專(zhuān)利名稱(chēng)：檢修信號(hào)發(fā)生電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及安裝在半導(dǎo)體集成電路上，發(fā)生指示用冗余電路替換在該半導(dǎo)體集成電路的制造過(guò)程中所產(chǎn)生的功能不良的檢修信號(hào)的檢修信號(hào)發(fā)生電路。
伴隨著近年的半導(dǎo)體工藝技術(shù)的發(fā)展，極微細(xì)加工技術(shù)在不斷進(jìn)步，半導(dǎo)體集成電路的集成度急劇增大，由此電路規(guī)模增大。另外，最近為了得到增大存儲(chǔ)帶寬及低功耗等的效果，在同一個(gè)半導(dǎo)體芯片上混合安裝邏輯電路與大規(guī)模存儲(chǔ)器件。
如果在同一個(gè)半導(dǎo)體芯片上安裝大規(guī)模的系統(tǒng)電路，則能夠達(dá)到減少在系統(tǒng)設(shè)備中安裝半導(dǎo)體器件時(shí)的系統(tǒng)基板的面積，實(shí)現(xiàn)低功耗化。然而，如果從半導(dǎo)體集成電路的制造觀點(diǎn)出發(fā)，由于單位面積的晶體管密度增大，另外伴隨芯片面積的增大晶片的缺陷系數(shù)增大，因此將引起半導(dǎo)體芯片成品率的惡化。
為此，近年來(lái)在半導(dǎo)體芯片上的一部分電路例如一部分存儲(chǔ)電路具有在制造過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷的情況下，預(yù)先在同一個(gè)半導(dǎo)體芯片上安裝具有與存在該缺陷的電路相同功能的冗余電路，通過(guò)切換電路，把冗余電路的一部分替換為具有缺陷的電路，或者把具有缺陷的電路替換為全部冗余電路，修整具有缺陷的電路，使得半導(dǎo)體芯片的成品率提高。
作為替換存在缺陷的電路與冗余電路的切換方式，例如有使用了熔斷絲的激光修整方式，熔斷絲的一端連接在半導(dǎo)體集成電路的電源或者接地節(jié)點(diǎn)，另一端連接在發(fā)生指示是否替換存在缺陷電路的檢修信號(hào)的檢修信號(hào)發(fā)生電路上。
在激光修整方式中，最初對(duì)半導(dǎo)體集成電路進(jìn)行試驗(yàn)，如果確定不良部位或者不良?jí)K，則利用激光修整裝置切斷該特定的不良部位或者不良?jí)K的熔斷絲。如果發(fā)生了熔斷絲的切斷，則檢修信號(hào)發(fā)生電路工作，從檢修信號(hào)發(fā)生電路輸出的檢修信號(hào)反轉(zhuǎn)。根據(jù)該反轉(zhuǎn)的檢修信號(hào)，不良部位或者不良?jí)K由具有與不良部位或者不良?jí)K相同功能的冗余電路替換，提高大規(guī)模半導(dǎo)體集成電路的成品率。
圖5示出使用了熔斷絲的現(xiàn)有的檢修信號(hào)發(fā)生電路的結(jié)構(gòu)。該檢修信號(hào)發(fā)生電路在連接著熔斷絲103的狀態(tài)下，以「H」電平輸出檢修信號(hào)「OUT」，在切斷了熔斷絲103的狀態(tài)下，以「L」電平輸出檢修信號(hào)「OUT」。
圖5中，在連接著熔斷絲103的狀態(tài)，即沒(méi)有被切斷的狀態(tài)下，接地的熔斷絲103連接到反相器104的輸入，因此在反相器104中輸入「L」電平，反相器104輸出「H」電平。反相器104的輸出作為檢修信號(hào)「OUT」輸出的同時(shí)，輸入到p溝道晶體管102的柵極。p溝道晶體管102的柵極上如果輸入來(lái)自反相器104的「H」電平，則p溝道晶體管102成為關(guān)斷狀態(tài)。
在這種狀態(tài)下，如果通過(guò)激光修整裝置等切斷熔斷絲103，則反相器104的輸入側(cè)成為電氣上孤立的浮置節(jié)點(diǎn)。在這里，如果在安裝了該檢修信號(hào)發(fā)生電路的半導(dǎo)體集成電路上供給電源，則電容器101的一端急劇地上升到「H」電平，即電容器101的電荷放電，反相器104的輸入側(cè)的節(jié)點(diǎn)在發(fā)生與電荷放電相當(dāng)?shù)碾姾稍俜峙涞耐瑫r(shí)將產(chǎn)生電位的變動(dòng)。
如果反相器104的輸入側(cè)的節(jié)點(diǎn)一旦成為「H」電平，則反相器104輸出「L」電平，p溝道晶體管102的柵極上輸入「L」電平，p溝道晶體管102成為導(dǎo)通狀態(tài)。如果p溝道晶體管102成為導(dǎo)通狀態(tài)，則在反相器104上輸入電源Vcc的電壓電平，即「H」電平，然后，p溝道晶體管102保持導(dǎo)通狀態(tài)，起到保持來(lái)自反相器104的「L」電平的檢修信號(hào)輸出的鎖存電路的功能。
由此，檢修信號(hào)發(fā)生電路在沒(méi)有切斷熔斷絲103的情況下，把「H」電平的檢修信號(hào)輸出到未圖示的切換電路，在切斷熔斷絲103的情況下，把「L」電平的檢修信號(hào)輸出到未圖示的切換電路。
然而，在上述現(xiàn)有的檢修信號(hào)發(fā)生電路中，由于通過(guò)熔斷絲103的切斷使得電容器101的容量上升，因此根據(jù)檢修信號(hào)發(fā)生電路的制造情況，將發(fā)生反相器104的輸入側(cè)的電壓不完全升高等的現(xiàn)象，存在著不能夠可靠地檢測(cè)熔斷絲103的切換狀態(tài)的問(wèn)題。
另外，在不完全切斷熔斷絲103的情況下，在熔斷絲103中流過(guò)微小電流，還存在著不能夠?qū)崿F(xiàn)低功耗化的問(wèn)題。
本發(fā)明是鑒于以上問(wèn)題而產(chǎn)生，目的在于獲得能夠輸出正確地檢測(cè)是否切斷了熔斷絲的檢修信號(hào)，能夠可靠地進(jìn)行具有不良部位的電路的修整，同時(shí)可以謀求低功耗化的檢修信號(hào)發(fā)生電路。
為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的檢修信號(hào)發(fā)生電路的特征在于具備源極與電源連接且在柵極上輸入復(fù)位信號(hào)的第1p溝道晶體管；源極與接地的熔斷絲的另一端連接、漏極與上述第1p溝道晶體管的漏極連接且在柵極上輸入上述復(fù)位信號(hào)的n溝道晶體管；漏極與上述第1p溝道晶體管與上述n溝道晶體管的連接點(diǎn)連接、源極與上述電源連接且與上述n溝道晶體管相比導(dǎo)通電阻大的第2p溝道晶體管；以及輸入側(cè)與上述連接點(diǎn)連接、輸出側(cè)與上述第2p溝道晶體管的柵極連接且輸出檢修信號(hào)的反相器。
