有關于記錄在軌道內資料的信息。上述光驅還包括一電路，用以依據(jù)上述選取信號的取樣值間的比較結果，產(chǎn)生一輸出以表示是否上述掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的動作是發(fā)生在上述凹軌或是上述凸軌上。
本發(fā)明的實施可包含下列特性。上述多任務器接收一選取信號，用以表示上述掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的動作是發(fā)生在一軌道的一具有資料的資料區(qū)間或是發(fā)生在一軌道的一不具資料的空白區(qū)間上。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括一比較器，用以比較一抖動信號的取樣值，上述抖動信號的取樣值是由掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到；以及一電路，用以依據(jù)上述比較器的輸出結果，產(chǎn)生一輸出以表示一讀寫頭相應上述凸軌以及上述凹軌的一移動方向。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括用以掃描一具有一凹軌及一凸軌，且每一軌道有具有循環(huán)偏差的一實體特性的光盤的裝置，以及用以依據(jù)一具有循環(huán)偏差的抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生一軌道類型信號，用以表示掃描動作是發(fā)生在其凹軌或是其凸軌上。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括一光學讀寫頭，用以掃描一具有一凹軌及一凸軌，且每一軌道有具有循環(huán)偏差的一實體特性的光盤的裝置；以及裝置用以依據(jù)一具有循環(huán)偏差的抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生一讀寫頭移動方向信號，用以表示讀寫頭的移動方向。
在又一實施例中，依據(jù)本發(fā)明的一種光驅其包括用以依據(jù)掃描一具有一凹軌及一凸軌，且每一軌道有具有循環(huán)偏差的一實體特性的一光盤的結果，產(chǎn)生一抖動信號以及一射頻信號；以及用以選取其抖動信號以及射頻信號中的一個的裝置。上述光驅包括用以依據(jù)上述選取的信號的取樣值的比較結果，決定出至少(1)掃描動作是發(fā)生在凹軌或是在凸軌上以及(2)其掃描動作是由一內軌朝外軌移動或是由一外軌朝內軌移動的兩個動作的其中一個的裝置。
上述的所有裝置以及光驅可包含一譯碼器，其利用一種兼容于只讀光盤、DVD+R、DVD-R、DVD+RW、DVD-RW、藍光激光(Blue-Ray)盤片以及高密度數(shù)字多媒體光盤(DVD)標準的至少一個的譯碼程序，將編碼過的數(shù)據(jù)譯碼。


圖1是顯示一光學刻錄系統(tǒng)。
圖2是顯示一光盤。
圖3是顯示一光盤上凹軌與凸軌的立體圖。
圖4是顯示一光盤。
圖5是顯示凹軌與凸軌。
圖6是顯示用以產(chǎn)生一循跡誤差信號、一抖動信號以及一射頻信號的模塊示意圖。
圖7是顯示一循跡誤差信號與一抖動信號的仿真結果。
圖8是顯示用以產(chǎn)生一定軌控制信號的模塊區(qū)塊圖。
圖9是顯示一凸/凹軌道與讀寫頭移動方向檢測裝置。
圖10是顯示由圖9中的裝置所產(chǎn)生的信號圖。
圖11是顯示一凸/凹軌道與讀寫頭移動方向檢測裝置。
圖12是顯示由圖11中的裝置所產(chǎn)生的信號圖。
圖13是顯示一凸/凹軌道與讀寫頭移動方向檢測裝置。
圖14是顯示由圖13中的裝置所產(chǎn)生的信號圖。
圖15是顯示一處理程序。
圖16是顯示用以產(chǎn)生一定軌控制信號以在存取軌道時控制讀寫頭的模塊區(qū)塊圖。
圖17是顯示由一具有資料區(qū)與空白區(qū)的光盤中測得的信號圖。
圖18是顯示一保護單元的示意圖。
符號說明10-光學刻錄系統(tǒng)；12-光盤；
14-盤片驅動控制器； 16-主軸馬達；18-尋軌馬達； 19-主機計算機；20-讀寫頭； 22-凹軌；24、26-邊緣； 28-凸軌；30-激光束； 40-四分光檢測器；41-二分光檢測器； 42、44-光感應器；46-二分光檢測器； 48、49-光感應器；50-徑向方向； 56-中心點；58-中孔；60、61、62、63-光感應器；70-抖動信號產(chǎn)生器； 72-高通濾波器；73、75-第二激光束； 77-抖動信號；78-射頻包封信號；81-信號峰值-底部維持裝置；83-推拉信號； 85-射頻信號；102-光檢測器；104-循跡誤差產(chǎn)生器；108、109-檢測單元； 110-軌道存取單元；112-循跡誤差信號(TE)；115-凹/凸軌道信號；116-讀寫頭移動方向信號；117-保護信號；120-凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置；122-零交點檢測單元；124-循跡誤差零交點信號(TEZC)；125-延遲單元；126-邊緣檢測單元；128-脈沖信號；130-正緣檢測單元；132-包封檢測單元；133-斜率檢測單元；
134-抖動包封信號；135-邊緣檢測單元；136-取樣維持單元；137-閂鎖單元；138-取樣值(Wobble_SH1)；139-循跡誤差斜率信號；140-第二取樣維持單元；141-斜率邊緣信號；142-比較器；143-非門；144-閂鎖單元；145-閂鎖單元；146-循跡誤差信號；147-閂鎖值；150-延遲的取樣值(Wobble_SH2)；151-延遲的積分信號； 152-正緣脈沖信號；154-第一軌道型態(tài)信號；155-校正后的第一軌道類型信號；161-非門；200-凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置；201-正緣檢測單元；202-斜率檢測單元；203-脈沖信號；204-循跡誤差斜率信號；206-脈沖信號；208-積分單元；210-積分信號；212-第二軌道類型信號；300-凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置；302-互斥或門；304-消除短時脈沖波干擾單元；308-XOR信號； 310、370-信號圖；312-循跡誤差維持裝置；313-循跡控制信號；314-數(shù)值比較單元340的輸出；316、318、320-脈沖； 322-延遲的TEZC信號；340-數(shù)值比較單元；
342-TEZC信號頻率臨界值(TEZC_FREQ_TH)；344-抖動臨界值(Wobble_TH)；356-射頻信號產(chǎn)生器； 358-多任務器；402-低跨軌頻率保護單元；404-抖動拍子保護單元；408-PROTECT1信號；410-PROTECT2信號；412-PROTECT3信號；414-校正單元；418-或門；420-保護周期。
具體實施例方式
本發(fā)明的實施可包括一個或多個上述特性。本發(fā)明的其它特征及優(yōu)點將根據(jù)以下詳細說明清楚了解，配合所附圖示，通過實施例闡示本發(fā)明的基本精神。
光學刻錄系統(tǒng)可通過當一個光學讀寫頭接近軌道的中間(即循跡誤差信號接近0)時，取樣一抖動信號，決定出是否讀寫頭是在光盤的凹軌或是凸軌上，并且比較此被取樣抖動信號的振幅。此抖動信號是一信號，其包含關于在軌道邊界的循環(huán)偏差的信息。當取樣自特定軌道的抖動信號的振幅是大于其相鄰軌道的抖動信號的振幅時，此特定軌道被決定為一凹軌，并且其相鄰軌道被決定為一凸軌。此光學刻錄系統(tǒng)可通過關于讀寫頭是在一凹軌或是一凸軌上的信息以及在一時段上量測得的循跡誤差信號的綜合資料，決定出讀寫頭相應軌道的移動方向是由一外圈軌道移到一內圈軌道(一靠近光盤中心的軌道)，或由一內圈軌道移到一外圈軌道(一遠離光盤中心的軌道)。此允許光學刻錄系統(tǒng)可以利用一控制反饋回路，即使內圈軌道不是完全地與光盤的轉軸成同心圓，也可快速的尋軌并且穩(wěn)定地鎖定在一特定軌道。
參考圖5，在一實施例中，每個凹軌22具有兩個彼此平行設置的邊緣24與26。邊緣24與26具有同相的循環(huán)偏差(抖動)，即位移在同一方向。每個凸軌28共享相鄰凹軌的邊緣。由于相鄰兩個凹軌的邊緣不必是同相的，因此一個凸軌的兩個邊緣不一定會彼此平行。如圖5所示的例子中，每個凸軌28的邊緣往彼此相反方向抖動。當讀寫頭20沿著一軌道的切線方向51掃描的時候，依據(jù)激光束30是落在一凹軌22(例如在位置A)或是在一凸軌28(例如在位置B)，激光束30的反射光的橫斷面(cross section)將具有不同的強度樣式(patterns)。
在以下的例子中，除非有另外的說明，否則凹軌被設成具有比凸軌低的反射系數(shù)。
圖6顯示一模塊示意圖，此模塊用以依據(jù)激光束30的反射光的橫斷面的強度樣式，產(chǎn)生一循跡誤差信號112、一抖動信號77、以及一射頻包封信號78。四分(quad-section)光檢測器40(其被包含在讀寫頭20內)具有四個獨立的光感應器60、61、62以及63，分別用來檢測激光束30的反射光的橫斷面的四個方向的強度，用以產(chǎn)生四個相對的輸出信號A、B、C和D。
