專利名稱：一次性終端用戶可編程的熔絲陣列電路及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可編程熔絲陣列的領(lǐng)域，具體地說，本發(fā)明涉及一種可由終端用戶編程的一次性可編程熔絲陣列。
背景技術(shù)：
可編程熔絲陣列通常與可能需要進(jìn)行調(diào)節(jié)以獲得良好操作性能的電子電路一起使用。在這樣一種陣列中，每個熔絲電路或者提供邏輯1，或者提供邏輯0，是1還是0取決于其熔絲是否“熔斷”。因此，通過有選擇地熔斷陣列中的熔絲就可以形成一數(shù)字字。例如，將該數(shù)字字提供給一數(shù)-模轉(zhuǎn)換器(DAC)，可以提供一預(yù)期的調(diào)節(jié)電壓。例如，一運(yùn)算放大器可以設(shè)計成這樣通過在微調(diào)輸入端加上一個電壓就可以調(diào)節(jié)偏移電壓；一旦決定了所需的電壓，就可對一驅(qū)動DAC的可編程熔絲陣列進(jìn)行編程，以產(chǎn)生所需的微調(diào)電壓。
對可編程熔絲陣列中的各熔絲只可作一次編程，即，熔斷的熔絲不可能再被恢復(fù)到原來的狀態(tài)。通常，是在制作集成電路(IC)的工廠中對這種陣列進(jìn)行編程的，以在其提供給消費(fèi)者之前校準(zhǔn)或修整好電子器件的特性。由于編程的永久性、決定必要的數(shù)字位模式以及成功地進(jìn)行編程有一定困難，因此還不能將這種陣列提供給終端用戶。其他的技術(shù)，諸如閃存和EEPROMs可提供類似的功能，而且對終端用戶是可使用的。然而，這些方法需要大量的電路來完成，導(dǎo)致在硅芯片區(qū)中，增加了令人難以接受的費(fèi)用或者增加了器件的復(fù)雜性，從而超出了硅芯片所能提供的面積。
發(fā)明的概述本發(fā)明提供一種終端用戶可使用的一次性可編程熔絲陣列電路及方法，它克服了上述的種種問題。
本發(fā)明能夠使一終端用戶對一可編程熔絲陣列電路作永久性編程，所述熔絲陣列電路可提供一數(shù)字輸入給一可編程模擬單元，諸如一DAC、一數(shù)字電位計或一電容器陣列。該熔絲陣列電路包括多個可編程數(shù)據(jù)熔絲，每個數(shù)據(jù)熔絲可對各自的編程信號作出反應(yīng)，由一“完好無缺的”狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)橐弧叭蹟唷睜顟B(tài)，以及一可編程“鎖定(鎖住)”熔絲，當(dāng)對一程序信號作出反應(yīng)熔斷時，該“鎖定(鎖住)”熔絲可防止任何其它數(shù)據(jù)熔絲轉(zhuǎn)變?yōu)槿蹟酄顟B(tài)。
通過一標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字接口將所需的終端用戶確定的數(shù)位模式傳送至一編程電路。該編程電路設(shè)置成可以依照用戶規(guī)定的數(shù)位模式提供編程信號給各可編程數(shù)據(jù)熔絲。為確保各數(shù)據(jù)熔絲都能被適當(dāng)編程，本發(fā)明包括一確認(rèn)器件，當(dāng)各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)符合用戶規(guī)定的模式時，該確認(rèn)器件就產(chǎn)生認(rèn)可的輸出。編程電路接收確認(rèn)器件的輸出，當(dāng)該確認(rèn)器件表示數(shù)據(jù)熔絲符合所規(guī)定的模式時，該編程電路就熔斷鎖定(鎖住)熔絲。
終端用戶規(guī)定的數(shù)位模式和各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)被多路轉(zhuǎn)接至一可編程模擬單元。最初，該規(guī)定的模式被傳送至可編程單元；如有必要，可改變該模式，以從可編程元件得到預(yù)期的結(jié)果。當(dāng)達(dá)到該預(yù)期結(jié)果時，數(shù)據(jù)熔絲被熔斷且對該形成模式進(jìn)行確認(rèn)。如果該數(shù)據(jù)熔絲被恰當(dāng)?shù)厝蹟?，鎖定熔絲也被熔斷，數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)被傳送至可編程單元，由此提供一永久的微調(diào)(調(diào)整)信號。
