專利名稱：光盤及其缺陷管理方法
本申請是申請日為1999年11月10日、申請?zhí)枮?9127736.8、題為“分配備用區(qū)的方法和管理缺陷的方法及其記錄介質”的專利申請的分案申請。
本發(fā)明涉及光學記錄介質領域，尤其涉及一種具有有關所分配備用區(qū)的尺寸及其剩余量信息的光盤，其中在初始化時分配適量的備用區(qū)，在初始化完成后，如果被使用的備用區(qū)不充足則分配附加備用區(qū)，本發(fā)明還涉及一種分配備用區(qū)的方法和管理附加備用區(qū)缺陷的方法。
在諸如常規(guī)光盤的記錄介質中，在初始化時分配一次備用區(qū)，在光盤使用過程中，不能分配附加備用區(qū)。但是為了提高光盤使用效率，根據光盤在初始化時的狀態(tài)分配適量的備用區(qū)，另外，在使用該光盤的同時，如果在初始化時所分配的備用區(qū)不充足，則分配附加備用區(qū)。
根據數字多用光盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)標準(可重寫光盤的DVD技術規(guī)范，部分1、物理規(guī)范)1.0版，每個區(qū)段有一個備用區(qū)，從而由于光盤有24個區(qū)段，因此初始化時分配24個備用區(qū)。
在已有技術中，如

圖1所示，表示被分配到缺陷管理區(qū)(DMA)的每個區(qū)段的備用區(qū)狀態(tài)的標記只由一位構成，該位表示相應的備用區(qū)是否能夠使用，即該位是否被占據。所以，全部備用區(qū)標記具有表示24個備用區(qū)是否被占據的24個信息位。另外，該全部備用區(qū)標記存儲在DMA輔助缺陷表(SDL)的8-15相對字節(jié)位置(RBP)。當表示相應組的位是“1”時，說明在相應的組中沒有保留備用區(qū)，當該位是“0”時，說明在相應的組中保留有備用區(qū)。
有關上述只由一位所構成的備用區(qū)的信息只表示該備用區(qū)是否被占據。另一方面，在初始化后可分配附加備用區(qū)的光盤中，最好當備用區(qū)的某些空間處于幾乎被占據的狀態(tài)時，而不是在備用區(qū)完全被占據時，在光盤上分配附加備用區(qū)。但問題是這種備用區(qū)幾乎被占據的狀態(tài)不能只由一位表示。
另外，在根據現(xiàn)行DVD-RAM標準1.0版?zhèn)溆脜^(qū)分配中，初始化時將預定量的備用區(qū)分配給每個區(qū)段，將備用區(qū)的尺寸預先確定為足以處理所有的缺陷，所述這些缺陷均可通過被應用于相應光盤的缺陷管理方法進行管理。
這里，為了管理常規(guī)可記錄/可重寫光盤上的缺陷，不給缺陷提供邏輯扇區(qū)編號的跳越缺陷的滑移替換(slipping replacement)方法不被用于光盤初始化所產生的缺陷，這些缺陷稱為“主缺陷”。按照現(xiàn)行DVD-RAM標準1.0版的規(guī)定，必須把由滑移替換所替換的缺陷扇區(qū)位置記錄在光盤DMA中的主缺陷表(PDL)中。此外，把用于替換備用區(qū)中的帶有常規(guī)塊的錯誤區(qū)段的糾錯碼(ECC)塊的線性替換用于光盤使用期間所產生的缺陷，這些缺陷稱為“輔助缺陷”。按照現(xiàn)行DVD-RAM標準1.0版的規(guī)定，必須把由線性替換所替換的缺陷塊的位置記錄在光盤DMA中的SDL中。
然而，當根據初始化時的光盤狀態(tài)分配適量的備用區(qū)時，以及在光盤使用過程中隨著光盤狀態(tài)變壞而分配附加備用區(qū)時，需要更為有效的備用區(qū)分配方法。按照該現(xiàn)行標準的規(guī)定，在光盤的記錄和/或再現(xiàn)設備中，用于暫時存儲光盤上存在的現(xiàn)有缺陷管理信息的緩沖器的尺寸是32K字節(jié)。于是，產生了一個局限，即能被管理的實際缺陷數變得小于可記錄在光盤DMA中的缺陷數。
