8]為了補(bǔ)償柵極選擇線首次以柵極選擇信號(hào)來驅(qū)動(dòng)的時(shí)間以及柵極電壓達(dá)到打開電壓的時(shí)間之間的時(shí)間延遲，各自與一個(gè)或多個(gè)顯示線關(guān)聯(lián)的多個(gè)柵極選擇線可被“流水線化(pipelined)”。換言之，柵極選擇線按有序及重疊的方式被驅(qū)動(dòng)，使得與顯示線對(duì)應(yīng)的晶體管在不同的時(shí)間達(dá)到“開”狀態(tài)，使得各顯示線能按適時(shí)的方式被單獨(dú)地更新(例如經(jīng)由源極線)。這個(gè)技術(shù)的一個(gè)實(shí)施例在圖3B中例示。如圖3B所示，兩個(gè)或多個(gè)柵極選擇線(例如線i和線i+Ι)可以按重疊的方式被驅(qū)動(dòng)，使得與每一柵極選擇線關(guān)聯(lián)的晶體管在不同的時(shí)間達(dá)到Vi3n (例如按期望的次序達(dá)到VQN)。
[0059]上述流水線技術(shù)可使用多種不同的硬件和/或軟件配置來實(shí)現(xiàn)。例如，在各種實(shí)施例中，流水線可以通過在與當(dāng)前柵極選擇線420 (例如線i)關(guān)聯(lián)的寄存器元件410正被驅(qū)動(dòng)來選擇顯示線用于更新的同時(shí)，對(duì)與下一柵極選擇線420 (例如線i+Ι)關(guān)聯(lián)的寄存器元件410預(yù)充電，來完成。這樣的配置在圖4A中例示，其例示依照本發(fā)明實(shí)施例的、與包括在圖1的顯示裝置160中的柵極選擇線420耦合的寄存器元件410的局部示意圖。如所示，各寄存器元件410的輸出412可耦合至相鄰寄存器元件410。從而，當(dāng)顯示線的計(jì)時(shí)被執(zhí)行時(shí)，在當(dāng)前顯示線(例如線i)被選擇用于更新的同時(shí)，與下一顯示線(例如線i+Ι)關(guān)聯(lián)的寄存器元件410可預(yù)充電。這個(gè)技術(shù)在圖4B中更詳細(xì)地示出，其例示依照本發(fā)明實(shí)施例在顯示更新期間，寄存器元件410-2的充電波形。如所示，在時(shí)間段402期間，通過與線i關(guān)聯(lián)的寄存器元件410-1的輸出412-1對(duì)與線i+Ι關(guān)聯(lián)的寄存器元件410-2預(yù)充電。隨后，在與顯示線i+Ι關(guān)聯(lián)的顯示更新時(shí)期404期間，還對(duì)寄存器元件410-2充電直到跨寄存器元件410-2的電壓達(dá)到閾值電壓(VQN)。
[0060]一旦柵極選擇線420-2達(dá)到閾值電壓(V?)，像素?cái)?shù)據(jù)通過多個(gè)源極線驅(qū)動(dòng)至與顯示線i+Ι關(guān)聯(lián)的像素來更新顯示線。同時(shí)地，寄存器元件410-2的輸出412-2可以被用來對(duì)下一寄存器元件410 (例如寄存器元件410-3)預(yù)充電。隨后，在顯示線i+Ι被更新后，取消選擇顯示線，下一顯示線(例如顯示線i+2)被選擇，并且與下一顯示線關(guān)聯(lián)的像素?cái)?shù)據(jù)通過源極線被驅(qū)動(dòng)至下一行的像素。重復(fù)這個(gè)過程直到顯示裝置160中的每一線都已被更新。
[0061]當(dāng)僅在顯示裝置160的垂直消隱時(shí)期期間執(zhí)行輸入感測時(shí)，流水線過程不會(huì)被中斷。在這樣的實(shí)施例中，以與顯示刷新率相等的速率收集輸入感測數(shù)據(jù)。為了以與顯示刷新率不同的速率(例如更高的速率)獲取輸入感測數(shù)據(jù)，流水線過程可以被中斷。然而，中斷流水線過程來獲取輸入感測數(shù)據(jù)可能干擾預(yù)充電階段和/或影響施加到柵極選擇線420上的最終電壓。這個(gè)充電行為在圖5中示出，其例示依照本發(fā)明實(shí)施例當(dāng)顯示更新被中斷來執(zhí)行輸入感測時(shí)，寄存器元件410的充電波形。如所示，寄存器元件410可以在非顯示更新時(shí)期503期間放電(例如由于漏電)，導(dǎo)致寄存器元件410的電壓在充電時(shí)期504的開始達(dá)到低于期望的電平。隨后，寄存器元件410在充電時(shí)期504期間可能不達(dá)到閾值電壓(VQN)，或者可能保持在閾值電壓(Vi3n)之上不足夠的持續(xù)時(shí)間，從而產(chǎn)生顯示假象。
