專利名稱：記錄數(shù)據(jù)的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于在可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)的記錄設(shè)備，其中，所述可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)上設(shè)有實(shí)質(zhì)上圓的記錄軌跡，所述可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)含有放置于記錄單元中的被記錄數(shù)據(jù)，所述記錄單元包含可尋址的讀取單元；該記錄設(shè)備包括-輸入裝置，用于接收數(shù)據(jù)；-記錄裝置，用于記錄數(shù)據(jù)；-讀取裝置，用于讀取記錄數(shù)據(jù)；-糾錯裝置，用于對所讀取的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行檢錯和糾錯；和-控制裝置，用于控制數(shù)據(jù)的記錄和讀?。槐景l(fā)明進(jìn)一步涉及用于檢查可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)上所存在的缺陷的一種檢查方法，以便調(diào)整(adapt)數(shù)據(jù)記錄的策略，介質(zhì)上設(shè)有實(shí)質(zhì)上圓的記錄軌跡，含有放置于記錄單元中的記錄數(shù)據(jù)，所述記錄單元包含可尋址的讀取單元。
背景技術(shù)：
上述設(shè)備的實(shí)施例可從國際專利申請WO 01/22416中得知。該申請所公開的記錄設(shè)備能夠?qū)筛膶懡橘|(zhì)，如CD-RW盤片，進(jìn)行初始化、格式化及缺陷管理。這使得CD-RW的應(yīng)用如同高容量的軟盤應(yīng)用一樣容易使用，使得文件的即時(shí)寫或讀成為可能。
WO 01/22416中所描述的缺陷管理，可能提供在格式化或讀/寫操作過程中發(fā)現(xiàn)的有關(guān)損壞的記錄單元的信息，記錄單元也稱為數(shù)據(jù)包。該信息存儲在盤片中?？墒牵?dāng)盤片存放在驅(qū)動器外面時(shí)，缺陷(如劃痕或指紋)的數(shù)量會增加。更糟糕的是，有關(guān)這些新缺陷的信息盤片上沒有記載。因而，在記錄操作中，所有的寫步驟不得不跟隨在檢驗(yàn)步驟之后，這樣在很大程度上降低了驅(qū)動器的性能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的首要目的就是要提供本文開頭一段中所述類型的、能夠提供有效記錄操作的記錄設(shè)備。
本發(fā)明的首要目的通過以下方式實(shí)現(xiàn)-設(shè)計(jì)控制裝置，使得可以通過下述步驟，檢查介質(zhì)是否存在缺陷，并調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略-通過讀取至少一部分記錄數(shù)據(jù)對介質(zhì)進(jìn)行掃描；-確定所讀取記錄數(shù)據(jù)的特征；-根據(jù)特征評定(rating)所讀取的記錄數(shù)據(jù)是否有缺陷，并且-根據(jù)評定的結(jié)果，調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略。
根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備，其優(yōu)點(diǎn)在于利用介質(zhì)上存儲的實(shí)際記錄數(shù)據(jù)對介質(zhì)進(jìn)行檢查，并根據(jù)檢查的結(jié)果調(diào)整數(shù)據(jù)記錄策略。
本記錄設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例中，控制裝置設(shè)計(jì)成可對介質(zhì)上每一個(gè)記錄單元中預(yù)定數(shù)量的讀取單元進(jìn)行掃描。如果記錄單元中所包含的任一讀取單元被評定為存在缺陷，則在缺陷記錄單元列表上列出該記錄單元。本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于可容易方便地檢測缺陷，該缺陷屬于特殊類型的缺陷，被稱為直接重寫(Direct-Over-Write)(DOW)缺陷。這些缺陷由介質(zhì)的有限的可能重寫(overwrite)的數(shù)量造成。讀取單元也稱為幀。
在本發(fā)明記錄設(shè)備的另一個(gè)實(shí)施例中，控制裝置如此設(shè)計(jì)在至少滿足以下條件之一的情況下，將所讀取的記錄數(shù)據(jù)評定為缺陷數(shù)據(jù)，-發(fā)現(xiàn)誤碼并糾錯；-發(fā)現(xiàn)誤碼，沒有糾錯；-讀取單元的地址中存在誤碼；-由于所讀取的記錄數(shù)據(jù)存在不一致，糾錯裝置不起作用。本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于它為評定被記錄數(shù)據(jù)提供了一個(gè)簡單而清晰的標(biāo)準(zhǔn)，可以用于有效地檢查介質(zhì)。
在本發(fā)明記錄設(shè)備的另一實(shí)施例中，控制裝置設(shè)計(jì)成可進(jìn)行介質(zhì)區(qū)域的選擇，區(qū)域也稱為區(qū)間(zone)，并檢查所選擇的區(qū)域。這種方式有利于提高檢查的速度，并且可以在本地進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄策略的調(diào)整。
如果控制裝置設(shè)計(jì)成可對包含在所選擇區(qū)域中預(yù)定數(shù)量的讀取單元進(jìn)行掃描，并當(dāng)其中任一讀取單元被評定為存在缺陷時(shí)，即將所選擇的區(qū)域列入缺陷區(qū)域列表，這種方式是有利的。在這種方式中，檢查的速度進(jìn)一步提升，并創(chuàng)建了一個(gè)“粗糙的(coarse)”缺陷列表，它可以用于快速做出有關(guān)數(shù)據(jù)記錄策略的決定。
本發(fā)明記錄設(shè)備的又一實(shí)施例的特征在于，數(shù)據(jù)記錄策略包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載在記錄單元中；和-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取在寫步驟中記載到記錄單元中的記錄數(shù)據(jù)，并將讀取到的記錄數(shù)據(jù)與原數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；-控制裝置設(shè)計(jì)成可對數(shù)據(jù)記錄策略進(jìn)行調(diào)整，以實(shí)現(xiàn)只在至少滿足下列條件之一的情況下，才進(jìn)行檢驗(yàn)步驟-仍然不結(jié)束檢查；-在缺陷記錄單元列表中列出記錄單元。
