本發(fā)明涉及芯片設(shè)計(jì)，尤其涉及一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置及方法。

背景技術(shù)：

1、隨著數(shù)據(jù)中心規(guī)模的不斷擴(kuò)大，傳統(tǒng)的單片集成方式在制造大型、高性能芯片時(shí)面臨良率和成本的挑戰(zhàn)。隨之出現(xiàn)的chiplet技術(shù)為提高芯片良率及減少成本提供了新的解決方案。chiplet也稱為小芯片或微芯片，是一種將復(fù)雜芯片拆分成多個(gè)小型、獨(dú)立且可復(fù)用的模塊的設(shè)計(jì)方法。這些模塊可以是處理器核心、內(nèi)存芯片、傳感器或其他類型的集成電路，它們通過(guò)高速接口或連接器相互連接，形成一個(gè)完整的系統(tǒng)芯片。

2、隨著技術(shù)的不斷發(fā)展和芯片設(shè)計(jì)的日益復(fù)雜，chiplet已成為一種有效應(yīng)對(duì)芯片良率和成本挑戰(zhàn)的方法。通過(guò)將大型芯片拆分成多個(gè)小型、獨(dú)立的模塊，可以顯著降低設(shè)計(jì)復(fù)雜性、提高生產(chǎn)效率并降低成本。同時(shí)，chiplet還具有可復(fù)用性，這意味著每個(gè)模塊都可以獨(dú)立設(shè)計(jì)和生產(chǎn)，然后根據(jù)需要進(jìn)行組合，從而實(shí)現(xiàn)靈活的定制化設(shè)計(jì)。這種設(shè)計(jì)方法的出現(xiàn)，使得芯片設(shè)計(jì)更加模塊化，類似于計(jì)算機(jī)硬件的組裝方式，可以根據(jù)不同的需求選擇和組合不同的模塊。這不僅提高了設(shè)計(jì)的靈活性，還促進(jìn)了跨廠商和跨領(lǐng)域的協(xié)同設(shè)計(jì)和優(yōu)化。

3、chiplet架構(gòu)中包含若干個(gè)die，die是指一個(gè)單獨(dú)的晶圓區(qū)域，包含了一個(gè)完整功能單元或一組相關(guān)功能單元，可以理解為一個(gè)具有完整功能的模塊。而chiplet架構(gòu)中的算力核心die，即算力核心模塊中包含很多計(jì)算塊，這些計(jì)算塊在運(yùn)行的過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)個(gè)別計(jì)算塊故障或異常，此時(shí)若其中有正在運(yùn)行的任務(wù)，則容易導(dǎo)致任務(wù)執(zhí)行失敗或錯(cuò)誤，影響chiplet整體架構(gòu)的性能和可靠性。因此，迫切需要一種針對(duì)算力核心模塊的有效監(jiān)測(cè)和處理方法，來(lái)確保chiplet架構(gòu)算力核心的穩(wěn)定性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置及方法，用于解決如下技術(shù)問(wèn)題：chiplet架構(gòu)中的算力核心模塊在運(yùn)行過(guò)程中可能出現(xiàn)計(jì)算塊異常，不利于任務(wù)的正常執(zhí)行，影響整體chiplet架構(gòu)的性能和可靠性，迫切需要針對(duì)算力核心模塊進(jìn)行有效監(jiān)測(cè)和處理。

2、本發(fā)明實(shí)施例采用下述技術(shù)方案：

3、一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，裝置包括：中央處理單元模塊以及多個(gè)算力核心模塊；

4、所述算力核心模塊包括監(jiān)視器以及多個(gè)計(jì)算塊；計(jì)算塊為所述算力核心模塊的基本單元；

5、所述監(jiān)視器用于檢測(cè)所述計(jì)算核心模塊的狀態(tài)信息；

6、所述中央處理單元模塊包括多個(gè)中央處理單元。

7、在一種可行的實(shí)施方式中，所述算力核心模塊與所述中央處理單元模塊通過(guò)d2d高速接口連接；所述d2d高速接口用于傳遞命令以及傳輸數(shù)據(jù)。

