專利名稱：：判別儲存媒體檢測器位置的方法與裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及判別光學(xué)頭于光儲存媒體位置的方法與裝置。
背景技術(shù)：
：圖1表示一光學(xué)儲存系統(tǒng)10的說明例，用以將數(shù)據(jù)寫入光盤12和從光盤12讀取。光學(xué)儲存系統(tǒng)10包括一光盤驅(qū)動控制器14，用以控制一轉(zhuǎn)軸馬達(dá)(spindlemotor)16和一滑撬馬達(dá)(sledmotor)18。轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16控制光盤12的轉(zhuǎn)速。滑撬馬達(dá)18控制光學(xué)讀取頭(opticalpickuphead)20在光盤12上的位置。光學(xué)讀取頭20包括一產(chǎn)生激光束22的激光二極管，所述激光束的能量由光盤驅(qū)動控制器14在執(zhí)行讀取、寫入光盤操作時進(jìn)行調(diào)整。所述光盤驅(qū)動控制器14包括一寫入數(shù)據(jù)編碼電路、一讀取數(shù)據(jù)解碼電路以及一主機(jī)接口電路。圖2表示一光盤12的說明例，該光盤包含一伺服軌道(servotrack)30，該伺服軌道由光盤上一螺旋槽(spiralgroove)構(gòu)成。伺服軌道30引導(dǎo)讀取頭20移動；在寫入操作中，讀取頭20修改部分凹槽的反射率，在讀取操作中，讀取頭20檢測凹槽的反射差。伺服軌道30包括一預(yù)錄區(qū)(pre-recordedregion)32以及一可再寫區(qū)(rewritableregion)34。預(yù)錄區(qū)32預(yù)錄控制信息(例如光盤類型、可寫區(qū)長度、建議寫入功率以及建議抹除功率)?？稍賹憛^(qū)34提供使用者寫入使用者數(shù)據(jù)。當(dāng)使用者數(shù)據(jù)的二進(jìn)制位被寫入可再寫區(qū)34時，記錄標(biāo)框(除標(biāo)框同步部分以外)的數(shù)據(jù)位被轉(zhuǎn)換為使用17PP調(diào)制碼(17PPmodulationcodes)的調(diào)制位，并且更進(jìn)一步使用不歸零(non-return-to-zero，NRZ)轉(zhuǎn)換法轉(zhuǎn)換為不歸零反轉(zhuǎn)(non-return-to-zeroinverted，NRZI)通道位。17PP是一種編碼方式的簡稱，該編碼方式采用(1，7)掃描長度受限、同位保持并且禁止重復(fù)最小變遷掃描長度((1，7)runlengthlimitedparity-preserveprohibitrepeatedminimumtransitionrunlength)。每一通道位具有一事先定義的時間長度T。當(dāng)所述時間長度T中凹槽反射率有改變時，通道位值為1。當(dāng)該時間長度T中凹槽反射率沒有改變時，通道位值為0。圖3表示激光束22在伺服軌道30上的照射情形。伺服軌道30包括一凹槽(groove)36，該凹槽比其鄰近平臺(lands)38更接近入射表面(激光束首先沖擊的光盤表面)。凹槽36與平臺38具有不同反射率，因此激光束22截面上的不同區(qū)域?qū)⒊尸F(xiàn)不同的反射狀況。如圖4所示，隨著軌道長度增加，伺服軌道30在徑向方向40具有循環(huán)波浪(recurringdeviations)，又稱軌道擺動(trackwobble)。在說明例中，可再寫區(qū)34的擺動經(jīng)調(diào)制后包含地址信息，該擺動又稱為預(yù)刻凹槽尋址(addressinpre-groove，ADIP)。而預(yù)錄區(qū)32的擺動經(jīng)調(diào)制后包含控制信息。美國公開號2003/0090977一案中揭露一光盤，該光盤有一伺服軌道，該伺服軌道具有一擺動，該擺動使用最小相移鍵控調(diào)制法(minimumshiftkeyingmodulation)調(diào)制以包含地址信息。所述伺服軌道還有一管理區(qū)域，其中伺服軌道使用一直接數(shù)字調(diào)制法(directdigitalmodulation)調(diào)制以含有管理數(shù)據(jù)。美國公開號2004/012573一案中揭露一高頻調(diào)制(highfrequencymodulated，HFM)凹槽技術(shù)，該技術(shù)使用雙相調(diào)制法(bi-phasemodulation)調(diào)制以儲存永久信息和控制數(shù)據(jù)。擺動信號為一時變信號，由反射激光束22依照軌道擺動產(chǎn)生的變動量得到。所述擺動信號可被用來維持讀取頭20沿著伺服軌道30的平均中心線42移動、控制盤片12的轉(zhuǎn)速并且同步化儲存系統(tǒng)10的寫入時脈(writeclock)。所述擺動信號經(jīng)解調(diào)后可得到地址信息，儲存系統(tǒng)10利用所述地址信息來判別讀取頭20與伺服軌道30起始處的相對位置。在下文說明中，根據(jù)情況，“軌道擺動”可表示預(yù)錄區(qū)32的軌道偏移或可再寫區(qū)34的擺動。根據(jù)情況，“擺動信號”可表示讀取頭20在預(yù)錄區(qū)32或在可再寫區(qū)34時由反射激光束22產(chǎn)生的時變信號。舉例說明，盤片12中心孔46的中心44至預(yù)錄區(qū)32的徑向距離小于一預(yù)定值r，而盤片12中心孔46的中心44至可再寫區(qū)34的徑向距離大于該預(yù)定值r。舉例說明，儲存系統(tǒng)10可分別通過移動讀取頭20至其小于或大于預(yù)定值r的特定徑向距離，選擇定位讀取頭20于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。
發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明提出一種根據(jù)擺動信號判別光學(xué)頭的激光束位置的方法，其中包含一光學(xué)頭的激光束聚焦于一光儲存媒體的一軌道上，該軌道包括一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征；自所述激光束得到一擺動信號，該擺動信號具有所述循環(huán)波浪的相關(guān)信息；根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期或一脈沖寬度，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。所述方法還包括測定所述擺動信號的頻率、周期、和脈沖寬度中至少一項的一統(tǒng)計量；所述統(tǒng)計量包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布中至少一項；根據(jù)所述統(tǒng)計量，判別所述激光束位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)；所述擺動信號在所述激光束掃描所述第一軌道區(qū)時，具有一第一平均頻率，并且所述擺動信號在所述激光束掃描所述第二軌道區(qū)時，具有一第二平均頻率；所述循環(huán)波浪在所述第一軌道區(qū)時乃根據(jù)一第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制，并且所述循環(huán)波浪在所述第二軌道區(qū)時乃根據(jù)一第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制；所述第一軌道區(qū)儲存地址信息；所述第二軌道區(qū)儲存控制信息，該控制信息與從所述光儲存媒體讀取數(shù)據(jù)、或?qū)懭霐?shù)據(jù)至所述光儲存媒體相關(guān)；所述第一調(diào)制型態(tài)包括一頻率調(diào)制或一相位調(diào)制；所述相位調(diào)制包括一最小相移鍵控調(diào)制；所述第二調(diào)制型態(tài)包括一軌道直接調(diào)制，其中位邏輯值以軌道波浪表示；所述物理特征的循環(huán)波浪包括軌道邊界波浪。