專(zhuān)利名稱(chēng)：光盤(pán)裝置的制作方法
該發(fā)明所涉及的是一種例如DVD和CD等的光盤(pán)裝置，具體來(lái)說(shuō)，是關(guān)于消除光盤(pán)上由于存在著缺陷而產(chǎn)生影響的一種控制方式。
在光盤(pán)裝置中，我們必須對(duì)帶有劃痕、污垢等缺陷的光盤(pán)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為缺陷盤(pán))的再現(xiàn)(光盤(pán)播放)技術(shù)進(jìn)行多種方法的考量。有關(guān)對(duì)缺陷盤(pán)進(jìn)行再現(xiàn)時(shí)，通過(guò)錯(cuò)誤信號(hào)的插入進(jìn)行再現(xiàn)的方法曾在特平開(kāi)11-259871號(hào)公報(bào)中有過(guò)記載。


圖13表示依據(jù)前述公報(bào)的傳統(tǒng)缺陷盤(pán)的缺陷補(bǔ)償裝置結(jié)構(gòu)(第1結(jié)構(gòu))的框圖。
如圖13所示，在數(shù)據(jù)記錄時(shí)或者數(shù)據(jù)再現(xiàn)時(shí)由含有半導(dǎo)體LD(LaserDiode)的發(fā)光光學(xué)系統(tǒng)15射出的激光通過(guò)半透(明)鏡4及物鏡2被集中在DVD光盤(pán)1上。另一方面，光盤(pán)播放(再現(xiàn))時(shí)經(jīng)光盤(pán)1反射出的光經(jīng)半鏡面4后輸入給光電轉(zhuǎn)換元件5。
物鏡2上剛性地聯(lián)接有激勵(lì)器驅(qū)動(dòng)線圈3(牢固地連接以整體地運(yùn)動(dòng))，該驅(qū)動(dòng)線圖3被設(shè)置在磁電路中，在驅(qū)動(dòng)線圈3的作用下可使物鏡2沿著相對(duì)于光盤(pán)1的垂直方向移動(dòng)。
錯(cuò)誤檢出裝置6依據(jù)來(lái)自光電轉(zhuǎn)換元件5的光電轉(zhuǎn)換信號(hào)(反射光信息)，將指示控制錯(cuò)誤量的錯(cuò)誤信號(hào)S6輸出給選擇開(kāi)關(guān)19及光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置16，該裝置16將產(chǎn)生光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16；所述控制錯(cuò)誤量是指物鏡2的目標(biāo)跟蹤位置與實(shí)際物鏡2位置之間的差。
缺陷檢出信號(hào)發(fā)生裝置14依據(jù)從光電轉(zhuǎn)換元件5得到的光電轉(zhuǎn)換信號(hào)，產(chǎn)生缺陷檢出信號(hào)SD；所述缺陷檢出信號(hào)是用于表示是否有因光盤(pán)1表面形成的劃痕、污垢等而導(dǎo)致光學(xué)信息丟失的光盤(pán)缺陷區(qū)域的存在的檢出狀態(tài)的信號(hào)。
選擇開(kāi)關(guān)19根據(jù)缺陷檢出信號(hào)SD，將錯(cuò)誤信號(hào)S6及光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16中的某一信號(hào)輸入給相位補(bǔ)償裝置18。相位補(bǔ)償裝置18通過(guò)選擇開(kāi)關(guān)19依據(jù)所輸入的信號(hào)將激勵(lì)器的控制信號(hào)S20(相位補(bǔ)償信號(hào)S18)輸出給驅(qū)動(dòng)放大器10。該驅(qū)動(dòng)放大器10則依據(jù)激勵(lì)器控制信號(hào)S20控制驅(qū)動(dòng)線圈3。
該缺陷補(bǔ)償裝置采用在一般的控制循環(huán)中附加了修正由于光盤(pán)的偏心或面振動(dòng)等原因所引起的光盤(pán)固有的物理畸變的光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置16的結(jié)構(gòu)，也就是，功能方框的號(hào)碼1～6，以及10，18，是一般的控制循環(huán)的結(jié)構(gòu)，而為了實(shí)現(xiàn)缺陷盤(pán)的播放(再現(xiàn))則采用了附加功能方框14、16的結(jié)構(gòu)。
依據(jù)缺陷檢出信號(hào)SD在對(duì)光盤(pán)實(shí)施缺陷檢出中，由選擇開(kāi)關(guān)19，通過(guò)將相位補(bǔ)償裝置18的輸入信號(hào)從錯(cuò)誤信號(hào)S6轉(zhuǎn)換成光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16便可切斷控制循環(huán)。光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置16將光盤(pán)的無(wú)缺陷區(qū)域中的錯(cuò)誤信號(hào)S6的平均值作為光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16而輸出。
現(xiàn)就由具有上述結(jié)構(gòu)的缺陷補(bǔ)償裝置的一般性的聚焦控制作一說(shuō)明。為了將記錄在光盤(pán)1上的信息記錄層內(nèi)的信息進(jìn)行再現(xiàn)，則必須時(shí)常保持由物鏡2將發(fā)光光學(xué)系統(tǒng)15發(fā)射出的激光匯聚在光盤(pán)1的信息記錄層上。因此，為實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，為時(shí)常把物鏡2維持在相對(duì)于光盤(pán)1的規(guī)定位置處則有必要對(duì)其位置進(jìn)行控制。
光盤(pán)1允許具有一定翹度，若以DVD的規(guī)格為例的話，其絕對(duì)量(值)被規(guī)定為+300μm以下。旋轉(zhuǎn)光盤(pán)1時(shí)，由于前述光盤(pán)1的翹曲影響，使光盤(pán)1發(fā)生上下振動(dòng)(以下稱(chēng)為面振動(dòng))，因此必須對(duì)物鏡2實(shí)施跟蹤控制。此時(shí)的控制對(duì)象是物鏡2，跟蹤目標(biāo)為光盤(pán)1的信息記錄層，控制種類(lèi)為對(duì)光盤(pán)1與物鏡2之間的相對(duì)位置的控制。在對(duì)物鏡2實(shí)施位置控制時(shí)，可通過(guò)把依據(jù)物鏡2與光盤(pán)1之間產(chǎn)生的相對(duì)位置誤差信號(hào)的信號(hào)反饋給物鏡2的驅(qū)動(dòng)裝置加以實(shí)現(xiàn)。
上述所必需的結(jié)構(gòu)包括檢出與光盤(pán)1之間相對(duì)位置的裝置(結(jié)構(gòu)部1、2、4、5)；產(chǎn)生檢出的相對(duì)位置與作為目標(biāo)的規(guī)定的相對(duì)位置的誤差(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為FES(FOCUS Error Signal))的裝置(錯(cuò)誤檢出裝置6)；穩(wěn)定位置控制循環(huán)的相位補(bǔ)償裝置18；使作為控制對(duì)象的物鏡2的位置變化的驅(qū)動(dòng)裝置(驅(qū)動(dòng)線圈3)。此外，相位補(bǔ)償裝置18，一般是由使帶域?yàn)?KHz左右的相位提前的相位提前濾波器所構(gòu)成的。通過(guò)把驅(qū)動(dòng)線圈3剛性聯(lián)接在物鏡2上、將驅(qū)動(dòng)電流傳遞給上述驅(qū)動(dòng)線圈3，便可使物鏡2沿著相對(duì)于光盤(pán)1的表面的垂直方向移動(dòng)。驅(qū)動(dòng)放大器10根據(jù)作為相位補(bǔ)償裝置18輸出的激勵(lì)器控制信號(hào)(聚焦控制信號(hào))S20通過(guò)對(duì)所附加給驅(qū)動(dòng)線圈3的驅(qū)動(dòng)電流的控制，便構(gòu)成了將上述激光集中到光盤(pán)1的信息記錄層上的控制系統(tǒng)。
光道控制與所述聚焦控制的不同點(diǎn)僅在于，光道控制是在所述聚焦控制動(dòng)作的基礎(chǔ)上，增加了使用于對(duì)光盤(pán)1的信息記錄層上形成的光道進(jìn)行掃描的物鏡2沿著相對(duì)于光盤(pán)1表面的水平方向移動(dòng)的控制。由于光道track的控制是根據(jù)包括上述聚焦控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)而實(shí)現(xiàn)的，故這里略去對(duì)它的說(shuō)明，并在圖13中的說(shuō)明中對(duì)聚焦/光道track控制不作區(qū)別，以下的說(shuō)明中也不作區(qū)別而只作一般的敘述。
