專利名稱：：檢驗(yàn)盤缺陷管理區(qū)信息的方法及執(zhí)行該方法的測(cè)試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種能夠在一記錄和再現(xiàn)盤上記錄信息并從該盤再現(xiàn)信息的設(shè)備，尤其涉及一種檢驗(yàn)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常地產(chǎn)生或更新盤的缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法以及用于執(zhí)行該方法的測(cè)試設(shè)備。記錄和再現(xiàn)盤是采用諸如激光束的光來(lái)記錄和再現(xiàn)信息的光盤，例如是數(shù)字通用盤隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重寫盤。根據(jù)“可重寫盤DVD規(guī)范，部分1，物理規(guī)范版本2.0(DVDSpecificationsforRewritab1eDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”,DVD-RAM在其每側(cè)包括4個(gè)DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4，用于管理其上的缺陷。如圖1所示，DMA1和DMA2位于靠近盤內(nèi)徑的導(dǎo)入?yún)^(qū)，DMA3和DMA4位于靠近盤外經(jīng)的導(dǎo)出區(qū)。每個(gè)DMA后跟隨保留扇區(qū)。DMA中存儲(chǔ)有盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有關(guān)盤格式結(jié)構(gòu)的信息，例如盤認(rèn)證標(biāo)記、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器和每個(gè)區(qū)的開始邏輯扇區(qū)號(hào)。PDL包括有關(guān)在盤初始化期間在盤上檢測(cè)到的所有缺陷扇區(qū)的信息。SDL包括有關(guān)在使用盤時(shí)出現(xiàn)的缺陷塊(糾錯(cuò)碼(ECC)塊)中每個(gè)第一扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)的信息、有關(guān)被用來(lái)替代缺陷塊的備用塊中每個(gè)第一扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)的信息、以及有關(guān)備用區(qū)的信息?？梢粤⒓醋x取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面，DMA包括隨盤上缺陷位置和數(shù)目變化的信息。此外，可通過(guò)基于DMA中所登記的缺陷信息來(lái)執(zhí)行一算法來(lái)獲得一些信息，例如，每個(gè)區(qū)域的開始扇區(qū)號(hào)或邏輯扇區(qū)號(hào)0的位置信息。為了防止由于DMA信息中的差錯(cuò)引起的錯(cuò)誤的缺陷管理，因此在盤的每側(cè)存在4個(gè)DMA。由于這種DMA信息與物理數(shù)據(jù)扇區(qū)緊密相關(guān)，因此，當(dāng)不正確地寫入或讀出DMA信息時(shí)，諸如可移動(dòng)光盤的記錄介質(zhì)可能與兩種不同的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備不兼容。這是因?yàn)椋?dāng)將盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備(例如DVD-RAM記錄和再現(xiàn)設(shè)備)的記錄和再現(xiàn)體系結(jié)構(gòu)分成文件系統(tǒng)層、用于將主計(jì)算機(jī)與記錄和再現(xiàn)設(shè)備相接口的主接口層、用于記錄和再現(xiàn)物理信號(hào)的物理盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備(或盤驅(qū)動(dòng)單元)層、和記錄介質(zhì)層時(shí)，在物理盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備層及其下面的層執(zhí)行DMA信息的寫入和讀取。在實(shí)際的文件系統(tǒng)中，僅基于邏輯扇區(qū)號(hào)將要被記錄或再現(xiàn)的用戶信息發(fā)送到盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，并且盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備將邏輯扇區(qū)號(hào)變換成物理扇區(qū)號(hào)，以記錄或再現(xiàn)用戶信息。在這種情況下，使用DMA信息。因此，當(dāng)在給定的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中錯(cuò)誤地讀取或?qū)懭隓MA信息時(shí)，在其他記錄和再現(xiàn)設(shè)備上不能正確地讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)。因此，需要一種用于檢驗(yàn)盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正確地讀取記錄在盤上的信息并且將DMA信息正確地記錄到盤上以產(chǎn)生或更新DMA信息的方法。為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明的第一目的是提供一種用于檢驗(yàn)在輔助備用區(qū)擴(kuò)展模式下盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常地產(chǎn)生或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法。本發(fā)明的第二目的是提供一種用于檢驗(yàn)在輔助備用區(qū)擴(kuò)展模式下盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常地產(chǎn)生或更新盤的缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，其中該DMA信息是使用空白盤和用作測(cè)試基準(zhǔn)的DMA鏡像文件產(chǎn)生的。本發(fā)明的第三目的是提供一種用于檢驗(yàn)在輔助備用區(qū)擴(kuò)展模式下盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常地產(chǎn)生或更新DMA信息的測(cè)試設(shè)備。為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其他目的，提供了一種用于檢驗(yàn)在具有DMA信息的盤上記錄信息或從這種盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的方法。該方法包括下列步驟采用具有測(cè)試基準(zhǔn)信息的測(cè)試盤，擴(kuò)展記錄和再現(xiàn)設(shè)備中測(cè)試盤的輔助備用區(qū)，并從測(cè)試盤中產(chǎn)生測(cè)試信息；和，將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中得到的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息相比較，并提供對(duì)測(cè)試信息的檢驗(yàn)結(jié)果。為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的上述和其他目的，還提供了一種用于測(cè)試在具有DMA信息的盤上記錄信息或從這種盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的設(shè)備。該設(shè)備包括測(cè)試盤，其具有測(cè)試基準(zhǔn)信息；基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器，用于在記錄和再現(xiàn)設(shè)備在輔助備用區(qū)擴(kuò)展模式下對(duì)測(cè)試盤進(jìn)行處理之后，從測(cè)試盤產(chǎn)生測(cè)試信息；和檢驗(yàn)器，用于將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中得到的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息相比較，并提供對(duì)測(cè)試信息的檢驗(yàn)結(jié)果。