8、在一種可行的實(shí)施方式中，所述監(jiān)視器中至少包括：仲裁器子模塊、數(shù)據(jù)包解析子模塊、功耗估算子模塊、性能估算子模塊、資源占用估算子模塊、計(jì)算塊資源控制子模塊以及計(jì)算塊狀態(tài)表。

9、在一種可行的實(shí)施方式中，每個(gè)所述算力核心模塊中還包括：冗余算力計(jì)算塊；

10、所述冗余算力計(jì)算塊用于接收所述算力核心模塊的壞塊中正在運(yùn)行的任務(wù)；其中，所述壞塊是指出現(xiàn)故障或異常的計(jì)算塊。

11、另一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，應(yīng)用于所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，所述方法包括：

12、所述中央處理單元模塊收集所述算力核心模塊的運(yùn)行狀態(tài)信息，并對(duì)所述運(yùn)行狀態(tài)信息進(jìn)行分析，確定所述算力核心模塊中存在的壞塊；

13、所述中央處理單元模塊將所述壞塊中正在運(yùn)行的任務(wù)轉(zhuǎn)移到冗余算力計(jì)算塊或其他算力核心模塊中繼續(xù)運(yùn)行。

14、在一種可行的實(shí)施方式中，所述中央處理單元模塊收集所述算力核心模塊的運(yùn)行狀態(tài)信息，具體包括：

15、所述中央處理單元模塊生成狀態(tài)檢測(cè)命令并發(fā)送到所述算力核心模塊；

16、所述算力核心模塊的監(jiān)視器解析所述狀態(tài)監(jiān)測(cè)命令，并通過(guò)解析后的命令激活所述算力核心模塊中的每個(gè)計(jì)算塊；

17、各個(gè)計(jì)算塊返回各自的激活狀態(tài)信息，所述監(jiān)視器收集匯總所述激活狀態(tài)信息，生成所述算力核心模塊的運(yùn)行狀態(tài)信息，并發(fā)送到所述中央處理單元模塊。

18、在一種可行的實(shí)施方式中，所述中央處理單元模塊對(duì)所述運(yùn)行狀態(tài)信息進(jìn)行分析，確定所述算力核心模塊中存在的壞塊，具體包括：

19、所述中央處理單元模塊分析出所述運(yùn)行狀態(tài)信息中的異常激活狀態(tài)信息，并根據(jù)所述異常激活狀態(tài)信息的來(lái)源，確定對(duì)應(yīng)的異常計(jì)算塊；

20、將所述異常計(jì)算塊確定為所述算力核心模塊中的壞塊，并獲取壞塊的位置信息。

21、在一種可行的實(shí)施方式中，在中央處理單元模塊對(duì)所述運(yùn)行狀態(tài)信息進(jìn)行分析，確定所述算力核心模塊中存在的壞塊之后，所述方法還包括：

22、所述中央處理單元模塊將所述算力核心模塊中確定出的壞塊進(jìn)行隔離，并記錄所述算力核心模塊中所有的異常激活狀態(tài)信息。

23、在一種可行的實(shí)施方式中，所述中央處理單元模塊將所述壞塊中正在運(yùn)行的任務(wù)轉(zhuǎn)移到冗余算力計(jì)算塊或其他算力核心模塊中繼續(xù)運(yùn)行，具體包括：

24、所述中央處理單元模塊啟動(dòng)所述算力核心模塊中的冗余算力計(jì)算塊，并將所述壞塊中正在運(yùn)行的任務(wù)轉(zhuǎn)移到冗余算力計(jì)算塊中繼續(xù)運(yùn)行；

25、若所述算力核心模塊中的所有計(jì)算塊均被占用，所述中央處理單元?jiǎng)t啟動(dòng)相鄰的算力核心模塊中未被占用的計(jì)算塊，接收所述壞塊中的任務(wù)。