這里，缺陷管理信息包括PDL和SDL，PDL和SDL的尺寸總和約為60K字節(jié)。于是，按照DVD-RAM標準1.0版，PDL的范圍從扇區(qū)1到扇區(qū)15，剩余的扇區(qū)被設定成用于處理SDL項，因而可被處理的PDL項數和SDL項數受到緩沖器尺寸(32K字節(jié))的限制。
為了解決上述問題，本發(fā)明的一個目的是提供一種記錄介質，該記錄介質具有與初始化時所分配的備用區(qū)的尺寸和剩余量相關、以及與初始化之后所分配的備用區(qū)的尺寸和剩余量相關的信息。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種簡單地計算和分配用于滑移替換的備用區(qū)、在光盤初始化時用于線性替換某些缺陷的備用區(qū)、以及光盤使用期間所需的線性替換的備用區(qū)的方法。
本發(fā)明的又一個目的是提供一種管理當光盤使用時為線性替換所分配的附加備用區(qū)的方法。
為了實現(xiàn)第一個目的，本發(fā)明提供一種記錄介質，其特征在于，提供在初始化時分配的主備用區(qū)和在初始化之后分配的附加備用區(qū)，備用區(qū)的尺寸由初始化時產生的缺陷數確定。
為了實現(xiàn)第二個目的，本發(fā)明提供一種在光盤記錄和/或再現(xiàn)設備中分配備用區(qū)以管理缺陷的方法，該方法包括如下步驟利用初始化時產生的主缺陷數確定備用區(qū)的最小尺寸；根據用于該記錄和/或再現(xiàn)設備缺陷管理的存儲器裝置的尺寸，確定必須分配的備用區(qū)的最大尺寸；和利用備用區(qū)的最大及最小尺寸，分配用于滑移替換和線性替換的主備用區(qū)。
為了實現(xiàn)第三個目的，本發(fā)明提供一種用于光盤記錄和/或再現(xiàn)設備的缺陷管理方法，該光盤記錄和/或再現(xiàn)設備具有被分配的主備用區(qū)，用于使用滑移替換以更換初始化期間產生的主缺陷；和被分配的附加備用區(qū)，用于使用線性替換以更換初始化之后產生的輔助缺陷，該方法包括如下步驟使用已被線性替換的區(qū)分配該附加備用區(qū)，其中，已被線性替換的附加備用區(qū)中的缺陷塊不用于線性替換；不變更有關該缺陷塊的缺陷管理區(qū)中的SDL項。
通過參照附圖詳細描述其優(yōu)選實施例，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點將變得更加清楚，附圖中圖1是表示具有SDL內容的常規(guī)全部備用區(qū)標記結構的視圖；圖2是表示本發(fā)明的具有用戶區(qū)、主備用區(qū)和附加備用區(qū)的光盤結構的視圖；圖3A和3B是表示在圖2所示的光盤結構中管理附加備用區(qū)上所產生的缺陷的方法；圖4A和4B分別表示當光盤記錄和/再現(xiàn)設備中的缺陷管理緩沖器的尺寸是32K字節(jié)和64K字節(jié)時，本發(fā)明主備用區(qū)和附加備用區(qū)的分配表；圖5A和5B是表示本發(fā)明剩余狀態(tài)信息的標記結構視圖，該剩余狀態(tài)信息表示管理缺陷的備用區(qū)已被使用的程度；圖6是表示按照本發(fā)明實施例在初始化時分配備用區(qū)的方法流程圖；圖7是表示按照本發(fā)明實施例利用主備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息分配附加備用區(qū)的方法流程圖；圖8是表示按照本發(fā)明實施例利用附備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息分配附加備用區(qū)的方法流程圖。
