本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理的，特別涉及一種芯片版圖識別方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術：

1、在現(xiàn)代存儲器芯片中，尤其是dram類存儲器，芯片內的結構復雜且包含大量重復的存儲單元。每個存儲單元可以視為一個邏輯地址，而這些地址在實際使用中相當于倉庫中不同的存儲區(qū)。然而，存儲器芯片發(fā)生故障時，我們常需要查詢這些邏輯地址在芯片物理版圖上的具體位置，以便定位問題。這對于芯片分析、故障排查及性能優(yōu)化具有重要作用。但現(xiàn)實問題在于，這些版圖布局信息屬于芯片廠商的商業(yè)機密，通常不對外公開，使得外部人員無法直接獲取芯片的內部結構，從而增加了維修和測試的難度。

2、現(xiàn)有的測試手段雖然能夠識別存儲器中是否發(fā)生了錯誤，但卻無法確定錯誤具體發(fā)生在哪個物理位置。這種缺乏物理位置信息的情況大大增加了排查故障的復雜性。即使在通過外部設備如pcba測試板進行測試時，也只能檢測出邏輯地址層面的問題，無法進一步定位到存儲芯片的版圖中實際位置。

技術實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的主要目的為提供一種芯片版圖識別方法、裝置、計算機設備和存儲介質，以解決現(xiàn)有的測試手段無法將存儲器芯片的邏輯地址錯誤精準定位到其物理版圖位置的技術問題。

2、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種芯片版圖識別的方法，包括以下步驟：確定待測試芯片的多個邏輯地址；判斷所述多個邏輯地址中是否存在未進行版圖識別的邏輯地址，若存在則確定一個未進行版圖識別的邏輯地址為目標邏輯地址；基于所述目標邏輯地址對所述待測試芯片進行反復上電刺激，同時采用emmi光輻射顯微鏡鏡頭對待檢測芯片進行圖像采集，得到目標芯片版圖圖像；基于所述目標芯片版本圖像捕捉所述待測試芯片的發(fā)光位置，并將所述待測試芯片的發(fā)光位置與所述目標邏輯地址進行關聯(lián)處理，得到所述目標邏輯地址的版圖識別信息；繼續(xù)執(zhí)行“判斷所述多個邏輯地址中是否存在未進行版圖識別的邏輯地址”步驟，直至不存在未進行版圖識別的邏輯地址，則將多個所述目標邏輯地址的版本識別信息整合為所述待測試芯片的版圖布局地圖。

3、本發(fā)明還提供了一種芯片版圖識別裝置，包括：確定單元，用于確定待測試芯片的多個邏輯地址；判斷單元，用于判斷所述多個邏輯地址中是否存在未進行版圖識別的邏輯地址，若存在則確定一個未進行版圖識別的邏輯地址為目標邏輯地址；采集單元，用于基于所述目標邏輯地址對所述待測試芯片進行反復上電刺激，同時采用emmi光輻射顯微鏡鏡頭對待檢測芯片進行圖像采集，得到目標芯片版圖圖像；獲取單元，用于基于所述目標芯片版本圖像捕捉所述待測試芯片的發(fā)光位置，并將所述待測試芯片的發(fā)光位置與所述目標邏輯地址進行關聯(lián)處理，得到所述目標邏輯地址的版圖識別信息；執(zhí)行單元，用于繼續(xù)執(zhí)行“判斷所述多個邏輯地址中是否存在未進行版圖識別的邏輯地址”步驟，直至不存在未進行版圖識別的邏輯地址，則將多個所述目標邏輯地址的版本識別信息整合為所述待測試芯片的版圖布局地圖。

