一種掃描錯(cuò)誤位的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本發(fā)明實(shí)施例涉及存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種掃描錯(cuò)誤位的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]非易失閃存介質(zhì)(norflash/nand flash)是一種很常見的存儲(chǔ)芯片，兼有隨機(jī)存儲(chǔ)器(Random Access Memory，RAM)和只讀存儲(chǔ)器(Read-Only Memory，ROM)的優(yōu)點(diǎn)，數(shù)據(jù)掉電不會(huì)丟失，是一種可在系統(tǒng)進(jìn)行電擦寫的存儲(chǔ)器，同時(shí)它的高集成度和低成本使它成為市場主流。Flash芯片是由內(nèi)部成千上萬個(gè)存儲(chǔ)單元組成的，多個(gè)存儲(chǔ)單元構(gòu)成頁，多個(gè)頁組成塊，正是由于該特殊的物理結(jié)構(gòu)，在nor flash/nand flash中是以頁為單位進(jìn)行讀寫數(shù)據(jù)，以塊為單位進(jìn)行擦除數(shù)據(jù)的。
[0003]由于存儲(chǔ)芯片的各種串?dāng)_的特性，在使用過程中會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤位，為了保證系統(tǒng)工作的穩(wěn)定性，需要外加錯(cuò)誤檢查與糾正(Error Checking and Correcting，ECC)來保證存儲(chǔ)單元中數(shù)據(jù)的正確性。然而，外加的ECC—般是以512byte或者Ikbyte為單位進(jìn)行錯(cuò)誤檢查與糾正的，而芯片內(nèi)部是以頁為單位進(jìn)行編程，且每個(gè)頁又分為使用區(qū)和額外分區(qū)，如圖
1、圖2、圖3和圖4為現(xiàn)有技術(shù)中存儲(chǔ)單元的頁數(shù)據(jù)分區(qū)示意圖，如圖1所示，共分為8個(gè)用戶數(shù)據(jù)區(qū)和額外分區(qū)I以及額外分區(qū)2，額外分區(qū)I為額外數(shù)據(jù)存放區(qū)，額外分區(qū)2為存放ECC校驗(yàn)位區(qū)；圖2為另一種均勻分區(qū)圖，以一個(gè)數(shù)據(jù)分區(qū)加兩個(gè)額外分區(qū)組成，一個(gè)分區(qū)為用戶數(shù)據(jù)區(qū)，額外分區(qū)I為額外數(shù)據(jù)存放區(qū)，額外分區(qū)2為分區(qū)I對(duì)應(yīng)的ECC校驗(yàn)位存放區(qū)；圖3和圖4為兩種不均勻分區(qū)圖；可見區(qū)域劃分并不一定是ECC糾錯(cuò)單位的整數(shù)倍，而在掃描存儲(chǔ)單元的錯(cuò)誤位時(shí)就需要考慮到ECC糾錯(cuò)單位問題，在芯片測試時(shí)還需要給出每個(gè)糾錯(cuò)單位所需要的糾錯(cuò)能力，即初始允許的錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，所以必須以ECC糾錯(cuò)單位對(duì)存儲(chǔ)單元的錯(cuò)誤位進(jìn)行掃描，稱之為單位掃描。但是實(shí)際的控制器在使用ECC時(shí)會(huì)按照自己的需求排列內(nèi)存數(shù)據(jù)和存放ECC，測試時(shí)無法根據(jù)存儲(chǔ)單元中錯(cuò)誤位的個(gè)數(shù)設(shè)置相應(yīng)的測試條件，如果測試條件設(shè)置的過于寬松，給出的ECC糾錯(cuò)能力和存儲(chǔ)單元的實(shí)際讀周期就無法匹配，如果測試條件設(shè)置的過于緊，則會(huì)影響存儲(chǔ)芯片的良品率。
[0004]因此，有必要開發(fā)一種能對(duì)存儲(chǔ)單元中錯(cuò)誤位的分布狀況進(jìn)行掃描統(tǒng)計(jì)的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種掃描錯(cuò)誤位的方法，以對(duì)存儲(chǔ)單元中的錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)進(jìn)行掃描統(tǒng)
i+o
[0006]該方法包括:
[0007]S1、將存儲(chǔ)單元的第一數(shù)據(jù)分區(qū)平均分成N個(gè)相等的第二數(shù)據(jù)分區(qū)，其中，N為正整數(shù)；
[0008]S2、由所述第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)并對(duì)第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)；
[0009]S3、將所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)與所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)進(jìn)行比較，如果所述實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)大于所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，則執(zhí)行步驟S4，否則執(zhí)行步驟S5;
[0010]S4、對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行一次編程操作，返回執(zhí)行步驟S3;
[0011]S5、記錄此時(shí)第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)。
[0012]示例性的，由所述第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)并對(duì)第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，包括:
[0013]首先選中一個(gè)第一數(shù)據(jù)分區(qū)中的所有第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)，對(duì)第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，繼續(xù)執(zhí)行步驟S3;
[0014]按第二數(shù)據(jù)分區(qū)的排列順序，向后移動(dòng)一個(gè)第二數(shù)據(jù)分區(qū)的位置，組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)，對(duì)所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，繼續(xù)執(zhí)行步驟S3。
[0015]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種掃描錯(cuò)誤位的方法，通過將存儲(chǔ)單元的傳統(tǒng)數(shù)據(jù)分區(qū)即第一數(shù)據(jù)分區(qū)平均分成N個(gè)相等的第二數(shù)據(jù)分區(qū)，由所述第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)并對(duì)第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，并將所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)與所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)進(jìn)行比較，如果所述實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)大于所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，則對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行一次編程操作，直到滿足設(shè)定條件，記錄此時(shí)第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，從而可以保證各數(shù)據(jù)分區(qū)中的錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)比較平均，進(jìn)而可以通過修改設(shè)定條件來調(diào)整存儲(chǔ)芯片的合格率，并且控制器可以根據(jù)存儲(chǔ)單元的各數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)的最終統(tǒng)計(jì)結(jié)果來調(diào)整自己的ECC所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)區(qū)域以及糾錯(cuò)能力，從而獲得更好的寫性能。