本發(fā)明的光盤上用于缺陷管理的備用區(qū)包括主備用區(qū)和附加備用區(qū)。
在光盤初始化時首先分配主備用區(qū)，用于缺陷替換，并且首先先使該主備用區(qū)用于滑移替換?；铺鎿Q后剩余的主備用區(qū)還可用于線性替換。用于線性處理使用光盤時所產生缺陷的附加備用區(qū)表示的是一種在光盤初始化后的使用期間另外分配的備用區(qū)。
即，在如圖2所示的本發(fā)明中，在光盤初始化期間在光盤上分配用于滑移替換和線性替換的主備用區(qū)。以扇區(qū)為單位執(zhí)行滑移替換，從而提高了備用區(qū)的使用效率。但是，在滑移替換中，不僅僅使用缺陷區(qū)，從而數據開始被記錄在下一個正常的數據扇區(qū)，以使在初始化之后缺陷扇區(qū)不能使用。
主備用區(qū)必須具有滑移替換所需的最小備用區(qū)和用于線性地替換光盤使用時光盤上所產生缺陷的適量備用區(qū)。這里，用于滑移替換的備用區(qū)至少需要與登錄在缺陷管理信息中的PDL中的項數同樣多的扇區(qū)。
當主備用區(qū)不足以處理初始化后光盤使用期間產生的輔助缺陷時，沿從邏輯文檔區(qū)的最后部分向前的方向分配預定尺寸的附加備用區(qū)。
在本發(fā)明中，直接指示規(guī)則(direct pointing rule)也用作由DVD-RAM標準1.0版所建議的備用區(qū)缺陷管理方法。即必須只用一次替換處理所有的缺陷。
被分配用于初始化后的線性替換的可擴展的附加備用區(qū)可能是已被用作用戶數據區(qū)。即，用作用戶數據區(qū)的缺陷塊被分配作為附加備用區(qū)，它可由已分配的主備用區(qū)和附加備用區(qū)線性替換，如圖3A所示。在已經線性替換的備用區(qū)欲用作附加備用區(qū)時，由在該附加備用區(qū)內已被線性替換的缺陷塊在另一用戶區(qū)中進行的缺陷雙重替換違反所述的直接指示規(guī)則。另外，在只讀光盤中，替換處理被復雜化。
如圖3B所示，為了解決這些問題，不可把圖3B中所示的已經由主備用區(qū)或預分配的附加備用區(qū)線性替換的附加備用區(qū)內的缺陷塊用于線性替換。另外，不可改變與缺陷管理區(qū)中存儲的缺陷塊相應的輔助缺陷表(SDL)項。不可改變SDL項的原因是，如果刪除用于處理附加備用區(qū)內的缺陷的SDL項，則在備用區(qū)連續(xù)使用時被跳過而不使用的備用區(qū)部分被確定為缺陷區(qū)。于是，用于線性替換的正常塊可被錯誤地確定為缺陷，因而當隨后進行格式化時，會把非缺陷部分登錄為缺陷。因此，對應于附加備用區(qū)內的線性替換的缺陷塊的SDL項信息不改變，并且該相應的缺陷塊不可用于線性地替換用戶區(qū)中的缺陷。
在光盤記錄和/或再現(xiàn)過程中，起初由諸如半導體存儲器(即緩沖器)的暫時存儲區(qū)讀取光盤上的信息，以便直接使用缺陷管理信息。按照DVD-RAM標準1.0版的規(guī)定，使用32K字節(jié)尺寸的緩沖器。32K字節(jié)對應于16個扇區(qū)的信息，并且缺陷管理信息的PDL和SDL以扇區(qū)為單位存儲在緩沖器中。這樣，緩沖器中存儲的PDL項最小數屬于一個扇區(qū)，緩沖器中存儲的PDL項最大數與可在該PDL中記錄的項最大數(即屬于15個扇區(qū)的7679個項)相對應。SDL的項占據PDL項記錄在32K字節(jié)緩沖器之后剩余的區(qū)域，因而可管理分布在最少一個扇區(qū)到最多15個扇區(qū)范圍內的缺陷項。
因此，備用區(qū)(主備用區(qū)+附加備用區(qū))的最大允許尺寸由緩沖器尺寸和光盤初始化時生成的PDL項數確定。這里，由于即使在備用區(qū)中也可能產生缺陷，因此必須考慮可能的缺陷的額外備用區(qū)。
