專利名稱：信號處理裝置、半導(dǎo)體裝置以及信號處理方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種信號處理裝置、半導(dǎo)體裝置和以及信號處理方法，尤其是涉及在光盤裝置等盤系統(tǒng)中，通過進(jìn)行脫軌信號的檢測靈敏度測定，進(jìn)行優(yōu)化，以便能正確測定脫軌信號。
背景技術(shù)：
在盤系統(tǒng)中，為了再現(xiàn)記錄在光盤上的信息，通過向光盤照射激光束，檢測其反射光，再現(xiàn)記錄在光盤上的信息。在當(dāng)前的光盤裝置、尤其是DVD播放器等中，存在單層DVD、2層DVD、DVD-RAM、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW、CD-DA、CD-ROM、CD-R、CD-RW等各種盤，有必要用1臺裝置來再現(xiàn)盡可能多的種類的光盤。因此，有必要在光盤系統(tǒng)起動時(shí)或交換盤時(shí)判斷是哪種盤，并對應(yīng)地優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)定，快速進(jìn)行再現(xiàn)。
DVD或CD制定了標(biāo)準(zhǔn)，希望在其范圍內(nèi)制造盤載體，但實(shí)際上由于制造工序的差異等，標(biāo)準(zhǔn)范圍外的盤也在流通。其中，由于軌跡單距的不同或反射率的不同等引起的再現(xiàn)信號的調(diào)制率不同，使脫軌信號的檢測靈敏度受到極大影響，在固定脫軌靈敏度的現(xiàn)有系統(tǒng)中，出現(xiàn)不能對應(yīng)的盤。
圖6表示現(xiàn)有的這種光盤裝置的框圖。圖中，1是作為數(shù)據(jù)記錄媒體的光盤，在螺旋形或同心圓形的軌跡中記錄信息信號。2是使光盤1旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部，3是光拾取器，通過向光盤1的信息面聚集光束，形成光斑，檢測其反射光，由此輸出各種信息，4是使光拾取器3向光盤1的徑向移動的跟蹤調(diào)節(jié)器，5是對應(yīng)于跟蹤控制部7的輸出來驅(qū)動跟蹤調(diào)節(jié)器4的跟蹤驅(qū)動部，6是基于光拾取器3的輸出來生成表示光拾取器3的來自軌跡的偏離的跟蹤誤差信號的跟蹤誤差信號檢測部，7是對應(yīng)于跟蹤誤差信號檢測部6或脫軌信號檢測部11的輸出來控制跟蹤驅(qū)動部5的跟蹤控制部，8是對應(yīng)于跟蹤誤差信號檢測部6的輸出來控制線驅(qū)動部9的線控制部，9是對應(yīng)于線控制部8的輸出來驅(qū)動線電機(jī)10的線驅(qū)動部，10是對應(yīng)于線驅(qū)動部9的輸出來使光拾取器3移動的線電機(jī)，11是對應(yīng)于光拾取器3的輸出來檢測表示光拾取器3脫離軌跡的狀態(tài)的脫軌信號的脫軌信號檢測部。
下面說明上述構(gòu)成的現(xiàn)有光盤裝置的動作。
在進(jìn)行盤再現(xiàn)的情況下，基于從光拾取器3得到的輸出，由跟蹤誤差信號檢測部6得到跟蹤誤差信號。跟蹤控制部7按照得到的跟蹤誤差信號，進(jìn)行使跟蹤伺服穩(wěn)定的處理，由跟蹤驅(qū)動部5驅(qū)動跟蹤調(diào)節(jié)器4，施加跟蹤伺服，追蹤軌跡。
另外，光拾取器3對盤徑向的可動范圍小，為了彌補(bǔ)，進(jìn)行線控制。即，基于從跟蹤誤差信號檢測部6得到的輸出，線控制部8求出對應(yīng)于偏差、即向盤徑向的錯(cuò)位的輸出，據(jù)此，由線驅(qū)動部9來驅(qū)動線電機(jī)10，使偏差消失。
另外，在現(xiàn)有光盤裝置中，對振動時(shí)的脫軌或拉入軌跡的判斷、訪問時(shí)的軌跡橫斷方向檢測，使用脫離信號檢測部11得到的脫軌信號。在該脫軌信號用于脫軌的恢復(fù)的情況下，輸出到跟蹤控制部7，跟蹤控制部7將大小可補(bǔ)償脫軌的控制信號輸出到跟蹤驅(qū)動部5，由此，跟蹤調(diào)節(jié)器4驅(qū)動光拾取器3返回原來的軌跡上。
這里，用圖7來說明脫軌信號檢測部11的脫軌信號的生成方法。圖7模式表示軌跡橫斷時(shí)的波形。圖7(a)表示光拾取器3的光盤再現(xiàn)信號和由該再現(xiàn)信號生成的脫軌信號。脫軌信號的生成如下所示。即，如圖7(a)所示，比較再現(xiàn)信號的下側(cè)包絡(luò)線信號e和用虛線表示的基準(zhǔn)信號r，根據(jù)比較結(jié)果，生成圖7(a)所示的脫軌信號。
通常，利用橫斷軌跡時(shí)產(chǎn)生的再現(xiàn)信號的[凹部]、即再現(xiàn)信號的下側(cè)包絡(luò)線信號e沿紙面的上方向變?yōu)橥剐蔚牟糠郑ㄟ^將該下側(cè)包絡(luò)線信號超過基準(zhǔn)信號r的基準(zhǔn)值的部分設(shè)為高、將基準(zhǔn)值以下的部分設(shè)為低，生成脫軌信號。另外，如上所述，軌跡橫斷時(shí)的再現(xiàn)信號的狀態(tài)取決于盤載體，并且，調(diào)制率也對應(yīng)于軌跡橫斷速度變化。圖7(b)表示軌跡橫斷時(shí)的再現(xiàn)信號的[凹部]小時(shí)的波形，表示圖7(b)所示脫軌信號的輸出靈敏度比圖7(a)低。
尤其是，由于軌跡間距窄的盤或凹坑形成不佳引起的串?dāng)_、即與相鄰軌跡的干擾，極大影響了脫軌靈敏度。如上所述，由于脫軌信號被用于脫軌檢測或拉入軌跡判斷等，所以在不能正常檢測脫軌信號的情況下，對軌跡追蹤進(jìn)行誤判斷，喪失系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
為了改善些問題，已開發(fā)了各種脫軌信號檢測部。
圖8表示專利文獻(xiàn)1(特開平9-219027號公報(bào)(第4頁、第5頁、第1圖、第2圖))中記載的現(xiàn)有脫軌信號檢測部的結(jié)構(gòu)，圖9表示其動作波形。
圖8中，在形成于光盤中的軌跡中心，軌跡錯(cuò)誤信號104是零電平，在遠(yuǎn)離中心的同時(shí)，錯(cuò)誤信號向正或負(fù)方向增大。
零交叉檢測電路105檢測軌跡錯(cuò)誤信號104的零交叉，生成零交叉脈沖106。采樣保持控制電路107使用零交叉脈沖106，控制峰值電平采樣保持電路110和底部電平采樣保持電路111的采樣保持定時(shí)。
如圖9所示，在光盤的軌跡中心的槽部，軌跡錯(cuò)誤信號104變?yōu)榱汶娖?，光檢測器和信號101變?yōu)榈碗娖?，在軌跡與同其相鄰的軌跡的交界的脊部，軌跡錯(cuò)誤信號變?yōu)榱汶娖剑鈾z測器和信號101變?yōu)楦唠娖?。因此，若檢測軌跡錯(cuò)誤信號104的零交叉，并在該定時(shí)采樣保持光檢測器和信號101，則可檢測光檢測器和信號101的峰值電平、底部電平。
在檢測出軌跡錯(cuò)誤信號104的零交叉的情況下，使用脫軌信號來進(jìn)行采樣保持峰值/底部哪個(gè)的判斷。即，采樣保持控制電路107檢測軌跡錯(cuò)誤信號104的零交叉脈沖106，此時(shí)，若脫軌信號103是作為低的在軌狀態(tài)，則輸出底部采樣保待脈109，若脫軌信號103是作為高的脫軌狀態(tài)，則輸出峰值采樣保持脈沖108。由此，峰值電平采樣保持電路110檢測光檢測器和信號101的光檢測和信號峰值電平112，底部電平采樣保持電路111檢測光檢測器和信號101的光檢測和信號底部電平113，中間電平生成電路114生成這些光檢測和信號峰值電平112和光檢測和信號保持電平113的中間電平。比較器102將該中間電平作為基準(zhǔn)值，進(jìn)行與光檢測器和信號101的大小比較，對應(yīng)于結(jié)果，輸出脫軌信號103。
但是，即使專利文獻(xiàn)1所示的脫軌檢測電路也不能對全部的光盤正確進(jìn)行脫軌信號的檢測，不能避免對每個(gè)盤不同的靈敏度，作為系統(tǒng)，難以得到穩(wěn)定的脫軌靈敏度。
