一種插錯(cuò)裝置及方法、糾錯(cuò)碼電路的驗(yàn)證設(shè)備和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種插錯(cuò)裝置及方法、糾錯(cuò)碼電路的驗(yàn)證設(shè) 備和方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著便攜式多媒體技術(shù)的發(fā)展，閃存廣泛應(yīng)用于各種消費(fèi)類電子產(chǎn)品中。但由于 在閃存的硬件生產(chǎn)和使用過(guò)程中容易產(chǎn)生壞塊，或者閃存的寫(xiě)入和讀取數(shù)據(jù)過(guò)程中存在外 部干擾，這些原因都可能造成閃存內(nèi)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)出錯(cuò)。通常糾錯(cuò)碼（Error Correcting Code, ECC)電路檢測(cè)閃存內(nèi)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤，其能夠?qū)z測(cè)到的錯(cuò)誤進(jìn)行修復(fù)，有效保證數(shù)據(jù)的 穩(wěn)定性。
[0003] 現(xiàn)有的一種ECC電路的驗(yàn)證設(shè)備如圖1所示。圖1中，待測(cè)系統(tǒng)（Design Under Test英文全稱，DUT)即為需要驗(yàn)證的ECC電路，驗(yàn)證系統(tǒng)（ENVironment，ENV)就是對(duì)ECC 電路進(jìn)行驗(yàn)證的各個(gè)組件的總和。
[0004] 在圖1所示的驗(yàn)證設(shè)備中，隨機(jī)數(shù)發(fā)生器用于產(chǎn)生指定數(shù)目的隨機(jī)數(shù)。校驗(yàn)數(shù)據(jù) 獲取單元用于在打開(kāi)ECC功能的模式下，將從隨機(jī)數(shù)發(fā)生器收到的隨機(jī)數(shù)寫(xiě)入到ECC電路 中；在關(guān)閉ECC功能的模式下，讀出ECC電路生成的校驗(yàn)碼，并將讀出的校驗(yàn)碼送入測(cè)試單 元。測(cè)試數(shù)據(jù)獲取單元用于在從隨機(jī)數(shù)發(fā)生器收到的隨機(jī)數(shù)中，隨機(jī)選擇若干比特（比特?cái)?shù) 應(yīng)在ECC電路可糾錯(cuò)的范圍內(nèi)）進(jìn)行反轉(zhuǎn)后形成測(cè)試數(shù)據(jù)后送入測(cè)試單元。
[0005] 測(cè)試單元用于在關(guān)閉ECC功能的模式下，將從測(cè)試數(shù)據(jù)獲取單元處接收的測(cè)試數(shù) 據(jù)和從校驗(yàn)數(shù)據(jù)獲取單元處接收的上述校驗(yàn)碼一同寫(xiě)入ECC電路中；在打開(kāi)ECC功能模式 下，從ECC電路中讀取經(jīng)過(guò)糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)。由于測(cè)試單元是在關(guān)閉ECC功能的模式下寫(xiě)入， 寫(xiě)入的上述數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)到ECC電路的存儲(chǔ)器模型內(nèi)；在關(guān)閉ECC功能的模式下對(duì)存儲(chǔ)器模 型里讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼和糾錯(cuò)。如果寫(xiě)入的測(cè)試數(shù)據(jù)有錯(cuò)誤，則讀出的數(shù)據(jù)就為經(jīng)過(guò)ECC 路糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)。驗(yàn)證單元，用于在測(cè)試單元讀取測(cè)試數(shù)據(jù)和校驗(yàn)數(shù)據(jù)過(guò)程中檢測(cè)ECC電 路是否報(bào)錯(cuò)，如果報(bào)錯(cuò)，則說(shuō)明電路糾錯(cuò)功能正常；如果沒(méi)有報(bào)錯(cuò)，則說(shuō)明電路功能異常。
[0006] 在圖1所示的驗(yàn)證設(shè)備中，測(cè)試數(shù)據(jù)獲取單元在從隨機(jī)數(shù)發(fā)生器收到的隨機(jī)數(shù) 中，隨機(jī)選擇若干比特進(jìn)行反轉(zhuǎn)后形成測(cè)試數(shù)據(jù)后送入測(cè)試單元，插錯(cuò)方式單一，不靈活。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明實(shí)施例提供一種插錯(cuò)裝置及方法、糾錯(cuò)碼電路的驗(yàn)證設(shè)備和方法，用以解 決現(xiàn)有的糾錯(cuò)碼電路的驗(yàn)證設(shè)備中，插錯(cuò)方式單一，不靈活的技術(shù)問(wèn)題。
[0008] 第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種插錯(cuò)裝置，該裝置包括：
[0009] 插錯(cuò)模塊，用于在插錯(cuò)控制器的控制下對(duì)接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理，并輸出插 錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)；