在本發(fā)明中，可存儲與具有30個扇區(qū)尺寸的缺陷有關的缺陷信息的60K字節(jié)緩沖器能用于完全處理可記錄在PDL中的最大數個項(7679項用于15個扇區(qū))和可記錄在SDL中的最大數個項(3837項用于15個扇區(qū))。
另外，如果將緩沖器設定為具有64K字節(jié)，則64K字節(jié)緩沖器能夠處理與按照標準可記錄在缺陷管理信息區(qū)中的缺陷同樣多的缺陷。在本發(fā)明的實施例中，應針對缺陷管理用的緩沖器為32K字節(jié)的和缺陷管理用的緩沖器為64K字節(jié)的緩沖器的情況，提出在光盤初始化期間和光盤使用期間可被分配的備用區(qū)的最優(yōu)選的尺寸。
如果可分配的備用區(qū)尺寸受到限制，以便具有預定的增加量，則用于計算備用區(qū)所需量的計算式可如下文所述的非常簡單。考慮到這一優(yōu)點，通過將各PDL項以扇區(qū)為單位分割，計算用于管理主缺陷的滑移替換的備用區(qū)。512個PDL項對應一個扇區(qū)，處理512個PDL項的備用區(qū)的量對應32個ECC塊。一個ECC塊具有16個數據扇區(qū)。
圖4A和4B分別表示當緩沖器尺寸是32K字節(jié)和64K字節(jié)時備用區(qū)尺寸的表。圖4A和4B的第一列表示PDL項數，其中的第二列表示可相對對應的PDL項數被處理的SDL項的最大數。第三列中的數值表示當分配用于一個扇區(qū)的線性替換的缺陷管理項的備用區(qū)時在ECC塊中所需備用區(qū)的最小尺寸。即，可分配備用區(qū)的最小尺寸是處理PDL項所需的所有備用區(qū)與處理一個扇區(qū)的SDL項所需備用區(qū)的總和。
下一列表示在相應的缺陷條件下處理所有缺陷所需備用區(qū)的最小尺寸。第四列中第一小列是以塊表示的所需備用區(qū)的最大尺寸，第二小列是以兆字節(jié)(MB)表示的所需備用區(qū)的最小尺寸，第三小列以整個容量百分比(％)表示所需備用區(qū)的最小尺寸。下一列表示可被處理缺陷項的總數。最后一列表示本發(fā)明建議的最大的備用區(qū)量，即，該備用區(qū)量考慮到附加備用區(qū)適當的量而進行了簡化，以便于計算備用區(qū)量和該備用區(qū)中產生的缺陷。在最后一列中，第一和第二小列分別是當所需備用區(qū)之間的增量設定為32塊時，以塊表示的建議的備用區(qū)最大量和該備用區(qū)相對光盤總記錄容量的百分比。第三和第四小列分別表示的是當所需備用區(qū)之間的增量設定為48塊時，以塊表示的建議備用區(qū)最大尺寸和該備用區(qū)相對光盤總記錄容量的百分比。
如圖4A所示，當使用32K字節(jié)緩沖器時，可記錄在所有缺陷管理區(qū)中的全部缺陷不能被完全處理。當主缺陷(PDL項)數增加時，可處理的輔助缺陷的實際數減小，總備用區(qū)的百分比也減小。這意味著當主缺陷數增加時光盤狀態(tài)變差，它使可管理的輔助缺陷數減小。
為了解決這個問題，參看圖4B，本發(fā)明建議使用64K字節(jié)緩沖器。在這種情況下，不論主缺陷數是多少，能記錄在缺陷管理區(qū)中的最大數個輔助缺陷可被完全處理。此外，可使備用區(qū)的尺寸相對恒定地保持在2.7％至3％。
本發(fā)明公開了一種光盤，在該光盤中，用于缺陷管理的備用區(qū)根據光盤的使用目的或光盤的狀態(tài)在初始化時部分地進行分配，而當該備用區(qū)的尺寸不充足時，在初始化之后分配附加備用區(qū)。所以，當必須分配附加備用區(qū)時，一定要預先計算可分配的備用區(qū)的量。即，初始化時，通過記錄可在缺陷管理區(qū)(DMA)的光盤定義結構(DDS)中分配的附加備用區(qū)的尺寸，就能方便地分配該附加備用區(qū)。
