專利名稱：光拾取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于用于讀取或刻錄光盤的光拾取裝置，尤其是關(guān)于為了正確測定從激光二極管(LDlaser diode)中射出的光束強度并降低光拾取器的高度，改善前置監(jiān)視器光偵測器(MPDFront Monitor Photo Detector)結(jié)構(gòu)的一種光拾取裝置。
(2)背景技術(shù)光盤是一種利用光學特性刻錄和讀取信息的產(chǎn)品，通常呈小型圓盤形狀。光盤驅(qū)動器是一種讀取光盤所必須的裝置，它利用安裝在光盤驅(qū)動器內(nèi)部的光拾取裝置讀取或刻錄光盤的信息。
這種光拾取器主要是通過發(fā)射激光的激光二極管(LDLaserDiode)、解讀從光盤上反射來的光束的光檢測器(PDPhoto Detector)以及使光束分離的光束分配器(Beam Splitter)等附件來實現(xiàn)其各種功能。
另外，為了在光盤上聚焦光束，光拾取器還使用了傳動裝置(actuator)，傳動裝置用于控制物鏡(物鏡用于將激光二極管射出的激光聚焦在光盤中刻錄信息的正確的點上)的位置，提高激光讀取或刻錄信息的性能。
在光拾取器調(diào)整物鏡的過程中，激光二極管射出的光束，根據(jù)激光二極管的狀態(tài)和刻錄方法(write strategy)其強度必須得到合適的調(diào)整。為此，有必要對光束的正確強度進行測定，這時就需要使用前置監(jiān)視器光檢測器(以下，稱為MPD)。
MPD的目的就是為了對激光二極管射出光束的強度進行測定，因此MPD設置在激光二極管或物鏡(Object Lens)之間，截取一部分射出的光束對激光二極管射出的全部光束的強度進行測定。因此，上述MPD即使針對較小的光量，也能具有充分的信噪(SN)比，不管有沒有噪音，都應該產(chǎn)生出正確的信號，即使在最大輸出光量中，信號也沒有飽和。
圖1是對現(xiàn)有光拾取裝置截取一部分激光二極管射出光束的方法進行說明的附圖。如圖1所示，激光二極管10射出的光束經(jīng)過光束分配器20和瞄準透鏡(collimator Lens)40，到達物鏡，這時，光束分配器20分離出一部分光束，將其傳送至MPD30。這時，傳送至MPD30的光束量由光束分配器20反射膜的特性決定，根據(jù)光束量，對激光二極管10射出光束的強度進行測定。
但是，圖1中所使用的方法中，MPD30反射的光束會影響到其他的光電附件，而其他的光電附件反射的光束也會影響MPD30的信號，由于只使用了射向瞄準透鏡40光束中的一部分光束，因此降低了光束的使用率，而且光束分配器20的編碼也很復雜。由于上述這些問題，所以圖1中所示的方法不常被使用。
圖2是對現(xiàn)有光拾取裝置另一種截取一部分激光二極管射出光束的方法進行說明的附圖。光的分布按高斯(Gaussian)強度分布。
與圖1中所示的方法不同，圖2利用脫離光束分配器20的光束，MPD30對激光二極管10射出光束的強度進行測定。所以就能解決圖1所示方法所存在的問題。
但是，圖2所示的方法如果用在部件設置空間比較大的臺式計算機或播放器中就不存在任何問題，但是如果用在空間比較小的細長的(Slim)光拾取器中，其設置位置就受到了很大的限制。
上述MPD30中能變換成實際光和電磁信號的前置監(jiān)視器光檢測器單元(Cell)，根據(jù)其生產(chǎn)公司、型號、原料具有多種變換效率，這稱之為MPD30感應度，它也是設計的重要尺度。
MPD30的信號由于光拾取器具有多種結(jié)構(gòu)和性能，所以很難使用商用MPD30，也很難具備所有的必要條件。因此，設計的核心就是要正確地調(diào)整上述MPD30的位置，使適當?shù)墓饬咳肷涞組PD30中。
圖3是對現(xiàn)有MPD的一個例子進行說明的附圖。圖3包含了MPD的正面圖(圖3a)、側(cè)面圖(圖3b)和斜視圖(圖3c)。
圖3顯示的是現(xiàn)有的MPD30，如平面圖所示，MPD30寬3.8mm、長3.0mm，如側(cè)面圖中所示，MPD30高1.1mm。
