專利名稱：一種信息再現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種信息再現(xiàn)方法，該方法用于通過將光輻射到載體上來再現(xiàn)記錄在具有數(shù)個信息層的信息記錄載體上的信息，該載體例如是光盤。本發(fā)明還涉及一種包括用于實現(xiàn)該信息再現(xiàn)方法的裝置的光學(xué)設(shè)備。
為了滿足日益增長的信息存儲容量的需求，目前可用的光學(xué)媒質(zhì)，例如數(shù)字通用盤(DVD)和藍光盤(BD)，顯示了存儲容量的持續(xù)提高。雙層光學(xué)媒質(zhì)或甚至多層光學(xué)媒質(zhì)已經(jīng)被引入以進一步增加存儲容量。
在雙層媒質(zhì)和尤其是多層媒質(zhì)中記錄和再現(xiàn)信息形成一個技術(shù)挑戰(zhàn)，因為光學(xué)硬件必須適應(yīng)本質(zhì)上額外的尺寸變化。一個特別的問題在于在將信息讀取和/或?qū)懭朐搶又?，層號的特定標識應(yīng)當(dāng)是可檢索的。通常光盤具有以扇區(qū)組織的信息，扇區(qū)是在光盤上可以被記錄的最小單元。每一個扇區(qū)具有一個頭區(qū)，其包含有關(guān)數(shù)據(jù)的實際物理位置的信息，即物理標識數(shù)據(jù)(PID)，一個數(shù)據(jù)區(qū)，和一個誤差校正碼區(qū)(ECC)。頭區(qū)可以相應(yīng)地包含有關(guān)層號的信息，但這將導(dǎo)致冗余，因為層號被存儲于每一個扇區(qū)頭中。替代地或附加地，扇區(qū)和層信息可以被存儲在溝槽軌道的擺動或預(yù)置凹坑(pre-pit)中。
替代地，從例如US2002/0176346中可以知道通過使用物理地址和被記錄地址的增加或減少來識別雙層光盤的信息層的方法。由此，通過地址的組織，層標識可以被固有地存儲以避免存儲層標識本身的需要。本方法可以被應(yīng)用于光盤，在這些光盤中第一和第二信息層以同心螺線排列，螺線軌道的方向相同或相反。在BD盤標準中，雙層盤具有以相反軌道方向定向的螺線，以最小化在兩層之間的轉(zhuǎn)換時間。
然而，該方法要求從光盤再現(xiàn)信息的該光學(xué)設(shè)備已經(jīng)優(yōu)化過信息再現(xiàn)過程。該再現(xiàn)過程包括預(yù)備步驟如盤類型識別，球面像差補償，優(yōu)化閉徑向環(huán)跟蹤以使信號能夠讀出，決定跟蹤的極性，嘗試在預(yù)置溝槽(ADIP)中讀取地址和重復(fù)的被優(yōu)化的球面像差補償。這些步驟必須在已經(jīng)獲得實際的層標識之前完成，并且這可能相對比較耗時，因為如果實際的層是未知的，就必須以試錯(trial-and-error)模式來執(zhí)行一些預(yù)備步驟。因此，如果在例如重復(fù)球面像差補償之前存在有關(guān)層號的知識，則信息再現(xiàn)過程之前的預(yù)備步驟就能夠潛在地被加速，如果實際的層號是已知的，則關(guān)于跟蹤極性的決定和層相關(guān)聚焦偏差的預(yù)設(shè)可以更快。
US2004/0095860公開了一種方法，其中球面像差信號作為在分別在再現(xiàn)的光通量的中央位置和外圍部分的聚焦位置波動信號之間的差分信號被檢測。在電平的零跨越(zero-crossing)點或與差分信號關(guān)聯(lián)的球面像差信號使用一定量的球面像差的校正來區(qū)分信息層。由此，通過該方法，不需要從層本身再現(xiàn)關(guān)于層的標識的信息，就可以獲得層的標識。然而，該方法具有缺點在于為了產(chǎn)生球面像差信號，必須提供附加的光學(xué)元件和電子電路，因此該所提出的方法相對昂貴和/或?qū)崿F(xiàn)起來復(fù)雜。