另外，本發(fā)明另提出一種根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別光學(xué)頭的激光束位置的方法，其中包含旋轉(zhuǎn)一盤片，該盤片含有一軌道，該軌道有一具有循環(huán)波浪的物理特征；相對所述盤片移動一光學(xué)頭；根據(jù)檢測到的所述物理特征的變動量產(chǎn)生一擺動信號；根據(jù)所述擺動信號的頻率、周期、和脈沖寬度中至少一項，調(diào)整所述盤片相對所述光學(xué)頭的轉(zhuǎn)速；以及根據(jù)所述盤片的轉(zhuǎn)速判別所述光學(xué)頭的軌道位置。上述根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別光學(xué)頭位置的方法還包括測定至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，其中包括一極大值、一極小值以及一平均值，所述至少一統(tǒng)據(jù)數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期和脈沖寬度中至少一項相關(guān)；所述軌道包含一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，所述第一軌道區(qū)的所述循環(huán)波浪根據(jù)一第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制，所述第二軌道區(qū)的所述循環(huán)波浪根據(jù)一第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制；所述第一軌道區(qū)儲存預(yù)錄數(shù)據(jù)；所述第二軌道區(qū)提供使用者寫入數(shù)據(jù)。另外，本發(fā)明另提出一種根據(jù)軌道波浪判別光學(xué)頭位置的方法，其中包含讀取一光儲存媒體，該光儲存媒體包括一軌道，該軌道具有一第一軌道區(qū)與一第二軌道區(qū)；移動一光學(xué)頭至一第一定點，以檢測所述第一軌道區(qū)的軌道波浪；測量所述第一軌道區(qū)的軌道波浪的一頻率、一周期和一脈沖寬度中至少一項，以產(chǎn)生一第一組測量值；移動所述光學(xué)頭至一第二定點，以檢測其軌道波浪；測量所述第二定點檢測到的軌道波浪的一頻率、一周期和一脈沖寬度中至少一項，以產(chǎn)生一第二組測量值；然后比較所述第一組測量值與所述第二組測量值，以判別所述光學(xué)頭是否位于所述第二軌道區(qū)。上述根據(jù)軌道波浪判別光學(xué)頭位置的方法的實現(xiàn)，包含以下一或多項特征，其中所述第一軌道區(qū)包括一可再寫區(qū)，該可再寫區(qū)提供使用者寫入數(shù)據(jù)，所述第二軌道區(qū)包括一預(yù)錄區(qū)，該預(yù)錄區(qū)儲存預(yù)錄數(shù)據(jù)；所述第一軌道區(qū)的軌道波浪根據(jù)一第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制，并且第二軌道區(qū)的軌道波浪根據(jù)一第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制。另外，本發(fā)明另提出一種由光學(xué)頭的激光束掃描得到擺動信號的方法，其中包含通過一激光束得到一擺動信號，所述激光束掃描一光儲存媒體上一軌道，該軌道具有一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征，所述擺動信號具有相關(guān)所述循環(huán)波浪的信息；根據(jù)所述擺動信號的一時間相依特性，判別所述激光束位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。所述時間相依特性包括一頻率、一周期和一脈沖寬度中至少一項；所述光儲存媒體包括一盤片，所述第一軌道區(qū)位于所述盤片一第一部分，該第一部分半徑小于一特定值，所述第二軌道區(qū)位于所述光盤一第二部分，該第二部分半徑大于或等于所述特定值。另外，本發(fā)明提出一種判別光學(xué)頭位置的裝置，其中包括一光學(xué)頭位置判別電路，根據(jù)一擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，判別一光學(xué)頭于一光儲存媒體的一軌道上的位置，所述擺動信號包括所述軌道的一物理特征的循環(huán)波浪相關(guān)信息。所述物理特征的循環(huán)波浪，包括呈放射狀方向的所述軌道邊界的循環(huán)波浪；所述判別光學(xué)頭位置的裝置還包括一存儲器，用以儲存與所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項相關(guān)的數(shù)值；所述光學(xué)頭位置判別電路測量所述擺動信號的頻率、周期以及脈沖寬度中至少一項，并且將其測量數(shù)值與所述存儲器所儲存的數(shù)值加以比較，藉以判別所述光學(xué)頭位置；所述判別光學(xué)頭位置的裝置還包括一存儲器，用以儲存相關(guān)一統(tǒng)計量的數(shù)值，該統(tǒng)計量與所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項相關(guān)；所述統(tǒng)計量包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布中至少一項；所述光學(xué)頭位置判別電路測量所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項的一統(tǒng)計量，該統(tǒng)計量與所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項相關(guān)，并且將其測量數(shù)值與所述存儲器所儲存的數(shù)值加以比較，藉以判別所述光學(xué)頭位置。所述判別光學(xué)頭位置的裝置包含所述光學(xué)頭，用以檢測所述循環(huán)波浪；一擺動信號產(chǎn)生器，根據(jù)檢測到的循環(huán)波浪，產(chǎn)生所述擺動信號；一控制器，用以控制所述光儲存媒體相對所述光學(xué)頭的一轉(zhuǎn)速；所述控制器控制所述光儲存媒體器的轉(zhuǎn)速，使得所述擺動信號產(chǎn)生時，所述光學(xué)頭以一近似等線速度相對所述軌道移動；所述控制器控制所述光儲存媒體器的轉(zhuǎn)速，使得所述擺動信號產(chǎn)生時，所述光儲存媒體以一近似等角速度轉(zhuǎn)動；一馬達(dá)，用以使所述光學(xué)頭相對所述光儲存媒體移動。另外，本發(fā)明另提出一種根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別光學(xué)頭位置的裝置，其中包含一光學(xué)頭位置判別模塊，根據(jù)一光儲存媒體的轉(zhuǎn)速，所述光學(xué)頭位置判別模塊可判別一光學(xué)頭位于所述光儲存媒體的第一軌道區(qū)或第二軌道區(qū)，所述第一軌道區(qū)的一物理特征，擁有根據(jù)第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制的循環(huán)波浪，所述第二軌道區(qū)的一物理特征，擁有根據(jù)第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制的循環(huán)波浪。所述第一調(diào)制型態(tài)包括一相位調(diào)制或一頻率調(diào)制，且所述第二調(diào)制型態(tài)包括一軌道直接調(diào)制，所述軌道直接調(diào)制將位邏輯值以軌道波浪表示；所述光學(xué)頭位置判別模塊包含一控制器，根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，控制所述光儲存媒體的轉(zhuǎn)速；所述控制器根據(jù)至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，其中包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差、或一分布，控制所述光儲存媒體轉(zhuǎn)速，所述統(tǒng)據(jù)數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期以及脈沖寬度中至少一項相關(guān)。