對本領(lǐng)域的熟練技術(shù)人員來說，從下文參照附圖的詳細(xì)描述，將會對本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點(diǎn)更為一清二楚。
附圖的簡單說明

圖1是本發(fā)明一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路的方塊圖；圖2是本發(fā)明一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路的一較佳實(shí)施例的方塊圖；圖3是可用于本發(fā)明一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路的可編程熔絲單元的一可能的實(shí)施例的示意圖。
較佳實(shí)施例的詳細(xì)描述本發(fā)明能夠使終端用戶可以對一可編程熔絲陣列進(jìn)行編程，然后可使用該可編程熔絲陣列提供一數(shù)字輸入至一可編程模擬單元。“可編程模擬單元”是一能夠產(chǎn)生隨數(shù)字輸入改變的輸出的任何器件，諸如一DAC。
圖1所示為本發(fā)明一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路10的基本原理。其中具有本發(fā)明的IC的終端用戶通過數(shù)字接口12可以將N-位數(shù)位模式提供給熔絲陣列電路10。首先，將該終端用戶指定的數(shù)位模式提供到熔絲陣列電路的輸出點(diǎn)14，所述輸出與一可編程模擬單元連接；終端用戶可按需要改變數(shù)位模式，這種改變可以改變可編程模擬單元所產(chǎn)生的輸出。
熔絲陣列電路10還包括一編程電路16以及至少有N個可編程數(shù)據(jù)熔絲的陣列18。每個可編程數(shù)據(jù)熔絲在對各自從編程電路16接收到的編程信號作出反應(yīng)時，由“完好無缺”狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)椤叭蹟唷睜顟B(tài)。編程電路16接收終端用戶指定的數(shù)位模式，以及終端用戶發(fā)出的控制指示。當(dāng)終端用戶鑒定出可編程模擬單元產(chǎn)生了一個希望的結(jié)果的數(shù)位模式(這里稱之為“被鑒定的數(shù)位模式”)時，一預(yù)定控制指示就提供給編程電路16。，編程電路16作出反應(yīng)，按照鑒定的數(shù)位模式對陣列18中N個數(shù)據(jù)熔絲進(jìn)行編程；N個數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)出現(xiàn)在熔絲陣列18的輸出點(diǎn)20。本發(fā)明的一個主要方面是，終端用戶可以確定該鑒定數(shù)位模式已被成功地編程入陣列18的各數(shù)據(jù)熔絲中。這種能力是由一確認(rèn)器件22來提供的，所述確認(rèn)器件既可以設(shè)置在編程電路16之內(nèi)，又可設(shè)置在編程電路16之外。確認(rèn)器件22將終端用戶提供的經(jīng)鑒定數(shù)位模式與輸出點(diǎn)20的N個數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)相比較。比較的結(jié)果(即經(jīng)鑒定模式和數(shù)據(jù)熔絲狀態(tài)是“符合”還是“不符合”)通過數(shù)字接口12回報給終端用戶。
如果比較結(jié)果顯示出N個數(shù)據(jù)熔絲已經(jīng)按照鑒定的數(shù)位模式被成功編程，則編程電路16會熔斷“鎖定”熔絲24。熔斷鎖定熔絲有兩個作用1)不允許對數(shù)據(jù)熔絲再進(jìn)一步編程，以及2)數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)被傳送至熔絲陣列電路輸出點(diǎn)14。為此，例如，可使用一多路轉(zhuǎn)接器26來達(dá)到此目的，所述多路轉(zhuǎn)接器26受控于鎖定熔絲24的狀態(tài)，即當(dāng)鎖定熔絲完好無損(數(shù)據(jù)熔絲尚未被成功編程)時，該多路轉(zhuǎn)接器將終端用戶指定的數(shù)位模式傳送至輸出14，以及當(dāng)鎖熔絲被熔斷(數(shù)據(jù)熔絲被成功編程)時，該多路轉(zhuǎn)接器傳送各數(shù)據(jù)熔絲狀態(tài)至輸出14。