接著，就如圖1 3所示的利用傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償裝置所實(shí)施的缺陷補(bǔ)償方法作一說(shuō)明。缺陷檢出時(shí)外加給驅(qū)動(dòng)線圈3的信號(hào)，是由讓光盤(pán)物理畸變的修正信號(hào)S16通過(guò)相位補(bǔ)償裝置18后所得到的激勵(lì)器控制信號(hào)S20所定義的。通過(guò)由選擇開(kāi)關(guān)19選擇錯(cuò)誤信號(hào)S6和光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11，便可控制從一般控制狀態(tài)到缺陷補(bǔ)償狀態(tài)之間的狀態(tài)轉(zhuǎn)移。
由于光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置16可將無(wú)缺陷的一般狀態(tài)時(shí)的錯(cuò)誤信號(hào)的平均值作為光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16輸出，所以，在既便有缺陷存在時(shí)也能良好地保持錯(cuò)誤信號(hào)S6的連續(xù)性，從而實(shí)現(xiàn)缺陷補(bǔ)償。
實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定確實(shí)的缺陷補(bǔ)償?shù)谋匾獥l件，是在缺陷補(bǔ)償動(dòng)作之后，即缺陷結(jié)束時(shí)刻(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為缺陷出口)，由是否能夠正常地進(jìn)行控制循環(huán)的插入來(lái)定義的。穩(wěn)定地插入控制循環(huán)所必要的條件，是指在實(shí)施插入動(dòng)作時(shí)，跟蹤目標(biāo)位置與物鏡2之間的位置之差基本為零和物鏡2與跟蹤目標(biāo)之間的相對(duì)速度接近于零。換言之，如果能夠滿足下列的條件1及條件2，便可以實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定，正確的缺陷補(bǔ)償。
條件1缺陷出口處的控制錯(cuò)誤(物鏡2的位置與跟蹤目標(biāo)位置之差)為零。
條件2缺陷出口處的物鏡2與光盤(pán)1的相對(duì)速度(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為缺陷補(bǔ)償后相對(duì)速度)為零。
圖14表示由圖13所示的缺陷補(bǔ)償裝置實(shí)施缺陷補(bǔ)償時(shí)的動(dòng)作說(shuō)明圖。下面，參閱圖14說(shuō)明傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償?shù)膯?wèn)題點(diǎn)。圖中分別表示從光電轉(zhuǎn)換元件5的各區(qū)域所得到的光電轉(zhuǎn)換信號(hào)的全加法信號(hào)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)RF信號(hào))、缺陷檢出信號(hào)SD、錯(cuò)誤信號(hào)S6、激勵(lì)器控制信號(hào)S20的時(shí)間變化曲線，圖14的(a)表示無(wú)缺陷處理時(shí)的情況，圖14的(b)則表示由圖13所示結(jié)構(gòu)實(shí)施傳統(tǒng)缺陷處理(第1方法)的情況。此外，圖14的(b)表示在缺陷檢出信號(hào)SD等于“L”的期間中(一般期間)進(jìn)行的一般的再現(xiàn)，等于“H”的期間中(缺陷檢出期間)進(jìn)行的缺陷處理的情況。
如圖14的(a)所示，無(wú)缺陷處理時(shí)，從缺陷的開(kāi)始(RF信號(hào)開(kāi)始減少時(shí)刻以下簡(jiǎn)稱(chēng)為缺陷入口)，隨著RF信號(hào)的減少向錯(cuò)誤信號(hào)S6中混入干擾錯(cuò)誤，在無(wú)RF信號(hào)時(shí)刻(來(lái)自光盤(pán)1的反射光數(shù)量幾乎為零)錯(cuò)誤信號(hào)S6本身成為不能檢出(無(wú)意義)。由于控制系統(tǒng)的控制是依據(jù)該錯(cuò)誤信號(hào)S6而進(jìn)行的，所以對(duì)上述干擾錯(cuò)誤實(shí)施跟蹤操作。在缺陷出口處，由于控制系統(tǒng)被上述干擾錯(cuò)誤引起振動(dòng)，產(chǎn)生很大的控制錯(cuò)誤，最?lèi)毫訒r(shí)可以產(chǎn)生無(wú)法控制的超出控制錯(cuò)誤的檢出范圍(預(yù)先被設(shè)定的范圍)的情況。
如圖14(b)所示的那樣，在傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償場(chǎng)合，當(dāng)缺陷檢出信號(hào)等于“H”時(shí)，由于可用光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16(一般重放時(shí)的錯(cuò)誤信號(hào)S6的平均值(代表值))替代錯(cuò)誤信號(hào)S6進(jìn)行插入，雖然可以把干擾錯(cuò)誤的影響抑制到很小，但仍存在以下不足。
一般的缺陷檢出方法，從確保一般再現(xiàn)模式的穩(wěn)定性的觀點(diǎn)出發(fā)，把來(lái)自光盤(pán)的反射光強(qiáng)度變?yōu)楸纫话銜r(shí)的值低少許的既定值以下的場(chǎng)合設(shè)定為檢出有缺陷存在，以此設(shè)置出一定的無(wú)信號(hào)帶(區(qū)域)。作為一種具有代表性的缺陷檢出信號(hào)發(fā)生裝置14的結(jié)構(gòu)，如圖14所示，在對(duì)RF信號(hào)實(shí)施了峰值檢波的信號(hào)變?yōu)楸纫话銜r(shí)的峰值ΔV低的值V1以下的時(shí)刻t1時(shí)，缺陷檢出信號(hào)SD上升為“H”，以此作為缺陷檢出狀態(tài)。
采用該結(jié)構(gòu)的場(chǎng)合，從缺陷入口到RF信號(hào)低于值V1的時(shí)間ΔT中由于不能進(jìn)行缺陷檢出，因此對(duì)于真正的缺陷將會(huì)使缺陷檢出產(chǎn)生不可避免的時(shí)間滯后問(wèn)題。這種無(wú)法避免的延時(shí)(時(shí)間滯后)期間ΔT，也將使光學(xué)方面受到缺陷的影響，以致在錯(cuò)誤信號(hào)S6中混入干擾錯(cuò)誤信號(hào)。
用圖14(b)所示的傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償方法(第1方法)是無(wú)法對(duì)前述的不可避免的延時(shí)期間ΔT的干擾錯(cuò)誤實(shí)施插入處理的。一般來(lái)說(shuō)，殘留在這種延時(shí)期間ΔT中的干擾錯(cuò)誤的頻率成分大致在數(shù)百～數(shù)KHz范圍內(nèi)，因此，隨著缺陷檢出信號(hào)SD的“L”下降，選擇開(kāi)關(guān)19在從光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16轉(zhuǎn)換至錯(cuò)誤信號(hào)S6的時(shí)刻t2時(shí)，其信號(hào)經(jīng)相位補(bǔ)償裝置18進(jìn)一步被加強(qiáng)，其結(jié)果使激勵(lì)器控制信號(hào)S20發(fā)生振動(dòng)，并在缺陷出口處產(chǎn)生不可避免的控制偏差。
也就是說(shuō)，僅靠圖13所示的傳統(tǒng)缺陷補(bǔ)償裝置的結(jié)構(gòu)還是不能同時(shí)滿足先前所述的穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條件1、條件2。
