專利名稱：激光功率調(diào)整方法及光記錄再生裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及激光功率調(diào)整方法及光記錄再生裝置，特別適用于根據(jù)記錄介質(zhì)的γ值來調(diào)整記錄激光功率。
背景技術(shù)：
目前，除CD-ROM或DVD-ROM等再生專用介質(zhì)外，CD-RW或DVD-RW等改寫型介質(zhì)、或者CD-R、DVD-R、DVD+R等追記型介質(zhì)等各種光記錄介質(zhì)已被商品化并被普及。這些光記錄介質(zhì)根據(jù)不同的介質(zhì)類別，再生記錄時所用的最佳激光功率各異，而且，即使對于同一種類別，每一個制造廠家，用于各種介質(zhì)的最佳激光功率也不同。因此，在對光記錄介質(zhì)進行記錄·再生的驅(qū)動裝置中，對應(yīng)于各種介質(zhì)，配備有將記錄再生時的激光功率調(diào)整到最佳值的構(gòu)成。
這些光記錄介質(zhì)中的CD-RW或DVD-RW采用根據(jù)γ值的記錄激光功率調(diào)整法(γ法)，被記錄在各自的規(guī)范書中。該調(diào)整方法是根據(jù)試寫時檢測到的反射光強度的調(diào)制度和該介質(zhì)中預(yù)先設(shè)定的目標γ值，將記錄激光功率調(diào)整到最佳的。
而且，在DVD+RW的規(guī)范書中，特別推薦采用γ法中的線性配合法。這種線性配合法首先從試寫時設(shè)定的幾種記錄激光功率Pwn、和以激光功率Pwn進行試寫時的反射光強度的調(diào)制度m(Pwn)，求取Sn＝m(Pwn)×Pwn；然后，求取在對求得的Sn和Pwn的關(guān)系特性進行直線逼近時調(diào)制度成為零的激光功率Pwth1；接著，從求得的Pwth1和該激光功率目標值γ，通過運算Pw＝Pwth×(1+1/γ)，從而求取最佳激光功率Pw。該線性配合法是以Sn和Pwn的關(guān)系特性上直線逼近式成立為前提的。
但是，本申請的發(fā)明者在實際測定Sn和Pwn的關(guān)系特性時獲知各測量點并不是直線狀排列的，而幾乎是蛇行。因此，可知僅2、3次左右求取Sn是不能正確地進行直線逼近的，必須反復(fù)進行相當(dāng)多次的試寫和Sn運算才可以求得高精度的激光功率。但如果多次反復(fù)試寫，則激光功率調(diào)整時的處理負擔(dān)增大，而且，激光功率調(diào)整需要時間長。在產(chǎn)品化中，謀求通過2～3次左右的試寫便可進行高精度激光功率調(diào)整。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明以提供一種即使以少的次數(shù)試寫也可以較高精度地調(diào)整激光功率的激光功率調(diào)整方法及光記錄再生裝置為目的。
本申請的發(fā)明者發(fā)現(xiàn)若通過將激光功率Pwn的平方與調(diào)制度m(Pwn)相乘來求取Sn，則沒有打亂Sn和Pwn的關(guān)系特性而可以進行直線逼近。而且，新發(fā)現(xiàn)了一種在該近似直線中從調(diào)制度為零的激光功率Pwth2求取最佳激光功率的方法。據(jù)此，即使以少的次數(shù)試寫也可以較高精度地調(diào)整激光功率。
而在本申請中提出本發(fā)明的特征如下。
第1發(fā)明是一種激光功率調(diào)整方法，其在試寫區(qū)域進行試寫，以進行激光功率的強度調(diào)整，其中具有從試寫時設(shè)定的多種激光功率Pwn、和對應(yīng)于各激光功率Pwn的反射光強度的調(diào)制度m(Pwn)，對每個激光功率求取Sn＝m(Pwn)×Pwn2的步驟；求取在將Sn和Pwn的關(guān)系特性進行線性逼近時調(diào)制度成為零的激光功率Pwth的步驟；和根據(jù)激光功率Pwth，求取最佳激光功率Pwth的步驟。
在該第1發(fā)明中，上述最佳激光功率是可以通過采用記錄介質(zhì)的目標γ值、算出Pw＝Pwth×{1+1/(γ+1)}而求得的。