另外，本發(fā)明提出一種光學(xué)儲存系統(tǒng)，用以儲存數(shù)據(jù)在一光儲存媒體，該光儲存媒體具有一軌道，該軌道包括一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征，所述光學(xué)儲存系統(tǒng)包含一光學(xué)頭，用以檢測所述循環(huán)波浪；一擺動信號產(chǎn)生器，根據(jù)檢測到的所述循環(huán)波浪，產(chǎn)生一擺動信號；一光學(xué)頭位置判別電路，根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)；一致動器，根據(jù)判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)的判別結(jié)果，移動所述光學(xué)頭。所述光學(xué)儲存系統(tǒng)還包括一存儲器，用以儲存至少一項預(yù)定值，其中包括一預(yù)定極大值、一預(yù)定極小值、一預(yù)定平均值、一預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)差以及一預(yù)定分布，所述至少一預(yù)定值與所述擺動信號的頻率、周期以及脈沖寬度中至少一項相關(guān)；所述光學(xué)頭位置判別電路測量至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，其中包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布，所述統(tǒng)計數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期、半周期以及脈沖寬度中至少一項相關(guān)，然后將所述測量到的統(tǒng)計數(shù)據(jù)與至少一項所述存儲器內(nèi)預(yù)定值加以比較。另外，本發(fā)明另提出一種通過光儲存媒體信息判別激光束位置的裝置，其中包含一掃描裝置，用以掃描一激光束在一光儲存媒體的一軌道上，該軌道具有一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征；一擺動信號產(chǎn)生器，根據(jù)所述激光束產(chǎn)生一擺動信號，該擺動信號包括所述循環(huán)波浪的信息；一激光束位置判別裝置，根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，判別所述激光束位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。所述激光束位置判別裝置根據(jù)至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，判別所述激光束位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)，所述統(tǒng)計數(shù)據(jù)包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布，所述統(tǒng)計數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期和脈沖寬度中至少一項相關(guān)。另外，本發(fā)明提出另一種根據(jù)擺動信號時間相依特性判別光學(xué)頭位置的裝置，其中包含一光學(xué)頭位置判別電路，至少根據(jù)一項一擺動信號的時間相依特性，判別一光學(xué)頭在一光儲存媒體的一軌道的位置，所述擺動信號包含所述軌道的一物理特征的循環(huán)波浪信息。所述時間相依特性包括一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項；所述根據(jù)擺動信號時間相依特性判別光學(xué)頭位置的裝置還包括一存儲器，用以儲存所述擺動信號的所述時間相依特性的一統(tǒng)計量。根據(jù)本發(fā)明，可以快速準(zhǔn)確的判斷激光束位置和光學(xué)頭位置。圖1表示一光學(xué)儲存系統(tǒng)；圖2表示一光盤；圖3表示一激光束與一伺服軌道的交錯區(qū)域；圖4表示圖2的伺服軌道；圖5表示一可再寫區(qū)；圖6表示一預(yù)錄區(qū)；圖7表示一同步化型樣；圖8表示一擺動信號產(chǎn)生器和處理擺動信號的多個裝置；圖9表示一推挽信號；圖10和圖11表示移動一讀取頭的兩種流程。符號說明10～光學(xué)儲存系統(tǒng)12～光盤14～光盤驅(qū)動控制器16～轉(zhuǎn)軸馬達(dá)18～滑撬馬達(dá)20～光學(xué)讀取頭22～激光束30～伺服軌道32～預(yù)錄區(qū)34～可再寫區(qū)36～凹槽38～平臺40～徑向方向42～伺服軌道平均中心線44～盤片中心46～盤片中孔48～最小相移鍵控標(biāo)記50～最小相移鍵控標(biāo)記的第一部分52～最小相移鍵控標(biāo)記的第二部分54～最小相移鍵控標(biāo)記的第三部分56～單調(diào)擺動60～高頻調(diào)制凹槽62～高頻調(diào)制凹槽的位格64～高頻調(diào)制凹槽的中心線66～高頻調(diào)制凹槽的平均中線68～發(fā)生于位格62起始處的變遷70～發(fā)生于位格62大約中間處的變遷72～同步化型樣74～同步化型樣的位格76～發(fā)生于位格74起始處的變遷78～三個位格7480～擺動信號產(chǎn)生器82～四區(qū)域光檢器84～加法器86～加法器88～光檢器PD_A與光檢器PD_D的輸出和(A+D)90～光檢器PD_B與光檢器PD_C的輸出和(B+C)92～減法器，94～推挽信號(A+D)-(B+C)96～帶通濾波器或低通濾波器98～擺動信號100～比較器102～脈沖信號104～頻率檢測器106～抖晃測量儀108～擺動信號檢測器110～雙相解調(diào)器112～最小相移鍵控解調(diào)器114～選擇信號116～切換器120～推挽信號說明例122～脈沖信號說明例124～時間軸126～信號振幅軸具體實施方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉數(shù)個較佳實施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。一儲存系統(tǒng)10可選擇性地定位讀取頭20在一盤片12的預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34，其是根據(jù)數(shù)種特性，其中包括擺動信號的頻率、周期、或脈沖寬度。所述預(yù)錄區(qū)32和所述可再寫區(qū)34各具有根據(jù)不同調(diào)制型態(tài)調(diào)制的軌道擺動。根據(jù)讀取頭20是位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34，所述擺動信號的特性將有所不同。因為預(yù)錄區(qū)32和可再寫區(qū)34使用不同的調(diào)制方式記錄數(shù)據(jù)，其有助于在企圖讀取數(shù)據(jù)自、或?qū)懭霐?shù)據(jù)至盤片12前，判別所述讀取頭20是位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。在實施例中，光盤12可為由日本東京索尼(Sony)股份有限公司所出品的藍(lán)光光盤(blu-raydisc)。圖5表示可再寫區(qū)34的軌道擺動的一實施例，其中包括單調(diào)擺動(monotonewobble)56和最小相移鍵控(minimumshiftkeying，MSK)標(biāo)記48。每一單調(diào)擺動呈現(xiàn)一可由余弦函數(shù)cos(2π×fwob×t)表示的形狀，其中fwob表示所述軌道擺動的頻率(稱為“擺動頻率”(wobblefrequency))、t表示時間。