本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于在沒有缺陷的單元中寫入數(shù)據(jù)的速度會快很多，這樣就改進(jìn)了記錄設(shè)備的整體性能。
按以下方式對控制裝置進(jìn)行設(shè)計(jì)是有益的，使其對包含在缺陷區(qū)域列表中列出的區(qū)域中的每一個(gè)記錄單元中的所有讀取單元進(jìn)行掃描；并且如果包含在記錄單元中的任一讀取單元被評定為存在缺陷，則在缺陷記錄單元列表中列出該記錄單元。這樣能對在“快速”檢查中發(fā)現(xiàn)的缺陷區(qū)域進(jìn)行更準(zhǔn)確的檢驗(yàn)。
在本發(fā)明記錄設(shè)備的又一實(shí)施例中，控制裝置設(shè)計(jì)成可在介質(zhì)上兩個(gè)實(shí)質(zhì)上同心的實(shí)質(zhì)上為圓的記錄軌跡之間選擇圓環(huán)形區(qū)域。這種方式使得快速讀取記錄數(shù)據(jù)成為可能。
將控制裝置設(shè)計(jì)成可通過檢查圓環(huán)區(qū)域中間的測試記錄軌跡來檢查圓環(huán)形區(qū)域是有益的。其優(yōu)點(diǎn)是能使缺陷的搜索更加有效。
本發(fā)明的記錄設(shè)備的下一個(gè)實(shí)施例中，控制裝置設(shè)計(jì)成實(shí)質(zhì)上相隔200μm檢查測試記錄軌跡?？紤]到不能通過標(biāo)準(zhǔn)的糾錯裝置糾正的預(yù)料缺陷尺寸，此實(shí)施例是有利的。
另一個(gè)有利的實(shí)施例中，控制裝置設(shè)計(jì)成可測定介質(zhì)的記錄參數(shù)、利用記錄參數(shù)計(jì)算記錄軌跡的數(shù)量、通過跳過一定數(shù)量的記錄軌跡方式對讀取裝置進(jìn)行定位。通過在檢查階段對讀取裝置進(jìn)行快速且準(zhǔn)確的定位的方法，本實(shí)施例進(jìn)一步增強(qiáng)了記錄操作的性能。
本發(fā)明記錄設(shè)備的又一實(shí)施例的特征是將控制裝置設(shè)計(jì)成在記錄設(shè)備的空閑時(shí)間對介質(zhì)進(jìn)行檢查。其優(yōu)點(diǎn)是記錄設(shè)備幾乎總是準(zhǔn)備著接收讀/寫命令，這樣提高了記錄設(shè)備的性能。
本發(fā)明的第二個(gè)目的是提供一種本文開頭一段所述的方法，該方法可用于有效地進(jìn)行記錄操作。
本發(fā)明的第二個(gè)目的通過包括以下步驟的方法實(shí)現(xiàn)的-通過讀取至少一部分記錄數(shù)據(jù)對介質(zhì)進(jìn)行掃描；-確定所讀取的記錄數(shù)據(jù)的特征；-根據(jù)特征評定所讀取的記錄數(shù)據(jù)為有缺陷數(shù)據(jù)；-根據(jù)評定的結(jié)果，調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略。


本發(fā)明的設(shè)備和方法的這些方面和其它方面將結(jié)合附圖做進(jìn)一步說明和描述，其中圖1所示為記錄裝置的一個(gè)實(shí)施例；圖2所示為可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)中一部分的圖解平面視圖；圖3所示為檢查介質(zhì)是否存在缺陷的方法以便調(diào)整數(shù)據(jù)記錄策略的
具體實(shí)施例方式
圖1所示為本發(fā)明記錄設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例，用于在可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)11上記錄數(shù)據(jù)。圖1中的設(shè)備擁有用于在光學(xué)記錄介質(zhì)的記錄軌跡上記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置(21、22、25、28)，該裝置包括用于旋轉(zhuǎn)光學(xué)記錄介質(zhì)11的驅(qū)動單元21、讀/寫頭22(head)、用于讀/寫頭22在記錄軌跡徑向的粗定位的定位單元25、寫處理裝置28。讀/寫頭22包括 公知類型的光學(xué)系統(tǒng)，該光學(xué)系統(tǒng)用于產(chǎn)生輻射束24，通過光學(xué)元件引導(dǎo)輻射束，在光學(xué)記錄介質(zhì)的信息層的軌跡上聚焦成輻射斑點(diǎn)23。輻射束24由輻射源產(chǎn)生，如由激光二極管產(chǎn)生。讀/寫頭還包括(圖中未示出)聚焦激勵器(actuator)，用于將輻射束24的焦點(diǎn)順著所述束的光軸移動；跟蹤激勵器，用于將光斑23精細(xì)定位于軌跡中心的徑向上。跟蹤激勵器可以包括線圈，用于徑向移動光學(xué)元件，或者，被設(shè)置成用于變換反射元件的角度。
對于信息寫入操作，控制輻射束使其在介質(zhì)的記錄層產(chǎn)生光學(xué)可檢測的標(biāo)記。寫處理裝置28對從輸入裝置27接收到的信息進(jìn)行處理，產(chǎn)生寫信號，驅(qū)動讀/寫頭22。寫處理裝置28可以包括格式化器和調(diào)制器。注意，對于計(jì)算機(jī)應(yīng)用，主機(jī)可以直接與寫處理裝置28連接。因此數(shù)據(jù)接口既可以設(shè)在設(shè)備里(例如消費(fèi)視頻播放機(jī))，也可以設(shè)置在設(shè)備的外部(例如PC機(jī)的外圍設(shè)備)對于讀取操作，被介質(zhì)的信息層反射出來的輻射束，被讀/寫頭22上的通常類型檢測器——例如四象限二極管，檢測到，從而產(chǎn)生一個(gè)讀取信號，作為更進(jìn)一步的檢測器信號，包括跟蹤誤碼和聚焦誤碼信號用于控制所述的跟蹤和聚焦激勵器。讀取信號通過通常類型的讀處理單元30進(jìn)行處理以重現(xiàn)信息，所述讀處理單元30包括解調(diào)器、去格式器、和輸出單元。因此用于讀取信息的讀取裝置(21、22、25、30)包括驅(qū)動單元21、讀/寫頭22、定位單元25和讀處理單元30?？刂茊卧?0控制信息的記錄和讀取，可以設(shè)置成接收來自用戶或來自主機(jī)的命令?？刂茊卧?0通過控制線26——例如系統(tǒng)總線，與所述的輸入裝置27、寫處理裝置28、讀處理單元30、驅(qū)動單元21及定位單元25連接?？刂茊卧?0包括控制電路，例如微處理器、程序存儲器和控制柵，用于完成本發(fā)明如下所述的處理程序和功能?？刂茊卧?0也可以由邏輯電路中的狀態(tài)機(jī)器來實(shí)現(xiàn)。