本技術(shù)實(shí)施例涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種服務(wù)器的測(cè)試方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、為了保證服務(wù)器的產(chǎn)品質(zhì)量，會(huì)對(duì)服務(wù)器的性能進(jìn)行測(cè)試，相關(guān)技術(shù)中，在通過待測(cè)試主板上部署的mcio接口對(duì)陪測(cè)板的功能進(jìn)行測(cè)試的情況下，陪測(cè)板的功能有限，在將一塊陪測(cè)板接入待測(cè)試主板的情況下，僅能測(cè)試該陪測(cè)板所允許測(cè)試的測(cè)試項(xiàng)，可以理解的是，相關(guān)技術(shù)中，僅覆蓋了部分信號(hào)(這些信號(hào)是為了對(duì)陪測(cè)板所允許的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試)，導(dǎo)致信號(hào)覆蓋范圍不全。

2、在需要測(cè)試服務(wù)器的其它測(cè)試項(xiàng)的情況下，需要更換其他的陪測(cè)板或者分開手動(dòng)進(jìn)行測(cè)試，這樣的方式，對(duì)服務(wù)器進(jìn)行測(cè)試的復(fù)雜度較高，導(dǎo)致服務(wù)器的測(cè)試效率較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供了一種服務(wù)器的測(cè)試方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備，以至少解決相關(guān)技術(shù)中服務(wù)器的測(cè)試效率較低的問題。

2、根據(jù)本技術(shù)的一個(gè)實(shí)施例，提供了一種服務(wù)器的測(cè)試方法，服務(wù)器測(cè)試設(shè)備中部署有控制器和多個(gè)測(cè)試器件，所述控制器用于分別連接待測(cè)試的服務(wù)器和陪測(cè)設(shè)備，所述陪測(cè)設(shè)備用于對(duì)所述待測(cè)試的服務(wù)器的性能中的第一測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，所述方法應(yīng)用于所述控制器，所述方法包括：接收所連接的目標(biāo)服務(wù)器發(fā)起的目標(biāo)測(cè)試請(qǐng)求，其中，所述目標(biāo)測(cè)試請(qǐng)求用于請(qǐng)求對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的第二測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試；響應(yīng)所述目標(biāo)測(cè)試請(qǐng)求，檢測(cè)所述陪測(cè)設(shè)備所提供的所述第一測(cè)試項(xiàng)與所述第二測(cè)試項(xiàng)之間的匹配度，其中，所述匹配度用于指示所述陪測(cè)設(shè)備是否能夠?qū)崿F(xiàn)所述第二測(cè)試項(xiàng)；在所述匹配度用于指示所述陪測(cè)設(shè)備未能實(shí)現(xiàn)所述第二測(cè)試項(xiàng)的情況下，使用所述多個(gè)測(cè)試器件構(gòu)造所述第二測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試設(shè)備；控制所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第二測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。

3、在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述使用所述多個(gè)測(cè)試器件構(gòu)造所述第二測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試設(shè)備，包括：從具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的測(cè)試項(xiàng)和測(cè)試器件中查找第三測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試器件，其中，所述第三測(cè)試項(xiàng)是所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第二測(cè)試項(xiàng)中所述陪測(cè)設(shè)備未能實(shí)現(xiàn)的測(cè)試項(xiàng)；使用所述目標(biāo)測(cè)試器件和所述陪測(cè)設(shè)備構(gòu)造所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備。

4、在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述使用所述目標(biāo)測(cè)試器件和所述陪測(cè)設(shè)備構(gòu)造所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備，包括：在所述目標(biāo)測(cè)試器件包括n個(gè)測(cè)試器件的情況下，通過執(zhí)行以下步驟使用所述n個(gè)測(cè)試器件和所述陪測(cè)設(shè)備構(gòu)造所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備，其中，n為正整數(shù)：從具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的測(cè)試項(xiàng)、測(cè)試器件和連接關(guān)系中提取所述第三測(cè)試項(xiàng)和所述n個(gè)測(cè)試器件所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)連接關(guān)系；按照所述目標(biāo)連接關(guān)系連接所述n個(gè)測(cè)試器件，得到候選測(cè)試設(shè)備；將所述候選測(cè)試設(shè)備與所述陪測(cè)設(shè)備確定為所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備。