信號A、B、C和D接著被處理，用以產(chǎn)生一相減(difference)信號以及一加總(sum)信號，其中相減信號表示為推拉(push-pull)信號83，具有(A+D)-(B+C)的值，加總信號則表示為射頻信號85，具有A+B+C+D的值。推拉信號83具有關于軌道的循環(huán)偏差(抖動)信息，射頻信號85則具有關于記錄在軌道內的資料信息。在以下描述的一些情況下，此射頻信號85同時也具有關于軌道的循環(huán)偏差信息。
推拉信號83被傳送到高通濾波器72，用以產(chǎn)生抖動信號77。此高通濾波器72的截止頻率被設定來允許具有軌道邊緣的循環(huán)偏差的信號通過。其中高通濾波器72也可用一個帶通濾波器(band-pass filter)來取代。
射頻信號85則被傳送到信號峰值-底部維持(peak-bottom-hold)裝置81，用以產(chǎn)生射頻包封信號78，其表示射頻信號85的包封。例如，此射頻包封信號78具有相對循跡誤差信號112的90度相位差。
在一實施例中，循跡誤差信號112是利用推拉信號83以及由讀寫頭20所產(chǎn)生的第二(secondary)光束73和75所得的信號產(chǎn)生。一個二分(bi-section)光檢測器41具有兩個獨立的光感應器42與44，兩個獨立的光感應器42與44檢測反射激光束73的橫斷面的兩方向的強度，用以分別產(chǎn)生輸出信號E和F。類似地，另一個二分光檢測器46具有兩個獨立的光感應器48與49，兩個獨立的光感應器48與49檢測反射激光束75的橫斷面的兩方向強度，用以分別產(chǎn)生輸出信號G和H。輸出信號A到H依據(jù)下列方程式被一循跡誤差信號產(chǎn)生器所處理，用以產(chǎn)生一循跡誤差信號112循跡誤差＝[(A+D)-(B+C)]-k[(E-F)+(G-H)]，(Equ.1)其中k是一加權系數(shù)。除了上述方法外，其它用以產(chǎn)生循跡誤差信號112的方法也可被采用。
當讀寫頭是在軌道中間時(即循跡誤差信號112為0)，光學刻錄系統(tǒng)10取樣抖動信號77，并比較此被取樣的抖動信號77的振幅。如果在一特定軌道Tn取樣的抖動信號77的振幅是大于在其相鄰軌道Tn-1或Tn+1取樣到的抖動信號77的振幅，則光學刻錄系統(tǒng)10將決定出此特定軌道Tn為凹軌22，而其相鄰軌道Tn-1和Tn+1為凸軌28。
相反地，如果在一特定軌道Tn取樣的抖動信號77的振幅是小于在其相鄰軌道Tn-1或Tn+1取樣到的抖動信號77的振幅，則光學刻錄系統(tǒng)10將決定出此特定軌道Tn為一凸軌28，而其相鄰軌道Tn-1和Tn+1為凹軌22。具有快速決定出讀寫頭20是在一凹軌或是一凸軌上的能力，可允許光學刻錄系統(tǒng)10快速地尋軌且鎖定在光盤12的一特定軌道上。
圖7顯示一個循跡誤差信號112以及抖動信號77在當讀寫頭掃描軌道，同時沿一徑向往外的方向(相對光盤12的中孔)移動時的測量仿真結果。當讀寫頭在一凹軌或是一凸軌的中心(P3點和P4點)時，循跡誤差信號112設為0。抖動信號77具有一載頻(carrier frequency)，其實質上等于一個在軌道邊緣的抖動信號的載頻。當讀寫頭20由徑向地朝外移動時，抖動信號77的包封的振幅隨著讀寫頭20對應一凹軌或一凸軌的位置作變化。例如，當讀寫頭20是在一凹軌22上時，如P7點，其包封的振幅較大；而當讀寫頭20是在一凸軌28上時，如P8點，其包封的振幅較小。
循跡誤差信號112可利用Equ.1來取得。因為凸軌28具有比凹軌22高的反射系數(shù)(reflectance)，因此當讀寫頭落在凹軌以及凸軌中的一個邊緣上(P30)，使得光感應器61以及62(其輸出B+C)檢測來自其凸軌的反射光，同時光感應器60以及63(其輸出A+D)檢測來自其凹軌的反射光時，得到的循跡誤差信號112較小。換言的，當讀寫頭落在凹軌以及凸軌中的一個邊緣上(P32)，使得光感應器61以及62檢測來自其凹軌的反射光，并且光感應器60以及63檢測來自其凸軌的反射光時，得到的循跡誤差信號112較大。
四分光檢測器40被安排在一個使得光感應器60以及63比光感應器61以及62擺置在徑向朝內的方向。當讀寫頭相應軌道徑向地朝外移動(如箭頭50所示)并且在一時段內量測循跡誤差信號112的信號準位，若讀寫頭20是在一凸軌28上時，循跡誤差信號112的斜率為正，反之若讀寫頭20是在一凹軌22上時，循跡誤差信號112的斜率為負。相反地，當讀寫頭相應軌道徑向地朝內移動(如箭頭64所示)并且在一時段內量測循跡誤差信號112的信號準位，若讀寫頭20是在一凸軌28或是一凹軌22上時，其循跡誤差信號112的斜率則分別為負或為正。
圖8顯示一模塊區(qū)塊圖，用以在存取一軌道時，產(chǎn)生一循跡控制信號313來控制讀寫頭20。光檢測器102檢測反射激光束30、73和75，并且輸出檢測到的信號至一循跡誤差產(chǎn)生器104以及一抖動信號產(chǎn)生器70。循跡誤差產(chǎn)生器104產(chǎn)生一循跡誤差信號112，抖動信號產(chǎn)生器70則產(chǎn)生一抖動信號77，其中循跡誤差信號112以及抖動信號77都被送至一檢測單元108中。當循跡誤差信號112為0時，此檢測單元108將取樣抖動信號77，并比較這些取樣抖動信號的振幅。再依據(jù)比較結果，決定出讀寫頭20是在一凹軌22或是在一凸軌28上，并且產(chǎn)生一凹/凸軌道信號(縮寫成“凹/凸信號”)115。在一實施例中，當讀寫頭20是在一凹軌22上或在一凸軌28上時，凹/凸信號115則分別具有1或0的數(shù)值。
檢測單元108也產(chǎn)生一讀寫頭移動方向信號116(縮寫成“讀寫移動方向信號”)，表示讀寫頭20依據(jù)取樣的抖動信號的比較結果，在相對盤片12的徑向方向的移動方向。在一實施例中，讀寫移動方向信號116可以依據(jù)循跡誤差信號112的斜率信息以及關于上述讀寫頭是在一凸軌28或是在一凹軌22上的信息而得。在一實施例中，當讀寫頭20相對軌道的移動方向是徑向的朝外或是朝內時，讀寫移動方向信號116則分別為1(高)或0(低)的值。
接著，循跡誤差信號112、凹/凸信號115以及讀寫移動方向信號116被送到一軌道存取單元110，此軌道存取單元110用以控制讀寫頭20的位置(亦同時控制盤片12的激光束30的位置)。主機計算機19可要求存取被儲存在一特定軌道上的資料。例如，當光盤12是一CD-R、CD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-R、DVD-RW、藍光激光可刻錄(BD-R)、或是藍光激光可覆寫(BD-RW)光盤時，資料是寫在凹軌內。對上述的盤片類型而言，軌道存取單元110將讀寫頭20鎖定到凹軌內來完成讀/寫動作。
在一實施例中，當軌道存取單元110嘗試去將讀寫頭20鎖定在一特定軌道312上(參見圖7)，軌道存取單元110利用一負反饋控制回路，用以控制讀寫頭20的位置，以使循跡誤差(TE)信號112等于0。例如，當循跡誤差信號112小于0時，負反饋回路會將讀寫頭徑向地朝內移動；當循跡誤差信號112大于0時，負反饋回路會將讀寫頭徑向地朝外移動。循跡誤差信號112的絕對值愈大，將讀寫頭20朝軌道中心移動的力量就愈大。
若軌道存取單元110決定出讀寫頭20是在點P10(其循跡誤差信號112小于0)，則軌道存取單元110將讀寫頭20朝內移動，使得最終讀寫頭20落在循跡誤差信號112為0的點P11上。
若讀寫頭20是在一個凸軌(如314所示)上方，則不能使用負反饋回路。負反饋回路是設計來將讀寫頭20移動到一個凹軌(如312所示)的中心，并當讀寫頭20在一凸軌(如314所示)上時，產(chǎn)生一正反饋。例如，如果讀寫頭20落在點P12，則負反饋回路將導致讀寫頭沿徑向朝內的方向移動，并且讀寫頭20朝內移動的愈遠，將讀寫頭20朝內移動的力量就愈大，造成不穩(wěn)定，同時也更導致讀寫頭20滑動到錯的軌道上。
在一實施例中，為了增加軌道存取單元110的鎖定能力，軌道存取單元110包括一循跡誤差維持裝置(TE hold mechanism)312，用以當讀寫頭20是在一凸軌上時，維持被取樣的循跡誤差信號112的值。當讀寫頭沿徑向朝外的方向移動時，循跡誤差維持裝置312只有在讀寫頭20仍在一凸軌(可以是與維持此TE值時相同的凸軌或是一不同的凸軌)時，允許循跡誤差信號112自維持值遞減。同時，當讀寫頭20沿徑向朝內的方向移動時，循跡誤差維持裝置312只有在讀寫頭20仍在一凸軌(可以是與維持此TE值時相同的凸軌或是一不同的凸軌)時，允許循跡誤差信號112自維持值遞增。
有多個方式可用來決定出被取樣的循跡誤差信號要被循跡誤差維持裝置312維持在什么值上。在一實施例中，當讀寫頭20沿徑向朝內或朝外的方向移動時，此維持值則分別為在讀寫頭20在凸軌上的時間周期內取樣的循跡誤差信號的最大值或最小值。
通過傳送此維持的TE值(代替目前取樣的TE值)到負反饋回路中，可降低讀寫頭20在凸軌上的滑動。如此無論讀寫頭20是在一凹軌或是一凸軌上方，軌道存取單元110都可以開始鎖定讀寫頭20的程序。
當讀寫頭20移動到一凹軌上時，循跡誤差維持裝置312停止維持TE值，且測得的循跡誤差信號112被送到負反饋回路中，以使讀寫頭20可以鎖定在凹軌的中心。