因而，一種改進的信息再現(xiàn)方法將是有利的，尤其是一種更快和/或更可靠的信息再現(xiàn)方法將是有利的。
因此，本發(fā)明優(yōu)選為尋求單獨或以任意組合來減輕、緩和或消除上述提到的缺點中的一個或多個。特別地，作為本發(fā)明的一個目的是提供一種信息再現(xiàn)方法，通過識別在多層信息記錄載體中的層以解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述問題。
在本發(fā)明的第一方面中，該目的和其它目的可以通過將光輻射到信息記錄載體上來再現(xiàn)記錄在信息記錄載體上的信息的信息再現(xiàn)方法獲得。該載體具有多個信息層，每層具有在一個或多個基本同心的螺線上排列的信息，該方法包括如下步驟將光聚焦到第一信息層或第二信息層，所述第一層和所述第二層在信息記錄載體中位置相鄰，在從信息記錄載體反射的光上執(zhí)行徑向跟蹤，并且從所述徑向跟蹤評判光被聚焦到相對于光呈順時針還是逆時針方向的螺線上。
本發(fā)明尤其(但并不排除其它地)有利于獲得相對于入射光束的信息層中螺線的方向。例如對于第一和第二層信息被排列在具有彼此相反的軌道方向的兩條螺線上的雙層信息記錄載體，螺線的方向可以用于直接并絕對地獲得信息層的標識。因此，對于具有相反方向的第一信息層和第二信息層的雙層載體，本發(fā)明可以提供關(guān)于光被聚焦所在層的方向的知識，并且因為第一和第二信息層具有相反方向的螺線，這些層可以容易地被區(qū)分。這對于如果信息層的標識是已知的，則先于信息再現(xiàn)的可以被加速的任何預(yù)備步驟是相當(dāng)有利的，例如預(yù)備步驟的試錯進程可以被縮短或甚至消除。本發(fā)明可以應(yīng)用于多種信息記錄載體類型，例如只讀存儲器(ROM)、一次寫入多次讀取(WORM)，或可重寫的(RE)。
然而，本發(fā)明并不局限于雙層載體，并且本發(fā)明的原理還可以應(yīng)用于多層信息記錄載體，即三層、四層、五層或更多信息層的載體。由于本發(fā)明的方法使得能夠評判信息的螺線的相對方向，即順時針或逆時針方向，該評判具有兩個可能的結(jié)果。對于具有三層或更多層的載體，則螺線方向的可能結(jié)果不足以以絕對的方式確定層的標識。然而，本發(fā)明仍有利于用于多層信息記錄載體的層的識別。首先，以三層信息層為例，存在一中間信息層，其螺線方向與上面的信息層和下面的信息層的螺線方向相反。因而，至少中間層可以通過本發(fā)明以絕對的方式被識別。
其次，對于多層信息記錄載體可能存在情況是如果例如已經(jīng)預(yù)期或知道光被聚焦到多層信息記錄載體中的兩層中的一層上，但不知道所述光被聚焦到所述兩層中具體的哪一層，則該情況下足以在兩層之間區(qū)分了。由此，在本發(fā)明上下文的范圍內(nèi)，相對的標識還被理解為提供層標識的指示，因為本發(fā)明的方法可以被應(yīng)用于在兩層或多層之間區(qū)分。
將光聚焦到第一信息層或第二信息層的步驟可以是依據(jù)情況進行任意選擇或有意選擇的結(jié)果。甚至在有意選中的捕獲層的情況下，需要做一個檢查以確認聚焦捕獲是成功的。此外，本發(fā)明并不局限于使用在預(yù)備步驟期間，該預(yù)備步驟先于啟動時信息的再現(xiàn)/記錄，相反，本發(fā)明還適合被應(yīng)用于控制過程期間，例如短暫地中斷信息的再現(xiàn)/記錄的過程，和恢復(fù)情況中，即當(dāng)光驅(qū)具有由于內(nèi)部或外部影響產(chǎn)生故障時，該影響使重新恢復(fù)層的標識成為必要。
