一種計算機硬盤批量測試裝置及測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機配件測試裝置，尤其涉及一種計算機硬盤批量測試裝置及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]電腦硬盤是計算機最主要的存儲設(shè)備，由于其具有存儲功能，所以硬盤需具備應(yīng)對異常掉電而數(shù)據(jù)不會丟失的能力，為了測試硬盤的可靠性，現(xiàn)有技術(shù)中通常將計算機的操作系統(tǒng)安裝于待測硬盤下，之后人工啟動計算機，當計算機重新進入操作系統(tǒng)后，說明待測硬盤數(shù)據(jù)完好，之后斷開計算機電源，令硬盤異常掉電，之后再次啟動計算機，經(jīng)多次測試，直至計算機無法啟動，說明硬盤數(shù)據(jù)丟失，記錄計算機的啟動次數(shù)，作為判斷硬盤應(yīng)對異常掉電能力的依據(jù)。上述測試方式，需人工對每臺計算機進行測試，其存在效率低、成本高、不具自動化性能等缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于提供一種測試效率高、成本低、具備自動化性能的計算機硬盤批量測試裝置及測試方法。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案。
[0005]一種計算機硬盤批量測試裝置，其包括有:多個計算機，每個計算機設(shè)有一地址碼，多個計算機的地址碼不同，所述計算機上設(shè)有待測硬盤，所述計算機的操作系統(tǒng)安裝于該待測硬盤下，所述計算機用于當其上電時啟動操作系統(tǒng)，并在進入操作系統(tǒng)后發(fā)出地址碼；多個繼電器，所述繼電器與計算機一一對應(yīng)，所述繼電器的開關(guān)觸點串接于計算機的電源回路；一主控單元，所述計算機的信號輸出端和繼電器的控制端分別電連接于主控單元，所述主控單元用于接收計算機發(fā)出的的地址碼，記錄與該地址碼所對應(yīng)的計算機的啟動次數(shù)，并控制與該計算機所對應(yīng)的繼電器的開關(guān)觸點先斷開再閉合。
[0006]優(yōu)選地，所述主控單元包括有一路由器、一服務(wù)器及一單片機，其中:多個計算機分別電連接于路由器，所述計算機進入操作系統(tǒng)后發(fā)出的地址碼為IP地址，所述路由器用于接收所述地址碼，并將該地址碼上傳至服務(wù)器；多個繼電器的控制端分別電連接于單片機的輸出端；所述路由器和單片機分別電連接于服務(wù)器，所述服務(wù)器用于接收路由器上傳的地址碼，并通過單片機控制與該地址碼相對應(yīng)的繼電器的開關(guān)觸點先斷開再閉合。
[0007]一種計算機硬盤批量測試方法，其包括有:步驟SI，所述計算機啟動操作系統(tǒng)，所述計算機進入操作系統(tǒng)后發(fā)出地址碼；步驟S2，所述主控單元接收地址碼，記錄與該地址碼所對應(yīng)的計算機的啟動次數(shù)；步驟S3，所述主控單元控制與該計算機所對應(yīng)的繼電器的開關(guān)觸點先斷開再閉合，以令計算機再次上電；重復執(zhí)行步驟SI至步驟S3。
[0008]優(yōu)選地，所述主控單元包括有一路由器、一服務(wù)器及一單片機，其中:多個計算機分別電連接于路由器，所述計算機進入操作系統(tǒng)后發(fā)出的地址碼為IP地址，所述路由器用于接收所述地址碼，并將該地址碼上傳至服務(wù)器；多個繼電器的控制端分別電連接于單片機的輸出端；所述路由器和單片機分別電連接于服務(wù)器，所述服務(wù)器用于接收路由器上傳的地址碼，并通過單片機控制與該地址碼相對應(yīng)的繼電器的開關(guān)觸點先斷開再閉合。
[0009]優(yōu)選地，所述單片機用于控制繼電器的開關(guān)觸點斷開，并在斷開狀態(tài)下持續(xù)預設(shè)時間，之后閉合，以令計算機重新上電啟動。
[0010]本發(fā)明公開的計算機硬盤批量測試裝置中，當計算機上電啟動并進入操作系統(tǒng)后發(fā)出地址碼，所述主控單元接收地址碼，記錄與該地址碼所對應(yīng)的計算機的啟動次數(shù)，之后該主控單元控制與該計算機所對應(yīng)的繼電器的開關(guān)觸點先斷開再閉合，以令計算機再次上電，當其中的某個計算機無法啟動時，說明對應(yīng)的待測硬盤數(shù)據(jù)丟失，記錄該計算機的啟動次數(shù)，作為判斷該待測硬盤應(yīng)對異常掉電能力的依據(jù)，上述測試裝置中，在計算機、繼電器和主控單元的共同作用下，能夠?qū)γ颗_計算機進行自動測試，不僅提高了測試效率，還降低了人工成本，此外，本發(fā)明采用計算機與繼電器一一對應(yīng)的方式對硬盤進行掉電測試，所以每個硬盤的測試過程是獨立的，特別在測試前或測試中能方便調(diào)整待測硬盤的數(shù)量，使得本發(fā)明在應(yīng)用過程中更具靈活性。
【附圖說明】
[0011]圖1為計算機硬盤批量測試裝置的電路框圖。
[0012]圖2為計算機硬盤批量測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作更加詳細的描述。
[0014]本發(fā)明公開了一種計算機硬盤批量測試裝置，如圖1所示，其包括有多個計算機1、多個繼電器2及一主控單元3，其中:
[0015]每個計算機I設(shè)有一地址碼，多個計算機I的地址碼不同，所述計算機I上設(shè)有待測硬盤，所述計算機I的操作系統(tǒng)安裝于該待測硬盤下，所述計算機I用于當其上電時啟動操作系統(tǒng)，并在進入操作系統(tǒng)后發(fā)出地址碼；
[0016]所述繼電器2與計算機I 一一對應(yīng)，所述繼電器2的開關(guān)觸點串接于計算機I的電源回路；
[0017]所述計算機I的信號輸出端和繼電器2的控制端分別電連接于主控單元3，所述主控單元3用于接收計算機I發(fā)出的的地址碼，記錄與該地址碼所對應(yīng)的計算機I的啟動次數(shù)，并控制與該計算機I所對應(yīng)的繼電器2的開關(guān)觸點先斷開再閉合。
[0018]上述計算機硬盤批量測試裝置中，當計算機I上電啟動并進入操作系統(tǒng)后發(fā)出地址碼，所述主控單元3接收地址碼，記錄與該地址碼所對應(yīng)的計算機I的啟動次數(shù)，之后該主控單元3控制與該計算機I所對應(yīng)的繼電器2的開關(guān)觸點先斷開再閉合，以令計算機I再次上電，當其中的某個計算機I無法啟動時，說明對應(yīng)的待測硬盤數(shù)據(jù)丟失，記錄該計算機I的啟動次數(shù)，作為判斷該待測硬盤應(yīng)對異常掉電能力的依據(jù)，上述測試裝置中，在計算機1、繼電器2和主控單元3的共同作用下，能夠?qū)γ颗_計算機進行自動測試，不僅提高了測試效率，還降低了人工成本，此外，本發(fā)明采用計算機I與繼電器2 —一對應(yīng)的方式對硬盤進行掉電測試，所以每個硬盤的測試過程是獨立的，特別在測試前或測試中能方便調(diào)整待測硬盤的數(shù)量，使得本發(fā)明在應(yīng)用過程中更具靈活性。
[0019]關(guān)于主控單元3的具體結(jié)構(gòu)，所述主控單元3包括有一路由器30、一服