在實施例中，每一單調(diào)擺動的周期為69T，且其半周期為34.5T，其中T相當(dāng)于一通道位(channelbit)長度。所述頻率和周期可由讀取頭20的輸出信號測量得到。一般說來，一信號的“半周期”表示該信號的一持續(xù)高準(zhǔn)位時間區(qū)間或該信號的一持續(xù)低準(zhǔn)位時間區(qū)間，而該信號的“周期”表示包含所述信號一持續(xù)高準(zhǔn)位以及一持續(xù)低準(zhǔn)位的一時間區(qū)間。一最小相移鍵控標(biāo)記48包括三個部分，分別為50、52和54。每一第一部分50和第三部分54各具有一頻率為1.5×fwob的余弦擺動，且第二部分52具有一頻率為fwob的余弦擺動。在實施例中，第一部分50和第三部分54的擺動周期為46T(其半周期為23T)。第二部分52的擺動周期為69T。在實施例中，可再寫區(qū)34的軌道擺動平均周期為66.8T，故其平均半周期為33.4T。參閱圖6，在實施例中，預(yù)錄區(qū)32包括一高頻調(diào)制(highfrequencymodulated，HFM)凹槽60，其軌道擺動是經(jīng)雙相(bi-phase)調(diào)制。所述高頻調(diào)制凹槽儲存數(shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)被稱為永久信息以及控制(permanentinformationandcontrol，PIC)數(shù)據(jù)，且在PIC數(shù)據(jù)的信息框(frames)之間安置同步化型樣(synchronizationpattern)。將儲存PIC數(shù)據(jù)的部分預(yù)錄區(qū)32分割成位格(bitcells)62，每一位格62儲存數(shù)據(jù)的一個位并且擁有一時間長度(本實施例為36T)。根據(jù)雙相調(diào)制法，所述高頻調(diào)制凹槽的中線64對一平均中線66波浪。若一位格62的起始處(以68為例)有一變遷而且到下一位格之前沒有變遷發(fā)生，則此位格表示位值0。若一位格62的起始處和大約中間處(以70為例)都有一變遷，則此位格表示位值1。在實施例中，儲存PIC數(shù)據(jù)的部分預(yù)錄區(qū)32，其半周期不是18T就是36T，而且其平均半周期為24.3T。參閱圖7，一實施例說明一同步化型樣(synchronizationpattern)72，其中包括八個位格74，每一位格儲存信息的一個位而且其時間長度為18T。在此同步化型樣72中，若一位格74的起始處有一變遷(如76所示)，則此位格表示位值1。若位格中沒有變遷發(fā)生，則此位格表示位值0。在預(yù)錄區(qū)32中，最長軌道擺動半周期發(fā)生在同步化型樣72中，如78所示，78擁有三個位格74且其半周期為54T。參閱圖8，一擺動信號產(chǎn)生器80包括一四區(qū)域光檢器(quad-sectionphotodctector)82，其具有PD_A、PD_B、PD_C和PD_D四個光檢器，用以檢測激光束22，而所述四個光檢器的輸出分別表示為A、B、C和D。加法器84將光檢器PD_A和光檢器PD_D的輸出相加，加法器86將光檢器PD_B與光檢器PD_C的輸出相加。減法器92將加法器84的輸出90減去加法器86的輸出88，得到一推挽信號(pushpullsignal)94，其值為(A+D)-(B+C)。將推挽信號94通過一帶通濾波器(或一低通濾波器)96以產(chǎn)生一擺動信號(wobblesignal)98。該擺動信號相當(dāng)于一濾過推挽信號。比較器100比較擺動信號98與一參考電壓VREF，然后產(chǎn)生一脈沖信號(pulsesignal)102。傳遞脈沖信號102至一頻率檢測器104和一抖晃測量儀(JitterMeter)106，用以分別測量該脈沖信號102的頻率和周期。在以下說明中，“擺動頻率”將被用來表示所述脈沖信號102的頻率。傳遞所述脈沖信號102的頻率值和周期值至一擺動型態(tài)檢測器(wobbletypedetector)108，用以判別目前讀取頭位置上的擺動型態(tài)。依照判別所述讀取頭20位于高頻調(diào)制(HFM)凹槽或是擺動凹槽，分別傳遞該脈沖信號102至一雙相(bi-phase)解調(diào)器110或一最小相移鍵控(MSK)解調(diào)器112，用以讀取包含于軌道擺動中的數(shù)據(jù)。所述擺動型態(tài)檢測器108產(chǎn)生一選擇信號114，用以控制一切換器116，決定所述脈沖信號102由雙相解調(diào)器110或最小相移鍵控解調(diào)器112解調(diào)。圖9表示一實施例，說明當(dāng)讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32時產(chǎn)生的一推挽信號120，其中預(yù)錄區(qū)32上的軌道擺動經(jīng)過雙相調(diào)制。所述推挽信號120產(chǎn)生一脈沖信號122。圖9的水平軸124顯示時間，垂直軸126顯示信號振幅。所述脈沖信號122具有其值為18T、36T和54T的脈沖寬度。所述脈沖信號122的脈沖寬度與所述推挽信號120的半周期一致。表1為凹槽型態(tài)比較圖表，列出使用某些種編碼方式時預(yù)錄區(qū)32和可再寫區(qū)34上兩種凹槽型態(tài)的軌道擺動頻率以及軌道擺動周期的比較結(jié)果。在以下說明中，預(yù)錄區(qū)32的凹槽被稱為高頻調(diào)制(HFM)凹槽，可再寫區(qū)34的凹槽被稱為擺動凹槽。表1.凹槽型態(tài)比較圖表所述擺動凹槽的最長半周期為34.5T，而所述高頻調(diào)制凹槽的最長半周期為54T。所述擺動凹槽的最短半周期為23T，而所述高頻調(diào)制凹槽的最短半周期為18T。所述擺動凹槽的平均周期約為66.8T，而所述高頻調(diào)制凹槽的平均周期約為48.5T。所述擺動凹槽的周期標(biāo)準(zhǔn)差約為5.72T，而所述高頻調(diào)制凹槽的周期標(biāo)準(zhǔn)差約為13.96T。所述擺動凹槽的脈沖寬度標(biāo)準(zhǔn)差約為3.04T，而所述高頻調(diào)制凹槽的脈沖寬度標(biāo)準(zhǔn)差約為8.86T。擺動凹槽和高頻調(diào)制凹槽皆可具有數(shù)個周期長度值。在擺動凹槽中，其周期約3％為46T、約6％為51.75T、約6％為63.25T且約84％為69T。相比之下，在高頻調(diào)制凹槽中，其周期約49％為36T、約34％為54T、約16％為72T且小于1％為108T。擺動凹槽和高頻調(diào)制凹槽皆可具有數(shù)個脈沖寬度值。在擺動凹槽中，其脈沖寬度約6％為23T、約6％為28.75T且約87％為34.5T。相比之下，在高頻調(diào)制凹槽中，其脈沖寬度約66％為18T、約33％為36T且約1％為54T。所述數(shù)值可由測量一已知盤片12的擺動信號98或脈沖信號102(圖8)得到。在實施例中，當(dāng)儲存系統(tǒng)10以一等線速度模式運作且所述盤片以一倍速(1X)轉(zhuǎn)動，其通道碼(channelcode)位率為66兆赫?？稍賹憛^(qū)34的單調(diào)擺動46的周期為69T，因此其頻率為956.52千赫。當(dāng)讀取頭20位于高頻調(diào)制凹槽時，所述讀取頭20相對所述轉(zhuǎn)動盤片12的線性速度約為5.28公尺/秒，且所述光盤轉(zhuǎn)速約為37.8赫茲(每秒轉(zhuǎn)速)。參閱圖10，光儲存媒體10使用一流程140移動光學(xué)讀取頭20至一位于預(yù)錄區(qū)32的位置。打開光學(xué)儲存系統(tǒng)10的電源(步驟142)后，移動讀取頭至距離盤片12中孔46中心44約24毫米的地方(步驟144)。所述步驟144能夠定位讀取頭于可再寫區(qū)34一靠近預(yù)錄區(qū)32的位置。激活光儲存媒體10的轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16，并且以一固定轉(zhuǎn)速(例如37.8赫茲)轉(zhuǎn)動所述轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16(步驟146)。