這樣，在現(xiàn)有盤系統(tǒng)中，難以對各種盤保持脫軌靈敏度恒定，隨之而來，具有難以確保偏離軌跡檢測和拉入軌跡判斷等的穩(wěn)定性的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決上述現(xiàn)有問題而作出，其目的在于提供一種信號處理裝置、半導(dǎo)體裝置和信號處理方法，可對每個(gè)盤都保持脫軌靈敏度一定，隨之而來，即使尤其是對標(biāo)準(zhǔn)外的盤，也可確保偏離軌跡檢測和拉入軌跡判斷等的穩(wěn)定性。
為了解決上述問題，本申請技術(shù)方案1提供一種信號處理裝置，其特征在于包括軌跡交叉周期測定部，基于表示再現(xiàn)來自記錄了數(shù)據(jù)的記錄媒體上所形成的軌跡的該記錄媒體上所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部的偏離程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；脫軌信號檢測部，檢測表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號；和脫軌檢測靈敏度測定部，基于上述脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度。
本申請技術(shù)方案2的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案1的信號處理裝置中，其特征在于上述脫軌檢測靈敏度測定部以上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期為單位來測定脫軌檢測靈敏度。
本申請技術(shù)方案3的信號處理裝置，且在技術(shù)方案1或技術(shù)方案2的信號處理裝置中，其特征在于上述脫軌檢測靈敏度測定部僅在上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期在規(guī)定周期范圍內(nèi)的情況下才進(jìn)行測定。
本申請技術(shù)方案4的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案3的信號處理裝置中，其特征在于上述規(guī)定的周期范圍包含上述再現(xiàn)部向其它軌跡移動的軌跡跳動時(shí)的軌跡橫斷周期。
本申請技術(shù)方案5的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案1-3之一的信號處理裝置中，其特征在于包括缺陷檢測部檢測上述記錄媒體有無缺陷；上述脫軌檢測靈敏度測定部廢棄上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)的測定值。
本申請技術(shù)方案6的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案5的信號處理裝置中，其特征在于在上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)，廢棄包含該缺陷檢測出時(shí)的軌跡橫斷周期內(nèi)的測定值。
本申請技術(shù)方案7的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案1-6之一的信號處理裝置中，其特征在于上述脫軌信號檢測部的檢測靈敏度可變，脫軌檢測靈敏度控制部，對應(yīng)于上述脫軌檢測靈敏度測定部測定的脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行上述脫軌信號檢測部的檢測靈敏度控制。
本申請技術(shù)方案8的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案7的信號處理裝置中，其特征在于上述脫軌檢測靈敏度控制部單獨(dú)設(shè)定上述再現(xiàn)部向其它軌跡移動的軌跡跳動時(shí)的脫軌檢測靈敏度、和上述再現(xiàn)部追蹤軌跡的軌跡追蹤時(shí)的脫軌檢測靈敏度。
本申請技術(shù)方案9的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案技術(shù)方案1-8之一的信號處理裝置中，其特征在于包括跟蹤驅(qū)動部，使再現(xiàn)記錄在記錄媒體中的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部在該記錄媒體的徑向移動；線(thread)驅(qū)動部，使上述再現(xiàn)部移動；和系統(tǒng)控制器，對控制上述各部進(jìn)行控制，上述系統(tǒng)控制部控制上述跟蹤驅(qū)動部和上述線驅(qū)動部，一邊使上述再現(xiàn)部向橫斷上述軌跡的方向移動或振動，一邊進(jìn)行脫軌檢測靈敏度的測定。
本申請技術(shù)方案10的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案9的信號處理裝置中，其特征在于上述系統(tǒng)控制部進(jìn)行控制，使上述軌跡的橫斷周期為規(guī)定的范圍。
本申請技術(shù)方案11的信號處理裝置，且在根據(jù)技術(shù)方案9或技術(shù)方案10的信號處理裝置中，其特征在于上述軌跡交叉周期測定部對上述跟蹤驅(qū)動部和上述線控制部提供測定的跟蹤交叉周期。
本申請技術(shù)方案12提供一種半導(dǎo)體裝置，其特征在于包括軌跡交叉周期測定部，基于表示再現(xiàn)來自記錄了數(shù)據(jù)的記錄媒體上所形成的軌跡的該記錄媒體上所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部的偏離程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；和脫軌檢測靈敏度測定部，基于表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度，該脫軌檢測靈敏度測定部以上述跟蹤誤差信號的軌跡跡橫斷周期為單位來測定脫軌檢測靈敏度。
本申請技術(shù)方案13提供一種信號處理方法，其特征在于包括軌跡交叉周期測定步驟，基于表示再現(xiàn)來自記錄了數(shù)據(jù)的記錄媒體上所形成的軌跡的該記錄媒體上所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部的偏離程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；脫軌信號檢測步驟，檢測表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號；和脫軌檢測靈敏度測定步驟，根據(jù)上述脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度。
本申請技術(shù)方案14的信號處理方法，且在根據(jù)技術(shù)方案13的信號處理方法中，其特征在于還包含檢測上述記錄媒體有無缺陷的缺陷檢測步驟，上述脫軌檢測靈敏度測定步驟廢棄上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)的測定值。
本申請技術(shù)方案15的信號處理方法，且在根據(jù)技術(shù)方案13或技術(shù)方案14的信號處理方法中，其特征在于上述脫軌信號檢測步驟的檢測靈敏度可變，對應(yīng)于上述脫軌檢測靈敏度測定步驟測定的脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行上述脫軌信號檢測步驟的檢測靈敏度控制。