每個信息層可以包括一個或多個螺線，一層的一個或多個螺線包括光學(xué)可讀效果(effect)，例如用于信息存儲的凹坑或標記。一層的一個或多個螺線優(yōu)選地具有相同的方向，但是也可以具有相反的方向。因此，本發(fā)明相應(yīng)地也可以評判一層中的不同螺線的方向，并且相應(yīng)地被用來輔助確定螺線標識。
該方法還可以包括一個初始步驟，用于在光記錄載體的所述第一層和所述第二層之間的位置通過準直裝置例如專用透鏡來補償光學(xué)像差。這可以有利地執(zhí)行以補償和/或消除從載體的覆蓋層和/或中間層引起的球面像差。這還可以消除或補償聚焦偏差。用于光學(xué)像差補償?shù)奈恢没旧显谙鄬τ谒龅谝恍畔雍退龅诙畔拥闹虚g位置。
從所述徑向跟蹤來評判光被聚焦到相對于光呈順時針還是逆時針方向的螺線上的步驟可以包括測量在信息記錄載體上聚焦光的相對位置的增量徑向偏移。增量徑向偏移可有利地通過徑向積分裝置(integration means)來測量。替代地或附加地，增量徑向偏移可以通過適用于移置在信息記錄載體上的光的相對位置的致動裝置被測量，例如通過測量與所述致動裝置關(guān)聯(lián)的或控制所述致動裝置的電流或電壓。
測量的增量徑向偏移可以有利地在信息記錄載體的至少一圈上平均以穩(wěn)定所獲得的增量徑向偏移值。此外，如果置于載體上的螺線具有偏心(eccentricity)，這種偏心在增量徑向偏移的評判中可以被取消或被考慮。
本發(fā)明尤其是有利的，因為被執(zhí)行的徑向跟蹤可以基于來自如下非窮舉一組方法的徑向跟蹤方法推挽(PP)，差分推挽(DPP)和差分相位檢測(DPD)。用于徑向跟蹤的其它方法也可以很容易地結(jié)合到或適應(yīng)于依據(jù)本發(fā)明的功能。
在一個特定的實施例中，第一層的至少一個螺線和第二層的至少一個螺線相對于光被定向為相反方向，例如一個螺線是順時針方向，并且第二個螺線是逆時針方向。這是例如雙層BD標準的當(dāng)前情況。由此，本發(fā)明易于應(yīng)用于并結(jié)合到公知標準中。
在本發(fā)明的上下文中，螺線的方向相對于聚焦光被評判，所述光通常具有與載體的平面相垂直的光束方向，但同等地，螺線的方向可以相對于固定的觀察位置被評估，例如從載體的一側(cè)。
在第二方面，本發(fā)明涉及一種用于再現(xiàn)記錄在信息記錄載體上的信息的光學(xué)設(shè)備，該光學(xué)設(shè)備適應(yīng)于從/向光學(xué)信息載體再現(xiàn)和/或記錄信息，該光學(xué)設(shè)備包括用于將光聚焦到第一信息層或第二信息層的裝置，所述第一層和所述第二層在信息記錄載體中位置相鄰，用于對從信息記錄載體反射的光執(zhí)行徑向跟蹤的裝置，和從所述徑向跟蹤中評判光被聚焦到相對于光呈順時針還是逆時針方向的螺線上的裝置。
該設(shè)備還可以有利地包括用于將螺線方向與光被聚焦所在層的標識的指示相關(guān)聯(lián)的裝置。
在第三方面，本發(fā)明涉及一種計算機程序產(chǎn)品，該產(chǎn)品適用于使包括至少一個具有與其相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)存儲裝置的計算機的計算機系統(tǒng)能夠根據(jù)第一方面的信息再現(xiàn)方法控制光學(xué)記錄設(shè)備。
