專利名稱：信息記錄方法和信息記錄裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種信息記錄方法和一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制激光并控制光的強度，以根據(jù)所應(yīng)用的光的強度來建立上述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域。
背景技術(shù)：
近些年來，隨著多媒體的普遍運用，一次性寫入光盤(即CD-R)和可重寫光盤(即CD-RW)已迅速被人們廣泛使用，具有較大容量的光盤(例如，一次性光盤(即DVD-R)和可重寫光盤(即DVD-RW和DVD-RAM))也投入實際應(yīng)用并開始被人們廣泛使用。為了記錄信息，這些光盤中的每種光盤都被用于一種信息記錄/再現(xiàn)裝置，該裝置包括一種將半導(dǎo)體激光用作光源的光學(xué)傳感系統(tǒng)。人們已進行了各種技術(shù)開發(fā)，以使這些信息記錄/再現(xiàn)裝置的記錄和再現(xiàn)性能加強和穩(wěn)定。半導(dǎo)體激光功率控制技術(shù)是這些技術(shù)中的一種技術(shù)，人們已研究了許多系統(tǒng)。尤其是，在一次性寫入光盤的情況中，由于不能重寫數(shù)據(jù)，因此，如何能維持穩(wěn)定的記錄狀態(tài)就變得很重要。例如，激光功率控制系統(tǒng)包括一種被稱作APC(自動功率控制)的系統(tǒng)和一種被稱作R-OPC(最佳運行功率控制)的系統(tǒng)。前者檢測輸出激光的部分數(shù)量，并控制激光功率，以便輸出功率維持恒定；后者在記錄期間檢測來自記錄介質(zhì)的反射光的數(shù)量，并控制激光功率，以便來自記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域的反射光的數(shù)量成為預(yù)定的光的數(shù)量。
例如，如第2000-295734號日本專利申請中所揭示的，提議了一種系統(tǒng)，其中，通過使用其脈沖具有標記區(qū)域的不同寬度的一種多脈沖列的記錄波形，可以結(jié)合APC和R-OPC來控制激光功率。
圖7是方框圖，表現(xiàn)了用于結(jié)合APC和R-OPC來執(zhí)行激光功率控制的一種原先技術(shù)的信息記錄裝置；圖8表現(xiàn)了在現(xiàn)有技術(shù)信息記錄裝置中的APC的檢測信號波形和R-OPC的檢測信號波形，現(xiàn)有技術(shù)的信息記錄裝置使用其脈沖具有標記區(qū)域的不同寬度的一種多脈沖列的記錄波形。
數(shù)字101標明一種能夠記錄和再現(xiàn)信息的光盤。數(shù)字102標明一種使光盤101旋轉(zhuǎn)的心軸心軸馬達。
數(shù)字103標明一種激光二極管，它能夠通過在光盤101上進行記錄的期間使用其脈沖具有標記區(qū)域的不同寬度的一種多脈沖列來發(fā)射光。數(shù)字104標明將激光二極管103的輸出光和返回光跟光盤101分離的一種分光器。數(shù)字105標明將激光聚集在光盤101的可記錄或可再現(xiàn)的區(qū)域中的一種物鏡。
數(shù)字106標明用于檢測從激光二極管103發(fā)射的部分輸出光的一種光數(shù)量監(jiān)控光電探測器。數(shù)字107標明用于將光數(shù)量監(jiān)控光電探測器106的電流輸出轉(zhuǎn)換為電壓的一種I/V轉(zhuǎn)換電路。
數(shù)字108標明用于削弱I/V轉(zhuǎn)換電路107的輸出頻帶的一種低通濾波器(LPF)。數(shù)字109標明用于將光數(shù)量監(jiān)控光電探測器106的電流輸出放大的一種電壓放大器(AMP)。數(shù)字110標明用于在預(yù)定的定時抽查和保持LPF 108輸出的一種取樣與保持電路(S/H)。數(shù)字111標明用于在預(yù)定的定時抽查和保持AMP 109的輸出的一種取樣與保持電路(S/H)。
數(shù)字112標明用于檢測S/H 110的輸出(作為為多脈沖列記錄光發(fā)射的平均功率)的一種mp檢測器。
數(shù)字113標明用于檢測S/H 111的輸出(作為為多脈沖列記錄光發(fā)射的偏壓功率)的一種sp檢測器。
數(shù)字114標明用于為多脈沖列控制記錄光發(fā)射的峰值功率的一種峰值功率控制電路。
數(shù)字115標明用于為多脈沖列控制記錄光發(fā)射的偏壓功率的一種偏壓功率控制電路。數(shù)字116標明一種LD驅(qū)動電路，用于通過使用功率和其脈沖具有不同寬度(由峰值功率控制電路114和偏壓功率控制電路115控制)的一個多脈沖列來驅(qū)動激光二極管103發(fā)射光。
數(shù)字117標明用于檢測來自光盤101的返回光的多個返回光檢測光電探測器。數(shù)字118標明用于將多個返回光檢測光電探測器117的每個電流輸出轉(zhuǎn)換為電壓的多個I/V轉(zhuǎn)換電路。
數(shù)字119標明用于加入多個I/V轉(zhuǎn)換電路118的輸出的一種RF加法器。數(shù)字120標明用于削弱RF加法器119輸出頻帶的一種低通濾波器(LPF)。數(shù)字121標明用于放大LPF 120輸出的一種電壓放大器(AMP)。數(shù)字122標明在預(yù)定的定時抽查和保持LPF 120的輸出的一種取樣與保持電路(S/H)。數(shù)字123標明用于在預(yù)定的定時抽查和保持AMP 121的輸出的一種取樣與保持電路(S/H)。
數(shù)字124標明用于檢測S/H 122的輸出(作為記錄期間來自光盤101的標記區(qū)域的返回光的平均數(shù)量)的一種MP檢測器。
數(shù)字125標明用于檢測S/H 123的輸出(作為記錄期間來自光盤101的空間(非標記)區(qū)域的返回光的數(shù)量)的一種SP檢測器。
數(shù)字126標明一種B/A計算電路，用于利用MP檢測器124的輸出和SP檢測器125的輸出來計算被用作R-OPC操作所需的參數(shù)的一個B/A值。數(shù)字127標明一種CPU，用于根據(jù)B/A計算電路126的輸出來計算峰值功率的糾正數(shù)量，并用于將目標峰值功率命令發(fā)給峰值功率控制電路114。
根據(jù)以上所述的配置，下文將通過使用APC的檢測信號波形和圖8所示的R-OPC的檢測信號波形，來描述結(jié)合ARC和R-OPC執(zhí)行激光功率控制的操作。
當圖8(a)所示的記錄數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)換為其脈沖具有圖8(b)所示的不同寬度的一個多脈沖列時，并且，當激光二極管103首先被作為APC操作的預(yù)定峰值功率和預(yù)定偏壓功率控制時，圖8(c)所示的光發(fā)射波形由光數(shù)量監(jiān)控光電探測器106進行檢測，該多脈沖列的后部端的輸出成為LPF 108的圖8(d)所示的mp層次，mp由S/H 110取樣和保持，由mp檢測器112檢測，作為由多脈沖列的脈沖寬度比率組成并從多脈沖列的脈沖寬度比率被轉(zhuǎn)換的平均功率，由此檢測峰值功率。
此外，圖8(c)和8(d)所示的sp層次由AMP 109放大，然后由S/H 111取樣和保持，并由sp檢測器113檢測，作為偏壓功率。峰值功率控制電路114和偏壓功率控制電路115控制激光功率，以便從mp和sp獲得的峰值功率和偏壓功率成為預(yù)定值。
接下來，將描述R-OPC操作。雖然通過APC操作根據(jù)預(yù)定的功率值來執(zhí)行控制，但是，由于記錄靈敏度的變化(因為光盤101的記錄表面上的記錄區(qū)域有差別)，最佳記錄功率值根據(jù)記錄區(qū)域和記錄狀態(tài)而有所不同。因此，除了APC操作以外，還要求執(zhí)行另一項功率控制操作，以便在其中執(zhí)行記錄的各種狀態(tài)中獲得最佳記錄功率。
這項功率控制操作是R-OPC，計算功率的糾正數(shù)量，同時檢測記錄期間的返回光。圖8(e)表現(xiàn)了記錄期間的返回光的波形，它產(chǎn)生于返回光檢測光電探測器117、I/V轉(zhuǎn)換電路118和RF加法器119。
圖8(e)中的“A”標明處于一種狀態(tài)的返回光的最大層次，在此狀態(tài)中，在峰值功率的光發(fā)射期間，光盤101的記錄表面的標記區(qū)域中沒有建立標記；圖中的“B”標明在峰值功率的光發(fā)射期間處于標記建立狀態(tài)的返回光的最大層次?！癆”基本上與光盤101的非記錄區(qū)域的反射率和峰值功率成正比，“B”建立在根據(jù)光盤101的記錄標記的建立狀態(tài)而有所不同的反射率與峰值功率之間的關(guān)系的基礎(chǔ)上。檢測通過將B除以A而獲得的值(B/A)，并控制峰值功率，以便獲得一個預(yù)定的B/A值。
但是，由于多脈沖列的脈沖寬度變得較短，因此，很難直接檢測A值和B值；如圖8(f)所示，如同APC操作，多脈沖列的尾隨端的輸出成為LPF 120的一個MP層次，MP由S/H 122取樣和保持，并由MP檢測器124檢測，作為由多脈沖列的脈沖寬度比率組成并從多脈沖列的脈沖寬度比率被轉(zhuǎn)換的平均返回光數(shù)量，由此檢測圖8(e)所示的B值。
此外，圖8(e)和8(f)所示的SP層次由AMP 121放大，然后由S/H 123取樣和保持，并由SP檢測器125檢測，作為處于偏壓功率的返回光的數(shù)量，并利用峰值功率與偏壓功率之間的比率來檢測A值。在計算B/A值之后，將它和處于被提供給光盤101的最佳記錄功率的預(yù)定的B/A值相比較，CPU 127獲得用于求得上述預(yù)定的B/A值的峰值功率糾正數(shù)量，對峰值功率控制電路114進行峰值功率的糾正，由此執(zhí)行適當?shù)墓β士刂?。圖8(g)示出受上述APC和R-OPC操作控制的激光功率所記錄的記錄標記的一些例子。