[0062]例如，參考圖4A和4B，在顯示更新時(shí)期期間對(duì)寄存器元件410_1充電來更新顯示線i。隨后，寄存器元件410-1的輸出412-1可以用于對(duì)寄存器元件410-2預(yù)充電。在更新顯示線i后，顯示更新可被暫停，并且可以在諸如長水平消隱時(shí)期的非顯示更新時(shí)期期間執(zhí)行輸入感測。在非顯示更新時(shí)期期間，如圖5所示，電荷可能從寄存器元件410-2泄漏，導(dǎo)致跨寄存器元件410-2的電壓降低。作為結(jié)果，一旦顯示更新在非顯示更新時(shí)期后恢復(fù)，寄存器元件410-2上的電荷可能處于低于期望的電平。因此，當(dāng)在下一個(gè)顯示更新時(shí)期期間更新顯示線i+Ι和/或顯示線i+Ι之后的一個(gè)或多個(gè)另外的顯示線(例如顯示線i+2)時(shí)，可能產(chǎn)生假象。因此，為了在非顯示更新時(shí)期(例如非顯示更新時(shí)期503)之后恢復(fù)顯示更新時(shí)，將寄存器元件410預(yù)充電到期望電平，一個(gè)或多個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411可以包括在顯示裝置內(nèi)，以下將結(jié)合圖6-8更詳細(xì)地描述。
[0063]當(dāng)恢復(fù)顯示更新時(shí)減少顯示假象
圖6例示依照本發(fā)明實(shí)施例的、布置在圖1的顯示裝置160中的寄存器元件410之間的非活動(dòng)寄存器元件411的局部示意圖。如所示，非活動(dòng)寄存器元件411-N的輸出412(例如輸出412-3)可以耦合到與將要在非顯示更新時(shí)期后被更新的下一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410 (例如與顯示線i+Ι關(guān)聯(lián)的寄存器元件410-2)。然而，非活動(dòng)寄存器元件411的輸出不是直接耦合到柵極選擇線或顯示線。非活動(dòng)寄存器元件411-N可以在非顯示更新時(shí)期期間被驅(qū)動(dòng)，導(dǎo)致與下一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410被預(yù)充電。因此，與將要被更新的與下一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410可以在下一顯示更新時(shí)期之前，被預(yù)充電到期望電平，使得寄存器元件410能夠在下一顯示更新時(shí)期期間在適當(dāng)?shù)某掷m(xù)時(shí)間內(nèi)達(dá)到閾值電壓(V0n)o
[0064]在一些實(shí)施例中，單個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411可以被用于在非顯示更新時(shí)期后，對(duì)與將要被更新的下一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410預(yù)充電。在這樣的實(shí)施例中，非活動(dòng)寄存器元件411可以耦合到與在非顯示更新時(shí)期前被更新的前一顯示線(例如線i)關(guān)聯(lián)的寄存器元件410-1的輸出412-1，使得寄存器元件410-1能夠?qū)Ψ腔顒?dòng)寄存器元件411預(yù)充電。備選地，非活動(dòng)寄存器元件411可以不耦合到與在非顯示更新時(shí)期前被更新的前一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410-1的輸出412-1。在這樣的實(shí)施例中，非活動(dòng)寄存器元件411可以在非顯示更新時(shí)期期間被驅(qū)動(dòng)，而沒有被寄存器元件410-1預(yù)充電。
[0065]在其他實(shí)施例中，多于一個(gè)的非活動(dòng)寄存器元件411可以被用于對(duì)與將要在非顯示更新時(shí)期后更新的下一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410預(yù)充電。例如，如圖6所示，可以使用多個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411 (例如兩個(gè)或更多)，使得一個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411-1對(duì)下一非活動(dòng)寄存器元件411-N預(yù)充電。串聯(lián)的前一非活動(dòng)寄存器411-N的輸出可以隨后耦合到與將要在非顯示更新時(shí)期后更新的下一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410。包括多個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411可以使前一非活動(dòng)寄存器411-N的輸出412-3上的電壓能夠更精確地被確定和/或控制。例如，若寄存器元件410和/或非活動(dòng)寄存器元件411被允許在非顯示更新時(shí)期期間完全放電，在各非活動(dòng)寄存器元件411的輸出412上的電壓到達(dá)適當(dāng)電平之前，可能需要驅(qū)動(dòng)若干非活動(dòng)寄存器元件411。
