制器104的未用協(xié)議棧靜默，并關(guān)閉存儲控制器104中的時鐘，可以減少用電。這防止M0S柵極來回切換，由于柵極的容性負載的切換，所述來回切換會成為半導體中的相當大的電力浪費的原因之一。
[0029]在另一個實施例中，即使當協(xié)議復用器309當前選擇PCIe協(xié)議時，SAS/SATA物理層307也可直接利用來自SerDes310的信號丟失指示，以便在檢測到有效的SAS/SATA帶外(OOB)信號的情況下，快速切換到SAS/SATA協(xié)議。例如，協(xié)議選擇邏輯308可指導協(xié)議復用器309選擇PCIe協(xié)議棧與附接的存儲設(shè)備通信。然而，附接的存儲設(shè)備可能是SAS/SATA存儲設(shè)備。在PCIe協(xié)議棧嘗試與附接的通信設(shè)備通信的同時，存儲控制器104可操作以更快速地硬件檢測SAS/SATA的OOB信號。在這點上，OOB信號的檢測實際上可以在SAS/SATA物理層307中進行。SerDes310把信號丟失指示提供給SAS/SATA物理層307，SAS/SATA物理層307再尋找適當?shù)腛OB模式。協(xié)議選擇邏輯308隨后選擇SAS/SATA協(xié)議棧，并停止PCIe協(xié)議棧與附接的存儲設(shè)備通信的嘗試。
[0030]可以與PCIe鏈路層304上的進展的檢測并行地提供自動00B檢測處理。在PCIe未取得進展，并且SerDes310收到有效的SAS/SATA 00B信號的情況下，協(xié)議復用器309切換到SAS/SATA控制(即，SAS/SATA協(xié)議棧)，以致可答復附接的存儲設(shè)備，發(fā)送00B信號。即使不存在PCIe或SAS/SATA活動，協(xié)議復用器309也可定期切換到SAS/SATA協(xié)議棧，發(fā)送00B信號，以遵守T10SAS標準(T10是建立關(guān)于SCS1、SATA和SAS的標準的技術(shù)委員會)的熱插拔超時要求。圖6的流程圖中表示和說明了這種檢測的例子。
[0031]在任何情況下，建立成功鏈接的指示可通過協(xié)議選擇邏輯308，從PCIe鏈路層304向SAS/SATA鏈路層305傳送，反之亦然，以致協(xié)議選擇邏輯308暫停切換協(xié)議的任何進一步嘗試(例如，通過借助中斷或某些其它的手段，把成功的結(jié)果告知存儲控制器104的固件)。
[0032]可按照多種途徑，實現(xiàn)在存儲控制器104中選擇特定的協(xié)議檢測方案的方式。圖4是存儲控制器104的協(xié)議檢測選擇的一個這樣的例證處理的流程圖。更具體地，圖4中圖解說明一種可編程協(xié)議選擇方法，所述方法向存儲控制器104的固件提供根據(jù)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的先驗知識，選擇協(xié)議的能力。例如，在處理單元351中，存儲控制器104啟動固件協(xié)議檢測，以致固件嘗試在硬件檢測之前或者與硬件檢測并行地，發(fā)起與附接的存儲設(shè)備的通信。附接到存儲控制器104的存儲設(shè)備可能是已知的，以致在處理單元352中，存儲控制器104的固件可通過協(xié)議的預定固件選擇，自動開始協(xié)議檢測。在這點上，存儲控制器104的固件可在處理單元354中，自動選擇PCIe協(xié)議(如果設(shè)備已知是PCIe存儲設(shè)備的話)，或者在處理單元355中，自動選擇SAS/SATA協(xié)議(如果設(shè)備已知是SAS/SATA存儲設(shè)備的話)。