第2發(fā)明是一種光記錄再生裝置，其將激光照射于記錄介質(zhì)后，對信息進行記錄再生，其中具備取得該記錄介質(zhì)的目標γ值的機構(gòu)；和調(diào)整記錄時的激光功率的激光功率調(diào)整機構(gòu)，所述激光功率調(diào)整機構(gòu)具有利用多種激光功率Pwn，在所述記錄介質(zhì)上進行試寫的機構(gòu)；對試寫時設(shè)定的各Pwn求取反射光強度的調(diào)制度m(Pwn)，從求得的調(diào)制度m(Pwn)求取Sn＝m(Pwn)×Pwn2的機構(gòu)；求取將上述Sn和Pwn的關(guān)系特性進行線性逼近時調(diào)制度為零的激光功率Pwth的機構(gòu)；和根據(jù)所述激光功率Pwth，求取最佳激光功率Pwth的機構(gòu)。
在該第2發(fā)明中，上述最佳激光功率可以通過應(yīng)用記錄介質(zhì)的目標γ值、算出Pw＝Pwth×{1+1/(γ+1)}而求得。另外，上述目標γ值可通過再生記錄于該記錄介質(zhì)上的控制信息而求得。
在上述各發(fā)明中，調(diào)制度m(Pwn)通常通過在進行完試寫后，再生試寫區(qū)域，檢測此時的反射激光的強度而求得。但是，如果能夠正確求得調(diào)制度，也可以在試寫時檢測從記錄介質(zhì)反射的激光強度來求取。而且，當(dāng)將來自非記錄標識區(qū)域的反射光強度設(shè)為P0、將來自記錄標識區(qū)域的反射光強度設(shè)為P1時，“調(diào)制度”由(P0-P1)/P0給出。
而且，可知γ值滿足以下所示的關(guān)系式。
γ＝{dm(Pw)/dPw}×{Pw/m(Pw) …(1)如上所述，線性配合法以下面的關(guān)系式成立為前提。
m(Pw)×Pw＝M×(Pw-Pwth) …(2)在此，M是設(shè)Pw＝∞時的調(diào)制度m(Pwn)的收斂值。
在線性配合法中，可由式(1)和式(2)求取最佳激光功率Pw。即，通過將式(2)代入式(1)而得到下式。
γ＝Pwth/(Pw-Pwth)…(3)將該式(3)針對Pw進行變形，則根據(jù)上述線性配合法的最佳激光功率Pw可由下式求得。
Pw＝Pwth×(1+1/γ)…(4)與此相對，本申請的發(fā)明者從實測結(jié)果發(fā)現(xiàn)推翻上述式(2)成立的前提，代替其，下式成立。
m(Pwn)×Pwn2＝M×(Pw-Pwth) …(5)通過將該式(5)代入式(1)而得到下式。
γ＝{2Pwth-Pw}/(Pw-Pwth) …(6)將該式(6)針對Pw進行變形，如上述第1及第2發(fā)明所示，最佳激光功率Pw可由下式求得。
Pw＝Pwth×{1+1/(γ+1)}…(7)根據(jù)本發(fā)明，代替在線性配合法中應(yīng)用的關(guān)系式Sn＝m(Pwn)×Pwn，通過應(yīng)用Sn＝m(Pwn)×Pwn2進行直線逼近，從而可消除直線逼近的離散。因此，即使以少次數(shù)的試寫，也可高精度地調(diào)整激光功率。


圖1是實施例涉及的光盤的構(gòu)成。
圖2是實施例涉及的光盤裝置的構(gòu)成。
圖3是表示實施例涉及的激光功率調(diào)整處理的流程圖。
圖4是驗證例1的測量結(jié)果及計算結(jié)果。
圖5是驗證例1的調(diào)制度的計算結(jié)果。
圖6是驗證例1的累計值Sn＝m(Pwn)×Pw的計算結(jié)果。
圖7是驗證例1的累計值Sn＝m(Pwn)×Pw2的計算結(jié)果。
圖8是驗證例2的測量結(jié)果及計算結(jié)果。
圖9是驗證例2的調(diào)制度的計算結(jié)果。
圖10是驗證例2的累計值Sn＝m(Pwn)×Pw的計算結(jié)果。
圖11是驗證例2的累計值Sn＝m(Pwn)×Pw2的計算結(jié)果。
具體實施例方式
以下參照附圖對本發(fā)明的實施例進行說明。但是，以下的實施例歸根到底僅是本發(fā)明的一例，并不限定本發(fā)明的范圍。