[0010] 插錯(cuò)控制器，內(nèi)部預(yù)先配置有多種插錯(cuò)處理方式，用于按照選定的所述插錯(cuò)處理 方式控制所述插錯(cuò)模塊對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理。 toon] 本方案中，由于插錯(cuò)模塊在插錯(cuò)控制器的控制下進(jìn)行插錯(cuò)處理，插錯(cuò)方法更靈活， 由于插錯(cuò)控制器內(nèi)部預(yù)先配置有多種插錯(cuò)處理方式，因此，插錯(cuò)方式多樣。
[0012] 較佳地，所述插錯(cuò)處理方式包括：
[0013] 對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)中包括數(shù)據(jù)位、校驗(yàn)位和用戶數(shù)據(jù)位在內(nèi)的任意一 項(xiàng)或多項(xiàng)進(jìn)行插錯(cuò)處理的方式。
[0014] 采用本方案，可實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)位、校驗(yàn)位和用戶數(shù)據(jù)位的任意一項(xiàng)或多項(xiàng)進(jìn)行插錯(cuò) 處理，處理方法更加靈活多樣。
[0015] 較佳地，所述插錯(cuò)處理方式還包括：
[0016] 對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)中指定位置的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理的方式；
[0017] 對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行不大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限的任意 插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處理的方式；
[0018] 對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限的任意插 錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處理的方式；以及
[0019] 對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行遍歷插錯(cuò)處理的方式；
[0020] 其中，所述特定糾錯(cuò)裝置為接收所述插錯(cuò)模塊輸出的插錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)，并對(duì)接 收的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)處理的裝置。
[0021] 采用本方案，可實(shí)現(xiàn)指定位置的插錯(cuò)處理、不大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限 的任意插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處理、大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限的任意插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處 理和遍歷插錯(cuò)處理，插錯(cuò)處理方式靈活多樣。
[0022] 較佳地，所述插錯(cuò)處理方式還包括：
[0023] 對(duì)所述插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)的指定扇區(qū)和/或指定字節(jié)進(jìn)行插錯(cuò)處理的方式。
[0024] 采用本方案，可指定插錯(cuò)的扇區(qū)和/或字節(jié)。
[0025] 較佳地，所述裝置還包括：軟件配置控制器，用于通過(guò)軟件配置插錯(cuò)控制器的插錯(cuò) 處理方式。
[0026] 采用本方案，可實(shí)現(xiàn)通過(guò)軟件方式配置插錯(cuò)控制器的插錯(cuò)處理方式。
[0027] 第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種糾錯(cuò)碼電路的驗(yàn)證設(shè)備，包括隨機(jī)激勵(lì)發(fā) 生器、數(shù)據(jù)比較器，該設(shè)備還包括本發(fā)明實(shí)施例第一方面提供的任意一種插錯(cuò)裝置，其中，
[0028] 隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器，用于向糾錯(cuò)碼電路和數(shù)據(jù)比較器發(fā)送隨機(jī)數(shù)；
[0029] 插錯(cuò)裝置，用于接收由糾錯(cuò)碼電路輸出的編碼后的數(shù)據(jù)，并對(duì)所述編碼后的數(shù)據(jù) 進(jìn)行插錯(cuò)處理，將插錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)反饋給糾錯(cuò)碼電路進(jìn)行糾錯(cuò)處理，所述編碼后的數(shù)據(jù) 是糾錯(cuò)碼電路對(duì)從所述隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器處接收的所述隨機(jī)數(shù)進(jìn)行編碼后的得到的數(shù)據(jù)；