26、在一種可行的實(shí)施方式中，所述方法還包括：

27、當(dāng)所述算力核心模塊中的所有計(jì)算塊均正常運(yùn)行時(shí)，所述監(jiān)視器按照順序獲取各個(gè)計(jì)算塊的狀態(tài)信息，并對(duì)所述狀態(tài)信息進(jìn)行功耗估算、性能估算以及資源占用估算，獲得整個(gè)算力核心模塊的評(píng)估信息；

28、并將所述評(píng)估信息存儲(chǔ)到計(jì)算塊狀態(tài)表，通過(guò)所述計(jì)算塊狀態(tài)表將評(píng)估信息傳遞給所述中央處理單元模塊。

29、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置及方法，具有如下有益效果：

30、本發(fā)明通過(guò)上述技術(shù)方案，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)算力核心的狀態(tài)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并隔離算力核心中的壞塊，并進(jìn)行相應(yīng)的處理，保證壞塊中任務(wù)的穩(wěn)定運(yùn)行。實(shí)現(xiàn)了對(duì)基于chiplet架構(gòu)的算力核心的壞塊進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和有效處理，提高了系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。

技術(shù)特征：

1.一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述裝置包括中央處理單元模塊以及多個(gè)算力核心模塊；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述算力核心模塊與所述中央處理單元模塊通過(guò)d2d高速接口連接；所述d2d高速接口用于傳遞命令以及傳輸數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述監(jiān)視器中至少包括：仲裁器子模塊、數(shù)據(jù)包解析子模塊、功耗估算子模塊、性能估算子模塊、資源占用估算子模塊、計(jì)算塊資源控制子模塊以及計(jì)算塊狀態(tài)表。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，每個(gè)所述算力核心模塊中還包括：冗余算力計(jì)算塊；

5.一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，應(yīng)用于如權(quán)利要求1所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置，其特征在于，所述方法包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述中央處理單元模塊收集所述算力核心模塊的運(yùn)行狀態(tài)信息，具體包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述中央處理單元模塊對(duì)所述運(yùn)行狀態(tài)信息進(jìn)行分析，確定所述算力核心模塊中存在的壞塊，具體包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，在中央處理單元模塊對(duì)所述運(yùn)行狀態(tài)信息進(jìn)行分析，確定所述算力核心模塊中存在的壞塊之后，所述方法還包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述中央處理單元模塊將所述壞塊中正在運(yùn)行的任務(wù)轉(zhuǎn)移到冗余算力計(jì)算塊或其他算力核心模塊中繼續(xù)運(yùn)行，具體包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)方法，其特征在于，所述方法還包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種基于Chiplet架構(gòu)的算力核心壞塊監(jiān)測(cè)裝置及方法，屬于芯片設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，用于解決Chiplet架構(gòu)中的算力核心模塊在運(yùn)行過(guò)程中可能出現(xiàn)計(jì)算塊異常，不利于任務(wù)的正常執(zhí)行，影響整體Chiplet架構(gòu)的性能和可靠性，迫切需要針對(duì)算力核心模塊進(jìn)行有效監(jiān)測(cè)和處理的技術(shù)問(wèn)題。裝置包括：中央處理單元模塊以及多個(gè)算力核心模塊；算力核心模塊包括監(jiān)視器以及多個(gè)計(jì)算塊；計(jì)算塊為算力核心模塊的基本單元；所述監(jiān)視器用于檢測(cè)所述計(jì)算核心模塊的狀態(tài)信息；所述中央處理單元模塊包括多個(gè)中央處理單元。本發(fā)明能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)算力核心的狀態(tài)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并隔離算力核心中的壞塊，提高了Chiplet架構(gòu)的可靠性和穩(wěn)定性。

技術(shù)研發(fā)人員：秦剛,姜?jiǎng)P,趙鑫鑫
受保護(hù)的技術(shù)使用者：山東浪潮科學(xué)研究院有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19