因此，本發(fā)明允許終端用戶在必要時改變調(diào)整信號，以從可編程單元得到預(yù)期的結(jié)果。該得到的模式被確認(rèn)后將結(jié)果通知終端用戶。如果數(shù)據(jù)熔絲被正確熔斷，鎖定熔絲被熔斷，數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)隨后被傳送至可編程單元時，由此提供一永久的調(diào)整信號。
熔絲陣列電路10包括一終端用戶數(shù)位模式寄存器28，該寄存器28儲存終端用戶傳送至數(shù)字接口的數(shù)位模式，以及一熔絲寄存器30，該熔絲寄存器儲存各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)。使用熔絲寄存器30能夠在通電時及數(shù)據(jù)熔絲編程后保存各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)，從而可關(guān)掉熔絲陣列18以節(jié)約電力。
圖2所示為本發(fā)明的一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路10的一較佳實(shí)施例。數(shù)字接口12最好是一標(biāo)準(zhǔn)的I2C 2-線雙向串行接口，但其他的串行接口(例如，SPI、DSP、Up/Down)或平行接口也可以采用。設(shè)置該接口電路用來處理輸入數(shù)據(jù)和控制描不。終端用戶指定的N-位數(shù)位模式經(jīng)由接口的“DATAIN”輸出傳送至終端用戶的數(shù)位模式寄存器28。一旦一個新的指定數(shù)位模式完全接收到以后，接口12就會觸發(fā)“允許寫入(寫入啟動)”(WRITE EN)信號，使終端用戶位模式寄存器28寄存該位模式。寄存器28的輸出提供給多路轉(zhuǎn)接器26的第一輸入(IN1)，所述多路轉(zhuǎn)接器26藉由鎖定熔絲的狀態(tài)經(jīng)由其選擇輸入(SEL)來控制。當(dāng)鎖定熔絲完好無損時，多路轉(zhuǎn)接器26將儲存在寄存器28中的數(shù)位模式傳送至熔絲陣列電路的輸出14。
寄存器28的輸出還提供給可編程熔絲陣列18。當(dāng)終端用戶對儲存在寄存器28中的數(shù)位模式(即，經(jīng)鑒定的數(shù)位模式)所達(dá)到的結(jié)果感到滿意時，就提供適當(dāng)?shù)目刂浦甘窘o接口12，該接口接著切換提供給編程電路16的“調(diào)整啟動”(TRIM EN)信號。編程電路16通過發(fā)出N個編程信號至熔絲陣列18而作出反應(yīng)，使經(jīng)鑒定的數(shù)位模式被編程入數(shù)據(jù)熔絲。當(dāng)編程完成時，各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)寄存入熔絲寄存器30中，該熔絲寄存器30將這些狀態(tài)提供給多路轉(zhuǎn)接器26的第二輸入(IN2)。
一旦完成數(shù)據(jù)熔絲編程，它們的狀態(tài)必須經(jīng)過確認(rèn)。這是用確認(rèn)器件22的比較器來完成的，所述比較器在輸入點(diǎn)接收終端用戶數(shù)位模式寄存器28以及熔絲寄存器30的輸出。比較器輸出一MATCH信號，當(dāng)兩寄存器的內(nèi)容相符合時，它具有第一狀態(tài)，即表示數(shù)據(jù)熔絲被正確編程，當(dāng)兩寄存器的內(nèi)容不相符合時，它具有第二狀態(tài)。該MATCH信號提供給編程電路16。
當(dāng)MATCH表示數(shù)據(jù)熔絲已被正確編程后，編程電路16觸發(fā)一編程信號(“鎖定熔絲EN”)，此信號使鎖定熔絲24熔斷。鎖定熔絲24的狀態(tài)寄存在熔絲寄存器30中，并將寄存的熔絲狀態(tài)提供給多路轉(zhuǎn)接器26以及編程電路16。多路轉(zhuǎn)接器26通過將寄存在熔絲寄存器30中的數(shù)據(jù)傳送至輸出14而作出反應(yīng)，編程電路16則通過防止熔絲陣列18的任何其它編程而作出反應(yīng)。