檢測單元108則產(chǎn)生一個保護信號117來指示在進行軌道存取時，凹/凸信號115以及讀寫移動方向信號116是否可以被使用。例如，凹/凸信號115以及讀寫移動方向信號116可能會有短時脈沖波干擾(glitch)，造成失效，因此這些信號就不能使用。保護信號117指示是否循跡誤差維持裝置312可以被關閉(disabled)并且不維持TE值，即便凹/凸信號115指出讀寫頭20是在一凸軌上。保護信號117也指出是否讀寫頭20是在一資料區(qū)以及一空白區(qū)的邊緣上，使得抖動信號可能不連續(xù)，所以不能使用。以下將更詳加描述保護信號117。
下列提供三種產(chǎn)生凹/凸信號115以及讀寫移動方向信號116的方法。
第一種產(chǎn)生凹/凸信號115和讀寫移動方向信號116的方法圖9顯示一個凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置120的示范例。在循跡誤差信號112是等于0的連續(xù)情況期間，抖動信號77的包封至少被取樣兩次。上述兩個取樣的值接著被拿來作比較，用以產(chǎn)生一第一軌道類型(type)信號154，其指示當抖動信號77被取樣時，讀寫頭20是在接近或是在一凹軌或是一凸軌的中心。凸/凹信號115是由第一軌道類型信號154所取得，用以表示目前軌道是一凸軌或是一凹軌(目前軌道視為讀寫頭20目前所在的軌道)。
圖10顯示由裝置120的單元所產(chǎn)生的信號圖360。以下先描述如何產(chǎn)生凸/凹信號115，接著描述如何產(chǎn)生讀寫方向信號116。
首先，零交點檢測單元122接收循跡誤差信號112，決定出何時循跡誤差信號112等于0(如在點P18和P19上)，并且輸出一循跡誤差零交點(TEZC)信號124。當循跡誤差信號112變成0時并且循跡誤差信號112的斜率為正時，此TEZC信號124具有一上升緣(rising edge)(如158)；當循跡誤差信號112變成0時并且循跡誤差信號112的斜率為負時，此TEZC信號124具有一下降緣(failing edge)(如160)。邊緣(edge)檢測單元126產(chǎn)生一脈沖信號128，此脈沖信號具有脈沖表示TEZC信號124具有一上升緣或下降緣的位置。正緣檢測單元130產(chǎn)生一脈沖信號152，此信號152具有具有脈沖表示TEZC信號124具有上升緣的位置。
包封檢測單元132接收抖動信號77，決定出抖動信號77的包封，并且產(chǎn)生一抖動包封信號134。在一實施例中，包封檢測單元132通過維持抖動信號77內每個周期(cycle)的最高值或最低值、通過將抖動信號77內每個周期的最高值減掉最低值、或是通過取得每個抖動周期中抖動信號的最高絕對值，來決定出抖動信號77的包封。一個取樣維持(sample-and-hold)單元136在脈沖信號128上出現(xiàn)一脈沖(其表示TEZC信號124的一邊緣)時，取樣與維持抖動包封信號134的值，并且輸出一取樣值(Wobble_SH1)138。取樣維持單元136可以是模擬的或是數(shù)字的(其可以利用一個模擬到數(shù)字的轉換器來取樣抖動包封信號)。第二取樣維持(sample-and-hold)單元140將取樣值138延遲TEZC信號124的半個周期，并且輸出一個此延遲的取樣值(Wobble_SH2)150。例如，在點P20的取樣值被延遲一段t6的時間，相當于TEZC信號124的半個周期。類似地，在點P21的取樣值被延遲一段t7的時間，且在點P22的取樣值被延遲一段t8的時間。
在TEZC信號124的上升緣或下降緣上，比較器142比較延遲的取樣信號150以及一個較新的取樣值(more recentlys ampled value)138，并且輸出第一軌道類型信號154。若此較新的取樣值138大于延遲的取樣信號150，則第一軌道類型信號154在TEZC信號124邊緣將具有1的值，用來表示當量測此較新的取樣值138時，讀寫頭20是落在一凹軌的中心。相反地，假如此較新的取樣值138小于延遲的取樣信號150，則第一軌道類型信號154在TEZC信號124邊緣將具有0的值，用來表示當量測此較新的取樣值138時，讀寫頭20是落在一凸軌的中心。
第一軌道類型信號154允許系統(tǒng)10來決定出在轉動了一個半(one-half)軌道之后，讀寫頭20是在一凸軌或是在一凹軌上(這是因為兩個取樣的抖動包封值的比較是當循跡誤差信號為0時執(zhí)行的，循跡誤差信號為0則發(fā)生在讀寫頭20在軌道中心時)。
第一軌道類型信號154可以是時移(time-shifted)的，以產(chǎn)生凸/凹信號115，此凸/凹信號115提供有關于讀寫頭20是否在一接近軌道開頭的凹軌或凸軌上的信息。
斜率檢測單元133接收循跡誤差信號112并且產(chǎn)生一TE斜率信號139。邊緣檢測單元135接著檢測TE斜率信號139的邊緣，并產(chǎn)生一斜率邊緣信號141。斜率邊緣信號141包括脈沖來表示TE斜率信號139的上升緣與下降緣的位置，其大概表示軌道邊緣的位置。當斜率邊緣信號141中有一脈沖發(fā)生時，閂鎖(latch)單元137會閂住第一軌道類型信號154的值。閂鎖值147(視為一互補凸/凹信號)表示前一個(previous)軌道的型態(tài)，如分別用1或0的閂鎖值來表示前一個軌道是一凸軌或是一凹軌。一個非門(NOT gate)反轉閂鎖值147的極性并且產(chǎn)生凸/凹信號115，其在讀寫頭20在一凹軌或在一凹軌時，分別具有1或0的值。
為了決定出讀寫頭20相應光盤12的移動方向，閂鎖單元144用以在被脈沖信號152中的一脈沖觸發(fā)時，閂住第一軌道類型信號154的值，并且輸出讀寫移動方向信號116。因為比較器142需要一小段時間來比較兩個取樣的信號，故第一軌道類型信號154的上升緣和下降緣分別稍微的落后TEZC信號124上升緣和下降緣。因此，第一軌道類型信號154的值在脈沖信號152中的脈沖發(fā)生后被閂住一小段時間。
在一實施例中，假使當TEZC信號中有一正緣時(表示循跡誤差信號112的斜率為正)，第一軌道類型信號154的值是等于1(表示讀寫頭在一凹軌上)，則讀寫移動方向信號116將具有0的值(如164)，表示讀寫頭20正徑向地朝內移動；當在TEZC信號中有一負緣時，第一軌道類型信號154的值是等于0，則讀寫移動方向信號116將具有1的值(如166)，表示讀寫頭20正徑向地朝外移動。
利用裝置120，當讀寫頭20改變徑向的移動方向，例如由徑向地朝內移動改為徑向地朝外移動，如圖4中的點P1的例子，讀寫移動方向信號116將延遲半個周期的TEZC信號124。例如，邊緣147(以虛線表示)表示移動方向真正由朝內移動變?yōu)槌庖苿拥狞c，此時讀寫移動方向信號116的值在邊緣149上由0變?yōu)?，落后半個周期的TEZC信號124。
為了解決上述問題，讀寫移動方向信號116可通過在TEZC信號124的正緣和負緣同時取樣第一軌道類型信號154來產(chǎn)生。假使當TEZC信號124有一個正緣或負緣時，第一軌道類型信號154的值是分別等于0或1，則讀寫移動方向信號116將具有1的值(如166)，表示讀寫頭20正徑向地朝外移動。假使當TEZC信號124有一個正緣或負緣時，第一軌道類型信號154的值是分別等于1或0，則讀寫移動方向信號116將具有0的值，表示讀寫頭20正徑向地朝內移動。
如圖4中在點P2的例子，當讀寫頭20由徑向地朝外移動改為徑向地朝內移動時，裝置120將精確地決定出讀寫頭移動方向。
另一種產(chǎn)生讀寫移動方向信號116的方法是對TEZC信號124以及第一軌道類型信號154執(zhí)行一個互斥或(XOR)運算。因為第一軌道類型信號154稍微地落后TEZC信號124，因此在執(zhí)行互斥或(XOR)運算之前，TEZC信號124必須延遲一段時間。
在一實施例中，凸/凹信號115可通過對讀寫移動方向信號116和TE斜率信號139執(zhí)行一個互斥或(XOR)運算，再對執(zhí)行互斥或運算的結果作反(NOT)運算來產(chǎn)生，以下列算式描述凸/凹信號＝NOT(XOR(讀寫移動方向信號，TE斜率信號))因為讀寫移動方向信號116稍微地落后TE斜率信號139，因此在執(zhí)行互斥或(XOR)運算之前，TE斜率信號139必須延遲一段時間。
在一實施例中，讀寫移動方向信號116可通過在TEZC信號的上升緣上閂住互補凸/凹型態(tài)信號147來產(chǎn)生。若互補凸/凹型態(tài)信號147在TEZC信號的上升緣時其值為0，則讀寫移動方向信號116的值為0(表示讀寫頭正徑向地朝內移動)。相反地，若互補凸/凹型態(tài)信號147在TEZC信號的上升緣時其值為1，則讀寫移動方向信號116的值為1(表示讀寫頭正徑向地朝外移動)。
凸/凹信號115和讀寫移動方向信號116皆可由TEZC信號124和第一軌道類型信號154來取得。因此，凸/凹信號115可由TEZC信號124和讀寫移動方向信號116來取得。類似地，讀寫移動方向信號116可由TEZC信號124和凸/凹信號115來取得。在圖8中，軌道存取單元110可用凸/凹信號115或讀寫移動方向信號116來控制讀寫頭20和激光束30的位置。
在圖10中，循跡誤差信號112具有一個先遞增然后遞減的頻率，表示讀寫頭20先由相應軌道朝內方向移動，接著停止，然后反轉方向朝外移動。
第二種產(chǎn)生凹/凸信號115和讀寫移動方向信號116的方法圖11顯示一個凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置200的示范例。圖12顯示由裝置200內的單元所產(chǎn)生的信號圖370。
