專利名稱：校正照向光記錄介質(zhì)的光束的傾斜的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于校正照向諸如光盤的光記錄介質(zhì)的光束的傾斜的方法和裝置。
背景技術(shù)：
一般，在向光盤記錄和從光盤再現(xiàn)信息比特中，已經(jīng)采用了傾斜校正技術(shù)。傾斜校正是要校正到光盤的信息記錄表面的光束傾斜(也稱為“徑向傾斜”)。因此當(dāng)精確地校正了傾斜的時(shí)候，光束將以直角被照射到光盤的信息記錄表面上。
已經(jīng)利用專用的傾斜傳感器執(zhí)行了徑向傾斜的傳統(tǒng)檢測。這樣的專用傾斜傳感器被配置成具有光源，用于向光盤信息記錄表面照射專用于徑向傾斜檢測的光束；檢測器，用于從光盤接收反射光，以檢測徑向傾斜的量。
當(dāng)使用這樣的專用傾斜傳感器時(shí)產(chǎn)生的問題是傳感器本身的物理尺寸較大，因此使得配備了傳感器的拾取器件的尺寸較大。因此，經(jīng)常裝在筆記本大小的個(gè)人計(jì)算機(jī)中的小的盤驅(qū)動(dòng)器已經(jīng)面臨了這個(gè)問題。即，所述小的盤驅(qū)動(dòng)器不可能在其中安裝這樣的一個(gè)傾斜傳感器。

發(fā)明內(nèi)容
考慮到上述的缺點(diǎn)而做出了本發(fā)明，本發(fā)明的目的是提供一種傾斜校正裝置，它能夠不使用專用的傾斜傳感器而校正光記錄介質(zhì)的傾斜，其中避免了傾斜校正裝置的物理尺寸的變大。
為了實(shí)現(xiàn)上述的目的，作為本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種傾斜校正裝置，用于校正要從拾取器件照射到盤的光束的傾斜量，所述裝置包括預(yù)置凹坑信號(hào)產(chǎn)生器，它被配置以根據(jù)照射到盤上的光束的返回光來產(chǎn)生指示在盤上形成的預(yù)置凹坑的存在/不存在的預(yù)置凹坑信號(hào)；RF信號(hào)產(chǎn)生器，它被配置以根據(jù)返回的光從記錄在盤上的信息比特產(chǎn)生RF信號(hào)；校正量確定單元，它被配置來利用在預(yù)置凹坑信號(hào)和RF信號(hào)之間的關(guān)系確定最佳傾斜校正量；和傾斜校正器，它被配置以根據(jù)最佳傾斜校正量來校正傾斜量。
按照本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種傾斜校正方法，用于校正從拾取器件向光盤照射的光束的傾斜量，所述方法包括步驟根據(jù)照射到盤上的光束的返回光，產(chǎn)生指示在盤上形成的預(yù)置凹坑的存在/不存在的預(yù)置凹坑信號(hào)；根據(jù)返回的光從記錄在盤上的信息比特產(chǎn)生RF信號(hào)；利用在預(yù)置凹坑信號(hào)和RF信號(hào)之間的關(guān)系確定最佳傾斜校正量；根據(jù)最佳傾斜校正量來校正傾斜量。


通過下面參照附圖的說明和實(shí)施例，本發(fā)明的其他目的和方面將會(huì)變得清楚，其中圖1圖解了在盤上的平臺(tái)預(yù)置凹坑的位置和如何產(chǎn)生LPP信號(hào)和RF信號(hào)；圖2A是說明在盤上不同徑向位置的徑向傾斜的視圖；圖2B是示出了在盤上的徑向傾斜量和在不同的徑向位置檢測的LPP信號(hào)的幅度之間的關(guān)系的圖，該圖是考慮到RF信號(hào)而說明的；圖3是概述按照本發(fā)明的當(dāng)前實(shí)施例的傾斜校正裝置的配置的方框圖；圖4是示出了按照當(dāng)前實(shí)施例的示例的信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)的概述的配置的方框圖；圖5A-圖5C是每個(gè)示出了在同一DVD-R盤上的不同徑向位置的LPP信號(hào)幅度和徑向傾斜量之間的關(guān)系的圖；圖6A-6C是每個(gè)示出了在同一DVD-R盤上的不同徑向位置的RF信號(hào)幅度和徑向傾斜量之間的關(guān)系的圖；圖7A-7C是每個(gè)示出了在同一DVD-R盤上的不同徑向位置LPP信號(hào)幅度和徑向傾斜量之間的關(guān)系的圖，其中最大化RF信號(hào)幅度的徑向傾斜量被設(shè)置為0；圖8A-8C是每個(gè)示出在同一DVD-RW盤上的不同徑向位置的LPP信號(hào)幅度和徑向傾斜量之間的關(guān)系的圖；圖9A-9C是每個(gè)示出在同一DVD-RW盤上的不同徑向位置的RF信號(hào)幅度和徑向傾斜量之間的關(guān)系的圖；
圖10A-10C是每個(gè)示出了在同一DVD-RW盤上的不同徑向位置LPP信號(hào)幅度和徑向傾斜量之間的關(guān)系的圖，其中最大化RF信號(hào)幅度的徑向傾斜量被設(shè)置為0；圖11是示出了包括用于傾斜校正的處理的信息記錄/再現(xiàn)處理的流程圖；圖12是表示用于偏移測量的處理的流程圖；圖13是表示用于產(chǎn)生校正簡檔的處理的流程圖；圖14是舉例說明用于校正徑向傾斜的處理的流程圖；圖15A舉例說明了徑向劃分的區(qū)域，其中在每個(gè)中分配了一個(gè)校正參考位置；圖15B是解釋信息未記錄的盤的視圖，在所述盤上形成了一個(gè)區(qū)域，從這個(gè)區(qū)域可以獲得RF信號(hào)。
具體實(shí)施例方式
參見附圖，現(xiàn)在說明本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例。
在下面的實(shí)施例中，傾斜校正針對的是其上形成預(yù)置凹坑的光盤，諸如DVD-R(數(shù)字多用途可記錄盤)和DVD-RW(可重寫DVD)，并且根據(jù)預(yù)置凹坑信號(hào)和RF(射頻)信號(hào)的幅度水平和徑向傾斜量的關(guān)聯(lián)的事實(shí)，預(yù)置凹坑信號(hào)和RF信號(hào)被利用來執(zhí)行傾斜校正。
圖1以圖形示出了在其上形成了預(yù)置凹坑的盤和從預(yù)置凹坑產(chǎn)生的預(yù)置凹坑信號(hào)之間的關(guān)系。盤1是例如DVD-R或DVD-RW，并且具有信息記錄表面。在記錄表面上，交替形成凹槽Gr和平臺(tái)Ld以便分別勾畫出螺旋形式。凹槽Gr作為記錄光道，沿著它記錄信息比特。平臺(tái)Ld形成在相鄰的凹槽Gr之間。在平臺(tái)Ld上，按照預(yù)定的規(guī)則形成平臺(tái)預(yù)置凹坑(以下稱為“LPP”)。平臺(tái)預(yù)置凹坑LPP被形成以在盤1上具有地址信息的比特。更具體來說，任何凹槽Gr被提供各種類型的信息的比特，所述信息包括地址信息，這樣的信息被以徑向向外的方向記錄在LPP上，所述LPP形成在鄰近凹槽Gr的平臺(tái)Ld上。