如下文所述，可以簡單地計算用于缺陷管理的備用區(qū)尺寸。當使用64K字節(jié)緩沖器時，能分配的備用區(qū)的最大尺寸由下式1計算備用區(qū)最大尺寸＝[EPDL/512]×32+4096塊…(1)當使用32K字節(jié)緩沖器時，能分配的備用區(qū)的最大尺寸由下式2計算備用區(qū)最大尺寸＝4096-[EPDL/512]×(256-32)塊 …(2)在式1和2中，[EPDL/512]表示不大于“[EPDL/512]”的最大整數，EPDL表示PDL項數，32(＝INC)表示增量。4096(＝SMAX)是2的倍數，其中當主缺陷數(PDL項數)小于512時，對處理最大數個缺陷所需的備用區(qū)尺寸進行近似，以簡化計算。這里，備用區(qū)尺寸以ECC塊顯示。256(＝SSDL)表示處理一個扇區(qū)的SDL項所需的備用區(qū)尺寸。
圖4A和4B所建議的最大備用區(qū)比實際所需的備用區(qū)約大4％。所建議備用區(qū)的尺寸基于各備用區(qū)中產生的缺陷而確定，并表示為2的倍數，從而使得備用區(qū)尺寸的計算很簡便。
將從建議的備用區(qū)最大尺寸減去初始化時分配的備用區(qū)尺寸所得的余量作為可被分配的附加備用區(qū)尺寸記錄在DDS中，從而在光盤使用期間能夠方便地分配該附加備用區(qū)。
在當初始化時所分配的主備用區(qū)完全使用并且沒有其它備用區(qū)的情況下，或者在附加備用區(qū)完全使用的情況下，要進行附加備用區(qū)的分配或必須增加附加備用區(qū)的尺寸。在實際使用光盤時，缺陷多是連續(xù)地產生的。因此，在所分配的備用區(qū)完全用完后與分配的附加備用區(qū)相比，當剩余少量的備用區(qū)時、例如剩余若干個塊或90％的備用區(qū)被使用時，最好進行附加備用區(qū)的分配或增加附加備用區(qū)的尺寸，而不是在全部使用所分配的備用區(qū)后分配附加備用區(qū)。
在這種情況下，需要表示備用區(qū)的使用程度的剩余狀態(tài)標記，以便指示備用區(qū)已經使用了預定的容量或更多的容量，而不是如現(xiàn)行備用區(qū)全標記那樣只表示備用區(qū)全部使用或備用區(qū)仍有剩余的兩種狀態(tài)。還需要當已經使用主備用區(qū)的預定容量或更多的容量時指示附加備用區(qū)是否已經分配的標記。在這種情況下，標記(它可作為主備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息)表示主備用區(qū)具有下表1中所示的狀態(tài)，并具有圖5A中所示的結構。
(表1)
標記(它可作為附加備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息)表示附加備用區(qū)具有下表2中所示的狀態(tài)，并具有圖5B中所示的結構。
(表2)
這里，表2的標記可指示一種必然性，即，預定或更多量的附加備用區(qū)已經使用的狀態(tài)明確表示必須增加附加備用區(qū)的尺寸。當通過分配預定或更多量的附加備用區(qū)而擴大附加備用區(qū)時，可簡單地將標記值“01b”改變?yōu)椤?0b”。因此，與用于主備用區(qū)的剩余狀態(tài)標記相比，用于附加備用區(qū)的剩余狀態(tài)標記只有三個狀態(tài)。
圖6表示本發(fā)明實施例中在初始化時分配備用區(qū)方法的流程圖。參照圖6，在步驟S101中，用于當光盤被初始化時檢查光盤上存在或不存在缺陷的檢驗期間所檢測的缺陷被跳過而不被提供邏輯扇區(qū)數，與缺陷扇區(qū)有關的邏輯扇區(qū)數提供給下一個扇區(qū)，將缺陷扇區(qū)的位置存儲在PDL中。