圖1表示實施例涉及的光盤(DVD+RW)的構(gòu)成。如圖所示，光盤100在其徑向上被區(qū)分為導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)、導(dǎo)出區(qū)。而且，導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)被劃分為各個區(qū)段，其中，應(yīng)用內(nèi)光盤驅(qū)動區(qū)段及外光盤驅(qū)動區(qū)段，進行激光功率調(diào)整(OPCOptimum Write Power Control)。
再者，在光盤100中，從內(nèi)周到外周形成螺旋狀的凹槽(groove)，對應(yīng)該凹槽記錄數(shù)據(jù)。在此，凹槽徑向蛇行(擺動，wobble)，該擺動形成為被稱為ADIP(Address in pre-groove)的相位調(diào)制區(qū)間以一定周期插入到單調(diào)蛇行區(qū)間。當(dāng)光束掃描該相位調(diào)制區(qū)間時，凹槽上的地址被讀取、再生。而且，在導(dǎo)入?yún)^(qū)的ADIP中，對應(yīng)該光盤的各種控制數(shù)據(jù)通過相位調(diào)制而被記錄，其中，包含對該光盤應(yīng)賦予的目標γ值。
圖2表示實施例涉及的光盤裝置的構(gòu)成。
如圖所示，光盤裝置由ECC編碼器101、調(diào)制電路102、激光驅(qū)動電路103、激光功率調(diào)整電路104、光拾器105、信號放大電路106、解調(diào)電路107、ECC譯碼器108、伺服電路109、ADIP再生電路110、控制器111構(gòu)成。
ECC編碼器101將糾錯碼附加于輸入的記錄數(shù)據(jù)上，輸出到調(diào)制電路102。調(diào)制電路102對輸入的記錄數(shù)據(jù)實施規(guī)定的調(diào)制，進一步生成記錄信號并輸出到激光驅(qū)動電路103。激光驅(qū)動電路103在記錄時將對應(yīng)于來自調(diào)制電路102的記錄信號的驅(qū)動信號輸出到半導(dǎo)體激器光105a，在再生時將用于發(fā)射單一強度的激光光的驅(qū)動信號輸出到半導(dǎo)體激光器105a。在此，激光功率被設(shè)定為由激光功率調(diào)整電路104調(diào)整·設(shè)定過的激光功率。
激光功率調(diào)整電路104在從試寫時檢測到的再生RF信號強度計算出調(diào)制度m(Pwn)的同時，根據(jù)算出的調(diào)制度m(Pwn)和該光盤的目標γ值，將激光功率調(diào)整·設(shè)定為最佳值。而且，關(guān)于激光功率的調(diào)整處理，隨后詳述。
光拾器105具有半導(dǎo)體激光器105a及光檢測器105b，通過將激光光會聚到凹槽上，而進行相對于光盤的數(shù)據(jù)寫入/讀出。而且，該光拾器105除此之外還備有用于調(diào)整相對于凹槽的激光光會聚位置的物鏡執(zhí)行元件；和用于將從半導(dǎo)體激光器105a射出的激光光導(dǎo)向物鏡，且將來自光盤100的反射光導(dǎo)向光檢測器105b的光學(xué)系統(tǒng)等。
信號放大電路106將從光檢測器105b接收的信號進行放大及運算處理，以生成各種信號，將其輸出到對應(yīng)的電路。解調(diào)電路107將從信號放大電路106輸入的再生RF信號解調(diào)并生成再生數(shù)據(jù)，輸出到ECC譯碼器108。ECC譯碼器108對從解調(diào)電路107輸入的再生數(shù)據(jù)實施糾錯，輸出到后續(xù)電路。
伺服電路109根據(jù)從信號放大電路106輸入的聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號生成聚焦伺服信號及跟蹤伺服信號，并輸出到光拾器105的物鏡執(zhí)行元件。而且，根據(jù)從信號放大電路106輸入的擺動信號生成電動機伺服信號，以輸出到光盤驅(qū)動電動機。
ADIP再生電路110根據(jù)從信號放大電路106輸入的擺動信號再生地址數(shù)據(jù)及各種控制數(shù)據(jù)，并輸出到控制器111?？刂破?11根據(jù)存儲在內(nèi)置存儲器中的程序來控制各部。