LPP可以被圖1所示的象限光檢測器(quadrant photo detector)PD檢測。象限光檢測器PD具有四個(gè)檢測表面A-D，其中每個(gè)接收從盤1反射的光，并且對所接收的光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換以輸出檢測信號(hào)Sa(至Sd)。來自檢測表面A-D的檢測信號(hào)Sa-Sd被發(fā)送到三個(gè)加法器41-43以產(chǎn)生LPP信號(hào)，所述LPP信號(hào)通過下列的表達(dá)式而被給出LPP信號(hào)＝(Sa+Sd)-(Sb+Sc)(1)象限光檢測器PD被安裝到信息記錄系統(tǒng)或信息再現(xiàn)系統(tǒng)的拾取器件上。在信息記錄系統(tǒng)或信息再現(xiàn)系統(tǒng)的跟蹤伺服機(jī)構(gòu)控制象限光檢測器PD以便在一對檢測表面A和D和另一對檢測表面B和C之間的邊界沿著(trace)每個(gè)記錄光道(即每個(gè)凹槽)Gr的中心的條件下，按照上述表達(dá)式(1)對檢測信號(hào)Sa-Sd進(jìn)行計(jì)算。于是獲得了LPP信號(hào)，它提供示出了LPP的存在的預(yù)置凹坑信號(hào)。
當(dāng)注意力放到任何一個(gè)記錄光道Gr的時(shí)候，LPP駐留在均鄰近記錄光道Gr的徑向內(nèi)部和徑向外部平臺(tái)Ld上。在跟蹤每個(gè)記錄光道的情況下，通過表達(dá)式(1)將駐留在徑向外部平臺(tái)Ld上的LPP檢測為負(fù)的檢測信號(hào)，而通過表達(dá)式(1)將駐留在徑向內(nèi)部平臺(tái)Ld上的LPP檢測為正的檢測信號(hào)。
同時(shí)，RF信號(hào)是根據(jù)記錄在盤1上的信息來再現(xiàn)的信號(hào)。換句話說，響應(yīng)于是否在盤1上形成記錄凹坑(記錄標(biāo)志)來獲得RF信號(hào)，并且如圖1所示，通過下面的表達(dá)式(2)而獲得RF信號(hào)RF信號(hào)＝(Sa+Sd)+(Sb+Sc)(2)從上述的表達(dá)式(1)可以明白，LPP信號(hào)被計(jì)算作為在象限光檢測器PD的徑向上的推挽信號(hào)(被稱為徑向推挽信號(hào))。另一方面，可以從表達(dá)式(2)清楚地看出，RF信號(hào)被計(jì)算作為來自四個(gè)檢測表面A-D的檢測信號(hào)Sa-Sd的和。于是，已經(jīng)公知在從拾取器件照射到盤的記錄表面的光束的入射角和LPP信號(hào)和RF信號(hào)的幅度水平之間存在理論上的相關(guān)性。換句話說，徑向傾斜的量(即從直角到盤的記錄表面的入射光束的角度差)越大，則LPP和RF信號(hào)的幅度水平越小，同時(shí)，徑向傾斜的量越小，則LPP和RF信號(hào)的幅度水平越大。
但是，也已經(jīng)公知在向LPP信號(hào)的幅度水平提供最大值的傾斜量和向RF信號(hào)的幅度水平提供最大值的另一傾斜量之間不總是存在一致性。一般，在兩個(gè)最大值之間存在偏移(被稱為“ΔTilt”)。另外，已經(jīng)公知偏移ΔTilt幾乎是常數(shù)而與在單個(gè)盤上的位置無關(guān)。
參見圖2A和2B，現(xiàn)在更詳細(xì)地說明幾乎恒定的偏移ΔTilt的特性。圖2A通過示例圖解了其徑向外端略微上彎的一個(gè)盤1的一個(gè)扇區(qū)的一部分。當(dāng)自位于盤的平坦區(qū)域的徑向位置“1”測量的時(shí)候，最大化RF信號(hào)的幅度的傾斜量是“Tilt A”，并且最大化LPP信號(hào)的幅度的另一傾斜量是“Tilt B”。但是，當(dāng)測量點(diǎn)被移動(dòng)到位于略微彎曲的徑向外端的另一徑向位置“2”的時(shí)候，最大化RF信號(hào)的幅度的傾斜量“Tilt A”與在徑向位置“1”的傾斜量之間相差與所述端的彎曲量相對應(yīng)的數(shù)量。類似地，最大化LPP信號(hào)的幅度的傾斜量“Tilt B”不同于在徑向位置“1”的傾斜量。但是，即使在徑向位置“2”，作為在最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量“Tilt A”和最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜量“Tilt B”之間的差的偏移ΔTilt仍然保持與在徑向位置“1”的相同的數(shù)量。
這個(gè)固有的特點(diǎn)在圖2B中被示出，其中繪出了兩個(gè)特性曲線C1和C2。通過在徑向位置“1”的測量所獲得的特性曲線C1示出了在傾斜量和LPP信號(hào)幅度之間的關(guān)系，而通過在徑向位置“2”的測量所獲得的另一特性曲線C2示出了在傾斜量和LPP信號(hào)幅度之間的關(guān)系。順便提及，在圖2B中，基于產(chǎn)生在RF信號(hào)幅度中的最大值的傾斜量(即“Tilt A”)是“0”的條件而描繪了特性曲線C1和C2。可以從圖2B明白，徑向位置“1”和“2”在相同的傾斜量顯示不同的LPP幅度。這是由于在凹槽形狀中的差別、在襯底中的波動(dòng)、記錄薄膜的厚度的波動(dòng)以及其他。但是，關(guān)于徑向位置“1”和“2”的每個(gè)，最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜量“Tilt B”從最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量“Tilt A”偏移相同的數(shù)量ΔTilt。即，即使盤形成為部分凹陷或彎曲的，在最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量”Tilt A”和最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜量”TiltB”之間總是存在相同數(shù)量的偏移ΔTilt，這與盤1上的徑向位置無關(guān)。