為了改善包含在錯(cuò)誤信號(hào)S6里的干擾錯(cuò)誤被相位補(bǔ)償裝置18增強(qiáng)的影響，也曾有過(guò)考慮將光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置16及選擇開(kāi)關(guān)19設(shè)置在相位補(bǔ)償裝置18后邊的例子。
圖15表示傳統(tǒng)缺陷補(bǔ)償裝置的第2結(jié)構(gòu)的方框圖。正如該圖所示，由相位補(bǔ)償裝置18接收錯(cuò)誤信號(hào)S6，光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置16根據(jù)相位補(bǔ)償信號(hào)S18而輸出光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16，選擇開(kāi)關(guān)19將相位補(bǔ)償信號(hào)S18及光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16中的之一作為激勵(lì)器的控制信號(hào)S20而送給驅(qū)動(dòng)放大器10。此外，由于其它的結(jié)構(gòu)與圖13中所示的相同，故這里略去說(shuō)明。
圖16表示依據(jù)圖15中所示的缺陷補(bǔ)償裝置實(shí)施缺陷補(bǔ)償操作(動(dòng)作)時(shí)的說(shuō)明圖。圖中，有關(guān)各波形的定義與圖14相同，圖16(a)表示無(wú)缺陷處理時(shí)的情況，圖16(b)則表示由圖15的結(jié)構(gòu)實(shí)施傳統(tǒng)缺陷處理(第2方法)時(shí)的情況。
起因于位于圖16(b)右下方的激勵(lì)器控制信號(hào)S20中的干擾錯(cuò)誤的脈沖(以下簡(jiǎn)稱(chēng)為干擾脈沖)，由于在缺陷檢出信號(hào)SD等于“H”的缺陷檢出期間中，選擇開(kāi)關(guān)19將激勵(lì)器控制信號(hào)S20轉(zhuǎn)換成光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S16。這樣雖然比用第1方法得到了改善，但激勵(lì)器的控制信號(hào)S20在時(shí)刻t1前的延時(shí)期間ΔT內(nèi)產(chǎn)生的干擾脈沖必定還留有一定的余量。在這種殘留的干擾脈沖的作用下使得激勵(lì)器的控制信號(hào)S20產(chǎn)生突跳現(xiàn)象，并使缺陷出口處產(chǎn)生與規(guī)定的速度的控制偏差。因此，由圖15所示的結(jié)構(gòu)還不能完全滿足穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條1和條件2。
圖17為顯示外加的干擾脈沖帶給激勵(lì)器之速度、位置的影響的說(shuō)明圖。以下，參照?qǐng)D17就上述的問(wèn)題作一般地說(shuō)明。將包含作為控制對(duì)象的驅(qū)動(dòng)線圈3的激勵(lì)器的機(jī)械運(yùn)動(dòng)特性假定為2維的，然后再將物鏡2的位置、速度、加速度(與外加給驅(qū)動(dòng)線圈3的信號(hào)的比例關(guān)系)按照以下的(Ⅰ)式～(Ⅲ)式所表示的那樣進(jìn)行定義。數(shù)學(xué)公式1位置=X(t)…(Ⅰ)數(shù)學(xué)式2 (Ⅱ)數(shù)學(xué)式3 (Ⅲ)圖17中，(a)表示加速度，(b)表示速度，(c)表示位置的時(shí)間變化。如果將干擾脈沖假定為圖17(a)所示的矩形波的話，有關(guān)該矩形波對(duì)激勵(lì)器的速度、位置的影響將如下所述。
①激勵(lì)器的速度，在干擾脈沖外加期間中將按一元函數(shù)增加，當(dāng)外加的干擾脈沖一旦停止，其速度將保持在干擾脈沖終端時(shí)的速度水平(見(jiàn)該圖(b))。
②激勵(lì)器的位置，在外加干擾脈沖的期間中將按二元函數(shù)增加，當(dāng)外加的干擾脈沖一停止，其位置將按照保持干擾脈沖終端時(shí)的斜率的一元函數(shù)的方式持繼增加(見(jiàn)該圖(c))。
由上述結(jié)果可知，根據(jù)①并不能滿足穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條件2(即缺陷補(bǔ)償后相對(duì)速度為零)，同時(shí)，根據(jù)②也不能滿足條件1(控制錯(cuò)誤為零)。此外，由于干擾脈沖終端時(shí)間是缺陷檢出期間的開(kāi)始，并且由于在傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償方法中位置誤差與缺陷檢出期間成正比地增加，因此也存在著超出錯(cuò)誤檢出范圍的可能性。
本發(fā)明是為解決以上存在的問(wèn)題而為的，其目的在于得到一種，不失去在缺陷檢出前后的控制的連續(xù)性、在缺陷檢出期間變長(zhǎng)(換言之，缺陷區(qū)域過(guò)大，或再現(xiàn)速度過(guò)慢)的場(chǎng)合，仍然能夠穩(wěn)定地對(duì)光盤(pán)再現(xiàn)等操作進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制的光盤(pán)裝置。
本發(fā)明的由權(quán)利要求1記述的光盤(pán)裝置，包括使光照射在光盤(pán)上的光照射裝置；根據(jù)驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)進(jìn)行與上述光盤(pán)相關(guān)的規(guī)定操作的驅(qū)動(dòng)裝置；對(duì)與來(lái)自前述光盤(pán)的反射光有關(guān)連的反射光信息實(shí)施檢出的反射光信息檢出裝置；依據(jù)前述反射光信息，產(chǎn)生確定前述規(guī)定操作中控制量的一般控制信號(hào)的一般控制信號(hào)發(fā)生裝置；依據(jù)前述反射光信息，產(chǎn)生指示前述光盤(pán)中是否存在有丟失了光學(xué)信息的缺陷區(qū)域的缺陷檢出信號(hào)的缺陷檢出信號(hào)發(fā)生裝置；當(dāng)前述缺陷檢出信號(hào)指示無(wú)前述缺陷區(qū)域的期間為一般期間，當(dāng)前述缺陷檢出信號(hào)指示有前述缺陷區(qū)域時(shí)的期間為缺陷檢出期間，在前述一般期間中，將使前述一般的控制信號(hào)的變動(dòng)頻率通過(guò)、并對(duì)前述一般控制信號(hào)實(shí)施消除高頻成分的濾波處理而得到的低頻成分信號(hào)作為低頻修正信號(hào)來(lái)生成，在前述缺陷檢出期間，將在從前述一般期間切換到前述缺陷檢出期間的缺陷檢出開(kāi)始時(shí)采樣的前述低頻成分信號(hào)作為前述低頻修正信號(hào)來(lái)生成的低頻修正信號(hào)發(fā)生裝置；依據(jù)從前述缺陷檢出開(kāi)始時(shí)到規(guī)定時(shí)間之前的期間中的前述低頻修正信號(hào)和前述一般控制信號(hào)之差值確認(rèn)干擾脈沖，產(chǎn)生包含以與該干擾脈沖相同的沖量將極性反轉(zhuǎn)所得到的第1修正脈沖的干擾脈沖修正信號(hào)的干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置；在前述低頻修正信號(hào)中加上前述干擾脈沖修正信號(hào)后得到缺陷補(bǔ)償信號(hào)的加法裝置；在前述一般期間選擇前述一般控制信號(hào)作為前述驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)，在前述缺陷檢出期間中選擇前述缺陷補(bǔ)償信號(hào)作為前述驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的信號(hào)選擇裝置。
另外，權(quán)利要求2的發(fā)明，是由權(quán)利要求1所記述的光盤(pán)裝置，前述干擾脈沖修正信號(hào)包含繼前述第1修正脈沖之后的第2及第3修正脈沖，前述第2修正脈沖包含以與前述干擾脈沖相同的沖量使極性反轉(zhuǎn)所得到的脈沖，前述第3修正脈沖包含以與前述干擾脈沖相同的沖量得到的極性相同的脈沖。
另外，權(quán)利要求3的發(fā)明，是由權(quán)利要求1或者權(quán)利要求2所述的光盤(pán)裝置，前述規(guī)定的操作包括對(duì)被記錄在前述光盤(pán)里的信息進(jìn)行再現(xiàn)的操作，前述規(guī)定的時(shí)間是根據(jù)作為前述光盤(pán)的前述再現(xiàn)操作時(shí)的線速度的再現(xiàn)線速度而設(shè)定的。