5、在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述控制所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第二測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，包括：根據(jù)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的第三測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)類型，控制候選測(cè)試設(shè)備提取所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試信號(hào)；控制所述候選測(cè)試設(shè)備使用所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，并控制所述陪測(cè)設(shè)備對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第二測(cè)試項(xiàng)中除所述第三測(cè)試項(xiàng)以外的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。

6、在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述根據(jù)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的第三測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)類型，控制候選測(cè)試設(shè)備提取所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試信號(hào)，包括：在所述測(cè)試項(xiàng)類型包括總線鏈路類型和/或信號(hào)頻率類型的情況下，生成并向所述目標(biāo)服務(wù)器發(fā)起信號(hào)生成指令，其中，所述信號(hào)生成指令用于指示所述目標(biāo)服務(wù)器生成所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)，接收所述目標(biāo)服務(wù)器響應(yīng)所述信號(hào)生成指令返回的所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)；在所述測(cè)試項(xiàng)類型包括服務(wù)器控制類型的情況下，控制所述候選測(cè)試設(shè)備生成所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)。

7、在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述候選測(cè)試設(shè)備中部署有運(yùn)放器件和分頻器件，所述控制器與所述運(yùn)放器件和所述分頻器件連接，所述控制所述候選測(cè)試設(shè)備使用所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，包括：在所述測(cè)試項(xiàng)類型包括信號(hào)頻率類型的情況下，將接收到的所述目標(biāo)服務(wù)器返回的所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)輸入所述運(yùn)放器件，得到運(yùn)放測(cè)試信號(hào)，其中，所述運(yùn)放器件用于按照運(yùn)放系數(shù)調(diào)整輸入所述運(yùn)放器件的信號(hào)的幅值，所述運(yùn)放測(cè)試信號(hào)的第一幅值除以所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)的第二幅值所得到的值等于所述運(yùn)放系數(shù)；將所述運(yùn)放測(cè)試信號(hào)輸入所述分頻器件，得到分頻測(cè)試信號(hào)，其中，所述分頻器件用于按照分頻系數(shù)調(diào)整輸入所述分頻器件的信號(hào)的頻率，所述分頻測(cè)試信號(hào)的第一頻率除以所述運(yùn)放測(cè)試信號(hào)的第二頻率所得到的值等于所述分頻系數(shù)，其中，所述控制器被設(shè)置為允許處理幅值為所述第一幅值、且頻率為所述第一頻率的信號(hào)；根據(jù)所述分頻測(cè)試信號(hào)對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的信號(hào)頻率項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，其中，所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)包括所述信號(hào)頻率項(xiàng)；所述目標(biāo)服務(wù)器中部署有第一總線器件，所述候選測(cè)試設(shè)備中部署有第二總線器件，所述控制器與所述第二總線器件連接，所述第一總線器件與所述第二總線器件連接，所述控制所述候選測(cè)試設(shè)備使用所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，包括：在所述測(cè)試項(xiàng)類型包括總線鏈路類型的情況下，檢測(cè)所述第二總線器件的候選地址，生成并向所述目標(biāo)服務(wù)器發(fā)起目標(biāo)查詢指令，其中，所述目標(biāo)查詢指令用于指示所述目標(biāo)服務(wù)器在參考地址集合中查找所述第二總線器件所對(duì)應(yīng)的地址，所述參考地址集合用于記錄所述目標(biāo)服務(wù)器上已掛載的總線器件的地址，接收所述目標(biāo)服務(wù)器響應(yīng)所述目標(biāo)查詢指令返回的所述第二總線器件的參考地址，比對(duì)所述候選地址和所述參考地址，在所述候選地址和所述參考地址一致的情況下，確定所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的總線鏈路項(xiàng)正常，其中，所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)包括所述總線鏈路項(xiàng)。