一般，在向盤記錄和從盤再現(xiàn)信息比特中，可以校正傾斜以便最大化RF信號(hào)的幅度。但是，所述盤是其上還要記錄信息比特的未記錄盤，不可能獲得一個(gè)RF信號(hào)，因?yàn)闆]有要再現(xiàn)的信息。在這樣的未記錄盤的情況下，利用LPP信號(hào)的幅度水平來執(zhí)行傾斜校正。如上所述，因?yàn)樵趦A斜量“Tilt A”和另一傾斜量“Tilt B”之間存在恒定的偏移ΔTilt，因此可以根據(jù)LPP信號(hào)的幅度水平和偏移ΔTilt來校正未記錄盤的傾斜。
在本實(shí)施例中，基于在最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量“Tilt A”和最大化LPP信號(hào)幅度的另一個(gè)傾斜量“Tilt B”之間存在相同數(shù)量的偏移ΔTilt而與盤上的位置無關(guān)的關(guān)系來執(zhí)行傾斜校正。圖3概括地示出了一個(gè)系統(tǒng)，其中原理性地示出了傾斜校正裝置的配置。
在圖3所示的系統(tǒng)中，盤1通過主軸電動(dòng)機(jī)6以給定的線速度旋轉(zhuǎn)。傾斜校正單元與盤1相關(guān)地被布置。傾斜校正單元包括拾取器件2，用于不僅向盤1照射光束來用于記錄和再現(xiàn)，而且接收照射光束的反射光。拾取器件2包括圖1所示的象限光檢測器，以便使得檢測器PD可以在它的檢測表面A-D對檢測信號(hào)Sa-Sd進(jìn)行檢測，因此拾取器件2向LPP信號(hào)產(chǎn)生器3和RF信號(hào)產(chǎn)生器4提供檢測信號(hào)Sa-Sd。
LPP信號(hào)產(chǎn)生器3從拾取器件2接收檢測信號(hào)Sa-Sd。并且隨后通過基于上述表達(dá)式(1)的計(jì)算來產(chǎn)生LPP信號(hào)，所述LPP信號(hào)被發(fā)送到傾斜校正量計(jì)算器5。另一方面，象上面一樣，RF信號(hào)產(chǎn)生器4接收檢測信號(hào)Sa-Sd，并且隨后通過執(zhí)行基于上述表達(dá)式(2)的計(jì)算來產(chǎn)生RF信號(hào)。所計(jì)算的RF信號(hào)被提供到傾斜校正量計(jì)算器5。
通過利用在最大化RF信號(hào)的幅度的傾斜量和最大化LPP信號(hào)的幅度的另一傾斜量之間的上述相關(guān)性，傾斜校正量計(jì)算器5確定最佳的傾斜校正量，需要這個(gè)最佳的傾斜校正量來使得徑向傾斜量為“0”。傾斜校正量計(jì)算器5隨后向安裝在拾取器件上的傾斜校正器2a提供所確定的最佳傾斜校正量。
傾斜校正器2a根據(jù)所提供的最佳的傾斜校正量操作，以使得光束的照射方向被調(diào)整以完成傾斜校正。因此，可以使用RF信號(hào)和/或LPP信號(hào)來執(zhí)行徑向傾斜量的檢測和徑向傾斜的校正。
(示例)現(xiàn)在說明上述實(shí)施例的優(yōu)選示例。
(信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng))圖4是概括地示出了按照基于上述實(shí)施例所實(shí)現(xiàn)的示例的信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)的配置的方框圖。
如圖4所示，盤1受到由主軸電動(dòng)機(jī)6執(zhí)行的對CLV(恒定線速度)的控制，以便以恒定的速度旋轉(zhuǎn)盤1。在圖4的配置中，提供了信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)100，大致劃分它包括記錄系統(tǒng)，它被配置以將記錄數(shù)據(jù)記錄到盤1；再現(xiàn)系統(tǒng)32，它被配置來再現(xiàn)在盤1上記錄的數(shù)據(jù)；傾斜校正裝置50，它被配置來校正對盤1的徑向傾斜。在這些部件中，記錄和再現(xiàn)系統(tǒng)30和32可以被用已知的組成部分來配置，因此將它們省略而不詳細(xì)說明。
傾斜校正裝置50配備有拾取器件2、LPP信號(hào)產(chǎn)生器3、RF信號(hào)產(chǎn)生器4、底電平保持電路(bottom hold circuit)11、微計(jì)算機(jī)12、傾斜校正驅(qū)動(dòng)器13、包含于拾取器件2中的傾斜校正器2a?？梢岳貌煌膬A斜校正機(jī)構(gòu)來構(gòu)造傾斜校正器2a，所述傾斜校正機(jī)構(gòu)例如用于機(jī)械地調(diào)整將要照射到盤1上的光束軸的機(jī)構(gòu)；利用液晶元件構(gòu)造以調(diào)整光束軸的器件；或調(diào)整光束軸的傳動(dòng)器。微計(jì)算機(jī)12包括校正簡檔存儲(chǔ)器(correcting profile memory)12a。
(傾斜校正裝置)現(xiàn)在說明傾斜校正裝置50的操作。拾取器件2向LPP信號(hào)產(chǎn)生器3和RF信號(hào)產(chǎn)生器4提供檢測信號(hào)Sa-Sd，檢測信號(hào)Sa-Sd在象限光檢測器PD的檢測表面A-D被檢測，如圖1所示。LPP信號(hào)產(chǎn)生器3接收檢測信號(hào)Sa-Sd，以根據(jù)表達(dá)式(1)計(jì)算LPP信號(hào)，然后將所計(jì)算的LPP信號(hào)提供到底電平保持電路11。底電平保持電路11工作以保持LPP信號(hào)的底電平，然后向微計(jì)算機(jī)12提供被保持的底電平信號(hào)。
底電平保持電路11被設(shè)計(jì)使得電路11在可以穩(wěn)定檢測LPP信號(hào)的位置執(zhí)行在LPP信號(hào)中的底電平保持。實(shí)際上，上述位置是(a)盤1上的信息未記錄區(qū)域，(b)在盤1上的信息記錄區(qū)域中的空間，(c)存在在記錄操作下記錄到盤1上的數(shù)據(jù)的空間。
與由LPP信號(hào)產(chǎn)生器執(zhí)行的上述操作同時(shí)地，RF信號(hào)產(chǎn)生器4也接收來自拾取器件2的檢測信號(hào)Sa-Sd，然后根據(jù)上述的表達(dá)式(2)計(jì)算RF信號(hào)。結(jié)果產(chǎn)生的RF信號(hào)被提供到微計(jì)算機(jī)12。