本發(fā)明的該方面尤其(但不排除其它地)是有利的，因為本發(fā)明可以通過計算機程序產(chǎn)品來實現(xiàn)，該計算機程序產(chǎn)品使計算機系統(tǒng)能夠控制對根據(jù)本發(fā)明第二方面的設(shè)備的操作。由此，可預(yù)期到，一些已知的光學(xué)設(shè)備可以被改變用于依據(jù)本發(fā)明通過在控制所述光學(xué)設(shè)備的計算機系統(tǒng)上安裝計算機程序產(chǎn)品來實現(xiàn)操作。這樣的計算機程序產(chǎn)品可以被提供給任何一種計算機可讀媒質(zhì)，例如磁媒質(zhì)或光媒質(zhì)，或通過計算機網(wǎng)絡(luò)，例如因特網(wǎng)。
本發(fā)明的第一、第二和第三方面可以分別與其它方面相互組合。本發(fā)明的這些或其它方面將參考下述實施例得到更清楚的闡釋。
本發(fā)明將參考下列附圖進行解釋，其中

圖1展示了載體的具有相反方向螺線的兩個信息記錄層的示意性分解圖。
圖2展示了載體的具有相反方向螺線的兩個信息記錄層的橫截面?zhèn)纫晥D。
圖3展示了依據(jù)本發(fā)明的第二方面的光學(xué)設(shè)備。
圖4是依據(jù)本發(fā)明的第一方面的信息再現(xiàn)方法的流程圖。
圖1展示了載體1的兩個信息記錄層L1和L0的示意性分解圖。如圖所述兩個記錄層L1和L0都分別包括一個螺線40和41，并且螺線40和41方向相反。因此，圖1所示層L1的螺線40是順時針方向，而圖1所示的層L0的螺線41是逆時針方向。
箭頭45指示了在信息再現(xiàn)期間載體1的旋轉(zhuǎn)。從說明書下面的詳細部分可以清楚看出，載體1的旋轉(zhuǎn)可以通過能夠旋轉(zhuǎn)載體1的光學(xué)設(shè)備被提供，而光學(xué)設(shè)備從載體1再現(xiàn)信息或準備從載體1再現(xiàn)信息。
在層L1上闡釋的第一種情況中，在初始時刻t0光聚焦到層L1上的光斑46中。由于執(zhí)行的徑向跟蹤，在載體1旋轉(zhuǎn)期間光斑46將保持基本上在螺線40的軌道上的位置。螺線40的軌道可以附加地被施加擺動以提供附加的信息，優(yōu)選為數(shù)據(jù)的地址信息，但是為了清楚，在圖1中沒有闡釋。由于旋轉(zhuǎn)方向45和螺線40的方向即順時針方向的組合，聚焦光46將在稍后的時刻t1被定位到相對于初始時刻t0更靠近載體1的中心位置。因此，光斑46在層L1上被向內(nèi)地偏移。
在層L0上闡釋的第二種情況中，在初始時刻t0光聚焦到層L0上的光斑47中。由于執(zhí)行的徑向跟蹤，在載體1旋轉(zhuǎn)期間光斑47將保持基本上在螺線41的軌道上的位置。由于旋轉(zhuǎn)方向45和螺線41的方向即逆時針方向的組合，聚焦光47將在稍后的時刻t1被定位到相對于初始時刻t0更遠離載體1的中心位置。因此，光斑47在層L1上被向外地偏移。
在圖1中，通過兩個實施例解釋本發(fā)明的原理，其中光斑46和47分別在螺線40和41上近似向內(nèi)或向外偏移兩圈。然而，這純粹為了解釋的目的。實際上，若可以獲得可靠和/或足夠的螺線40和41的螺旋方向的評判，本發(fā)明的原理可以被應(yīng)用于任何數(shù)目的圈數(shù)，例如一、三、四、五或更多，并且也可以是一圈的分數(shù)，例如1/10、1/5、1/3等。
圖2展示了與圖1所示相似的具有兩層L1和L0的載體1的兩信息記錄層的橫截面?zhèn)纫晥D。因此，兩層L1和L0具有相反方向的螺線。
在圖2中，在第一種情況下展示聚焦光束5a，例如通過物鏡(未示出)聚焦的激光束，其中光束5a穿過載體1的覆蓋層48而被聚焦到層L1上。隨著載體1旋轉(zhuǎn)，光束5a將保持跟蹤層L1的螺線40(在側(cè)視圖中不可見)，并且因而執(zhí)行如箭頭70所示的朝向在載體1上的中心位置73的徑向向內(nèi)偏移。