通過(guò)下面結(jié)合附圖對(duì)優(yōu)選實(shí)施例的描述，本發(fā)明的上述和其他目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更加清楚，其中圖1表示可重寫盤的示意性配置；圖2的框圖表示本發(fā)明測(cè)試設(shè)備的功能；圖3A至3D是由圖2的檢驗(yàn)器所具有的用于檢驗(yàn)的詳細(xì)檢查表的示例；圖4表示輔助備用區(qū)擴(kuò)展的示例；圖5表示本發(fā)明檢驗(yàn)方法的流程圖；和圖6的框圖表示圖2所示的待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器。下面將通過(guò)下面結(jié)合示例性地示出示例的附圖對(duì)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，其中，相同部件采用相同標(biāo)號(hào)。下面將參照附圖描述實(shí)施例，以解釋本發(fā)明。參照?qǐng)D2，測(cè)試設(shè)備包括C-1盤201、缺陷管理區(qū)(DMA)鏡像文件提供器203、基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205、C-3盤207、待測(cè)試盤209、C-3’盤211、C-3’盤DMA鏡像文件213、和檢驗(yàn)器215。C-1盤201是測(cè)試盤，其具有故意的物理缺陷，目的是測(cè)試能夠在諸如數(shù)字通用盤隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DVD-RAM)的可重寫盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息的盤驅(qū)動(dòng)器，并且C-1盤201基本上是其上未記錄用戶數(shù)據(jù)的空白盤。只要C-1盤201上未記錄“信息”或其上未出現(xiàn)“故意缺陷”，則可將C-1盤201視作空白盤。因此，當(dāng)測(cè)試盤驅(qū)動(dòng)器時(shí)，將C-1盤201上的物理缺陷用作已知信息。另外，設(shè)計(jì)C-1盤201使之滿足在“可重寫盤DVD規(guī)范2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)”中所規(guī)定的容量為4.7千兆字節(jié)的相位變化記錄DVD-RAM的條件。DMA鏡像文件提供器203提供作為測(cè)試基準(zhǔn)信息的DMA鏡像文件，該測(cè)試基準(zhǔn)信息包括如圖1所示的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)信息、主缺陷列表(PDL)信息和次缺陷列表(SDL)信息，并滿足輔助備用區(qū)(SSA)為滿的條件。為了滿足SSA為滿的條件，配置測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，使得PDL中主備用區(qū)(PSA)的備用區(qū)滿標(biāo)記被設(shè)置成表示滿狀態(tài)的“1b”，并使得SDL中SSA的備用區(qū)滿標(biāo)記被設(shè)置成表示滿狀態(tài)的“1b”。在主缺陷的初始化或再初始化期間，在盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的第一部分設(shè)置PSA。在滑移(slipping)替換后余下的PSA被用于線性替換。當(dāng)PSA不足時(shí)，在初始化或再初始化期間，或在使用盤的同時(shí)，另外指定或擴(kuò)展SSA的尺寸。不給PSA和SSA指定邏輯扇區(qū)號(hào)。邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN)與物理扇區(qū)號(hào)之間的關(guān)系隨盤上的缺陷而改變。換言之，由于每當(dāng)出現(xiàn)缺陷扇區(qū)時(shí)為PSA指定從區(qū)域的結(jié)尾到開頭的一個(gè)扇區(qū)，因此LSN改變。有關(guān)采用滑移替換方式替換的缺陷扇區(qū)位置的信息被記錄在PDL中。在線性替換期間使用SSA，其中，當(dāng)在正使用的盤上檢測(cè)到缺陷(次缺陷)時(shí)，糾錯(cuò)碼(ECC)塊被備用區(qū)中正常的塊替換。對(duì)于線性替換期間盤上的LSN與物理扇區(qū)號(hào)之間的關(guān)系，當(dāng)在將LSN指定為物理扇區(qū)號(hào)的扇區(qū)中檢測(cè)到缺陷時(shí)，即當(dāng)檢測(cè)到次缺陷時(shí)，從可用SSA的結(jié)尾開始指定用于替換具有LSN的缺陷扇區(qū)的扇區(qū)。換言之，采用物理備用區(qū)中的一扇區(qū)來(lái)替換具有LSN的缺陷扇區(qū)。有關(guān)采用線性替換方式替換的缺陷扇區(qū)位置的信息被記錄在DMA的SDL中?？蛇@樣配置測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，使得備用區(qū)滿標(biāo)記被設(shè)置成表示滿狀態(tài)的值，而不管PSA和SSA是否根據(jù)上述替換方式被填充數(shù)據(jù)?；鶞?zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205是用于測(cè)試能夠在盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的設(shè)備的改進(jìn)的測(cè)試記錄和再現(xiàn)設(shè)備。當(dāng)將C-1盤201加載到基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205并且從DMA鏡像文件提供器203提供測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件時(shí)，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205在C-1盤201上記錄的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，以產(chǎn)生C-3盤207。測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件被記錄到C-1盤201上，而不管C-1盤201上的物理缺陷如何。因此，除物理缺陷之外，C-3盤207還包括測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息，該信息用于進(jìn)行測(cè)試，而不管C-1盤201上的物理缺陷如何，因此，記錄在C-3盤207上的測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息是用戶已知的預(yù)先確定的(pre-firxed)信息。設(shè)計(jì)C-3盤207使之滿足在“可重寫盤DVD規(guī)范2.0版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)”中所規(guī)定的容量為4.7千兆字節(jié)的相位變化記錄DVD-RAM的條件。當(dāng)將其上擴(kuò)展了SSA的C-3’盤211加載到基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205中時(shí)，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205立即讀取記錄在C-3’盤211上的DMA信息，并根據(jù)DMA信息輸出C-3’盤DMA鏡像文件213，作為測(cè)試信息。該測(cè)試信息可以是C-3’盤DMA鏡像文件213的一部分?？墒褂肅-3’盤DMA鏡像文件213的任何部分。待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209是能夠在可重寫盤上記錄信息和從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備。當(dāng)將C-3盤207加載到待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209中時(shí)，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209在SSA擴(kuò)展模式下執(zhí)行一處理。因此，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209產(chǎn)生或更新C-3盤207上的DMA，以產(chǎn)生其上擴(kuò)展了C-3盤207的SSA的C-3’盤211。與C-1盤201一樣，C-3’盤211被設(shè)計(jì)成滿足容量為4.7千兆(GB)字節(jié)的相位變化記錄DVD-RAM的條件。由待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209產(chǎn)生的C-3’盤211被加載到基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205，并因此如上所述地輸出測(cè)試信息。來(lái)自基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205的測(cè)試信息被提供給檢驗(yàn)器215。