[0033]另一方面，處理單元352的固件協(xié)議檢測可向存儲控制器104提供循環(huán)選擇存儲控制器104的可用協(xié)議，直到與附接的存儲設(shè)備產(chǎn)生連接為止的能力。例如，固件可以使尋找“PhyReady” SAS/SATA條件的協(xié)議或者尋找“LinkUp” PCIe條件的協(xié)議交替。在任一情況下，存儲控制器104的固件選擇PCIe操作或SAS/SATA操作，協(xié)議復用器309被設(shè)定成適當?shù)膮f(xié)議，直到存儲控制器104的固件改變配置為止。
[0034]如果處理單元351的固件協(xié)議檢測被禁止，那么在處理單元356，存儲控制器104一般會實現(xiàn)硬件協(xié)議檢測。如果存儲控制器104固件對預期的協(xié)議一無所知，從而決定不在協(xié)議之間循環(huán)，那么可以啟動處理單元356的硬件感測的協(xié)議檢測的模式。一旦硬件感測的協(xié)議檢測關(guān)于特定協(xié)議，成功實現(xiàn)PhyReady或LinkUp狀態(tài)，那么暫停任何進一步的協(xié)議切換，直到固件再次啟動協(xié)議切換為止。如果處理單元356的硬件感測的協(xié)議檢測被禁止，那么可使協(xié)議復用器309保持空閑狀態(tài)，以致不選擇協(xié)議棧。例如，在這方面上，存儲控制器104的PCIe協(xié)議棧和SAS協(xié)議棧都會保持靜默。
[0035]如果處理單元356的硬件感測的協(xié)議檢測被啟動，那么存儲控制器104可被配置成循環(huán)選擇協(xié)議棧(處理單元358)，自動檢測00B信號的協(xié)議(處理單元359)，和/或傳送脈沖，并借助時域反射器(“TDR”)，分析反射波(處理單元360)。舉例來說，在處理單元358，協(xié)議復用器309會以可編程的停留時間，使PCIe協(xié)議棧和SAS/SATA協(xié)議棧交替，直到對任意協(xié)議獲得成功為止。在借助特定協(xié)議建立成功連接之后，中斷指令存儲控制器104開始按照存儲設(shè)備的協(xié)議，處理I/O請求。通常，與x2、x4、x8或xl6PCIe結(jié)構(gòu)相關(guān)的所有通道應(yīng)同時交替，PCIe鏈路層304在訓練序列期間，自動檢測通路反轉(zhuǎn)條件，以致不需要循環(huán)選擇不同的通路反轉(zhuǎn)配置。
[0036]在處理單元359中，協(xié)議復用器309可被配置成默認為PCIe物理層306，不過信號丟失指示，比如RXL0S信號仍然會被傳送給SAS/SATA物理層307，以支持00B序列檢測。隨后，如果存儲控制器104能夠借助PCIe協(xié)議，成功地建立鏈路(例如，“LinkUp”)，那么協(xié)議復用器309鎖定到存儲控制器104的PCIe協(xié)議棧。然而，如果SAS/SATA物理層檢測到SAS/SATA協(xié)議的有效COMINIT 00B序列，那么協(xié)議復用器309切換到SAS/SATA物理層307，以致SAS/SATA物理層307可向附接的存儲設(shè)備發(fā)送C0MINIT。如果在可編程的熱插拔超時期間(一般10-500ms)內(nèi)，沒有任何協(xié)議成功，那么通過在“強力”連接存儲設(shè)備的嘗試中向存儲設(shè)備發(fā)送C0MINIT，存儲控制器104可自動選擇SAS/SATA物理層307。另一方面，存儲控制器104可簡單地繼續(xù)監(jiān)控或進行備選的協(xié)議檢測方案。
