本發(fā)明涉及計算機技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法及裝置。

背景技術(shù)：

隨著國產(chǎn)處理器的技術(shù)進步與行業(yè)發(fā)展加速，目前涉及國產(chǎn)處理器的設(shè)計研發(fā)廠商越來越多。由于國產(chǎn)處理器的架構(gòu)與x86架構(gòu)的處理器存在較大差異，國產(chǎn)處理器平臺在內(nèi)存子系統(tǒng)方面無法像x86平臺一樣做到即插即用，在硬件調(diào)試完成后，需要進行內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整工作，并將調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)寫入固件中，才能使內(nèi)存子系統(tǒng)正常工作。

現(xiàn)有技術(shù)中，在進行內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整適配時，需要通過人工來實現(xiàn)，實現(xiàn)過程比較復雜。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法及裝置，能夠更加簡單地調(diào)整內(nèi)存參數(shù)。

一方面，本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法，包括：

預先設(shè)置內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則；

s1：部署在待調(diào)試設(shè)備中的調(diào)試模塊向調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息，其中，所述待調(diào)試設(shè)備按照當前內(nèi)存參數(shù)運行；

s2：所述調(diào)試端根據(jù)所述待調(diào)試信息，向所述調(diào)試模塊發(fā)送內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令；

s3：所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存參數(shù)，將所述當前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試端；

s4：所述調(diào)試端判斷所述當前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)和所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

s5：所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟s1。

進一步地，

當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存阻抗時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存阻抗調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存阻抗；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則；

所述s3，包括：

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存阻抗，將所述當前內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，進一步包括：

對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第一測試結(jié)果，將所述當前第一測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述s4，包括：

所述調(diào)試端根據(jù)所述當前第一測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存阻抗是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存阻抗和所述內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述s5，包括：

所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗作為所述當前內(nèi)存阻抗，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟s1。

進一步地，

當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存電壓調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存電壓；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則；

所述s3，包括：

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存電壓，將所述當前內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，進一步包括：

對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第二測試結(jié)果，將所述當前第二測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述s4，包括：

所述調(diào)試端根據(jù)所述當前第二測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存電壓是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存電壓和所述內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述s5，包括：

所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓作為所述當前內(nèi)存電壓，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟s1。

進一步地，

當所述調(diào)試端判斷出所述當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常時，執(zhí)行：

a1：所述調(diào)試端向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令，以使所述待調(diào)試設(shè)備根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)進入操作系統(tǒng)；

a2：當所述待調(diào)試設(shè)備成功進入所述操作系統(tǒng)時，所述調(diào)試模塊向所述調(diào)試端發(fā)送系統(tǒng)啟動成功的信息；

a3：所述調(diào)試端在接收到所述系統(tǒng)啟動成功的信息時，判斷系統(tǒng)啟動成功的次數(shù)是否為預設(shè)值，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)生成所述待調(diào)試設(shè)備的固件，否則，執(zhí)行a1。

進一步地，

當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存時序時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存時序調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存時序；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則。

進一步地，

所述調(diào)試模塊部署在所述待調(diào)試設(shè)備的bios(basicinputoutputsystem，基本輸入輸出系統(tǒng))中。

進一步地，

所述s5中，所述將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，包括：

將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)寫入所述待調(diào)試設(shè)備的flash中，使得所述待調(diào)試設(shè)備利用所述flash中的所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)啟動。

另一方面，本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的裝置，包括：

調(diào)試模塊和調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊部署在待調(diào)試設(shè)備中，其中，所述待調(diào)試設(shè)備按照當前內(nèi)存參數(shù)運行；

所述調(diào)試模塊，用于向所述調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息；在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存參數(shù)，將所述當前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試端；在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)后，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回所述向所述調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息；

所述調(diào)試端，用于保存內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則，在接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的所述待調(diào)試信息后，向所述調(diào)試模塊發(fā)送所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令；在接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的所述當前內(nèi)存參數(shù)后，判斷所述當前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)和所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試模塊。

進一步地，

當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存阻抗時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存阻抗調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存阻抗；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存阻抗，將所述當前內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊，進一步用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第一測試結(jié)果，將所述當前第一測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試端，用于當接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的所述當前內(nèi)存阻抗和所述當前第一測試結(jié)果后，根據(jù)所述當前第一測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存阻抗是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存阻抗和所述內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗后，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗作為所述當前內(nèi)存阻抗，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回所述向所述調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息。

進一步地，

當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存電壓調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存電壓；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存電壓，將所述當前內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊，進一步用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第二測試結(jié)果，將所述當前第二測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試端，用于當接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的所述當前內(nèi)存電壓和所述當前第二測試結(jié)果后，根據(jù)所述當前第二測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存電壓是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存電壓和所述內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓后，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓作為所述當前內(nèi)存電壓，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回所述向所述調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息。

進一步地，

所述調(diào)試端，進一步用于當判斷出所述當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常時，向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令，以使所述待調(diào)試設(shè)備根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)進入操作系統(tǒng)；在接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的系統(tǒng)啟動成功的信息時，判斷系統(tǒng)啟動成功的次數(shù)是否為預設(shè)值，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)生成所述待調(diào)試設(shè)備的固件，否則，返回所述向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令；

所述調(diào)試模塊，進一步用于當所述待調(diào)試設(shè)備成功進入所述操作系統(tǒng)時，向所述調(diào)試端發(fā)送所述系統(tǒng)啟動成功的信息。