在提供測(cè)試信息時(shí)，基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器205可立即向檢驗(yàn)器205提供測(cè)試信息。檢驗(yàn)器215使用有關(guān)當(dāng)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209在SSA擴(kuò)展模式下對(duì)C-3盤207進(jìn)行正常處理時(shí)所獲得的DMA的所期望基準(zhǔn)信息(期望值)，來(lái)檢驗(yàn)C-3’盤DMA鏡像文件213。所期望的基準(zhǔn)信息可由檢驗(yàn)器215根據(jù)從DMA鏡像文件提供器203提供的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件和先前提供的C-1盤211中所包含的物理缺陷信息來(lái)設(shè)置。另外，如圖3A至3D所示，可預(yù)先準(zhǔn)備和使用DMA信息表。圖3A表示檢驗(yàn)器215所能包括的用于DMA檢驗(yàn)的檢查表。該列表的檢查項(xiàng)目包括DMA1至DMA4的差錯(cuò)條件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、SDL1至SDL4中的SDL更新計(jì)數(shù)器、以及DMA1至DMA4中的內(nèi)容。DMA項(xiàng)目中的差錯(cuò)條件用于檢查DMA中是否存在差錯(cuò)，其中的兩個(gè)位于導(dǎo)入?yún)^(qū)，另兩個(gè)位于導(dǎo)出區(qū)。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA這4個(gè)DMA的任意一個(gè)中不能存在不能糾正的差錯(cuò)。如果在任意一個(gè)DMA中存在任何不能糾正的差錯(cuò)，則輸出測(cè)試結(jié)果，以通知用戶待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209未能產(chǎn)生或更新C-3盤207的DMA。當(dāng)DMA的產(chǎn)生或更新以失敗告終時(shí)，用戶需要采用另一測(cè)試盤從頭重新測(cè)試。為了在再初始化時(shí)檢驗(yàn)DDS/PDL和SDL更新計(jì)數(shù)器項(xiàng)目，檢查表示4個(gè)DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4個(gè)SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值的“M+k”值，以查看值“M”是否為先前值和值“k”是否為“1”，因?yàn)楫?dāng)更新或重寫DDS/PDL時(shí)每個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值遞增1?！跋惹爸怠笔侵复郎y(cè)試驅(qū)動(dòng)器209執(zhí)行輔助備用區(qū)的擴(kuò)展之前的“M”值。還檢查4個(gè)DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA中的8個(gè)DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同。檢查表示4個(gè)SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新計(jì)數(shù)器值的“N+k”值，以查看值“N”是否為先前值和值“k”是否為“1”，因?yàn)楫?dāng)更新或重寫SDL時(shí)每個(gè)SDL更新計(jì)數(shù)器值遞增1?！跋惹爸怠笔侵复郎y(cè)試驅(qū)動(dòng)器209執(zhí)行輔助備用區(qū)的擴(kuò)展之前的“N”值。還檢查4個(gè)SDL中的值是否相同。另外，還檢查4個(gè)DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的內(nèi)容是否相同。圖3B表示檢驗(yàn)器215可包括的用于DDS的檢驗(yàn)的檢查表。該列表的檢查項(xiàng)目包括DDS標(biāo)識(shí)符、盤認(rèn)證標(biāo)記、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)位置、第一邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN0)位置、每個(gè)區(qū)域的開始LSN等。驗(yàn)證DDS標(biāo)識(shí)符為“0A0Ah”。檢查盤認(rèn)證標(biāo)記的一個(gè)字節(jié)中表示是否在進(jìn)程中的比特位置b7的值是否為“0b”。如果比特位置b7的值為“0b”，則表明正在進(jìn)行格式化。因此，當(dāng)比特位置b7的值為“1b”時(shí)，檢驗(yàn)器215確定格式化失敗。此外，檢查盤認(rèn)證標(biāo)記中保留的比特位置b6至b2是否全部為“0b”，并檢查表示用戶認(rèn)證標(biāo)記的比特位置b1的值是否為“1b”。還檢查表示盤制造商認(rèn)證標(biāo)記的比特位置b0的值是否為“1b”。為了檢驗(yàn)相應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器，檢查表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值的值M是否為先前值，并且表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量的值k是否為1，該增量表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器“M”在測(cè)試前和測(cè)試后的差值。還檢查組數(shù)的值是否為表示組數(shù)為“1”的“0001h”，并且區(qū)域數(shù)的值是否為表示區(qū)域數(shù)為35的“0023h”。另外，檢查主備用區(qū)中第一扇區(qū)號(hào)是否為“031000h”和主備用區(qū)中最后的扇區(qū)號(hào)是否為“0341FFh”。檢查是否根據(jù)在PDL中登記的缺陷數(shù)來(lái)確定每個(gè)區(qū)域的開始LSN(LSN0)，即第二區(qū)域(區(qū)域1)至第35區(qū)域(區(qū)域34)的開始LSN的位置。在PDL中登記的缺陷覆蓋C-1盤201上的物理缺陷和從DMA鏡像文件提供器203提供的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的PDL中登記的缺陷。檢查DDS結(jié)構(gòu)中剩余的保留區(qū)域(字節(jié)位置396至2047)是否全部為“00h”。如圖3C所示，用于檢驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括PDL標(biāo)識(shí)符、PDL中項(xiàng)目數(shù)、PDL項(xiàng)目的完整性(integrity)、和未使用區(qū)域。檢查PDL標(biāo)識(shí)符是否為“0001h”。PDL中的項(xiàng)目數(shù)是C-1盤201上物理缺陷數(shù)與從DMA鏡像文件提供器203提供的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的PDL中登記的缺陷數(shù)之和。為了檢驗(yàn)每個(gè)PDL項(xiàng)目中的完整性，檢查項(xiàng)目的類型和有缺陷的扇區(qū)號(hào)。對(duì)于PDL項(xiàng)目類型，檢查表示C-3盤207上存在的已知的P列表的“00b”、表示在用戶認(rèn)證期間檢測(cè)到的有缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”、以及表示由于SDL變換引起的G2列表的“11b”是否與測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件中的那些相同。檢查PDL中有缺陷的扇區(qū)號(hào)是否以遞增順序?qū)懭?。此外，還檢查未使用區(qū)域是否設(shè)置成“FFh”。如圖3D所示，用于檢驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)的檢查項(xiàng)目包括SDL標(biāo)識(shí)符、SDL更新計(jì)數(shù)器、次備用區(qū)(SSA)的開始扇區(qū)號(hào)、邏輯扇區(qū)總數(shù)、DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器、備用區(qū)滿標(biāo)記、SDL中的項(xiàng)目數(shù)、SDL項(xiàng)目的完整性、未使用區(qū)域、保留區(qū)域等。檢查SDL標(biāo)識(shí)符是否為“0002h”。