確認(rèn)結(jié)果被傳送至終端用戶。它是使用兩個確認(rèn)位ERR0和ERR1來完成的，兩確認(rèn)位ERR0和ERR1由編程電路16傳送至數(shù)字接口12，然后再至終端用戶。如果MATCH顯示數(shù)據(jù)熔絲已被正確編程，則ERR0和ERR1呈現(xiàn)預(yù)定值，諸如“1”和“1”。如果MATCH顯示數(shù)據(jù)熔絲未被正確編程，則ERR0和ERR1分別呈現(xiàn)不同的預(yù)定值，諸如“1”和“0”。多路轉(zhuǎn)接器26的輸出經(jīng)由一連接32亦提供給終端用戶。
熔絲陣列18最好還包括一“測試”熔絲，該熔絲用于測試熔絲陣列電路10在對各數(shù)據(jù)熔絲編程之前是否正確工作。當(dāng)終端用戶使TRIM EN信號被觸發(fā)時，編程電路16開始一編程序列，該編程序列通常是與一時鐘信號(CLK)齊步的。在該序列的第一步，編程電路16提供一編程信號(測試熔絲EN)給熔絲陣列18，以熔斷該測試熔絲。該測試熔絲的狀態(tài)被熔絲寄存器30寄存并被報告回編程電路16。如果該測試熔絲被成功地熔斷，則N個數(shù)據(jù)熔絲將在后面的N時鐘循環(huán)中被編程。如果該測試熔絲未被成功熔斷，則確認(rèn)位會將表明未被成功熔斷的值(例如，ERR1＝0，ERR0＝1)顯示給終端用戶的。
本發(fā)明還可包括一第二測試熔絲，它類似于前述的測試熔絲。然而，它是給制造商編程時用的，用以在將熔絲陣列電路出售給終端用戶之前，測試一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路的功能。
如上所述，可編程熔絲陣列的數(shù)位模式輸出14可供給任何具有一可隨數(shù)字輸入變化的輸出的可編程模擬單元。例如，可將輸出14連接至一DAC的數(shù)字輸入，該DAC將在作出反應(yīng)而提供一所需的模擬輸出電壓。圖2所示為另一個例子，其中，一可編程數(shù)字電位計34由輸出14控制，以提供一所需的電阻。類似地，可將輸出14連接至一可編程電容器陣列，以取得預(yù)期的電容。可將一解碼器電路36插入輸出14和可編程模擬單元之間，以減少熔絲陣列電路所需要的I/O插腳的數(shù)目。
本發(fā)明可不依賴于編程模擬單元，而是連接至一元件以提供必需的編程?；蛘撸景l(fā)明當(dāng)然也可以用一可編程模擬單元，由此提供一完備的終端用戶可編程器件。例如，IC可包括可編程數(shù)字電位計和本文所描述的一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路。當(dāng)這樣安排時，終端用戶可監(jiān)控電位計的電阻，或者改變供給數(shù)字接口12的數(shù)位模式，監(jiān)控另一電路上的電阻。當(dāng)?shù)玫綕M意的結(jié)果時，該終端用戶就提供必要的控制信息以開始熔絲陣列的編程序列。當(dāng)完成時，所述電位計就被永久地編程了。
應(yīng)該提出的，圖2所示的本發(fā)明實(shí)施例只是一個可能的應(yīng)用方案。很多其他的電路布置也可用于提供本文所描述的功能。例如，由編程電路16傳送至熔絲陣列18的編程信號可串行發(fā)送，如前所述，或并聯(lián)發(fā)送。類似地，雖然圖中所示的終端用戶數(shù)位模式寄存器28的輸出與熔絲陣列18直接連接，但它可以與編程電路16相連接。
可編程熔絲陣列可使用幾種技術(shù)中的任一種，其中包括保險絲、齊納熔斷或熔斷氧化物。圖3所示為可編程數(shù)據(jù)熔絲單元的一個可能性實(shí)施方案。一保險絲F1連接在一電源電壓和一節(jié)點(diǎn)40之間；節(jié)點(diǎn)40連接至一下拉晶體管MN1和一轉(zhuǎn)換器U1。當(dāng)F1完好無損時，節(jié)點(diǎn)40為一邏輯“高”，U1的輸出(OUT)(因此數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài))為一邏輯“低”。F1通過一晶體管MN2被熔斷，該晶體管受控于一AND門U2。U2接收一來自終端用戶的指定數(shù)位模式的一DATA輸入以及一DATA EN輸入，該DATA EN輸入是從編程電路接收的編程信號。當(dāng)兩輸入都為高時，MN2被開啟，F(xiàn)1被熔斷，節(jié)點(diǎn)40被拉低，而OUT則升高。如果DATA為低，當(dāng)編程信號進(jìn)行時，F(xiàn)1保持完整無損，而OUT則保持為低。以此方式，每當(dāng)可編程熔絲單元被接通后，OUT就達(dá)到預(yù)期的狀態(tài)。如上所述，熔絲寄存器在通電后最好寄存來自所有熔絲單元的OUT信號，以使單元的電電源可以被斷開，從而節(jié)約用電。