接收來自底電平保持電路11的LPP信號(hào)和來自RF信號(hào)產(chǎn)生器4的RF信號(hào)的微計(jì)算機(jī)12將所接收的信號(hào)進(jìn)行偏移測量處理，以測量上述的偏移ΔTilt，將所接收的信號(hào)進(jìn)行校正簡檔產(chǎn)生處理，以基于所得偏移量ΔTilt產(chǎn)生指示每個(gè)盤的傾斜校正特性的校正簡檔，并將所接收的信號(hào)進(jìn)行傾斜校正處理，以利用所得校正簡檔來校正徑向傾斜。下面逐一說明上述的三種類型的處理。
被驅(qū)動(dòng)來用于傾斜校正的傾斜校正驅(qū)動(dòng)器13接收指示傾斜校正量的數(shù)據(jù)，以產(chǎn)生傾斜校正器2a的控制數(shù)據(jù)。所述控制數(shù)據(jù)被提供到傾斜校正器2a，以便傾斜校正器2a能夠校正徑向傾斜。傾斜校正器2a所需的控制數(shù)據(jù)類型依賴于安裝到傾斜校正器2a的校正機(jī)構(gòu)。例如，當(dāng)校正機(jī)構(gòu)使用液晶的時(shí)候，控制數(shù)據(jù)由控制電壓數(shù)據(jù)組成。
(RF幅度和LPP幅度與傾斜量的關(guān)系)現(xiàn)在例證兩個(gè)上述的關(guān)系，即在RF信號(hào)的幅度(RF幅度)和傾斜量之間的關(guān)系和在LPP信號(hào)的幅度(LPP幅度)和傾斜量之間的另一個(gè)關(guān)系。
圖5A-5C示出了曲線，其中每個(gè)(示出了四個(gè)曲線)表示通過測量三種DVD-R盤“A”-“C”而獲得的在徑向傾斜量和LPP幅度之間的關(guān)系。圖6A-6C示出了曲線，其中每個(gè)(示出了四個(gè)曲線)表示通過測量三種DVD-R盤“A”-“C”而獲得的在徑向傾斜量和RF幅度之間的關(guān)系。利用傾斜校正裝置從盤“A”-“C”、逐漸改變傾斜校正量地測量LPP和RF幅度中的任何一個(gè)，其中所述傾斜校正裝置采用作為傾斜校正機(jī)構(gòu)的液晶元件。順便提及，LPP信號(hào)的幅度被表示為負(fù)極性信號(hào)，因此它們的絕對值示出了幅度量。而且，在圖5A-5C和6A-6C中，利用向傾斜校正裝置設(shè)置的傾斜量定標(biāo)在每個(gè)橫坐標(biāo)軸上的徑向傾斜量，因此由要提供給這個(gè)示例使用的液晶類型傾斜校正裝置的電壓數(shù)據(jù)構(gòu)成所述徑向傾斜量。而且，圖5A-5C和6A-6C中的每個(gè)具有在每個(gè)盤上的四個(gè)徑向點(diǎn)測量的四個(gè)曲線(具體上，每個(gè)點(diǎn)位于徑向方向的內(nèi)部、中間、外部和最外部圓周區(qū)域中的每個(gè)中)。
如圖5A-5C所示，盤A-C中的任何一個(gè)提供了最大化LPP信號(hào)幅度的徑向傾斜量，它不是0而是向正或負(fù)數(shù)量方向偏移。偏移的方向和偏移的數(shù)量逐個(gè)盤都不同。即使在同一盤的情況下，不同的徑向位置分別提供不同的徑向傾斜量，所述徑向傾斜量最大化略微改變的LPP信號(hào)幅度。
與上面相同，如圖6A-6C所示，盤A-C中的任何一個(gè)提供了最大化RF信號(hào)幅度的徑向傾斜量，它不是0而是向正或負(fù)數(shù)量方向偏移。偏移的方向和偏移的數(shù)量逐個(gè)盤都不同。即使在同一盤的情況下，不同的徑向位置分別提供不同的徑向傾斜量，所述徑向傾斜量最大化略微改變的RF信號(hào)幅度。
因此，從圖6A-6C獨(dú)立地獲取每個(gè)最大化RF信號(hào)幅度的徑向傾斜量，然后將其處理為0(即位于橫坐標(biāo)軸的中心)，以便將圖5A-5C中所示的圖重寫到圖7A-7C中。圖7A-7C顯示出，雖然逐個(gè)盤不同，每個(gè)最大化LPP信號(hào)幅度的徑向傾斜量總是從最大化RF信號(hào)幅度的每個(gè)徑向傾斜量(即在圖7A-7C的每個(gè)中徑向傾斜“0”的位置)被偏移恒定的數(shù)量，而與在同一盤上的徑向位置無關(guān)。
對上述的類似的測量是利用三種DVD-RW盤進(jìn)行的，這產(chǎn)生了圖8A-8C和圖9A-9C中所示的圖形。從那些圖形中可以明白，DVD-RW盤仍然保持與對前述DVD-R盤所解釋的相同的關(guān)系。
具體而言，如圖8A-8C所示，盤A-C中的任何一個(gè)提供了最大化LPP信號(hào)幅度的徑向傾斜量，它不是0而是向正或負(fù)數(shù)量方向偏移。偏移的方向和偏移的數(shù)量逐個(gè)盤都不同。即使在同一盤的情況下，不同的徑向位置提供不同的徑向傾斜量，所述徑向傾斜量每個(gè)最大化略微改變的LPP信號(hào)幅度。
與上面相同，如圖9A-9C所示，盤A-C之中的任何一個(gè)提供了最大化RF信號(hào)幅度的徑向傾斜量，它不是0而是向正或負(fù)數(shù)量方向偏移。偏移的方向和偏移的數(shù)量逐個(gè)盤都不同。即使在同一盤的情況下，不同的徑向位置提供不同的徑向傾斜量，所述徑向傾斜量每個(gè)最大化略微改變的RF信號(hào)幅度。
因此，從圖9A-9C獨(dú)立地獲取每個(gè)最大化RF信號(hào)幅度的徑向傾斜量，然后將其處理為0以便示出圖10A-10C，在圖10A-10C中與圖8A-8C所示的LPP信號(hào)幅度相關(guān)聯(lián)地以圖形表示了徑向傾斜量。圖10A-10C顯示出，雖然逐個(gè)盤不同，每個(gè)最大化LPP信號(hào)幅度的徑向傾斜量總是從最大化RF信號(hào)幅度的每個(gè)徑向傾斜量(即在圖10A-10C的每個(gè)中徑向傾斜“0”的位置)被偏移恒定的數(shù)量，而與在同一盤上的徑向位置無關(guān)。
因此，在因?yàn)楸P還沒有被記錄信息比特而導(dǎo)致不能獲得RF信號(hào)的情況下，可以使用最大化LPP信號(hào)幅度的徑向傾斜量和已經(jīng)預(yù)先被測量的偏移量來計(jì)算向RF信號(hào)幅度提供最大值的徑向傾斜量。
(傾斜校正)下面，將說明如何校正徑向傾斜。原理上，通過確定最大化RF信號(hào)幅度的傾斜校正量和根據(jù)已經(jīng)確定的傾斜校正量來控制傾斜校正驅(qū)動(dòng)器13的微計(jì)算機(jī)12的執(zhí)行來校正徑向傾斜。這個(gè)控制使能在傾斜校正器2a下的校正。從實(shí)際的角度來說，當(dāng)向信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)1 00裝上記錄或再現(xiàn)信息比特的盤的時(shí)候，微計(jì)算機(jī)12產(chǎn)生一個(gè)校正簡檔以定義盤的傾斜校正量，并且將所產(chǎn)生的校正簡檔保存到校正簡檔存儲(chǔ)器12a中。在記錄/再現(xiàn)信息比特時(shí)，微計(jì)算機(jī)12引用校正簡檔以執(zhí)行徑向傾斜校正。