輸入裝置27對輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，該輸入數(shù)據(jù)傳送到寫處理裝置28用于增加控制數(shù)據(jù)和按照文件管理系統(tǒng)對數(shù)據(jù)進(jìn)行格式化。此外，格式化的數(shù)據(jù)被例如信道編碼器調(diào)制，產(chǎn)生一調(diào)制信號，驅(qū)動讀/寫頭22。另外，寫處理裝置可以包括同步裝置，使調(diào)制后的信號里包括同步模式。格式化的數(shù)據(jù)單元包括地址信息，并在控制單元20的控制下，寫入光學(xué)記錄介質(zhì)上相應(yīng)的可尋址的位置?？刂茊卧?0設(shè)置成記錄和重現(xiàn)指示被記錄信息卷位置的位置數(shù)據(jù)。在寫操作期間，在光學(xué)記錄介質(zhì)上生成代表這類信息的標(biāo)記。這些標(biāo)記可以是任何光可讀形式的，例如，當(dāng)記錄層是染料、合金或相變材料時(shí)，以反射系數(shù)與其周圍不同的區(qū)域形式；或者當(dāng)記錄層是磁光材料時(shí)，以磁化方向與周圍不同的區(qū)域形式。用于在光盤上進(jìn)行記錄的操作的信息的寫入和讀取，及可用的格式化、糾錯和信道編碼規(guī)則都是業(yè)內(nèi)公知的技術(shù)，如來自CD系統(tǒng)。標(biāo)記可以借助于來自激光二極管的電磁輻射波束24在記錄層產(chǎn)生的斑點(diǎn)形成。
由控制單元20對光學(xué)記錄介質(zhì)11進(jìn)行檢查。它必須查明光學(xué)記錄介質(zhì)上的缺陷。控制單元20通過讀取光學(xué)記錄介質(zhì)上的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行缺陷掃描，并采集在所讀取的幀上發(fā)現(xiàn)的誤碼信息。在寫操作過程中，控制單元20利用這一信息調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略。讀處理單元30包括糾錯裝置，用于對所讀數(shù)據(jù)進(jìn)行誤碼檢錯糾錯。這些裝置采用糾錯程序——如循環(huán)冗余校驗(yàn)，進(jìn)行糾錯?？刂茊卧?0根據(jù)采集到的在幀中發(fā)現(xiàn)的誤碼信息，評定所讀取的幀是否存在缺陷。對不可靠的幀不進(jìn)行校驗(yàn)。例如，對鏈接順序部分不進(jìn)行校驗(yàn)，對其認(rèn)可并跳過。這樣保證在檢查中避免增加由于對鏈接順序進(jìn)行校驗(yàn)而出現(xiàn)的假缺陷。
本發(fā)明記錄設(shè)備的一個(gè)實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，調(diào)整控制單元20使其采用下面的標(biāo)準(zhǔn)來識別缺陷幀-已執(zhí)行糾錯程序并且成功；-已執(zhí)行糾錯程序但未成功；-包含幀地址的幀頭遭損壞；-幀地址包括“不可能”的數(shù)據(jù)，它寫入正確，但其值是錯的；-由于數(shù)據(jù)存在矛盾，糾錯裝置不起作用；只要滿足以上條件中的一條，這個(gè)幀即評定為存在缺陷。應(yīng)當(dāng)注意，還可以使用別的不同標(biāo)準(zhǔn)來評定所讀取的幀是否存在缺陷。
本發(fā)明記錄設(shè)備的另一個(gè)實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的通過調(diào)整控制單元20，選擇介質(zhì)的區(qū)域并對所選擇的區(qū)域進(jìn)行檢查。
控制單元20可以進(jìn)一步地調(diào)整，對所選擇區(qū)域中的預(yù)定數(shù)量的幀進(jìn)行掃描。如果所選區(qū)域中任一所讀取的幀被評定為存在缺陷，則整個(gè)區(qū)域可認(rèn)為是缺陷的，控制單元采集這類區(qū)域的信息。
檢查的結(jié)果對數(shù)據(jù)記錄策略是重要的。它包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載到記錄單元中；和-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取寫步驟所記錄的數(shù)據(jù)，并將所記錄的數(shù)據(jù)與原數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。
在本發(fā)明記錄設(shè)備的另一實(shí)施例中，對控制單元20進(jìn)行調(diào)整，使得當(dāng)將要寫入數(shù)據(jù)的區(qū)域已經(jīng)掃描并查明沒有缺陷時(shí)，不經(jīng)檢驗(yàn)步驟就執(zhí)行寫命令。
一個(gè)有利的方式是調(diào)整控制單元20，使其可以執(zhí)行兩種檢查快速掃描和精細(xì)掃描。例如，快速掃描從備用區(qū)域起點(diǎn)開始沿盤片的半徑越過一預(yù)定的距離直到盤片邊緣。在每一掃描位置，對一條測試記錄軌跡進(jìn)行檢查。這一檢查是通過讀取軌跡上的全部幀來完成的。用這種方式，檢查環(huán)形區(qū)間——位于兩個(gè)測試記錄軌跡之間、與區(qū)間中間的特定測試記錄軌跡相鄰的區(qū)域，如圖2所示?？焖賿呙栌糜诓檎掖蟮娜毕萑鐒澓邸⑽埸c(diǎn)及指紋等。鑒于所預(yù)料的缺陷的尺寸，當(dāng)其不能由標(biāo)準(zhǔn)的糾錯裝置進(jìn)行糾錯，則兩個(gè)連續(xù)的測試記錄軌跡之間最佳間隔為200μm。
控制單元20可以進(jìn)行修改，所以在快速掃描期間發(fā)現(xiàn)缺陷的區(qū)間，可以通過讀取屬于缺陷區(qū)間的數(shù)據(jù)包中全部的幀來進(jìn)行檢驗(yàn)。如果一特定數(shù)據(jù)包中的所讀取的幀中的任一幀被評定為存在缺陷，則認(rèn)為整個(gè)數(shù)據(jù)包存在缺陷?？刂茊卧?0對所發(fā)現(xiàn)的存在缺陷的數(shù)據(jù)包的有關(guān)信息進(jìn)行采集。
精細(xì)掃描的操作與快速掃描不同。其目標(biāo)是通過在每數(shù)據(jù)包中至少讀取一幀，對每個(gè)數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢查。其目的是發(fā)現(xiàn)DOW問題。記錄設(shè)備只有將數(shù)據(jù)包分解才能寫入，所以寫入的數(shù)量對數(shù)據(jù)包中每一幀都是相同的。如果存在DOW問題，在數(shù)據(jù)包的全部幀中都應(yīng)當(dāng)出現(xiàn)。這是精細(xì)掃描的根本之處。例如，精細(xì)掃描從備用區(qū)域的第一個(gè)數(shù)據(jù)包開始，向前經(jīng)過下一數(shù)據(jù)包直到介質(zhì)的邊緣。每次精細(xì)掃描在每個(gè)數(shù)據(jù)包中至少讀取一幀，測定當(dāng)前數(shù)據(jù)包是否存在缺陷。如果存在缺陷，控制單元20采集當(dāng)前數(shù)據(jù)包的有關(guān)信息。