另外，權(quán)利要求4的發(fā)明，是由權(quán)利要求1或3中的任意一項(xiàng)所記述的光盤(pán)裝置，前述干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置設(shè)有在前述一般期間中，按規(guī)定順序進(jìn)行移動(dòng)的同時(shí)依次存儲(chǔ)前述干擾脈沖的規(guī)定數(shù)量的寄存器；前述規(guī)定時(shí)間包括足夠由前述規(guī)定數(shù)量的寄存器進(jìn)行存儲(chǔ)的時(shí)間，在前述缺陷檢出期間中，根據(jù)將被存儲(chǔ)在前述缺陷檢出開(kāi)始時(shí)刻存儲(chǔ)在前述規(guī)定數(shù)量的寄存器內(nèi)的數(shù)據(jù)按照前述的規(guī)定順序讀出并再現(xiàn)的前述干擾脈沖信號(hào)產(chǎn)生前述干擾脈沖修正信號(hào)的修正脈沖發(fā)生控制裝置。
圖1、表示光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)最佳解釋的說(shuō)明圖。
圖2、表示外加與干擾脈沖相對(duì)應(yīng)的干擾脈沖修正信號(hào)的效果的說(shuō)明圖。
圖3、表示外加與干擾脈沖相對(duì)應(yīng)的多個(gè)干擾脈沖修正信號(hào)的效果說(shuō)明圖。
圖4、表示作為本發(fā)明的實(shí)施例1的光盤(pán)裝置結(jié)構(gòu)的方塊圖。
圖5、表示圖4的光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方塊圖。
圖6、表示圖4的干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)一實(shí)施例的方塊圖。
圖7、表示圖6的干擾脈沖存儲(chǔ)裝置具體結(jié)構(gòu)例的說(shuō)明圖。
圖8、表示干擾脈沖檢出方法的說(shuō)明圖。
圖9、表示對(duì)在本發(fā)明實(shí)施例1中的光盤(pán)裝置實(shí)施缺陷補(bǔ)償后之結(jié)果的說(shuō)明圖。
圖10、表示由實(shí)施例2的存儲(chǔ)器輸出控制裝置實(shí)施控制動(dòng)作時(shí)的流程圖。
圖11、表示對(duì)該發(fā)明實(shí)施例2中的光盤(pán)裝置實(shí)行缺陷補(bǔ)償后之結(jié)果的說(shuō)明圖。
圖12、表示在本發(fā)明實(shí)施例3中使用干擾脈沖存儲(chǔ)裝置之應(yīng)用例的說(shuō)明圖。
圖13、表示傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償裝置之結(jié)構(gòu)(第1結(jié)構(gòu))的方塊圖。
圖14、表示利用圖13中所示的缺陷補(bǔ)償裝置進(jìn)行缺陷補(bǔ)償操作時(shí)的說(shuō)明圖。
圖15、表示傳統(tǒng)的缺陷補(bǔ)償裝置之結(jié)構(gòu)(第2結(jié)構(gòu))的方塊圖。
圖16、表示利用圖15所示的缺陷補(bǔ)償裝置進(jìn)行缺陷補(bǔ)償之操作的說(shuō)明圖。
圖17、表示外加干擾脈沖對(duì)激勵(lì)器之速度、位置影響的說(shuō)明圖。
(發(fā)明原理)在光盤(pán)的缺陷部分中，錯(cuò)誤信號(hào)是指虛假的錯(cuò)誤信號(hào)，即干擾錯(cuò)誤信號(hào)。因此，在缺陷補(bǔ)償控制中，要求具有這樣的機(jī)能，即，如果檢出缺陷，則需要將控制循環(huán)完全中斷，若缺陷結(jié)束，要求在瞬時(shí)間內(nèi)，并且在保證控制連續(xù)性的同時(shí)使其控制引入。當(dāng)檢出缺陷時(shí)，由于與錯(cuò)誤信號(hào)的丟失等價(jià)，所以為了保證缺陷出口處信號(hào)的穩(wěn)定和信號(hào)的連續(xù)性插入，在缺陷期間中，為了能夠?qū)獗P(pán)的物理性能的畸變(偏心、面振動(dòng))進(jìn)行追蹤，則需要用光盤(pán)的物理畸變的信號(hào)替代錯(cuò)誤信號(hào)。
因而，缺陷檢出時(shí)被通電的驅(qū)動(dòng)線圈3產(chǎn)生的控制信號(hào)，相對(duì)于缺陷檢出期間中的光盤(pán)的物理畸變，可以由跟蹤、插入的光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)與修正傳統(tǒng)實(shí)施例中介紹過(guò)的干擾脈沖影響的干擾脈沖修正信號(hào)之和作出定義。下面就光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)和干擾脈沖修正信號(hào)作一詳細(xì)說(shuō)明。
(最佳光盤(pán)物理畸變修正信號(hào))圖1表示光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)最佳解釋的說(shuō)明圖。作為跟蹤目標(biāo)的光盤(pán)，由于具有如前所述的偏心或者存在著翹曲，故當(dāng)光盤(pán)旋轉(zhuǎn)時(shí)，其跟蹤目標(biāo)為周期函數(shù)。
圖1中，(a)表示作為跟蹤目標(biāo)的光盤(pán)物理畸變(偏心、面振動(dòng))，(b)為控制操作時(shí)激勵(lì)器控制信號(hào)的基礎(chǔ)，并表示基于錯(cuò)誤信號(hào)所生成的相位補(bǔ)償信號(hào)，(c)表示讓相位補(bǔ)償信號(hào)通過(guò)低通濾波器后的輸出信號(hào)。圖中，跟蹤目標(biāo)為光盤(pán)旋轉(zhuǎn)一個(gè)周期T時(shí)的周期函數(shù)，相位補(bǔ)償信號(hào)則由于跟蹤跟蹤目標(biāo)而與跟蹤目標(biāo)具有相同周期的周期函數(shù)。此外，時(shí)刻t11及t12表示光盤(pán)1的缺陷檢出的時(shí)刻。
正如所說(shuō)明過(guò)的那樣，相位補(bǔ)償信號(hào)通過(guò)相位補(bǔ)償裝置，可使錯(cuò)誤信號(hào)加強(qiáng)到數(shù)百Hz到數(shù)千Hz，成為含有相當(dāng)程度噪聲的波形。因而，在缺陷時(shí)不能將相位補(bǔ)償信號(hào)原封不動(dòng)地或者同步采樣之后作為激勵(lì)器控制信號(hào)進(jìn)行使用。因此，采用可使跟蹤目標(biāo)的基本周期成分(相位補(bǔ)償信號(hào)變動(dòng)的周期成分)通過(guò)，而限制高頻區(qū)的噪聲成分通過(guò)的濾波器，換言之，即采用對(duì)于將截止頻率設(shè)定得高于光盤(pán)旋轉(zhuǎn)頻率的低通濾波器，從相位補(bǔ)償信號(hào)中僅抽出跟蹤目標(biāo)的光盤(pán)物理畸變的周期成分，并將其作為光盤(pán)的物理畸變的修正信號(hào)(低頻修正信號(hào))加以利用。
這樣一來(lái)，不管缺陷部分處于光盤(pán)旋轉(zhuǎn)一個(gè)周期中的任何位置，如果在前述的低通濾波器的輸出中插入前述相位補(bǔ)償信號(hào)的話，宏觀上來(lái)看最為合適。
(干擾脈沖修正信號(hào))參照?qǐng)D17，曾就干擾脈沖及其影響作過(guò)說(shuō)明。下面，將就消除干擾脈沖所產(chǎn)生的影響的方案作一說(shuō)明。
①滿足穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條件2(缺陷補(bǔ)償后相對(duì)速度為零)的方案的控制對(duì)象有2個(gè)系統(tǒng)，故當(dāng)用與干擾脈沖的沖量(加速度·時(shí)間)相等的沖量外加反極性的脈沖時(shí)，由于作用于控制對(duì)象的沖量等于零，所以可將速度設(shè)為零。因而，干擾脈沖修正信號(hào)，最好在反極性狀態(tài)下將絕對(duì)值選擇為與干擾脈沖的沖量值相等。
圖2、表示相對(duì)于干擾脈沖時(shí)外加干擾脈沖修正信號(hào)之效果的說(shuō)明圖。如圖2(a)所示，修正脈沖SC1外加在干擾脈沖OP之后，即外加在缺陷檢出之后。這是因?yàn)槿绻t于修正脈SC1的外加定時(shí)的話，遲延的時(shí)間便可增大缺陷出口處的位置誤差。像這樣，如果把修正脈沖SC1的外加定時(shí)設(shè)定在干擾脈沖OP之后的話，可使缺陷出口的位置誤差達(dá)到最小。圖2中，修正脈沖SC1的波形選擇了與干擾脈沖極性相反波形相同的波形，綜上所述，如果它們的沖量相等的話則效果也完全相同，這點(diǎn)不言自明。