結(jié)果，甚至當記錄靈敏度根據(jù)光盤101的記錄表面的各個記錄區(qū)域中的差別而有所變化時，也總是可以通過使用返回光和B/A值來判斷記錄期間的標記建立狀態(tài)，由此，可以控制激光功率，以便能夠達到一種最佳的記錄狀態(tài)。
但是，當諸如散焦、脫離跟蹤和歪斜等應(yīng)力在記錄期間發(fā)生變化時，不僅最佳的記錄功率會改變，而且，返回光數(shù)量的檢測也會受到影響，被用作R-OPC的控制目標值的B/A值在被提供給光盤的最佳記錄功率方面有變化。
圖9表現(xiàn)了最佳的B/A值根據(jù)應(yīng)力的變化而變化的關(guān)系的一個例子。發(fā)明者發(fā)現(xiàn)了這種關(guān)系。圖9表現(xiàn)了記錄功率的B/A值對于指出磁盤的徑向方向上的歪斜的徑向歪斜的依賴性，并且顯示最佳記錄功率的B/A值隨徑向歪斜的增加而增大。
將通過使用表現(xiàn)R-OPC檢測信號對于功率的依賴性的

圖14，來描述R-OPC的記錄峰值功率控制操作。①在圖14中，標明一個點，它指出最佳記錄功率Po以及表示就在記錄之前或之后功率與B/A之間的關(guān)系的特性曲線A中的Po處的R-OPC檢測信號B/Ai，B/Ai是記錄期間R-OPC的一個控制目標值。②當沒有引起應(yīng)力的變化而只導(dǎo)致磁盤靈敏度的變化時，標明一個點，它指出特性曲線A的時間處的最佳記錄功率Po和特性曲線B上的R-OPC檢測信號B/An1。②’標明一個點，它指出真實的最佳記錄功率P1和特性曲線B中的P1處的R-OPC檢測信號B/Ai，B/Ai是與特性曲線A的①的B/A值相同的B/A值。當導(dǎo)致很嚴重的歪斜(應(yīng)力之一)時，③標明一個點，它指出特性曲線A的時間處的最佳記錄功率Po和特性曲線C中的R-OPC檢測信號B/An2。③’標明一個點，它指出真實的最佳記錄功率P2’和特性曲線C中的P2’處的R-OPC檢測信號B/Ai’。③”標明一個點，它指出特性曲線C中的①和②’處的B/Ai的記錄峰值功率P2。在特性曲線B中的R-OPC操作中，其中，沒有引起應(yīng)力的變化，由于記錄期間的功率Po處的R-OPC檢測信號B/An1偏離控制目標值B/Ai，因此，繼續(xù)進行記錄，同時，功率變成通過將糾正數(shù)量Pc1加入Po而獲得的功率P1，以便減小到控制目標值。由于P1是最佳的記錄功率值，因此，可以維持記錄的質(zhì)量。
接下來，在特性曲線C中的R-OPC操作(其中，導(dǎo)致很嚴重的歪斜——應(yīng)力之一)中，由于記錄期間的功率Po處的R-OPC檢測信號B/An2偏離控制目標值B/Ai，因此，繼續(xù)進行記錄，同時，功率變成通過將糾正數(shù)量Pc2加入Po而獲得的功率P2，以便會聚到控制目標值。由于P2大于最佳的記錄功率值P2’，因此，沒有維持記錄的質(zhì)量。
換言之，當用作固定于一個恒定值處的R-OPC控制目標值的B/A值被用來執(zhí)行功率控制時，可以通過使用過度大于最佳記錄功率的功率來執(zhí)行控制。
結(jié)果，穩(wěn)定進行記錄變得困難，記錄后的數(shù)據(jù)再現(xiàn)受到重大影響。

發(fā)明內(nèi)容
因此，考慮到上述問題，本發(fā)明的目的在于即使當諸如散焦、脫離跟蹤和歪斜等應(yīng)力在記錄期間發(fā)生變化時，提供一種信息記錄方法和能夠以最佳記錄功率在光盤上進行記錄的一種信息記錄裝置。
為了解決以上的問題，本發(fā)明的第一個方面是一種用于記錄信息的信息記錄方法，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制檢測值，從所述光強度控制參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中可以獲得被糾正的光強度，根據(jù)所述被糾正的光強度來糾正所述光強度控制參考值，所述激光的強度被加以控制，以便所述被糾正的光強度控制參考值基本上與所述光強度控制檢測值相符。
此外，本發(fā)明的第二個方面是一種信息記錄方法，其中，將被用于計算所述被糾正的光強度的所述光強度控制參考值被更新為所述被糾正的光強度控制參考值。
此外，本發(fā)明的第三個方面是一種用于記錄信息的信息記錄方法，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，在記錄介質(zhì)上，適合標記形成的光強度隨所述激光的波長(根據(jù)溫度的變化而變化)的變化而變化，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，同時檢測激光周圍地區(qū)的溫度，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值，所檢測的溫度被記作參考溫度；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制檢測值，同時檢測激光周圍地區(qū)的溫度，從所述光強度控制參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中可以獲得第一個被糾正的光強度，從所述被檢測的溫度與所述參考溫度之間的差別中可以獲得第二個被糾正的光強度，通過從所述第一個被糾正的光強度中減去所述第二個被糾正的光強度而獲得的光強度作為溫度被糾正的光強度，根據(jù)所述溫度被糾正的光強度來糾正所述光強度控制參考值，所述激光的強度被加以控制，以便所述被糾正的光強度控制參考值基本上與所述光強度控制檢測值相符。
另外，本發(fā)明的第四個方面是根據(jù)本發(fā)明的第三個方面的一種信息記錄方法，其中，將要被用于計算所述溫度被糾正的光強度的所述光強度控制參考值被更新為所述被糾正的光強度控制參考值。
此外，本發(fā)明的第五個方面是根據(jù)本發(fā)明的第一或第三個方面的一種信息記錄方法，其中，通過在以激光調(diào)制信號為基礎(chǔ)的預(yù)定時間已過去之后檢測所述記錄標記區(qū)域處的反射光數(shù)量的平均輸出，通過從檢測值中獲得所述記錄標記區(qū)域處的反射光數(shù)量的最大值，通過計算已根據(jù)除記錄標記區(qū)域以外的、被采用對記錄標記形成不起作用的光強度的光照射區(qū)域處的反射光數(shù)量的檢測結(jié)果而設(shè)置的光強度的峰值值處的反射光數(shù)量的最大值，并通過將所述記錄標記區(qū)域中的反射光數(shù)量的最大值除以光強度的峰值值處的反射光數(shù)量的最大計算值，來計算所述光強度控制參考值和所述光強度控制檢測值。
此外，本發(fā)明的第六個方面是根據(jù)本發(fā)明的第一或第三個方面的一種信息記錄方法，其中，預(yù)先記下被糾正的光強度糾正表格，它指出參考值糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述被糾正的光強度的關(guān)系；在辨別記錄介質(zhì)的類型之后，根據(jù)所述被糾正的光強度糾正表格來糾正取決于所述被糾正的光強度的所述光強度控制參考值。
此外，本發(fā)明的第七個方面是根據(jù)本發(fā)明的第三個方面的一種信息記錄方法，其中，預(yù)先記下光強度溫度糾正表格，它指出適合標記形成的光強度的變化數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的溫度的關(guān)系，并且，根據(jù)所述被檢測的溫度和所述參考溫度與所述光強度溫度糾正表格之間的差別來獲得所述第二個被糾正的光強度。
此外，本發(fā)明的第八個方面是一種用于記錄信息的信息記錄方法，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量和影響所述記錄介質(zhì)上的記錄或再現(xiàn)且同時作為光強度的變化的應(yīng)力來計算光強度控制檢測值，根據(jù)所述應(yīng)力來糾正所述光強度控制參考值，并且，對所述激光的強度加以控制，以便所述被糾正的光強度控制參考值實質(zhì)上與所述光強度控制檢測值相符。
此外，本發(fā)明的第九個方面是根據(jù)本發(fā)明的第八個方面的一種信息記錄方法，其中，預(yù)先記下應(yīng)力糾正表格，它指出參考值糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述應(yīng)力的關(guān)系；在辨別記錄介質(zhì)的類型之后，根據(jù)所述應(yīng)力糾正表格來糾正取決于所述應(yīng)力的所述光強度控制參考值。