[0037]在處理單元360中，SerDeS310定期發(fā)送脈沖，并分析反射波，以檢測不同的AC耦接特性，所述AC耦接特性指示附接的設(shè)備的協(xié)議。例如，基于其標準化的存儲協(xié)議電氣要求，存儲設(shè)備具有特殊的模擬信令特性。傳送給存儲設(shè)備的TDR脈沖會被反射回SerDeS310，并由存儲控制器104分析，以確定耦接到存儲控制器104的存儲設(shè)備的種類。下面在圖5中，表示和說明這種硬件/TDR檢測的例子。
[0038]圖5是存儲控制器104的例證硬件檢測方案的示圖370。感測PCIe與SAS電氣特性的一個特殊挑戰(zhàn)是SAS中采用的無源通道長度的寬范圍。SAS通道長度可以從僅僅幾厘米變動到多達10米，這會引起數(shù)十納秒的反射TDR波的延遲(例如，例示為“飛行時間 X2，，)。
[0039]SerDes310可以實現(xiàn)采樣定時器(373)，以確定何時對反射波采樣，和評估充電(charge)特性。這樣的定時器可被配置成當發(fā)射TDR脈沖時(即，粗線371)起動。另一方面，利用用于檢測從長度未知的SAS通道返回到達SerDes310的反射TDR脈沖的閾值
(372)，可以獲得該SAS通道中的脈沖的充電特性的精確測量。另一種備選方案包括用于檢測反射TDR脈沖的到達的dV/dt接收器。一旦反射TDR脈沖到達，采樣定時器就會被起動
(373)。當采樣定時器期滿時，在SerDes310的電壓可被采樣(例如，采樣點380)，并與各個閾值電壓比較(例如，372、374、375)。例如，如果SAS充電檢測閾值被超過，那么TDR脈沖會指出SAS設(shè)備附接到存儲控制器104。否則，TDR脈沖會指出PCIe存儲設(shè)備被附接，或者根本未附接任何設(shè)備(375)。這樣的閾值可被編程到存儲控制器104的固件中，以提供在不同的實現(xiàn)和工作環(huán)境方面的靈活性。
[0040]在另一個實施例中，可以利用故障保險定時器來確定附接到存儲控制器104的存儲設(shè)備的種類。例如，在發(fā)射TDR脈沖時(371)，可以起動設(shè)定為最大線纜長度延遲的2倍的故障保險定時器。如果檢測到反射TDR脈沖，那么采樣定時器會被觸發(fā)，從而會發(fā)生充電值的采樣(例如，采樣點380)。如果未觀察到反射TDR脈沖，那么當故障保險定時器期滿時，會發(fā)生充電值的采樣。例如，如果鏈路被適當端接，那么不存在反射，從而故障保險定時器會起動。如果鏈路未被端接，那么在2倍于傳輸線路的最大長度的延遲的時間，反射自動觸發(fā)檢測。
[0041]另一方面，基線定時器(376)可以和故障保險定時器一起使用，以根據(jù)采樣，而不是使評估完全基于絕對電壓閾值，來評估充電斜率(例如，390、391、392)。例如，基線定時器可用于在收到TDR脈沖之后立刻對反射TDR脈沖采樣?；€定時器可捕捉確定充電斜率中的第一個點。之后，采樣定時器可被用于捕捉可從其確定充電斜率的第二個點。當然可以利用多個樣本，以提高精度和改善抗擾性(即，更精確地確定哪個是信號哪個是噪聲)。
[0042]用于起動采樣定時器的這種反射TDR脈沖檢測技術(shù)為各種長度的通道，包括超過SAS的10米無源長度極限的那些通道提供靈活性。也可利用另外的閾值，以提供與各種協(xié)議相關(guān)的充電特性的更精細辨別?？梢圆捎媚?數(shù)轉(zhuǎn)換器，以在借助數(shù)值比較確定充電電平的情況下進行檢測。通過在充電時間內(nèi)獲得多個樣本，并在確定充電特性之前，對作為結(jié)果的采樣點380進行數(shù)值分析和曲線擬合，可以獲得額外的精確性。
[0043]圖6是存儲控制器104的另一個例證處理400的流程圖。處理400圖解說明選擇的協(xié)議中的滯后。在鏈路掉線的情況