激活讀取頭20的激光(步驟148)。調(diào)整讀取頭20的位置，使得所述激光束22聚焦于伺服軌道30的凹槽上，讀取頭20開始追蹤該伺服軌道30(步驟150)。利用擺動信號產(chǎn)生器80和比較器100(如圖8所示)，由反射的激光束22產(chǎn)生一脈沖信號102，檢測并儲存所述脈沖信號102的平均擺動頻率w0于一存儲器中(步驟152)。所述平均擺動頻率即一預(yù)定時間內(nèi)測量的軌道擺動平均頻率。使用最小相移鍵控解調(diào)器112解調(diào)所述脈沖信號102，用以得到地址信息，計算讀取頭目前位置與一預(yù)錄區(qū)32特定位置之間的軌道數(shù)目(步驟154)。根據(jù)所述計算所得的軌道數(shù)目，移動讀取頭20至所述預(yù)錄區(qū)32特定位置(步驟156)，檢測并儲存其平均擺動頻率w1于一存儲器中(步驟158)。比較所述擺動頻率w0、w1以及預(yù)存的定限值(thresholdvalues)(步驟160)(如表1所示)，判別讀取頭20是否位于預(yù)錄區(qū)32(步驟162)。例如，一以一倍速轉(zhuǎn)動的藍(lán)光盤片，其通道位頻率為66兆赫，且其高頻調(diào)制凹槽的平均周期為約48.5T，所以其高頻調(diào)制凹槽的平均頻率大于1.36兆赫。若脈沖信號102的平均頻率大于1.3兆赫，所述儲存系統(tǒng)判定光學(xué)讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32的高頻調(diào)電凹槽，并且結(jié)束流程140(步驟164)。若讀取頭20并不位于預(yù)錄區(qū)32，比較擺動頻率w1與預(yù)存的定限值(如表1所示)，用以判別讀取頭是否位于可再寫區(qū)34(步驟166)。例如，當(dāng)通道位頻率為66兆赫且擺動凹槽的平均周期約為66.8T，其平均擺動頻率約為988千赫。若擺動頻率w1小于1兆赫，儲存系統(tǒng)10判定光學(xué)讀取頭位于可再寫區(qū)34。若儲存系統(tǒng)10判定166該讀取頭不位于可再寫區(qū)34，流程140跳到步驟144，再次定位讀取頭20于可再寫區(qū)34。若儲存系統(tǒng)判定讀取頭20位于可再寫區(qū)34，流程140跳到步驟154，判別地址信息并且再次嘗試定位讀取頭20于預(yù)錄區(qū)32。舉例說明一替代流程，將步驟152和步驟158所儲存的擺動頻率w0和w1互相比較，用以取代步驟160的比較擺動頻率與預(yù)存數(shù)值。例如，若w0和w1的差異小于一容限值(tolerancevalue)，儲存系統(tǒng)10于步驟162和步驟166判定該讀取頭20位于可再寫區(qū)34。若所述平均擺動頻率w0和w1大于一容限值，儲存系統(tǒng)10判定所述讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32。儲存系統(tǒng)10利用特定準(zhǔn)則證實讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32。例如，w1應(yīng)該大于w0，若w1未大于w0，也許有錯誤發(fā)生，因此流程140跳到步驟144并且再次執(zhí)行該流程。還有另一實施例，光學(xué)讀取頭20最初移動到中心44附近，然后放射狀地向外移動22毫米，以定位讀取頭20于預(yù)錄區(qū)32。為了降低由盤片12與滑撬馬達(dá)的公差(tolerances)所引起的錯誤，比較脈沖信號102頻率與所述預(yù)存數(shù)值，以判別讀取頭20是否真的定位在預(yù)錄區(qū)32。在流程140中，比較脈沖信號102平均頻率與預(yù)存數(shù)值，以判別讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。其它參數(shù)，例如最長半周期、最短半周期、周期標(biāo)準(zhǔn)差、脈沖寬度標(biāo)準(zhǔn)差、或任何所述參數(shù)的結(jié)合，也都可以被使用。根據(jù)預(yù)定時間內(nèi)或預(yù)定軌道長度內(nèi)所做的測量，測定所述參數(shù)。除了使用脈沖信號102，擺動信號98也可被用來與預(yù)存數(shù)值比較，以判別讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。其它由擺動信號98或脈沖信號102所衍生出的信號，也可以被用來與預(yù)存數(shù)值比較，以判別讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。參閱圖11，一替代流程，其中儲存系統(tǒng)10依照流程170，通過測量盤片12的轉(zhuǎn)速(與轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16的轉(zhuǎn)速相同)而不是測量擺動頻率，移動光學(xué)讀取頭20至一位于預(yù)錄區(qū)的位置。激活光學(xué)儲存系統(tǒng)10的電源(步驟142)，然后將讀取頭20移動至一距離中心44約24毫米的位置(步驟144)。所述動作能夠定位讀取頭20于可再寫區(qū)34。激活轉(zhuǎn)軸馬達(dá)(步驟172)。激活讀取頭20的激光(步驟148)。所述讀取頭20聚焦其激光束22，并且追蹤伺服軌道30(步驟150)。使用擺動信號產(chǎn)生器80和比較器100(如圖8所示)，由反射的激光束22產(chǎn)生一脈沖信號。選擇一特定擺動頻率，并且將儲存系統(tǒng)10設(shè)定在等線速度模式(步驟174)。轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16轉(zhuǎn)動盤片12，使擺動頻率維持在一特定值。在實施例中，當(dāng)光儲存媒體10以一倍速(1X)等線速度模式運作，其通道位頻率為66兆赫、平均擺動周期為66.8T且平均擺動頻率為988千赫。在步驟174中，其擺動頻率可被設(shè)為988千赫。解調(diào)擺動信號，以取得地址信息(步驟176)，計算讀取頭目前位置與可再寫區(qū)34起始處之間的軌道數(shù)目，根據(jù)所述計算所得的軌道數(shù)目，移動讀取頭20至一靠近可再寫區(qū)34起始處的位置。所述盤片12的轉(zhuǎn)動頻率以一FG(frequencygenerator)頻率值表示為f0，檢測f0值并將其儲存于一存儲器(步驟178)。在實施例中，當(dāng)讀取頭20靠近可再寫區(qū)起始處，所述盤片的轉(zhuǎn)速約為36.2每秒轉(zhuǎn)速。因此，f0近似36.2赫茲。將讀取頭20向盤片中心44移動數(shù)個軌道(步驟180)。儲存系統(tǒng)10調(diào)整其轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16，使得擺動頻率維持在988千赫。所述儲存系統(tǒng)10等到轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16穩(wěn)定后，檢測并且儲存目前FG頻率值f1(步驟182)。因為高頻調(diào)制凹槽的平均擺動周期為48.5T(而可再寫區(qū)34的擺動信號平均周期為66.8T)，所述轉(zhuǎn)軸馬達(dá)16必須降低轉(zhuǎn)速以維持?jǐn)[動頻率為988千赫，使得f0＝f1×n，其中n＝66.8/48.5＝1.377。比較所述f0與一數(shù)值(1.2×f1)(步驟184)。若f0未大于1.2×f1，儲存系統(tǒng)10判別其讀取頭仍位于可再寫區(qū)34(步驟188)，并且跳到步驟176。若f0大于1.2×f1，儲存系統(tǒng)10判定讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32(步驟186)，并且結(jié)束流程170(步驟164)。儲存系統(tǒng)10判定其讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32后，所述儲存系統(tǒng)10利用雙相解調(diào)器110解調(diào)讀取頭20讀取到的信號。