為了檢驗(yàn)相應(yīng)的SDL更新計(jì)數(shù)器的項(xiàng)目，檢查表示SDL更新計(jì)數(shù)器值的值N是否為先前值，并且表示SDL更新計(jì)數(shù)器增量的值k是否為1，該增量表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器“N”在測(cè)試前和測(cè)試后的差值。為了檢驗(yàn)相應(yīng)的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的項(xiàng)目，檢查表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器值的值M是否為先前值，并且表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量的值k是否為1。檢查備用區(qū)滿標(biāo)記是否表示次備用區(qū)為不滿，因?yàn)楫?dāng)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209擴(kuò)展SSA時(shí)SSA滿標(biāo)記被設(shè)置成表示不滿狀態(tài)的值。當(dāng)測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括有關(guān)用于擴(kuò)展SSA的可用區(qū)域的信息時(shí)，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209要將C-3盤207的SSA擴(kuò)展預(yù)定區(qū)域，如圖4所示。因此，通過(guò)檢查SSA的開始扇區(qū)號(hào)和邏輯上讀取總數(shù)來(lái)檢驗(yàn)是否正常地執(zhí)行了SSA的擴(kuò)展。當(dāng)測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件包括有關(guān)最大可用SSA的信息時(shí)，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209應(yīng)采用有關(guān)最大可用SSA的信息來(lái)計(jì)算當(dāng)前SSA和SSA的額外的可指定區(qū)域，并擴(kuò)展SSA。待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209還應(yīng)在DDS中記錄有關(guān)擴(kuò)展的信息。因此，檢查是否正常地執(zhí)行該擴(kuò)展。與此同時(shí)，由于備用區(qū)未被指定LSN并且其不包括在文件系統(tǒng)區(qū)域中，因此，當(dāng)擴(kuò)展SSA時(shí)，文件系統(tǒng)信息改變。這是因?yàn)椋ㄎ募到y(tǒng)區(qū)域的尺寸的文件系統(tǒng)信息通常記錄在卷區(qū)域的開始和結(jié)尾部分上，因此，其上記錄有文件系統(tǒng)信息的位置可能改變，如圖4所示。因此，最好檢查在驗(yàn)證SSA被適當(dāng)?shù)財(cái)U(kuò)展時(shí)文件系統(tǒng)信息是否被正確地更新。由于已知SDL的總使用區(qū)域，因此，如果檢查SDL中的項(xiàng)目數(shù)，則可確定SDL的未使用區(qū)域尺寸。因此，檢查C-3’盤DMA鏡像文件213的未使用區(qū)域尺寸是否等于基于SDL中項(xiàng)目數(shù)的SDL的未使用區(qū)域尺寸，并且還檢查未使用區(qū)域是否被設(shè)置成“FFh”。另外，還檢查所有保留區(qū)域的期望值是否為“00h”如上所述，通過(guò)檢查C-3’盤DMA鏡像文件213中所包含的信息是否與預(yù)定的基準(zhǔn)信息相一致，檢驗(yàn)器215檢驗(yàn)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209在根據(jù)從C-3盤207中讀出的DMA擴(kuò)展SSA后是否正常地產(chǎn)生或更新DMA。檢查結(jié)果可顯示給用戶。為此，本發(fā)明可包括顯示單元。因此，能夠通知用戶在SSA擴(kuò)展模式下待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209是否正常地讀取和產(chǎn)生或更新DMA信息。圖5是本發(fā)明的檢驗(yàn)方法的流程圖。在步驟501，通過(guò)在滿足圖2所示條件的C-1盤201上記錄滿足圖2所示條件的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，產(chǎn)生C-3盤207。接下來(lái)，在步驟502，將C-3盤207加載到待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209。在步驟S503，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209在預(yù)定的SSA擴(kuò)展模式下對(duì)C-3盤207進(jìn)行處理。在步驟504，從具有擴(kuò)展的SSA的C-3’盤211中讀出DMA信息，并根據(jù)該DMA信息來(lái)產(chǎn)生C-3’盤DMA鏡像文件213作為測(cè)試信息。在步驟505，檢驗(yàn)C-3’盤DMA鏡像文件213。該檢驗(yàn)是以由圖2所示檢驗(yàn)器215執(zhí)行的相同的方式采用期望的基準(zhǔn)信息(或期望值)來(lái)執(zhí)行的。在完成檢驗(yàn)之后，在步驟506輸出檢驗(yàn)結(jié)果，從而用戶能夠評(píng)估待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器209的性能。圖6表示的待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器110具有用于發(fā)出光的光源22、用于將來(lái)自光源的光聚焦到盤D時(shí)的聚焦部件24、和用于控制光源22的控制器26。上述檢驗(yàn)處理試圖檢驗(yàn)控制器26的適當(dāng)操作。如上所述，在本發(fā)明中，在SSA擴(kuò)展模式下，待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器對(duì)采用其上未記錄信息的空白盤(C-1盤)產(chǎn)生的測(cè)試盤(C-3盤)和用于測(cè)試SSA擴(kuò)展的基準(zhǔn)DMA鏡像文件進(jìn)行處理，從而使得用戶能夠在SSA擴(kuò)展模式下檢驗(yàn)待測(cè)試驅(qū)動(dòng)器是否正常地讀取和產(chǎn)生或更新DMA信息。另外，根據(jù)本發(fā)明，用戶自己就可生成測(cè)試盤，從而由于不需制造商生產(chǎn)和提供測(cè)試盤而降低成本。用戶可采用基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器、DMA鏡像文件提供器和C-1盤來(lái)生成C-3盤。盡管已圖示和描述了本發(fā)明的幾個(gè)優(yōu)選實(shí)施例，但是，本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員可在不背離本發(fā)明原理和宗旨的前提下對(duì)實(shí)施例進(jìn)行修改，本發(fā)明的范圍由其權(quán)利要求書和其等同物限定。權(quán)利要求1.一種用于檢驗(yàn)在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的方法，該方法包括下列步驟采用具有測(cè)試基準(zhǔn)信息的測(cè)試盤，擴(kuò)展記錄和再現(xiàn)設(shè)備中測(cè)試盤的輔助備用區(qū)，并從測(cè)試盤中產(chǎn)生測(cè)試信息；和將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中得到的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息相比較，以提供對(duì)測(cè)試信息的檢驗(yàn)結(jié)果。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)信息是鏡像文件。3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，所述測(cè)試基準(zhǔn)信息具有被設(shè)置成表示次備用區(qū)為滿的值的備用區(qū)滿標(biāo)記。4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述測(cè)試信息是鏡像文件。5.如權(quán)利要求3所述的方法，其中所述測(cè)試信息是直接從測(cè)試盤上的DMA讀取的。