專利名稱：鍵盤測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種鍵盤狀態(tài)的鍵盤測試系統(tǒng)，尤其涉及一種具自動測試電子設(shè)備鍵盤功能及記錄、儲存測試結(jié)果的鍵盤測試系統(tǒng)。
鍵盤廣泛使用于各種電子設(shè)備中，以作為電子設(shè)備的控制命令或數(shù)據(jù)輸入的周邊設(shè)備，例如常見的個人計算機、工業(yè)控制器、收銀機……等等具信息輸入功能的電子設(shè)備，因此，鍵盤的品質(zhì)優(yōu)劣及其功能是否可正常操作，將直接影響該電子設(shè)備的操作穩(wěn)定性，并且，由于鍵盤中最為直接的操作單元件為按鍵，故按鍵的測試對于鍵盤而言，實為重要之一環(huán)。
然而，傳統(tǒng)上，一般業(yè)界對于上述鍵盤中的微處理器、LED顯示燈及按鍵功能之測試，則是以人工方式來測試，即以人工方式逐一測試該鍵盤中的微處理器、LED顯示燈及每一個按鍵，不但費時費工，且其測試效率較低；再者，諸如以人工逐一壓按按鍵的測試方式，由于每一按鍵壓的力道大小不一，或因按鍵鍵帽表面壓受力極易產(chǎn)生誤判的情況，將使該鍵盤的測試品質(zhì)更加惡壞，況且，在測試更多種不同型態(tài)鍵盤的狀態(tài)下，諸如機械接點式鍵盤及電容薄膜式鍵盤，其兩者壓按壓力間明顯有差距，以現(xiàn)有技術(shù)之人工一逐一壓按測試，將使測試者因指尖壓按力道需隨時調(diào)節(jié)變動而倍感艱辛，同時，在測試過程中，亦極易因壓力的變化過大，而使誤判的機率大幅增加，嚴重影響鍵盤產(chǎn)品的品質(zhì)管制，實乃目前業(yè)界所極待解決的主要課題。
本發(fā)明的主要目的在于提供一種鍵盤測試系統(tǒng)，它能以逐一自動測試鍵盤的微處理器、按鍵壓按及燈號顯示功能，節(jié)省鍵盤測試的人力及工時，進而提升鍵盤的測試效率。
本發(fā)明的再一目的在于提供一種鍵盤測試系統(tǒng)，它能使該測試壓按鍵盤的輸出壓按力量一致，由此可以降低因各按鍵壓按測試的力道而引起的誤判機率，以提高鍵盤的測試品質(zhì)。
本發(fā)明的又一目的在于提供一種鍵盤測試系統(tǒng)，它能使該測試壓按鍵盤的力量可經(jīng)由元件接觸或氣嘴氣體噴出的方式加以精確調(diào)整控制，以符合不同壓按力道的鍵盤測試。
本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的一種鍵盤測試系統(tǒng)，用以作電子設(shè)備的鍵盤功能測試，其特點是包括一測試裝置，其具有預(yù)設(shè)鍵盤測試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測試參數(shù)、比對判讀測試結(jié)果、錯誤警示及儲存測式數(shù)據(jù)之功能，并與上述鍵盤作電氣連按，以接收該待測鍵盤的微處理器信號及每一按鍵的壓按信號加以測試比對；一燈號感測器，用以測試上述待測鍵盤的LED顯示燈號顯示功能，并將測試結(jié)果送至上述測試裝置判讀；一按鍵按測試機構(gòu)，以接觸方式壓按測試待測鍵盤中的按鍵壓按功能，并將測試結(jié)果送入測試裝置；一橫軸移位驅(qū)動機構(gòu)，其受測試裝置控制，以驅(qū)動該按鍵測試機構(gòu)作橫軸位移，以使該按鍵壓按測試機構(gòu)作橫軸位移，從而使上述待測鍵盤的每一按鍵均可作壓按測試；一警示裝置，其受測試裝置的驅(qū)動，在該待測鍵盤的處理器、LED顯示燈號測試及按鍵壓按測試結(jié)果有異常、故障狀態(tài)下，發(fā)出警示信號。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該測試裝置為PC個人計算機及PLC可編程控制器的復(fù)合結(jié)構(gòu)所組成。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該燈號感測器是由若干光感測元件構(gòu)成。