[0030] 數(shù)據(jù)比較器，用于從糾錯(cuò)碼電路處接收糾錯(cuò)碼電路進(jìn)行所述糾錯(cuò)處理后輸出的糾 錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)，并將從隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器處接收的所述隨機(jī)數(shù)與從糾錯(cuò)碼電路接收的所述 糾錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定出針對(duì)糾錯(cuò)碼電路的第一驗(yàn)證結(jié)果。
[0031] 采用本方案,可在對(duì)ECC電路的驗(yàn)證過(guò)程中，采用靈活多樣的插錯(cuò)方式對(duì)ECC電路 數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理，實(shí)現(xiàn)對(duì)ECC電路驗(yàn)證的全面性。
[0032] 較佳地，所述設(shè)備還包括：軟件糾錯(cuò)器和軟件糾錯(cuò)結(jié)果比較器，其中，
[0033] 軟件糾錯(cuò)器，用于獲取插錯(cuò)裝置中的插錯(cuò)模塊向糾錯(cuò)碼電路輸出的插錯(cuò)處理后的 數(shù)據(jù)，并對(duì)獲取的插錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)，將糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)輸出給軟件糾錯(cuò)結(jié)果比較 器，其中，軟件糾錯(cuò)器是用軟件方法實(shí)現(xiàn)所述糾錯(cuò)碼電路的糾錯(cuò)功能的器件；
[0034] 軟件糾錯(cuò)結(jié)果比較器，用于接收糾錯(cuò)碼電路輸出的糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)，并將從糾錯(cuò)碼 電路接收的糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)與軟件糾錯(cuò)器輸出的糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定 出針對(duì)糾錯(cuò)碼電路的第二驗(yàn)證結(jié)果。
[0035] 采用本方案，通過(guò)軟件糾錯(cuò)器模擬ECC電路的糾錯(cuò)處理，通過(guò)軟件糾錯(cuò)結(jié)果比較 器確定出針對(duì)ECC電路的第二驗(yàn)證結(jié)果，供驗(yàn)證人員結(jié)合第一驗(yàn)證結(jié)果分析對(duì)ECC電路的 驗(yàn)證情況，驗(yàn)證結(jié)果更詳細(xì)，使得驗(yàn)證人員的分析更準(zhǔn)確。
[0036] 較佳地，所述設(shè)備還包括：軟件配置控制器，用于配置所述隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器向糾錯(cuò) 碼電路和數(shù)據(jù)比較器發(fā)送隨機(jī)數(shù)的數(shù)據(jù)量。
[0037] 采用本方案，可實(shí)現(xiàn)隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器發(fā)送數(shù)據(jù)量隨機(jī)的隨機(jī)數(shù)，對(duì)ECC電路的驗(yàn) 證更充分。
[0038] 第三方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種插錯(cuò)方法，該方法包括：
[0039] 插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收數(shù)據(jù)；
[0040] 插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊在插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)控制器的控制下，按照插錯(cuò)控制器從內(nèi)部 預(yù)先配置的多種插錯(cuò)處理方式中選定的所述插錯(cuò)處理方式，對(duì)接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處 理，并輸出插錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)。
[0041] 本方案中，由于插錯(cuò)模塊在插錯(cuò)控制器的控制下進(jìn)行插錯(cuò)處理，插錯(cuò)方法更靈活， 由于插錯(cuò)控制器內(nèi)部預(yù)先配置有多種插錯(cuò)處理方式，因此，插錯(cuò)方式多樣。
[0042] 較佳地，所述插錯(cuò)處理方式包括：
[0043] 對(duì)插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)中包括數(shù)據(jù)位、校驗(yàn)位和用戶數(shù)據(jù)位在內(nèi)的 任意一項(xiàng)或多項(xiàng)進(jìn)行插錯(cuò)處理的方式。