校正簡檔由指示在盤1上的徑向位置和每個(gè)徑向位置的最佳傾斜校正量之間的關(guān)系的數(shù)據(jù)組成。通過示例，在每個(gè)盤上的這樣的徑向位置可以被定義為屬于根據(jù)自盤中心的徑向距離適當(dāng)劃分的徑向內(nèi)部、徑向中間、徑向外部和徑向最外圓周區(qū)域的四個(gè)位置(參見圖15A)，并且，向四個(gè)位置的每個(gè)分配最佳傾斜校正量。
基本上，如上所述，確定最佳傾斜校正量以便給出RF信號(hào)的幅度的最大值。但是，如果使用還沒有記錄信息比特的盤，則不能檢測在盤上的每個(gè)位置的RF信號(hào)，導(dǎo)致不能獲得最大化RF信號(hào)幅度的傾斜校正量。因此，在這種情況下，利用如下特性，即在同一盤上的最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量和最大化LPP信號(hào)幅度的另一傾斜量之間存在恒定的偏移ΔTilt。即，對于信息未記錄盤，首先獲取最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜量，然后根據(jù)所獲取的傾斜量和偏移ΔTilt來計(jì)算最大化RF信號(hào)幅度的另一傾斜量，以便可以確定用于信息未記錄盤的最佳傾斜校正量。這中設(shè)置最佳傾斜校正量的方式使得有可能即使使用還沒有記錄信息的盤，也可以容易地確定最佳傾斜量和可以產(chǎn)生校正簡檔。
參見圖11，現(xiàn)在說明包括徑向傾斜校正處理的信息記錄/再現(xiàn)處理。另外說明，下面的各組處理的每個(gè)主要由在信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)100中的微計(jì)算機(jī)100來執(zhí)行(參見圖4)，微計(jì)算機(jī)12被設(shè)計(jì)來執(zhí)行前面準(zhǔn)備的用于不同組信息記錄/再現(xiàn)處理的程序。另外，當(dāng)盤被裝到信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)100中的時(shí)候，這個(gè)處理開始啟動(dòng)。
首先，微計(jì)算機(jī)12確定是否信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)被裝上了盤(步驟S1)。當(dāng)微計(jì)算機(jī)12從盤的檢測機(jī)構(gòu)接收到信號(hào)的時(shí)候，完成對已經(jīng)裝上盤的確定。
在完成裝上盤之后，微計(jì)算機(jī)12進(jìn)行來執(zhí)行用于偏移量的測量的處理(步驟S2)。
偏移量測量的處理針對前述的偏移ΔTilt的測量。具體上，在可以檢測到RF信號(hào)的區(qū)域(信息記錄區(qū)域)和在不能檢測到RF信號(hào)的另一個(gè)區(qū)域(信息未記錄區(qū)域)之間的邊界位置(以下也被稱為“RF信號(hào)存在/不存在邊界”)，獲取最大化RF信號(hào)幅度的第一傾斜量和最大化LPP信號(hào)幅度的第二傾斜量，并且隨后計(jì)算在第一傾斜量和第二傾斜量之間的差，即偏移ΔTilt。
在已記錄信息盤的情況下，RF信號(hào)存在和不存在的邊界位于在盤上的數(shù)據(jù)區(qū)域上的信息記錄區(qū)域和信息未記錄區(qū)域之間的邊界。相反，在信息未記錄盤上，不存在數(shù)據(jù)區(qū)域中的記錄區(qū)域。但是，如圖15B所示，在盤上的讀入?yún)^(qū)域包括其中預(yù)先記錄數(shù)據(jù)的控制數(shù)據(jù)區(qū)。在DVD-R盤上的這樣的區(qū)被稱為“預(yù)先寫入?yún)^(qū)”，而在DVD-RW盤上的這樣的區(qū)被稱為“壓紋區(qū)(embossedzone)”。因此，即使裝上了一個(gè)信息未記錄盤，在測量偏移中也可以使用控制數(shù)據(jù)區(qū)的邊界來作為“RF信號(hào)存在/不存在邊界”。
現(xiàn)在詳細(xì)說明偏移測量處理。圖12示出了用于處理的流程圖。微計(jì)算機(jī)12首先確定是否已經(jīng)裝上的盤是信息未記錄盤(步驟S11)。在被裝入的盤是已經(jīng)記錄了信息比特的盤的情況下，關(guān)于要記錄的數(shù)據(jù)的管理信息被記錄在緊鄰在圖15B所示的讀入?yún)^(qū)域內(nèi)的控制數(shù)據(jù)區(qū)之前的區(qū)域中。相反，如果被裝入的盤還沒有進(jìn)行信息記錄的時(shí)候，在那里未記錄這樣的管理信息。因此，微計(jì)算機(jī)12能夠通過確認(rèn)是否在緊鄰在讀入?yún)^(qū)域中的控制數(shù)據(jù)區(qū)之前的一個(gè)區(qū)域中記錄了信息來確定是否所裝入的盤是信息未記錄盤。
當(dāng)以上的確定表明已經(jīng)裝入了信息未記錄盤時(shí)，微計(jì)算機(jī)12指定在圖15A中所示的預(yù)先寫入?yún)^(qū)(或壓紋區(qū))作為點(diǎn)A(步驟S12)。然后，微計(jì)算機(jī)12指定靠近預(yù)先寫入?yún)^(qū)(或壓紋區(qū))的未記錄部分作為點(diǎn)B(步驟S13)。微計(jì)算機(jī)12然后在數(shù)據(jù)記錄點(diǎn)A將傾斜校正量改變?yōu)楦鞣N數(shù)量，以找出最大化RF信號(hào)幅度的傾斜校正量“Tilt A”(步驟S14)。此后，微計(jì)算機(jī)12在數(shù)據(jù)未記錄點(diǎn)B將傾斜校正量改變?yōu)椴煌臄?shù)量，以找出最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜校正量“Tilt B”(步驟S15)。利用傾斜校正量“Tilt A”和“Tilt B”，微計(jì)算機(jī)12在將所計(jì)算的偏移ΔTilt存儲(chǔ)到它的內(nèi)部存儲(chǔ)器或其他存儲(chǔ)器之前計(jì)算偏移ΔTilt(步驟S16)。