此外，本發(fā)明的第十個方面是一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光并控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域，包括輸出光數(shù)量控制設(shè)備，用于檢測并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值；反射光數(shù)量檢測設(shè)備，用于從所述記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量；光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備檢測的光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號；參考值發(fā)生設(shè)備，用于在開始數(shù)據(jù)記錄之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，并用于利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值；光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制檢測值；切換設(shè)備，用于將所述光強度控制檢測信號的輸出切換到所述參考值發(fā)生設(shè)備或所述光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備；參考值糾正設(shè)備，用于從所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中獲得被糾正的光強度，并用于根據(jù)所述被糾正的光強度來糾正所述參考值；以及，被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由所述參考值糾正設(shè)備糾正的所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將所述被糾正的功率值輸出到所述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
此外，本發(fā)明的第十一個方面是一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，在記錄介質(zhì)上，適合標記形成的光強度隨所述激光波長(根據(jù)溫度的變化而變化)的變化而變化，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域，包括輸出光數(shù)量控制設(shè)備，用于檢測輸出激光的數(shù)量并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值；反射光數(shù)量檢測設(shè)備，用于從所述記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量；光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備檢測的光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號；溫度檢測設(shè)備，用于檢測激光附近空間的溫度；參考值發(fā)生設(shè)備，用于在開始數(shù)據(jù)記錄之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，并用于利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值；參考溫度記憶設(shè)備，用于在所述溫度檢測設(shè)備檢測所述參考值生成時激光附近空間的溫度之后記下檢測結(jié)果；光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制檢測值；被檢測的溫度記憶設(shè)備，用于在所述溫度檢測設(shè)備檢測所述光強度控制檢測值生成時的激光附近空間溫度之后，記下檢測結(jié)果；切換設(shè)備，用于將所述光強度控制檢測信號的輸出切換到所述參考值發(fā)生設(shè)備或所述光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備；第一個被糾正的光強度發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來計算第一個被糾正的光強度；第二個被糾正的光強度發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述被檢測的溫度與所述參考溫度之間的差別來計算第二個被糾正的光強度；溫度被糾正的光強度發(fā)生設(shè)備，用于通過從所述第一個被糾正的光強度中減去所述第二個被糾正的光強度來生成溫度被糾正的光強度；參考值糾正設(shè)備，用于根據(jù)所述溫度被糾正的光強度來糾正所述參考值；以及，被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由所述參考值糾正設(shè)備糾正的所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將所述被糾正的功率值輸出到所述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
此外，本發(fā)明的第十二個方面是根據(jù)本發(fā)明的第十或第十一個方面的一種信息記錄裝置，其中，所述光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備包括一個低通濾波器，用于均分所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備的輸出；一個取樣與保持電路，用于根據(jù)激光調(diào)制信號來檢測預(yù)定時間之后所述低通濾波器的輸出；標記區(qū)域反射光數(shù)量最大值發(fā)生設(shè)備，用于從由所述取樣與保持電路檢測的一個值和對標記形成起作用的輸出功率的負荷比率中獲得記錄標記區(qū)域處的反射光的數(shù)量的最大值；峰值功率反射光數(shù)量最大值發(fā)生設(shè)備，用于計算已根據(jù)除記錄標記區(qū)域以外的、被采用對記錄標記形成不起作用的光強度的光照射的區(qū)域處的反射光的數(shù)量的檢測結(jié)果而被設(shè)置的光強度的峰值處的反射光的峰值數(shù)量；以及，一個除法電路，用于將所述記錄標記區(qū)域處的反射光的數(shù)量的所述最大值除以反射光的峰值功率數(shù)量的最大值，并用于生成一個光強度控制檢測信號。
本發(fā)明的第十三個方面是根據(jù)本發(fā)明的第十或第十一個方面的一種信息記錄裝置，包括記錄介質(zhì)類型辨別設(shè)備和預(yù)先記下被糾正的光強度糾正表格(指出所述參考值的糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述被糾正的光強度的關(guān)系)的設(shè)備。
本發(fā)明的第十四個方面是根據(jù)本發(fā)明的第十或第十一個方面的一種信息記錄裝置，包括記錄介質(zhì)類型辨別設(shè)備和預(yù)先記下光強度溫度糾正表格(指出適合標記形成的光強度的變化數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的溫度的關(guān)系)的設(shè)備。
本發(fā)明的第十五個方面是一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域，包括輸出光數(shù)量控制設(shè)備，用于檢測輸出激光的數(shù)量并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值；反射光數(shù)量檢測設(shè)備，用于從所述記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量；光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備檢測的光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號；參考值發(fā)生設(shè)備，用于在開始數(shù)據(jù)記錄之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，并用于利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值；光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制檢測值；切換設(shè)備，用于將所述光強度控制檢測信號的輸出切換到所述參考值發(fā)生設(shè)備或所述光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備；
應(yīng)力檢測設(shè)備，用于檢測作為光強度的變化的、影響所述記錄介質(zhì)上的記錄或再現(xiàn)的應(yīng)力；參考值糾正設(shè)備，用于根據(jù)所述應(yīng)力來糾正所述光強度控制參考值；以及，被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由所述參考值糾正設(shè)備糾正的所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將所述被糾正的功率值輸出到所述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
本發(fā)明的第十六個方面是根據(jù)本發(fā)明的第十五個方面的一種信息記錄裝置，包括記錄介質(zhì)類型辨別設(shè)備和用于預(yù)先記下應(yīng)力糾正表格(指出所述參考值的糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述應(yīng)力的關(guān)系)的設(shè)備。