6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中所述比較步驟包括檢驗(yàn)所述測(cè)試信息中DMA的結(jié)構(gòu)；檢驗(yàn)所述測(cè)試信息的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)；檢驗(yàn)所述測(cè)試信息的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)；和檢驗(yàn)所述測(cè)試信息的次缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)DMA結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查4個(gè)DMA，即寫入測(cè)試盤4個(gè)位置的DMA中的任意一個(gè)中是否存在差錯(cuò)，其中的兩個(gè)位于測(cè)試盤導(dǎo)入?yún)^(qū)，而另兩個(gè)位于導(dǎo)出區(qū)；檢查4個(gè)DDS中和4個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”，并且DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同；檢查4個(gè)SDL中SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”，并且SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同；和檢查4個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。8.如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)DDS的步驟包括檢查DDS標(biāo)識(shí)符是否為預(yù)定值；檢查盤認(rèn)證標(biāo)記中表示在進(jìn)程中的比特的值是否為“0b”，并且表示盤制造商認(rèn)證的比特的值和表示用戶認(rèn)證的比特的值是否為“1b”；檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”；檢查組數(shù)是否為預(yù)定值；檢查區(qū)域數(shù)是否為預(yù)定值；分別檢查主備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)是否為預(yù)定的扇區(qū)號(hào)；檢查是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來(lái)確定第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置；和檢查是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來(lái)確定每個(gè)區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號(hào)。9.如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查PDL標(biāo)識(shí)符是否為預(yù)定值；檢查PDL中的項(xiàng)目數(shù)是否與測(cè)試基準(zhǔn)信息的PDL中登記的缺陷數(shù)相同；和檢查PDL項(xiàng)目的完整性中所包括的缺陷列表是否與測(cè)試基準(zhǔn)信息中的相同。10.如權(quán)利要求6所述的方法，其中檢驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查SDL標(biāo)識(shí)符是否為預(yù)定值；檢查SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”；檢查DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”；檢查是否根據(jù)由用戶指定的次備用區(qū)(SSA)的尺寸適當(dāng)?shù)卦O(shè)置了SSA的開始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)；和檢查備用區(qū)滿標(biāo)記是否表示SSA為不滿。11.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括將測(cè)試基準(zhǔn)信息記錄到空白盤上，以產(chǎn)生測(cè)試盤。12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)信息記錄到空白盤上，而不管空白盤的物理?xiàng)l件如何。13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，擴(kuò)展輔助備用區(qū)的步驟包括，產(chǎn)生測(cè)試信息，從而測(cè)試盤的文件系統(tǒng)信息被包含在測(cè)試信息中；和比較步驟包括，檢驗(yàn)測(cè)試信息中所包含的文件系統(tǒng)信息是否被正確地更新。14.一種用于測(cè)試在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的設(shè)備，包括基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器，用于在記錄和再現(xiàn)設(shè)備在輔助備用區(qū)擴(kuò)展模式下對(duì)測(cè)試盤進(jìn)行處理之后，從測(cè)試盤產(chǎn)生測(cè)試信息；和檢驗(yàn)器，用于將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中得到的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息相比較，以提供對(duì)測(cè)試信息的檢驗(yàn)結(jié)果。15.如權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)信息是鏡像文件。16.如權(quán)利要求15所述的設(shè)備，其中，所述測(cè)試基準(zhǔn)信息具有被設(shè)置成表示次備用區(qū)為滿的值的備用區(qū)滿標(biāo)記。17.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試信息是鏡像文件。18.如權(quán)利要求16所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試信息是直接從測(cè)試盤上的DMA讀取的。19.如權(quán)利要求18所述的設(shè)備，其中所述檢驗(yàn)器檢驗(yàn)所述測(cè)試信息中DMA的結(jié)構(gòu)、所述測(cè)試信息的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、所述測(cè)試信息的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)；和所述測(cè)試信息的次缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。20.如權(quán)利要求19所述的設(shè)備，其中為了檢驗(yàn)DMA結(jié)構(gòu)，所述檢驗(yàn)器檢查4個(gè)DMA，即寫入測(cè)試盤4個(gè)位置的DMA中的任意一個(gè)中是否存在差錯(cuò)，其中的兩個(gè)位于測(cè)試盤導(dǎo)入?yún)^(qū)，而另兩個(gè)位于導(dǎo)出區(qū)，檢查4個(gè)DDS中和4個(gè)SDL中的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”,DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同，4個(gè)SDL中SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”,SDL更新計(jì)數(shù)器的值是否相同，和4個(gè)DMA的內(nèi)容是否相同。21.如權(quán)利要求19所述的設(shè)備，其中為了檢驗(yàn)DDS，檢驗(yàn)器檢查DDS標(biāo)識(shí)符是否為預(yù)定值，盤認(rèn)證標(biāo)記中表示在進(jìn)程中的比特的值是否為“0b”，表示盤制造商認(rèn)證的比特的值和表示用戶認(rèn)證的比特的值是否為“1b”，DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”，組數(shù)是否為預(yù)定值，區(qū)域數(shù)是否為預(yù)定值，主備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號(hào)是否分別為預(yù)定的扇區(qū)號(hào)，是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來(lái)確定第一邏輯扇區(qū)號(hào)的位置，和是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來(lái)確定每個(gè)區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號(hào)。22.