另一方面，當(dāng)在步驟S11確定所裝入的盤不是信息未記錄盤的時(shí)候(即所裝入的是已經(jīng)記錄了信息的盤)，微計(jì)算機(jī)12從盤上最內(nèi)位置向外端搜索RF信號(hào)存在/不存在邊界(步驟S17)。通過向盤上的外端移動(dòng)拾取器件2上的滑動(dòng)器和監(jiān)視在拾取器件2的移動(dòng)操作期間獲得的RF信號(hào)幅度的改變并且打開跟蹤伺服來執(zhí)行搜索。當(dāng)搜索示出RF信號(hào)存在/不存在邊界的時(shí)候，至今已獲得的RF信號(hào)的幅度突然消失。因此，有可能將這樣的位置識(shí)別為RF信號(hào)存在/不存在邊界。
響應(yīng)于RF信號(hào)存在/不存在邊界的檢測(在步驟S18的“是”)，在靠近記錄部分的未記錄部分被指定為點(diǎn)“B”(步驟S20)之前，靠近邊界的記錄部分被指定為點(diǎn)“A”(步驟S19)。微計(jì)算機(jī)12然后在步驟S14-S16進(jìn)行處理以計(jì)算偏移ΔTilt。
當(dāng)在步驟S18確定還沒有檢測到RF信號(hào)存在/不存在邊界的情況下，可以知道整個(gè)數(shù)據(jù)記錄區(qū)域被填充了數(shù)據(jù)并且可以根據(jù)RF信號(hào)幅度來產(chǎn)生校正簡檔。在這樣的情況下，不必測量偏移ΔTilt。因此使得處理返回圖11所示的主例程。
上述的偏移測量處理使得有可能獲得偏移ΔTilt，而與盤是信息記錄盤或信息未記錄盤無關(guān)。雖然信息記錄盤與信息未記錄盤的RF信號(hào)存在/不存在邊界的位置不同，這個(gè)差別將不產(chǎn)生問題，因?yàn)槿缟纤觯谕槐P上偏移ΔTilt恒定而與其上的徑向位置無關(guān)。
當(dāng)已經(jīng)獲得了偏移ΔTilt時(shí)，處理被使得返回圖11所示的主例程，其中微計(jì)算機(jī)開始產(chǎn)生校正文件(圖11的步驟S3)。圖13示出了用于產(chǎn)生校正文件的處理。
首先，微計(jì)算機(jī)12使得拾取器件2移動(dòng)到在盤1上用于校正的預(yù)定參考位置(步驟S31)。作為執(zhí)行徑向傾斜校正的位置的用于校正的參考位置是屬于例如根據(jù)自盤1上的中心的徑向距離適當(dāng)劃分的徑向內(nèi)部、徑向中間、徑向外部和徑向最外圓周區(qū)域之一(參見圖15A)。因此，第一次，用于校正的參考位置被設(shè)置為駐留在內(nèi)部圓周區(qū)域中的位置。
微計(jì)算機(jī)然后試圖讀取在用于校正的第一參考位置的RF信號(hào)，以確定是否獲得RF信號(hào)(步驟S32)。如果不能獲得RF信號(hào)，可以明白用于校正的參考位置存在于盤上的信息未記錄區(qū)域中。因此，微計(jì)算機(jī)12使用LPP信號(hào)的幅度來確定最佳的傾斜校正量。具體上，隨著在用于校正的參考位置逐漸變化徑向傾斜量，以檢測LPP信號(hào)幅度，確定示出了所檢測的LPP信號(hào)幅度的最大值的傾斜校正量(步驟S33)。
微計(jì)算機(jī)12然后將在上述偏移測量處理中獲得的ΔTilt加到在步驟S33獲得的傾斜校正量(步驟S34)。這個(gè)相加產(chǎn)生與最大化RF信號(hào)的幅度的傾斜量相同的傾斜量，因此作為最佳的傾斜校正量。
另一方面，當(dāng)在步驟S32發(fā)現(xiàn)可以獲取RF信號(hào)的情況下，在用于校正的參考位置以每預(yù)定數(shù)量改變傾斜校正量，以便可以確定最大化RF信號(hào)幅度的特定傾斜校正量，所述特定傾斜校正量作為最佳的傾斜校正量(步驟S37)。
微計(jì)算機(jī)12將在步驟S34或步驟S37獲得的最佳傾斜校正量存儲(chǔ)到校正簡檔存儲(chǔ)器中(步驟S35)。然后，微計(jì)算機(jī)12進(jìn)行確定是否已經(jīng)在所有的用于校正的參考位置完成了上述的處理(步驟S36)。如果這個(gè)確定示出未完成，則使得處理移動(dòng)到步驟S31，用于下一個(gè)用于校正的參考位置。這個(gè)重復(fù)允許所有預(yù)定的參考位置進(jìn)行最佳傾斜校正量的確定，因此完成校正簡檔并且結(jié)束它的產(chǎn)生處理。然后所述處理返回圖11所示的主例程。
當(dāng)完成校正簡檔時(shí)，微計(jì)算機(jī)12被允許進(jìn)行在徑向傾斜校正下執(zhí)行的記錄或再現(xiàn)操作(圖11的步驟S4)。圖14示出了與記錄或再現(xiàn)操作并行執(zhí)行的這個(gè)徑向傾斜校正。微計(jì)算機(jī)12通過經(jīng)由傾斜校正驅(qū)動(dòng)器13控制傾斜校正器2a來獲得徑向傾斜校正。
當(dāng)開始圖14所示的處理的時(shí)候，微計(jì)算機(jī)12首先確定是否用戶已經(jīng)命令向盤1記錄信息比特或從盤1再現(xiàn)信息比特(步驟S41)。當(dāng)確定已經(jīng)命令了記錄或再現(xiàn)時(shí)，微計(jì)算機(jī)12利用LPP信號(hào)或其他來獲取要進(jìn)行記錄或再現(xiàn)的地址(步驟S42)，然后從校正簡檔存儲(chǔ)器12a獲取與所獲取的地址對應(yīng)的最佳傾斜校正量(步驟S43)。而且，微計(jì)算機(jī)12根據(jù)所獲得的最佳傾斜校正量來驅(qū)動(dòng)傾斜驅(qū)動(dòng)器13(步驟S44)。在記錄或再現(xiàn)操作期間執(zhí)行在步驟S42-S44的上述的處理。
而且，微計(jì)算機(jī)12確定是否已經(jīng)命令結(jié)束記錄或再現(xiàn)操作(S45)。通過重復(fù)步驟S42-S44來持續(xù)處理，直到發(fā)出這個(gè)結(jié)束命令。當(dāng)接收到結(jié)束命令時(shí)，微計(jì)算機(jī)12將終止所述處理。
如上所述，在現(xiàn)有的示例中，在要記錄或再現(xiàn)的盤上的信息記錄區(qū)域和信息未記錄區(qū)域之間的邊界，獲得最大化RF信號(hào)幅度的第一傾斜量和最大化LPP信號(hào)幅度的第二傾斜量。第一和第二傾斜量用于計(jì)算出偏移ΔTilt。然后，在盤上的每個(gè)校正參考位置，如果盤已經(jīng)記錄了信息比特則基于RF信號(hào)或者如果盤還沒有記錄信息比特則基于LPP信號(hào)和偏移ΔTilt來確定最佳傾斜量，所確定的最佳傾斜量被存儲(chǔ)以形成校正簡檔。在這個(gè)盤的記錄或再現(xiàn)操作期間，校正簡檔被查詢以進(jìn)行徑向傾斜校正。