按照本發(fā)明，在第1p溝道晶體管與n溝道晶體管的各個(gè)柵極上輸入表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)，則在連接點(diǎn)發(fā)生反轉(zhuǎn)了復(fù)位信號(hào)的復(fù)位電平，由第2p溝道晶體管及反相器構(gòu)成的閉環(huán)鎖存該電位電平，進(jìn)行從反相器輸出具有反轉(zhuǎn)了該復(fù)位電平的電位電平的檢修信號(hào)的初始化。如果輸入具有反轉(zhuǎn)了表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)的電位電平的表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)，則連接點(diǎn)的電位電平成為反轉(zhuǎn)了該復(fù)位信號(hào)的電位電平，在沒(méi)有切斷熔斷絲的情況下，由第2p溝道晶體管及反相器構(gòu)成的閉環(huán)鎖存該電位電平，從反相器輸出反轉(zhuǎn)了該電位電平的檢修信號(hào)。另一方面，在切斷熔斷絲的情況下，由第2p溝道晶體管及反相器構(gòu)成的閉環(huán)的狀態(tài)保持初始化時(shí)的狀態(tài)，從反相器輸出反轉(zhuǎn)了表示解除的復(fù)位信號(hào)的檢修信號(hào)。這里，在輸入表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)并且連接著熔斷絲的情況下，由于第2p溝道晶體管的導(dǎo)通電阻比n溝道晶體管的導(dǎo)通電阻大，故根據(jù)這些導(dǎo)通電阻的電壓的分壓比，消除在連接點(diǎn)的電壓不穩(wěn)定，使得能夠可靠而且穩(wěn)定地輸出表示連接著熔斷絲的狀態(tài)的檢修信號(hào)。
另一個(gè)方面的檢修信號(hào)發(fā)生電路的特征在于在上述發(fā)明中，在上述電源與上述連接點(diǎn)之間還連接了電容器。
按照該發(fā)明，在電源與連接點(diǎn)之間設(shè)置電容器，使得把剛剛復(fù)位解除后的連接點(diǎn)的電位變動(dòng)抑制到最小值。
另一個(gè)方面的檢修信號(hào)發(fā)生電路特征在于在上述發(fā)明中還具備使表示復(fù)位解除的上述復(fù)位信號(hào)延遲的延遲電路，在安裝了上述檢修信號(hào)發(fā)生電路的半導(dǎo)體集成電路上的其它電路中，延遲地輸出表示復(fù)位解除的上述復(fù)位信號(hào)。
按照該發(fā)明，則延遲電路在確定了基于復(fù)位解除的檢修信號(hào)以后，使得表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)延遲，輸出到安裝了檢修信號(hào)發(fā)生電路的半導(dǎo)體集成電路上的其它電路中，使得不會(huì)發(fā)生基于檢修信號(hào)的檢修工作與復(fù)位解除工作的競(jìng)爭(zhēng)。
另一個(gè)方面的檢修信號(hào)發(fā)生電路的特征在于在上述發(fā)明中，上述延遲電路至少具備多級(jí)觸發(fā)電路，與供給到上述半導(dǎo)體集成電路上的系統(tǒng)時(shí)鐘相同步，延遲地輸出表示復(fù)位解除的上述復(fù)位信號(hào)。
按照該發(fā)明，則根據(jù)系統(tǒng)時(shí)鐘的周期及觸發(fā)電路的級(jí)數(shù)能夠最佳地設(shè)定表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)的延遲時(shí)間。
另一個(gè)方面的檢修信號(hào)發(fā)生電路的特征在于在上述發(fā)明中，還具備響應(yīng)上述多級(jí)觸發(fā)電路輸出的復(fù)位信號(hào)，鎖存并輸出上述反相器輸出的檢修信號(hào)的第2觸發(fā)電路；使得上述多級(jí)觸發(fā)電路輸出的復(fù)位信號(hào)進(jìn)一步延遲的第3觸發(fā)電路；取上述第3觸發(fā)電路輸出的復(fù)位信號(hào)的反轉(zhuǎn)信號(hào)與輸入到該檢修信號(hào)發(fā)生電路中的上述復(fù)位信號(hào)的“與”運(yùn)算值，輸出到上述第1p溝道晶體管及上述n溝道晶體管的柵極的復(fù)位信號(hào)輸入電路。
按照該發(fā)明，則首先經(jīng)過(guò)復(fù)位信號(hào)輸入電路，通過(guò)在上述第1p溝道晶體管及上述n溝道晶體管的柵極上輸入從表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)到表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)，從上述反相器輸出對(duì)應(yīng)于上述熔斷絲的切斷狀態(tài)的檢修信號(hào)。然后，第2觸發(fā)電路響應(yīng)上述多級(jí)觸發(fā)電路延遲輸出的復(fù)位信號(hào)鎖存上述反相器輸出的檢修信號(hào)。然后，上述第3觸發(fā)電路進(jìn)一步延遲上述多級(jí)觸發(fā)電路延遲輸出的復(fù)位信號(hào)，復(fù)位信號(hào)輸入電路取上述第3觸發(fā)電路延遲輸出的復(fù)位信號(hào)的反轉(zhuǎn)信號(hào)與輸入到該檢修信號(hào)發(fā)生電路中的上述復(fù)位信號(hào)的“與”運(yùn)算值，輸出到上述第1p溝道晶體管及上述n溝道晶體管的柵極，使該檢修信號(hào)發(fā)生電路再次復(fù)位，即使是沒(méi)有完全切斷上述熔斷絲的高電阻狀態(tài)，由于上述n溝道晶體管成為關(guān)斷狀態(tài)，故也不存在流經(jīng)該熔斷絲的微小電流。另一方面，上述第2觸發(fā)電路在由上述復(fù)位信號(hào)輸入電路再次把該復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路復(fù)位之前，由于鎖存與熔斷絲的切斷狀態(tài)對(duì)應(yīng)的檢修信號(hào)，故輸出正常的檢修信號(hào)。


圖1是示出作為本發(fā)明實(shí)施例1的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖2是示出作為本發(fā)明實(shí)施例2的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖3是示出作為本發(fā)明實(shí)施例3的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖4是示出作為本發(fā)明實(shí)施例4的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖5是示出現(xiàn)有的檢修信號(hào)發(fā)生電路的結(jié)構(gòu)的圖。