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該按鍵壓按測試機構(gòu)包括一氣動元件組及末端元件組。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該氣動元件組由若干氣壓缸所構(gòu)成。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該末端元件組為若干接觸元件。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該末端元件組為若干氣嘴，以氣體噴出方式來壓按該鍵盤。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該測試裝置中儲存記錄一測試控制流程信息。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該測試控制流程信息，其鍵盤測試步驟包括a.測試鍵盤微處理器功能；b.判別鍵盤微處理器功能是否正常；c.測試鍵盤LED顯示燈顯示功能；d.判別鍵盤LED顯示燈功能是否正常；e.測試鍵盤的按鍵壓按功能；f.橫軸移動逐一測試鍵盤上每一按鍵的壓按功能；g.判別鍵盤上每一按鍵的壓按功能是否正常；h.儲存及記錄鍵盤測試結(jié)果。
在上述的鍵盤測試系統(tǒng)中，其中，所述的該測試控制流程信息，在測試結(jié)果舁常、故障時，它包含一警示流程，其步驟為a.發(fā)出警示信號；b.記錄及儲存異常、故障的測試結(jié)果。
本發(fā)明由于采用了上述的技術(shù)方案，因此，當由該測試裝置在進行各測試步驟中的其中一步驟發(fā)生檢測錯誤或故障時，能驅(qū)動一警示裝置發(fā)出警示信號或燈號，并且該檢測錯誤的信號號或測試結(jié)果，則由測試裝置記錄儲存，以自動測試鍵盤各項功能及記錄其測試結(jié)果。
通過以下對本發(fā)明鍵盤測試系統(tǒng)的一實施例結(jié)合其附圖及其實際操作的詳細描述，可以進一步理解本發(fā)明的目的、具體結(jié)構(gòu)特征和優(yōu)點。其中，附圖為

圖1是依據(jù)本發(fā)明提出的鍵盤測系統(tǒng)的系統(tǒng)方塊圖；圖2是依據(jù)本發(fā)明提出的鍵盤測系統(tǒng)的測試流程圖；首先請參見圖1所示，這是本發(fā)明鍵盤測試系統(tǒng)100的系統(tǒng)方塊圖，其中，該鍵盤測試系統(tǒng)100包括一測試裝置10，其型態(tài)不拘，在本發(fā)明中是列以PC個人計算機及PLC可編程控制器復(fù)合的型態(tài)所構(gòu)成的，是具有預(yù)設(shè)鍵盤測試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測試參數(shù)、比對判讀測試結(jié)果、錯誤警示及儲存測試數(shù)據(jù)的功能，且進一步地，并可作鍵盤自動測試控制流程信息的儲存及執(zhí)行，其詳細的控制流程在以下文中會有詳細說明，容后陳明。
一待測鍵盤20，它以電氣連接方式與上述的測試裝置10相連結(jié)，以使待測鍵盤200的微處理器信號及按鍵壓按測試信號，得以連接送至測試裝置10中判讀比對，且以待測鍵盤200中的微處理器測試為優(yōu)先。
一燈號感測器20，它由光感測元件所構(gòu)成，用以測試上述待測鍵盤200上的LED燈號顯示是否正常，并將測試結(jié)果回傳至上述的測試裝置10中。
一按鍵壓按測試機構(gòu)30，它包括一氣動元件組31及末端元件組32所構(gòu)成，該氣動元件組31由若干氣壓缸所組成，受該測試裝置10的驅(qū)動，而使其動作桿作伸縮之運動，該末端元件組32則設(shè)于氣動元件組31中的各氣壓缸的動作桿末端，得以接觸待測鍵盤200的按鍵或不接觸待測鍵盤200的按鍵方式，壓按該待測鍵盤200的按鍵，例如該末端元件組32為若干接觸元件構(gòu)成時，則可通過伸、縮運動來接觸壓按該待測鍵盤200的按鍵；或該末端元件組32為若干噴氣氣嘴構(gòu)成時，則可通過由氣體氣壓噴氣方式，以不接觸待測鍵盤200的方式，由該噴出的氣體壓力控制，使該待測鍵盤200的按鍵作壓按操作的動作。