斜率檢測單元202接收循跡誤差信號112，決定出何時循跡誤差信號112具有一正斜率(如圖12中從點P23到點P24)和一負斜率(如從點P24到點P25)，并且產(chǎn)生一循跡誤差斜率信號204。當循跡誤差信號112具有一正斜率或負斜率時，循跡誤差斜率信號204則分別具有1或0的值。邊緣檢測單元126則產(chǎn)生一脈沖信號206，此脈沖信號206具有一脈沖表示哪里是循跡誤差斜率信號204由1變?yōu)?或由0變?yōu)?的位置。正緣檢測單元201產(chǎn)生一脈沖信號203，此脈沖信號203具有脈沖(如207)表示哪里是循跡誤差斜率信號204由0變?yōu)?的位置。
包封檢測單元132接收抖動信號77并且產(chǎn)生一抖動包封信號134。積分單元208用來積分抖動包封信號134在脈沖信號206的脈沖(其表示斜率檢測信號204的邊緣)間的一個時間區(qū)間(如t9或t10)上，用以產(chǎn)生一積分值，并表示為積分信號210。積分單元208具有一個類似于圖9中的取樣維持單元136所用的函數(shù)，除了積分單元208持續(xù)積分抖動包封信號134的值之外，其可降低抖動信號77中所導致的噪聲影響或量測抖動信號77時的不準確度。
因為積分運算是對循跡誤差斜率信號204的兩邊緣間中的一個時間區(qū)間作積分而得，積分信號210中的較高值(如366)表示此抖動包封信號134在執(zhí)行積分運算的時間區(qū)間(如t10)內具有一個較大的總振幅。相反地，積分信號210中的較低值(如368)表示此抖動包封信號134在執(zhí)行積分運算的時間區(qū)間(如t11)內具有一個較小的總振幅。
取樣維持單元140將積分信號210延遲半個周期的循跡誤差斜率信號204的時間，并且輸出一個延遲后的積分信號151。比較器142接著比較此延遲的積分信號151的值和一個較新的積分信號210，并且輸出一第二軌道類型信號212。
若較新的積分信號210的值(如一個表示一區(qū)域362在t10時間區(qū)間上的積分值的數(shù)值)是大于延遲的積分信號151的值(如一個表示一區(qū)域364在t9時間區(qū)間上的積分值的數(shù)值)，第二軌道類型信號212將具有1的值，表示在用來計算較新的積分信號210的時間區(qū)間中，讀寫頭20是在一凹軌上。相反地，若較新的積分信號210的值是小于延遲的積分信號151的值，則第二軌道類型信號212將具有0的值，表示在用來計算較新的積分信號210的時間區(qū)間中，讀寫頭20是在一凸軌28上。
第二軌道類型信號212表示讀寫頭20所在的軌道類型，具有一個半周期的循跡誤差信號112的時間延遲。凸/凹信號115可通過將第二軌道類型信號212經(jīng)由一與(NOT)門161傳送來產(chǎn)生。
一個閂鎖145單元用來通過脈沖信號203中的脈沖(表示循跡誤差斜率信號204的一正緣)觸發(fā)，以閂住第二軌道類型信號212的值，并且輸出此閂鎖值為一個讀寫移動方向信號116。因為第二軌道類型信號212表示讀寫頭20在前一個時間區(qū)間(介于循跡誤差斜率信號204的邊緣間)的位置，在循跡誤差斜率信號204的一正緣閂住的第二軌道類型信號212表示讀寫頭在一個正緣結束的時間區(qū)間的移動方向。
例如，第二軌道類型信號212(在點P27)在TE斜率信號的一正緣(以脈沖207表示)發(fā)生時被閂住，表示讀寫頭在一個正緣(以脈沖207表示)結束的時間區(qū)間(如t10)的移動方向。又例如，第二軌道類型信號212(在點P28)在TE斜率信號的一正緣(以脈沖376表示)發(fā)生時被閂住，表示讀寫頭在一個正緣(以脈沖376表示)結束的時間區(qū)間(如t12)的移動方向。若讀寫移動方向信號116具有數(shù)值為0，則表示讀寫頭正朝內移動。相反地，若讀寫移動方向信號116具有數(shù)值為1，則表示讀寫頭正朝外移動。
在圖12中，循跡誤差信號112具有一個先遞增然后遞減的頻率，表示讀寫頭20先由相應軌道朝外方向移動，接著停止，然后反轉方向朝內移動。
抖動信號77的振幅有時可被降低到一個較小的數(shù)值(如因為抖動節(jié)奏(wobble beat))，使得兩個抖動信號的取樣值比較變的困難。以下是關于抖動節(jié)奏的描述。通常在一凹軌上的抖動信號會大于其相鄰凸軌上的抖動信號，因為一凹軌的兩個邊緣是同相，而一凸軌的兩個邊緣則不一定是同相。相鄰的凹軌(例如凹軌n和凹軌n+1)被放在光盤12些微差距的徑向上，因此當讀寫頭20由一內軌往一外軌移動時，相鄰凹軌間的相位差將逐步地遞增(或遞減)。所以，當讀寫頭20由一內軌往一外軌移動時，讀寫頭20經(jīng)過的相鄰凹軌間則交替地同相與反相(out-of-phase)。
當相鄰凹軌間變?yōu)榉聪鄷r，介于兩凹軌間的凸軌的兩邊緣是反相的，造成在凹軌上和在凸軌上的取樣抖動信號差異較大。當相鄰凹軌間變?yōu)橥鄷r，介于兩凹軌間的凸軌的兩邊緣也是同相的，造成在凹軌上和在凸軌上的取樣抖動信號差異較小。因此，當讀寫頭20由一內軌往一外軌移動時，相鄰凸軌和凹軌間的抖動信號的振幅差異將交替地遞增以及遞減。上述動作即視為抖動節(jié)奏。
由于抖動節(jié)奏的關系，相鄰凸軌和凹軌間的抖動信號的振幅差異將變的很小，使得利用比較器142(如圖9或圖11)決定出凸/凹軌道類型和讀寫頭移動方向變的困難，造成在存取特定軌道的誤差。以下描述一種克服此問題的方法。
第三種產(chǎn)生凹/凸信號115和讀寫移動方向信號116的方法圖13顯示一凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置300的示范例。圖14顯示由上述裝置300內的單元所產(chǎn)生的信號圖310。
凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置300類似于圖9中的凹/凸軌和讀寫頭移動方向檢測裝置120，主要的差別在于，裝置300改用一互斥或(XOR)門302來取代裝置120中的閂鎖(latch)單元144。如圖14所示，當讀寫頭20正徑向地朝內移動時，數(shù)值比較單元340的輸出314以及TEZC信號124是在同方向(都是1或都是0)改變，且當讀寫頭20改為徑向地朝外移動時，單元340的輸出314以及TEZC信號124改變?yōu)橄喾捶较?如TEZC 124信號變?yōu)?，而輸出314變?yōu)?)。因此，一讀寫頭徑向移動方向信號可通過對輸出314以及TEZC信號124作XOR運算來獲得。因為數(shù)值比較單元340的輸出314稍微落后TEZC信號124，故在送到XOR門302之前，TEZC信號124將通過一延遲單元125延遲足夠的時間以傳送到XOR門302。
由取樣信號SH1 138中可觀察到抖動節(jié)奏，其顯示相鄰軌道間的差異交替地遞增和遞減。當相鄰軌道間的抖動信號的振幅很小，如在圖14中的軌道y1、y2和y 3，依據(jù)連續(xù)軌道的抖動振幅比較結果來精確地決定出凸/凹軌道類型和讀寫頭移動方向將變得困難。在軌道y2上的抖動振幅是大于在軌道y1上的抖動振幅，并且在軌道y3上的抖動振幅也大于在軌道y2上的。假使利用裝置120(圖9)或裝置200(圖11)，上述裝置可能會不正確地決定軌道y1、y2和y3都是凹軌，并且讀寫頭20在軌道y1、y2和y3上的移動會突然地由朝內移動變成朝外移動，然后再變成朝內移動。上述的錯誤現(xiàn)象被視為失效。
一個消除短時脈沖波干擾(deglitch)單元304用來移除來自XOR門302的輸出故障點(如316、318和320)，用以產(chǎn)生一讀寫頭移動方向信號116。在一實施例中，消除短時脈沖波干擾單元304計數(shù)在XOR信號308改變之后，經(jīng)過的半周期(half-cycles)次數(shù)。若半周期的次數(shù)是小于或等于一默認值m(如在圖14中，m被設為1)，則讀寫頭移動方向信號116維持不變。例如，脈沖316、318和320在一個半周期之后變成0，所以在脈沖316、318和320點上的讀寫頭移動方向信號116維持不變。若半周期的次數(shù)是大于一默認值m，則讀寫頭移動方向信號116將會改變。例如，在XOR信號308在322點被拉高為高電位之后，XOR信號308維持多于一個半周期的高電位，因此在一個半周期之后，讀寫頭移動方向信號116變成高電位(如323)。
一般而言，消除短時脈沖波干擾單元304用以在讀寫頭20是在一凹軌上時，防止軌道存取單元110(圖8)不正確地維持TE值。然而，當讀寫頭20改變其移動方向時，這樣中的一個改變將不會反應在讀寫頭移動方向信號116上，直到m個半周期的循跡誤差信號112之后。在這段延遲的時間內，軌道存取單元110可能會不正確地依靠讀寫頭移動方向信號116作決定，導致在軌道存取時的不穩(wěn)定性。
當讀寫頭20顛倒其徑向移動方向，則跨軌(track crossing)頻率(即讀寫頭20穿越軌道間的頻率)常會下降到一確定的臨界值的下。因此，為了減少由于消除短時脈沖波干擾單元304造成的延遲誤差，裝置300包括一低跨軌頻率(low track-crossing frequency)保護單元402，用以比較TEZC信號124的頻率(表示跨軌頻率)和一TEZC信號頻率臨界值(TEZC_FREQ_TH)342，并且產(chǎn)生一個PROTECT1信號408。當TEZC信號124的頻率是低于TEZC_FREQ_TH342時，PROTECT1信號408被拉到高電位，且在TEZC信號124的頻率是等于或高于TEZC_FREQ_TH 342時被降到低電位。