在本發(fā)明記錄設(shè)備的另一實(shí)施例中，調(diào)整控制單元20，使得當(dāng)要在其中寫入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)包沒被控制單元指出存在缺陷，并且檢查已完成的情況下，寫命令的執(zhí)行不經(jīng)檢驗(yàn)步驟。
應(yīng)當(dāng)注意，控制單元20能夠執(zhí)行快速掃描(quick scan)和快掃描(fast scan)，當(dāng)作兩種檢查過程或一次檢查的兩階段，這種檢查的優(yōu)點(diǎn)是能夠提供相當(dāng)詳細(xì)且快速的有關(guān)介質(zhì)缺陷的信息。
用戶希望介質(zhì)插入記錄設(shè)備后即可使用。因此為利于實(shí)現(xiàn)這點(diǎn)，在另一實(shí)施例中，對控制單元20進(jìn)行調(diào)整，使得在檢查介質(zhì)期間，處理緊急的命令，即所有的訪問命令將使檢查程序中斷，以便盡可能快地訪問介質(zhì)。之后再進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫入和檢驗(yàn)。執(zhí)行完訪問命令后，中斷的檢查程序?qū)倮^續(xù)進(jìn)行。
本發(fā)明記錄設(shè)備的又一實(shí)施例可以通過以下方式實(shí)現(xiàn)，調(diào)整控制單元20，使記錄設(shè)備在進(jìn)行介質(zhì)檢查前一段時(shí)間處于空閑狀態(tài)?？臻e時(shí)間最好為4秒，因而無論是插入介質(zhì)后開始的第一次檢查，還是中斷后再繼續(xù)的檢查都只能當(dāng)空閑時(shí)間已經(jīng)過去后才執(zhí)行。這樣可以避免在檢查和命令執(zhí)行之間進(jìn)行頻繁地轉(zhuǎn)換。
檢查過程必須比讀取過程快很多，否則對缺陷的檢查就需在驅(qū)動器的靜止?fàn)顟B(tài)下進(jìn)行后臺讀取。有可能通過下述方式實(shí)現(xiàn)如此快速的檢查-將驅(qū)動器的速度提高到最大讀取速度(如32倍速)，并盡可能快地讀取所有的介質(zhì)數(shù)據(jù)，或通過-運(yùn)用一種非常快的特殊的算法，這種算法不采用通常的(及慢速的)驅(qū)動查找措施，但是它足夠精確以至于允許訪問介質(zhì)上的所有數(shù)據(jù)包。
第一種可能性不能用于檢查，因?yàn)樗仨氃谟涗浽O(shè)備的空閑時(shí)間進(jìn)行?？墒且坏┯脩舭l(fā)出讀取或?qū)懭朊?，它即會中斷。在此情況下，例如主機(jī)將必須等待，直到盤片的旋轉(zhuǎn)速度降低到所需的讀取速度。選擇的讀取速度與寫入速度相同，因而該選擇取決于盤片的特征。選取相同的寫入和讀取速度的原因是要避免在讀、寫命令之間不斷地改變速度。在命令執(zhí)行前，主機(jī)每次都會等待設(shè)備。
在檢查過程中讀/寫頭22的位置由控制單元20進(jìn)行控制。為此目的，控制單元20可以采用一個(gè)包含光學(xué)記錄介質(zhì)11上的位置地址的地址列表，讀/寫頭將由會“訪問”這些地址。這些地址可以使用盤片和軌跡的幾何形狀的靜態(tài)模型計(jì)算出來。該模型用絕對時(shí)間界定盤片上的位置(取決于當(dāng)前的半徑)。這個(gè)時(shí)間可以轉(zhuǎn)換成如MSF地址，如已知的CD-ROM標(biāo)準(zhǔn)。從列表中查找MSF地址，即可確定讀/寫頭的位置。
可以調(diào)整控制單元20以利于使用更精確的模型計(jì)算光學(xué)記錄介質(zhì)上的位置。由于允許盤片有大的機(jī)械公差，每一張盤片在軌跡的開始處的半徑、軌跡之間的距離、軌跡斜度等方面可能有輕微不同?？紤]到所有可能出現(xiàn)的情況，只有一種方法可以對所有的盤片提供相同一致的伺服即使用從盤片插入設(shè)備后的校準(zhǔn)過程中獲得的實(shí)際的盤片參數(shù)。比特引擎數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)(Bit Engine data structures)原理中對該方法有細(xì)節(jié)闡述，因而其結(jié)果是使用比特引擎函數(shù)(Bit Engine data)進(jìn)行計(jì)算。
另一種有利于提高檢查速度的方法是調(diào)整控制單元20，使其采用跳過凹槽的方式來替代查找MSF地址的方式，從而對讀/寫頭進(jìn)行定位。因而，實(shí)際方法的是從光學(xué)記錄介質(zhì)的已知位置處(例如，備用區(qū)域的開始處)開始，沿所有的備用區(qū)和數(shù)據(jù)區(qū)跳過所需的距離。該距離(例如，對于快速掃描是一個(gè)區(qū)間，對于精細(xì)掃描是一個(gè)數(shù)據(jù)包)使用實(shí)際的光學(xué)記錄介質(zhì)參數(shù)和計(jì)算程序，由凹槽的數(shù)量來表示。
要跳過的凹槽的數(shù)量按以下方法估算-將讀/寫頭定位在已知位置；-從列表中得知下一個(gè)掃描位置的地址；-控制單元20使用地址和實(shí)際光學(xué)記錄介質(zhì)參數(shù)兩種數(shù)據(jù)對凹槽的數(shù)量進(jìn)行計(jì)算；-讀/寫頭跳越過計(jì)算得出的凹槽的數(shù)量，控制單元20檢查當(dāng)前地址是否是所需的地址；-如果是，檢查是否存在缺陷，否則再進(jìn)行另外的嘗試。
在實(shí)際的掃描位置(跳越后)進(jìn)行讀取，可以得到實(shí)際的地址，此地址數(shù)據(jù)可以提供給下一步的運(yùn)算以計(jì)算出下一個(gè)位置。同樣的算法可以用于快速掃描和精細(xì)掃描。通過查找MSF地址的方式對已知位置(地址)進(jìn)行第一次(初始)設(shè)定。
對于讀取速度為8倍速的掃描，這種算法效果較好，但發(fā)現(xiàn)對于讀取速度為4倍速的精細(xì)掃描這種算法的效果還好很多。這是彌補(bǔ)的作用，比特引擎函數(shù)用彌補(bǔ)方式保證當(dāng)前查找到的位置不被跳過。先前的算法(跳過凹槽找到下一個(gè)數(shù)據(jù)包)效果好，可是在更高的速度時(shí)，為找到下一個(gè)掃描位置，需要進(jìn)行多次嘗試。這樣比起4倍速掃描，8倍速的掃描將花費(fèi)更多時(shí)間。
本發(fā)明記錄設(shè)備的又一實(shí)施例按以下方式實(shí)現(xiàn)，調(diào)整控制單元20，使其只有當(dāng)介質(zhì)的格式化完成后，才對介質(zhì)進(jìn)行檢查，即以CD-ROM兼容的方式。萬一介質(zhì)的格式化不完全，則有對其重新進(jìn)行格式化的可能。假定介質(zhì)已插入驅(qū)動器，主機(jī)發(fā)出格式化命令，在這種情況下，就不會執(zhí)行檢查。當(dāng)介質(zhì)被完全格式化，就無需對其進(jìn)行檢查，因?yàn)樵诟袷酱_認(rèn)期間，可以查找到所有的缺陷。另一方面，當(dāng)已經(jīng)格式化的介質(zhì)被插入到記錄設(shè)備中時(shí)，設(shè)備正忙于讀取或/和寫入，直到記錄設(shè)備進(jìn)入空閑狀態(tài)，才會開始檢查。