[0044] 采用本方案，可實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)位、校驗(yàn)位和用戶數(shù)據(jù)位的任意一項(xiàng)或多項(xiàng)進(jìn)行插錯(cuò) 處理，處理方法更加靈活多樣。
[0045] 較佳地，所述插錯(cuò)處理方式還包括：
[0046] 對(duì)插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)中指定位置的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理的方式；
[0047] 對(duì)插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行不大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限 的任意插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處理的方式；
[0048] 對(duì)插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限的 任意插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處理的方式；以及
[0049] 對(duì)插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行遍歷插錯(cuò)處理的方式；
[0050] 其中，所述特定糾錯(cuò)裝置為接收插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊輸出的插錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)， 并對(duì)接收的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)處理的裝置。
[0051] 采用本方案，可實(shí)現(xiàn)指定位置的插錯(cuò)處理、不大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限 的任意插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處理、大于特定糾錯(cuò)裝置的糾錯(cuò)能力上限的任意插錯(cuò)數(shù)量的插錯(cuò)處 理和遍歷插錯(cuò)處理，插錯(cuò)處理方式靈活多樣。
[0052] 較佳地，所述插錯(cuò)處理方式還包括：
[0053] 對(duì)插錯(cuò)裝置的插錯(cuò)模塊接收到的數(shù)據(jù)的指定扇區(qū)和/或指定字節(jié)進(jìn)行插錯(cuò)處理 的方式。
[0054] 采用本方案，可指定插錯(cuò)的扇區(qū)和/或字節(jié)。
[0055] 第四方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種糾錯(cuò)碼電路的驗(yàn)證方法，包括：
[0056] 隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器向糾錯(cuò)碼電路和數(shù)據(jù)比較器發(fā)送隨機(jī)數(shù)；
[0057] 插錯(cuò)裝置接收由糾錯(cuò)碼電路輸出的編碼后的數(shù)據(jù)，并對(duì)所述編碼后的數(shù)據(jù)進(jìn)行插 錯(cuò)處理，將插錯(cuò)處理后的數(shù)據(jù)反饋給糾錯(cuò)碼電路進(jìn)行糾錯(cuò)處理，其中，所述編碼后的數(shù)據(jù)是 糾錯(cuò)碼電路對(duì)從所述隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器處接收的所述隨機(jī)數(shù)進(jìn)行編碼后的得到的數(shù)據(jù)；
[0058] 數(shù)據(jù)比較器從糾錯(cuò)碼電路處接收糾錯(cuò)碼電路進(jìn)行所述糾錯(cuò)處理后輸出的糾錯(cuò)處 理后的數(shù)據(jù)，并將從隨機(jī)激勵(lì)發(fā)生器處接收的所述隨機(jī)數(shù)與從糾錯(cuò)碼電路接收的所述糾錯(cuò) 處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定出針對(duì)糾錯(cuò)碼電路的第一驗(yàn)證結(jié)果；
[0059] 其中，插錯(cuò)裝置采用本發(fā)明實(shí)施例第三方面提供的任一種插錯(cuò)處理方法對(duì)從糾錯(cuò) 碼電路處接收的編碼后的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理。
[0060] 采用本方案,可在對(duì)ECC電路的驗(yàn)證過(guò)程中，采用靈活多樣的插錯(cuò)方式對(duì)ECC電路 數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)進(jìn)行插錯(cuò)處理，實(shí)現(xiàn)對(duì)ECC電路驗(yàn)證的全面性。
[0061] 較佳地，在插錯(cuò)裝置對(duì)從糾錯(cuò)碼電路