接著，在步驟S102中計算所需的備用區(qū)量。例如，當PDL項數在3072與3583之間時，備用區(qū)最小尺寸是處理PDL項所需備用區(qū)與處理一個扇區(qū)用的SDL項所需備用區(qū)的總和，因而變?yōu)?80 ECC塊。如果使用32K字節(jié)緩沖器，且所需備用區(qū)之間的增量是32塊，則可把使用公式2計算得出的2752 ECC塊分配作為備用區(qū)的最大尺寸。
當計算備用區(qū)的所需量時，在步驟S103中分配主備用區(qū)。如果主備用區(qū)的尺寸是512 ECC塊，則使用最多244 ECC塊處理PDL項，而使用剩余的塊處理SDL項。分配主備用區(qū)之后，在步驟S104中，將主備用區(qū)的剩余狀態(tài)標記設定為初始狀態(tài)“00”。在步驟S105中，通過從在步驟S102中計算出的備用區(qū)的最大尺寸減去步驟S103中分配的主備用區(qū)尺寸，計算出附加備用區(qū)的最大尺寸。例如，通過從2752 ECC塊的最大備用區(qū)減去所分配的512 ECC塊主備用區(qū)，可計算出附加備用區(qū)的最大尺寸是2240 ECC塊。在步驟S106中，將附加備用區(qū)的尺寸信息(例如，2240 ECC塊)和附加備用區(qū)剩余狀態(tài)的信息記錄在DDS或DMA區(qū)中的預定位置，并結束初始化。
圖7是本發(fā)明實施例中利用主備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息進行附加備用區(qū)分配的方法流程圖。在步驟S201中，判定在初始化期間設定的主備用區(qū)用的剩余狀態(tài)標記是否處在“01”狀態(tài)，在該狀態(tài)中，主備用區(qū)幾乎已被用完，附加備用區(qū)已被分配。如果對步驟S201的回答是“否”，則在步驟S202中另外判定附加備用區(qū)是否被分配。如果在步驟S202中判定需要分配附加備用區(qū)，則在步驟S203中檢查附加備用區(qū)的尺寸。即，檢查能夠分配的附加備用區(qū)最大尺寸和必須分配的附加備用區(qū)的最大尺寸。可由用戶設定必須被分配的附加備用區(qū)的尺寸，或者可為預定的增量。
在步驟S204中，檢查邏輯文檔區(qū)后部存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)間。在步驟S205中，確定是否有足夠的空白區(qū)間存在。如果在邏輯文檔區(qū)后部存在足夠的空白區(qū)間，則在步驟S206中，從邏輯文檔區(qū)的最后部開始分配預定尺寸的線性替換用的附加備用區(qū)。附加備用區(qū)用的管理信息，即，用于附加備用區(qū)的剩余狀態(tài)標記被初始化回到“00”，并在步驟S207中更新附加備用區(qū)的尺寸信息。之后，過程結束。當在步驟S206中，把已線性替換的區(qū)分配作為線性替換用的附加備用區(qū)時，附加備用區(qū)內的缺陷塊不用于線性替換，且如參照圖3所述的，SDL項必須保持不變。
如果在步驟S205中邏輯文檔區(qū)后部不存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)間，則在步驟S208中重新設置空白區(qū)間。而后，在步驟S209中，判定是否存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)間。如果存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)間，則再次執(zhí)行分配附加備用區(qū)的步驟S206。如果即使在重新設置空白區(qū)間后連續(xù)空白區(qū)間的量仍不充足，則在步驟S210中顯示“附加備用區(qū)不能分配”的信息。然后，過程結束。