發(fā)明效果如上所述，根據(jù)本申請技術(shù)方案1的信號處理裝置，由于具備軌跡交叉周期測定部，基于表示再生記錄在該記錄媒體中的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部距形成于記錄數(shù)據(jù)的記錄媒體中的軌跡的錯(cuò)位程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；脫軌信號檢測部，檢測表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號；和脫軌檢測靈敏度測定部，基于上述脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度，所以可正確測定脫軌檢測靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案2的信號處理裝置，在技術(shù)方案1所述的信號處理裝置中，由于上述脫軌檢測靈敏度測定部通過上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期單位來測定脫軌檢測靈敏度，所以可基于作為測定脫軌檢測靈敏度的最小單位的軌跡橫斷周期單位的期間的數(shù)據(jù)，正確測定脫軌檢測靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案3的信號處理裝置，在技術(shù)方案1或2所述的信號處理裝置中，由于上述脫軌檢測靈敏度測定部僅在上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期在規(guī)定周期范圍內(nèi)的情況下才進(jìn)行測定，所以可廢棄軌跡橫斷速度慢的情況或快的情況下的數(shù)據(jù)，可較正確地進(jìn)行脫軌檢測靈敏度的測定。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案4的信號處理裝置，在技術(shù)方案3所述的信號處理裝置中，由于上述規(guī)定的周期范圍包含上述再現(xiàn)部向其它軌跡移動的軌跡跳動時(shí)的軌跡橫斷周期，所以可在進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定時(shí)必然包含軌跡橫斷所產(chǎn)生的軌跡跳動，可提高軌跡跳動時(shí)的脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案5的信號處理裝置，在技術(shù)方案1-3之一所述的信號處理裝置中，由于具備檢測上述記錄媒體有無缺陷的缺陷檢測部，上述脫軌檢測靈敏度測定部廢棄上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)的測定值，所以可不使用由于盤表面的損傷或缺陷等可靠性低的測定數(shù)據(jù)來測定脫軌檢測靈敏度，可進(jìn)一步提高脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案6的信號處理裝置，在技術(shù)方案5所述的信號處理裝置中，因?yàn)樵谏鲜鲇涗浢襟w的缺陷檢測時(shí)，廢棄包含該缺陷檢測出時(shí)的軌跡橫斷周期內(nèi)的測定值，所以可不使用包含由于盤表面的損傷或缺陷等可靠性低的測定數(shù)據(jù)的區(qū)間的軌跡橫斷周期內(nèi)的測定值來測定脫軌檢測靈敏度，可進(jìn)一步提高脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案7的信號處理裝置，在技術(shù)方案1-6之一所述的信號處理裝置中，由于上述脫軌信號檢測部的檢測靈敏度可變，具備脫軌檢測靈敏度控制部，對應(yīng)于上述脫軌檢測靈敏度測定部測定的脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行上述脫軌信號檢測部的檢測靈敏度控制，所以可對應(yīng)于測定的脫軌檢測靈敏度來進(jìn)行脫軌信號檢測部的檢測靈敏度控制，可進(jìn)行更正確的脫軌檢測靈敏度測定，可對各種記錄媒體保持一定的脫軌靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案8的信號處理裝置，在技術(shù)方案7所述的信號處理裝置中，由于上述脫軌檢測靈敏度控制部單獨(dú)設(shè)定上述再現(xiàn)部向其它軌跡移動的軌跡跳動時(shí)的脫軌檢測靈敏度、和上述再現(xiàn)部追蹤軌跡的軌跡追蹤時(shí)的脫軌檢測靈敏度，所以可在軌跡跳動時(shí)與軌跡追蹤時(shí)分別設(shè)定脫軌靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案9的信號處理裝置，在技術(shù)方案1-8之一所述的信號處理裝置中，因?yàn)榫邆涓欜?qū)動部，使再現(xiàn)記錄在記錄媒體中的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部向該記錄媒體的徑向移動；使上述再現(xiàn)部移動的線驅(qū)動部；和控制上述各部的系統(tǒng)控制部，上述系統(tǒng)控制部控制上述跟蹤驅(qū)動部和上述線驅(qū)動部，一邊使上述再現(xiàn)部向橫斷上述軌跡的方向移動或振動，一邊進(jìn)行脫軌檢測靈敏度的測定，所以即使是基本不存在盤偏心的盤，也可通過使再現(xiàn)部移動或振動，產(chǎn)生軌跡的橫斷，測定脫軌檢測靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案10的信號處理裝置，在技術(shù)方案9所述的信號處理裝置中，因?yàn)樯鲜鱿到y(tǒng)控制部進(jìn)行控制，使上述軌跡的橫斷周期為規(guī)定的范圍，所以對于未以高精度形成軌跡的記錄媒體，以適當(dāng)速度使再現(xiàn)部移動或振動，使產(chǎn)生軌跡橫斷，更正確地測定脫軌檢測靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案11的信號處理裝置，在技術(shù)方案9或10所述的信號處理裝置中，因?yàn)樯鲜鲕壽E交叉周期測定部對上述跟蹤驅(qū)動部和上述線控制部提供測定的跟蹤交叉周期，所以可進(jìn)行移動再現(xiàn)部時(shí)的速度控制。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案12的半導(dǎo)體裝置，因?yàn)榫邆滠壽E交叉周期測定部，基于表示再生記錄在該記錄媒體中的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部距形成于記錄數(shù)據(jù)的記錄媒體中的軌跡的錯(cuò)位程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；和脫軌檢測靈敏度測定部，基于表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度，該脫軌檢測靈敏度測定部以上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期單位來測定脫軌檢測靈敏度，可基于作為測定脫軌檢測靈敏度的最小單位的軌跡橫斷周期單位的期間的數(shù)據(jù)，正確測定脫軌檢測靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案13的信號處理方法，因?yàn)榘壽E交叉周期測定步驟，基于表示再生記錄在該記錄媒體中的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部距形成于記錄數(shù)據(jù)的記錄媒體中的軌跡的錯(cuò)位程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；脫軌信號檢測步驟，基于表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號；和脫軌檢測靈敏度測定步驟，根據(jù)上述脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度，所以可正確測定脫軌檢測靈敏度。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案14的信號處理方法，在技術(shù)方案13所述的信號處理方法中，因?yàn)檫€包含檢測上述記錄媒體有無缺陷的缺陷檢測步驟，上述脫軌檢測靈敏度測定步驟廢棄上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)的測定值，所以可不使用由于盤表面的損傷或缺陷等可靠性低的測定數(shù)據(jù)來測定脫軌檢測靈敏度，可進(jìn)一步提高脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