圖2所示為可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)11其中一部分的俯視(平面)圖。這類介質(zhì)可以是CD-RW或CD+RW、或稱為藍(lán)輻射束盤片(BD)的采用藍(lán)色激光的高密度可改寫盤片。光學(xué)記錄介質(zhì)11設(shè)有多個(gè)實(shí)質(zhì)上圓的記錄軌跡12。為說明本發(fā)明，圖2所示的記錄介質(zhì)11上示出2個(gè)由于劃痕引起的盤片缺陷13和14。
第一劃痕13的尺寸較小。因而，由劃痕13造成的記錄軌跡12的破壞、受到影響的軌跡長度較小，受第一劃痕13影響的軌跡數(shù)量也相對較小。
CD-RW，DVD+RW和特殊的BD系統(tǒng)都采用了強(qiáng)大的糾錯機(jī)制，所以它們對于較小軌跡長度上出現(xiàn)的誤碼有實(shí)質(zhì)上的免疫力。只有當(dāng)受到影響的軌跡長度變得較大以至該糾錯機(jī)制不能夠糾正時(shí)，才會產(chǎn)生記錄誤碼。以較大劃痕缺陷14來說明此情況，從圖2可以明顯看出受較大劃痕14影響的記錄軌跡12的數(shù)量比受較小劃痕13影響的記錄軌跡的數(shù)量要多。根據(jù)本發(fā)明，記錄軌跡12的測試是通過讀取在先記錄包括格式化過程中記錄的數(shù)據(jù)來進(jìn)行的。在個(gè)別實(shí)施例中，建議只檢查有限數(shù)量的光學(xué)記錄介質(zhì)11的記錄軌跡，將被檢查的軌跡稱為“測試記錄軌跡”。圖2以較粗的線條15示出了其中一些測試軌跡。劃痕14可以通過快速掃描查找，缺陷區(qū)間16可以通過掃描屬于它的所有數(shù)據(jù)幀來進(jìn)行詳細(xì)檢查。連續(xù)的測試軌跡15之間分開預(yù)定的距離D。在下面的敘述中，作為舉例，假設(shè)D為200μm。當(dāng)然，很明顯，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，D可以選擇任何其它合適的值。
圖3所示為根據(jù)本發(fā)明，檢查寫有數(shù)據(jù)的可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)的方法的實(shí)施例。該方法包括四個(gè)主要步驟。在步驟101中，通過至少讀取所記錄數(shù)據(jù)的一部分，對介質(zhì)進(jìn)行掃描。之后在步驟102中對所讀取的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行特性測定。這是通過分析所讀取的記錄數(shù)據(jù)的不同特性來進(jìn)行的，但是對數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)、及檢錯糾錯結(jié)果的分析更可取。在下一步驟103中，根據(jù)步驟102測定的特性對所讀取的記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行評定。該評定用于查明數(shù)據(jù)是否存在缺陷。在評定數(shù)據(jù)是否存在缺陷時(shí)，有不同的標(biāo)準(zhǔn)可以應(yīng)用。所述缺陷，是指數(shù)據(jù)的錯誤結(jié)構(gòu)或由檢錯糾錯程序報(bào)告的錯誤。評定的結(jié)果用于調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略，這是步驟104的工作。
圖4所示為檢查記錄介質(zhì)的方法的另一實(shí)施例。在該實(shí)施例中，要對介質(zhì)上的全部數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢查。這是為了查找DOW缺陷。在步驟201中對數(shù)據(jù)包中預(yù)定數(shù)量的幀進(jìn)行掃描。這些數(shù)據(jù)幀的特性在步驟202中進(jìn)行測定，在步驟203中進(jìn)行缺陷評定。在步驟204中，檢查是否有任何數(shù)據(jù)幀被評定為包含有缺陷數(shù)據(jù)。如果有，則在下一步驟205中，將包含這些幀的數(shù)據(jù)包在缺陷數(shù)據(jù)包列表中列出。在步驟206中查詢是否有更多的數(shù)據(jù)包要進(jìn)行檢查。如果有更多的這種數(shù)據(jù)包，回到步驟201對下一數(shù)據(jù)包進(jìn)行分析。步驟207中對數(shù)據(jù)記錄策略進(jìn)行調(diào)整。應(yīng)當(dāng)注意，這一步驟也可以在完成對所有數(shù)據(jù)包的檢查之前進(jìn)行，如208中所示出的。
在檢查記錄介質(zhì)的方法的另一實(shí)施例中，在步驟201中只對數(shù)據(jù)包中的一個(gè)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行掃描。
檢查記錄介質(zhì)的方法的又一實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的使用一種在所讀取的記錄數(shù)據(jù)中進(jìn)行檢錯糾錯的裝置，只要滿足下列條件之一，則將數(shù)據(jù)評定為缺陷數(shù)據(jù)(在步驟103、203、303或403中)-發(fā)現(xiàn)誤碼并已糾正；-發(fā)現(xiàn)誤碼但未糾正；-誤碼存在于幀的地址中；-數(shù)據(jù)存在矛盾，檢錯糾錯裝置不起作用。
還有另一個(gè)本發(fā)明檢查記錄介質(zhì)的方法的實(shí)施例，通過選擇介質(zhì)的區(qū)域并在所選的區(qū)域進(jìn)行檢查。
圖5所示檢查記錄介質(zhì)的方法的一個(gè)實(shí)施例，其中，在步驟301中對介質(zhì)上的選定的區(qū)域上的預(yù)定數(shù)量的數(shù)據(jù)幀進(jìn)行掃描。在步驟302對數(shù)據(jù)幀的特性進(jìn)行測定，并在步驟303進(jìn)行缺陷評定。在步驟304中，檢查是否有任何數(shù)據(jù)幀被評定為包含有缺陷數(shù)據(jù)。如果有，則在下一步驟305中，將包含這些幀的所選的區(qū)域在缺陷區(qū)域列表中列出。在步驟306中查詢是否有更多的區(qū)域要進(jìn)行檢查。如果有更多的這種區(qū)域，回到步驟301對下一區(qū)域進(jìn)行分析。步驟307中對數(shù)據(jù)記錄策略進(jìn)行調(diào)整。應(yīng)當(dāng)注意，這一步驟也可以在完成對所有選擇的區(qū)域的檢查之前進(jìn)行，如308中所指出的。