如果將光盤100安裝于光盤裝置中，則記錄于導(dǎo)入?yún)^(qū)ADIP的各種控制數(shù)據(jù)被讀取，并被存儲到控制器111中。之后，如果輸入記錄指令，則在導(dǎo)入?yún)^(qū)的內(nèi)光盤驅(qū)動區(qū)段或?qū)С鰠^(qū)的外光盤驅(qū)動區(qū)域進行試寫，而且，通過再生試寫完的區(qū)域，從而可設(shè)定該紀錄時的最佳激光功率Pw。
圖3表示實施例涉及的最佳激光功率Pw的設(shè)定處理。
如果開始激光功率的調(diào)整處理，則在上述任何一個光盤驅(qū)動區(qū)段(測試區(qū)段)中，以激光功率Pw1寫入規(guī)定的數(shù)據(jù)(S101)。然后，再生寫入的數(shù)據(jù)，根據(jù)此時的再生RF信號的強度計算出調(diào)制度m1(S102)。進一步，根據(jù)計算出的調(diào)制度m1和激光功率Pw1計算出S1＝m1×Pw12(S103)。
同樣，在該光盤驅(qū)動區(qū)段(測試區(qū)段)中，以激光功率Pw2(Pw2≠Pw1)寫入規(guī)定的數(shù)據(jù)(S104)。然后，再生寫入的數(shù)據(jù)，根據(jù)此時的再生RF信號的強度計算出調(diào)制度m2(S105)。進一步，根據(jù)計算出的調(diào)制度m2和激光功率Pw2計算出S2＝m2×Pw22(S106)。
然后，根據(jù)算出的S1、S2求近似直線，計算出近似直線的值為0時的激光功率Pwth2(107)。而且，根據(jù)計算出的Pwth2和設(shè)定于該光盤中的目標γ值，計算出Pw＝Pwth2×{1+1/(γ+1)}，將其設(shè)定為最佳激光功率(S108)。
而且，目標γ值在激光功率調(diào)整時由控制器111供給到激光功率調(diào)整電路104。該目標γ值如上所述，在安裝光盤時，從該光盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)的ADIP讀取、再生，并存儲到控制器111中。
下面，與根據(jù)上述線性配合法的激光功率調(diào)整方法進行比較，并對本實施例涉及的激光功率調(diào)整方法的技術(shù)效果進行驗證。
〖驗證例1〗本驗證例是將制造廠家A的DVD+RW光盤作為樣品光盤，實測·計算出調(diào)制度m(Pwn)、累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn(線性配合法)、累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn2(本實施例)，以此為基礎(chǔ)計算出最佳激光功率Pw。
圖4中將該情況下的實測·計算結(jié)果作為數(shù)值來表示。圖5是將求得的調(diào)制度m(Pwn)曲線化的情況；圖6是將求得的累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn(線性配合法)曲線化的情況；圖7是將求得的累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn2(本實施例)曲線化的情況。
如圖6所示，可知在累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn(線性配合法)中，累計值Sn的曲線沿近似直線(y＝147.09x-1632.1)蛇行。因此，例如，在以16(mw)～20(mw)的范圍的激光功率進行試寫的情況，和以20(mw)～40(mw)的范圍的激光功率進行試寫的情況下，近似直線的斜率有很大不同，在各自情況下取得的Pwth1產(chǎn)生很大差異。即，在現(xiàn)有的線性配合法中，通過以不同范圍的激光功率進行試寫，Pwth1有很大不同。因此，以此為基礎(chǔ)計算出的激光功率Pw也受到試寫時設(shè)定的激光功率Pwn很大的影響。
而且，圖6中、右下方虛線框內(nèi)所示的數(shù)值表示在該光盤中設(shè)定的目標γ值(由該光盤的ADIP取得)、和根據(jù)上述線性配合法算出的Pwth1及最佳激光功率Pw。