附圖簡述圖1是方框圖，表現(xiàn)了根據(jù)本發(fā)明的第一個實施例的一種信息記錄裝置的配置；圖2是方框圖，表現(xiàn)了根據(jù)本發(fā)明的第二個實施例的一種信息記錄裝置的配置；圖3表現(xiàn)了溫度與激光波形之間的關(guān)系；圖4表現(xiàn)了光盤的記錄靈敏度對于波形的依賴性；圖5是方框圖，表現(xiàn)了根據(jù)本發(fā)明的第三個實施例的一種信息記錄裝置的配置；圖6是方框圖，表現(xiàn)了根據(jù)本發(fā)明的第四個實施例的一種信息記錄裝置的配置；圖7是方框圖，表現(xiàn)了現(xiàn)有技術(shù)的信息記錄裝置的配置；圖8示出APC的檢測信號波形和R-OPC的檢測信號波形；圖9示出最佳B/A值根據(jù)應(yīng)力的變化而變化的關(guān)系；圖10是流程圖，示出本發(fā)明的第一個實施例的運作；圖11是流程圖，示出本發(fā)明的第二個實施例的運作；圖12是流程圖，示出本發(fā)明的第三個實施例的運作；圖13是流程圖，示出本發(fā)明的第四個實施例的運作；圖14表現(xiàn)了R-OPC檢測信號對于R-OPC的記錄峰值功率控制操作中的功率的依賴性；圖15表現(xiàn)了B/Ai參考值與被糾正的光強度Pc的關(guān)系；圖16表現(xiàn)了記錄功率、B/A和B/Ai參考值糾正系數(shù)k之間的關(guān)系；以及，圖17表現(xiàn)了B/Ai參考值與溫度被糾正的光強度Pt的關(guān)系。
圖18表現(xiàn)是糾正的光亮度表格和光亮度溫度糾正表格。
(數(shù)字說明)1 光盤2 心軸心軸馬達3 激光二極管4 分光器分光器5 物鏡6 光數(shù)量監(jiān)控光電探測器7 I/V轉(zhuǎn)換電路8 LPF9 AMP10、11 S/H12 mp檢測器13 sp檢測器14 峰值功率控制電路15 偏壓功率控制電路16 LD驅(qū)動電路17 返回光檢測光電探測器18 I/V轉(zhuǎn)換電路19 RF加法器20 LPF21 AMP22、23 S/H24 MP檢測器25 SP檢測器26 B/A計算電路27 學(xué)習(xí)LPF28 均分電路29 (B/A)i檢測器30 控制LPF31 (B/A)n檢測器32、38、40、42、127 CPU33 切換34 比較器35 (B/A)i糾正電路36 被糾正的功率計算電路37 溫度變化檢測器
39 磁盤類型辨別電路41 應(yīng)力檢測器101 光盤102 心軸心軸馬達103 激光二極管104 分光器分光器105 物鏡106 光數(shù)量監(jiān)控光電探測器107 I/V轉(zhuǎn)換電路108 LPF109 AMP110、11 S/H112 mp檢測器113 sp檢測器114 峰值功率控制電路115 偏壓功率控制電路116 LD驅(qū)動電路117 返回光檢測光電探測器118 I/V轉(zhuǎn)換電路119 RF加法器120 LPF121 AMP122、123 S/H124 MP檢測器125 SP檢測器126 B/A計算電路執(zhí)行本發(fā)明的最佳模式以下將參考附圖來描述根據(jù)本發(fā)明的實施例。
這些實施例中的相同部件用相同的數(shù)字標明。
(第一個實施例)首先，將描述第一個實施例。
圖1是方框圖，示出根據(jù)這個實施例的一種信息記錄裝置的配置。圖10是流程圖，表現(xiàn)了這個實施例的操作。將通過使用圖1和圖10來描述根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置。
數(shù)字1標明能夠記錄和再現(xiàn)信息的光盤。數(shù)字2標明使光盤1旋轉(zhuǎn)的心軸馬達。數(shù)字3標明能夠通過在光盤1上的記錄期間使用其脈沖具有標記區(qū)域的不同寬度的一個多脈沖列來發(fā)射光的激光二極管。數(shù)字4標明使激光二極管3的輸出光和返回光與光盤1分離的分光器分光器。數(shù)字5標明將激光聚集在光盤1的可記錄或可再現(xiàn)區(qū)域中的物鏡。
數(shù)字6標明用于檢測從激光二極管3發(fā)射出來的部分輸出光的光數(shù)量監(jiān)控光電探測器。數(shù)字7標明用于將光數(shù)量監(jiān)控光電探測器6的電流輸出轉(zhuǎn)換為電壓的I/V轉(zhuǎn)換電路。
數(shù)字8標明用于削弱I/V轉(zhuǎn)換電路7的輸出頻帶的低通濾波器(LPF)。數(shù)字9標明用于放大光數(shù)量監(jiān)控光電探測器6的電流輸出的電壓放大器(AMP)。數(shù)字10標明用于按預(yù)定的定時抽查和保持LPF 8的輸出的取樣與保持電路(S/H)。數(shù)字11標明用于按預(yù)定的定時抽查和保持AMP 9的輸出的取樣與保持電路(S/H)。數(shù)字12標明mp檢測器，用于檢測S/H 10的輸出，作為為多脈沖列記錄光發(fā)射的平均功率。
數(shù)字13標明sp檢測器，用于檢測S/H 11的輸出，作為用于多脈沖列記錄光發(fā)射的偏壓功率。數(shù)字14標明峰值功率控制電路，用于為多脈沖列控制記錄光發(fā)射的峰值功率。數(shù)字15標明偏壓功率控制電路，用于為多脈沖列控制記錄光發(fā)射的偏壓功率。數(shù)字16標明LD驅(qū)動電路，用于通過使用功率和其脈沖具有不同寬度(由峰值功率控制電路14和偏壓功率控制電路15控制)的一個多脈沖列來驅(qū)動激光二極管3發(fā)射光。
數(shù)字6～13標明輸出光數(shù)量控制設(shè)備的一些例子，它們用于檢測輸出激光的數(shù)量并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值。
數(shù)字17標明用于檢測來自光盤1的返回光的多個返回光檢測光電探測器。數(shù)字18標明用于將多個返回光檢測光電探測器17的每個電流輸出轉(zhuǎn)換為電壓的多個I/V轉(zhuǎn)換電路。
數(shù)字19標明用于加入多個I/V轉(zhuǎn)換電路18的輸出的RF加法器。數(shù)字17～19標明反射光數(shù)量檢測設(shè)備的一些例子，它們用于從記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量。
數(shù)字20標明用于削弱RF加法器19的輸出頻帶的低通濾波器(LPF)。數(shù)字21標明用于放大LPF 20輸出的電壓放大器(AMP)。數(shù)字22標明用于按預(yù)定的定時，抽查和保持LPF 20的輸出的取樣與保持電路(S/H)。數(shù)字23標明用于按預(yù)定的定時，抽查和保持AMP 21的輸出的取樣與保持電路(S/H)。
數(shù)字24標明MP檢測器，用于檢測作為記錄期間來自光盤1的標記區(qū)域的返回光的平均數(shù)量的S/H 22的輸出。
數(shù)字25標明SP檢測器，用于檢測作為記錄期間來自光盤1的空間(非標記)區(qū)域的返回光數(shù)量的S/H 23的輸出。
數(shù)字26標明B/A計算電路，用于根據(jù)MP檢測器24的輸出和SP檢測器25的輸出來計算被用作R-OPC操作所需的參數(shù)的一個B/A值。
數(shù)字20～26標明光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)上述反射光數(shù)量檢測設(shè)備的檢測光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號。
數(shù)字27標明被用作低通濾波器的學(xué)習(xí)LPF，用于削弱B/A計算電路26的輸出的頻帶。
數(shù)字28標明用于均分學(xué)習(xí)LPF 27的輸出變化的均分電路。數(shù)字29標明(B/A)i檢測器，用于檢測由均分電路28均分的B/A值(作為被用作一個R-OPC控制目標的參考值)并保持該值。數(shù)字27～29標明參考值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄開始之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于記錄介質(zhì)，并用于利用上述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值。
數(shù)字30標明被用作低通濾波器的控制LPF，用于削弱B/A計算電路26的輸出的頻帶。
數(shù)字31標明(B/A)n檢測器，用于檢測來自控制LPF 30的輸出的、執(zhí)行R-OPC控制的B/A值。
數(shù)字30～31標明光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用上述光強度控制檢測信號來生成光強度控制檢測值。
數(shù)字33標明一個開關(guān)，用于執(zhí)行切換，以便B/A計算電路26的輸出被輸入到學(xué)習(xí)LPF 27或控制LPF 30。
數(shù)字32標明一個CPU，用于在數(shù)據(jù)記錄期間控制開關(guān)33在生成被用作R-OPC控制目標的參考值時，執(zhí)行從B/A計算電路26的輸出切換到學(xué)習(xí)LPF 27，或在生成控制檢測值時切換到控制LPF 30。數(shù)字32～33標明切換設(shè)備，用于有選擇地將上述光強度控制檢測信號輸出到上述參考值發(fā)生設(shè)備和光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備。
數(shù)字34標明一個比較器，用于對(B/A)i檢測器29的輸出和(B/A)n檢測器31的輸出進行比較，并用于輸出其差別。
數(shù)字35標明(B/A)i糾正電路，用于根據(jù)比較器34的差別輸出來糾正由(B/A)i檢測器29獲得的參考值。
數(shù)字34～35標明參考值糾正設(shè)備，用于從上述參考值與光強度控制檢測值之間的差別中獲得被糾正的光強度，并用于根據(jù)上述被糾正的光強度來糾正上述參考值。