【附圖說明】
[0016]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中一種存儲(chǔ)單元的頁數(shù)據(jù)分區(qū)示意圖1;
[0017]圖2是現(xiàn)有技術(shù)中一種存儲(chǔ)單元的頁數(shù)據(jù)分區(qū)示意圖2;
[0018]圖3是現(xiàn)有技術(shù)中一種存儲(chǔ)單元的頁數(shù)據(jù)分區(qū)示意圖3;
[0019]圖4是現(xiàn)有技術(shù)中一種存儲(chǔ)單元的頁數(shù)據(jù)分區(qū)示意圖4;
[0020]圖5是本發(fā)明實(shí)施例一中的一種掃描錯(cuò)誤位的方法流程圖；
[0021]圖6是本發(fā)明實(shí)施例二中的一種掃描錯(cuò)誤位的方法流程圖；
[0022]圖7是本發(fā)明實(shí)施例三中的一種掃描分區(qū)示意圖；
[0023]圖8是本發(fā)明實(shí)施例三中的一種局部放大掃描分區(qū)不意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0024]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明?？梢岳斫獾氖?，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋本發(fā)明，而非對(duì)本發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。
[0025]實(shí)施例一
[0026]圖5為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種掃描錯(cuò)誤位的方法流程圖，本實(shí)施例可適用于對(duì)存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)分區(qū)中的錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的情況。參加圖5，本實(shí)施例提供的掃描錯(cuò)誤位的方法具體包括如下步驟:
[0027]S1、將存儲(chǔ)單元的第一數(shù)據(jù)分區(qū)平均分成N個(gè)相等的第二數(shù)據(jù)分區(qū)，其中，N為正整數(shù)；
[0028]S2、由所述第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)并對(duì)第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)；
[0029]優(yōu)選的，由所述第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)具體為，每四個(gè)第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成一個(gè)第三數(shù)據(jù)分區(qū)，當(dāng)然還可以是每五個(gè)第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成一個(gè)第三數(shù)據(jù)分區(qū)，此處不對(duì)其進(jìn)行限定。
[0030]其中，允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)根據(jù)存儲(chǔ)芯片的制作工藝進(jìn)行設(shè)定。
[0031]S3、將所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)與所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)進(jìn)行比較，如果所述實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)大于所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，則執(zhí)行步驟S4，否則執(zhí)行步驟S5;
[0032]S4、對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行一次編程操作，返回執(zhí)行步驟S3;
[0033]上述操作中，需重復(fù)執(zhí)行步驟S3，直至滿足設(shè)定條件為止，設(shè)定條件可以為所述實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)小于或者等于所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)。
[0034]需要說明的是，對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行一次編程操作，存儲(chǔ)單元的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)就會(huì)發(fā)生改變。所述設(shè)定條件可以是所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)小于或者等于所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)。
[0035]S5、記錄此時(shí)第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)。
[0036]記錄此時(shí)第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)的目的:一方面是在對(duì)存儲(chǔ)芯片進(jìn)行測試時(shí)，根據(jù)所述實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)的改變?cè)O(shè)定條件，來改變存儲(chǔ)芯片的合格率，另一方面是為了讓控制器根據(jù)所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)來調(diào)整自己的ECC所對(duì)應(yīng)的區(qū)域及糾錯(cuò)能力。
[0037]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種掃描錯(cuò)誤位的方法，通過將存儲(chǔ)單元的傳統(tǒng)數(shù)據(jù)分區(qū)即第一數(shù)據(jù)分區(qū)平均分成N個(gè)相等的第二數(shù)據(jù)分區(qū)，由所述第二數(shù)據(jù)分區(qū)組成第三數(shù)據(jù)分區(qū)并對(duì)第三數(shù)據(jù)分區(qū)進(jìn)行掃描，并設(shè)置允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，并將所述第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)與所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)進(jìn)行比較，如果所述實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)大于所述允許錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，則對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行一次編程操作，直到滿足設(shè)定條件，記錄此時(shí)第三數(shù)據(jù)分區(qū)的實(shí)際錯(cuò)誤位個(gè)數(shù)，進(jìn)而可以通過修改設(shè)定條件來調(diào)整存儲(chǔ)芯