同樣地，還展示了穿過覆蓋層48和分離層L1和層L0的中間層49而被聚焦到層L0上的光束5b。隨著載體1旋轉(zhuǎn)，光束5b將保持跟蹤層L0的螺線41(在側(cè)視圖中不可見)，并且因而執(zhí)行如箭頭71所示的朝向載體1上的外圍位置的徑向向外偏移。圖2中的光束5a和5b作為兩個獨立的光束被展示，但是通常在光驅(qū)中將只有一個主光束，其中該主光束將具有可變聚焦位置，即該主光束可以從對應(yīng)于光束5a的位置改變到對應(yīng)于光束5b的位置，反之亦可。
如果如圖2所示引入極坐標(radial coordinate)系統(tǒng)，則光束5a或5b的徑向偏移將易于被量化。極坐標系統(tǒng)的原點O基本上被定位于載體1的中心位置。然后光束5a或5b可以通過極坐標r來描述。在徑向位置r的增量變化Δr可以由下式給出Δr＝r(t1)-r(t0)，其中t0表示初始時刻，t1是稍后的時刻。因此，對于向內(nèi)偏移，增量變化Δr是負值，而向外偏移具有正的增量變化Δr。通過各種裝置例如電子、機械等裝置，增量變化Δr可以對時間、差分時間(即Δt＝t1-t0)或載體1的圈數(shù)求平均，一旦理解本發(fā)明的原理，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以容易地執(zhí)行。下面還將解釋還可以通過非直接的方式獲得增量變化Δr，例如通過測量設(shè)備的與執(zhí)行徑向跟蹤有關(guān)或從中得到的值或信號。
圖3展示了依據(jù)本發(fā)明的第二方面的具有光學(xué)記錄載體1的光學(xué)設(shè)備。通過保持裝置30固定并旋轉(zhuǎn)該載體1。
該載體1可以包括一種適于通過光束5記錄信息的材料。記錄材料可以是例如磁光型、相變型、染色型、金屬合金例如銅/硅或任何其它合適的材料。信息可以以光學(xué)可檢測區(qū)域的形式被記錄在載體1上，對于可重寫媒質(zhì)信息也可以稱作標記，對于一次寫入媒質(zhì)信息也可以稱作凹坑。可替代地，對于只讀媒質(zhì)，反射層中的突起提供光學(xué)可讀的效果，該反射層由例如鋁或銀制成。
該設(shè)備包括光頭20，該光頭20可通過致動裝置21例如電動步進馬達被移置。光頭20包括光電檢測系統(tǒng)10，輻射源4，分束器6，物鏡7和透鏡移置裝置9。用來將反射的輻射8分離進光電檢測裝置10的分束器6可以是極化或非極化類型，或全息或光柵。光頭20還包括分束裝置(未示出)例如光柵或全息圖案，其能夠?qū)⑤椛涫?分離為至少三個分量，以應(yīng)用于三光斑差分推挽徑向跟蹤控制方法。為了清楚，輻射束5作為一個單光束被示出。同樣地，反射的輻射8也包括超過一個分量，但為了清楚在圖3中只示出了一個單射束8。透鏡移置裝置9是所謂的三維型的，其能夠在聚焦方向(z方向)移置該透鏡7，還能夠在載體1的徑向上移置透鏡7。此外，透鏡移置裝置9能夠圍繞一軸輕微地轉(zhuǎn)動或傾斜該透鏡7，該軸定位在與載體1基本平行的平面上，并且在與載體1的徑向垂直的方向上以補償例如載體1的“傘形”缺陷。
光頭20還包括準直器裝置，即準直器透鏡22，用于將從輻射源4發(fā)射的分束光5從點光源變?yōu)槠叫泄馐?。然而為了清楚，這在圖3中是不可見的。準直器透鏡22通過專用的致動裝置23基本上沿著射束5的光軸是可移置的，該專用的致動裝置23即電動步進馬達。這提供了補償如圖2所示的由覆蓋層48和中間層49引起的球面像差的可能性。在本發(fā)明的一個特定實施例中，準直器裝置被預(yù)設(shè)為一個居中的位置，優(yōu)選為中間層49的中間。如果例如層L1距離光5進入載體1的表面有75微米的距離，而層L0距離光5進入載體1的表面有100微米的距離，則用于補償?shù)臏手逼魍哥R22可以被設(shè)置為在大約87.5微米的距離處。這當(dāng)然不是用于補償球面像差的最佳距離，但是在信息再現(xiàn)被開始之前的啟動期間，可能不精確知道光束5聚焦在哪一層上，并且從而最佳解決方案可以是居于層L1和L0中間的補償距離。準直器裝置還可以一定程度上補償或校正聚焦偏差。