4、本發(fā)明還提供一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)上述任一項所述方法的步驟。

5、本發(fā)明還提供一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述任一項所述的方法的步驟。

6、本發(fā)明提供的一種芯片版圖識別方法、裝置、計算機設備和存儲介質，在芯片版圖識別中具有顯著的技術優(yōu)勢，通過采用emmi（electro?magnetic?induced?emission）光輻射顯微鏡技術，能夠捕捉芯片在上電刺激時的微弱發(fā)光現(xiàn)象，將芯片的邏輯地址與實際版圖位置進行關聯(lián)。這種方法解決了傳統(tǒng)測試手段無法精準定位邏輯地址錯誤到物理版圖的技術瓶頸，為芯片故障分析和性能優(yōu)化提供了新的技術路徑。相較于現(xiàn)有技術，本發(fā)明通過反復上電刺激和發(fā)光位置捕捉的方式，能夠高效、自動化地識別芯片內部的版圖布局，大大提高了版圖識別的精度和效率。

7、其次，本發(fā)明在邏輯地址識別過程中，采用了逐步遞進的邏輯判斷機制，即通過判斷是否存在未識別的邏輯地址，動態(tài)更新目標邏輯地址，確保每一個邏輯地址都能準確定位到物理版圖位置。這種機制不僅提高了識別過程的覆蓋率，而且能夠在多次識別循環(huán)中積累更多的版圖信息，逐步生成完整的版圖布局地圖，從而提供了更全面的芯片物理結構視圖。

8、綜上所述，本發(fā)明顯著提升了芯片版圖識別的自動化程度和識別精度，有效解決了現(xiàn)有技術中芯片邏輯地址錯誤定位困難的問題，具有廣泛的應用前景和巨大的技術推廣價值。

技術特征：

1.一種芯片版圖識別的方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權利要求1所述的芯片版圖識別的方法，其特征在于，基于所述目標邏輯地址對所述待測試芯片進行反復上電刺激，同時采用emmi光輻射顯微鏡鏡頭對待檢測芯片進行圖像采集，得到目標芯片版圖圖像，包括：

3.根據(jù)權利要求1所述的芯片版圖識別的方法，其特征在于，所述目標芯片版本圖像為多個，所述基于所述目標芯片版本圖像捕捉所述待測試芯片的發(fā)光位置，包括：

4.根據(jù)權利要求1所述的芯片版圖識別的方法，其特征在于，將所述待測試芯片的發(fā)光位置與所述目標邏輯地址進行關聯(lián)處理，得到所述目標邏輯地址的版圖識別信息，包括：

5.根據(jù)權利要求1所述的芯片版圖識別的方法，其特征在于，將多個所述目標邏輯地址的版本識別信息整合為所述待測試芯片的版圖布局地圖，包括：

6.根據(jù)權利要求1所述的芯片版圖識別的方法，其特征在于，所述芯片版圖識別的方法還包括：

7.根據(jù)權利要求1所述的芯片版圖識別的方法，其特征在于，在直至不存在未進行版圖識別的邏輯地址之后，所述芯片版圖識別的方法還包括：

8.一種芯片版圖識別裝置，其特征在于，包括：

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器中存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。

技術總結
本發(fā)明涉及一種芯片版圖識別方法、裝置、計算機設備和存儲介質，包括若干步驟來準確識別存儲器芯片的物理布局。首先，確定多個邏輯地址，并判斷這些邏輯地址中是否有未識別的地址。如果有，則選定一個為目標邏輯地址。接著，對該目標邏輯地址進行反復上電刺激，并利用EMMI光輻射顯微鏡進行圖像采集，從而獲得目標芯片的版圖圖像?；谶@些圖像，捕捉發(fā)光位置并與目標邏輯地址關聯(lián)，得出版圖識別信息。此過程重復進行，直到所有邏輯地址的識別完成，最終整合所有識別信息形成待測試芯片的完整版圖布局地圖。這種方法通過細化圖像處理和電路路徑重構，有效克服了傳統(tǒng)方法在定位邏輯地址物理位置上的不足。

技術研發(fā)人員：崔風洲,王嘉子,吳冰冰,張偉
受保護的技術使用者：深圳市美信檢測技術股份有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/12/19