與此相對，在本實施方式涉及的激光功率調(diào)整方法中，如圖7所示，累計值Sn的曲線在近似直線(y＝4132.1x-55751)上，基本上沒有離散地直線對準。因此，無論以任何范圍的激光頻率進行試寫，近似直線的斜率幾乎相同，其結(jié)果是始終可以取得幾乎相同的Pwth2。因此，以此為基礎(chǔ)計算出的激光功率Pw也與試寫時采用怎樣的激光功率Pwn無關(guān)，保持基本相同的值。
而且，圖7中、右下方的虛線框內(nèi)所示的數(shù)值表示在該光盤中設(shè)定的目標γ值(由該光盤的ADIP取得)、和根據(jù)本實施例算出的Pwth2及最佳激光功率Pw。
這樣，根據(jù)本實施例，無論用任何激光功率作為試寫時的激光功率，均可圓滑地設(shè)定最佳激光功率。而且，因為累計值Sn的曲線在近似直線上基本上沒有離散的排列，故如上述實施例的構(gòu)成例所述，即使只根據(jù)2點的累計值Sn，也可以取得合適的近似曲線，由此，即使通過少的試寫次數(shù)也可設(shè)定合適的激光功率。
〖驗證例2〗本驗證例是將與上述制造廠家A不同的制造廠家B的DVD+RW光盤作為樣品光盤，實測·計算出調(diào)制度m(Pwn)、累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn(線性配合法)、累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn2(本實施例)，以此為基礎(chǔ)計算出最佳激光功率Pw。
在圖8中以這種情況下的實測·計算結(jié)果作為數(shù)值來表示。圖9是將求得的調(diào)制度m(Pwn)曲線化的情況。圖10是將求得的累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn(線性配合法)曲線化的情況。圖11是將求得的累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn2(本實施例)曲線化的情況。
如圖10所示，可知在累計值Sn＝m(Pwn)×Pwn(線性配合法)中，累計值Sn的曲線沿近似直線(y＝139.96x-1036.9)蛇行。因此，例如，在以11(mw)～15(mw)范圍的激光功率進行試寫的情況，和以15(mw)～19(mw)范圍的激光功率進行試寫的情況下，近似直線的斜率有很大不同，在各自情況下取得的Pwth1產(chǎn)生很大差異。即，在現(xiàn)有的線性配合法中，通過以任何范圍的激光功率進行試寫，Pwth1有很大不同。因此，以此為基礎(chǔ)計算的激光功率Pw也受到試寫時設(shè)定的激光功率Pwn很大的影響。
而且，圖10中、右下方虛線框內(nèi)所示的數(shù)值表示在該光盤中設(shè)定的目標γ值(由該光盤的ADIP取得)、和根據(jù)上述線性配合法算出的Pwth1及最佳激光功率Pw。
與此相對，在本實施方式涉及的激光功率調(diào)整方法中，如圖11所示，累計值Sn的曲線在近似直線(y＝3155.1x-30661)上，基本上沒有離散地直線對準。因此，無論以任何激光功率進行試寫，近似直線的斜率幾乎相同，其結(jié)果是，始終可以取得幾乎相同的Pwth2。由此，以此為基礎(chǔ)計算出的激光功率Pw也與試寫時采用怎樣的激光功率Pwn無關(guān)，保持基本相同的值。
而且，圖11中、右下方的虛線框內(nèi)所示的數(shù)值表示在該光盤中設(shè)定的目標γ值(由該光盤的ADIP取得)、和根據(jù)實施例算出的Pwth2及最佳激光功率Pw。
這樣，根據(jù)本實施例，在試寫時無論設(shè)定何種激光功率，均可圓滑地設(shè)定最佳激光功率。而且，由于累計值Sn的曲線在近似直線上基本上沒有離散地直線對準，故如上述實施例所述，即使只根據(jù)2點的累計值Sn，也可以取得合適的近似直線，因此，即使通過少的試寫次數(shù)也可設(shè)定合適的激光功率。
而且，如圖6及圖7的虛線框內(nèi)的數(shù)值或如圖6及圖7的虛線框內(nèi)的數(shù)值所示，根據(jù)本實施例設(shè)定的最佳激光功率Pw與根據(jù)上述線性配合法設(shè)定的最佳激光功率Pw相比，成為8％左右大的值。但是，即使激光功率Pw如此不同也可圓滑且合適地對該光盤進行記錄再生，可以從發(fā)明者的記錄再生特性的驗證來進行確認。