8、在一個(gè)示例性實(shí)施例中，所述候選測(cè)試設(shè)備中部署有分壓保持器件，所述控制器與所述分壓保持器件連接，所述控制所述候選測(cè)試設(shè)備使用所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，包括：在所述測(cè)試項(xiàng)類型包括服務(wù)器控制類型的情況下，向所述目標(biāo)服務(wù)器發(fā)起所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)，其中，所述目標(biāo)服務(wù)器被設(shè)置為響應(yīng)接收到的所述目標(biāo)測(cè)試信號(hào)，輸出電壓為第一電壓的目標(biāo)供電信號(hào)對(duì)所述候選測(cè)試設(shè)備進(jìn)行供電；將所述目標(biāo)服務(wù)器提供的電壓為所述第一電壓的所述目標(biāo)供電信號(hào)輸入分壓保持器件，得到分壓供電信號(hào)，其中，所述分壓保持器件用于按照分壓系數(shù)調(diào)整輸入所述分壓保持器件的信號(hào)的電壓，所述分壓供電信號(hào)的第二電壓除以所述目標(biāo)供電信號(hào)的所述第一電壓所得到的值等于所述分壓系數(shù)；根據(jù)所述分壓供電信號(hào)，對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的供電項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，其中，所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第三測(cè)試項(xiàng)包括所述供電項(xiàng)。

9、根據(jù)本技術(shù)的另一個(gè)實(shí)施例，提供了一種服務(wù)器的測(cè)試裝置，包括：服務(wù)器測(cè)試設(shè)備中部署有控制器和多個(gè)測(cè)試器件，所述控制器用于分別連接待測(cè)試的服務(wù)器和陪測(cè)設(shè)備，所述陪測(cè)設(shè)備用于對(duì)所述待測(cè)試的服務(wù)器的性能中的第一測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，所述裝置應(yīng)用于所述控制器，所述裝置包括：接收模塊，用于接收所連接的目標(biāo)服務(wù)器發(fā)起的目標(biāo)測(cè)試請(qǐng)求，其中，所述目標(biāo)測(cè)試請(qǐng)求用于請(qǐng)求對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的第二測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試；檢測(cè)模塊，用于響應(yīng)所述目標(biāo)測(cè)試請(qǐng)求，檢測(cè)所述陪測(cè)設(shè)備所提供的所述第一測(cè)試項(xiàng)與所述第二測(cè)試項(xiàng)之間的匹配度，其中，所述匹配度用于指示所述陪測(cè)設(shè)備是否能夠?qū)崿F(xiàn)所述第二測(cè)試項(xiàng)；構(gòu)造模塊，用于在所述匹配度用于指示所述陪測(cè)設(shè)備未能實(shí)現(xiàn)所述第二測(cè)試項(xiàng)的情況下，使用所述多個(gè)測(cè)試器件構(gòu)造所述第二測(cè)試項(xiàng)所對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試設(shè)備；

10、控制模塊，用于控制所述目標(biāo)測(cè)試設(shè)備對(duì)所述目標(biāo)服務(wù)器的性能中的所述第二測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試。

11、根據(jù)本技術(shù)的又一個(gè)實(shí)施例，還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，所述計(jì)算機(jī)程序被設(shè)置為運(yùn)行時(shí)執(zhí)行上述任一項(xiàng)方法實(shí)施例中的步驟。

12、根據(jù)本技術(shù)的又一個(gè)實(shí)施例，還提供了一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器被設(shè)置為運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序以執(zhí)行上述任一項(xiàng)方法實(shí)施例中的步驟。

13、根據(jù)本技術(shù)的又一個(gè)實(shí)施例，還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述任一項(xiàng)方法實(shí)施例中的步驟。

14、通過本技術(shù)，陪測(cè)設(shè)備所能實(shí)現(xiàn)的服務(wù)器的性能中的測(cè)試項(xiàng)是有限的，在陪測(cè)設(shè)備未能實(shí)現(xiàn)所希望測(cè)試的服務(wù)器的性能中的測(cè)試項(xiàng)的情況下，可以但不限于通過服務(wù)器測(cè)試設(shè)備中部署的測(cè)試器件，構(gòu)造出能夠?qū)崿F(xiàn)所希望測(cè)試的服務(wù)器的性能中的測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試設(shè)備，通過構(gòu)造出的測(cè)試設(shè)備對(duì)陪測(cè)設(shè)備所不能實(shí)現(xiàn)的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，擴(kuò)大了能夠?qū)崿F(xiàn)的服務(wù)器的性能中的測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試范圍，避免了通過更換陪測(cè)設(shè)備的方式實(shí)現(xiàn)對(duì)不能實(shí)現(xiàn)的測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試，減少了對(duì)服務(wù)器進(jìn)行測(cè)試所需的時(shí)間，可以解決服務(wù)器的測(cè)試效率較低的問題，達(dá)到提升服務(wù)器的測(cè)試效率的效果。