另外，根據(jù)本申請技術(shù)方案15的信號處理方法，在技術(shù)方案13或14所述的信號處理方法中，因?yàn)樯鲜雒撥壭盘枡z測步驟的檢測靈敏度可變，具備脫軌檢測靈敏度控制步驟，對應(yīng)于上述脫軌檢測靈敏度測定步驟測定的脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行上述脫軌信號檢測步驟的檢測靈敏度控制，所以可對應(yīng)于測定的脫軌檢測靈敏度來進(jìn)行脫軌信號檢測部的檢測靈敏度控制，可進(jìn)行更正確的脫軌檢測靈敏度測定，可對各種記錄媒體保持一定的脫軌靈敏度。


圖1(a)是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式1的信號處理裝置的光盤裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖1(b)是表示圖1(a)的軌跡交叉周期檢測部的結(jié)構(gòu)例框圖。
圖1(c)是表示圖1(a)的脫軌工作狀態(tài)測定部的結(jié)構(gòu)例框圖。
圖1(d)是表示圖1(a)的脫軌檢測靈敏度控制部的結(jié)構(gòu)例框圖。
圖1(e)是表示圖1(a)中脫軌信號檢測部的結(jié)構(gòu)例框圖。
圖2(a)是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式1的信號處理裝置的光盤裝置的動作的波形圖，是表示在軌跡橫斷速度慢時(shí)的動作的波形圖。
圖2(b)是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式1的信號處理裝置的光盤裝置的動作的波形圖，是表示在軌跡橫斷速度快時(shí)的動作的波形圖。
圖2(c)是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式1的信號處理裝置的光盤裝置的動作的波形圖，是表示在軌跡橫斷方向反轉(zhuǎn)時(shí)的動作的波形圖。
圖3(a)是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式2的信號處理裝置的光盤裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖3(b)是表示圖3(a)的缺陷檢測部的結(jié)構(gòu)例框圖。
圖3(c)是表示圖3(a)的脫軌工作狀態(tài)測定部的結(jié)構(gòu)例框圖。
圖4(a)是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式2的信號處理裝置的光盤裝置的動作的波形圖，是表示脫軌檢測靈敏度測定時(shí)的跟蹤誤差信號檢測部6的輸出信號的波形圖。
圖4(b)是表示脫軌信號檢測部11的輸出信號的波形圖。
圖4(c)是表示缺陷檢測部15的輸出信號波形圖。
圖5是表示具有本發(fā)明實(shí)施方式3的信號處理裝置的光盤裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖6是表示現(xiàn)有光盤裝置的結(jié)構(gòu)框圖。
圖7(a)是表示現(xiàn)有光盤裝置的脫軌信號的生成方法的波形圖。
圖7(b)是表示在與圖7(a)不同的條件下適用現(xiàn)有光盤裝置的脫軌信號的生成方法的波形的波形圖。
圖8是表示現(xiàn)有脫軌檢測電路的結(jié)構(gòu)框圖。
圖9是表示現(xiàn)有脫軌檢測電路的脫軌信號生成方法的波形圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明通過構(gòu)成為不使脫軌信號檢測部自身的檢測精度提高，測定脫軌檢測靈敏度，并根據(jù)測定結(jié)果來進(jìn)行脫軌信號檢測部的靈敏度控制，可更正確測定脫軌靈敏度，由此，可確保偏離軌跡檢測和拉入軌跡判斷等的系統(tǒng)穩(wěn)定性。
即，通過構(gòu)成為基于從脫軌信號處理部與軌跡交叉周期測定部的跟蹤誤差信號所得到的軌跡橫斷周期信息與從缺陷檢測部得到的缺陷信號，由脫軌檢測靈敏度測定部測定脫軌檢測靈敏度，可更正確地測定脫軌檢測靈敏度。
并且，通過構(gòu)成為基于由跟蹤誤差信號檢測部及軌跡橫斷周期檢測部得到的信息，進(jìn)行跟蹤控制及線控制，測定脫軌檢測靈敏度，從而，在可更正確測定脫軌檢測靈敏度的同時(shí)，可實(shí)現(xiàn)速度控制。
通過構(gòu)成為基于得到的脫軌檢測靈敏度，由脫軌控制部變更脫軌信號檢測部的靈敏度，可對各種盤保持脫軌靈敏度恒定，隨之而來，可確保偏離軌跡檢測和拉入軌跡判斷等的系統(tǒng)穩(wěn)定性。
下面，用圖1-圖5來說明本發(fā)明的實(shí)施方式。
實(shí)施方式1本實(shí)施方式1通過檢測脫軌工作狀態(tài)，并基于其測定結(jié)果調(diào)整脫軌檢測靈敏度，可測定對應(yīng)于各種盤來調(diào)整脫軌檢測靈敏度的脫軌檢測靈敏度，并且用該測定結(jié)果可進(jìn)行脫軌檢測靈敏度的調(diào)整。
圖1(a)表示具有本發(fā)明實(shí)施方式1的信號處理裝置的光盤裝置的框圖。在圖中，1是在螺旋狀或同心圓狀的軌跡上記錄信息信號的作為記錄媒體的光盤；2是使光盤1旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部；3是作為再現(xiàn)部的光拾取器，通過在光盤1的信息面上聚光光束形成光點(diǎn)，并檢測其反射光來輸出各種信息；4是使光拾取器3沿光盤1的徑向移動的跟蹤調(diào)節(jié)器；5是驅(qū)動跟蹤調(diào)節(jié)器4的跟蹤驅(qū)動器；6是跟蹤誤差信號檢測部，根據(jù)光拾取器3的輸出，生成表示光拾取器3距軌跡的偏移的跟蹤誤差信號；7是基于跟蹤誤差信號檢測部6的輸出來控制跟蹤驅(qū)動部5的跟蹤控制部；8是基于跟蹤誤差信號檢測部6的輸出來控制線驅(qū)動部9的線控制部；9是對應(yīng)于線控制部8的輸出，驅(qū)動線馬達(dá)10的線驅(qū)動部；10是對應(yīng)于線驅(qū)動部9的輸出，使光拾取器3移動的線馬達(dá)；11是脫軌信號檢測部，基于光拾取器3的輸出，用對應(yīng)于脫軌檢測靈敏度控制部14的輸出的靈敏度來檢測表示光拾取器3從軌跡脫離的脫軌信號；12是軌跡交叉周期測定部，基于由跟蹤誤差信號檢測部6測得的跟蹤誤差信號，測定軌跡橫斷周期(軌跡交叉周期)；13是脫軌工作狀態(tài)測定部(脫軌檢測靈敏度測定部)，基于由脫軌信號檢測部11及軌跡交叉周期測定部12測得的信息，測定作為脫軌檢測靈敏度的脫軌工作狀態(tài)；14是脫軌檢測靈敏度控制部，基于由脫軌工作狀態(tài)測定部13測得的信息來控制脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行脫軌信號檢測部11的檢測靈敏度控制。
另外，100是控制跟蹤驅(qū)動部5、線驅(qū)動部9、軌跡交叉周期測定部12、脫軌工作狀態(tài)測定部13的系統(tǒng)控制部。200是信號處理裝置，由跟蹤誤差信號檢測部6、跟蹤控制部7、線控制部8、跟蹤驅(qū)動部5、線驅(qū)動部9、脫軌信號檢測部11、軌跡交叉周期測定部12、脫軌工作狀態(tài)測定部13、脫軌檢測靈敏度控制部14、系統(tǒng)控制部10構(gòu)成。