如權(quán)利要求19所述的設(shè)備，其中為了檢驗(yàn)PDL結(jié)構(gòu)，所述檢驗(yàn)器檢查PDL標(biāo)識(shí)符是否為預(yù)定值，PDL中的項(xiàng)目數(shù)是否與測(cè)試基準(zhǔn)信息的PDL中登記的缺陷數(shù)相同，和PDL項(xiàng)目的完整性中所包括的缺陷列表是否與測(cè)試基準(zhǔn)信息中的相同。23.如權(quán)利要求19所述的設(shè)備，其中為了檢驗(yàn)SDL結(jié)構(gòu)，所述檢驗(yàn)器檢查SDL標(biāo)識(shí)符是否為預(yù)定值，并檢查表示在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的SDL更新計(jì)數(shù)器的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器值是否為“先前值”，表示SDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的SDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”,DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器在擴(kuò)展輔助備用區(qū)之前和之后的差值的DDS/PDL更新計(jì)數(shù)器增量是否為“1”，是否根據(jù)由用戶指定的次備用區(qū)(SSA)的尺寸適當(dāng)?shù)卦O(shè)置了SSA的開始扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)的總數(shù)，和備用區(qū)滿標(biāo)記是否表示SSA為不滿。24.如權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中所述基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生測(cè)試信息，從而測(cè)試信息中包括其上未擴(kuò)展輔助備用區(qū)的測(cè)試盤的文件系統(tǒng)信息，并且所述檢驗(yàn)器檢驗(yàn)測(cè)試信息中所包括的文件系統(tǒng)信息是否被正確地更新。25.如權(quán)利要求14所述的設(shè)備，其中基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器將測(cè)試基準(zhǔn)信息記錄到空白盤上，以產(chǎn)生測(cè)試盤。26.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中所述基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器將測(cè)試基準(zhǔn)信息記錄到空白盤上，而不管空白盤的物理?xiàng)l件如何。27.一種用于檢驗(yàn)在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當(dāng)?shù)禺a(chǎn)生或更新DMA信息的方法，該方法包括下列步驟根據(jù)輔助備用區(qū)擴(kuò)展測(cè)試模式來(lái)設(shè)置測(cè)試基準(zhǔn)；根據(jù)所述輔助備用區(qū)擴(kuò)展測(cè)試模式來(lái)從DMA信息中產(chǎn)生測(cè)試信息，所述DMA信息是由所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備產(chǎn)生或更新的；和在再初始化測(cè)試模式下，采用測(cè)試基準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行用于檢驗(yàn)測(cè)試信息的測(cè)試。28.如權(quán)利要求27所述的方法，其中所述測(cè)試信息是DMA鏡像文件。29.如權(quán)利要求27所述的方法，其中所述測(cè)試信息是直接從被用于測(cè)試的盤上的DMA區(qū)域讀取的。30.如權(quán)利要求27所述的方法，其中產(chǎn)生測(cè)試信息的步驟包括記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，并選擇具有足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的DMA鏡像文件，以填充輔助備用區(qū)。31.如權(quán)利要求30所述的方法，還包括通過(guò)在空白盤上形成已知的物理缺陷，來(lái)得到第一測(cè)試盤；和通過(guò)在第一測(cè)試盤上記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容來(lái)得到第二測(cè)試盤，在第一測(cè)試盤中記錄表示輔助備用區(qū)為滿的鏡像文件，并且在產(chǎn)生測(cè)試信息時(shí)采用的第二測(cè)試盤。32.如權(quán)利要求31所述的方法，其中，執(zhí)行測(cè)試的步驟包括檢查第二測(cè)試盤的DMA信息是否與具有預(yù)定文件系統(tǒng)的預(yù)定DMA結(jié)構(gòu)相一致。33.一種用于檢驗(yàn)在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當(dāng)?shù)禺a(chǎn)生或更新DMA的方法，該方法包括下列步驟根據(jù)所述輔助備用區(qū)擴(kuò)展測(cè)試模式來(lái)從DMA信息中產(chǎn)生測(cè)試信息，所述DMA信息是由所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備產(chǎn)生或更新的；和采用用于檢驗(yàn)DMA信息的測(cè)試基準(zhǔn)來(lái)檢驗(yàn)測(cè)試信息。34.如權(quán)利要求33所述的方法，其中所述測(cè)試信息是DMA鏡像文件。35.一種用于測(cè)試在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的可記錄和可再現(xiàn)光盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備以檢查DMA信息是否被適當(dāng)?shù)禺a(chǎn)生或更新的設(shè)備，包括改進(jìn)的驅(qū)動(dòng)器單元，用于從測(cè)試盤的產(chǎn)生或更新的DMA信息中產(chǎn)生測(cè)試信息，它是在記錄和再現(xiàn)設(shè)備相應(yīng)于輔助備用區(qū)的擴(kuò)展對(duì)具有DMA鏡像文件的測(cè)試盤上的輔助備用區(qū)進(jìn)行擴(kuò)展后得到的；和檢驗(yàn)器，用于相應(yīng)于輔助備用區(qū)的擴(kuò)展將測(cè)試信息與預(yù)定的測(cè)試信息相比較，以檢驗(yàn)測(cè)試結(jié)果。36.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中所述測(cè)試信息是DMA鏡像文件。37.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中所述改進(jìn)的驅(qū)動(dòng)單元從測(cè)試盤上的DMA區(qū)域讀取測(cè)試信息，并將該測(cè)試信息提供給檢驗(yàn)器。38.如權(quán)利要求37所述的設(shè)備，其中測(cè)試盤是在第一測(cè)試盤上記錄有DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容的第二測(cè)試盤，第一測(cè)試盤是通過(guò)在空白盤上形成已知的物理缺陷而得到的，在第一測(cè)試盤中記錄具有用于填充輔助備用區(qū)的足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的鏡像文件。39.一種檢驗(yàn)記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，包括下列步驟采用再現(xiàn)和記錄設(shè)備擴(kuò)展包含預(yù)定缺陷信息的測(cè)試盤上的輔助備用區(qū)，以測(cè)試測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。40.如權(quán)利要求39所述的方法，還包括得知空白盤中預(yù)定位置上的物理缺陷，以產(chǎn)生第一測(cè)試盤；通過(guò)在第一測(cè)試盤中記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，得到第二測(cè)試盤，在第一測(cè)試盤中記錄具有用于填充輔助備用區(qū)的足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的鏡像文件；使記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)第二測(cè)試盤進(jìn)行輔助備用區(qū)的擴(kuò)展，以產(chǎn)生具有DMA信息的第二測(cè)試盤；和采用基準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)器從具有DMA信息的第二測(cè)試盤僅讀取DMA信息，以產(chǎn)生測(cè)試DMA鏡像文件作為測(cè)試信息，其中，基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。