以下，參照附圖，詳細(xì)地說(shuō)明本發(fā)明的檢修信號(hào)發(fā)生電路適宜的實(shí)施例1圖1是示出作為本發(fā)明實(shí)施例1的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。在圖1中，p溝道晶體管1的源極連接到電源Vcc，在柵極上從端子P1輸入復(fù)位信號(hào)「RESET」。n溝道晶體管2的源極連接到接地的熔斷絲3，漏極連接到p溝道晶體管1的漏極，在柵極上從端子P1輸入復(fù)位信號(hào)「RESET」。
反相器6的輸入側(cè)連接到作為p溝道晶體管1與n溝道晶體管2的連接點(diǎn)的節(jié)點(diǎn)N1，反相器6的輸出經(jīng)過(guò)端子P2輸出檢修信號(hào)「OUT」。p溝道晶體管5的源極連接到電源Vcc，漏極連接到節(jié)點(diǎn)N1，柵極連接到反相器6的輸出側(cè)。該p溝道晶體管5的驅(qū)動(dòng)能力比n溝道晶體管2的驅(qū)動(dòng)能力低。即，p溝道晶體管5的導(dǎo)通電阻具有比n溝道晶體管2的導(dǎo)通電阻大的值。
圖1(a)示出沒(méi)有切斷熔斷絲3的狀態(tài)下的檢修信號(hào)發(fā)生電路10的結(jié)構(gòu)，圖1(b)示出切斷了熔斷絲3的檢修信號(hào)發(fā)生電路10的結(jié)構(gòu)。首先，參照?qǐng)D1(a)，說(shuō)明沒(méi)有切斷熔斷絲3的狀態(tài)下的檢修信號(hào)發(fā)生電路10的工作。在圖1(a)中，在沒(méi)有切斷熔斷絲3的狀態(tài)下，即連接著熔斷絲3的狀態(tài)下，最終的檢修信號(hào)「OUT」輸出「H」電平。另外，在安裝了檢修信號(hào)發(fā)生電路10的未圖示的半導(dǎo)體集成電路中，被供給系統(tǒng)的復(fù)位信號(hào)「RESET」。復(fù)位信號(hào)「RESET」是把半導(dǎo)體集成電路的內(nèi)部狀態(tài)初始化的信號(hào)，在「L」電平時(shí)，強(qiáng)制地進(jìn)行系統(tǒng)的復(fù)位。
復(fù)位信號(hào)「RESET」輸入到端子P1。在系統(tǒng)復(fù)位導(dǎo)通的狀態(tài)下，復(fù)位信號(hào)「RESET」是「L」電平，p溝道晶體管1成為導(dǎo)通狀態(tài)，n溝道晶體管2成為關(guān)斷狀態(tài)。這種情況下，在節(jié)點(diǎn)N1上加入電源Vcc的電源電平，節(jié)點(diǎn)N1成為「H」電平，在反相器6中輸入「H」電平。
因此，反相器6輸出反轉(zhuǎn)了的「L」電平，p溝道晶體管5成為導(dǎo)通狀態(tài)。其結(jié)果，由于反相器6的輸入側(cè)再次成為「H」電平，故通過(guò)由反相器6與p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，反相器6的輸出保持「L」電平，從端子P2輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
如果復(fù)位信號(hào)「RESET」從「L」電平變化為「H」電平，解除復(fù)位，則p溝道晶體管1成為關(guān)斷狀態(tài)，n溝道晶體管2成為導(dǎo)通狀態(tài)。如上述那樣，通過(guò)由反相器6與p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，在復(fù)位導(dǎo)通時(shí)，由于p溝道晶體管5是導(dǎo)通狀態(tài)，故在剛剛復(fù)位解除以后，即在復(fù)位信號(hào)「RESET」從「L」電平變化到「H」電平的瞬間，形成經(jīng)過(guò)了電源Vcc,p溝道晶體管5，節(jié)點(diǎn)N1,n溝道晶體管2，熔斷絲3以及接地的電流通路。
這里，由于p溝道晶體管5的驅(qū)動(dòng)能力比n溝道晶體管2的驅(qū)動(dòng)能力低，即p溝道晶體管5的導(dǎo)通電阻比n溝道晶體管2的導(dǎo)通電阻大，故根據(jù)這些導(dǎo)通電阻的電壓的分壓比，節(jié)點(diǎn)N1接近接地電平，變化到「L」電平。
結(jié)果，其后，反相器6的輸出變化為「H」電平，p溝道晶體管5變化為關(guān)斷狀態(tài)。如果p溝道晶體管5變化為關(guān)斷狀態(tài)，則切斷經(jīng)過(guò)電源Vcc,p溝道晶體管5，節(jié)點(diǎn)N1,n溝道晶體管2，熔斷絲3以及接地的電流通路，最終，節(jié)點(diǎn)N1根據(jù)經(jīng)過(guò)了n溝道晶體管2及熔斷絲3的接地成為「L」電平。因此，反相器6的輸入側(cè)再次成為「L」電平，通過(guò)由反相器6及p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，反相器6的輸出保持「H」電平，從端子P2持續(xù)輸出「H」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
下面，參照?qǐng)D1(b)，說(shuō)明切斷了熔斷絲3的狀態(tài)下檢修信號(hào)發(fā)生電路10的工作。在圖1(b)中，在切斷了的熔斷絲3的狀態(tài)下，最終的檢修信號(hào)「OUT」輸出「L」電平。復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)，即，復(fù)位信號(hào)「RESET」是「L」電平的情況，是與上述沒(méi)有切斷熔斷絲3的狀態(tài)相同的工作。即，如果「L」電平的復(fù)位信號(hào)「RESET」輸入到端子P1，則p溝道晶體管1成為導(dǎo)通狀態(tài)，n溝道晶體管2成為關(guān)斷狀態(tài)。
在該情況下，在節(jié)點(diǎn)N1上加入電源Vcc的電源電平，節(jié)點(diǎn)N1成為「H」電平，在反相器6上輸入「H」電平。因此，反相器6輸出反轉(zhuǎn)了的「L」電平，p溝道晶體管5成為導(dǎo)通狀態(tài)。其結(jié)果，由于反相器6的輸入側(cè)再次成為「H」電平，故通過(guò)由反相器6與p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，反相器6的輸出保持「L」電平，從端子P2輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