如果外加上述的修正脈沖SC1的話，如圖2(b)所示的那樣，外加修正脈沖SC1結(jié)束后的速度為零。因而，在修正脈沖SC1外加后的缺陷出口處的位置誤差ΔP并不依賴(lài)于缺陷的大小或者缺陷檢出時(shí)間的長(zhǎng)短而被納入規(guī)定值。當(dāng)該規(guī)定值處于控制系統(tǒng)可以穩(wěn)定地進(jìn)行操作(動(dòng)作)引入的范圍內(nèi)時(shí)，僅由本方案便可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的缺陷補(bǔ)償。
②滿足穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條件1(控制錯(cuò)誤為零)的方案研討一個(gè)除前述穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條件2之外，同時(shí)也滿足條件1的方案。①方案之后，雖保證其速度為零，但產(chǎn)生規(guī)定值的位置誤差ΔP，這一點(diǎn)在前面已經(jīng)作了敘述。該位置誤差ΔP的產(chǎn)生是由于連續(xù)地外加干擾脈沖OP和修正脈沖SC1的結(jié)果所致，所以繼干擾脈沖OP及修正脈沖SC1之后，如果依次外加將干擾脈沖OP及修正脈沖SC1的各自極性反轉(zhuǎn)后的信號(hào)的話，便可將上述位置誤差ΔP的值設(shè)定為零。
圖3表示相對(duì)于干擾脈沖時(shí)，外加多個(gè)干擾脈沖修正信號(hào)后之效果的說(shuō)明圖。如圖3所示的那樣，繼圖2中的修正脈沖SC1之后，又外加了修正脈沖SC2和修正脈沖SC3。修正脈沖SC2與修正脈沖SC1屬同一極性，同一波形(即，與干擾脈沖OP的極性相反、同一波形)，它們被外加在修正脈沖SC1之后。由于外加了該修正脈沖SC2，圖(b)中所示的控制對(duì)象的速度，則與由于外加了干擾脈沖OP所產(chǎn)生的速度極性相反，其絕對(duì)值相等。
此時(shí)，控制對(duì)象的位置，將如圖(c)所示的那樣，將沿著修正位置誤差的方向移動(dòng)。修正脈沖SC3，與修正脈沖SC1的極性相反，而絕對(duì)值卻為同一波形(即，與干擾脈沖OP的極性相同，波形也相同)，它被外加在修正脈沖SC2之后。由于外加了該修正脈沖SC3，使得控制對(duì)象的速度為零(參閱圖3(b))，此時(shí)，控制對(duì)象之位置，將如圖(c)所示，可將位置誤差ΔP修正到接近零。因而，如果實(shí)施本方案②，既使缺陷很大，但理論上將不會(huì)產(chǎn)生位置誤差，同時(shí)，還可將與光盤(pán)之間的相對(duì)速度設(shè)定為零。于是，與光盤(pán)1的缺陷大小無(wú)關(guān)，同時(shí)滿足了穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償條件1及條件2雙方，從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償。
下面，以上述的分析說(shuō)明為基礎(chǔ)，說(shuō)明一下實(shí)施本缺陷補(bǔ)償方式的實(shí)施例。
相位補(bǔ)償裝置8根據(jù)通過(guò)控制循環(huán)開(kāi)關(guān)7獲得的信號(hào)而生成相位補(bǔ)償信號(hào)S8。
光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11接受到相位補(bǔ)償信號(hào)S8及缺陷檢出信號(hào)SD后，通過(guò)缺陷檢出信號(hào)SD的定時(shí)控制并依據(jù)相位補(bǔ)償信號(hào)S8產(chǎn)生光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11。
干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置13接受相位補(bǔ)償信號(hào)S8、光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11及缺陷檢出信號(hào)SD，通過(guò)缺陷檢出信號(hào)SD的定時(shí)控制并依據(jù)相位補(bǔ)償信號(hào)S8及光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11而產(chǎn)生干擾脈沖修正信號(hào)S13。
加法裝置12在將光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11與干擾脈沖修正信號(hào)S13相加后輸出缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12。
選擇開(kāi)關(guān)9在接受到相位補(bǔ)償信號(hào)S8及缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12之后，當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD處于“H”的缺陷檢出期間時(shí)將缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12作為激勵(lì)器的控制信號(hào)S20送給驅(qū)動(dòng)放大器10，當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD處于“L”的一般期間時(shí)將相位補(bǔ)償信號(hào)S8作為激勵(lì)器的控制信號(hào)S20送給驅(qū)動(dòng)放大器10。也就是說(shuō)，相位補(bǔ)償信號(hào)S8是一般的激勵(lì)器控制信號(hào)S20，缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12是缺陷檢出時(shí)的激勵(lì)器控制信號(hào)S20。此外，有關(guān)其它的構(gòu)成由于與圖15中所示的傳統(tǒng)例相同，這里將不再說(shuō)明。
控制循環(huán)開(kāi)關(guān)7在缺陷檢出信號(hào)SD位于“H”的缺陷期間中，切斷控制循環(huán)開(kāi)關(guān)7(設(shè)定為固定電位信號(hào))，以便做到不將缺陷中的非線性的控制錯(cuò)誤傳輸給光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11。
從加法裝置12輸出的缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12，如前所述的那樣，由作為光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11輸出的光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11與作為干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置13輸出的干擾脈沖修正信號(hào)S13之和進(jìn)行定義。
光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11，具有將在偏心或者發(fā)生面振動(dòng)時(shí)跟蹤或不脫離缺陷期間中的控制對(duì)象(物鏡2)的位置那樣的信號(hào)提供給驅(qū)動(dòng)線圈3的機(jī)能。
圖5表示光盤(pán)的物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方塊圖。如該圖所示，光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11由LPF(低通濾波器)11a及采樣保持裝置11b組成。LPF11a將截止頻率設(shè)定在高于光盤(pán)旋轉(zhuǎn)頻率的頻率，并按照?qǐng)D1中的(c)那樣的信號(hào)，對(duì)圖1(b)那樣的相位補(bǔ)償信號(hào)S8進(jìn)行波形的整形。