結(jié)果，因?yàn)槔弥饌€(gè)盤產(chǎn)生的校正簡檔來校正徑向傾斜，因此徑向傾斜校正變得更為準(zhǔn)確而與盤的類型無關(guān)。另外，負(fù)責(zé)記錄或再現(xiàn)信息比特的信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)本身能夠確定最佳傾斜校正量以產(chǎn)生校正簡檔。因此，即使存在信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)中的拾取器件、光學(xué)系統(tǒng)和/或其他的特性的不規(guī)則性，也可以根據(jù)這樣的特性來確定最佳傾斜校正量，因此提高了徑向傾斜校正的精度。而且，每當(dāng)盤進(jìn)行實(shí)際的再現(xiàn)和信息比特再現(xiàn)時(shí)，校正簡檔總是在記錄和再現(xiàn)之前被產(chǎn)生。即使由于光學(xué)系統(tǒng)的老化和/或由于在記錄/再現(xiàn)操作期間溫度的改變而在記錄或再現(xiàn)特性中存在波動(dòng)，這對徑向傾斜校正具有較少的影響。
(如何縮短產(chǎn)生校正簡檔的時(shí)間)如上所述，本實(shí)施例采用了在實(shí)際記錄或再現(xiàn)信息之前產(chǎn)生校正簡檔的技術(shù)。因此，如果花費(fèi)很長的時(shí)間來產(chǎn)生校正簡檔，則向信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)裝入盤的用戶應(yīng)當(dāng)?shù)却荛L時(shí)間直到記錄或再現(xiàn)開始。因此，所期望的是在盡可能短的時(shí)間內(nèi)完成校正簡檔的產(chǎn)生。在下面，提供了兩種技術(shù)來縮短用于產(chǎn)生校正簡檔的時(shí)間。
第一種技術(shù)涉及在產(chǎn)生校正簡檔期間的盤的旋轉(zhuǎn)控制。如圖13所示，為了產(chǎn)生校正簡檔，光束移動(dòng)到預(yù)定的用于校正的參考位置，其中隨著傾斜校正量逐漸被改變而檢測LPP信號(hào)，因此確定了最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜校正量。即，光束依序移動(dòng)到在盤上徑向方向的排列的多個(gè)位置，以便在每個(gè)徑向位置確定傾斜校正量。
但是，CLV控制要求盤的旋轉(zhuǎn)速度依賴于在盤上的每個(gè)徑向位置而不同。因此每次當(dāng)改變校正參考位置時(shí)必須將主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)速度控制為不同的速度。另外，需要某段時(shí)間來使得主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)速度穩(wěn)定，因此導(dǎo)致用于產(chǎn)生校正文件的時(shí)間過分延長。
考慮到這個(gè)缺陷，在產(chǎn)生校正簡檔期間，在CAV(恒定角速度)控制下旋轉(zhuǎn)盤。這消除了改變主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)速度的必要，因此縮短了控制盤的旋轉(zhuǎn)速度所需要的時(shí)間。順便提及，雖然存在在CLV控制下數(shù)據(jù)本身被記錄在盤上的事實(shí)，但可以在CAV控制下讀出數(shù)據(jù)。即，只要RF信號(hào)產(chǎn)生器4和LPP信號(hào)產(chǎn)生器3的頻率特征在一定程度上保持平坦，則雖然改變它們的時(shí)間跨度，要讀出的RF和LPP信號(hào)的幅度將不波動(dòng)。因此，在產(chǎn)生校正簡檔期間對RF和LPP信號(hào)進(jìn)行CAV控制下的幅度讀取的情況下，不發(fā)生任何問題。
另外，在CAV控制下產(chǎn)生校正簡檔的情況下，如果信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)僅具有在CAV控制下旋轉(zhuǎn)盤的能力則足夠；即，向信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)本身提供按照CAV控制獲取地址信息和其他的能力不總是必要的。
第二種技術(shù)涉及要測量的點(diǎn)的數(shù)量的減少。在上述的校正簡檔的產(chǎn)生中，必須使傾斜校正量波動(dòng)，以便測量LPP信號(hào)幅度以確定最佳的傾斜校正量(圖13的步驟S33)。在這個(gè)處理中，可以如下來減少測量點(diǎn)的數(shù)量。
從圖7A-7C和10A-10C可以明白，在傾斜校正量和LPP信號(hào)幅度之間的關(guān)系可以近似于一個(gè)二次函數(shù)(拋物線)。因此，最少測量三個(gè)點(diǎn)的LPP信號(hào)的幅度(即不同的傾斜校正量)使得有可能利用近似技術(shù)根據(jù)測量點(diǎn)來確定指示傾斜校正量和LPP信號(hào)幅度的函數(shù)，然后給最大化LPP信號(hào)幅度的傾斜校正量分配表示LPP信號(hào)幅度的峰值的傾斜校正量。這減少了用于測量LPP信號(hào)幅度的測量點(diǎn)的數(shù)量，其中可以加速校正簡檔的產(chǎn)生。
第一或第二技術(shù)的任何一個(gè)可以應(yīng)用到前述的實(shí)施例，而第一和第二種技術(shù)也可以被一起用于前述的實(shí)施例中。
(改進(jìn))前述的實(shí)施例已經(jīng)提供了這樣的配置，其中對在特定凹槽(另外，與其接近)的徑向外側(cè)上存在的平臺(tái)上形成的LPP(參見圖1)進(jìn)行LPP信號(hào)幅度的檢測。或者，對在特定凹槽的徑向內(nèi)側(cè)上存在的平臺(tái)上形成的LPP可以進(jìn)行LPP信號(hào)的幅度的檢測。在所檢測的來自徑向內(nèi)側(cè)平臺(tái)的LPP信號(hào)和來自凹槽的RF信號(hào)之間的相關(guān)性可以以與上面相同的方式被使用。而且，也可以一起使用來自特定凹槽的徑向內(nèi)側(cè)和外側(cè)上存在的兩個(gè)平臺(tái)的LPP信號(hào)的幅度。