數(shù)據(jù)記錄策略可以包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載在記錄單元中；和
-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取在寫步驟中記載到記錄單元中的記錄數(shù)據(jù)，并將讀取到的記錄數(shù)據(jù)與原數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；對記錄介質(zhì)的檢查方法的有利的另一實(shí)施例中，調(diào)整數(shù)據(jù)記錄策略，以便當(dāng)數(shù)據(jù)即將寫入的區(qū)域已經(jīng)掃描并且不包含缺陷時(shí)，可以不經(jīng)檢驗(yàn)程序，即執(zhí)行寫命令。
圖6所示為記錄介質(zhì)的檢查方法的一個(gè)實(shí)施例。在該實(shí)施例中，缺陷區(qū)域列表中列出的全部數(shù)據(jù)幀都要進(jìn)行檢查。在步驟401，對缺陷區(qū)域列表中列出的區(qū)域中的一個(gè)數(shù)據(jù)幀進(jìn)行掃描。在步驟402對數(shù)據(jù)幀的特性進(jìn)行測定，并在步驟403進(jìn)行缺陷評定。在步驟404中，檢查是否有任何數(shù)據(jù)幀被評定為包含有缺陷數(shù)據(jù)。如果有，則在下一步驟405中，將包含這些幀的數(shù)據(jù)包在缺陷數(shù)據(jù)包列表中列出。在步驟406中查詢是否有更多的數(shù)據(jù)幀要進(jìn)行檢查。如果有更多的這種數(shù)據(jù)幀，回到步驟401，對下一數(shù)據(jù)幀進(jìn)行分析。步驟407中對數(shù)據(jù)記錄策略進(jìn)行調(diào)整。應(yīng)當(dāng)注意，這一步驟也可以在完成對所有數(shù)據(jù)包的檢查之前進(jìn)行，如408中所示出的。
在記錄介質(zhì)的檢查方法的又一實(shí)施例中，調(diào)整數(shù)據(jù)記錄策略，以便當(dāng)數(shù)據(jù)即將寫入的數(shù)據(jù)包未列入缺陷數(shù)據(jù)包列表中并且已經(jīng)完成檢查，可以不經(jīng)檢驗(yàn)程序，即執(zhí)行寫命令。
記錄介質(zhì)的檢查方法的下一實(shí)施例的特征在于所選用于檢查的區(qū)域是介質(zhì)上位于兩個(gè)同心圓環(huán)形記錄軌跡之間的圓環(huán)。
根據(jù)本發(fā)明記錄介質(zhì)的檢查方法的一個(gè)實(shí)施例，通過掃描圓環(huán)形區(qū)域中間的測試記錄軌跡的方式對所選的用于檢查的圓環(huán)形區(qū)域進(jìn)行檢查。
在另一實(shí)施例中，在步驟301中，對包含在所選圓環(huán)形區(qū)域中間的測試軌跡中的全部數(shù)據(jù)幀進(jìn)行掃描。
對于其缺陷的尺寸太大，不能由標(biāo)準(zhǔn)的糾錯方式進(jìn)行糾錯的缺陷，記錄介質(zhì)的檢查方法的如下實(shí)施例的方式是有利的兩個(gè)連續(xù)的測試記錄軌跡之間的間隔為200μm。
記錄介質(zhì)的檢查方法的又一實(shí)施例的特征在于，步驟101、201、301或401的記錄數(shù)據(jù)的掃描包括定位讀取方法子步驟，其定位方法是從預(yù)定的地址列表中查找數(shù)據(jù)幀的地址。
記錄介質(zhì)的檢查方法的又一實(shí)施例的特征在于，步驟101、201、301或401中的記錄數(shù)據(jù)的掃描，包括定位讀取方法子步驟，其定位方法是跳過幾個(gè)記錄軌跡，其中跳過的數(shù)量包含在一個(gè)預(yù)定的位置列表中。
在下述的記錄介質(zhì)的檢查方法的優(yōu)選實(shí)施例中，步驟101、201、301或401的記錄數(shù)據(jù)掃描操作包括以下子步驟-測定介質(zhì)的記錄參數(shù)-使用記錄參數(shù)計(jì)算記錄軌跡的數(shù)量-通過跳過所計(jì)算出的記錄軌跡的數(shù)量，對讀取裝置進(jìn)行定位。
記錄介質(zhì)的檢查方法的另一有利的實(shí)施例中，對方法進(jìn)行了調(diào)整，使得緊湊的命令，在介質(zhì)的檢查期間進(jìn)行透明地處理，如由自計(jì)算機(jī)主機(jī)發(fā)送到記錄設(shè)備用于執(zhí)行檢查的命令，盡管所有的訪問命令都會將檢查操作中斷，以實(shí)現(xiàn)對介質(zhì)盡可能快的訪問。被中斷的檢查在訪問命令執(zhí)行之后再繼續(xù)進(jìn)行。
記錄介質(zhì)的檢查方法的另一實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的當(dāng)檢查操作再次開始前的一段時(shí)間，需要記錄設(shè)備保持在空閑狀態(tài)。空閑時(shí)間的優(yōu)選設(shè)置是4秒，因而，無論是介質(zhì)插入后的第一次開始的檢查，或是從中斷狀態(tài)再繼續(xù)的檢查，都只能發(fā)生在空閑時(shí)間已經(jīng)過去之后。
盡管本發(fā)明借助優(yōu)選的實(shí)施例進(jìn)行說明的，但是本發(fā)明并不局限于這些實(shí)施例。對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以對本發(fā)明進(jìn)行各種顯而易見的改進(jìn)，而不超出本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。進(jìn)一步theinvention lies in each and every novel feature or combinationof features described above.注意，本發(fā)明可以通過通用的處理器執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序或由指定的硬件或兩種硬件的組合，并且在本文中“包括”這個(gè)詞是開放性的用法，不排除其它未列出的元件和步驟，“一個(gè)”這一詞限定元件時(shí)，不排除多個(gè)這種元件的存在，任何參考信息不限制權(quán)利要求的范圍，“裝置”可以由單數(shù)或復(fù)數(shù)項(xiàng)表示，幾個(gè)“裝置”可以由相同類型的硬件項(xiàng)表示。
權(quán)利要求