數(shù)字36標明被糾正的功率計算電路，用于根據(jù)被用作由(B/A)i糾正電路35糾正的R-OPC控制目標值的參考值和(B/A)n檢測器31的輸出，來計算被糾正的功率，并用于命令峰值功率控制電路14改變峰值功率目標值；這個電路是被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由上述參考值糾正設(shè)備糾正的參考值與上述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將該被糾正的功率值輸出到上述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
接下來，將描述這個實施例的操作。
首先，檢測輸出激光的數(shù)量，并通過使用其脈沖具有不同寬度的多脈沖列數(shù)據(jù)的預(yù)定峰值功率與預(yù)定偏壓功率，控制激光二極管3的APC操作，這與現(xiàn)有技術(shù)中所描述的內(nèi)容相同，因此只作簡要說明。
通過將光發(fā)射波形的多脈沖列的后繼端的輸出用作mp層次，LPF 8、S/H 10和mp檢測器12可以檢測由光數(shù)量監(jiān)控光電探測器6檢測的激光發(fā)射輸出，檢測由多脈沖列的脈沖寬度比率組成的平均功率，通過從多脈沖列的脈沖寬度比率執(zhí)行轉(zhuǎn)換來檢測峰值功率。此外，sp層次和偏壓功率由AMP 9、S/H 11和sp檢測器13進行檢測。激光功率由峰值功率控制電路14和偏壓功率控制電路15進行控制，以便從mp和sp獲得的峰值功率和偏壓功率成為預(yù)定的值。
接下來，將說明R-OPC操作。
首先，在光盤1的數(shù)據(jù)區(qū)域中執(zhí)行記錄之前，對以下操作加以說明，該操作是了解最佳記錄功率，以及通過使用除數(shù)據(jù)區(qū)域以外的區(qū)域(例如，功率校準區(qū)域)來生成被用作最佳記錄功率的R-OPC控制目標值的參考值。
在磁盤1的功率校準區(qū)域中，用通過功率學(xué)習(xí)而獲得的記錄功率來執(zhí)行記錄。這時，記錄期間的返回光由返回光檢測光電探測器17、I/V轉(zhuǎn)換電路18和RF加法器19來加以檢測，多脈沖列的尾隨端的輸出被LPF 20、S/H 22和MP檢測器24檢測，作為由多脈沖列的脈沖寬度比率組成的平均返回光數(shù)量MP層次并由AMP 21放大，處于偏壓功率的返回光由S/H 23取樣和保持，SP層次由SP檢測器25加以檢測。
關(guān)于被檢測的MP和SP層次，在MP層次中，通過轉(zhuǎn)換多脈沖列的脈沖寬度比率，B值由B/A計算電路26加以計算；在SP層次中，根據(jù)峰值功率與偏壓功率之間的比率來計算A值，并檢測通過將B除以A而獲得的B/A值。接下來，B/A值的輸出由CPU 32和開關(guān)33輸入到學(xué)習(xí)LPF 27。由于上述B/A值連續(xù)按預(yù)定的定時(例如，當數(shù)據(jù)的脈沖寬度是9T或更大時)被取樣和保持，因此，每次取樣和保持時被檢測的值因光盤圓周方向上的記錄靈敏度、反射率、歪斜等的變化而略有改變。這樣，適合生成參考值所需的記錄時間的學(xué)習(xí)LPF 27減少了上述被檢測的B/A值的變化，并且，均分電路28通過將被取樣和保持的值的整數(shù)值除以取樣和保持的次數(shù)，可以對其加以均分；然后，被用作R-OPC控制目標值的初始值的(B/A)i由(B/A)i檢測器29加以計算，并被確定為是一個參考值。
接下來，將說明數(shù)據(jù)區(qū)域中的記錄。
即使在執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄時，B/A校準電路26也會如上所述在記錄期間檢測來自返回光的B/A值。CPU 32和開關(guān)33執(zhí)行切換，以便將B/A校準電路26的輸出輸入到控制LPF 30。按最適合需要遵循R-OPC操作的時間的頻帶來設(shè)置控制LPF。數(shù)據(jù)記錄期間的(B/A)n值由控制LPF 30和(B/A)n檢測器31進行檢測。初始參考值(B/A)i與檢測值(B/A)n之間的差別由比較器34進行檢測，差別信息被輸出到(B/A)i糾正電路35。
(B/A)i糾正電路35根據(jù)B/A值和計算的被糾正的光強度Pc的差別信息來執(zhí)行功率轉(zhuǎn)換；當通過功率轉(zhuǎn)換而獲得的被糾正的光強度Pc不小于預(yù)定的功率值(例如，不小于光盤1的記錄靈敏度的變化的功率值或不小于通過功率校準區(qū)域中的功率學(xué)習(xí)而獲得的±5％的最佳記錄功率的功率值)時，(B/A)i糾正電路判斷功率糾正因素是除磁盤的靈敏度的變化以外的因素(包括諸如散焦、脫離跟蹤和歪斜等的應(yīng)力)，然后，糾正參考值(B/A)i并將被糾正的參考值(B/A)i′輸出到被糾正的功率計算電路36。
將使用附圖來描述B/Ai的糾正。圖15表現(xiàn)了B/Ai參考值與被糾正的光強度Pc的關(guān)系。在該圖中，Ps和-Ps’指出上述的預(yù)定值；例如，假設(shè)關(guān)于B/A學(xué)習(xí)期間的最佳記錄功率Po，Ps是+5％，-Ps’是-5％。當被糾正的光強度Pc是Ps或更大或者是-Ps’或更小時，通過使用有關(guān)Pc的B/A的傾角k來獲得有關(guān)(Pc-Ps)或(Pc+Ps’)的B/Ai變化數(shù)量，由此獲得參考值B/Ai。
(公式1)當Pc≥0時，B/Ai’＝B/Ai+k×(Pc-Ps)當Pc＜0時，B/Ai’＝B/Ai+k×(Pc+Ps’)根據(jù)與引起裝置在允許范圍內(nèi)發(fā)生最大傾斜時的最佳功率P2’有關(guān)的B/Ai’以及與沒有引起傾斜時的最佳功率Po和上述Ps有關(guān)的B/Ai，來預(yù)先計算傾角k。圖16示出在記錄功率、B/A和B/Ai參考值糾正系數(shù)k之間的關(guān)系。
(公式2)k＝(B/Ai′-B/Ai)/(P2′-Po-Ps)表現(xiàn)上述被糾正的光強度Pc與參考值(B/A)i的糾正數(shù)量之間的關(guān)系，以及上述預(yù)定的功率值k，Ps與-Ps已被預(yù)先存儲在信息記錄裝置中。當通過功率轉(zhuǎn)換而獲得的結(jié)果是預(yù)定的功率值或更小時，不糾正參考值(B/A)i，參考值(B/A)i作為(B/A)i′被輸出到被糾正的功率計算電路36。
從(B/A)i糾正電路35的輸出和(B/A)n檢測器31的輸出的結(jié)果中，被糾正的功率計算電路36獲得實際上將要被糾正的一個峰值功率值Pr，對峰值功率控制電路14命令功率目標值要變化，并控制記錄功率。
此外，被糾正的參考值(B/A)i′成為(B/A)i檢測器29的R-OPC控制目標值，每次執(zhí)行糾正時，按需要更新被用作控制目標值的(B/A)i。
如上所述，根據(jù)這個實施例，即使被用作R-OPC檢測信號的B/An值因應(yīng)力而發(fā)生變化，也可以通過改變被用作控制目標值的B/Ai來防止因應(yīng)力變化而導(dǎo)致的R-OPC操作的功率過校正，并且，可以通過執(zhí)行穩(wěn)定的、高度精確的功率控制來完成記錄。
(第二個實施例)接下來，將描述第二個實施例。
圖2是方框圖，表現(xiàn)了根據(jù)這個實施例的一種信息記錄裝置的配置。圖11是流程圖，表現(xiàn)了這個實施例的操作。
將通過使用圖2和圖11來描述根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置。但是，不對類似于第一個實施例中的部件的那些部件加以說明。
根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置包括光盤1、心軸馬達2、激光二極管3、分光器分光器4、物鏡5、光數(shù)量監(jiān)控光電探測器6、I/V轉(zhuǎn)換電路7、LPF 8、AMP 9、S/H 10和S/H 11、mp檢測器12、sp檢測器13、峰值功率控制電路14、偏壓功率控制電路15、LD驅(qū)動電路16、返回光檢測光電探測器17、I/V轉(zhuǎn)換電路18、RF加法器19、LPF 20、AMP 21、S/H 22和S/H 23、MP檢測器24、SP檢測器25、B/A計算電路26、學(xué)習(xí)LPF 27、均分電路28、(B/A)i檢測器29、控制LPF 30、(B/A)n檢測器31、開關(guān)33、比較器34、(B/A)i糾正電路35、被糾正的功率計算電路36、用于檢測溫度變化的溫度變化檢測器37，以及CPU 38。
接下來，將描述這個實施例的操作。但是，由于APC操作的內(nèi)容類似于第一個實施例的內(nèi)容，因此，省略對APC操作的說明，只對不同于第一個實施例的R-OPC操作的內(nèi)容的一些部分加以說明。
圖3示出溫度與激光波形之間的關(guān)系。圖4示出光盤的記錄靈敏度對于波形的依賴性。
圖3示出激光二極管的波長的增加基本上與溫度的上升成正比。
此外，在具有波長依賴性的光盤(例如，具有染色錄音膠片的光盤)的情況中，圖4示出當記錄波長增加時，記錄靈敏度下降，最佳記錄功率上升。換言之，當溫度發(fā)生變化時，具有波長依賴性的光盤的最佳記錄功率會改變。將說明當使用具有這種波長依賴性的光盤時的R-OPC操作。
當溫度變化檢測器37檢測溫度變化時，CPU 38獲得與上述溫度變化的數(shù)量有關(guān)的最佳記錄功率的變化數(shù)量，并將最佳記錄功率的變化值作為第二個被糾正的光強度P2輸出到(B/A)i糾正電路35。
(B/A)i糾正電路35首先根據(jù)B/A值的差別信息來執(zhí)行功率轉(zhuǎn)換并獲得第一個被糾正的光強度P1，然后從第一個被糾正的光強度P1中減去上述被糾正的光強度P2，以便通過計算來獲得溫度被糾正的光強度Pt的減法結(jié)果。接下來，當上述溫度被糾正的光強度Pt不小于預(yù)定的功率值(例如，不小于光盤1的記錄靈敏度的變化的功率值或不小于通過功率校準區(qū)域中的功率學(xué)習(xí)而獲得的±5％的最佳記錄功率的功率值)時，(B/A)i糾正電路判斷功率糾正因素是除磁盤的靈敏度的變化以外的因素(包括諸如散焦、脫離跟蹤和歪斜等應(yīng)力)，然后，糾正參考值(B/A)i并將被糾正的參考值(B/A)i′輸出到被糾正的功率計算電路36。