使用流程140或流程170有一優(yōu)點，儲存系統(tǒng)10能夠在儲存系統(tǒng)10激活時快速定位其讀取頭20于預(yù)錄區(qū)32，并且快速讀取儲存于預(yù)錄區(qū)32的永久信息和控制(PIC)數(shù)據(jù)。將擺動信號98或脈沖信號102的特性與預(yù)存數(shù)值(例如表1所示)作比較有一優(yōu)點，儲存系統(tǒng)10能夠更正確地判別其讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。若不使用流程140或170，儲存系統(tǒng)10必須在一開始就根據(jù)讀取頭20與盤片中心44的徑向距離判別讀取頭20位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34，嘗試根據(jù)其初始判別結(jié)果解碼該讀取頭20讀取的數(shù)據(jù)，并且若是儲存系統(tǒng)10無法解碼所述數(shù)據(jù)，則切換至另一解碼方式解碼讀取頭讀取的數(shù)據(jù)。此嘗試法比流程140和170需要更長時間。使用流程140或170時，儲存系統(tǒng)10不需要等待讀取頭20穩(wěn)定地定位在一特定軌道(以供自盤片12讀取數(shù)據(jù))以判別讀取頭位于預(yù)錄區(qū)32或可再寫區(qū)34。雖然之前已經(jīng)討論了一些實施例，仍有其它實施和應(yīng)用也在本發(fā)明的范圍內(nèi)。例如，光盤12可為一寫入一次光盤(write-oncedisc)，其伺服軌道包含一可寫區(qū)(writableregion，提供使用者寫入一次數(shù)據(jù))用以取代可再寫區(qū)(rewritableregion)。光盤12擁有各種規(guī)格，而且可具有與所述不同的擺動頻率、周期、脈沖寬度。盤片驅(qū)動控制器14可被設(shè)計為用來處理不同方式編碼的信號。預(yù)錄區(qū)32和可再寫區(qū)34的特性可與表1所記錄的不同。例如，最長半周期數(shù)值、最短半周期數(shù)值、平均周期、周期標(biāo)準(zhǔn)差、脈沖寬度標(biāo)準(zhǔn)差、周期寬度以及脈沖寬度都可能不同皆可不同。伺服軌道30可擁有兩個以上具有不同軌道擺動型態(tài)的區(qū)域。每一種軌道擺動型態(tài)可擁有其特定特性。每一不同區(qū)域可以根據(jù)下列數(shù)值分辨，其中包括最長半周期、最短半周期、平均周期、周期標(biāo)準(zhǔn)差、脈沖寬度標(biāo)準(zhǔn)差、周期分布以及脈沖寬度分布等。伺服軌道30可包含一擁有軌道擺動的平臺(land)部分，用以代替擁有軌道擺動的凹槽(groove)部分。光盤12可擁有兩種伺服軌道，一種伺服軌道包含一平臺部分，另一種伺服軌道包含一凹槽部分。伺服軌道不需要一定呈圓形盤片上的一螺旋狀。伺服軌道也能被布置在一長帶(tape)上，并且在相對于讀取頭前后移動所述長帶時，所述讀取頭掃描其伺服軌道。光盤12可擁有一個以上反射層。光盤可被設(shè)計為讀取頭20可由所述光盤同一面的多樣反射層讀取和寫入數(shù)據(jù)。當(dāng)一光盤擁有二個反射層，一反射層的伺服軌道可由一靠近該光盤內(nèi)部的位置開始并且向外螺旋，另一反射層的伺服軌道可由一靠近所述光盤外部的位置開始并且向內(nèi)回旋。利用擺動信號特性判別讀取頭在伺服軌道上的位置并不只限用于光學(xué)儲存系統(tǒng)，也可用于其它系統(tǒng)，例如磁光(magnetic-optic)儲存系統(tǒng)或磁(magnetic)儲存系統(tǒng)。高頻調(diào)制凹槽可使用不同調(diào)制方式調(diào)制。例如，一邏輯值1可被表示為一向左軌道波浪，一邏輯值0可被表示為一向右軌道波浪(向左向右乃相對于讀取頭掃描方向)。擺動凹槽可使用頻率調(diào)制，其中邏輯值0和1以不同頻率表示。擺動凹槽可儲存地址信息的一編碼后格式，例如格雷碼(graycodes)即用來表示地址信息。擺動凹槽除了儲存地址信息外還儲存軌道數(shù)目信息。本發(fā)明已揭示較佳實施例如上，僅用于幫助了解本發(fā)明的實施，非用以限定本發(fā)明的精神，而熟悉此領(lǐng)域技藝者在領(lǐng)悟本發(fā)明的精神后，在不脫離本發(fā)明的精神范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許更動潤飾及等同的變化替換，其專利保護(hù)范圍由以權(quán)利要求書及其等同領(lǐng)域而定。權(quán)利要求1.一種根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于包含聚焦所述激光束于一光儲存媒體的一軌道上，該軌道包括一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征；自所述激光束得到一擺動信號，該擺動信號具有所述循環(huán)波浪的相關(guān)信息；根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期或一脈沖寬度，判別所述激光束位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于，還包括測定所述擺動信號的頻率、周期、和脈沖寬度中至少一項的一統(tǒng)計量。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于，所述統(tǒng)計量包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布中至少一項。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于根據(jù)所述統(tǒng)計量，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述擺動信號在所述激光束掃描所述第一軌道區(qū)時，具有一第一平均頻率，并且所述擺動信號在所述激光束掃描所述第二軌道區(qū)時，具有一第二平均頻率。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述循環(huán)波浪在所述第一軌道區(qū)時是根據(jù)一第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制，并且所述循環(huán)波浪在所述第二軌道區(qū)時是根據(jù)一第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述第一調(diào)制型態(tài)包括一頻率調(diào)制或一相位調(diào)制。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述相位調(diào)制包括一最小相移鍵控調(diào)制。9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述第二調(diào)制型態(tài)包括一軌道直接調(diào)制，其中位邏輯值以軌道波浪表示。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述第一軌道區(qū)儲存地址信息。11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述第二軌道區(qū)儲存控制信息，該控制信息與自所述光儲存媒體讀取數(shù)據(jù)、或?qū)懭霐?shù)據(jù)至所述光儲存媒體相關(guān)。12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的根據(jù)擺動信號判別一光學(xué)頭的激光束位置的方法，其特征在于所述物理特征的循環(huán)波浪包括軌道邊界波浪。13.一種根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于包含旋轉(zhuǎn)一盤片，該盤片含有一軌道，該軌道有一具有循環(huán)波浪的物理特征；相對所述盤片移動所述光學(xué)頭；根據(jù)檢測到的所述物理特征的變動量產(chǎn)生一擺動信號；根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期、和一脈沖寬度中至少一項，調(diào)整所述盤片相對所述光學(xué)頭的一轉(zhuǎn)速；以及根據(jù)所述盤片的轉(zhuǎn)速判別所述光學(xué)頭的一軌道位置。