圖8是本發(fā)明實施例中利用附加備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息進行附加備用區(qū)分配的方法流程圖。在步驟S301中，確定用于替換在光盤使用期間產生的輔助缺陷的附加備用區(qū)的剩余狀態(tài)標記是否處在“01”狀態(tài)，在該狀態(tài)中，附加備用區(qū)幾乎已用完。如果已經使用附加備用區(qū)的大部分，則在步驟S302中判定另一個附加備用區(qū)是否被分配。如果在步驟S302中判定需要分配另一個附加備用區(qū)，則在步驟S303中檢查該附加備用區(qū)的尺寸。即檢查可分配的附加備用區(qū)最大尺寸和必需分配的附加備用區(qū)尺寸。可以由用戶設定必須分配的附加備用區(qū)尺寸、或者可為預定的增量。
在步驟S304中，檢查邏輯文檔區(qū)后部存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)間。在步驟S305中判定是否有足夠的空白區(qū)存在。如果在邏輯文檔區(qū)后部存在足夠的空白區(qū)，則在步驟S306中，從邏輯文檔區(qū)的最后部開始分配預定量的線性替換用的附加備用區(qū)。當在步驟S306中將已線性替換的區(qū)分配為線性替換用的附加備用區(qū)時，附加備用區(qū)內缺陷塊不用于線性替換，且如參照圖3所述的，必須保持SDL項不變。
在步驟S306之后，附加備用區(qū)用的管理信息，即附加備用區(qū)用的剩余狀態(tài)標記被初始化回到“00”，并在步驟S307中更新所分配的附加備用區(qū)的尺寸信息。之后，過程結束。
如果在步驟S305中邏輯文檔區(qū)后部不存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)間，則在步驟S308中重新設置空白區(qū)。而后，在步驟S309中判定是否存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)。如果存在足夠量的連續(xù)空白區(qū)，則再次執(zhí)行分配附加備用區(qū)的步驟S306。如果即使在重新設置空白區(qū)后連續(xù)空白區(qū)的量仍不充足，則在步驟S310中顯示“附加備用區(qū)不能分配”的信息。然后，過程結束。
如上所述，本發(fā)明可用簡單的數學表達式計算主備用區(qū)和附加備用區(qū)的尺寸信息，并存儲和管理主備用區(qū)的剩余狀態(tài)信息，因此能夠更靈活和有效地分配和管理主備用區(qū)。
另外，在本發(fā)明中，附加備用區(qū)中的缺陷塊不用于線替換，且SDL項不變更，因此可避免誤操作。
權利要求
1.一種光盤，由多個區(qū)段構成其數據區(qū)，該數據區(qū)包括主備用區(qū)、用戶區(qū)及附加備用區(qū)，其特征在于所述的主備用區(qū)用于光盤初始化時缺陷扇區(qū)的滑移替換，并具有滑移替換的所有PDL(主缺陷表)項；所述的附加備用區(qū)用于光盤初始化之后缺陷扇區(qū)的線性替換，并根據光盤使用期間產生的缺陷扇區(qū)數可相應擴展分配其備用區(qū)；其中，位于所述附加備用區(qū)被線性替換的登錄在SDL(輔助缺陷表)項的扇區(qū)及缺陷扇區(qū)不作為備用扇區(qū)。
2.如權利要求1所述的光盤，其特征在于，所述的附加備用區(qū)是從邏輯文檔的最后向前的方向分配預定尺寸的。
3.如權利要求1所述的光盤，其特征在于，所述的主備用區(qū)及附加備用區(qū)在光盤初始化時被分配為預定尺寸。
4.如權利要求1所述的光盤，其特征在于，所述的主備用區(qū)用于光盤初始化時產生的缺陷扇區(qū)的滑移替換，其剩余部分用于光盤初始化之后產生的缺陷扇區(qū)的線性替換。