將通過使用附圖來描述B/Ai的糾正。圖17表現(xiàn)了B/Ai參考值與溫度被糾正的光強度Pt的關(guān)系。在該圖中，通過將每單位溫度(例如，℃)的最佳記錄功率變化數(shù)量Px乘以溫度變化數(shù)量T℃，來獲得上述第二個被糾正的光強度P2。通過結(jié)合裝置和磁盤的溫度變化測試或類似的測試，預(yù)先獲得Px，并將其記憶和存儲在該裝置中。
(P2＝Px×T)通過從第一個被糾正的光強度P1中減去上述被糾正的光強度P2，來獲得Pt。
(Pt＝P1-P2)Ps和-Ps’指出上述預(yù)定的值；例如，假設(shè)對于B/A學(xué)習(xí)期間的最佳記錄功率Po，Ps是+5％，-Ps’是-5％。當溫度被糾正的光強度Pt是Ps或更大或者是-Ps’或更小時，通過使用有關(guān)Pt的B/A的傾角k來獲得與(Pt-Ps)或(Pt+Ps’)有關(guān)的B/Ai變化數(shù)量，由此獲得參考值B/Ai。
(公式3)當Pt≥0時，B/Ai’＝B/Ai+k×(Pt-Ps)當Pt＜0時，B/Ai’＝B/Ai+k×(Pt+Ps’)用于計算傾角k的方法類似于第一個實施例中所說明的內(nèi)容。
上述溫度被糾正的光強度Pt與參考值(B/A)i及上述預(yù)定的功率值的糾正數(shù)量之間的關(guān)系已預(yù)先被存儲在信息記錄裝置中。當通過功率轉(zhuǎn)換而獲得的結(jié)果是預(yù)定的功率值或更小時，不糾正參考值(B/A)i，而參考值(B/A)i作為(B/A)i′被輸出到被糾正的功率計算電路36。
從(B/A)i糾正電路35的輸出和(B/A)n檢測器31的輸出的結(jié)果中，被糾正的功率計算電路36獲得實際上將要被糾正的一個峰值功率值Pr，控制功率目標值對峰值功率控制電路14的改變，并控制記錄功率。
此外，被糾正的參考值(B/A)i′成為(B/A)i檢測器29的R-OPC控制目標值，每次執(zhí)行糾正時，按必要更新被用作控制目標值的(B/A)i。
如上所述，根據(jù)這個實施例，即使被用作R-OPC檢測信號的B/An值因應(yīng)力而發(fā)生變化，并且，即使溫度在記錄期間發(fā)生變化，也可以通過適當?shù)馗淖冇米骺刂颇繕酥档腂/Ai來防止因應(yīng)力變化而導(dǎo)致的R-OPC操作的功率過校正，并且，甚至可以通過執(zhí)行穩(wěn)定的、高度精確的功率控制來完成在依靠波長的光盤上的記錄。
(第三個實施例)接下來，將描述第三個實施例。
圖5是方框圖，示出根據(jù)這個實施例的一種信息記錄裝置的配置。圖12是流程圖，表現(xiàn)了這個實施例的操作。
將通過使用圖5和圖12來描述根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置。
但是，對類似于第一個和第二個實施例中的部件的那些部件不加以描述。
根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置包括光盤1、心軸馬達2、激光二極管3、分光器4、物鏡5、光數(shù)量監(jiān)控光電探測器6、I/V轉(zhuǎn)換電路7、LPF 8、AMP 9、S/H 10和S/H 11、mp檢測器12、sp檢測器13、峰值功率控制電路14、偏壓功率控制電路15、LD驅(qū)動電路16、返回光檢測光電探測器17、I/V轉(zhuǎn)換電路18、RF加法器19、LPF 20、AMP 21、S/H 22和S/H 23、MP檢測器24、SP檢測器25、B/A計算電路26、學(xué)習(xí)LPF 27、均分電路28、(B/A)i檢測器29、控制LPF 30、(B/A)n檢測器31、開關(guān)33、比較器34、(B/A)i糾正電路35、被糾正的功率計算電路36、溫度變化檢測器37、用于辨別磁盤類型的磁盤類型辨別電路39，以及CPU 40。
接下來，將描述這個實施例的操作。
但是，由于APC操作的內(nèi)容類似于第一個實施例的內(nèi)容，因此，省略對APC操作的說明，只對不同于第一個和第二個實施例的R-OPC操作的內(nèi)容的一些部分加以說明。
我們通常知道，最佳記錄功率因溫度變化而產(chǎn)生的變化以及最佳記錄功率因應(yīng)力變化而產(chǎn)生的變化根據(jù)光盤的類型(例如，錄音膠片的材料和磁盤的制造商)而有所不同。這個實施例意在辨別磁盤的類型，并于在光盤上執(zhí)行記錄之前根據(jù)磁盤來使R-OPC控制目標值的糾正最優(yōu)化。
將簡要說明該操作。
在開動信息記錄裝置之后，裝載光盤，轉(zhuǎn)動心軸馬達，并啟動磁盤；這時，磁盤類型辨別電路39從預(yù)先被記錄的磁盤控制信息中讀取所裝載的磁盤類型和磁盤制造商，并將有關(guān)磁盤類型和磁盤制造商的信息輸出到CPU 40。
CPU 40已根據(jù)上述磁盤類型和磁盤制造商預(yù)先記憶和存儲被糾正的光強度糾正表格和光強度溫度糾正表格，前一表格指出被糾正的光強度與參考值(B/A)i之間的關(guān)系，后一表格指出最佳記錄功率因溫度變化而產(chǎn)生的變化數(shù)量與磁盤類型及磁盤制造商的關(guān)系；并且，將被糾正的光強度與參考值(B/A)i的糾正數(shù)量之間的關(guān)系以及最佳記錄功率因溫度變化而產(chǎn)生的變化數(shù)量與磁盤類型及磁盤制造商的關(guān)系輸出到(B/A)i糾正電路35。
圖18示出示出上述的糾正的光亮度表格和光亮度溫度糾正表格。磁盤類型是該裝置支持的磁盤數(shù)量，其信息示出磁盤類型和該磁盤的生產(chǎn)商。k是示出關(guān)于糾正的光亮度的B/Ai糾正量的系數(shù)(傾角)。Ps示出當糾正的光強度為正值時，直到B/Ai糾正開始時的功率。-Ps’示出當示出當糾正的光強度為負值時，直到B/Ai糾正開始時的功率。Px示出每單位溫度的最佳記錄功率的改變量。
當溫度變化檢測器37檢測溫度變化時，CPU 40獲得與上述溫度變化的數(shù)量有關(guān)的最佳記錄功率的變化數(shù)量，并將最佳記錄功率的變化值作為第二個被糾正的光強度P2輸出到(B/A)i糾正電路35。
(B/A)i糾正電路35首先根據(jù)B/A值的不同信息來執(zhí)行功率轉(zhuǎn)換，并獲得第一個被糾正的光強度P1，然后從第一個被糾正的光強度P1中減去上述被糾正的光強度P2，從而通過計算來獲得溫度被糾正的光強度Pt的減法結(jié)果。接下來，當上述溫度被糾正的光強度Pt不小于預(yù)定的功率值(例如，不小于光盤1的記錄靈敏度的變化的功率值或不小于通過功率校準區(qū)域中的功率學(xué)習(xí)而獲得的±5％的最佳記錄功率的功率值)時，(B/A)i糾正電路判斷功率糾正因素是除磁盤的靈敏度的變化以外的因素(包括諸如散焦、脫離跟蹤和歪斜等應(yīng)力)，然后，糾正參考值(B/A)i并將被糾正的參考值(B/A)i′輸出到被糾正的功率計算電路36。
上述溫度被糾正的光強度Pt與參考值(B/A)i和上述預(yù)定功率值的糾正數(shù)量之間的關(guān)系已預(yù)先被存儲在信息記錄裝置中。當通過功率轉(zhuǎn)換而獲得的結(jié)果是預(yù)定的功率或更小時，不糾正參考值(B/A)i，并將參考值(B/A)i作為(B/A)i′輸出到被糾正的功率計算電路36。
從(B/A)i糾正電路35的輸出和(B/A)n檢測器31的輸出結(jié)果中，被糾正的功率計算電路36獲得實際上將要被糾正的一個峰值功率值Pr，控制功率目標值對峰值功率控制電路14的改變，并控制記錄功率。
如上所述，根據(jù)這個實施例，即使被用作R-OPC檢測信號的B/An值因應(yīng)力而發(fā)生變化，并且，即使溫度在記錄期間發(fā)生變化，也可以通過根據(jù)磁盤的類型和磁盤的制造商適當?shù)馗淖儽挥米骺刂颇繕酥档腂/Ai來防止因應(yīng)力變化而導(dǎo)致的R-OPC操作的功率過校正，并且，甚至可以通過執(zhí)行穩(wěn)定的、高度精確的功率控制來完成在各種類型的光盤上的記錄。
(第四個實施例)接下來，將描述第四個實施例。
圖6是方框圖，表現(xiàn)了根據(jù)這個實施例的一種信息記錄裝置的配置。圖13是流程圖，表現(xiàn)了這個實施例的操作。
將通過使用圖6和圖13來描述根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置。但是，對類似于第一個實施例中的部件的那些部件不加以描述。
根據(jù)這個實施例的信息記錄方法和信息記錄裝置包括光盤1、心軸馬達2、激光二極管3、分光器4、物鏡5、光數(shù)量監(jiān)控光電探測器6、I/V轉(zhuǎn)換電路7、LPF 8、AMP 9、S/H 10和S/H 11、mp檢測器12、sp檢測器13、峰值功率控制電路14、偏壓功率控制電路15、LD驅(qū)動電路16、返回光檢測光電探測器17、I/V轉(zhuǎn)換電路18、RF加法器19、LPF 20、AMP 21、S/H 22和S/H 23、MP檢測器24、SP檢測器25、B/A計算電路26、學(xué)習(xí)LPF 27、均分電路28、(B/A)i檢測器29、控制LPF 30、(B/A)n檢測器31、開關(guān)33、(B/A)i糾正電路35、被糾正的功率計算電路36、用于檢測應(yīng)力變化的應(yīng)力檢測器41，以及CPU 42。
接下來，將描述這個實施例的操作。但是，由于APC操作的內(nèi)容類似于第一個實施例的內(nèi)容，因此，省略對APC操作的說明，只對不同于第一個實施例的R-OPC操作的內(nèi)容的一些部分加以說明。