如果復(fù)位信號(hào)「RESET」從「L」電平變化到「H」電平，解除復(fù)位，則p溝道晶體管1成為關(guān)斷狀態(tài)，n溝道晶體管2成為導(dǎo)通狀態(tài)。這里，由于切斷了熔斷絲3，故對(duì)于反相器6當(dāng)然沒(méi)有基于p溝道晶體管1的驅(qū)動(dòng)，也沒(méi)有基于成為導(dǎo)通狀態(tài)的n溝道晶體管2的驅(qū)動(dòng)。
另一方面，由于在復(fù)位導(dǎo)通時(shí)，p溝道晶體管5保持導(dǎo)通狀態(tài)，因此在復(fù)位解除后，節(jié)點(diǎn)N1也維持基于電源Vcc的電源電平，即「H」電平。因此，反相器6的輸入側(cè)維持「H」電平，根據(jù)由反相器6和p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，反相器6的輸出保持「L」電平，從端子P2持續(xù)輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
由此，在沒(méi)有切斷熔斷絲3的狀態(tài)下，在復(fù)位解除后，持續(xù)輸出「H」電平的檢修信號(hào)「OUT」，在切斷熔斷絲3的狀態(tài)下，復(fù)位解除后，持續(xù)輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
按照該實(shí)施例1，則無(wú)論是否切斷熔斷絲3，由于在復(fù)位解除后，不產(chǎn)生任何的電流通路，因此能夠?qū)崿F(xiàn)低功耗的檢修信號(hào)發(fā)生電路。另外，由于根據(jù)復(fù)位信號(hào)「RESET」使得鎖存電路4被可靠地初始化，故檢修信號(hào)發(fā)生電路10的電路工作穩(wěn)定，即使存在半導(dǎo)體制造工藝上的分散性，也能夠提高檢修信號(hào)電路自身的成品率。
實(shí)施例2下面，說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例2。在該實(shí)施例2中，設(shè)置使圖1中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路10的節(jié)點(diǎn)N1的電壓電平穩(wěn)定恒定期間的電容器。
圖2是示出作為本發(fā)明實(shí)施例2的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。圖2(a)示出不切斷熔斷絲3的狀態(tài)下的檢修信號(hào)發(fā)生電路的結(jié)構(gòu)，圖2(b)示出切斷了熔斷絲3的狀態(tài)下的檢修信號(hào)發(fā)生電路的結(jié)構(gòu)。圖2中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路20采用了在對(duì)應(yīng)于圖1中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路10的節(jié)點(diǎn)N1的節(jié)點(diǎn)N2與電源Vcc之間進(jìn)而連接了電容器21的結(jié)構(gòu)。通過(guò)設(shè)置該電容器21，能夠使節(jié)點(diǎn)N2的電位變化緩慢。其它的結(jié)構(gòu)與圖1中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路10相同，在相同的結(jié)構(gòu)部分上標(biāo)注相同的符號(hào)。
首先，參照?qǐng)D2(a)說(shuō)明在不切斷熔斷絲3的狀態(tài)下的檢修信號(hào)發(fā)生電路20的工作。復(fù)位導(dǎo)通時(shí)，即復(fù)位信號(hào)「RESET」是「L」電平時(shí)，連接到電容器21及反相器6輸入側(cè)的節(jié)點(diǎn)N2成為「H」電平，根據(jù)鎖存電路4的閉環(huán)從端子P2輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。這種情況下，電容器21充電到「H」電平。
復(fù)位解除后，即復(fù)位信號(hào)「RESET」從「L」電平變化到「H」電平以后，由于p溝道晶體管5的導(dǎo)通電阻比n溝道晶體管2的導(dǎo)通電阻大，因此在經(jīng)過(guò)了電源Vcc,p溝道晶體管5，節(jié)點(diǎn)N2,n溝道晶體管2，熔斷絲3以及接地的電流通路上，根據(jù)導(dǎo)通電阻的電壓的分壓比，節(jié)點(diǎn)N2變化到「L」電平。其結(jié)果，其后，反相器6的輸出變化到「H」電平，p溝道晶體管5變化到關(guān)斷狀態(tài)。
如果p溝道晶體管5變化為關(guān)斷狀態(tài)，則切斷經(jīng)過(guò)電源Vcc、p溝道晶體管5、節(jié)點(diǎn)N2、n溝道晶體管2、熔斷絲3以及接地的電流通路，最終，節(jié)點(diǎn)N1由于經(jīng)過(guò)了n溝道晶體管2及熔斷絲3的接地而成為「L」電平。因此，反相器6的輸入側(cè)再次成為「L」電平，利用由反相器6及p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，反相器6的輸出保持「H」電平，從端子P2持續(xù)輸出「H」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
下面，參照?qǐng)D2(b)，說(shuō)明切斷了熔斷絲3的狀態(tài)下檢修信號(hào)發(fā)生電路20的工作。在復(fù)位導(dǎo)通時(shí)，與沒(méi)有切斷熔斷絲的狀態(tài)相同，根據(jù)復(fù)位信號(hào)「RESET」為「L」電平，連接到電容器21及反相器6輸入側(cè)的節(jié)點(diǎn)N2成為「H」電平，利用鎖存電路4的閉環(huán)，從端子P2輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。在這種情況下，電容器21被充電到「H」電平。