一橫軸移位驅(qū)動機構(gòu)40，是用以驅(qū)動橫移上述按鍵壓按測試機構(gòu)30，使該末端元件組32得以通過由逐步橫移方式來逐一地按壓操作該待測鍵盤200中的每一按鍵，使該待測鍵盤200的每一個按鍵壓按測試結(jié)果，得以回傳至上述的測試裝置10中作比對判讀，該橫軸移位驅(qū)動機構(gòu)40亦受該測試裝置10的驅(qū)動控制，以配合待測鍵盤200的按鍵布設(shè)位置及鍵距來作同步位移驅(qū)動該按鍵壓按測試機構(gòu)30。
一警示裝置50，由聲音及燈號警示元件構(gòu)成，諸如以蜂鳴器及LED顯示燈構(gòu)成，其中，受上述測試裝置10的驅(qū)動，以在上述待測鍵盤200進行微處理器、LED顯示燈及按鍵壓測試等任一項測試結(jié)果有異狀或故障時，則由該警示裝置50發(fā)出聲音及顯示燈號的警訊，并停止所有測試動作，以使現(xiàn)場監(jiān)控人員得以將該測試故障或不良之待測鍵盤200作適當?shù)奶幚恚⑶覍⒃摐y試錯誤的結(jié)果，同時送入該測試裝置10中來加以儲存、記錄。
請配合參見圖2所示，這是本發(fā)明中待測鍵盤200的測試流程，即是用來驅(qū)動控制上述本發(fā)明的鍵盤測試系統(tǒng)100的步驟，其相對的控制軟件信息則可寫入及儲存于上述測試裝置10中來執(zhí)行，其中，步驟300，是測試鍵盤微處理器功能的步驟，即是測試裝置10以電氣連接方式來檢測該待測鍵盤200中的微處理器功能，再以步驟310判讀微處理測試功能是否正常，此步驟則以測試裝置10中所預(yù)先儲存的待測鍵盤200的微處理器標準信息與實際待測鍵盤200所測得的微處理器信息加以比對，若為正常，繼續(xù)步驟320，即測試鍵盤LED顯示燈的功能，其由上述的燈號感測器20來加以測試該待測鍵盤200中的各LED燈號的顯示功能，并以步驟330來加以判斷該鍵盤LED顯示功能是否正常，若為正常，則再以步驟340進行測試裝置壓按功能，其是以上述按鍵壓按測試機構(gòu)30來進行該待測鍵盤200的各按鍵壓按測試，并再以步驟350進行逐一橫移壓按待測鍵盤200上的每一按鍵，以作所有的按鍵測試，并以步驟360來判讀該待測鍵盤200的按鍵壓按功能是否正常。
上述步驟360的待測鍵盤200的各按鍵壓按測試功能判讀，若其結(jié)果皆為正常，則以步驟370加以儲存、記錄其結(jié)果，即將該測試功能正常的結(jié)果，儲存、記錄在上述之測試裝置10中，并由該測試裝置10本身的顯示裝置(圖未顯示)來顯示告知現(xiàn)場監(jiān)控人員，以對該功能正常的待測鍵盤200作適當之處理，并繼續(xù)下一個待測鍵盤200的功能測試。
在上述步驟310、步驟330及步驟360中對該待測鍵盤200的微處理器、LED顯示燈及每一按鍵壓按測試功能判讀的步驟中，若其中有任一判別步驟為不正常的狀態(tài)，即該鍵盤微處理器、LED顯示燈或每一個按鍵功能的任一者有測試異?；蚬收现疇顟B(tài)，則進行一警示流程，即以步驟380發(fā)出警示信號，其由該測試裝置10驅(qū)動該警示裝置50發(fā)出聲響或燈號顯示，以警示現(xiàn)場監(jiān)控人員對該測試功能異?；蚬收系拇郎y鍵盤作適當?shù)奶幚?，并以步驟390加以記錄、儲存該錯誤的測試結(jié)果及信息，并停止一切的測試動作，直至該測試功能異?；蚬收系拇郎y鍵盤200作脫離上述本發(fā)明的鍵盤測試系統(tǒng)100的動作為止。
綜上所述，上述本發(fā)明所示的鍵盤測試系統(tǒng)100，由其整體技術(shù)所顯現(xiàn)的發(fā)明精神，乃是在于提供一種可自動測試各種電子設(shè)備鍵盤中的微處理、LED顯示燈及每一按鍵功能，并自動將其測試結(jié)果作儲存、記錄，并于測試功能異常時，發(fā)出警訊及記錄其異常及故障之信息，可達到節(jié)省人力、工時之鍵盤測試效果。
權(quán)利要求