應(yīng)力檢測器41是一種能夠檢測光盤1與光學(xué)傳感器(包括激光二極管3和物鏡5)之間的傾斜角度的傾斜傳感器，它將被檢測的傾斜信息輸出到CPU42。CPU 42預(yù)先從對應(yīng)于上述記錄裝置中所存儲的傾斜角度的B/A糾正數(shù)量中獲得有關(guān)被檢測的傾斜角度的B/A糾正數(shù)量，并向(B/A)i糾正電路35發(fā)出此命令。
(B/A)i糾正電路35根據(jù)CPU 42所命令的B/A糾正數(shù)量來糾正參考值(B/A)i，并將被糾正的參考值(B/A)i′輸出到被糾正的功率計算電路36。
從(B/A)i糾正電路35的輸出和(B/A)n檢測器31的輸出的結(jié)果中，被糾正的功率計算電路36獲得實際上將要被糾正的一個峰值功率值Pr，控制功率目標值對峰值功率控制電路14的變化，并控制記錄功率。
如上所述，根據(jù)這個實施例，即使被用作R-OPC檢測信號的B/An值因歪斜而發(fā)生變化，也可以通過改變被用作控制目標值的B/Ai來防止因傾斜變化而導(dǎo)致的R-OPC操作的功率過校正，并且，可以通過執(zhí)行穩(wěn)定的、高度精確的功率控制來完成記錄。
在這個實施例中，雖然由應(yīng)力檢測器檢測的應(yīng)力發(fā)生歪斜，但是，應(yīng)力可能是散焦或脫離跟蹤。然而，對應(yīng)于每個應(yīng)力的B/A糾正數(shù)量必須預(yù)先被存儲在信息記錄裝置中。
此外，通過提供第二個實施例中的溫度檢測器，可以獲得類似于第二個實施例中的效果的效果。
另外，通過提供第三個實施例中的磁盤類型辨別電路，可以獲得類似于第三個實施例中的效果的效果。
工業(yè)適用性如以上描述所闡明的，根據(jù)本發(fā)明，在R-OPC中(其中，在光盤上進行記錄期間，使用返回光來執(zhí)行激光功率控制)，即使在記錄期間發(fā)生應(yīng)力變化(例如，散焦或脫離跟蹤)，即使在記錄期間發(fā)生溫度變化，或者，即使磁盤的類型和磁盤的制造商不同，也可以通過適當?shù)馗淖僐-OPC控制目標值來防止因應(yīng)力變化而導(dǎo)致的R-OPC操作的功率過校正，甚至可以通過執(zhí)行穩(wěn)定的、高度精確的功率控制來完成在各種類型的光盤上的記錄。
權(quán)利要求
1.一種用于記錄信息的信息記錄方法，其特征在于激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制檢測值，從所述光強度控制參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中獲得被糾正的光強度，根據(jù)所述被糾正的光強度來糾正所述光強度控制參考值，所述激光的強度被加以控制，以便所述被糾正的光強度控制參考值實質(zhì)上與所述光強度控制檢測值相符。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的一種信息記錄方法，其特征在于將要被用于計算所述被糾正的光強度的所述光強度控制參考值被更新為所述被糾正的光強度控制參考值。
3.一種用于記錄信息的信息記錄方法，其特征在于激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，在記錄介質(zhì)上，適合標記形成的光強度隨所述激光的波長的變化而變化，激光的波長根據(jù)溫度的變化而變化，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，同時檢測激光周圍地區(qū)的溫度，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值，所檢測的溫度被記作參考溫度；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制檢測值，同時檢測激光周圍地區(qū)的溫度，從所述光強度控制參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中可以獲得第一個被糾正的光強度，從所述被檢測的溫度與所述參考溫度之間的差別中可以獲得第二個被糾正的光強度，通過從所述第一個被糾正的光強度中減去所述第二個被糾正的光強度而獲得的光強度作為溫度被糾正的光強度，根據(jù)所述溫度被糾正的光強度來糾正所述光強度控制參考值，所述激光的強度被加以控制，以便所述被糾正的光強度控制參考值實質(zhì)上與所述光強度控制檢測值相符。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的一種信息記錄方法，其特征在于將要被用于計算所述溫度被糾正的光強度的所述光強度控制參考值被更新為所述被糾正的光強度控制參考值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或3的一種信息記錄方法，其特征在于通過在以激光調(diào)制信號為基礎(chǔ)的預(yù)定時間已過去之后檢測所述記錄標記區(qū)域處的反射光的數(shù)量的平均輸出，通過從檢測值中獲得所述記錄標記區(qū)域處的反射光的數(shù)量的最大值，通過計算已根據(jù)除記錄標記區(qū)域以外的、被采用對記錄標記形成不起作用的光強度的光照射的區(qū)域處的反射光的數(shù)量的檢測結(jié)果而設(shè)置的光強度的峰值處的反射光的數(shù)量的最大值，并通過將所述記錄標記區(qū)域中的反射光的數(shù)量的最大值除以光強度的峰值處的反射光的數(shù)量的最大計算值，來計算所述光強度控制參考值和所述光強度控制檢測值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或3的一種信息記錄方法，其特征在于預(yù)先記下被糾正的光強度糾正表格，該表格指出參考值糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述被糾正的光強度的關(guān)系，在辨別記錄介質(zhì)的類型之后，根據(jù)所述被糾正的光強度糾正表格來糾正取決于所述被糾正的光強度的所述光強度控制參考值。
7.根據(jù)權(quán)利要求3的一種信息記錄方法，其特征在于預(yù)先記下光強度溫度糾正表格，該表格指出適合標記形成的光強度的變化數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的溫度的關(guān)系，根據(jù)所述被檢測的溫度和所述參考溫度與所述光強度溫度糾正表格之間的差別來獲得所述第二個被糾正的光強度。
8.一種用于記錄信息的信息記錄方法，其特征在于激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量和同時作為光強度的變化的、影響所述記錄介質(zhì)上的記錄或再現(xiàn)的應(yīng)力來計算光強度控制檢測值，根據(jù)所述應(yīng)力來糾正所述光強度控制參考值，所述激光的強度被加以控制，以便所述被糾正的光強度控制參考值實質(zhì)上與所述光強度控制檢測值相符。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的一種信息記錄方法，其特征在于預(yù)先記下應(yīng)力糾正表格，該表格指出參考值糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述應(yīng)力的關(guān)系，在辨別記錄介質(zhì)的類型之后，根據(jù)所述應(yīng)力糾正表格來糾正取決于所述應(yīng)力的所述光強度控制參考值。
10.一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其特征在于激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域，包括輸出光數(shù)量控制設(shè)備，用于檢測輸出激光的數(shù)量并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值；反射光數(shù)量檢測設(shè)備，用于從所述記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量；光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備檢測的光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號；參考值發(fā)生設(shè)備，用于在開始數(shù)據(jù)記錄之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，并用于利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值；光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制檢測值；切換設(shè)備，用于將所述光強度控制檢測信號的輸出切換到所述參考值發(fā)生設(shè)備或所述光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備；參考值糾正設(shè)備，用于從所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中獲得被糾正的光強度，并用于根據(jù)所述被糾正的光強度來糾正所述參考值；以及，被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由所述參考值糾正設(shè)備糾正的所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將所述被糾正的功率值輸出到所述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