在圖3所示的實施例中，準直器裝置是準直器透鏡，但是準直器裝置還可以包括在物鏡7之前的一個或多個液晶(LC)單元，或在分束器6和物鏡7之間的一個或多個可伸縮透鏡。
光電檢測系統(tǒng)10的功能是將從載體1反射的輻射8轉(zhuǎn)換成電信號。因此，光檢測系統(tǒng)10包括數(shù)個光電檢測器，例如光電二極管，電荷耦合器件(CCD)等，其能夠產(chǎn)生一個或多個電輸出信號，該電輸出信號被傳輸?shù)筋A(yù)處理器11。光電檢測器彼此間隔排列，并且具有充足的時間分辨率以使得能夠在預(yù)處理器11中檢測聚焦誤差和徑向跟蹤誤差，該過程類似于例如US2004/0095860中展示的光驅(qū)設(shè)備。因此，預(yù)處理器11將聚焦誤差信號和徑向跟蹤誤差信號傳輸?shù)教幚砥?0。該光電檢測系統(tǒng)10還能夠?qū)⒋韽妮d體1讀取的信息的讀信號或RF信號經(jīng)由預(yù)處理器11傳輸?shù)教幚砥?0。
用于獲得徑向上誤差的數(shù)個方法是可用的，該徑向上的誤差即相對于期望或理想的徑向位置從實際徑向位置的偏離，一個方法是推挽(PP)法，其中跟蹤誤差信號是基于在光學(xué)再現(xiàn)設(shè)備的光學(xué)傳感器中檢測到的光學(xué)信號之間的電平差異而產(chǎn)生的。另一個選擇是差分時間(或相位)檢測(DTD)法，其中在光學(xué)再現(xiàn)設(shè)備的光學(xué)傳感器中檢測到的光學(xué)信號之間的相位差值被用來產(chǎn)生徑向跟蹤誤差信號。DTD法最初由Braat在US4057833中公開的內(nèi)容引入。差分PP法的技術(shù)發(fā)展水平到了應(yīng)用三光斑法，其中主光束跟隨信息的軌道，而兩個副光束相對于軌道向相反方向偏移，但是任何合適的用于執(zhí)行徑向跟蹤的方法可以在本發(fā)明的范圍內(nèi)被應(yīng)用，這些方法通過閉環(huán)控制機制以保持聚焦光5在載體1的期望的徑向位置上。
用來發(fā)射輻射束5的輻射源4可以例如是具有可變功率的半導(dǎo)體激光器，還可能具有可變波長的輻射。替代地，輻射源4可以包括超過一個激光器。
光頭20光學(xué)地排列以使輻射束5經(jīng)由準直器透鏡22、分束器6和物鏡7引導(dǎo)到光學(xué)載體1。從載體1反射的輻射8通過物鏡7被聚集，并且在穿過分束器6之后落到光電檢測系統(tǒng)10上，該光電檢測系統(tǒng)如上文所述將入射輻射8轉(zhuǎn)換成電輸出信號。
處理器50接收并分析來自預(yù)處理器11的輸出信號。處理器50還可以如圖1所示輸出控制信號給致動裝置21、輻射源4、透鏡移置裝置9、準直器致動裝置23、預(yù)處理器11和保持裝置30。同樣地，處理器50可以接收數(shù)據(jù)例如要被寫入到載體1的信息，如標記61所示，并且處理器50可以從讀取過程輸出數(shù)據(jù)，如標記60所示。
如上所述，從徑向跟蹤中執(zhí)行螺線方向的評判。然而，該評判可以以多種不同方式執(zhí)行首先，處理器50可以包括積分器或加法電路51，其在預(yù)先定義的時間周期和/或載體1的圈數(shù)上對從預(yù)處理器11接收到的徑向跟蹤誤差信號進行加和。積分器51可以依賴于光5聚焦所在的螺線的方向輸出信號，優(yōu)選為極性信號(±1，0/1等)。