采樣保持裝置11b保持著缺陷檢出信號(hào)SD的“H”上升時(shí)(缺陷檢出開(kāi)始時(shí))的低通濾波器11a的輸出信號(hào)。該采樣保持裝置11b的輸出即為光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11，它被提供給加法裝置12以及干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置13。
圖6表示干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置13的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一應(yīng)用例的方塊圖。如該圖所示，干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置13由干擾脈沖檢出裝置13a、干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b及存儲(chǔ)器輸出控制裝置13c所構(gòu)成。
干擾脈沖檢出裝置13a在從相位補(bǔ)償信號(hào)S8中減去光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11后將干擾脈沖S13a檢出。干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b根據(jù)缺陷檢出信號(hào)SD的“L”/“H”將寫(xiě)入動(dòng)作/讀出動(dòng)作進(jìn)行取出、寫(xiě)入操作時(shí)，與干擾脈沖取樣的設(shè)定信號(hào)S21同步，對(duì)從由干擾脈沖檢出裝置13a所檢出的最新的干擾脈沖S13a的信號(hào)到規(guī)定時(shí)間之前的整個(gè)期間的干擾脈沖進(jìn)行存儲(chǔ)，讀出操作時(shí)是在存儲(chǔ)器輸出控制裝置13c的控制下將所存儲(chǔ)的內(nèi)容讀出。
存儲(chǔ)器輸出控制裝置13C接受缺陷檢出信號(hào)SD，當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD位于“H”的缺陷檢出期間中，根據(jù)干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b所存儲(chǔ)的干擾脈沖對(duì)干擾脈沖修正信號(hào)的輸出內(nèi)容及輸出順序進(jìn)行控制，在把從干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b讀出的數(shù)據(jù)的極性反轉(zhuǎn)之后作為干擾脈沖修正信號(hào)S13而輸出。
圖7表示干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b的具體結(jié)構(gòu)例的說(shuō)明圖。圖7(a)表示缺陷檢出信號(hào)SD等于“L”時(shí)的寫(xiě)入操作時(shí)的情況，圖7(b)表示缺陷檢出信號(hào)SD等于“H”時(shí)的讀出操作時(shí)的情況。
干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b由具有規(guī)定位的n個(gè)寄存器RO～R(n-1)構(gòu)成。當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD為“L”(一般再現(xiàn)模式)時(shí)，n個(gè)寄存器RO～R(n-1)具有將作為移位寄存器按著O～(n-1)的順序移位的功能，與干擾脈沖取樣設(shè)定信號(hào)S21同步地將干擾脈沖S13a依次地從寄存器RO開(kāi)始輸入給寄存器RO～R(n-1)，并進(jìn)行移位。
當(dāng)干擾檢出信號(hào)為“H”(缺陷檢出模式)時(shí)，停止對(duì)干擾脈沖的寫(xiě)入操作，在保持住所存儲(chǔ)的干擾脈沖信號(hào)的同時(shí)，轉(zhuǎn)移至讀出操作。讀出操作與干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21同步，在依次把存儲(chǔ)在寄存器RO～R(n-1)的數(shù)據(jù)的極性反轉(zhuǎn)之后順序地輸出。
圖8表示干擾脈沖檢出方法的說(shuō)明圖。該圖表示位于圖1的缺陷檢出時(shí)刻t11附近，并將時(shí)間軸擴(kuò)大以后的圖形。
同圖(a)表示缺陷檢出信號(hào)SD,(b)圖表示相應(yīng)補(bǔ)償信號(hào)S8,(c)則表示光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11,(d)表示干擾脈沖信號(hào)S13a。不過(guò)，為了方便說(shuō)明，圖中所表示的是與缺陷檢出信號(hào)SD無(wú)關(guān)，控制循環(huán)開(kāi)關(guān)7在輸入錯(cuò)誤信號(hào)S6時(shí)的波形。
如同圖所示，通過(guò)從位于缺陷入口處時(shí)刻t11附近的相位補(bǔ)償信號(hào)S8反常的增大值減去光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11的成分(從相位補(bǔ)償裝置8中消除掉含有干擾脈沖的高頻成分的低頻成分的信號(hào))，便可以將干擾脈沖S13a準(zhǔn)確地抽出。
圖9表示在對(duì)該發(fā)明的實(shí)施例1的光盤(pán)裝置實(shí)施缺陷補(bǔ)償動(dòng)作之后其結(jié)果的說(shuō)明圖。圖9為在傳統(tǒng)例中曾作過(guò)說(shuō)明的與圖14在相同條件下的本發(fā)明的缺陷補(bǔ)償時(shí)的操作。各波形的定義與圖14的情況相同，圖9(a)與圖14(a)及圖16(a)相同，即未實(shí)施缺陷處理的情況，圖9(b)則表示由實(shí)施例1的光盤(pán)裝置實(shí)施過(guò)缺陷處理的情況。
觀察圖9(b)的激勵(lì)器的控制信號(hào)SIO的話，它是在缺陷檢出時(shí)刻t1之后輸出修正脈沖信號(hào)SC1的，由該信號(hào)可使物鏡2的速度為零，其結(jié)果，可以把缺陷出口處的錯(cuò)誤信號(hào)S6抑制到較小。因此，既可以穩(wěn)定、瞬間地完成控制的引入，又降低了缺陷出口處的RF信號(hào)的振幅惡化程度，從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償。
實(shí)施例2
實(shí)施例2是指能夠更加精確地實(shí)現(xiàn)缺陷補(bǔ)償?shù)墓獗P(pán)裝置。有關(guān)這一點(diǎn)曾參照?qǐng)D3做過(guò)說(shuō)明，它采用了滿足穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷條件1及條件2的方案②，是通過(guò)依次外加干擾脈沖修正信號(hào)，即修正脈沖SC1、修正脈沖SC2及修正脈沖SC3由實(shí)施例2來(lái)實(shí)現(xiàn)該結(jié)構(gòu)的。上述結(jié)構(gòu)，只要將實(shí)施例1中的存儲(chǔ)器輸出控制裝置13C的控制內(nèi)容按滿足方式②那樣的條件作如下變更便可實(shí)現(xiàn)。
實(shí)施例2中的干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b與實(shí)施例1相同，是由規(guī)定位的n個(gè)寄存器RO～R(n-1)所組成。當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD為“L”(一般再現(xiàn)模式)時(shí)，n個(gè)寄存器RO～R(n-1)將發(fā)揮與實(shí)施例1相同的移位寄存器功能，與干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21同步地從寄存器O開(kāi)始依次輸入干擾脈沖信號(hào)S13a。
當(dāng)缺陷檢出信號(hào)等于“H”(缺陷檢出模式)時(shí)，干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b將干擾脈沖的寫(xiě)入操作(動(dòng)作)停止，在保持著干擾脈沖S13a的同時(shí)，轉(zhuǎn)移至讀出操作(動(dòng)作)。