在一實施例中，TEZC_FREQ_TH＝1kHz。當TEZC信號124的頻率是低于1kHz時，PROTECT1信號408被拉到高電位(如圖14中的330)，且在TEZC信號124的頻率是等于或高于1kHz的后數(shù)個半周期被降到低電位(如圖14中的332)。
當PROTECT1信號408被拉到高電位之后，其表示軌道存取單元110(圖8)不能利用凸/凹信號115和讀寫頭移動方向信號116來決定出是否執(zhí)行軌道存取，例如維持循跡誤差信號112的值(利用圖8的循跡誤差維持裝置312)、在嘗試將讀寫頭20鎖定在一軌道時，對讀寫頭施以一抑制力量(brakingforce)、以及鎖定讀寫頭20在一特定軌道上的明確動作。
裝置300還包括一抖動節(jié)奏保護單元404以減少由于抖動節(jié)奏造成的錯誤。保護單元404接收取樣值(Wobble_SH1)138、延遲的取樣值(Wobble_SH2)150以及一抖動臨界值(Wobble_TH)344，并且產(chǎn)生一PROTECT2信號410。當連續(xù)兩個抖動包封的取樣值差異小于抖動臨界值344時，PROTECT2信號410被拉到高電位；同時當連續(xù)兩個抖動包封的取樣值差異等于或大于抖動臨界值344時，PROTECT2信號410被拉到低電位。如此當有短時脈沖波干擾發(fā)生時，如圖14中的脈沖316、318以及320所示，可防止軌道存取單元110不正確地控制讀寫頭移動。
PROTECT1信號408和PROTECT2信號410都被送到一或(OR)門418，用以產(chǎn)生要送到軌道存取單元110的保護信號117(如圖8)。
在圖13的實施例中，當TEZC信號124的頻率是低于TEZC_FREQ_TH 342或是當SH1減掉SH2的絕對值小于Wobble_TH 344(|SH1-SH2|＜Wobble_TH)時，保護信號117被拉到高電位。當TEZC信號124的頻率是大于或等于TEZC_FREQ_TH 342以及當SH1減掉SH2的絕對值大于或等于Wobble_TH344(|SH1-SH2|≥Wobble_TH)時，保護信號117則被降到低電位。
圖15顯示一個利用一校正單元414(圖13)的一處理程序320，用以校正數(shù)值比較單元340的輸出314，以產(chǎn)生一校正后的第一軌道類型信號155。此處理程序320利用一個關于一個已知軌道類型的軌道信息來預測次一軌道的軌道類型。例如，若已知目前軌道為一凹軌，則次一軌道則被預測為一凸軌，并且在次一軌道之后的軌道則預測為一凹軌。在處理程序320中，延遲的TEZC信號322的邊緣是先被決定(步驟324)，接著比較測得軌道類型與預測軌道類型(步驟326)。若測得軌道類型是不同于預測軌道類型，將變量miss_track_type_count累加一(步驟328)。變量miss_track_type_count表示一個測得軌道類型不同于預測軌道類型的軌道數(shù)計數(shù)值。若測得軌道類型是等于預測軌道類型，將變量miss_track_type_count設為0(步驟330)。
變量miss_track_type_count接著與一默認值N(如N＝3)比較(步驟332)。假使miss_track_type_count值小于或等于默認值N，表示介于預測軌道類型和測得軌道類型間的不一致可能是由一短時脈沖波干擾造成的，此時第一軌道類型信號155是設到一個表示此預測軌道類型的值，并且miss_track_type_count值是設成0。假使變量miss_track_type_count值大于默認值N，表示可能預測軌道類型和測得軌道類型間的差異不是由短時脈沖波干擾造成的，此時第一軌道類型信號155的值是設成測得軌道類型的值(步驟336)。預測軌道類型被設成與目前第一軌道類型相反(步驟338)(因為次一軌道類型必須與目前軌道類型相反)，同時處理程序320由循環(huán)返回到最初的決定延遲的TEZC信號322的邊緣的步驟(步驟324)。
對第一軌道類型信號155和延遲的TEZC信號322執(zhí)行XOR運算，可獲得一個無短時脈沖波干擾的讀寫移動方向信號116。類似地，也可對經(jīng)消除短時脈沖波干擾的讀寫移動方向信號116執(zhí)行XOR運算來獲得經(jīng)校正過的第一軌道類型信號155。
在圖13中的裝置300，凸/凹信號115可利用前述的方法由校正過的第一軌道類型信號155和循跡誤差信號122中取得。
具有空白軌道以及資料軌道的光盤當一光盤里有資料儲存在軌道上時，抖動信號將被儲存的資料所影響。下列描述一個通過考慮是否資料被記錄在軌道上來決定凸/凹軌道類型以及讀寫移動方向的光學刻錄系統(tǒng)。
圖16顯示一個用以產(chǎn)生一定軌控制信號313的模塊區(qū)塊圖，用以在存取軌道時控制讀寫頭20。圖16中的模塊的作用類似于圖8中的相同模塊，差別在于多了射頻加總信號產(chǎn)生器356以及多任務器358。多任務器358允許系統(tǒng)10選取要用抖動信號77或射頻信號85來作軌道存取。在一實施例中，多任務器358被一個空白信號360所控制，此空白信號360是0或1乃分別依據(jù)讀寫頭20是在光盤中的一個空白部分(視為一空白區(qū))或是一個資料部分(視為一資料區(qū))來決定。換言之，多任務器358可以被一使用者可選取的信號所控制，使用者可選取的信號允許使用者依據(jù)光盤12的類型或條件，手動地選取將抖動信號77或射頻加總信號85用于軌道存取。多任務器358的輸出354接著送至一檢測單元109，此檢測單元109可類似包括在裝置120(圖9)、200(圖11)或是300(圖13)中的相同組件。
圖17顯示量測一具有資料區(qū)350以及空白區(qū)352的光盤的信號圖390。在一實施例中，對具有資料區(qū)350以及空白區(qū)352的光盤而言，可通過在資料區(qū)350使用射頻加總信號85和在空白區(qū)352使用抖動信號77以決定出凸/凹軌道類型和讀寫頭徑向移動方向。如圖17所示，介于相鄰凹軌以及凸軌間的射頻加總信號85的振幅差異在資料區(qū)350較大，而在空白區(qū)352較小。至于介于相鄰凹軌以及凸軌間的抖動信號77的振幅差異則是在資料區(qū)350較小，而在空白區(qū)352較大。
當多任務器358選取了抖動信號77，可通過前述方法產(chǎn)生凸/凹信號115和讀寫移動方向信號116。當多任務器358選取了射頻加總信號85，可通過前述方法或通過比較射頻加總信號85和TEZC信號124包封的零交點相位產(chǎn)生凸/凹信號115和讀寫移動方向信號116。
當多任務器358的選取由射頻加總信號85切換到抖動信號77或由抖動信號77切換到射頻加總信號85時，多任務器358的輸出354的信號準位可能會有不連續(xù)的現(xiàn)象(如362和364)。此現(xiàn)象可能會造成凸/凹信號115和讀寫移動方向信號116的誤差，導致循跡誤差維持裝置312(圖8)不正確地維持循跡誤差信號112。
檢測單元109包括一個可產(chǎn)生一個保護信號118的保護單元311，用以表示多任務器358在射頻加總信號85和抖動信號77間切換選取的這段時間內，凸/凹信號115和讀寫移動方向信號116可能會有誤差發(fā)生。當多任務器358切換信號時，保護單元311將保護信號118提升(如384)到高電位，并且在一段預設保護周期(Protect_time)后壓低(例386)保護信號118至低電位。在一實施例中，保護周期是等于一個TEZC信號124周期。在這段保護周期內，因為保護信號是高電位，所以循跡誤差維持裝置312不會維持循跡誤差信號112。
圖18顯示一保護單元400的示意圖。保護單元400包括一個低跨軌頻率保護單元402、一個抖動節(jié)奏保護單元404、以及一個空白/數(shù)據(jù)切換保護單元406。低跨軌頻率保護單元402產(chǎn)生一個PROTECT1信號408，此PROTECT1信號408在TEZC信號124的頻率低于TEZC_FREQ_TH 342時，被拉到高電位，而在TEZC信號124的頻率高于或等于TEZC_FREQ_TH 342時，被降到低電位。抖動節(jié)奏保護單元404產(chǎn)生一個PROTECT2信號410，此PROTECT2信號410在|SH1-SH2|＜Wobble_TH344時，被拉到高電位，而在|SH1-SH2|≥Wobble_TH344時，被降到低電位?？瞻?資料切換保護單元406則產(chǎn)生一個PROTECT3信號412，此PROTECT3信號412在多任務器358于射頻加總信號85和抖動信號77間作切換時被拉到高電位，且在一段預設保護周期Protect_time 420時間后，被降到低電位。