復(fù)位解除時(shí)，即復(fù)位信號(hào)「RESET」從「L」電平變化到「H」電平以后，由于切斷了熔斷絲3、此外，p溝道晶體管1為導(dǎo)通狀態(tài)，故n溝道晶體管2及p溝道晶體管1不驅(qū)動(dòng)反相器6。在此，由于在從復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)轉(zhuǎn)移到復(fù)位解除狀態(tài)的瞬間、n溝道晶體管2從關(guān)斷狀態(tài)轉(zhuǎn)移到導(dǎo)通狀態(tài)，故在n溝道晶體管2附近的節(jié)點(diǎn)N2上發(fā)生電荷的再分配，但是，由于把與發(fā)生該電荷再分配的電容量相比較具有充分大的電容量的電容器21連接到節(jié)點(diǎn)N2上，故可衰減該電荷再分配在節(jié)點(diǎn)N2上所引起的電位變動(dòng)。
這里，由于p溝道晶體管5保持導(dǎo)通狀態(tài)，故在復(fù)位解除后，節(jié)點(diǎn)N2也維持基于電源Vcc的電源電平，即「H」電平。因此，反相器6的輸入側(cè)維持「H」電平，根據(jù)由反相器6與p溝道晶體管5構(gòu)成的鎖存電路4的閉環(huán)，反相器6的輸出維持「L」電平，從端子P2持續(xù)輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
另外，如果節(jié)點(diǎn)N2的電位瞬時(shí)成為「L」電平，則由鎖存電路4鎖存反轉(zhuǎn)了的「H」電平，由此，無(wú)論是否切斷熔斷絲3，都輸出表示連接著熔斷絲3狀態(tài)的檢修信號(hào)「OUT」。
由此，在沒(méi)有切斷熔斷絲3的狀態(tài)下，復(fù)位解除后，持續(xù)輸出「H」電平的檢修信號(hào)「OUT」，在切斷熔斷絲3的狀態(tài)下，復(fù)位解除后，持續(xù)輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。能夠特別穩(wěn)定地輸出切斷熔斷絲3狀態(tài)下的復(fù)位解除時(shí)的「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。
按照該實(shí)施例2，則與實(shí)施例1相同，由于無(wú)論是否切斷熔斷絲3，復(fù)位解除后都不產(chǎn)生任何的電流通路，故能夠?qū)崿F(xiàn)低功耗的檢修信號(hào)發(fā)生電路，同時(shí)，由于根據(jù)復(fù)位信號(hào)「RESET」使得鎖存電路4被可靠地初始化，故檢修信號(hào)發(fā)生電路10的電路工作穩(wěn)定，即使存在半導(dǎo)體制造工藝上的分散性，也能夠提高檢修信號(hào)電路自身的成品率。另外，由于通過(guò)電容器21，使得剛剛復(fù)位解除后的節(jié)點(diǎn)N2的電壓變動(dòng)衰減，故能夠穩(wěn)定地進(jìn)行熔斷絲3的切斷檢測(cè)。
實(shí)施例3下面，說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例3。在該實(shí)施例3中，在確定了檢修信號(hào)發(fā)生電路供給的檢修信號(hào)以后，對(duì)于安裝了該檢修信號(hào)發(fā)生電路安裝的半導(dǎo)體集成電路上的其它電路，供給指示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)，使得避免由基于檢修信號(hào)的檢修工作與該半導(dǎo)體集成電路上的其它電路的復(fù)位解除工作的競(jìng)爭(zhēng)引起的定時(shí)臨界的工作。
圖3是示出作為本發(fā)明實(shí)施例3的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。圖3中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路30是在圖2中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路20上添加了復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31的結(jié)構(gòu)。
復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31具有2個(gè)觸發(fā)電路32、33，各個(gè)觸發(fā)電路32、33級(jí)聯(lián)連接。在各個(gè)觸發(fā)電路32、33的端子T上，經(jīng)過(guò)端子P3被供給系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」。另外，在各個(gè)觸發(fā)電路32、33的端子R及觸發(fā)電路32的端子D上供給復(fù)位信號(hào)「RESET」。進(jìn)而，在觸發(fā)電路33的端子D上輸入來(lái)自作為觸發(fā)電路32的輸出端子的端子Y的輸出，從觸發(fā)電路33的端子Y經(jīng)過(guò)端子P4向未圖示的半導(dǎo)體集成電路上檢修信號(hào)發(fā)生電路以外的其它電路上，輸出復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」。
各個(gè)觸發(fā)電路32、33與系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的上升沿同步，鎖存輸入到端子D的數(shù)據(jù)，從端子Y輸出鎖存了的數(shù)據(jù)。另外，各個(gè)觸發(fā)電路32、33如果在端子R被供給「L」電平的數(shù)據(jù)，則輸入將其反轉(zhuǎn)了的「H」電平的數(shù)據(jù)，從端子Y強(qiáng)制地以「L」電平的輸出進(jìn)行輸出。
從端子P1輸入的復(fù)位信號(hào)「RESET」是「L」電平時(shí)，即復(fù)位導(dǎo)通時(shí)，復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31的各個(gè)觸發(fā)電路32、33的端子R上也輸入「L」電平的復(fù)位信號(hào)「RESET」，復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」輸出「L」電平。復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」是「L」電平時(shí)，半導(dǎo)體集成電路上檢修信號(hào)發(fā)生電路以外的電路全部被初始化。