[0066]此外，一個(gè)或多個(gè)非活動(dòng)顯示元件411中每個(gè)被驅(qū)動(dòng)的時(shí)間段可被增加或減少，使得串聯(lián)的前一非活動(dòng)寄存器元件411-N的輸出412-3達(dá)到適當(dāng)?shù)碾娖?例如大約80%的閾值電壓或更高)以在下一顯示更新時(shí)期內(nèi)對(duì)寄存器元件410-2充分地預(yù)充電。例如，在非顯示更新期間驅(qū)動(dòng)特定非活動(dòng)顯示元件411的時(shí)間段可能比在顯示更新時(shí)期期間驅(qū)動(dòng)寄存器元件410的時(shí)間段更長。
[0067]如上所述，在給定非顯示更新時(shí)期期間里可以驅(qū)動(dòng)任何數(shù)量的非活動(dòng)寄存器元件411。進(jìn)一步地，一個(gè)或多個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411分組可能包括在顯示裝置160內(nèi)用于在單個(gè)顯示幀(例如電容性幀)期間將要被觀察的各非顯示更新時(shí)期。在各種實(shí)施例中，通過對(duì)寄存器元件410和/或非活動(dòng)寄存器元件411之間的“令牌”進(jìn)行計(jì)時(shí)，選擇寄存器元件410和/或非活動(dòng)寄存器元件411。這樣做的話，各寄存器元件410和/或非活動(dòng)寄存器元件411可以耦合到配置成將令牌從一個(gè)寄存器傳遞到下一個(gè)的時(shí)鐘信號(hào)線。
[0068]電容性負(fù)載和/或電阻性負(fù)載可以耦合到非活動(dòng)寄存器元件411的一個(gè)或多個(gè)的輸出412，以便控制需要將非活動(dòng)寄存器411充電到特定電平的時(shí)間(例如控制RC時(shí)間常量)。在一些實(shí)施例中，耦合到非活動(dòng)寄存器元件411的電容性負(fù)載可以與寄存器元件410耦合到的柵極選擇線的電容大體上相似。因此，非活動(dòng)寄存器元件411的充電行為可以與寄存器元件410的充電行為大體上相似，使得通過非活動(dòng)寄存器元件411施加到寄存器元件410的預(yù)充電能夠更精確地被預(yù)測和/或控制。
[0069]圖7例示依照本發(fā)明實(shí)施例的、與在非顯示更新時(shí)期后更新的第一顯示線關(guān)聯(lián)的非活動(dòng)寄存器元件411及寄存器元件410的充電波形。如所示，當(dāng)單個(gè)非活動(dòng)寄存器元件411布置在與在非顯示更新時(shí)期703之前更新的前一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410和在非顯示更新時(shí)期703之后更新的第一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410之間，非活動(dòng)寄存器元件411可以在非顯示更新時(shí)期703期間被放電(例如由于漏電)。作為結(jié)果，在下一充電時(shí)期704期間，非活動(dòng)寄存器元件411可以不達(dá)到閾值電壓(V?)。然而，由于非活動(dòng)寄存器元件411沒有耦合到顯示線，顯示假象不會(huì)產(chǎn)生。因此，非活動(dòng)寄存器元件411的放電不會(huì)消極影響顯示裝置160。進(jìn)一步地，如圖7所示，與在非現(xiàn)實(shí)更新時(shí)期703之后更新的第一顯示線關(guān)聯(lián)的寄存器元件410被預(yù)充電到適當(dāng)電平，使得寄存器元件410能夠在下一顯示更新時(shí)期706期間達(dá)到閾值電壓(Vqn)。
[0070]圖8是依照本發(fā)明實(shí)施例的、用于在以輸入裝置100恢復(fù)顯示更新時(shí)減少顯示假象的方法800的流程圖。盡管方法800結(jié)合圖1-