本實(shí)施方式1的裝置，相對于圖6所示的現(xiàn)有例的結(jié)構(gòu)，追加由軌跡交叉周期測定部12、脫軌工作狀態(tài)測定部13構(gòu)成的半導(dǎo)體裝置及脫軌檢測靈敏度控制部14，同時(shí)，向脫軌工作狀態(tài)測定部13提供脫軌信號檢測部11的輸出信號。
其中，軌跡交叉周期測定部12將跟蹤誤信號與基準(zhǔn)電平比較檢測出高及低的區(qū)間，通過計(jì)數(shù)該高及低的區(qū)間的周期等來進(jìn)行軌跡交叉周期的計(jì)數(shù)。圖1(b)表示其結(jié)構(gòu)例，122是產(chǎn)生基準(zhǔn)電平的基準(zhǔn)電平產(chǎn)生電路；120是比較電路，比較該基準(zhǔn)電平與跟蹤誤差信號并檢測高及低的區(qū)間；121是計(jì)數(shù)器，計(jì)數(shù)高及低的區(qū)間的周期并輸出軌跡交叉周期信號。
另外，脫軌工作狀態(tài)測定部13通過采樣來自脫軌信號檢測部11的脫軌信號的高、低電平，并由正倒計(jì)數(shù)器測定其比例等來檢測脫軌工作狀態(tài)。圖1(c)表示其結(jié)構(gòu)例，130及131分別是采樣脫軌信號的高電平及低電平的高電平采樣保持電路及低電平采樣保持電路；132是正倒計(jì)數(shù)器，在高電平及低電平區(qū)間內(nèi)進(jìn)行正計(jì)數(shù)及倒計(jì)數(shù)；134是比較電路，將由上限值產(chǎn)生電路136及下限值產(chǎn)生電路135產(chǎn)生的上限值及下限值與軌跡交叉周期信號比較，并判定軌跡交叉周期信號的值是否在規(guī)定的范圍內(nèi)；133是數(shù)據(jù)取消電路，在軌跡交叉周期信號的值在規(guī)定的范圍內(nèi)時(shí)，設(shè)正倒計(jì)數(shù)器的輸出有效，在軌跡交叉周期信號的值不在規(guī)定的范圍內(nèi)時(shí)取消正倒計(jì)數(shù)器132的輸出；137是平均電路，平均數(shù)據(jù)取消電路133的輸出信號并輸出脫軌工作狀態(tài)信號。
并且，脫軌檢測靈敏度控制部14如圖1(d)所示，構(gòu)成為通過將由脫軌工作狀態(tài)測定部13測定的值經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器140進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換等后發(fā)送到脫軌信號檢測部11，使圖7(a)的用虛線表示的基準(zhǔn)信號r的電平升降等，來進(jìn)行脫軌信號檢測部11的脫軌檢測靈敏度控制。
下面說明動作。另外，省略說明與圖6所示現(xiàn)有例相同的動作。
首先，在通常動作時(shí)，經(jīng)系統(tǒng)控制部100，跟蹤控制部7和線控制部8變成動作狀態(tài)，經(jīng)該跟蹤控制部7及線控制部8，跟蹤伺服變成打開狀態(tài)，即，跟蹤控制變成啟動狀態(tài)。
相反，在脫軌工作狀態(tài)測定時(shí)，除了使光拾取器3移動或振動的情況之外，跟蹤控制部7及線控制部8同時(shí)變成非動作狀態(tài)，測定脫軌工作狀態(tài)。
這是因?yàn)樵诠獗P螺旋狀軌跡偏心充分存在時(shí)，僅通過固定光拾取器不變使光盤旋轉(zhuǎn)，光拾取器橫斷軌跡并可測定脫軌工作狀態(tài)，但在軌跡偏心基本上不存在時(shí)，產(chǎn)生軌跡橫斷，有意使光拾取器移動或振動是必要的。
而且，在用圖1的裝置進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定時(shí)，在光拾取器3橫斷軌跡的狀態(tài)下，基于由軌跡交叉周期測定部12測得的軌跡橫斷信號及軌跡交叉周期信息兩者，脫軌工作狀態(tài)測定部13測定軌跡交叉周期，若其在一定周期內(nèi)，則采用在該周期內(nèi)測定的數(shù)據(jù)；若在一定周期之外取消在該周期內(nèi)測定的數(shù)據(jù)，由此一邊取舍選擇測定數(shù)據(jù)一邊積分脫軌信號，并對應(yīng)于測定期間平均測定值來求得脫軌檢測靈敏度，即，在測定期間中脫軌信號的產(chǎn)生頻率。另外，用由該脫軌工作狀態(tài)測定部13求得的脫軌檢測靈敏度，經(jīng)脫軌檢測靈敏度控制部14變更脫軌信號檢測部11的檢測靈敏度，接近期望的脫軌檢測靈敏度。
即，作為脫軌信號檢測部11，例如在用與如圖8所示結(jié)構(gòu)相同的部件的情況下，如圖1(e)所示，在中間電平生成電路114的輸出與比較器102的逆相輸入端子之間設(shè)置基準(zhǔn)電平可變電路116，通過使作為該基準(zhǔn)電平的中間電平對應(yīng)于脫軌檢測靈敏度控制信號變化，可變更脫軌信號檢測部11的檢測靈敏度。
進(jìn)行這樣的動作，對于用現(xiàn)有的脫軌檢測電路來說是困難的?？蓪γ總€(gè)盤保持脫軌檢測靈敏度恒定，對于各種盤，特別是標(biāo)準(zhǔn)外的光盤，將脫軌檢測靈敏度保持在一定的靈敏度。另外，既便不完全地保持一定的靈敏度，脫軌檢測靈敏度也在一定靈敏度附近，也可謀求系統(tǒng)的穩(wěn)定。
下面用圖2說明脫軌檢測靈敏度測定時(shí)的動作。
圖2是說明實(shí)施方式1的圖，是表示在進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定時(shí)的各波形的波形圖。在圖2中，橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示電壓。
圖2(a)是脫軌檢測靈敏度測定時(shí)跟蹤誤差信號檢測部6的輸出信號及脫軌信號檢測部11的輸出信號。
在測定脫軌檢測靈敏度時(shí)，系統(tǒng)控制部100若由跟蹤控制部7關(guān)閉跟蹤伺服并產(chǎn)生光拾取器3的軌跡橫斷，則跟蹤誤差信號表示圖2(a)所示波形。另外，在圖2(a)中，用黑圓表示的位置是由軌跡交叉周期測定部12測得的軌跡橫斷位置，根據(jù)其間隔測量軌跡交叉周期。實(shí)際上，因噪聲等對脫軌誤差信號存在影響，所以為了不誤檢測軌跡橫斷位置，通過實(shí)施使軌跡交叉周期測定部12具有滯后等對策，來正確地檢測軌跡橫斷位置。
脫軌檢測靈敏度因是表示光拾取器3是否在軌跡上的信號，所以基本上在如從時(shí)刻t1到時(shí)刻t2所示，在軌跡橫斷時(shí)，以50％的比例輸出。因此，在脫軌靈敏度的測定中，若將測定開始點(diǎn)在任意時(shí)間內(nèi)設(shè)定在存在于時(shí)刻t1與時(shí)刻t2之間的時(shí)刻t3，則因?yàn)闀r(shí)刻t1到時(shí)刻t3的期間不在測量值中，所以此時(shí)脫軌信號的產(chǎn)生頻率被測量得高。另外相反地，可容易地理解也產(chǎn)生脫軌信號的產(chǎn)生頻率被測量得低的情況。并且，也可容易地理解測定結(jié)束點(diǎn)變成相同的狀態(tài)。因此，通過將測定開始點(diǎn)及測定結(jié)束點(diǎn)設(shè)定在與時(shí)刻t1或時(shí)刻t2的軌跡橫斷位置相同的位置上，可取得更正確地進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定的效果。當(dāng)然，在測定開始點(diǎn)及測定結(jié)束點(diǎn)之間，即便最低也必須進(jìn)行1個(gè)周期以上的軌跡橫斷，通過在多個(gè)軌跡交叉周期內(nèi)設(shè)定測定期間，可進(jìn)行更穩(wěn)定的脫軌檢測靈敏度測定。
另外，通過軌跡交叉周期測定部12進(jìn)行控制，將測定開始點(diǎn)及測定結(jié)束點(diǎn)設(shè)定在與時(shí)刻t1或時(shí)刻t2的軌跡橫斷位置相同的位置上。即，因?yàn)檐壽E交叉周期測定部12比較跟蹤誤差信號后求得軌跡交叉周期，所以可識別軌跡從何處開始。同樣地，因?yàn)檐壽E交叉周期測定部12也可識別軌跡橫斷的定時(shí)，所以基于這些識別出的軌跡交叉周期及軌跡橫斷定時(shí)，脫軌工作狀態(tài)測定部13可進(jìn)行測定。