圖10表示當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD等于“L”時(shí)在存儲(chǔ)器輸出控制裝置13C的控制下所進(jìn)行的來(lái)自干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b的讀出操作之內(nèi)容的流程圖。
參考該圖，在步聚S1中，與干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21同步，將儲(chǔ)存在按RO～R(n-1)順序排列的寄存器中的數(shù)據(jù)的極性反轉(zhuǎn)后，并依次輸出生成修正脈沖SC1。
其后，在步驟2中，其操作與步驟S1完全相同，與干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21同步地將儲(chǔ)存在按RO～R(n-1)之順序排列的寄存器中的數(shù)據(jù)的極性反轉(zhuǎn)后并依次輸出而生成修正脈沖SC2。
另外，在步驟S3中，與干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21同步地將儲(chǔ)存在寄存器RO～R(n-1)中的數(shù)據(jù)的極性保持不變地依次輸出而生成修正脈沖SC3。
這樣，通過(guò)從實(shí)施例1按圖10所示的那樣變更存儲(chǔ)器輸出控制裝置13C的控制內(nèi)容，實(shí)施例2的光盤(pán)裝置便可實(shí)現(xiàn)方案②。因此，其它的結(jié)構(gòu)則與圖4所示的實(shí)施例1的光盤(pán)裝置相同。
圖11表示在本發(fā)明的實(shí)施例2中的光盤(pán)裝置中實(shí)施缺陷補(bǔ)償操作后之結(jié)果的說(shuō)明圖。圖11是曾在傳統(tǒng)例中介紹過(guò)的與圖14具有相同條件的本發(fā)明的缺陷補(bǔ)償時(shí)的操作。雖然各波形的定義與圖14相同，但圖11(a)與圖9(a)相同，表示未實(shí)施缺陷處理時(shí)的情況，圖11(b)則表示由實(shí)施例2的光盤(pán)裝置進(jìn)行缺陷處理后的情況。
由圖11(b)的激勵(lì)器控制信號(hào)S20可知，在缺陷檢出時(shí)刻t1之后依次將修正脈沖SC1，修正脈沖SC2，以及修正脈沖SC3輸出，并通過(guò)該信號(hào)將物鏡2的速度設(shè)定為零，與此同時(shí)，也將缺陷出口處的控制偏差設(shè)定為零。這樣，既可以穩(wěn)定地在瞬間完成控制的插入，又可以降低缺陷出口處的RF信號(hào)振幅的惡化程度，從而實(shí)現(xiàn)既與光盤(pán)1的缺陷程度無(wú)關(guān)，又可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、準(zhǔn)確的缺陷補(bǔ)償。
實(shí)施例3在缺陷入口處由于在錯(cuò)誤信號(hào)S6中混入了干擾錯(cuò)誤而引起的干擾脈沖一事曾作過(guò)敘述。因此，干擾脈沖的時(shí)間長(zhǎng)度為依賴(lài)于再現(xiàn)線速度(再現(xiàn)時(shí)光盤(pán)1的線速度)的函數(shù)，不言而喻，線速度越快其干擾脈沖的時(shí)間長(zhǎng)度越短，線速度越慢則時(shí)間長(zhǎng)度越長(zhǎng)。因此，希望相對(duì)于線速度來(lái)改變干擾脈沖的存儲(chǔ)時(shí)間。也就是說(shuō)，實(shí)施例3，是一種可以準(zhǔn)確地對(duì)干擾脈沖進(jìn)行存儲(chǔ)的光盤(pán)裝置。
實(shí)施例3的光盤(pán)裝置的結(jié)構(gòu)，與實(shí)施例1及實(shí)施例2相同，但在干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置13的結(jié)構(gòu)上略有不同。干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b，是由具有規(guī)定位的m個(gè)寄存器RO～R(m-1)所構(gòu)成，m是依據(jù)再現(xiàn)播放時(shí)的線速度達(dá)到最慢時(shí)所需要寄存器個(gè)數(shù)而予先設(shè)定的。
然后，依據(jù)再現(xiàn)播放的線速度從所準(zhǔn)備的m個(gè)寄存器OK～R(m-1)中按實(shí)際需要設(shè)定實(shí)際所使用的寄存器個(gè)數(shù)K。也就是說(shuō)，再現(xiàn)線速度慢時(shí)需將寄存器個(gè)數(shù)K取大(最大為m)，反之快時(shí)將K取小，以便對(duì)最適合于再現(xiàn)線速度的干擾脈沖存儲(chǔ)時(shí)間(采用實(shí)際需要的寄存器數(shù)為K個(gè)寄存器時(shí)所存儲(chǔ)的時(shí)間)進(jìn)行控制。
圖12表示在實(shí)施例3中使用干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b的應(yīng)用例的說(shuō)明圖。圖12(a)表示缺陷檢出信號(hào)SD等于“L”的寫(xiě)入操作時(shí)的情況，(b)則表示缺陷檢出信號(hào)SD等于“H”時(shí)的讀出操作時(shí)的情況。
干擾脈沖存儲(chǔ)裝置13b的規(guī)定位的m個(gè)寄存器RO～R(m-1)，被分類(lèi)為由實(shí)際使用的K(K=1～m)個(gè)寄存器RO～R(K-1)所組成的實(shí)際使用的寄存器組13b1和由未使用的(m-K)個(gè)寄存器RK～R(m-1)所組成的未使用的寄存器組13b2。
然后，當(dāng)缺陷檢出信號(hào)SD等于“L”時(shí)，將按O～(k-1)的順序作為移位的移位寄存器使用實(shí)際使用的寄存器組13b1的寄存器RO～R(K-1)的同時(shí)進(jìn)行寫(xiě)入操作，并完全不使用未使用的寄存器組13b2的寄存器RK～R(m-1)。
另一方面，當(dāng)干擾檢出信號(hào)等于“H”時(shí)，實(shí)際使用的寄存器組13b1按著寄存器RO～R(k-1)的順序依次將數(shù)據(jù)輸出，而未使用的寄存器組13b2的寄存器RK～R(m-1)則完全處于不使用狀態(tài)。此外，依據(jù)存儲(chǔ)器輸出控制裝置13C的控制內(nèi)容當(dāng)然也可以生成實(shí)施例1或者實(shí)施例2中的任意一個(gè)干擾脈沖修正信號(hào)。
此外，作為取樣時(shí)鐘的干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21的周期以及其它結(jié)構(gòu)的算法則與實(shí)施例1和實(shí)施例2相同。由于采用了這樣的結(jié)構(gòu)，既實(shí)現(xiàn)了符合干擾脈沖段的干擾脈沖的存儲(chǔ)，又實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的缺陷補(bǔ)償。
此外，這里并沒(méi)有改變干擾脈沖采樣設(shè)定信號(hào)S21的周期，有關(guān)依據(jù)實(shí)際使用的寄存器數(shù)K的變更按照再現(xiàn)的線速度所進(jìn)行的干擾脈沖的存儲(chǔ)曾作過(guò)說(shuō)明，不過(guò)，將寄存器數(shù)K固定，根據(jù)再現(xiàn)的線速度改變作為取樣時(shí)鐘的干擾脈沖取樣設(shè)定信號(hào)S21的周期也具有同樣的效果。
綜上所述，由本發(fā)明的權(quán)利要求1所述的光盤(pán)裝置，在缺陷檢出期間中，是通過(guò)在低頻修正信號(hào)里加入干擾脈沖修正信號(hào)的缺陷補(bǔ)償信號(hào)來(lái)作為驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)的。
低頻修正信號(hào)就是在缺陷檢出開(kāi)始時(shí)，從一般的控制信號(hào)中去掉作為高頻成分的干擾脈沖，對(duì)僅讓一般的控制信號(hào)中的變動(dòng)頻率成分通過(guò)的低頻成分信號(hào)進(jìn)行取樣的信號(hào)，因此一般情況，由于缺陷檢出期間與一般控制信號(hào)的變動(dòng)周期相比要小的多，所以，隨著從缺陷檢出期間朝著一般期間的轉(zhuǎn)變，驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)從缺陷補(bǔ)償信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)橐话憧刂菩盘?hào)之際，將保持驅(qū)動(dòng)裝置的控制連續(xù)性。