11.一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其特征在于激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，在記錄介質(zhì)上，適合標記形成的光強度隨所述激光的波長的變化而變化，激光的波長根據(jù)溫度的變化而變化，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光并控制所述光的強度，以便根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域，包括輸出光數(shù)量控制設(shè)備，用于檢測輸出激光的數(shù)量并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值；反射光數(shù)量檢測設(shè)備，用于從所述記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量；光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備檢測的光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號；溫度檢測設(shè)備，用于檢測激光周圍地區(qū)的溫度；參考值發(fā)生設(shè)備，用于在開始數(shù)據(jù)記錄之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，并用于利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值；參考溫度記憶設(shè)備，用于在所述溫度檢測設(shè)備檢測所述參考值生成時激光周圍地區(qū)的溫度之后記下檢測結(jié)果；光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制檢測值；被檢測的溫度記憶設(shè)備，用于在所述溫度檢測設(shè)備檢測所述光強度控制檢測值生成時激光周圍地區(qū)的溫度之后記下檢測結(jié)果；切換設(shè)備，用于將所述光強度控制檢測信號的輸出切換到所述參考值發(fā)生設(shè)備或所述光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備；第一個被糾正的光強度發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來計算第一個被糾正的光強度；第二個被糾正的光強度發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述被檢測的溫度與所述參考溫度之間的差別來計算第二個被糾正的光強度；溫度被糾正的光強度發(fā)生設(shè)備，用于通過從所述第一個被糾正的光強度中減去所述第二個被糾正的光強度來生成溫度被糾正的光強度；參考值糾正設(shè)備，用于根據(jù)所述溫度被糾正的光強度來糾正所述參考值；以及，被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由所述參考值糾正設(shè)備糾正的所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將所述被糾正的功率值輸出到所述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11的一種信息記錄裝置，其特征在于所述光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備包括一個低通濾波器，用于均分所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備的輸出；一個取樣與保持電路，用于根據(jù)激光調(diào)制信號來檢測預(yù)定時間之后所述低通濾波器的輸出；標記區(qū)域反射光數(shù)量最大值發(fā)生設(shè)備，用于從由所述取樣與保持電路檢測的一個值和對標記形成起作用的輸出功率的負荷比率中獲得記錄標記區(qū)域處的反射光的數(shù)量的最大值；峰值功率反射光數(shù)量最大值發(fā)生設(shè)備，用于計算已根據(jù)除記錄標記區(qū)域以外的、被采用對記錄標記形成不起作用的光強度的光照射的區(qū)域處的反射光的數(shù)量的檢測結(jié)果而被設(shè)置的光強度的峰值值處的反射光的峰值數(shù)量；以及，一個除法電路，用于將所述記錄標記區(qū)域處的反射光的數(shù)量的所述最大值除以反射光的峰值功率數(shù)量的最大值，并用于生成一個光強度控制檢測信號。
13.根據(jù)權(quán)利要求10或11的一種信息記錄裝置，其特征在于包括記錄介質(zhì)類型辨別設(shè)備和用于預(yù)先記下被糾正的光強度糾正表格的設(shè)備，該表格指出所述參考值的糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述被糾正的光強度的關(guān)系。
14.根據(jù)權(quán)利要求10或11的一種信息記錄裝置，其特征在于包括記錄介質(zhì)類型辨別設(shè)備和用于預(yù)先記下光強度溫度糾正表格的設(shè)備，該表格指出適合標記形成的光強度的變化數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的溫度的關(guān)系。
15.一種用于記錄信息的信息記錄裝置，其特征在于其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光和控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域，包括輸出光數(shù)量控制設(shè)備，用于檢測輸出激光的數(shù)量并控制輸出激光的數(shù)量，以獲得一個預(yù)定的功率值；反射光數(shù)量檢測設(shè)備，用于從所述記錄介質(zhì)的記錄標記區(qū)域接收反射光并檢測該反射光的數(shù)量；光強度控制檢測信號發(fā)生設(shè)備，用于根據(jù)所述反射光數(shù)量檢測設(shè)備檢測的光的數(shù)量來生成一個光強度控制檢測信號；參考值發(fā)生設(shè)備，用于在開始數(shù)據(jù)記錄之前預(yù)先按預(yù)定的光強度將光應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，并用于利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制參考值；光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備，用于在數(shù)據(jù)記錄期間利用所述光強度控制檢測信號來生成一個光強度控制檢測值；切換設(shè)備，用于將所述光強度控制檢測信號的輸出切換到所述參考值發(fā)生設(shè)備或所述光強度控制檢測值發(fā)生設(shè)備；應(yīng)力檢測設(shè)備，用于檢測作為光強度的變化的、影響所述記錄介質(zhì)上的記錄或再現(xiàn)的應(yīng)力；參考值糾正設(shè)備，用于根據(jù)所述應(yīng)力來糾正所述光強度控制參考值；被糾正的功率值發(fā)生設(shè)備，用于利用由所述參考值糾正設(shè)備糾正的所述參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別來生成一個被糾正的功率值，并用于將所述被糾正的功率值輸出到所述輸出光數(shù)量控制設(shè)備。
16.根據(jù)權(quán)利要求15的一種信息記錄裝置，其特征在于包括記錄介質(zhì)類型辨別設(shè)備和用于預(yù)先記下應(yīng)力糾正表格的設(shè)備，該表格指出所述參考值的糾正數(shù)量與每種記錄介質(zhì)中的所述應(yīng)力的關(guān)系。
全文摘要
一種用于記錄信息的信息記錄方法，其中，激光被應(yīng)用于記錄介質(zhì)，同時，根據(jù)預(yù)定的信息來調(diào)制所述激光并控制所述光的強度，以根據(jù)所述被應(yīng)用的光的強度來建立所述記錄介質(zhì)的反射率發(fā)生變化的記錄標記區(qū)域；其中，在開始數(shù)據(jù)記錄之前，所述光按預(yù)定的光強度被應(yīng)用于所述記錄介質(zhì)，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制參考值；并且，在數(shù)據(jù)記錄期間，從所述記錄介質(zhì)的所述記錄標記區(qū)域接收反射光，檢測所述反射光的數(shù)量，并根據(jù)所述被檢測的光的數(shù)量來計算光強度控制檢測值，從所述光強度控制參考值與所述光強度控制檢測值之間的差別中獲得被糾正的光強度，根據(jù)所述被糾正的光強度來糾正所述光強度控制參考值，控制所述激光的強度，以便所述被糾正的光強度控制參考值實質(zhì)上與所述光強度控制檢測值相符。
文檔編號G11B7/0045GK1653529SQ0280277
公開日2005年8月10日 申請日期2002年6月25日 優(yōu)先權(quán)日2001年6月26日
發(fā)明者松浦巧, 甲斐勤, 井村正春 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社