而且，在上述的實(shí)施例中，已經(jīng)使用了底電平保持電路11來檢測LPP信號(hào)的幅度電平。在這種情況下，圖1所示的象限光檢測器PD必須檢測來自在記錄光道Gr的徑向外側(cè)上存在的LPP的信號(hào)的幅度電平。這個(gè)底電平保持電路11可以被替換為一個(gè)峰值保持電路，以便可以檢測來自在記錄光道Gr的徑向內(nèi)側(cè)上存在的LPP的信號(hào)的幅度電平，以便用于確定傾斜校正量。另一種選擇是峰值保持電路和底電平保持電路都被布置來檢測來自在記錄光道Gr的徑向內(nèi)側(cè)和外側(cè)上存在的LPP的信號(hào)的幅度電平。
而且，可以提供關(guān)于何時(shí)應(yīng)當(dāng)執(zhí)行上述處理的改進(jìn)。在上述的實(shí)施例中，在盤被裝入信息記錄/再現(xiàn)系統(tǒng)中之后，偏移測量和校正簡檔產(chǎn)生被設(shè)計(jì)以立即執(zhí)行?；蛘?，可以使用諸如等待下一次記錄操作的時(shí)段的、除了上述之外的各種其他定時(shí)來用于執(zhí)行偏移測量和校正簡檔產(chǎn)生。
在不脫離本發(fā)明的精神和必要特征的情況下，本發(fā)明可以以其他的具體形式被實(shí)現(xiàn)。因此，在所有方面，現(xiàn)有的實(shí)施例被考慮為說明性的而不是限制性的，本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求而不是由上述的說明來指示，因此包括在權(quán)利要求的等同物的含義和范圍內(nèi)的所有變化被包含于其中。
權(quán)利要求
1.一種傾斜校正裝置，用于校正要從拾取器件照射到盤的光束的傾斜量，其特征在于，所述傾斜校正裝置包括預(yù)置凹坑信號(hào)產(chǎn)生器(3)，它被配置以根據(jù)照射到盤上的光束的返回光，產(chǎn)生指示在盤上形成的預(yù)置凹坑的存在/不存在的預(yù)置凹坑信號(hào)；RF信號(hào)產(chǎn)生器(4)，它被配置以根據(jù)返回的光從記錄在盤上的信息比特產(chǎn)生RF信號(hào)；校正量確定單元(12)，它被配置來利用在預(yù)置凹坑信號(hào)和RF信號(hào)之間的關(guān)系，確定最佳傾斜校正量；和傾斜校正器(2a，12，13)，它被配置以根據(jù)最佳傾斜校正量來校正傾斜量。
2.如權(quán)利要求1所述的傾斜校正裝置，其特征在于校正量確定單元包括第一檢測器件(12)，它被配置來檢測第一傾斜量，所述第一傾斜量提供最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量；第二檢測器件(12)，它被配置來檢測第二傾斜量，所述第二傾斜量提供最大化預(yù)置凹坑信號(hào)幅度的傾斜量；計(jì)算器件(12)，它被配置來計(jì)算指示在第一和第二傾斜量之間的差的偏移傾斜量；和確定器件(12)，它被配置來利用偏移傾斜量而確定最佳傾斜校正量。
3.如權(quán)利要求2所述的傾斜校正裝置，其特征在于，所述校正量確定單元還包括邊界檢測器件(12)，它被配置來檢測在盤上的在信息記錄區(qū)域和信息未記錄區(qū)域之間存在的邊界，其中第一檢測器件被配置來檢測靠近所述邊界的信息記錄區(qū)域中的第一傾斜量，以及第二檢測器件被配置來檢測靠近所述邊界的信息未記錄區(qū)域中的第二傾斜量。
4.如權(quán)利要求2所述的傾斜校正裝置，其特征在于，所述校正量確定單元被配置成當(dāng)校正在盤上的信息記錄區(qū)域中的傾斜量時(shí)，基于RF信號(hào)確定最佳傾斜校正量，并且當(dāng)校正在盤上的信息未記錄區(qū)域中的傾斜量時(shí)，基于LPP信號(hào)和偏移傾斜量確定最佳傾斜校正量。
5.如權(quán)利要求2所述的傾斜校正裝置，其特征在于，所述校正量確定單元被配置成當(dāng)校正在盤上的信息記錄區(qū)域中的傾斜量時(shí)將與第一傾斜量相對應(yīng)的傾斜校正量確定為最佳傾斜校正量，并且將與第二傾斜量和偏移傾斜量之和相對應(yīng)的傾斜校正量確定為最佳傾斜校正量。
6.如權(quán)利要求1所述的傾斜校正裝置，其特征在于，所述校正量確定單元還包括校正簡檔產(chǎn)生器件(12)，被配置成可以在盤上預(yù)先確定的每個(gè)校正參考位置獲得最佳傾斜校正量，并且被配置成產(chǎn)生包括在每個(gè)校正參考位置的最佳傾斜校正量的校正簡檔。
7.如權(quán)利要求6所述的傾斜校正裝置，其特征在于，傾斜校正裝置還包括盤旋轉(zhuǎn)控制器(12)，它被配置成使得盤旋轉(zhuǎn)，盤旋轉(zhuǎn)控制器被配置成使得在所述校正量確定單元獲得在每個(gè)校正參考位置的最佳傾斜校正量的情況下，以恒定的角速度旋轉(zhuǎn)盤。
8.如權(quán)利要求1所述的傾斜校正裝置，其特征在于，傾斜校正裝置還包括存儲(chǔ)器(12a)。它被配置成存儲(chǔ)在盤的多個(gè)徑向位置的每個(gè)獲得的最佳傾斜校正量。
9.一種傾斜校正方法，用于校正從拾取器件向光盤照射的光束的傾斜量，所述方法包括步驟根據(jù)照射到盤上的光束的返回光，產(chǎn)生指示在盤上形成的預(yù)置凹坑的存在/不存在的預(yù)置凹坑信號(hào)；根據(jù)返回的光從記錄在盤上的信息比特產(chǎn)生RF信號(hào)；利用在預(yù)置凹坑信號(hào)和RF信號(hào)之間的關(guān)系，確定最佳傾斜校正量；根據(jù)最佳傾斜校正量來校正傾斜量。
全文摘要
不用專用的傾斜傳感器來校正照射到信息記錄盤上的光束的傾斜。根據(jù)在最大化RF信號(hào)幅度的傾斜量和最大化LPP信號(hào)幅度的另一個(gè)傾斜量之間的偏移量是恒定的和與同一盤上的位置無關(guān)的特點(diǎn)來執(zhí)行校正。從光束的返回光來產(chǎn)生指示在盤上形成的預(yù)置凹坑的存在/不存在的預(yù)置凹坑信號(hào)，而根據(jù)返回的光從在盤上記錄的信息比特產(chǎn)生RF信號(hào)。通過利用在預(yù)置凹坑信號(hào)和RF信號(hào)之間的關(guān)系來確定最佳傾斜校正量。利用最佳傾斜校正量來校正傾斜量。
文檔編號(hào)G11B7/005GK1490797SQ0315560
公開日2004年4月21日 申請日期2003年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月30日
發(fā)明者加藤正浩, 米竜大, 吉田茂, 石原完治, 治 申請人:日本先鋒公司