另一方面，由于干擾脈沖修正信號(hào)中含有第1修正脈沖，該第1修正脈沖是用與從缺陷檢出開(kāi)始時(shí)到規(guī)定時(shí)間的期間中所產(chǎn)生的干擾脈沖相同的沖量將極性反轉(zhuǎn)后所得到的，故它與缺陷檢出期間的時(shí)間長(zhǎng)度無(wú)關(guān)，干擾脈沖信號(hào)(在缺陷檢出之前的時(shí)間域中被混入到一般的控制信號(hào)里)可以通過(guò)第1修正脈沖完全地消除掉帶給驅(qū)動(dòng)裝置的控制速度的惡劣影響。因此，既使缺陷檢出期間再長(zhǎng)也可以對(duì)驅(qū)動(dòng)裝置實(shí)施穩(wěn)定的控制。
在由權(quán)利要求2所述的光盤(pán)裝置中，由于干擾脈沖修正信號(hào)包含第1～第3修正脈沖信號(hào)，所以可以通過(guò)第2及第3修正脈沖信號(hào)完全消除掉干擾脈沖加給驅(qū)動(dòng)裝置的控制位置的惡劣影響。因此，既便缺陷檢出期間變長(zhǎng)，也同樣可以更加穩(wěn)定地對(duì)驅(qū)動(dòng)裝置實(shí)施控制。
由權(quán)利要求3所述的光盤(pán)裝置通過(guò)依據(jù)光盤(pán)的再現(xiàn)播放線速度而設(shè)定作為干擾脈沖的識(shí)別期間的規(guī)定時(shí)間，所以，也可以在適合于具有與再現(xiàn)線速度正相關(guān)(值)的干擾脈沖的脈沖發(fā)生時(shí)間的時(shí)間里進(jìn)行設(shè)定。
在由權(quán)利要求4所述的光盤(pán)裝置中，一般期間中除了使規(guī)定數(shù)目的寄存器具有作為移位寄存器之功能的同時(shí)還可以存儲(chǔ)干擾脈沖，在缺陷檢出期間中，通過(guò)按規(guī)定的順序?qū)⒃谌毕輽z出開(kāi)始時(shí)刻中被儲(chǔ)存在規(guī)定數(shù)量的寄存器內(nèi)的數(shù)據(jù)讀出，可以正確地將干擾脈沖再現(xiàn)。因此，干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置可以產(chǎn)生對(duì)干擾脈沖的惡劣影響加以高精度修正的干擾脈沖修正信號(hào)。此外，通過(guò)作為寄存器數(shù)目的規(guī)定值也可以設(shè)定作為干擾脈沖識(shí)別時(shí)間的規(guī)定時(shí)間。
權(quán)利要求
1.一種光盤(pán)裝置，包括將光照射給光盤(pán)的光照射裝置；依據(jù)驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)進(jìn)行與所述光盤(pán)相關(guān)的規(guī)定操作的驅(qū)動(dòng)裝置；檢出與來(lái)自所述光盤(pán)的反射光相關(guān)的反射光信息的反射光信息檢出裝置；依據(jù)前述反射光信息，生成確定前述規(guī)定操作中控制量的一般信號(hào)的一般控制信號(hào)發(fā)生裝置；依據(jù)前述反射光信息，產(chǎn)生指出在前述光盤(pán)中是否存在著缺少光學(xué)信息的缺陷區(qū)域的缺陷檢出信號(hào)的缺陷檢出信號(hào)發(fā)生裝置，前述缺陷檢出信號(hào)指示不存在前述缺陷區(qū)域的期間作為一般期間，將由前述缺陷檢出信號(hào)指示存在有前述缺陷區(qū)域的期間作為缺陷檢出期間，此外還包括在前述一般期間中，將使前述一般控制信號(hào)的變動(dòng)頻率通過(guò)、并對(duì)前述一般的控制信號(hào)實(shí)施除去高頻成分的濾波處理所得到的低頻成分信號(hào)作為低頻修正信號(hào)發(fā)生、在前述缺陷檢出期間中，將在從前述一般期間轉(zhuǎn)換到前述缺陷檢出期間的缺陷檢出開(kāi)始時(shí)采樣的前述低頻成分信號(hào)作為前述低頻修正信號(hào)的低頻修正信號(hào)發(fā)生裝置；根據(jù)從前述缺陷檢出開(kāi)始時(shí)到規(guī)定的時(shí)間之前的期間中的前述低頻修正信號(hào)與前述一般控制信號(hào)之差值識(shí)別干擾脈沖，產(chǎn)生含有以與該干擾脈沖相同的沖量將其極性反轉(zhuǎn)所得到的第1修正脈沖的干擾脈沖修正信號(hào)的干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置；對(duì)前述低頻修正信號(hào)加上前述干擾脈沖修正信號(hào)而得到缺陷補(bǔ)償信號(hào)的加法裝置；前述一般期間作為前述驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)選擇前述一般控制信號(hào)，前述缺陷檢出期間作為前述驅(qū)動(dòng)控制信號(hào)而選擇前述缺陷補(bǔ)償信號(hào)的選擇裝置。
2.一種由權(quán)利要求1所記述的光盤(pán)裝置，前述干擾脈沖修正信號(hào)包括繼前述第1修正脈沖之后的第2及第3修正脈沖，前述第2修正脈沖包括以與前述干擾脈沖相同的沖量將極性反轉(zhuǎn)所得到的脈沖，前述第3修正脈沖包含用與前述干擾脈沖相同的沖量得到的極性相同的脈沖。
3.一種由權(quán)利要求1或權(quán)利要求2所述的光盤(pán)裝置，前述規(guī)定的操作包括將被記錄在前述光盤(pán)內(nèi)的信息行再現(xiàn)的操作，前述規(guī)定的時(shí)間是根據(jù)對(duì)前述光盤(pán)進(jìn)行再現(xiàn)操作時(shí)的作為線速度的再現(xiàn)線速而設(shè)定的。
4.一種由權(quán)利要求1或2所記述的光盤(pán)裝置，前述干擾脈沖修正信號(hào)發(fā)生裝置設(shè)有在前述一般期間中，邊按照規(guī)定次序進(jìn)行移位，邊依次存儲(chǔ)前述干擾脈沖的規(guī)定數(shù)量的寄存器，前述即定時(shí)間包括可以由前述規(guī)定數(shù)量的寄存器存儲(chǔ)的時(shí)間，還設(shè)有根據(jù)前述缺陷檢出期間中，按前述規(guī)定次序?qū)⑶笆鋈毕輽z出開(kāi)始時(shí)刻存儲(chǔ)于前述規(guī)定數(shù)量的寄存器內(nèi)的數(shù)據(jù)讀出來(lái)并再現(xiàn)的前述干擾脈沖而產(chǎn)生前述干擾脈沖修正信號(hào)的修正脈沖發(fā)生控制裝置。
全文摘要
一種光盤(pán)裝置,其特征在于:在缺陷檢出前后不會(huì)失去控制的連續(xù)性,即便是在缺陷檢出的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)的場(chǎng)合,也可以對(duì)再現(xiàn)的操作驅(qū)動(dòng)進(jìn)行穩(wěn)定地驅(qū)動(dòng)控制。光盤(pán)的物理畸變修正信號(hào)發(fā)生裝置11,在一般期間中將相位補(bǔ)償信號(hào)通過(guò)LPF(低通濾波器)所得到的信號(hào)作為光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11輸出,在缺陷檢出期間中,將缺陷檢出開(kāi)始時(shí)所取樣得到的LPF的輸出信號(hào)作為光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11輸出。干擾脈沖檢出裝置13a根據(jù)從相位補(bǔ)償信號(hào)S8中減去光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11后所得的干擾脈沖信號(hào)S13a將干擾脈沖修正信號(hào)S13輸出。加法裝置12在將光盤(pán)物理畸變修正信號(hào)S11和干擾脈沖修正信號(hào)S13相加后將缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12輸出。該缺陷補(bǔ)償信號(hào)S12是在缺陷檢出期間中作為激勵(lì)器的控制信號(hào)S20給予的。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1323029SQ0111704
公開(kāi)日2001年11月21日 申請(qǐng)日期2001年3月1日 優(yōu)先權(quán)日2000年3月1日
發(fā)明者橫山英二, 龍智明 申請(qǐng)人:三菱電機(jī)株式會(huì)社