電極33設置在印刷電路板(以下簡稱PCB)32的側(cè)面，用于感應光束的前置監(jiān)視器光檢測器單元(以下稱為PD單元)31位于PCB32的中央。而且在上述PD單元31的上側(cè)，為了感應光束，設置了透明層34。
位于PCB32兩側(cè)的電極33由于其數(shù)量不能減少，因此在通常的IC制作工序中，很難減小MPD30的尺寸。
現(xiàn)在，筆記本中所使用的細長的(Slim)光拾取器高度為5.4mm，超薄型(Ultra)中所使用的細長的光拾取器高度要求在3.5mm以下。
因此，在這種情況下就不能使用圖2所示的MPD30。如上所述，要減小MPD30大小是很難的。
為了解決這種問題，如圖4所示，以前還提出了將MPD30傾斜設置的方法，但是這樣一來，由于傾斜了光束的入射角度，所以使得反射的光量增大，很難用入射光對整體光束的強度進行測定。此外，由于結(jié)構(gòu)性誤差，使感應度發(fā)生敏感的變化。
(3)發(fā)明內(nèi)容為了解決上述問題，本發(fā)明應運而生。本發(fā)明的目的是要提供一種為了正確測定從激光二極管(LDlaser diode)中射出的光束強度并降低光拾取器的高度，改善前置監(jiān)視器光檢測器(MPDFront Monitor Photo Detector)結(jié)構(gòu)的光拾取裝置。
另外，本發(fā)明提供的光拾取裝置通過改善前置監(jiān)視器光檢測器的結(jié)構(gòu)，達到了使其高度降低的效果。
本發(fā)明的光拾取裝置為了實現(xiàn)對信息的刻錄或者讀取，包含有以下部件用于發(fā)射激光的激光二極管；用于解讀從光盤上反射來的光束的光檢測器；用于分離光束的光束分配器；用于將上述光束聚焦在光盤正確的點上的物鏡；用于測定上述激光二極管射出光束強度的前置監(jiān)視器光檢測器。本發(fā)明光拾取裝置的前置監(jiān)視器光偵測器還包含以下部件印刷電路板(以下簡稱PCB)；設置在PCB側(cè)面的電極；設置PCB上側(cè)的透明層；位于PCB的上側(cè)，并面向側(cè)面安裝的前置監(jiān)視器光檢測器單元。
另外，在上述透明層的上側(cè)，還設置了用于切斷光線的不透明層。
上述前置監(jiān)視器光檢測器是與激光二極管射出的光束中心平行設置的。
本發(fā)明的效果本發(fā)明的光拾取裝置具有使前置監(jiān)視器光檢測器的高度降低，并能正確地進行光束強度測定的優(yōu)點。
另外，本發(fā)明設置了不透明層，能夠切斷外部光電元件射出的光線和會給外部光電元件帶來影響的光線，因此能夠更準確地對光束的強度進行測定。
為進一步說明本發(fā)明的上述目的、結(jié)構(gòu)特點和效果，以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明進行詳細的描述。
(4)


圖1是對現(xiàn)有光拾取裝置截取一部分激光二極管射出光束的方法進行說明的附圖。
圖2是對現(xiàn)有光拾取裝置另一種截取一部分激光二極管射出光束的方法進行說明的附圖。
圖3是對現(xiàn)有MPD的一個例子進行說明的附圖(a)MPD的正面圖；(b)MPD的側(cè)面圖；(c)MPD的斜視圖。
圖4是現(xiàn)有的就傾斜設置MPD的方法進行說明的附圖。
圖5是本發(fā)明光拾取裝置的MPD的斜視圖。
圖6是就設置MPD的例子進行說明的附圖。
附圖中主要部分的符號說明10；激光二極管 20；光束分配器30；MPD31；PD單元32；PCB33；電極
40；瞄準透鏡60；MPD61；PD單元 62；PCB63；電極64；透明層65；不透明層(5)具體實施方式
以下，參照附圖，對本發(fā)明的光拾取裝置的實施方式進行詳細說明。
圖5是本發(fā)明光拾取裝置的MPD的斜視圖；圖6是就設置MPD的例子進行說明的附圖。
本發(fā)明的光拾取裝置包括用于發(fā)射激光的激光二極管10；用于解讀從光盤上反射來的光束的光檢測器(未圖示)；用于分離光束的光束分配器20；瞄準透鏡；40；用于將所述的光束聚焦在光盤正確的點上的物鏡(未圖示)；用于測定所述的激光二極管射出光束強度的前置監(jiān)視器光檢測器(MPD)60。