如果復(fù)位信號(hào)「RESET」進(jìn)行復(fù)位解除，從「L」電平變化到「H」電平，則解除檢修信號(hào)發(fā)生電路的復(fù)位，在沒(méi)有切斷熔斷絲3的情況下，輸出「H」電平的檢修信號(hào)「OUT」，在切斷熔斷絲3的情況下，輸出「L」電平的檢修信號(hào)「OUT」。這時(shí)，復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31持續(xù)保持「L」電平，半導(dǎo)體集成電路上的檢修信號(hào)發(fā)生電路以外的電路仍然保持復(fù)位了的狀態(tài)。
然后，如果從端子P3開(kāi)始供給系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」，則觸發(fā)電路32在系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的第一個(gè)上升沿，鎖存復(fù)位信號(hào)「RESET」。這時(shí)，由于是復(fù)位解除狀態(tài)，故被鎖存的復(fù)位信號(hào)「RESET」是「H」電平的數(shù)據(jù)。接著，如果系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的第2個(gè)上升沿輸入到各個(gè)觸發(fā)電路32、33，則觸發(fā)電路33鎖存從觸發(fā)電路32輸入的「H」電平的數(shù)據(jù)，輸出「H」電平的復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」。
由此，半導(dǎo)體集成電路上的檢修信號(hào)發(fā)生電路以外的電路被解除復(fù)位。這種情況下，首先，把根據(jù)復(fù)位解除確定了的檢修信號(hào)「OUT」輸出到半導(dǎo)體集成電路上的檢修信號(hào)發(fā)生電路以外的其它電路，然后，以對(duì)應(yīng)于系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」及觸發(fā)電路32、33的級(jí)數(shù)的延遲，從復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31輸出復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」。
即，在解除了輸入到半導(dǎo)體集成電路的外部的復(fù)位信號(hào)「RESET」，解除了檢修信號(hào)發(fā)生電路的復(fù)位，根據(jù)熔斷絲3的切斷/非切斷的狀態(tài)修整了半導(dǎo)體集成電路內(nèi)的電路以后，延遲系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」及觸發(fā)電路32、33的級(jí)數(shù)部分后，半導(dǎo)體集成電路內(nèi)的電路啟動(dòng)。因此，在完全檢修了半導(dǎo)體集成電路內(nèi)的電路以后，能夠以定時(shí)的富余量，進(jìn)行半導(dǎo)體集成電路內(nèi)檢修信號(hào)發(fā)生電路以外的電路的復(fù)位解除。
另外，在上述的實(shí)施例3中，把觸發(fā)電路32、33的級(jí)數(shù)設(shè)定為這2級(jí)，然而并不限定于此，也可以把3級(jí)以上的觸發(fā)電路直接連接。這種情況下，也可以加入系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的周期，設(shè)定用于獲得所希望的延遲時(shí)間的級(jí)數(shù)。
按照該實(shí)施例3，則復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31在確定了基于檢修信號(hào)發(fā)生電路的復(fù)位解除，完全進(jìn)行了對(duì)于半導(dǎo)體集成電路內(nèi)的電路的檢修以后，進(jìn)行對(duì)該半導(dǎo)體集成電路內(nèi)的電路的復(fù)位解除，因此不存在檢修工作與復(fù)位工作的競(jìng)爭(zhēng)，能夠以安全的定時(shí)進(jìn)行檢修工作及復(fù)位工作。
實(shí)施例4下面，說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例4。在該實(shí)施例4中，在沒(méi)有完全切斷熔斷絲3的情況下，可防止流過(guò)熔斷絲3中微小電流的發(fā)生，謀求低功耗化。
圖4是示出作為本發(fā)明實(shí)施例4的檢修信號(hào)發(fā)生電路結(jié)構(gòu)的電路圖。圖4中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路40是在圖3中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路30中添加了觸發(fā)電路41，觸發(fā)電路42，“與”電路43的結(jié)構(gòu)。其它的結(jié)構(gòu)與圖3中所示的檢修信號(hào)發(fā)生電路30相同，在相同的結(jié)構(gòu)部分上標(biāo)注相同的符號(hào)。
圖4中，觸發(fā)電路42連接在復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路31內(nèi)的觸發(fā)電路33的后級(jí)。在觸發(fā)電路42的端子T上，經(jīng)過(guò)端子P3供給系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」。另外，在觸發(fā)電路42的端子R上供給復(fù)位信號(hào)「RESET」。進(jìn)而，在觸發(fā)電路42的端子D上，輸入來(lái)自觸發(fā)電路33的端子Y的輸出，從觸發(fā)電路42的端子輸出的復(fù)位信號(hào)S2被反轉(zhuǎn)后輸入到“與”電路43。
在“與”電路43中，輸入來(lái)自端子P1的復(fù)位信號(hào)「RESET」的同時(shí)，從上述的觸發(fā)電路42輸入延遲了系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的3個(gè)時(shí)鐘部分的復(fù)位信號(hào)S2。因此，在熔斷絲電路44中，直接輸入從端子P1輸入的復(fù)位信號(hào)「RESET」，把對(duì)應(yīng)于熔斷絲3的切斷/非切斷狀態(tài)的檢修信號(hào)S4輸出到觸發(fā)電路41。然后，延遲了系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的3個(gè)時(shí)鐘部分的「H」電平的復(fù)位信號(hào)S2的反轉(zhuǎn)信號(hào)輸入到“與”電路43的另一端，根據(jù)該復(fù)位信號(hào)S2的輸入，再次把「L」電平的表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)S3輸入到熔斷絲電路44，熔斷絲電路44成為復(fù)位狀態(tài)。