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于還包括測定至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，其中包括一極大值、一極小值以及一平均值，所述統(tǒng)據(jù)數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期和脈沖寬度中至少一項相關(guān)。15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于所述軌道包含一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，所述第一軌道區(qū)的所述循環(huán)偏波浪是根據(jù)一第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制，所述第二軌道區(qū)的所述循環(huán)波浪是根據(jù)一第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于所述第一軌道區(qū)儲存預(yù)錄數(shù)據(jù)。17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于所述第二軌道區(qū)提供使用者寫入數(shù)據(jù)。18.一種根據(jù)軌道波浪判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于包含讀取一光儲存媒體，該光儲存媒體包括一軌道，該軌道具有一第一軌道區(qū)與一第二軌道區(qū)；移動所述光學(xué)頭至一第一定點，以檢測所述第一軌道區(qū)的軌道波浪；測量所述第一軌道區(qū)的軌道波浪的一頻率、一周期和一脈沖寬度中至少一項，以產(chǎn)生一第一組測量值；移動所述光學(xué)頭至一第二定點，以檢測其軌道波浪；測量所述第二定點檢測到的軌道波浪的一頻率、一周期和一脈沖寬度中至少一項，以產(chǎn)生一第二組測量值；然后比較所述第一組測量值與所述第二組測量值，以判別所述光學(xué)頭是否位于所述第二軌道區(qū)。19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的根據(jù)軌道波浪判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于所述第一軌道區(qū)包括一可再寫區(qū)，該可再寫區(qū)提供使用者寫入數(shù)據(jù)，所述第二軌道區(qū)包括一預(yù)錄區(qū)，該預(yù)錄區(qū)儲存預(yù)錄數(shù)據(jù)。20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的根據(jù)軌道波浪判別一光學(xué)頭位置的方法，其特征在于所述第一軌道區(qū)的軌道波浪是根據(jù)一第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制，并且第二軌道區(qū)的軌道波浪是根據(jù)一第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制。21.一種由一光學(xué)頭的激光束掃描得到擺動信號的方法，其特征在于包含通過所述光學(xué)頭的激光束得到一擺動信號，所述激光束掃描一光儲存媒體上一軌道，該軌道具有一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征，所述擺動信號具有相關(guān)所述循環(huán)波浪的信息；根據(jù)所述擺動信號的一時間相依特性，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的由一光學(xué)頭的激光束掃描得到擺動信號的方法，其特征在于所述時間相依特性包括一頻率、一周期和一脈沖寬度中至少一項。23.根據(jù)權(quán)利要求21所述的由一光學(xué)頭的激光束掃描得到擺動信號的方法，其特征在于所述光儲存媒體包括一盤片，所述第一軌道區(qū)位于所述盤片一第一部分，該第一部分半徑小于一特定值，所述第二軌道區(qū)位于所述光盤一第二部分，該第二部分半徑大于或等于所述特定值。24.一種判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于包含一光學(xué)頭位置判別電路，根據(jù)一擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，判別一光學(xué)頭于一光儲存媒體的一軌道上的位置，所述擺動信號包括所述軌道的一物理特征的循環(huán)波浪相關(guān)信息。25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述物理特征的循環(huán)波浪，包括呈放射狀方向的所述軌道邊界的循環(huán)波浪。26.根據(jù)權(quán)利要求24所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于還包括一存儲器，用以儲存與所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項相關(guān)的數(shù)值。27.根據(jù)權(quán)利要求26所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述光學(xué)頭位置判別電路測量所述擺動信號的頻率、周期以及脈沖寬度中至少一項，并且將其測量數(shù)值與所述存儲器所儲存的數(shù)值加以比較，藉以判別所述光學(xué)頭位置。28.根據(jù)權(quán)利要求24所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于還包括一存儲器，用以儲存相關(guān)一統(tǒng)計量的數(shù)值，所述統(tǒng)計量與所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項相關(guān)。29.根據(jù)權(quán)利要求28所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述統(tǒng)計量包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布中至少一項。30.根據(jù)權(quán)利要求28所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述光學(xué)頭位置判別電路測量所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項的一統(tǒng)計量，并且將其測量數(shù)值與所述存儲器所儲存的數(shù)值加以比較，藉以判別所述光學(xué)頭位置。31.根據(jù)權(quán)利要求24所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述光學(xué)頭用來檢測所述循環(huán)波浪。32.根據(jù)權(quán)利要求31所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于還包括一擺動信號產(chǎn)生器，根據(jù)檢測到的循環(huán)波浪，所述擺動信號產(chǎn)生器產(chǎn)生所述擺動信號。33.根據(jù)權(quán)利要求24所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于還包括一控制器，用以控制所述光儲存媒體相對所述光學(xué)頭的一轉(zhuǎn)速。34.