雖然上面圖示和描述了本發(fā)明的幾個具體實(shí)施例，但對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，還完全有可能對它們作出種種變化或改型。本發(fā)明的保護(hù)范圍擬只受所附的權(quán)利要求的各條款中所闡述的內(nèi)容的限制。
權(quán)利要求
1.一種適于對可編程模擬單元進(jìn)行編程的一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，它包括一可編程熔絲陣列，此陣列包括多個可編程數(shù)據(jù)熔絲(18)，每一個響應(yīng)各自的編程信號作出反應(yīng)時，可由一“完好無損”狀態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)橐弧叭蹟唷睜顟B(tài)，以及一可編程鎖定熔絲(24)，當(dāng)對一編程信號作出反應(yīng)被熔斷時，可防止任何其它數(shù)據(jù)熔絲再轉(zhuǎn)變?yōu)樗鼈兊娜蹟酄顟B(tài)，一數(shù)字接口(12)，它將一終端用戶指定的數(shù)位模式傳送至一編程電路，一編程電路(16)，設(shè)置成可按照所述終端用戶指定的數(shù)位模式將所述編程信號提供給所述可編程數(shù)據(jù)熔絲，以及一確認(rèn)器件(22)，當(dāng)所述數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)符合所述終端用戶指定的數(shù)位模式時，輸出一第一信號，當(dāng)所述數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)不符合所述終端用戶指定的數(shù)位模式時，輸出一第二信號，所述編程電路還設(shè)置成接收所述確認(rèn)器件的輸出，當(dāng)所述確認(rèn)器件顯示所述數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)符合所述終端用戶指定的數(shù)位模式時，提供所述編程信號以熔斷所述鎖定熔絲，所述一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路設(shè)置成當(dāng)所述鎖定熔絲完好無損時，在一熔絲陣列電路輸出點(diǎn)提供所述終端用戶指定的數(shù)位模式，而當(dāng)所述鎖定熔絲熔斷時，在所述熔絲陣列電路輸出點(diǎn)提供所述數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)。
2.如權(quán)利要求1所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，所述確認(rèn)器件包括一比較器，該比較器在相應(yīng)輸入點(diǎn)接收所述各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)以及所述終端用戶所指定的數(shù)位模式，當(dāng)所述數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)符合所述終端用戶所指定的數(shù)位模式時，該比較器產(chǎn)生所述第一信號，而當(dāng)所述各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)小符合所述終端用戶指定的數(shù)位模式時，該比較器產(chǎn)生所述第二信號。
3.如權(quán)利要求2所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，它還包括一第一寄存器(28)，該寄存器連接至所述數(shù)字接口并設(shè)置成可儲存所述終端用戶指定的數(shù)位模式，以及一第二寄存器(30)，該寄存器連接至所述數(shù)據(jù)熔絲并設(shè)置成可儲存數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)，所述比較器的輸入點(diǎn)連接至所述第一和第二寄存器。
