一種Memory模塊的驗(yàn)證方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及IC芯片技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種Memory模塊的驗(yàn)證方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在針對(duì)不同工藝的同個(gè)芯片中IP前端設(shè)計(jì)中，工作量最大的是Memory的集成?，F(xiàn)有的設(shè)計(jì)驗(yàn)證Memory的集成和功能的正確性，都是與IP的功能性驗(yàn)證綁定在一起，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，并且不一定能夠做到真正的驗(yàn)證出Memory集成和功能的正確性，尤其是Memory有write mask(寫入掩碼)功能和多塊Memory拼接以及讀寫時(shí)鐘不一致的情況。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中公開了一種“集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正方法及系統(tǒng)”，見公開號(hào)為:CN102779557A，公開日為:2012-11-14的中國(guó)專利，該檢測(cè)校正方法，包括:接收對(duì)劃分有多個(gè)區(qū)域的memory模塊中的某一區(qū)域的某一地址進(jìn)行訪問(wèn)的指令；在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定一個(gè)需要進(jìn)行檢測(cè)校正的地址；對(duì)被訪問(wèn)的地址中存貯的數(shù)據(jù)以及在被訪問(wèn)區(qū)域外的每個(gè)區(qū)域中確定的地址中存貯的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正。該發(fā)明還公開了一種集成memory模塊的芯片數(shù)據(jù)檢測(cè)校正系統(tǒng)以及芯片。采用該發(fā)明公開的方法、系統(tǒng)或芯片，能夠?qū)υ撔酒形幢辉L問(wèn)的部分地址中的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正，提高芯片中存貯數(shù)據(jù)的可靠性。也就是說(shuō)該專利是對(duì)未被訪問(wèn)的部分地址中的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)校正，并不是對(duì)Memory模塊的集成和功能性是否正確進(jìn)行驗(yàn)證。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題之一，在于提供一種Memory模塊的驗(yàn)證方法，其Memory模塊的集成和功能性的驗(yàn)證的完備性可以得到最大的提升，尤其是write mask和多個(gè)Memory整合的錯(cuò)誤可以被發(fā)現(xiàn)。
[0005]本發(fā)明問(wèn)題之一是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種Memory模塊的驗(yàn)證方法，所述驗(yàn)證方法具體包括如下步驟:
[0006]步驟1、在單個(gè)Memory模塊或組合的Memory模塊外包一層Wrapper，實(shí)現(xiàn)在IC芯片各個(gè)工藝庫(kù)下Memory模塊對(duì)外接口的一致性；
[0007]步驟2、對(duì)每個(gè)Memory模塊的Wrapper前級(jí)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)；
[0008]步驟3、對(duì)每個(gè)Memory模塊的Wrapper后級(jí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，采集在各種激勵(lì)信號(hào)情況下產(chǎn)生的Memory數(shù)據(jù)；
[0009]步驟4、對(duì)Memory數(shù)據(jù)進(jìn)行行為分析，判斷是否符合所需的預(yù)期值，是，發(fā)出通過(guò)的信號(hào)；否，發(fā)出失敗的信號(hào)，并給出Memory模塊錯(cuò)誤的類型與地址。
[0010]進(jìn)一步地，所述步驟4中對(duì)Memory數(shù)據(jù)進(jìn)行行為分析，判斷是否符合所需的預(yù)期值，具體為:對(duì)Memory模塊一個(gè)地址寫入一個(gè)固定值，通過(guò)激勵(lì)信號(hào)后，采集到的數(shù)據(jù)要是固定值對(duì)應(yīng)的預(yù)期值，則符合，采集的要不是固定值對(duì)應(yīng)的預(yù)期值，則不符合；并對(duì)一個(gè)memory模塊的所有地址進(jìn)行寫操作，每個(gè)地址空間的每一個(gè)bit遍歷O和1，然后回讀，判斷回讀回來(lái)的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否一致，是一致則發(fā)出通過(guò)的信號(hào)；否，發(fā)出失敗的信號(hào)，并給出Memory模塊錯(cuò)誤的類型與地址。
