一種數(shù)據(jù)處理方法和電子設備的制造方法
【技術領域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及電子技術領域，尤其涉及一種數(shù)據(jù)處理方法和電子設備。
【背景技術】
[0002]三維掃描是集光、機、電和計算機技術于一體的高新技術，主要用于對物體空間外形和結構及色彩進行掃描，以獲得物體表面的空間坐標。三維掃描技術被廣泛應用于工業(yè)、醫(yī)療、教育、文物保護等諸多方面。三維掃描的重要意義在于能夠將實物的立體信息轉換為計算機能直接處理的數(shù)字信號，為實物數(shù)字化提供了相當方便快捷的手段。
[0003]光學三維掃描系統(tǒng)是將等間隔等寬度多根條紋光投射到物體表面，攝像頭同步采集圖像，然后對圖像進行計算，并利用相位穩(wěn)步極線實現(xiàn)兩幅圖像上的三維空間坐標(X、Y、Z)，從而實現(xiàn)對物體表面三維輪廓的測量。
[0004]但是在本申請的發(fā)明人在實現(xiàn)本申請技術方案的過程中，至少發(fā)現(xiàn)上述現(xiàn)有技術存在如下技術問題:
[0005]當物體的深度越大時，所述攝像頭上采集的圖片上與條紋光對應條紋圖像變形量越大，在對所述圖片上變形量較大的條紋圖像進行識別時，容易產(chǎn)生錯位識別或者錯誤識別，從而影響物體的立體圖像的深度恢復。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本申請?zhí)峁┮环N數(shù)據(jù)處理方法和電子設備，解決了現(xiàn)有技術中在獲得投射到深度較大的物體的條紋光的圖片時，對所述圖片上與條紋光對應條紋圖像進行識別容易產(chǎn)生錯位識別或者錯誤識別，從而影響物體的立體圖像的深度恢復的技術問題，達到便于識別所述圖片上的條紋光順序和位置信息，提高所述物體的立體圖像的深度恢復的技術效果。
[0007]本申請?zhí)峁┮环N數(shù)據(jù)處理方法，所述方法包括:
[0008]在條紋結構光投射到一待測物體時，獲取包含所述待測物體的第一圖像，其中，所述條紋結構光包括多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光，所述至少兩個基準條紋光中每個基準條紋光的寬度與所述多根初級條紋光中每根初級條紋光的寬度不同；
[0009]檢測所述條紋結構光在所述第一圖像上對應的條紋圖像信息；
[0010]基于所述條紋圖像信息，獲得所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光的條紋順序以及條紋位置信息；
[0011]根據(jù)所述條紋順序和所述條紋位置信息，對所述待測物體的立體圖像進行深度恢復。
[0012]優(yōu)選地，所述基于所述條紋圖像信息，獲得所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光的條紋順序以及條紋位置信息，具體包括:
[0013]從所述條紋圖像信息中識別出與所述多根初級條紋光對應的初級條紋圖像信息和與所述至少兩根基準條紋光對應的基準條紋圖像信息；
[0014]根據(jù)所述基準條紋圖像信息和所述初級條紋信息，確定所述多根初級條紋光的條紋順序，并獲取所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光的條紋位置信息。
[0015]優(yōu)選地，所述獲取所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光的條紋位置信息，具體為:
[0016]獲取所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光在所述第一圖像上的每個點的坐標數(shù)值。
[0017]優(yōu)選地，所述根據(jù)所述條紋順序和所述條紋位置信息，對所述待測物體的立體圖像的深度恢復，具體為:
[0018]根據(jù)所述條紋順序和所述坐標數(shù)值，對所述待測物體的立體圖像的深度恢復。
[0019]優(yōu)選地，在所述至少兩根基準條紋光包括M根第一基準條紋光和N根第二基準條紋光，所述第一基準條紋光和所述第二基準條紋光的寬度不同，所述M和N為大于等于I的整數(shù)時，所述從所述條紋圖像信息中識別出與所述多根初級條紋光對應的初級條紋圖像信息和與所述至少兩根基準條紋光對應的基準條紋圖像信息，具體為:
[0020]從所述條紋圖像信息中識別出與所述多根初級條紋光對應的初級條紋圖像信息、與所述M根第一基準條紋光對應的第一基準條紋圖像信息和與所述N根第二基準條紋光對應的第二基準條紋圖像信息。
[0021]優(yōu)選地，所述根據(jù)所述基準條紋圖像信息確定所述多根初級條紋光的條紋順序，具體為:
[0022]根據(jù)所述第一基準條紋圖像信息確定所述第二基準條紋光的順序；
[0023]根據(jù)所述第二基準條紋圖像信息確定所述初級條紋光的順序。
[0024]本申請還提供一種電子設備，所述電子設備包括:
[0025]圖像采集單元，用于在條紋結構光投射到一待測物體時，獲取包含所述待測物體的第一圖像，其中，所述條紋結構光包括多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光，所述至少兩個基準條紋光中每個基準條紋光的寬度與所述多根初級條紋光中每根初級條紋光的寬度不同；
[0026]檢測單元，用于檢測所述條紋結構光在所述第一圖像上對應的條紋圖像信息；
[0027]獲取單元，用于基于所述條紋圖像信息，獲得所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光的條紋順序以及條紋位置信息；
[0028]執(zhí)行單元，用于根據(jù)所述條紋順序和所述條紋位置信息，對所述待測物體的立體圖像進行深度恢復。
[0029]優(yōu)選地，所述基準條紋光的寬度大于所述初級條紋光的寬度。
[0030]優(yōu)選地，在所述至少兩根基準條紋光的數(shù)目大于3時，所述至少兩根基準條紋光中的每相鄰的兩個基準條紋光之間的初級條紋光的數(shù)目相同。
[0031]優(yōu)選地，所述至少兩根基準條紋光中的相鄰的兩根基準條紋光之間的間距大于等于第一預設值。
[0032]優(yōu)選地，所述獲取單元具體用于:從所述條紋圖像信息中識別出與所述多根初級條紋光對應的初級條紋圖像信息和與所述至少兩根基準條紋光對應的基準條紋圖像信息；根據(jù)所述基準條紋圖像信息確定所述多根初級條紋的條紋順序，并獲取所述條紋位置信肩、O
[0033]優(yōu)選地，所述獲取單元具體用于獲取所述多根初級條紋光和至少兩根基準條紋光在所述第一圖像上的每個點的坐標數(shù)值。
[0034]優(yōu)選地，所述執(zhí)行單元具體用于根據(jù)所述條紋順序和所述坐標數(shù)值，對所述待測物體的立體圖像的深度恢復。
[0035]優(yōu)選地，所述至少兩根基準條紋光包括M根第一基準條紋光和N根第二基準條紋光，所述第一基準條紋光和所述第二基準條紋光的寬度不同，其中，所述M大于等于I，所述N大于等于2。
[0036]優(yōu)選地，所述獲取單元具體用于:從所述條紋圖像信息中識別出與所述多根初級條紋光對應的初級條紋圖像信息、與所述M根第一基準條紋光對應的第一基準條紋圖像信息和與所述N根第二基準條紋光對應的第二基準條紋圖像信息。
[0037]優(yōu)選地，所述獲取單元還具體用于:根據(jù)所述基準條紋圖像信息確定所述多根初級條紋光的條紋順序。
[0038]優(yōu)選地，所述第一基準條紋光和所述第二基準條紋光的寬度大于所述初級條紋光的寬度。
[0039]優(yōu)選地，所述第一基準條紋光的寬度大于所述第二基準條紋光的寬度。
[0040]優(yōu)選地，所述相鄰的兩根第二級基準條紋光之間的間距大于等于第一預設值。
[0041]本申請有益效果如下:
[0042]上述數(shù)據(jù)處理方法通過將條紋機構光設置為包括寬度不同的初級條紋光和基準條紋光，使得在獲得條紋機構光投影到待測物體上的第一圖像后，尤其是在條紋結構光投射到深度較大的物體時，所述條紋結構光的變形量較大，在識別所述條紋圖像時，能夠很容易地識別出與初級條紋光寬度不同的基準條紋光，再根據(jù)基準條紋光確定所述初級條紋光的條紋順序，從而避免對第一圖像上的條紋圖像識別時產(chǎn)生錯位識別或者誤識別，解決了現(xiàn)有技術中在獲得投射到深度較大的物體的條紋光的圖片時，對所述圖片上的條紋光識別容易產(chǎn)生錯位識別或者錯誤識別，從而影響物體的立體圖像的深度恢復的技術問題，達到便于識別所述圖片上的條紋光順序和位置信息，提高所述物體的立體圖像的深度恢復的技術效果。
【附圖說明】
[0043]圖1為本申請第一較佳實施方式數(shù)據(jù)處理方法的流程圖；