另外，脫軌信號因由再現(xiàn)信號的調(diào)制級、即再現(xiàn)信號的凹部產(chǎn)生，所以靈敏度隨軌跡橫斷速度變化。在圖2(a)的時(shí)刻t6至?xí)r刻t7所示的軌跡橫斷速度慢的情況下，脫軌信號不是在時(shí)刻t4至?xí)r刻t5的期間被檢測的，而是在圖2(a)的從時(shí)刻t4附近的上升至?xí)r刻t5以后下降的長的期間內(nèi)被檢測的。相反，在圖2(b)中所示的軌跡橫斷速度快的情況下，脫軌信號不是在時(shí)刻t4至?xí)r刻t5的期間被檢測的，而是在圖2(b)的時(shí)刻t8以后上升、時(shí)刻t9之前下降的短的期間內(nèi)被檢測的。因此，在測定脫軌檢測靈敏度時(shí)，有必要考慮上述問題后再進(jìn)行測定。
另外，在圖2(c)中所示的軌跡橫斷方向反轉(zhuǎn)的情況也有考慮的必要。這是盤載體偏心等的影響，產(chǎn)生在時(shí)刻t10至?xí)r刻t2的范圍內(nèi)所示的位相反轉(zhuǎn)的波形。若在該期間內(nèi)進(jìn)行脫軌靈敏度測定，則測定的脫軌檢測靈敏度高。同樣地，因脫軌信號不產(chǎn)生的期間也有可能延遲，所以對脫軌靈敏度測定不產(chǎn)生誤差。如上所述，在軌跡橫斷速度慢及快時(shí)，作為“數(shù)據(jù)取消”如圖2(a)至圖2(c)中所示，期望除去包含該區(qū)間的零橫斷點(diǎn)彼此之間的測定數(shù)據(jù)來測定。
在此，在軌跡橫斷方向反轉(zhuǎn)時(shí)，如在圖2(c)中所示，因軌跡交叉周期變長，利用該現(xiàn)象，可作為與軌跡橫斷速度慢時(shí)等價(jià)的情況進(jìn)行處理。因此，在DVD唱機(jī)等具有盤判別功能以外的光盤裝置中，對應(yīng)于要再現(xiàn)的光盤的種類，預(yù)先設(shè)定光盤裝置，以采用僅由軌跡交叉周期測定部12測得的軌跡交叉周期在規(guī)定范圍內(nèi)時(shí)測定的數(shù)據(jù)，提高脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
另外，作為脫軌檢測靈敏度測定時(shí)的軌跡橫斷速度的范圍，決定為包含軌跡跳躍時(shí)的軌跡橫斷速度，用該測定結(jié)果，在脫軌檢測靈敏度高時(shí)，由脫軌檢測靈敏度控制部14降低脫軌檢測靈敏度；在脫軌檢測靈敏度低時(shí)，由脫軌檢測靈敏度控制部14提高脫軌檢測靈敏度，所以使軌跡跳躍時(shí)的脫軌檢測靈敏度穩(wěn)定，確保軌跡跳躍的穩(wěn)定性。
另外，如上所述，脫軌信號具有在軌跡橫斷速度快時(shí)靈敏度減小，軌跡橫斷速度慢時(shí)靈敏度增加的趨勢，在軌跡跳躍時(shí)和軌跡追蹤時(shí)有時(shí)最好改變靈敏度。結(jié)果，通過軌跡檢測靈敏度控制部14在脫軌信號檢測部11中分別設(shè)定軌跡跳躍時(shí)的脫軌檢測靈敏度和軌跡追蹤時(shí)的脫軌檢測靈敏度，可構(gòu)成在軌跡跳躍時(shí)及軌跡追蹤時(shí)兩種狀態(tài)下更穩(wěn)定的系統(tǒng)。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式1，基于由脫軌信號和軌跡交叉周期測定部的跟蹤誤差信號測得的軌跡交叉周期信息，測定脫軌工作狀態(tài)，由此可更正確地測定脫軌檢測靈敏度。同時(shí)，根據(jù)測得的脫軌檢測靈敏度來改變脫軌信號檢測部的靈敏度，所以可對各種盤保持在一定的脫軌靈敏度。
另外，在本實(shí)施方式1中，因由軌跡交叉周期測定部設(shè)為如圖2的時(shí)刻t1或時(shí)刻t2的軌跡橫斷位置，可更正確地測定脫軌靈敏度，也可以在軌跡交叉周期測定部的前級設(shè)置軌跡橫斷檢測部，由此來檢測脫軌靈敏度測定的開始定時(shí)及結(jié)束定時(shí)，并向脫軌工作狀態(tài)測定部輸出其檢測結(jié)果。
實(shí)施方式2本實(shí)施方式2相對于實(shí)施方式1設(shè)置了檢測來自光盤的再現(xiàn)信號的缺陷的缺陷檢測部。
圖3(a)表示作為基于本發(fā)明實(shí)施方式2的具有半導(dǎo)體裝置的信號處理裝置的光盤裝置的框圖。在圖中，與圖1(a)相同符號表示相同或相等的部分。200是信號處理裝置，除圖1(a)中信號處理裝置具有的各塊外，附加缺陷檢測部。15是缺陷檢測部，基于由光拾取器3測得的信息信號進(jìn)行再現(xiàn)信號的缺陷檢測。該缺陷檢測部15通過將上側(cè)包絡(luò)線信號、即上下顛倒圖7所示的下側(cè)包絡(luò)線信號波形的波形與基準(zhǔn)信號比較，在成為上側(cè)產(chǎn)生凹部的波形時(shí)，即，在再現(xiàn)信號的上側(cè)包絡(luò)線信號面向紙面下方變?yōu)橥範(fàn)畹牟糠之a(chǎn)生時(shí)，輸出缺陷檢測信號等構(gòu)成。圖3(b)表示該缺陷檢測部15的結(jié)構(gòu)例。在圖中，150是上下顛倒下側(cè)包絡(luò)線信號的波形的波形反轉(zhuǎn)電路；152是產(chǎn)生基準(zhǔn)值的基準(zhǔn)值產(chǎn)生電路；151是比較電路，將該上下顛倒的下側(cè)包絡(luò)線信號與基準(zhǔn)值產(chǎn)生電路152產(chǎn)生的基準(zhǔn)值比較，在低于基準(zhǔn)值區(qū)間內(nèi)輸出缺陷檢測信號。
圖3(c)表示在本實(shí)施方式2中脫軌工作狀態(tài)測定部13的結(jié)構(gòu)，除在數(shù)據(jù)取消電路133中重新增加作為其控制信號的缺陷檢測信號之外，與圖1(c)所示相同。
下面，說明本實(shí)施方式2的動作。本實(shí)施方式2的動作也具有與實(shí)施方式1同樣的通常動作和脫軌工作狀態(tài)測定2種方式，下面說明與實(shí)施方式1不同的脫軌工作狀態(tài)測定時(shí)的動作。
如上所述，在脫軌靈敏度測定時(shí)，有必要正常地輸出再現(xiàn)信號(包含脫軌信號)及跟蹤誤差信號。但是，在因盤表面損傷或污跡等導(dǎo)致再現(xiàn)信號脫落或變壞時(shí)，降低了測定數(shù)據(jù)的可靠性。
圖4是用于說明實(shí)施方式2的動作原理的圖，是表示在進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定時(shí)的各波形的波形圖。在圖4中，橫坐標(biāo)表示時(shí)間，縱坐標(biāo)表示電壓。
圖4(a)是在脫軌檢測靈敏度測定時(shí)的跟蹤誤差信號檢測部6的輸出信號，圖4(b)是脫軌信號檢測部11的輸出信號，圖4(c)是缺陷檢測部15的輸出信號。
在脫軌靈敏度測定時(shí)，時(shí)刻t12至?xí)r刻t13中產(chǎn)生作為缺陷檢測部15的輸出信號的缺陷檢測信號時(shí)，取消缺陷檢測信號產(chǎn)生中、即從時(shí)刻t12至?xí)r刻t13的部分的測定數(shù)據(jù)。這樣，即便在脫軌靈敏度測定時(shí)通過缺陷區(qū)域，也不降低測定數(shù)據(jù)的可靠性，可進(jìn)行脫軌靈敏度測定。
另外，在脫軌橫斷周期內(nèi)檢測出缺陷時(shí)，不僅取消檢測中的測定數(shù)據(jù)，還取消時(shí)刻t14至?xí)r刻t15及時(shí)刻t15至?xí)r刻16所示的軌跡交叉周期的數(shù)據(jù)。因?yàn)檫@樣也將時(shí)刻t14至?xí)r刻t12所示的期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)及時(shí)刻t13至?xí)r刻t16所示的期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)取消，所以如實(shí)施方式1例所述，也不測定軌跡交叉周期中的誤差成分，可進(jìn)一步提高脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式2，設(shè)置檢測再現(xiàn)信號缺陷的缺陷檢測部，因?yàn)樵谟稍撊毕輽z測部檢測出缺陷時(shí)，限制脫軌工作狀態(tài)測定部的測定結(jié)果的利用并取消測定數(shù)據(jù)，所以，可從測定結(jié)果中除去軌跡交叉周期中的誤差成分，可進(jìn)一步地提高脫軌檢測靈敏度測定的可靠性。