5.如權利要求1所述的光盤，其特征在于，當所述的主備用區(qū)的備用扇區(qū)不足以線性替換所產生的缺陷時，使用所述附加備用區(qū)的備用扇區(qū)。
6.如權利要求1至所述的光盤，其特征在于，位于所述附加備用區(qū)被線性替換的扇區(qū)在隨后的格式化時被確定為正常的扇區(qū)。
7.如權利要求1至6中任一項所述的光盤，其特征在于，所述的主備用區(qū)具有光盤初始化時滑移替換所需的最小備用區(qū)及用于光盤初始化之后線性替換的適量備用區(qū)。
8.如權利要求7所述的光盤，其特征在于，所述主備用區(qū)的用于滑移替換所需的最小備用區(qū)至少具有與登錄在缺陷管理信息中的PDL項數同樣多的扇區(qū)數。
9.一種光盤的缺陷管理方法，該光盤由多個區(qū)段構成具有主備用區(qū)、用戶區(qū)及附加備用區(qū)的數據區(qū)，所述方法包括步驟光盤初始化時利用主備用區(qū)的備用扇區(qū)滑移替換所產生的缺陷扇區(qū)，并在主備用區(qū)中存儲被滑移替換的所有PDL(主缺陷表)項；光盤初始化之后利用所述附加備用區(qū)的備用扇區(qū)線性替換所產生的缺陷扇區(qū)，而該附加備用區(qū)根據光盤使用期間產生的缺陷扇區(qū)數可相應擴展其備用扇區(qū)數；其中，位于所述附加備用區(qū)被線性替換的登錄在SDL(輔助缺陷表)項的扇區(qū)及缺陷扇區(qū)不作為備用扇區(qū)。
10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述的附加備用區(qū)是從邏輯文檔的最后向前的方向分配的。
11.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述的主備用區(qū)及附加備用區(qū)在光盤初始化時被分配為預定尺寸。
12.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述的主備用區(qū)用于光盤初始化時產生的缺陷扇區(qū)的滑移替換，其剩余部分用于光盤初始化之后產生的缺陷扇區(qū)的線性替換。
13.如權利要求12所述的方法，其特征在于，所述的主備用區(qū)的備用扇區(qū)不足以光盤初始化之后的線性替換時，使用所述附加備用區(qū)的備用扇區(qū)。
14.如權利要求9所述的方法，其特征在于，位于所述附加備用區(qū)被線性替換的扇區(qū)在隨后的格式化時被確定為正常的扇區(qū)。
15.如權利要求9至14中任一項所述的方法，其特征在于，所述的主備用區(qū)具有光盤初始化時滑移替換所需的最小備用區(qū)及用于光盤初始化之后線性替換的適量備用區(qū)。
16.如權利要求15所述的方法，其特征在于，所述的主備用區(qū)用于滑移替換所需的最小備用區(qū)至少具有與登錄在缺陷管理信息中的PDL項數同樣多的扇區(qū)數。
全文摘要
一種光盤及其缺陷管理方法。該光盤由多個區(qū)段構成其數據區(qū),該數據區(qū)包括主備用區(qū)、用戶區(qū)及附加備用區(qū),其中,所述的主備用區(qū)用于光盤初始化時缺陷扇區(qū)的滑移替換,并具有滑移替換的所有PDL(主缺陷表)項;所述的附加備用區(qū)用于光盤初始化之后缺陷扇區(qū)的線性替換,并根據光盤使用期間產生的缺陷扇區(qū)數可相應擴展分配其備用區(qū);其中,位于所述附加備用區(qū)被線性替換的登錄在SDL(輔助缺陷表)項的扇區(qū)及缺陷扇區(qū)不作為備用扇區(qū)。
文檔編號G11B20/10GK1377033SQ0210469
公開日2002年10月30日 申請日期2002年2月20日 優(yōu)先權日1998年11月10日
發(fā)明者高禎完 申請人:三星電子株式會社