1.一種鍵盤測試系統(tǒng)，用以作電子設(shè)備的鍵盤功能測試，其特征在于包括一測試裝置，其具有預(yù)設(shè)鍵盤測試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測試參數(shù)、比對判讀測試結(jié)果、錯誤警示及儲存測試數(shù)據(jù)之功能，并與上述鍵盤作電氣連接，以接收該待測鍵盤的微處理器信號及每一按鍵的壓按信號加以測試比對；一燈號感測器，用以測試上述待測鍵盤的LED顯示燈號顯示功能，并將測試結(jié)果送至上述測試裝置判讀；一按鍵按測試機構(gòu)，以接觸方式壓按測試待測鍵盤中的按鍵壓按功能，并將測試結(jié)果送入測試裝置；一橫軸移位驅(qū)動機構(gòu)，其受測試裝置控制，以驅(qū)動該按鍵測試機構(gòu)作橫軸位移，以使該按鍵壓按測試機構(gòu)作橫軸位移，從而使上述待測鍵盤的每一按鍵均可作壓按測試，以及；一警示裝置，其受測試裝置的驅(qū)動，在該待測鍵盤的處理器、LED顯示燈號測試及按鍵壓按測試結(jié)果有異常、故障狀態(tài)下，發(fā)出警示信號。
2.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測試裝置為PC個人計算機及PLC可編程控制器的復(fù)合結(jié)構(gòu)所組成。
3.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該燈號感測器是由若干光感測元件構(gòu)成。
4.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該按鍵壓按測試機構(gòu)包括一氣動元件組及末端元件組。
5.如權(quán)利要求4所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該氣動元件組由若干氣壓缸所構(gòu)成。
6.如權(quán)利要求4所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該末端元件組為若干接觸元件。
7.如權(quán)利要求4所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該末端元件組為若干氣嘴，以氣體噴出方式來壓按該鍵盤。
8.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測試裝置中儲存記錄一測試控制流程信息。
9.如權(quán)利要求8所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測試控制流程信息，其鍵盤測試步驟包括a.測試鍵盤微處理器功能；b.判別鍵盤微處理器功能是否正常；c.測試鍵盤LED顯示燈顯示功能；d.判別鍵盤LED顯示燈功能是否正常；e.測試鍵盤的按鍵壓按功能；f.橫軸移動逐一測試鍵盤上每一按鍵的壓按功能；g.判別鍵盤上每一按鍵的壓按功能是否正常，以及；h.儲存及記錄鍵盤測試結(jié)果。
10.如權(quán)利要求8、9所述的鍵盤測試系統(tǒng)，其特征在于所述的該測試控制流程信息，在測試結(jié)果舁常、故障時，它包含一警示流程，其步驟為a.發(fā)出警示信號，以及；b.記錄及儲存異常、故障的測試結(jié)果。
全文摘要
本發(fā)明數(shù)據(jù)一種鍵盤測試系統(tǒng),用作電子設(shè)備的鍵盤功能測試,其特點是包括:一測試裝置,其預(yù)設(shè)鍵盤測試的微處理器、顯示燈及按鍵壓按等測試參數(shù)、比對判讀測試結(jié)果、錯誤警示及儲存測試數(shù)據(jù)的功能;一燈號感測器,以測試LED顯示功能;一按鍵按測試機構(gòu);一橫軸移位驅(qū)動機構(gòu),以驅(qū)動按鍵測試機構(gòu)作橫軸位移;一警示裝置,其在測試結(jié)果有異?；蚬收蠣顟B(tài)下,發(fā)出警示信號,并由測試裝置記錄儲存其測試結(jié)果。
文檔編號G06F3/023GK1257241SQ9812643
公開日2000年6月21日 申請日期1998年12月17日 優(yōu)先權(quán)日1998年12月17日
發(fā)明者郭歷優(yōu) 申請人:英群企業(yè)股份有限公司