實(shí)施方式3本實(shí)施方式3具有與實(shí)施方式1相同的塊結(jié)構(gòu)，但不是對脫軌工作狀態(tài)測定部，而是對跟蹤控制部及線控制部提供來自軌跡交叉周期測定部的軌跡交叉周期。同時(shí)，向跟蹤控制部提供來自脫軌信號檢測部的脫軌信號。
圖5表示具有基于本發(fā)明實(shí)施方式3的半導(dǎo)體裝置的作為信號處理裝置的光盤裝置的結(jié)構(gòu)框圖。在圖中，1是在螺旋狀或同心圓狀的軌跡是記錄信息信號的光盤；2是使光盤1旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部；3是作為再現(xiàn)部的光拾取器，通過在光盤1的信息面聚光光束形成光點(diǎn)并檢測其反射光來輸出各種信息；4是使光拾取器3沿光盤1的徑向移動的跟蹤調(diào)節(jié)器；5是驅(qū)動跟蹤調(diào)節(jié)器4的跟蹤驅(qū)動器；6是跟蹤誤差信號檢測部，根據(jù)光拾取器3的輸出，生成表示光拾取器3距軌跡的偏移的跟蹤誤差信號；7是跟蹤控制部，基于跟蹤誤差信號檢測部6、脫軌信號檢測部11及軌跡交叉周期測定部12的輸出，控制跟蹤驅(qū)動部5；8是線控制部，基于跟蹤誤差信號檢測部6及軌跡交叉周期測定部12的輸出，控制線驅(qū)動部9；9是對應(yīng)于線控制部8的輸出，驅(qū)動線馬達(dá)10的線驅(qū)動部；10是對應(yīng)于線驅(qū)動部9的輸出，使光拾取器3移動的線馬達(dá)；11是脫軌信號檢測部，對應(yīng)于光拾取器3的輸出，檢測表示光拾取器3從軌跡偏離的脫軌信號；12是基于來自跟蹤誤差信號檢測部6的跟蹤誤差信號，測定軌跡交叉周期的軌跡交叉周期測定部；13是基于由脫軌信號檢測部11測得的信息，測定脫軌檢測靈敏度的脫軌工作狀態(tài)測定部；14是基于由脫軌工作狀態(tài)測定部13測得的信息，控制脫軌靈敏度的脫軌檢測靈敏度控制部，控制脫軌信號檢測部11的檢測靈敏度。
下面，說明本實(shí)施方式3的動作。本實(shí)施方式3的動作也與實(shí)施方式1一樣，具有通常動作和脫軌工作狀態(tài)測定的2種方式，下面說明與實(shí)施方式1不同的脫軌工作狀態(tài)測定時(shí)的動作。
由于在脫軌靈敏度測定時(shí)監(jiān)控軌跡橫斷時(shí)的脫軌信號，所以在軌跡偏心基本上不存在的狀態(tài)下，軌跡橫斷難以產(chǎn)生；為了在脫軌靈敏度測定時(shí)得到正確的測定值，存在測定時(shí)間變長或測定值產(chǎn)生偏差等問題。因此，在進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定時(shí)，有必要用跟蹤控制部7及線控制部8穩(wěn)定地產(chǎn)生軌跡橫斷。
首先，系統(tǒng)控制部100經(jīng)跟蹤控制部7關(guān)閉跟蹤伺服，進(jìn)而經(jīng)線控制部8使線馬達(dá)10停止。接著，系統(tǒng)控制部100從跟蹤控制部7向跟蹤驅(qū)動部5提供干擾，以使光拾取器3沿盤的徑向振動。作為此時(shí)的干擾波，可以考慮為正弦波、三角波等，但，不用說，只要是象光拾取器3橫斷軌跡的那種波形，即便哪種波形也可以。
如上所述，通過使光拾取器3沿盤徑向振動，取得軌跡橫斷穩(wěn)定地產(chǎn)生，正常地進(jìn)行脫軌靈敏度測定、還可縮短測定時(shí)間的效果。
同樣地，系統(tǒng)控制部100為使軌跡橫斷，即使不用跟蹤控制部7，從線控制部8向線驅(qū)動部9提供干擾以使光拾取器3沿盤徑向振動，也取得同樣的效果。另外，即便一邊由線控制部8向線驅(qū)動部9沿任一方向驅(qū)動(移動)，一邊進(jìn)行脫軌靈敏度測定，也可期望相同的效果。
并且，對應(yīng)于軌跡交叉周期測定部12的輸出，控制線控制部8的輸出值來保持軌跡橫斷速度恒定，從而因?yàn)樵诿撥夓`敏度測定時(shí)測得的跟蹤誤差信號和脫軌信號的頻率一定，所以取得可測定在特定的頻率下的脫軌靈敏度，進(jìn)一步可穩(wěn)定進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定的效果。
另外，通過將脫軌信號檢測部11及軌跡交叉周期測定部12的輸出輸入到跟蹤控制部7，比較光拾取器3的軌跡交叉周期和預(yù)先設(shè)定在跟蹤控制部7的周期，可控制跟蹤驅(qū)動力。
并且，向線控制部8輸入軌跡交叉周期測定部12的輸出，比較光拾取器3的軌跡交叉周期與預(yù)先設(shè)定在線控制部8上的周期，可控制線的驅(qū)動力。
而且，由此可控制速度。即，因跟蹤誤差信號與脫軌信號交錯(cuò)90度相位，所以跟蹤控制部7根據(jù)該相位可判別光拾取器3的移動方向。另外，跟蹤控制部7及線控制部8基于跟蹤誤差信號和軌跡交叉周期(即便脫軌信號周期也可)可判別光拾取器3的移動速度。如上所述，因可判別光拾取器3的移動方向和移動速度，所以可通過加速或減速光拾取器3進(jìn)行速度的控制，以達(dá)到方向及速度的目標(biāo)。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式3，通過從跟蹤控制部7向跟蹤驅(qū)動部5提供干擾以使光拾取器3移動或振動，可穩(wěn)定地產(chǎn)生軌跡橫斷，即便是軌跡偏心基本上不存在的盤等也取得可進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定的效果。同時(shí)，通過將脫軌信號檢測部11及軌跡交叉周期測定部12的輸出輸入到跟蹤控制部7，向線控制部8中輸入軌跡交叉周期測定部12的輸出，可在移動光拾取器3時(shí)控制速度。
另外，在本實(shí)施方式3例中，作為脫軌信號的生成方法，由利用再現(xiàn)信號的“凹部”的方法來進(jìn)行說明，但即便涉及例如相位差法等、由其他方法生成的脫軌信號，不用說也可用相同的方法測定及調(diào)整脫軌檢測靈敏度。
另外，在本實(shí)施方式3中，如上所述，使光拾取器3或線移動或振動而提高測定精度，因?qū)崿F(xiàn)時(shí)不必軌跡交叉周期信息，所以不將軌跡交叉周期測定部12的輸出輸入到脫軌工作狀態(tài)測定部13，但若必須進(jìn)行脫軌檢測靈敏度測定，則與實(shí)施方式1相同，將作為軌跡交叉周期測定部12的輸出測得的軌跡橫斷信號和軌跡交叉周期信息輸入到脫軌工作狀態(tài)測定部13。
另外，在實(shí)施方式1至3的例中表示由硬件構(gòu)成的光盤裝置，旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部2、光拾取器、跟蹤調(diào)節(jié)器4、線馬達(dá)10的主要部分等以外的電路塊，即，在圖1(a)、圖3(a)、圖5中的信號處理裝置200可由1個(gè)或多個(gè)半導(dǎo)體裝置實(shí)現(xiàn)，另外該信號處理裝置也可通過軟件來實(shí)現(xiàn)。
另外，在實(shí)施方式1至3的例中，在通常動作說明后記載脫軌工作狀態(tài)測定的說明，但脫軌工作狀態(tài)測定例如也可在向盤裝置的安裝盤的時(shí)刻等期望的時(shí)刻進(jìn)行，不特別限制在通常動作之后進(jìn)行的情況。