41.如權(quán)利要求40所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查第二測(cè)試盤的DMA信息是否與預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)相一致，檢查是否保持P列表，檢查與第一測(cè)試盤的已知缺陷相同的缺陷列表，和檢查第二測(cè)試盤的每個(gè)區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號(hào)。42.一種檢驗(yàn)記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)胤g和處理缺陷信息的方法，包括下列步驟準(zhǔn)備具有已知的物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤；通過(guò)使記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)測(cè)試盤進(jìn)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，來(lái)產(chǎn)生測(cè)試信息；和對(duì)測(cè)試信息進(jìn)行檢驗(yàn)測(cè)試。43.一種檢驗(yàn)記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當(dāng)?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，包括下列步驟采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)具有已知的物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，以產(chǎn)生DMA信息；根據(jù)所產(chǎn)生的DMA信息產(chǎn)生測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。44.如權(quán)利要求43所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。45.一種由記錄和再現(xiàn)設(shè)備采用下列處理步驟適當(dāng)?shù)禺a(chǎn)生的DMA信息，該處理步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)具有已知的物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，以產(chǎn)生DMA信息；根據(jù)所產(chǎn)生的DMA信息產(chǎn)生測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。46.如權(quán)利要求45所述的DMA信息，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。47.一種按照下列處理步驟檢驗(yàn)的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，該處理步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)具有已知的物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，以產(chǎn)生DMA信息；根據(jù)所產(chǎn)生的DMA信息產(chǎn)生測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。48.如權(quán)利要求47所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。49.一種采用下列處理步驟檢驗(yàn)的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，該處理步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)具有已知的物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，以產(chǎn)生DMA信息；將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。50.如權(quán)利要求49所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。51.一種用于測(cè)試在具有缺陷管理區(qū)域信息的可記錄和可再現(xiàn)光盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備以檢查DMA信息是否被適當(dāng)?shù)禺a(chǎn)生的設(shè)備，包括改進(jìn)的驅(qū)動(dòng)器單元，用于采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備，根據(jù)再現(xiàn)裝置通過(guò)對(duì)包含已知的物理缺陷和測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展而產(chǎn)生的測(cè)試盤的DMA信息，來(lái)產(chǎn)生測(cè)試信息，以產(chǎn)生DMA信息；和檢驗(yàn)器，用于將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。52.如權(quán)利要求51所述的設(shè)備，其中改進(jìn)的驅(qū)動(dòng)器單元僅從具有DMA信息的測(cè)試盤讀取DMA信息，以產(chǎn)生DMA鏡像文件作為測(cè)試信息，其中，基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。53.如權(quán)利要求51所述的設(shè)備，其中，通過(guò)在具有已知的物理缺陷的第一測(cè)試盤上記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，并且記錄具有用于填充輔助備用區(qū)的足夠的次缺陷列表(SDL)缺陷的測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件，改進(jìn)的驅(qū)動(dòng)器單元產(chǎn)生第二測(cè)試盤；所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備對(duì)第二測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)的擴(kuò)展，以產(chǎn)生具有DMA信息的第二測(cè)試盤；和所述改進(jìn)的驅(qū)動(dòng)器單元僅從具有DMA信息的第二測(cè)試盤讀取DMA信息，以產(chǎn)生測(cè)試DMA鏡像文件作為測(cè)試信息，其中，基準(zhǔn)測(cè)試信息是基準(zhǔn)DMA鏡像文件。54.如權(quán)利要求53所述的設(shè)備，其中所述檢驗(yàn)器檢查第二測(cè)試盤的DMA信息是否與預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)相一致，檢查是否保持P列表，檢查與第一測(cè)試盤的已知缺陷相同的缺陷列表，和檢查第二測(cè)試盤的每個(gè)區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號(hào)。55.如權(quán)利要求53所述的設(shè)備，其中通過(guò)檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)，所述檢驗(yàn)器比較測(cè)試信息和基準(zhǔn)測(cè)試信息。56.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，還包括DMA鏡像文件提供器，其向檢驗(yàn)器提供基準(zhǔn)測(cè)試信息，以比較測(cè)試信息和基準(zhǔn)測(cè)試信息。57.如權(quán)利要求47所述的設(shè)備，還包括DMA鏡像文件提供器，其向檢驗(yàn)器提供基準(zhǔn)測(cè)試信息，以比較DMA鏡像文件和基準(zhǔn)DMA鏡像文件。58.