在該復(fù)位信號(hào)S2的反轉(zhuǎn)信號(hào)輸入到“與”電路43，熔斷絲電路44成為復(fù)位狀態(tài)之前，在觸發(fā)電路41的端子T上，輸入從觸發(fā)電路33的端子Y輸出的把復(fù)位信號(hào)S1反轉(zhuǎn)了的信號(hào)，把該復(fù)位信號(hào)S1作為鎖存時(shí)鐘，在復(fù)位信號(hào)S1是「L」電平時(shí)取入輸入到端子D的復(fù)位信號(hào)S4，是「H」電平時(shí)，鎖存該取入的復(fù)位信號(hào)S4的數(shù)據(jù)，作為檢修信號(hào)「OUT」輸出。即，觸發(fā)電路41直至經(jīng)過(guò)系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的2個(gè)時(shí)鐘之前，取入可靠地判斷了熔斷絲電路44的檢修信號(hào)S4，在經(jīng)過(guò)了系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的2個(gè)時(shí)鐘以后，把鎖存了的復(fù)位信號(hào)「OUT」輸出到端子P2。
另外，從觸發(fā)電路33輸出的復(fù)位信號(hào)S1是延遲了系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的2個(gè)時(shí)鐘的信號(hào)，在熔斷絲電路44被復(fù)位信號(hào)S2再次復(fù)位之前，對(duì)應(yīng)于熔斷絲3的切斷狀態(tài)的正常檢修信號(hào)S4被可靠地取入到觸發(fā)電路41中。另一方面，把該復(fù)位信號(hào)S1作為把從端子P1輸入的復(fù)位信號(hào)「RESET」延遲了系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的2個(gè)時(shí)鐘的復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」輸出到端子P4。
由此，例如即使不完全切斷熔斷絲電路44的熔斷絲3，例如在具有數(shù)十MΩ的高電阻的情況下，由于n溝道晶體管2成為關(guān)斷狀態(tài)，因此在熔斷絲3中不生成流經(jīng)電源Vcc、節(jié)點(diǎn)N2、熔斷絲3的微小電流的通路，促進(jìn)低功耗化。另一方面，如上所述，觸發(fā)電路41可靠地取入對(duì)應(yīng)于斷絲3的切斷狀態(tài)的正常檢修信號(hào)S4，作為檢修信號(hào)「OUT」輸出到端子P2。
另外，在上述的實(shí)施例4中，觸發(fā)電路41把觸發(fā)電路33輸出的復(fù)位信號(hào)S1的反轉(zhuǎn)信號(hào)作為鎖存時(shí)鐘，在延遲了系統(tǒng)時(shí)鐘「SYSTEM-CLK」的2個(gè)時(shí)鐘的狀態(tài)下向端子P2輸出檢修信號(hào)「OUT」，同時(shí)，把復(fù)位信號(hào)S1作為復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」輸出到端子P4，然而也可以把從觸發(fā)電路42輸出的復(fù)位信號(hào)S2作為復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」輸出到端子P4。在這種情況下，能夠可靠地避免基于從端子P2輸出的檢修信號(hào)「OUT」的檢修工作與基于從端子P4輸出的復(fù)位信號(hào)「INTERNAL-RESET」的復(fù)位工作的競(jìng)爭(zhēng)。
按照該實(shí)施例4，則根據(jù)觸發(fā)電路41能夠輸出對(duì)應(yīng)于熔斷絲3的切斷狀態(tài)的正常檢修信號(hào)「OUT」，同時(shí)，在該觸發(fā)電路41取入了該正常的檢修信號(hào)「OUT」以后，由于通過(guò)“與”電路43再次把熔斷絲電路44復(fù)位使得n溝道晶體管2成為關(guān)斷狀態(tài)，因此即使在不完全切斷熔斷絲3的情況下，在該熔斷絲3中也不流過(guò)電流，能夠謀求低功耗化。
如以上所說(shuō)明的那樣，按照本發(fā)明，如果在第1p溝道晶體管和n溝道晶體管的各個(gè)柵極上，輸入表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)，則在連接點(diǎn)發(fā)生反轉(zhuǎn)了復(fù)位信號(hào)的電位電平，由第2p溝道晶體管及反相器構(gòu)成的閉環(huán)鎖存該電位電平，進(jìn)行從反相器輸出具有把該電位電平反轉(zhuǎn)了的電位電平的檢修信號(hào)的初始化。如果輸入了具有把表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)反轉(zhuǎn)了的電位電平的表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)，則連接點(diǎn)的電位電平成為反轉(zhuǎn)了該復(fù)位信號(hào)的電位電平，在沒(méi)有切斷熔斷絲的情況下，由第2 p溝道晶體管及反相器構(gòu)成的閉環(huán)鎖存該電位電平，從反相器輸出把該電位電平反轉(zhuǎn)了的檢修信號(hào)。另一方面，在切斷熔斷絲的情況下，由第2p溝道晶體管及反相器構(gòu)成的閉環(huán)的狀態(tài)保持初始化時(shí)的狀態(tài)，從反相器輸出把表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)反轉(zhuǎn)了的檢修信號(hào)。這里，在輸入表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)并且連接了熔斷絲的情況下，由于第2p溝道晶體管的導(dǎo)通電阻比n溝道晶體管的導(dǎo)通電阻大，故根據(jù)這些導(dǎo)通電阻的電壓的分壓比，消除連接點(diǎn)的電不穩(wěn)定，由于能夠可靠而且穩(wěn)定地輸出表示連接著熔斷絲的狀態(tài)的檢修信號(hào)，故通過(guò)簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)能夠輸出可靠而且穩(wěn)定的檢修信號(hào)，同時(shí)，由于在復(fù)位解除以后無(wú)論是切斷/非切斷熔斷絲都不發(fā)生從電源到接地的電流通路，故起到能夠提高低功耗化的效果。