1.一種用于在可改寫光記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)的記錄設(shè)備，其中，所述可改寫光記錄介質(zhì)上設(shè)有實(shí)質(zhì)上是圓的記錄軌跡，所述可改寫光記錄介質(zhì)包括放置于記錄單元中的記錄數(shù)據(jù)，所述記錄單元包含可尋址的讀取單元；該記錄設(shè)備包括-輸入裝置，用于接收數(shù)據(jù)；-記錄裝置，用于記錄數(shù)據(jù)；-讀取裝置，用于讀取記錄數(shù)據(jù)；-糾錯裝置，用于發(fā)現(xiàn)并糾正所讀取的記錄數(shù)據(jù)中的誤碼；-控制裝置，用于控制數(shù)據(jù)的記錄和讀?。黄涮卣髟谟谒隹刂蒲b置設(shè)計(jì)成通過執(zhí)行以下步驟檢查介質(zhì)是否存在缺陷并調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略-通過讀取至少一部分記錄數(shù)據(jù)對介質(zhì)進(jìn)行掃描；-確定所讀取的記錄數(shù)據(jù)的特征；-根據(jù)所述特征評定所讀取的記錄數(shù)據(jù)為有缺陷數(shù)據(jù)，并且-根據(jù)評定的結(jié)果，調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略。
2.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于-控制裝置設(shè)計(jì)成可對介質(zhì)上每一個(gè)記錄單元中預(yù)定數(shù)量的讀取單元進(jìn)行掃描；-如果記錄單元中所包含的任一讀取單元被評定為存在缺陷，則在缺陷記錄單元列表上列出該記錄單元。
3.如權(quán)利要求2所述的記錄設(shè)備，其特征在于讀取單元的預(yù)定數(shù)量等于1。
4.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于所述控制裝置設(shè)計(jì)成在至少滿足以下條件之一的情況下將所讀取的記錄數(shù)據(jù)評定為缺陷數(shù)據(jù)-發(fā)現(xiàn)誤碼并糾錯；-發(fā)現(xiàn)誤碼，沒有糾錯；-讀取單元的地址中存在誤碼；-由于所讀取的記錄數(shù)據(jù)不一致，不能使用糾錯裝置。
5.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于所述控制裝置設(shè)計(jì)成選擇介質(zhì)的區(qū)域并檢查所選的區(qū)域。
6.如權(quán)利要求5所述的記錄設(shè)備，其特征在于所述控制裝置設(shè)計(jì)成對包含在所選擇區(qū)域中預(yù)定數(shù)量的讀取單元進(jìn)行掃描，如果任一讀取單元被評定為存在缺陷，則在缺陷區(qū)域列表中列出該所選擇的區(qū)域。
7.如權(quán)利要求6所述的記錄設(shè)備，其特征在于數(shù)據(jù)記錄策略包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載在記錄單元中；和-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取在寫步驟中記載到記錄單元中的數(shù)據(jù)，并將記錄數(shù)據(jù)與該數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；-控制裝置設(shè)計(jì)成可對數(shù)據(jù)記錄策略進(jìn)行調(diào)整，以實(shí)現(xiàn)只在至少滿足下列條件之一的情況下才進(jìn)行檢驗(yàn)步驟-檢查沒有完成；-記錄單元包含在缺陷區(qū)域列表所列出的某一區(qū)域中。
8.如權(quán)利要求2或6所述的記錄設(shè)備，其特征在于-控制裝置設(shè)計(jì)成可對包含在缺陷區(qū)域列表中列出的區(qū)域中的每一個(gè)記錄單元中的所有讀取單元進(jìn)行掃描；并且-如果包含在記錄單元中的任一讀取單元被評定為存在缺陷，在缺陷記錄單元列表中列出該記錄單元，
9.如權(quán)利要求8所述的記錄設(shè)備，其特征在于數(shù)據(jù)記錄策略包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載在記錄單元中；和-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取在寫步驟中記載到記錄單元中的記錄數(shù)據(jù)，并將記錄數(shù)據(jù)與該數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；-控制裝置設(shè)計(jì)成可對數(shù)據(jù)記錄策略進(jìn)行調(diào)整，以實(shí)現(xiàn)只在至少滿足下列條件之一的情況下才進(jìn)行檢驗(yàn)步驟-檢查沒有完成；-在缺陷記錄單元列表中列出該記錄單元。
10.如權(quán)利要求6所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成可在介質(zhì)上兩個(gè)實(shí)質(zhì)上同心的實(shí)質(zhì)上為圓的記錄軌跡之間選擇圓環(huán)形區(qū)域。
11.如權(quán)利要求10所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成可通過檢查圓環(huán)形區(qū)域中間的測試記錄軌跡來檢查圓環(huán)形區(qū)域，
12.如權(quán)利要求11所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成實(shí)質(zhì)上相隔200μm檢查測試記錄軌跡。
13.如權(quán)利要求11所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成可對沿測試記錄軌跡上的基本上所有讀取單元進(jìn)行掃描。
14.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成可通過從預(yù)定的列表中查找讀取單元地址的方式對讀取裝置進(jìn)行定位。
15.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成可通過跳過若干數(shù)量的記錄軌跡對讀取裝置進(jìn)行定位，該數(shù)量是從預(yù)定的列表中讀取。
16.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成確定介質(zhì)的記錄參數(shù)、利用記錄參數(shù)計(jì)算若干數(shù)量的記錄軌跡、通過跳過該若干數(shù)量的記錄軌跡對讀取裝置進(jìn)行定位。
17.如權(quán)利要求1所述的記錄設(shè)備，其特征在于控制裝置設(shè)計(jì)成在記錄設(shè)備的空閑時(shí)間對介質(zhì)進(jìn)行檢查。