一種制造相一致的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的方法，包括下列步驟制造更新和產(chǎn)生缺陷管理區(qū)(DMA)信息的未認(rèn)證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備；和檢驗(yàn)所述未認(rèn)證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否與標(biāo)準(zhǔn)相一致，所述檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備，對(duì)包含預(yù)定缺陷信息和測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，以產(chǎn)生測(cè)試信息；和將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)，所述檢驗(yàn)表示所述未認(rèn)證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否與標(biāo)準(zhǔn)相一致。59.如權(quán)利要求58所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。60.一種用于記錄和再現(xiàn)光盤上的信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，包括光源，用于發(fā)出光；聚焦部件，用于將光聚焦到光盤上，以記錄和再現(xiàn)信息；和控制器，用于控制所述光源，通過(guò)如下處理來(lái)檢驗(yàn)所述控制器，以更新和產(chǎn)生缺陷管理區(qū)(DMA)信息，即，采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備，對(duì)包含預(yù)定的缺陷信息和測(cè)試基準(zhǔn)DMA信息的測(cè)試盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展，以產(chǎn)生測(cè)試信息，和，將測(cè)試信息與基準(zhǔn)測(cè)試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。61.如權(quán)利要求60所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述比較包括檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。62.一種用于記錄和再現(xiàn)光盤上的信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，包括光源，用于發(fā)出光；聚焦部件，用于將光聚焦到光盤上，以記錄和再現(xiàn)信息；和控制器，用于控制所述光源，和在對(duì)光盤執(zhí)行輔助備用區(qū)擴(kuò)展之后更新和產(chǎn)生缺陷管理區(qū)信息，從而缺陷管理區(qū)信息與標(biāo)準(zhǔn)相一致。63.如權(quán)利要求62所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述控制器檢查構(gòu)成測(cè)試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。64.如權(quán)利要求8所述的方法，其中所述檢驗(yàn)DDS的步驟還包括檢查剩余的保留區(qū)域是否具有預(yù)定值。65.如權(quán)利要求9所述的方法，其中所述檢驗(yàn)PDL的步驟還包括檢查未使用的區(qū)域是否是預(yù)定值。66.如權(quán)利要求43所述的方法，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件具有表示主備用區(qū)為滿的第一備用區(qū)滿標(biāo)記和表示次備用區(qū)志滿標(biāo)記為滿的第二備用區(qū)滿標(biāo)記。67.如權(quán)利要求51所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)信息具有表示主備用區(qū)為滿的第一備用區(qū)滿標(biāo)記和表示次備用區(qū)志滿標(biāo)記為滿的第二備用區(qū)滿標(biāo)記。68.如權(quán)利要求47所述的方法，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件具有表示主備用區(qū)為滿的第一備用區(qū)滿標(biāo)記和表示次備用區(qū)志滿標(biāo)記為滿的第二備用區(qū)滿標(biāo)記。69.如權(quán)利要求51所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件具有表示主備用區(qū)為滿的第一備用區(qū)滿標(biāo)記和表示次備用區(qū)志滿標(biāo)記為滿的第二備用區(qū)滿標(biāo)記。70.如權(quán)利要求58所述的方法，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件具有表示主備用區(qū)為滿的第一備用區(qū)滿標(biāo)記和表示次備用區(qū)志滿標(biāo)記為滿的第二備用區(qū)滿標(biāo)記。71.如權(quán)利要求27所述的方法，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)具有包括有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息，并且所述執(zhí)行步驟包括檢查當(dāng)前的次備用區(qū)和采用有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息的額外的可指定備用區(qū)是否被正確地確定。72.如權(quán)利要求71所述的方法，其中所述執(zhí)行步驟包括檢查在擴(kuò)展輔助備用區(qū)時(shí)是否正確地更新DMA的文件系統(tǒng)信息。73.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中，所述DMA鏡像文件具有有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息，并且所述檢驗(yàn)器檢查當(dāng)前的次備用區(qū)和采用有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息的額外的可指定備用區(qū)是否被正確地確定。74.如權(quán)利要求73所述的設(shè)備，其中所述檢驗(yàn)器檢查在擴(kuò)展輔助備用區(qū)時(shí)是否正確地更新DMA的文件系統(tǒng)信息。75.如權(quán)利要求45所述的DMA鏡像信息，其中所述測(cè)試基準(zhǔn)DMA鏡像文件具有有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息，并且所述比較步驟包括檢查當(dāng)前的次備用區(qū)和采用有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息的額外的可指定備用區(qū)是否被正確地確定。76.如權(quán)利要求75所述的DMA鏡像信息，其中所述比較步驟包括檢查在擴(kuò)展輔助備用區(qū)時(shí)是否正確地更新DMA的文件系統(tǒng)信息。77.如權(quán)利要求58所述的方法，其中所述DMA鏡像文件具有有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息，并且所述比較步驟包括檢查當(dāng)前的次備用區(qū)和采用有關(guān)次備用區(qū)最大可用量的信息的額外的可指定備用區(qū)是否被正確地確定。78.如權(quán)利要求75所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查在擴(kuò)展輔助備用區(qū)時(shí)是否正確地更新DMA的文件系統(tǒng)信息。全文摘要一種用于檢驗(yàn)在輔助備用區(qū)擴(kuò)展模式下盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常產(chǎn)生或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法及其測(cè)試設(shè)備。該方法包括下列步驟:采用具有測(cè)試基準(zhǔn)信息的測(cè)試盤,在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中擴(kuò)展測(cè)試盤的輔助備用區(qū),并從測(cè)試盤中產(chǎn)生測(cè)試信息;和將從測(cè)試基準(zhǔn)信息中得到的基準(zhǔn)信息與測(cè)試信息相比較,并提供對(duì)測(cè)試信息的檢驗(yàn)結(jié)果。因此,可容易地檢驗(yàn)當(dāng)擴(kuò)展輔助備用區(qū)時(shí)記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能。文檔編號(hào)G11B27/00GK1320923SQ0111620公開日2001年11月7日申請(qǐng)日期2001年4月6日優(yōu)先權(quán)日2000年4月8日發(fā)明者高禎完,鄭鉉權(quán)申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社