[0011]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題之二，在于提供一種Memory模塊的集成和功能性的驗(yàn)證系統(tǒng)，其Memory模塊的集成和功能性的驗(yàn)證的完備性可以得到最大的提升，尤其是write mask和多個(gè)Memory整合的錯(cuò)誤可以被發(fā)現(xiàn)。
[0012]本發(fā)明問(wèn)題之二是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種Memory模塊的驗(yàn)證系統(tǒng)，所述驗(yàn)證系統(tǒng)包括Memory Wrapper模塊、Memory測(cè)試激勵(lì)產(chǎn)生模塊、Memory數(shù)據(jù)采集模塊以及Memory行為分析模塊；
[0013]所述Memory Wrapper模塊，用于在單個(gè)Memory模塊或組合的Memory模塊外包一層Wrapper，實(shí)現(xiàn)在IC芯片各個(gè)工藝庫(kù)下Memory模塊對(duì)外接口的一致性；
[0014]所述Memory測(cè)試激勵(lì)產(chǎn)生模塊，用于對(duì)每個(gè)Memory模塊的Wrapper前級(jí)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)；
[0015]所述Memory數(shù)據(jù)采集模塊，用于對(duì)每個(gè)Memory模塊的Wrapper后級(jí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，采集在各種激勵(lì)信號(hào)情況下產(chǎn)生的Memory數(shù)據(jù)；
[0016]所述Memory行為分析模塊，用于對(duì)Memory數(shù)據(jù)進(jìn)行行為分析，判斷是否符合所需的預(yù)期值，是，發(fā)出通過(guò)的信號(hào)；否，發(fā)出失敗的信號(hào)，并給出Memory模塊錯(cuò)誤的類型與地址。
[0017]進(jìn)一步地，所述Memory行為分析模塊中對(duì)Memory數(shù)據(jù)進(jìn)行行為分析，判斷是否符合所需的預(yù)期值，具體為:對(duì)Memory模塊一個(gè)地址寫入一個(gè)固定值，通過(guò)激勵(lì)信號(hào)后，采集到的數(shù)據(jù)要是固定值對(duì)應(yīng)的預(yù)期值，則符合，采集的要不是固定值對(duì)應(yīng)的預(yù)期值，則不符合；并對(duì)一個(gè)memory模塊的所有地址進(jìn)行寫操作，每個(gè)地址空間的每一個(gè)bit遍歷O和1，然后回讀，判斷回讀回來(lái)的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)是否一致，是一致則發(fā)出通過(guò)的信號(hào)；否，發(fā)出失敗的信號(hào)，并給出Memory模塊錯(cuò)誤的類型與地址。
[0018]本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn):1.Memory模塊的集成和功能性的驗(yàn)證也可以通過(guò)單獨(dú)的硬件驗(yàn)證體系來(lái)實(shí)現(xiàn)；
[0019]2.Memory模塊的集成和功能性的驗(yàn)證的完備性可以得到最大的提升，尤其是write mask和多個(gè)Memory整合的錯(cuò)誤可以被發(fā)現(xiàn)。
[0020]3.Memory模塊的錯(cuò)誤類型和地址可知。
【附圖說(shuō)明】
[0021]圖1為本發(fā)明方法流程示意圖。
[0022]圖2為本發(fā)明系統(tǒng)的原理框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]請(qǐng)參閱圖1所示，本發(fā)明的一種Memory模塊的驗(yàn)證方法，所述驗(yàn)證方法具體包括如下步驟:
[0024]步驟1、在單個(gè)Memory模塊或組合的Memory模塊外包一層Wrapper，實(shí)現(xiàn)在IC芯片各個(gè)工藝庫(kù)下Memory模塊對(duì)外接口的一致性；包一層wrapper對(duì)于IC領(lǐng)域是公知的技術(shù)，不同工藝memory模塊只是內(nèi)核不一樣，但是預(yù)留的接口是一樣的，所以可以使用同一個(gè)wrapper。其中，Wrapper是專業(yè)術(shù)語(yǔ)，一般晶圓廠提供的memory模塊是一個(gè)底層的模型，在實(shí)際測(cè)試中需要對(duì)這個(gè)底層的模塊包裝一層實(shí)現(xiàn)memory模塊拼接等操作，這個(gè)過(guò)程京尤口Lj wrapper。
[0025]步驟2、對(duì)每個(gè)Memory模塊的Wrapper前級(jí)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)；
[0026]步驟3、對(duì)每個(gè)Memory模塊的Wrapper后級(jí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，采集在各種激勵(lì)信號(hào)情況下產(chǎn)生的Memory數(shù)據(jù)；
[0027]步驟4、對(duì)Memory數(shù)據(jù)進(jìn)行行為分析，判斷是否符合所需的預(yù)期值，是，發(fā)出通過(guò)的信號(hào)；否，發(fā)出失敗的信號(hào)，并給出Memory模塊錯(cuò)誤的類