并且，在實(shí)施方式1至3的例中，作為用于將光盤用作記錄載體的光盤裝置來進(jìn)行說明，但不用說，即便是使用磁光盤、磁盤等的盤裝置也可取得同樣的效果。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性如上所述，本發(fā)明用于通過進(jìn)行脫軌信號的檢測靈敏度測定，進(jìn)行其靈敏度調(diào)整，所以可對每個(gè)盤保持一定的脫軌信號的檢測靈敏度，穩(wěn)定地進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)外的各種盤的再現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種信號處理裝置，其特征在于包括軌跡交叉周期測定部，基于表示再現(xiàn)來自記錄了數(shù)據(jù)的記錄媒體上所形成的軌跡的該記錄媒體上所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部的偏離程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；脫軌信號檢測部，檢測表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號；和脫軌檢測靈敏度測定部，基于上述脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的信號處理裝置，其特征在于上述脫軌檢測靈敏度測定部以上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期為單位來測定脫軌檢測靈敏度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的信號處理裝置，其特征在于上述脫軌檢測靈敏度測定部僅在上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期在規(guī)定周期范圍內(nèi)的情況下才進(jìn)行測定。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的信號處理裝置，其特征在于上述規(guī)定的周期范圍包含上述再現(xiàn)部向其它軌跡移動的軌跡跳動時(shí)的軌跡橫斷周期。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3之一所述的信號處理裝置，其特征在于包括缺陷檢測部檢測上述記錄媒體有無缺陷；上述脫軌檢測靈敏度測定部廢棄上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)的測定值。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的信號處理裝置，其特征在于在上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)，廢棄包含該缺陷檢測出時(shí)的軌跡橫斷周期內(nèi)的測定值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6之一所述的信號處理裝置，其特征在于包括上述脫軌信號檢測部的檢測靈敏度可變，脫軌檢測靈敏度控制部，對應(yīng)于上述脫軌檢測靈敏度測定部測定的脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行上述脫軌信號檢測部的檢測靈敏度控制。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的信號處理裝置，其特征在于上述脫軌檢測靈敏度控制部單獨(dú)設(shè)定上述再現(xiàn)部向其它軌跡移動的軌跡跳動時(shí)的脫軌檢測靈敏度、和上述再現(xiàn)部追蹤軌跡的軌跡追蹤時(shí)的脫軌檢測靈敏度。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8之一所述的信號處理裝置，其特征在于包括跟蹤驅(qū)動部，使再現(xiàn)記錄在記錄媒體中的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部在該記錄媒體的徑向移動；線(thread)驅(qū)動部，使上述再現(xiàn)部移動；和系統(tǒng)控制器，對控制上述各部進(jìn)行控制，上述系統(tǒng)控制部控制上述跟蹤驅(qū)動部和上述線驅(qū)動部，一邊使上述再現(xiàn)部向橫斷上述軌跡的方向移動或振動，一邊進(jìn)行脫軌檢測靈敏度的測定。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的信號處理裝置，其特征在于上述系統(tǒng)控制部進(jìn)行控制，使上述軌跡的橫斷周期為規(guī)定的范圍。
11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的信號處理裝置，其特征在于上述軌跡交叉周期測定部對上述跟蹤驅(qū)動部和上述線控制部提供測定的跟蹤交叉周期。
12.一種半導(dǎo)體裝置，其特征在于包括軌跡交叉周期測定部，基于表示再現(xiàn)來自記錄了數(shù)據(jù)的記錄媒體上所形成的軌跡的該記錄媒體上所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部的偏離程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；和脫軌檢測靈敏度測定部，基于表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度，該脫軌檢測靈敏度測定部以上述跟蹤誤差信號的軌跡橫斷周期為單位來測定脫軌檢測靈敏度。
13.一種信號處理方法，其特征在于包括軌跡交叉周期測定步驟，基于表示再現(xiàn)來自記錄了數(shù)據(jù)的記錄媒體上所形成的軌跡的該記錄媒體上所記錄的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)部的偏離程度的跟蹤誤差信號，測定作為該再現(xiàn)部橫切上述軌跡的周期的軌跡交叉周期；脫軌信號檢測步驟，檢測表示上述再現(xiàn)部脫離上述軌跡的脫軌信號；和脫軌檢測靈敏度測定步驟，根據(jù)上述脫軌信號，測定作為規(guī)定測定期間內(nèi)脫軌信號發(fā)生頻度的脫軌檢測靈敏度。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的信號處理方法，其特征在于還包含檢測上述記錄媒體有無缺陷的缺陷檢測步驟，上述脫軌檢測靈敏度測定步驟廢棄上述記錄媒體的缺陷檢測出時(shí)的測定值。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14所述的信號處理方法，其特征在于上述脫軌信號檢測步驟的檢測靈敏度可變，對應(yīng)于上述脫軌檢測靈敏度測定步驟測定的脫軌檢測靈敏度，進(jìn)行上述脫軌信號檢測步驟的檢測靈敏度控制。
全文摘要
本發(fā)明提供了信號處理裝置、半導(dǎo)體裝置和信號處理方法。在光盤系統(tǒng)中，可對各種盤保持恒定的脫軌靈敏度，隨之而來，可確保偏離軌跡檢測和拉入軌跡判斷等的穩(wěn)定性。通過構(gòu)成為根據(jù)脫軌信號、與軌跡交叉周期測定部12的跟蹤誤差信號所得到的軌跡橫斷周期信息，由脫軌工作狀態(tài)測定部13測定脫軌檢測靈敏度，由此可更正確地測定脫軌檢測靈敏度，通過構(gòu)成為按得到的脫軌檢測靈敏度，由脫軌檢測靈敏度控制部14變更脫軌信號檢測部11的檢測靈敏度，可對各種盤保持恒定的脫軌靈敏度，隨之而來，可確保偏離軌跡檢測和拉入軌跡判斷、以及足跡跳動等的穩(wěn)定性。
文檔編號G11B7/00GK1519848SQ20041003975
公開日2004年8月11日 申請日期2004年1月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月31日
發(fā)明者中田康夫 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社