1.一種多功能綜合測試卡，其特征在于，包括PCI總線接口芯片、與PCI總線接口芯片連接的現(xiàn)場可編程門陣列FPGA、與所述現(xiàn)場可編程門陣列FPGA連接的測試信號產(chǎn)生接口電路以及與所述測試信號產(chǎn)生接口電路對應的測試信號對外接口，所述測試信號產(chǎn)生接口電路包括隔離RS422/485接口電路、可配置IO接口電路、12位AD信號采集接口電路、隔離RS232接口電路、隔離CAN接口電路、12位DA信號接口電路。
2.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述PCI總線接口芯片的PCI總線端與計算機的PCI總線接口端連接以接收計算機的控制指令，所述PCI總線接口芯片的本地總線端與FPGA控制端連接。
3.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述PCI總線接口芯片為PCI9054總線接口芯片。
4.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述隔離RS422/485接口電路包括ADM2682E串行通訊接口芯片。
5.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述隔離RS232接口電路包括ADM3251E串行通訊接口芯片。
6.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述隔離CAN接口電路包括ADM3053BRWZ通訊接口芯片。
7.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述12位DA信號接口電路包括AD5504BRUZ芯片。
8.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述與所述測試信號產(chǎn)生接口電路對應的測試信號對外接口具體包括隔離RS422/485接口、可配置IO接口、12位AD信號采集接口、隔離RS232接口、隔離CAN接口、12位DA信號接口。
9.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述隔離RS422/485接口電路為7路、可配置IO接口電路為12路、12位AD信號采集接口電路為4路、隔離RS232接口電路為1路、隔離CAN接口電路為1路、12位DA信號接口電路為8路。
10.如權(quán)利要求1所述的一種多功能綜合測試卡，其特征在于，所述12位AD采集電路采用雙電源供電。