保護單元400包括用以處理PROTECT1、PROTECT2和PROTECT3信號的邏輯門，用以產(chǎn)生一保護信號117。保護信號117在兩種情況下是為高電位(1)當PROTECT3信號412是高電位時或(2)當空白信號360是低電位并且PROTECT1信號408或PROTECT2信號410是高電位時。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內，當可做些許更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視權利要求所界定者為準。例如，凸軌可設計成令一凸軌的兩邊緣彼此平行，然而一凹軌的兩邊緣不一定彼此平行。如此，推拉信號在一凸軌上的取樣振幅可能大于在一凹軌上的取樣振幅。
循跡誤差信號的斜率可依據(jù)是否凸軌具有高于凹軌的反射系數(shù)，以及依據(jù)使用于計算循跡誤差信號的算法，量測一段時間而得。例如，在圖7中，若凸軌設計成具有低于凹軌的反射系數(shù)，當讀寫頭20在一位置(如P30)上，此位置即光感應器60和63檢測來自一凹軌的反射光并且光感應器61和62檢測來自一凸軌的反射光的處，此時循跡誤差信號將具有一較高值。當讀寫頭20在另一位置(如P32)上，此位置即光感應器60和63檢測來自一凸軌的反射光并且光感應器61和62檢測來自一凹軌的反射光的處，則循跡誤差信號將具有一較小值。在此情況下，當讀寫頭是在一凹軌或是一凸軌上徑向地朝外移動時，循跡誤差信號的斜率將分別為正或為負。相反地，當讀寫頭20是沿相應軌道朝內移動時，循跡誤差信號112的斜率在讀寫頭是在一凹軌上時，斜率為負，而在讀寫頭是在一凸軌上時，斜率則為正。
在圖7中，當讀寫頭20是在一凹軌上一個朝外方向移動時，循跡誤差信號112的斜率是正或負為依據(jù)光檢測器40的設定以及計算循跡誤差信號的算法。
在圖6中，光檢測器40可以是一個二分(bi-section)光檢測器，其具有兩個獨立的光檢測器以檢測來自一軌道左右兩邊的反射光。
凸/凹軌道類型以及讀寫頭徑向的移動方向可通過一個在不同時間測得的抖動信號的比較來決定。光學刻錄系統(tǒng)10可具有多于一個的光檢測器40，其可依據(jù)相鄰軌道的測量來產(chǎn)生抖動信號。通過不同光檢測器40同時地產(chǎn)生的抖動信號，可拿來作比較以決定出凸/凹軌道類型以及讀寫頭徑向的移動方向。
另外，關于如何控制循跡致動器以微調讀寫頭的鏡片的位置的描述，在此省略。在一實施例中，鎖定讀寫頭至一特定軌道上的動作包含控制一個循跡馬達以及循跡致動器的組合，用以調整讀寫頭和鏡片的位置來鎖定激光束在特定軌道上。在上述描述中的信號(例如循跡誤差信號、抖動信號和射頻信號)可以是依據(jù)激光束相應軌道的位置產(chǎn)生。
高低信號準位可以互換。例如，讀寫移動方向信號116可以設成當信號116為高準位時，表示讀寫頭20正由一外軌移動至一內軌，并且當信號116為低準位時，表示讀寫頭20正由一內軌移動至一外軌。
光盤12可以是任何一種具有遞回偏差軌道的光盤類型，例如CD-R、CD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-R、DVD-RW、藍光激光可刻錄(BD-R)、或是藍光激光可覆寫(BD-RW)光盤、高密度DVD(HD-DVD)、雙層光盤或多層光盤。比較一抖動信號的不同取樣以決定出軌道類型以及讀寫頭移動方向并未局限于對一光學存取系統(tǒng)，也可以是對像磁性光學(magneto-optic)或磁性刻錄系統(tǒng)的其它系統(tǒng)。光盤可通過修改部分光盤的透射率(transmissivities)來記錄資料。
光學刻錄系統(tǒng)10可包括一譯碼器，此譯碼器可依據(jù)兼容于至少一種CD-R、DVD+R、DVD+RW、DVD-R、DVD-RW、藍光激光可刻錄(BD-R)、或是藍光激光可覆寫(BD-RW)光盤、高密度DVD(HD-DVD)光盤標準的處理程序，譯碼被編碼的資料。光學刻錄系統(tǒng)10也可設成可存取雙層或多層光盤。
凸/凹軌道類型和讀寫頭移動方向檢測裝置120(如圖9)、200(如圖11)、300(如圖13)以及109(如圖16)可具有類似消除短時脈沖波干擾單元304(如圖13)和校正單元414的單元，用以排除故障。裝置120、200、300以及109也可具有一個類似保護單元400的單元，用以在跨軌頻率低時、在抖動節(jié)奏發(fā)生或切換于一空白部分和一資料部分間時防止發(fā)生誤差。
權利要求
1.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟接收一光學儲存媒體，其具有多條凹軌以及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構；驅動一檢測器掃描上述光學儲存媒體，以檢測來自上述光學儲存媒體的反射光；依據(jù)上述檢測器的輸出，產(chǎn)生一抖動信號和一循跡誤差信號；依據(jù)上述循跡誤差信號，取樣上述抖動信號；以及依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號取樣值間的比較結果，決定出上述檢測器是在上述凹軌上或在上述凸軌上。
2.如權利要求1所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括當在一特定時間點得到的取樣值大于在另一時間點得到的另一取樣值時，決定出上述檢測器在上述特定時間點是在一凹軌上。
3.如權利要求1所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括當循跡誤差信號為0時，取樣上述抖動信號。
4.如權利要求1所述的光學儲存媒體檢測方法，其中在決定出上述檢測器是在上述凹軌上或在上述凸軌上的步驟中，包括比較上述抖動信號的一包封在不同時間周期內積分的取樣積分值。
5.如權利要求4所述的光學儲存媒體檢測方法，其中計算上述抖動信號的一包封在不同時間周期內積分的取樣積分值是通過在上述循跡誤差信號的一斜率為正的一時段內或在上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內，對上述抖動信號的上述包封的振幅作積分。
6.如權利要求1所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括依據(jù)一第一軌道是一凹軌或一凸軌的已知知識，預測一第二軌道是一凹軌或一凸軌。
7.如權利要求6所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括比較上述第二軌道的上述預測軌道類型與上述第二軌道的一量測軌道類型，且上述量測軌道類型是部分依據(jù)上述抖動信號來決定。
8.如權利要求7所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括對多數(shù)軌道執(zhí)行預測軌道類型與量測軌道類型的比較，并且當上述預測軌道類型是不同于上述量測軌道類型的比較次數(shù)小于一默認值時，決定其最后預測軌道類型是正確的軌道類型。
9.如權利要求7所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括對多數(shù)軌道執(zhí)行預測軌道類型與量測軌道類型的比較，并且當上述預測軌道類型是不同于上述量測軌道類型的比較次數(shù)大于一默認值時，決定其最后預測軌道類型是正確的軌道類型。
10.如權利要求1所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括取樣上述抖動信號的一振幅、上述抖動信號的一峰值和上述抖動信號的一包封的至少一個。
11.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟接收一光學儲存媒體，其具有多條凹軌以及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構；驅動一檢測器掃描上述光學儲存媒體，以檢測來自上述光學儲存媒體的反射光；依據(jù)上述檢測器的輸出，產(chǎn)生一抖動信號和一循跡誤差信號；依據(jù)上述循跡誤差信號，取樣上述抖動信號；以及依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值間的比較結果，決定上述檢測器的一移動方向。
12.如權利要求11所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述抖動信號的取樣值間的比較步驟包括比較在不同時間得到的兩個上述抖動信號的取樣值。
13.如權利要求11所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述抖動信號的取樣值是當上述循跡誤差信號為0時所得到。
14.如權利要求11所述的光學儲存媒體檢測方法，其中比較上述抖動信號的取樣值的步驟包括比較上述抖動信號的一包封的積分值，上述積分值是通過在上述循跡誤差信號的一斜率為正的一時段內或是在上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內，對上述抖動信號的上述包封作積分來得到。
15.如權利要求11所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括通過比較上述循跡誤差信號和一臨界值，以產(chǎn)生一個二元信號，并依據(jù)上述循跡誤差信號和上述臨界值的比較結果，決定上述二元信號具有一高值或低值，并且依據(jù)上述二元信號以及上述抖動信號的取樣值間的比較結果，決定上述檢測器的上述移動方向。