根據(jù)權(quán)利要求33所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述控制器控制所述光儲存媒體器的轉(zhuǎn)速，使得所述擺動信號產(chǎn)生時，所述光學(xué)頭以一近似等線速度相對所述軌道移動。35.根據(jù)權(quán)利要求33所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述控制器控制所述光儲存媒體器的轉(zhuǎn)速，使得所述擺動信號產(chǎn)生時，所述光儲存媒體以一近似等角速度轉(zhuǎn)動。36.根據(jù)權(quán)利要求31所述的判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于還包括一馬達(dá)，用以使所述光學(xué)頭相對所述光儲存媒體移動。37.一種根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于包含一光學(xué)頭位置判別模塊，根據(jù)一光儲存媒體的轉(zhuǎn)速，所述光學(xué)頭位置判別模塊判別一光學(xué)頭位于所述光儲存媒體的第一軌道區(qū)或第二軌道區(qū)，所述第一軌道區(qū)的一物理特征，擁有根據(jù)第一調(diào)制型態(tài)調(diào)制的循環(huán)波浪，所述第二軌道區(qū)的一物理特征，擁有根據(jù)第二調(diào)制型態(tài)調(diào)制的循環(huán)波浪。38.根據(jù)權(quán)利要求37所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述第一調(diào)制型態(tài)包括一相位調(diào)制或一頻率調(diào)制，且所述第二調(diào)制型態(tài)包括一軌道直接調(diào)制，所述軌道直接調(diào)制將位邏輯值以軌道波浪表示。39.根據(jù)權(quán)利要求37所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述光學(xué)頭位置判別模塊包含一控制器，根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，控制所述光儲存媒體的轉(zhuǎn)速。40.根據(jù)權(quán)利要求39所述的根據(jù)盤片轉(zhuǎn)速判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述控制器根據(jù)至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，其中包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差或一分布，控制所述光儲存媒體轉(zhuǎn)速，所述統(tǒng)據(jù)數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期和脈沖寬度中至少一項相關(guān)。41.一光學(xué)儲存系統(tǒng)，用以儲存數(shù)據(jù)在一光儲存媒體，該光儲存媒體具有一軌道，該軌道包括一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征，其特征在于，所述光學(xué)儲存系統(tǒng)包含一光學(xué)頭，用以檢測所述循環(huán)波浪；一擺動信號產(chǎn)生器，根據(jù)檢測到的所述循環(huán)波浪，所述擺動信號產(chǎn)生器產(chǎn)生一擺動信號；一光學(xué)頭位置判別電路，根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。一致動器，根據(jù)判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)的判別結(jié)果，移動該光學(xué)頭。42.根據(jù)權(quán)利要求41所述的光學(xué)儲存系統(tǒng)，其特征在于還包含一存儲器，用以儲存至少一項預(yù)定值，其中包括一預(yù)定極大值、一預(yù)定極小值、一預(yù)定平均值、一預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)差以及一預(yù)定分布，所述預(yù)定值與所述擺動信號的頻率、周期以及脈沖寬度中至少一項相關(guān)。43.根據(jù)權(quán)利要求42所述的光學(xué)儲存系統(tǒng)，其特征在于所述光學(xué)頭位置判別電路測量至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，其中包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布，所述統(tǒng)計數(shù)據(jù)與所述擺動信號的頻率、周期、半周期以及脈沖寬度中至少一項相關(guān)，然后將所述測量到的統(tǒng)計數(shù)據(jù)與至少一項所述存儲器內(nèi)預(yù)定值加以比較。44.一種通過光儲存媒體信息判別一光學(xué)頭的激光束位置的裝置，其特征在于包含一掃描裝置，用以掃描所述光學(xué)頭的激光束在一光儲存媒體的一軌道上，該軌道具有一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一具有循環(huán)波浪的物理特征；一擺動信號產(chǎn)生器，根據(jù)所述激光束產(chǎn)生一擺動信號，該擺動信號包括所述循環(huán)波浪的信息；一光學(xué)頭位置判別裝置，根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。45.根據(jù)權(quán)利要求44所述的通過光儲存媒體信息判別一光學(xué)頭的激光束位置的裝置，其特征在于所述光學(xué)頭位置判別裝置根據(jù)至少一項統(tǒng)計數(shù)據(jù)，判別所述光學(xué)頭位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)，所述統(tǒng)計數(shù)據(jù)包括一極大值、一極小值、一平均值、一標(biāo)準(zhǔn)差以及一分布，所述統(tǒng)計數(shù)據(jù)與所述擺動信號之頻率、周期和脈沖寬度中至少一項相關(guān)。46.一種根據(jù)擺動信號時間相依特性判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于包含一光學(xué)頭位置判別電路，至少根據(jù)一項一擺動信號的時間相依特性，判別所述光學(xué)頭在一光儲存媒體的一軌道上的位置，所述擺動信號包含所述軌道的一物理特征的循環(huán)波浪信息。47.根據(jù)權(quán)利要求46所述的根據(jù)擺動信號時間相依特性判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于所述時間相依特性包括一頻率、一周期以及一脈沖寬度中至少一項。48.根據(jù)權(quán)利要求46所述的根據(jù)擺動信號時間相依特性判別一光學(xué)頭位置的裝置，其特征在于還包括一存儲器，用以儲存所述擺動信號的所述時間相依特性的一統(tǒng)計量。全文摘要本發(fā)明涉及一種判別儲存媒體檢測器位置的方法與裝置，所述方法包括掃描一激光束于一光儲存媒體的一軌道上，該軌道包括一第一軌道區(qū)和一第二軌道區(qū)，每一所述軌道區(qū)有一循環(huán)波浪(recurringdeviations)的物理特征；自所述激光束得到一擺動信號(wobblesignal)，該擺動信號具有所述循環(huán)波浪的相關(guān)信息；根據(jù)所述擺動信號的一頻率、一周期或一脈沖寬度，判別所述激光束位于所述第一軌道區(qū)或所述第二軌道區(qū)。文檔編號G11B20/00GK1801338SQ20051012340公開日2006年7月12日申請日期2005年11月16日優(yōu)先權(quán)日2004年11月22日發(fā)明者陳志遠(yuǎn),楊金彬,邱靖寧申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司