其次，從處理器50傳輸?shù)綇较蛑聞友b置21的控制信號的平均電流可以作為光5聚焦所在螺線的方向的指示而被測量和使用。為了實際的原因，通過徑向致動裝置21例如相對粗糙的滑動馬達，以及通過更專用的具有透鏡移置致動器9的透鏡7的徑向移置來執(zhí)行徑向致動。微調(diào)致動器9和滑動馬達21，以及特別是它們關(guān)聯(lián)的控制和/或功率電流，可以被用來評判光5聚焦所在螺線的方向。任何前述電流的測量可以容易地通過本領(lǐng)域技術(shù)人員公知的裝置來測量，例如可以插入專用安培計。
圖4是解釋依據(jù)本發(fā)明的第一方面的信息再現(xiàn)方法的流程圖。
在第一步驟S1中，光5被聚焦到第一信息層L1或第二信息層L0。如圖2所示，第一層L1和第二層L0在信息記錄載體中位置相鄰。
在第二步驟S2中，如上文所解釋的在來自信息記錄載體1的反射光8上執(zhí)行徑向跟蹤。因此，聚焦光5通過閉環(huán)控制機制被保持在軌道中，如圖1所示該軌道被排列在螺線40或41上。
在第三步驟S3，利用徑向跟蹤進行評判光5是被聚焦到相對于光5呈順時針還是逆時針方向的螺線上。在一個特定實施例中，可以通過在積分器電路51中積分和優(yōu)選地平均該徑向跟蹤誤差信號來實現(xiàn)，該徑向跟蹤誤差信號被傳輸?shù)教幚砥?0。
根據(jù)螺線40或41的方向，提供指示順時針方向S5或逆時針方向S4的值。
在第六步驟S6中，指示螺線方向的值被用來識別光5被聚焦到層L1還是L0。這可以以絕對的方式或相對的方式來實現(xiàn)，其中后一種情況對應(yīng)于例如具有超過兩層或三層的載體。
盡管本發(fā)明已經(jīng)結(jié)合特定的實施例作了詳細描述，但并不傾向于將其局限于此處公開的特定形式。相反，本發(fā)明的保護范圍只通過所附的權(quán)利要求進行限定。在權(quán)利要求中，詞語“包括”并不排除其它元件或步驟的存在。此外，盡管單個特征可以被包括進不同的權(quán)利要求，但仍然可能進行有利的組合，并且包括在不同權(quán)利要求中并不意味著這些特征的組合是不可行的和/或不利的。此外，單數(shù)引用并不排除多個。因此，“一”、“一個”、“第一”、“第二”等標記并不排除多個。另外，權(quán)利要求中的附圖標記不應(yīng)解釋為限制保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于通過將光(5)輻射到信息記錄載體(1)上來再現(xiàn)記錄在信息記錄載體(1)上信息的信息再現(xiàn)方法，該載體具有多個信息層(L1，L0)，每層具有安排在一個或多個基本同心的螺線中的信息，該方法包括步驟將光(5)聚焦到第一信息層(L1)或第二信息層(L0)，所述第一層和所述第二層在信息記錄載體(1)中位置相鄰，在從信息記錄載體(1)反射的光(8)上執(zhí)行徑向跟蹤，并且從所述徑向跟蹤中評判光(5)是被聚焦到相對于光(5)成順時針還是逆時針方向的螺線(40，41)上。
2.如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)方法，其中對光(5)是被聚焦到相對于光呈順時針還是逆時針方向的螺線(40，41)上的評判指示光被聚焦所在層(L1，L0)的標識。
3.如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)方法，還包括在信息記錄載體中所述第一層(L1)和所述第二層(L0)的中間位置處補償光學(xué)像差的初始步驟。
4.如權(quán)利要求3所述的信息再現(xiàn)方法，其中所述用于光學(xué)像差補償?shù)奈恢没旧衔挥谙鄬τ谒龅谝粚?L1)和所述第二層(L0)的中間位置處。