如上所述，根據(jù)本實施例，即使以少的試寫次數(shù)也可設(shè)定合適的激光功率。
而且，本發(fā)明并不限定于上述實施例，當(dāng)然也可進行其他各種變更。
例如，在上述實施例中，將試寫次數(shù)設(shè)為2次，只要是2次以上的試寫次數(shù)，就不會特別限定次數(shù)。
再者，在上述實施例中，雖然在每次進行試寫時進行再生并計算出調(diào)制度等，也可以首先在改變激光功率同時進行試寫，其次，再生各次試寫并計算出調(diào)制度。
還有，本發(fā)明不限于DVD+RW，也可以應(yīng)用于對CD-RW等其他介質(zhì)進行記錄再生的驅(qū)動裝置。
而且，對如上述實施例所示求得的最佳激光功率，可以進一步根據(jù)實驗的乃至統(tǒng)計的趨勢進行微調(diào)整。例如，如圖6及圖7或圖10及圖11的虛線框的數(shù)值所示，因為本實施例的最佳激光功率Pw與上述線性配合法的最佳激光功率Pw相比，成為8％左右大的值，因此，也可以將本實施方式的最佳激光功率Pw再調(diào)小幾％。
本發(fā)明的實施例在技術(shù)方案范圍所示的技術(shù)思想的范圍內(nèi)，可適當(dāng)?shù)剡M行各種變更。
權(quán)利要求
1.一種激光功率調(diào)整方法，其在試寫區(qū)域進行試寫，以進行激光功率的強度調(diào)整，其中具有從試寫時設(shè)定的多種激光功率Pwn、和對應(yīng)于各激光功率Pwn的反射光強度的調(diào)制度m(Pwn)，對每個激光功率求取Sn＝m(Pwn)×Pwn2的步驟；求取在將Sn和Pwn的關(guān)系特性進行線性逼近時調(diào)制度成為零的激光功率Pwth的步驟；和根據(jù)激光功率Pwth，求取最佳激光功率Pwth的步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光功率調(diào)整方法，其中，所述最佳激光功率通過采用記錄介質(zhì)的目標γ值、算出Pw＝Pwth×{1+1/(γ+1)}而求得。
3.一種光記錄再生裝置，其將激光照射于記錄介質(zhì)后，對信息進行記錄再生，其中具備取得該記錄介質(zhì)的目標γ值的機構(gòu)；和調(diào)整記錄時的激光功率的激光功率調(diào)整機構(gòu)，所述激光功率調(diào)整機構(gòu)具有利用多種激光功率Pwn，在所述記錄介質(zhì)上進行試寫的機構(gòu)；對試寫時設(shè)定的各Pwn求取反射光強度的調(diào)制度m(Pwn)，從求得的調(diào)制度m(Pwn)求取Sn＝m(Pwn)×Pwn2的機構(gòu)；求取將上述Sn和Pwn的關(guān)系特性進行線性逼近時調(diào)制度為零的激光功率Pwth的機構(gòu)；和根據(jù)所述激光功率Pwth，求取最佳激光功率Pwth的機構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光記錄/再生裝置，其中，所述最佳激光功率通過應(yīng)用記錄介質(zhì)的目標γ值、算出Pw＝Pwth×(1+1/(γ+1)}而求得。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的光記錄/再生裝置，其中，所述目標γ值通過再生記錄于該記錄介質(zhì)上的控制信息而求得。
全文摘要
本發(fā)明以用較少的試寫次數(shù)即可圓滑且適當(dāng)?shù)卦O(shè)定最佳激光功率為目的。根據(jù)作為試寫用設(shè)定的多種激光功率Pwn、和以各激光功率Pwn進行試寫時的反射光強度的調(diào)制度m(Pwn)，求取Sn＝m(Pwn)×Pwn
文檔編號G11B7/0045GK1645488SQ20051000453
公開日2005年7月27日 申請日期2005年1月18日 優(yōu)先權(quán)日2004年1月22日
發(fā)明者間宮升, 廣瀨研, 中尾賢治 申請人:三洋電機株式會社