按照本發(fā)明的第2個(gè)方面，由于在電源與連接點(diǎn)之間設(shè)置電容器，使得把剛剛復(fù)位解除后的連接點(diǎn)的電位變動(dòng)抑制到最小值，故進(jìn)一步起到能夠輸出可靠而且穩(wěn)定的檢修信號(hào)的效果。
按照本發(fā)明的第3個(gè)方面，則由于延遲電路在基于復(fù)位解除的檢修信號(hào)確定以后，延遲表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)，輸出到安裝檢修信號(hào)發(fā)生電路的半導(dǎo)體集成電路上的其它電路，使得檢修信號(hào)的檢修工作與復(fù)位解除工作不發(fā)生競(jìng)爭(zhēng)，故起到能夠安全地進(jìn)行半導(dǎo)體集成電路上的其它電路中的檢修工作和復(fù)位解除工作的效果。
按照本發(fā)明的第4個(gè)方面，則由于能夠根據(jù)系統(tǒng)時(shí)鐘的周期和觸發(fā)電路的級(jí)數(shù)最佳地設(shè)定表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)的延遲時(shí)間，故能夠進(jìn)一步起到進(jìn)行安全的檢修工作和復(fù)位解除工作的效果。
按照本發(fā)明的第5個(gè)方面，首先，經(jīng)過(guò)復(fù)位信號(hào)輸入電路，從表示復(fù)位導(dǎo)通狀態(tài)的復(fù)位信號(hào)到表示復(fù)位解除的復(fù)位信號(hào)輸入到上述第1p溝道晶體管及上述n溝道晶體管的柵極，由此，從上述反相器輸出對(duì)應(yīng)于上述熔斷絲的切斷狀態(tài)的檢修信號(hào)。然后，第2觸發(fā)電路響應(yīng)上述多級(jí)觸發(fā)電路延遲輸出的復(fù)位信號(hào)鎖存上述反相器輸出的檢修信號(hào)。然后，上述第3觸發(fā)電路進(jìn)一步延遲上述多級(jí)觸發(fā)電路延遲輸出的復(fù)位信號(hào)，復(fù)位信號(hào)輸入電路取上述第3觸發(fā)電路延遲輸出的復(fù)位信號(hào)的反轉(zhuǎn)信號(hào)與輸入到該檢修信號(hào)發(fā)生電路的上述復(fù)位信號(hào)的“與”運(yùn)算值，輸出到上述第1p溝道晶體管及上述n溝道晶體管的柵極，把該檢修信號(hào)發(fā)生電路再次復(fù)位，即使是沒(méi)有完全切斷上述熔斷絲的高電阻狀態(tài)，由于上述n溝道晶體管成為關(guān)斷狀態(tài)，故也不存在流經(jīng)該溶斷絲的微小電流。另一方面，上述第2觸發(fā)電路在由上述復(fù)位信號(hào)輸入電路把該復(fù)位信號(hào)發(fā)生電路再次復(fù)位之前，由于鎖存對(duì)應(yīng)于熔斷絲的切斷狀態(tài)的檢修信號(hào)，故輸出正常的檢修信號(hào)，從而起到在熔斷絲的切斷狀態(tài)不完全的情況下，防止發(fā)生經(jīng)過(guò)了該熔斷絲的微小電流，進(jìn)一步促進(jìn)降低功耗的效果。
權(quán)利要求
1．一種檢修信號(hào)發(fā)生電路，其特征在于具備源極與電源連接且在柵極上輸入復(fù)位信號(hào)的第1p溝道晶體管；源極與接地的熔斷絲的另一端連接、漏極與上述第1p溝道晶體管的漏極連接且在柵極上輸入上述復(fù)位信號(hào)的n溝道晶體管；漏極與上述第1p溝道晶體管與上述n溝道晶體管的連接點(diǎn)連接、源極與上述電源連接且與上述n溝道晶體管相比導(dǎo)通電阻大的第2p溝道晶體管；以及輸入側(cè)與上述連接點(diǎn)連接、輸出側(cè)與上述第2p溝道晶體管的柵極連接且輸出檢修信號(hào)的反相器。
2．如權(quán)利要求1中所述的檢修信號(hào)發(fā)生電路，其特征在于在上述電源與上述連接點(diǎn)之間還連接了電容器。
3．如權(quán)利要求1或2中所述的檢修信號(hào)發(fā)生電路，其特征在于還具備使表示復(fù)位解除的上述復(fù)位信號(hào)延遲的延遲電路，對(duì)安裝上述檢修信號(hào)發(fā)生電路的半導(dǎo)體集成電路上的其它電路延遲地輸出表示復(fù)位解除的上述復(fù)位信號(hào)。
4．如權(quán)利要求3中所述的檢修信號(hào)發(fā)生電路，其特征在于上述延遲電路至少具備多級(jí)觸發(fā)電路，與供給上述半導(dǎo)體集成電路的系統(tǒng)時(shí)鐘相同步，延遲地輸出表示復(fù)位解除的上述復(fù)位信號(hào)。
5．如權(quán)利要求4中所述的檢修信號(hào)發(fā)生電路，其特征在于，還具備響應(yīng)于上述多級(jí)觸發(fā)電路輸出的復(fù)位信號(hào)，鎖存并輸出上述反相器輸出的檢修信號(hào)的第2觸發(fā)電路；使上述多級(jí)觸發(fā)電路輸出的復(fù)位信號(hào)進(jìn)一步延遲的第3觸發(fā)電路；以及取上述第3觸發(fā)電路輸出的復(fù)位信號(hào)的及轉(zhuǎn)信號(hào)與被輸入到該檢修信號(hào)發(fā)生電路中的上述復(fù)位信號(hào)的“與”運(yùn)算值、輸出給上述第1p溝道晶體管及上述n溝道晶體管的柵極的復(fù)位信號(hào)輸入電路。
全文摘要
本發(fā)明的課題在于輸出準(zhǔn)確地檢測(cè)是否切斷了熔斷絲的檢修信號(hào)并可靠地進(jìn)行有不良部位的電路的補(bǔ)救。本發(fā)明的裝置具備:源極與電源連接且在柵極上輸入復(fù)位信號(hào)的第1p溝道晶體管;源極與接地的熔斷絲的另一端連接、漏極與上述第1p溝道晶體管的漏極連接且在柵極上輸入上述復(fù)位信號(hào)的n溝道晶體管;漏極與上述第1p溝道晶體管與上述n溝道晶體管的連接點(diǎn)連接、源極與電源連接且與上述n溝道晶體管相比導(dǎo)通電阻大的第2p溝道晶體管;以及反相器。
文檔編號(hào)G11C29/00GK1307361SQ0013148
公開(kāi)日2001年8月8日 申請(qǐng)日期2000年10月19日 優(yōu)先權(quán)日2000年1月25日
發(fā)明者后藤宏二 申請(qǐng)人:三菱電機(jī)株式會(huì)社