5.如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)方法，其中，從所述徑向跟蹤中評判光(5)是被聚焦到相對于光(5)成順時針還是逆時針方向的螺線(4 0，41)上的步驟包括測量在信息記錄載體(1)上光(5)的相對位置的增量徑向偏移(Δr)。
6.如權(quán)利要求5所述的信息再現(xiàn)方法，其中所述增量徑向偏移(Δr)通過徑向積分裝置(51)測量。
7.如權(quán)利要求4所述的信息再現(xiàn)方法，其中所述增量徑向偏移從致動裝置(9，21)中測量，該致動裝置適用于在信息記錄載體(1)上移置光(5)的相對位置。
8.如權(quán)利要求5-7中任一所述的信息再現(xiàn)方法，其中測量的增量徑向偏移(Δr)在信息記錄載體(1)的至少一圈上進行平均。
9.如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)方法，其中在從信息記錄載體(1)反射的光(8)上執(zhí)行徑向跟蹤是基于包括在如下各項的組中的徑向跟蹤方法推挽(PP)，差分推挽(DPP)和差分相位檢測(DPD)。
10.如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)方法，其中第一層(L1)的至少一個螺線(40)和第二層(L0)的至少一個螺線(41)相對于光(5)定向為相反方向。
11.一種適用于從/向光學(xué)信息載體(1)再現(xiàn)和/或記錄信息的光學(xué)設(shè)備，該光學(xué)設(shè)備包括用于將光(5)聚焦到第一信息層(L1)或第二信息層(L0)的裝置(7)，所述第一層和所述第二層在信息記錄載體(1)中位置相鄰，用于在從信息記錄載體(1)反射的光(8)上執(zhí)行徑向跟蹤的裝置(10，11，50，21)，以及用于從所述徑向跟蹤評判光被聚焦到相對于光呈順時針還是逆時針方向的螺線上的裝置(50，51)。
12.一種計算機程序產(chǎn)品，該產(chǎn)品適用于使包括至少一個具有與之相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)存儲裝置的計算機的計算機系統(tǒng)能夠依據(jù)如權(quán)利要求1所述的信息再現(xiàn)方法控制光學(xué)設(shè)備。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種信息再現(xiàn)方法，該方法用于通過將光射到載體例如光盤上來再現(xiàn)記錄在具有數(shù)個信息層的信息記錄載體上的信息。該方法包括步驟1)將光聚焦到第一信息層或第二信息層，其中第一層和第二層在信息記錄載體中位置相鄰，2)在從信息記錄載體反射的光上執(zhí)行徑向跟蹤，以及3)從徑向跟蹤中評判光被聚焦到相對于聚焦光呈順時針還是逆時針方向的螺線上。在一個特定實施例中，對光是被聚焦到相對于光呈順時針還是逆時針方向的螺線上的評判被利用來指示光被聚焦所在層的標識。本發(fā)明還涉及一種用于實現(xiàn)本發(fā)明的方法的光學(xué)設(shè)備。
文檔編號G11B7/24038GK101084543SQ200580043839
公開日2007年12月5日 申請日期2005年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月20日
發(fā)明者M·凱帕 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司