技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種基于頁面訪問間隔的閃存數(shù)據(jù)緩沖區(qū)置換方法，該方法根據(jù)緩沖區(qū)內(nèi)數(shù)據(jù)頁的訪問間隔特征和讀寫特征，將數(shù)據(jù)緩沖區(qū)內(nèi)緩存的所有數(shù)據(jù)頁分為熱臟數(shù)據(jù)頁、冷臟數(shù)據(jù)頁、熱非臟數(shù)據(jù)頁和冷非臟數(shù)據(jù)頁，并采用一級數(shù)據(jù)緩沖區(qū)和二級數(shù)據(jù)緩沖區(qū)對所有數(shù)據(jù)頁進(jìn)行管理。當(dāng)冷數(shù)據(jù)頁訪問間隔小于緩沖區(qū)LRU隊列中最后一個熱數(shù)據(jù)頁時，發(fā)生冷熱數(shù)據(jù)頁的轉(zhuǎn)換，同時將一級數(shù)據(jù)緩沖區(qū)LRU隊列中的冷數(shù)據(jù)頁移入二級數(shù)據(jù)緩沖區(qū)。在需要進(jìn)行數(shù)據(jù)緩沖區(qū)頁面置換時，根據(jù)LRU規(guī)則，通過優(yōu)先換出二級緩沖區(qū)中冷的非臟數(shù)據(jù)頁，在保證命中率的前提下，減少由于數(shù)據(jù)緩沖區(qū)臟數(shù)據(jù)頁寫回操作次數(shù)較多對閃存性能和壽命造成的影響。

技術(shù)研發(fā)人員：張興軍;周權(quán)彪;董小社;梁寧靜;蔡毅;武旭瑞;劉云飛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西安交通大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.29
技術(shù)公布日：2017.11.10