如圖5和圖6所示，MPD60下部有印刷電路板(以下簡稱PCB)62和電極63構(gòu)成，在上述PCB62的上側(cè)，面向側(cè)面設置了前置監(jiān)視器光檢測器(PD)單元61。在MPD60中，上述PD單元61是向著上側(cè)設置的。電極63設置在PCB62的側(cè)面。
在PCB62的上側(cè)設置透明層64，而且，在透明層64的上側(cè)面還設置了不透明層65，這樣就消除了由于外部光電元件發(fā)射的光對MPD60所造成的影響以及MPD60發(fā)射的光對外部光電元件所造成的影響。
MPD60通過側(cè)面接受到了激光二極管10射出的光束，面向側(cè)面設置的PC單元61以幾乎垂直的入射角接受到了上述光束，這樣就能對光束的強度進行測定。
PD單元61由于其直徑大致在0.3～1.0mm范圍內(nèi)，所以利用通過側(cè)面入射進來的光束能夠進行充分的運行。
這時，上述PD單元61可以使激光二極管10射出的光束以幾乎垂直的角度入射進來，在這種情況下，上述MPD60實際的設置角度是與光束軸平行的，即，設置的角度大致在0°～20°的范圍內(nèi)。
當然，上述MPD60的設置角度，根據(jù)不同的設計或者根據(jù)PD單元61的感應度的不同，會有一些差異。
與圖2比較來看，圖2中，由于MPD30的PD單元31是向著上側(cè)設置的，MPD30在高度上占據(jù)的空間較大；與圖4比較來看，雖然MPD30在高度上沒有占據(jù)較大的空間，但是光束的入射方向是斜的。
相反，在本發(fā)明中，MPD60在高度上沒有占據(jù)較大的空間，而且光束能夠以幾乎垂直的角度入射進來，并且還設置了不透明層65，因此切斷了外部的光線，能夠正確地進行光束強度測定。
本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應當認識到，以上的實施例僅是用來說明本發(fā)明，而并非用作為對本發(fā)明的限定，只要在本發(fā)明的實質(zhì)精神范圍內(nèi)，對以上所述實施例的變化、變型都將落在本發(fā)明權(quán)利要求書的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，其特征在于包括用于發(fā)射激光的激光二極管；用于解讀從光盤上反射來的光束的光檢測器；用于分離光束的光束分配器和瞄準透鏡；瞄準透鏡；用于將所述的光束聚焦在光盤正確的點上的物鏡；用于測定所述的激光二極管射出光束強度的前置監(jiān)視器光檢測器，所述的光拾取裝置的前置監(jiān)視器光檢測器還包含以下部件印刷電路板；設置在所述的印刷電路板側(cè)面的電極；設置所述的印刷電路板上側(cè)的透明層；位于所述的印刷電路板的上側(cè)，并面向側(cè)面安裝的前置監(jiān)視器光檢測器單元。
2.如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于在所述的透明層的上側(cè)還設置了用于切斷光線的不透明層。
3.如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于所述的前置監(jiān)視器光檢測器是與激光二極管射出的光束中心平行設置的。
全文摘要
本發(fā)明是關(guān)于用于讀取或刻錄光盤的光拾取裝置，包括用于發(fā)射激光的激光二極管；用于解讀從光盤上反射來的光束的光檢測器；用于分離光束的光束分配器；瞄準透鏡；用于將光束聚焦在光盤正確的點上的物鏡；用于測定激光二極管射出光束強度的前置監(jiān)視器光檢測器，前置監(jiān)視器光檢測器包含印刷電路板；設置在印刷電路板側(cè)面的電極；設置印刷電路板上側(cè)的透明層；位于印刷電路板的上側(cè)，并面向側(cè)面安裝的前置監(jiān)視器光檢測器單元。本發(fā)明能正確測定從激光二極管中射出的光束強度并降低光拾取器的高度，改善前置監(jiān)視器光檢測器結(jié)構(gòu)。
文檔編號G11B7/135GK1779807SQ200410084608
公開日2006年5月31日 申請日期2004年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月26日
發(fā)明者梁先鎬, 李京彥 申請人:上海樂金廣電電子有限公司