4.如權(quán)利要求3所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，它還包括一多路轉(zhuǎn)接器(26)，當(dāng)所述鎖定熔絲為完好無損時，該多路轉(zhuǎn)接器將所述第一寄存器的內(nèi)容傳送至所述熔絲陣列電路的輸出，當(dāng)所述鎖定熔絲被熔斷時，該多路轉(zhuǎn)接器將所述第二寄存器的內(nèi)容傳送至所述熔絲陣列電路的輸出。
5.如權(quán)利要求4所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，它還包括一可編程模擬單元(34)，該單元的運(yùn)作受控于所述熔絲陣列電路的輸出。
6.如權(quán)利要求5所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，所述可編程模擬單元是一可編程數(shù)字電位計。
7.如權(quán)利要求1所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，它還包括一第一可編程測試熔絲，當(dāng)響應(yīng)一編程信號被熔斷時，表示所述一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路運(yùn)行正常，所述編程電路被設(shè)置成提供所述編程信號，以在提供所述編程信號至所述可編程數(shù)據(jù)熔絲之前熔斷所述第一可編程測試熔絲，確定所述第一可編程測試熔絲的狀態(tài)，以及提供一輸出，該輸出顯示所述第一可編程測試熔絲的狀態(tài)。
8.如權(quán)利要求7所述的終端用戶可編程熔絲陣列電路，其特征在于，它還包括一制造商可編程的測試熔絲，當(dāng)響應(yīng)編程信號被成功地熔斷時，表示所述一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路運(yùn)行正常，所述編程電路被設(shè)置成提供所述編程信號以熔斷所述制造商可編程測試熔絲，確定所述制造商可編程測試熔絲的狀態(tài)，以及提供一輸出，該輸出顯示所述制造商可編程測試熔絲的狀態(tài)。
9.一種適合一終端用戶使用的、對一熔絲陣列電路進(jìn)行編程的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟提供一終端用戶所指定的數(shù)位模式給一可編程模擬單元(34)，對一可編程熔絲陣列(18)進(jìn)行編程，以與所述終端用戶所指定的數(shù)位模式相對應(yīng)，將所述可編程熔絲陣列中的各熔絲的狀態(tài)與所述終端用戶指定的數(shù)位模式進(jìn)行比較，向所述終端用戶報告所述比較的結(jié)果，以及如果所述可編程熔絲陣列中的各熔絲狀態(tài)符合所述終端用戶指定的數(shù)位模式則阻止對所述熔絲陣列中的任何其他熔絲再進(jìn)行編程，以及提供所述可編程熔絲陣列中的各熔絲的狀態(tài)給所述可編程模擬單元。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種適合于提供一數(shù)字輸入給一可編程模擬單元諸如一DAC的一次性終端用戶可編程熔絲陣列電路。一終端用戶指定的數(shù)位模式被傳送至一編程電路，該編程電路按照所述指定的模式對數(shù)據(jù)熔絲陣列進(jìn)行編程。一確認(rèn)器件顯示各數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)是否符合該指定的模式。當(dāng)數(shù)據(jù)熔絲符合指定的模式時，編程電路就熔斷一“鎖定”熔絲，以防任何其它的數(shù)據(jù)熔絲再被編程。指定的模式和數(shù)據(jù)熔絲的狀態(tài)被多路轉(zhuǎn)接至一可編程模擬單元。開始時，終端用戶可改變模式以從該可編程單元實(shí)現(xiàn)所希望的結(jié)果。當(dāng)預(yù)期的結(jié)果達(dá)到后，數(shù)據(jù)熔絲就被熔斷，得到的結(jié)果模式被確認(rèn)以及鎖定熔絲被熔斷，由此提供一永久的調(diào)整信號。
文檔編號G11C29/08GK1492294SQ0315790
公開日2004年4月28日 申請日期2003年8月26日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月26日
發(fā)明者W·海因策, A·蘇魯希安－阿什, P·W·昆, D·鮑爾斯, W 海因策, 昆, 誠０ 阿什 申請人:模擬設(shè)備股份有限公司