18.一種用于檢查可改寫光記錄介質(zhì)是否存在缺陷以便調(diào)整數(shù)據(jù)記錄策略的方法，所述介質(zhì)設(shè)有實(shí)質(zhì)上為圓的記錄軌跡，包含放置在記錄單元中的被記錄數(shù)據(jù)，所述記錄單元包含可尋址的讀取單元；該方法包括下述步驟-通過讀取至少一部分記錄數(shù)據(jù)對介質(zhì)進(jìn)行掃描；-確定所讀取記錄數(shù)據(jù)的特征；-根據(jù)所述的特征評定所讀取的記錄數(shù)據(jù)為缺陷數(shù)據(jù)；-根據(jù)評定的結(jié)果，調(diào)整數(shù)據(jù)記錄的策略。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于-對介質(zhì)上每一個(gè)記錄單元中預(yù)定數(shù)量的讀取單元進(jìn)行掃描；和-如果記錄單元中所包含的任一讀取單元被評定為存在缺陷，則在缺陷記錄單元列表上列出該記錄單元。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于所述讀取單元的預(yù)定的數(shù)量等于1。
21.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于-在所讀取的記錄數(shù)據(jù)中檢錯并糾錯；和-當(dāng)至少滿足以下條件之一的情況下將所讀取的記錄數(shù)據(jù)評定為缺陷數(shù)據(jù)-發(fā)現(xiàn)了誤碼，并糾錯誤碼；-發(fā)現(xiàn)了誤碼，但沒有糾錯誤碼；-讀取單元的地址中存在誤碼；-由于所讀取的記錄數(shù)據(jù)存在不一致，無法檢錯誤碼和糾錯誤碼。
22.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于對介質(zhì)上選定的區(qū)域進(jìn)行檢查。
23.如權(quán)利要求22所述的方法，其特征在于-對所選擇的區(qū)域中的預(yù)定數(shù)量的讀取單元進(jìn)行掃描；和-如果任一讀取單元被評定為存在缺陷，則在缺陷區(qū)域列表在列出所選擇的區(qū)域。
24.如權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于數(shù)據(jù)記錄策略包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載在記錄單元中；和-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取在寫步驟中記載到記錄單元中的數(shù)據(jù)，并將記錄的數(shù)據(jù)與該數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；-只在至少滿足下列條件之一的情況下才進(jìn)行檢驗(yàn)步驟-檢查沒有完成；-記錄單元包含于缺陷區(qū)域列表所列出的某一區(qū)域中。
25.如權(quán)利要求19或23所述的方法，其特征在于-對包含在缺陷區(qū)域列表中列出的區(qū)域中的每一個(gè)記錄單元中的所有讀取單元進(jìn)行掃描；-如果包含在記錄單元中的任一讀取單元被評定為存在缺陷，在缺陷記錄單元列表中列出該記錄單元，
26.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于數(shù)據(jù)記錄策略包括-寫步驟，包括將數(shù)據(jù)記載在記錄單元中；和-寫步驟之后的檢驗(yàn)步驟，包括讀取在寫步驟中記載到記錄單元中的數(shù)據(jù)，并將記錄數(shù)據(jù)與該數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；并且-只在至少滿足下列條件之一的情況下才進(jìn)行檢驗(yàn)步驟-檢查沒有完成；-該記錄單元在缺陷記錄單元列表中列出。
27.如權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于在介質(zhì)上兩個(gè)實(shí)質(zhì)上同心的實(shí)質(zhì)上為圓的記錄軌跡之間選擇一個(gè)圓環(huán)形區(qū)域。
28.如權(quán)利要求27所述的方法，其特征在于通過檢查圓環(huán)形區(qū)域的中間的測試記錄軌跡來檢查所述的圓環(huán)形區(qū)域。
29.如權(quán)利要求28所述的方法，其特征在于檢查實(shí)質(zhì)上相隔200μm的測試記錄軌跡。
30.如權(quán)利要求28所述的方法，其特征在于掃描沿測試記錄軌跡上的實(shí)際所有讀取單元。
31.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于通過從預(yù)定的列表中查找讀取單元的地址對用于讀取記錄數(shù)據(jù)的讀取裝置進(jìn)行定位。
32.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于通過跳過若干數(shù)量的記錄軌跡對用于讀取記錄數(shù)據(jù)的讀取裝置進(jìn)行定位，該若干數(shù)量從預(yù)定的列表中讀取，。
33.如權(quán)利要求18所述的方法，包括-測定介質(zhì)的記錄參數(shù)；-利用該記錄參數(shù)計(jì)算若干數(shù)量的記錄軌跡；和-通過跳過若干數(shù)量的記錄軌跡，對用于讀取記錄數(shù)據(jù)的讀取裝置進(jìn)行定位。
34.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于在記錄設(shè)備的空閑時(shí)間對介質(zhì)進(jìn)行檢查。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種用于在可改寫光學(xué)記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)的記錄設(shè)備。本設(shè)備包括用于接收數(shù)據(jù)的輸入裝置(27)，用于記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置(21、22、25、28)，用于在所讀取的記錄數(shù)據(jù)中發(fā)現(xiàn)和糾正誤碼的檢錯糾錯裝置(30)和用于控制數(shù)據(jù)的記錄和讀取的控制裝置(20)。本記錄設(shè)備能夠?qū)Ω袷交挠涗浗橘|(zhì)進(jìn)行快速有效的檢查，以便調(diào)整數(shù)據(jù)記錄策略，進(jìn)而提高寫操作的效率。
文檔編號G11B20/12GK1636245SQ02823227
公開日2005年7月6日 申請日期2002年11月14日 優(yōu)先權(quán)日2001年11月22日
發(fā)明者P·伊特斯馬, D·哈梅林克 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司