16.如權利要求15所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述臨界值是為0。
17.如權利要求11所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述檢測器的上述移動方向是依據(jù)上述循跡誤差信號的一斜率來決定。
18.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟以一光束掃描一光學儲存媒體，上述光學儲存媒體具有多條凹軌以及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構；依據(jù)來自上述光學儲存媒體的反射光，產(chǎn)生一抖動信號和一射頻信號，上述抖動信號具有關于被上述光束掃描過的一軌道的上述抖動結構信息，且上述射頻信號具有關于記錄在上述軌道內的資料信息；選取上述抖動信號和上述射頻信號中的一個；以及依據(jù)上述選取的信號，決定出上述光束是在一凹軌上或是在一凸軌上。
19.如權利要求18所述的光學儲存媒體檢測方法，其中選取上述抖動信號和上述射頻信號中的一個的步驟包括依據(jù)上述光束是在上述光學儲存媒體的一具有資料的資料區(qū)間內或是在上述光學儲存媒體的一不具資料的空白區(qū)間內作選取。
20.如權利要求18所述的光學儲存媒體檢測方法，還包括產(chǎn)生一循跡誤差信號，其具有隨著上述檢測器相應于上述凹軌以及上述凸軌的一位置變化的一振幅；其中依據(jù)上述選取的信號，決定出上述光束是在一凹軌上或是在一凸軌上的步驟包括比較依據(jù)上述循跡誤差信號作取樣的上述選取信號的取樣值。
21.一種移動方向檢測方法，包括下列步驟依據(jù)由一檢測器掃描過一光學儲存媒體所檢測得的光，產(chǎn)生一抖動信號、一循跡誤差信號、以及一射頻信號，上述光學儲存媒體具有多條凹軌及凸軌，且每一軌道具有一抖動結構；選取上述抖動信號和上述射頻信號中的一個；以及依據(jù)上述選取的信號以及上述循跡誤差信號，決定出上述檢測器相應上述軌道的一移動方向。
22.如權利要求21所述的移動方向檢測方法，還包括依據(jù)上述光束是在上述光學儲存媒體的一具有資料的資料區(qū)間內或是在上述光學儲存媒體的一不具資料的的空白區(qū)間內，選取上述抖動信號和上述射頻信號中的一個。
23.如權利要求21所述的移動方向檢測方法，還包括依據(jù)基于上述循跡誤差信號對上述選取信號進行取樣所得的取樣值間的比較結果，決定出上述檢測器的上述移動方向。
24.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟產(chǎn)生一循跡誤差信號，其振幅是隨一光束相應于一光學儲存媒體的一位置變化，上述光學儲存媒體具有一凹軌以及一凸軌，并且當上述光束是落在上述軌道之一的一中線時，上述循跡誤差信號相等于一既定值；以及利用一反饋回路，依據(jù)上述循跡誤差信號控制上述光束相對于上述凹軌的上述位置，其包括當上述光束是在上述凸軌上時，維持上述循跡誤差信號值，以及當上述光束是在上述凹軌上時，使用上述循跡誤差信號的一量測值。
25.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟依據(jù)一檢測器檢測到的至少一反射光以及透射光，產(chǎn)生一射頻信號與一循跡誤差信號，上述檢測器掃描過一光學儲存媒體，其具有多條軌道，并且上述軌道的反射率或透射率是與軌道外區(qū)域不同；以及依據(jù)上述射頻信號的取樣值間的比較結果，決定出上述檢測器是在一軌道或是在一介于軌道間的區(qū)域，其中上述射頻信號的取樣值是依據(jù)上述循跡誤差信號作取樣。
26.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟依據(jù)一檢測器檢測到的反射光或透射光，產(chǎn)生一射頻信號與一循跡誤差信號，其中上述檢測器掃描過一光學儲存媒體，其具有多條軌道，并且上述軌道的反射率或透射率是與上述軌道外區(qū)域不同；以及依據(jù)上述射頻信號的取樣值間的比較結果，決定出上述檢測器的一移動方向，其中上述射頻信號的取樣值是依據(jù)上述誤差信號作取樣。
27.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟以一光束掃描過一光學儲存媒體，上述光學儲存媒體具有多條軌道，且上述軌道的反射率是與上述軌道外區(qū)域不同；依據(jù)來自上述光學儲存媒體的反射光，產(chǎn)生一射頻信號；以及依據(jù)上述射頻信號的取樣值的比較結果，決定出上述以該光束掃描過該光學儲存媒體的步驟是在一軌道或是在一介于上述軌道間的區(qū)域進行。
28.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟驅動一檢測器掃描一光盤，上述光盤具有多條軌道，用以檢測來自上述光盤的反射光，并且上述軌道的反射率是與軌道外區(qū)域的反射率不同；依據(jù)上述檢測器的一輸出結果，產(chǎn)生一射頻信號；以及依據(jù)上述射頻信號的取樣值間的比較結果，決定出上述檢測器是由一外軌往一內軌移動或是由一內軌往一外軌移動。
29.一種光學儲存媒體檢測方法，包括下列步驟依據(jù)一抖動信號的取樣值間的比較結果，決定出掃描動作是發(fā)生在一刻錄媒體的一凹軌上或在一凸軌上，其中上述抖動信號的取樣值是由掃描上述凹軌或上述凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到。
30.如權利要求29所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述刻錄媒體包括一光學刻錄媒體，并且上述掃描動作包括以一光束掃描上述光盤刻錄媒體。
31.如權利要求29所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述循環(huán)偏差包括上述軌道的一邊界在上述軌道的一橫切方向上的偏差。
32.如權利要求29所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述抖動信號的取樣值是當掃描動作發(fā)生在一凸軌或一凹軌的一中心時所得到。
33.如權利要求29所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述決定出掃描動作是發(fā)生在上述刻錄媒體的一上述凹軌上或在一上述凸軌上的步驟也依據(jù)一信號的一斜率，其隨著上述掃描是由一凸軌移到一凹軌或是由一凹軌移到一凸軌來改變斜率。
34.如權利要求29所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述抖動信號的取樣值包括上述抖動信號的一包封對時間積分的值。
35.一種光學儲存媒體檢測方法，包括激活一抖動信號以及一射頻信號中的一個，用以依據(jù)上述選取信號的取樣值間的比較結果來決定出掃描動作是發(fā)生在一刻錄媒體的一凹軌或是一凸軌上，并且每一上述軌道有具有循環(huán)偏差的一實體特性。
36.如權利要求35所述的光學儲存媒體檢測方法，其中選取上述抖動信號以及上述射頻信號中的一個的步驟包括依據(jù)上述掃描是發(fā)生在上述光學儲存媒體的一具有資料的資料區(qū)間上或是在一不具資料的空白區(qū)間上來選取。
37.一種光學儲存媒體檢測方法，包括依據(jù)一抖動信號的取樣值間的比較結果，決定出一讀寫頭相應于一刻錄媒體上的一凹軌以及一凸軌的一移動方向，其中上述抖動信號的取樣值是通過檢測上述凹軌或上述凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到。
38.如權利要求37所述的光學儲存媒體檢測方法，其中上述刻錄媒體包括一盤片，并且決定出上述讀寫頭的上述移動方向的步驟包括決定出上述讀寫頭的一移動方向的一要素，其中上述要素是沿著上述盤片的一徑向方向。
39.一種光學儲存媒體檢測裝置，包括一讀寫頭，用以掃描具有多條凹軌和凸軌的一光學儲存媒體以及在上述軌道的一實體特性中檢測循環(huán)偏差；一抖動信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一抖動信號，其中上述抖動信號用以表示上述循環(huán)偏差，并且其振幅隨著上述讀寫頭相應于上述凹軌或上述凸軌的一位置而變化；一循跡誤差信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一循跡誤差信號，上述循跡誤差信號以及上述抖動信號是依據(jù)上述讀寫頭的輸出結果來產(chǎn)生；以及一凸/凹軌信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生一凸/凹軌信號以表示上述讀寫頭是正在掃描一凹軌或一凸軌。
40.如權利要求39所述的光學儲存媒體檢測裝置，其中上述凸/凹軌信號產(chǎn)生器包括一比較器，用以比較上述抖動信號的一目前取樣值與一閂鎖取樣值，以產(chǎn)生一比較信號，其中上述閂鎖取樣值是延遲目前取樣值而得。
41.如權利要求39所述的光學儲存媒體檢測裝置，其中上述凸/凹軌信號產(chǎn)生器包括一凸/凹信號產(chǎn)生器，用以相應上述循跡誤差信號的一斜率變化來閂鎖上述比較信號，并且將上述閂鎖的比較信號輸出為上述凸/凹信號。
42.如權利要求39所述的光學儲存媒體檢測裝置，其中上述凸/凹信號產(chǎn)生器包括一積分器，用以在上述循跡誤差信號的一斜率為正或上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內對上述抖動信號的一包封作積分，并且上述凸/凹信號產(chǎn)生器依據(jù)上述積分器的一目前輸出結果與一閂鎖的輸出結果的比較結果，產(chǎn)生上述凸/凹信號，其中上述閂鎖的輸出結果是延遲上述目前輸出結果而得。
43.一種光學儲存媒體檢測裝置，包括一檢測器，用以檢測在一光學儲存媒體上的變化，其中上述光學儲存媒體具有多條凹軌和凸軌；一抖動信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一抖動信號，其中上述抖動信號用以表示上述凹軌或上述凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差，并且其振幅隨著上述檢測器相應于上述凹軌或上述凸軌的一位置而變化；一循跡誤差信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一循跡誤差信號，上述循跡誤差信號以及上述抖動信號是依據(jù)上述讀寫頭的輸出來產(chǎn)生；以及一移動方向信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值間的比較結果，產(chǎn)生表示上述檢測器相應于上述軌道的一移動方向的一方向信號。
44.如權利要求43所述的光學儲存媒體檢測裝置，其中上述移動方向檢測器還包括一比較器，用以比較上述抖動信號的一目前取樣值與一閂鎖取樣值，其中上述閂鎖取樣值是延遲上述目前取樣值而得；以及一方向信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述比較器的一輸出結果，產(chǎn)生上述方向信號。
45.如權利要求43所述的光學儲存媒體檢測裝置，其中上述移動方向檢測器還包括一積分器，用以在上述循跡誤差信號的一斜率為正或在上述循跡誤差信號的上述斜率為負的一時段內對上述抖動信號的一包封作積分；以及一方向信號產(chǎn)生器，用以依據(jù)上述積分器的一目前輸出結果與一閂鎖的輸出結果的比較結果，產(chǎn)生上述方向信號，其中上述閂鎖的輸出結果是延遲上述目前輸出結果而得。
46.一種光驅，包括一光學讀寫頭，用以檢測在一光盤上的變化，其中上述光盤具有一凹軌和一凸軌；一抖動信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一抖動信號，其中上述抖動信號用以表示上述凹軌或上述凸軌的邊緣的循環(huán)偏差；一循跡誤差信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一循跡誤差信號，其表示上述讀寫頭相應上述軌道的一位置，上述循跡誤差信號以及上述抖動信號是依據(jù)上述讀寫頭的輸出結果來產(chǎn)生；一檢測單元，用以依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生至少一凸/凹信號以及一移動方向信號，并且上述凸/凹信號用來表示上述讀寫頭是在上述凹軌或上述凸軌上，而上述移動方向信號用來表示上述讀寫頭相應上述軌道的一移動方向；以及一軌道存取模塊，用以依據(jù)至少一上述凸/凹軌信號以及上述移動方向信號，擺放上述讀寫頭相應上述光盤的位置。
47.如權利要求46所述的光驅，其中上述檢測單元還包括一保護單元，用以當上述讀寫頭通過上述軌道的一速度低于一默認值時，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放上述讀寫頭。
48.如權利要求46所述的光驅，其中上述檢測單元還包括一保護單元，用以當上述抖動信號的上述取樣值間的差異量低于一默認值時，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放上述讀寫頭。
49.一種光驅，包括一光學讀寫頭，用以掃描一光盤，其中上述光盤具有一凹軌和一凸軌；一抖動信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一抖動信號；一射頻信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一射頻信號；一循跡誤差信號產(chǎn)生器，用以產(chǎn)生一循跡誤差信號以指出上述讀寫頭相應上述軌道的一位置；一選取單元，用以依據(jù)上述讀寫頭是正在掃描上述光盤的一具有資料的資料區(qū)間或是一不具資料的空白區(qū)間，選取上述抖動信號以及上述射頻信號中的一個；一檢測單元，用以依據(jù)一循跡誤差信號以及上述選取的信號的取樣值的比較結果，產(chǎn)生至少一凸/凹軌信號以及一移動方向信號，并且上述凸/凹信號用來表示上述讀寫頭是在掃描上述凹軌或上述凸軌，而上述移動方向信號用來表示上述讀寫頭相應上述軌道的一移動方向；以及一軌道存取模塊，用以依據(jù)上述凸/凹軌信號或上述讀寫頭移動方向信號，擺放上述讀寫頭相應上述光盤的位置。
50.如權利要求49所述的光驅，其中上述檢測單元還包括一保護單元，用以當其跨軌速度低于一預設速度時，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放讀寫頭。
51.如權利要求49所述的光驅，其中上述檢測單元還包括一保護單元，用以當上述選取到的信號的取樣值間的差異量低于一默認值時，阻止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放讀寫頭。
52.如權利要求49所述的光驅，其中上述檢測單元還包括一保護單元，用以在上述讀寫頭由掃描一數(shù)據(jù)區(qū)間換到掃描一空白區(qū)間或是由掃描一空白區(qū)間換到掃描一資料區(qū)間后的一段預設時間，防止上述軌道存取模塊利用上述凸/凹軌信號或上述移動方向信號來擺放讀寫頭。
53.一種光學儲存媒體檢測裝置，包括一比較器，用以比較一抖動信號的取樣值，上述抖動信號的取樣值是由掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到；以及一電路，用以依據(jù)上述比較器的輸出結果，產(chǎn)生一輸出以表示上述掃描上述刻錄媒體上的上述凹軌或上述凸軌的上述實體特性的循環(huán)偏差的步驟是發(fā)生在上述凹軌或在上述凸軌上。
54.如權利要求53所述的光學儲存媒體檢測裝置，還包括一光學讀寫頭，用以驅動一光束掃描上述刻錄媒體并且檢測來自上述刻錄媒體的反射光或將光經(jīng)由上述刻錄媒體透射，用以檢測上述循環(huán)偏差。
55.一種光學儲存媒體檢測裝置，包括一多任務器，用以選取一抖動信號以及一射頻信號中的一個，上述抖動信號具有通過掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌所得的兩信號間的差異量信息，每一軌道具有一實體特性，上述實體特性具有循環(huán)偏差，上述射頻信號則具有關于記錄在軌道內資料的信息；以及一電路，用以依據(jù)上述選取信號的取樣值間的比較結果，產(chǎn)生一輸出以表示上述掃描上述刻錄媒體上的上述凹軌或上述凸軌的步驟是發(fā)生在上述凹軌或是上述凸軌上。
56.如權利要求55所述的光學儲存媒體檢測裝置，其中上述多任務器接收一選取信號，用以表示上述掃描上述刻錄媒體上的上述凹軌或上述凸軌的步驟是發(fā)生在一軌道的一具有資料的資料區(qū)間或是發(fā)生在一軌道的一不具資料的空白區(qū)間上。
57.一種光學儲存媒體檢測裝置，包括一比較器，用以比較一抖動信號的取樣值，上述抖動信號的取樣值是由掃描一刻錄媒體上的一凹軌或一凸軌的一實體特性的循環(huán)偏差所得到；以及一電路，用以依據(jù)上述比較器的一輸出結果，產(chǎn)生一輸出以表示一讀寫頭相應于上述凸軌以及上述凹軌的一移動方向。
全文摘要
一種光學儲存媒體檢測裝置及方法。一種檢測器(detector)，其掃描一光學儲存媒體，用以檢測來自上述光學儲存媒體的反射光，其中上述光學儲存媒體具有多條凹軌(groove track)和凸軌(land track)，并且每一軌道具有一抖動(wobble)結構。依據(jù)上述檢測器的輸出結果，產(chǎn)生一抖動信號(wobble signal)以及一循跡誤差信號(tracking error signal)，且抖動信號是依據(jù)上述循跡誤差信號作取樣(sampled)。再依據(jù)上述循跡誤差信號以及上述抖動信號取樣值間的比較，決定出上述檢測器是在凹軌或是凸軌。
文檔編號G11B15/00GK1832008SQ20061005865
公開日2006年9月13日 申請日期2006年3月6日 優(yōu)先權日2005年3月11日
發(fā)明者吳國輝, 鄭裕, 黃兆銘, 陳志遠, 邱靖寧 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司