進一步地，

當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存時序時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存時序調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存時序；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則。

進一步地，

所述調(diào)試模塊部署在所述待調(diào)試設(shè)備的bios中。

進一步地，

所述調(diào)試模塊，用于將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)寫入所述待調(diào)試設(shè)備的flash中，使得所述待調(diào)試設(shè)備利用所述flash中的所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)啟動。

在本發(fā)明實施例中，通過調(diào)試模塊獲取待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)，通過調(diào)試端判斷出當前內(nèi)存參數(shù)有異常時，根據(jù)預先設(shè)置的內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則和當前內(nèi)存參數(shù)進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，直到待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常，無需通過人工進行調(diào)整，能夠更加簡單地調(diào)整內(nèi)存參數(shù)。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明一實施例提供的一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法的流程圖；

圖2是本發(fā)明一實施例提供的另一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法的流程圖；

圖3是本發(fā)明一實施例提供的一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的裝置的示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法，該方法可以包括以下步驟：

s0：預先設(shè)置內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則；

s1：部署在待調(diào)試設(shè)備中的調(diào)試模塊向調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息，其中，所述待調(diào)試設(shè)備按照當前內(nèi)存參數(shù)運行；

s2：所述調(diào)試端根據(jù)所述待調(diào)試信息，向所述調(diào)試模塊發(fā)送內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令；

s3：所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存參數(shù)，將所述當前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試端；

s4：所述調(diào)試端判斷所述當前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)和所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

s5：所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟s1。

在本發(fā)明實施例中，通過調(diào)試模塊獲取待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)，通過調(diào)試端判斷出當前內(nèi)存參數(shù)有異常時，根據(jù)預先設(shè)置的內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則和當前內(nèi)存參數(shù)進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，直到待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常，無需通過人工進行調(diào)整，能夠更加簡單地調(diào)整內(nèi)存參數(shù)。

如圖1所示，本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法，該方法可以包括以下步驟：

步驟101：預先設(shè)置內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則；

步驟102：部署在待調(diào)試設(shè)備中的調(diào)試模塊向調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息，其中，所述待調(diào)試設(shè)備按照當前內(nèi)存參數(shù)運行；

步驟103：所述調(diào)試端根據(jù)所述待調(diào)試信息，向所述調(diào)試模塊發(fā)送內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令；

步驟104：所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存參數(shù)，將所述當前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試端；

步驟105：所述調(diào)試端判斷所述當前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，執(zhí)行依次步驟106、步驟107，否則，執(zhí)行步驟108；

步驟106：所述調(diào)試端根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)和所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

步驟107：所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟102；

步驟108：所述調(diào)試端保存所述當前內(nèi)存參數(shù)。

在本發(fā)明實施例中，當調(diào)試端判斷出當前內(nèi)存參數(shù)不存在異常時，保存當前內(nèi)存參數(shù)，后續(xù)可以根據(jù)當前內(nèi)存參數(shù)生成待逃生設(shè)備的固件，使得待調(diào)試設(shè)備能夠根據(jù)當前內(nèi)存參數(shù)正常運行。

內(nèi)存參數(shù)可以包括：內(nèi)存阻抗、內(nèi)存電壓、內(nèi)存時序，針對不同的內(nèi)存參數(shù)可以分別進行如下處理：

在本發(fā)明一實施例中，當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存阻抗時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存阻抗調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存阻抗；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則；

所述s3，包括：

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存阻抗，將所述當前內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，進一步包括：

對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第一測試結(jié)果，將所述當前第一測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述s4，包括：

所述調(diào)試端根據(jù)所述當前第一測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存阻抗是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存阻抗和所述內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述s5，包括：

所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗作為所述當前內(nèi)存阻抗，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟s1。

在本發(fā)明實施例中，調(diào)試模塊對內(nèi)存進行讀寫測試，具體地，調(diào)試模塊控制cpu發(fā)送數(shù)據(jù)給內(nèi)存，實現(xiàn)寫操作，內(nèi)存發(fā)送數(shù)據(jù)給cpu，實現(xiàn)讀操作。

內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則可以根據(jù)待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存控制器的設(shè)計手冊的要求來生成。

調(diào)試模塊在獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存阻抗時，具體是從待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存控制器的寄存器中獲取，內(nèi)存控制器的多個寄存器中存儲當前內(nèi)存阻抗，在獲取時，從多個寄存器中獲取當前內(nèi)存阻抗，當前內(nèi)存阻抗是一組值。

在本發(fā)明一實施例中，當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存電壓調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存電壓；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則；

所述s3，包括：

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存電壓，將所述當前內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，進一步包括：

對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第二測試結(jié)果，將所述當前第二測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述s4，包括：

所述調(diào)試端根據(jù)所述當前第二測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存電壓是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存電壓和所述內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述s5，包括：

所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓作為所述當前內(nèi)存電壓，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟s1。

在本發(fā)明實施例中，調(diào)試模塊對內(nèi)存進行讀寫測試，具體地，調(diào)試模塊控制cpu發(fā)送數(shù)據(jù)給內(nèi)存，實現(xiàn)寫操作，內(nèi)存發(fā)送數(shù)據(jù)給cpu，實現(xiàn)讀操作。

內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則可以根據(jù)待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存控制器的設(shè)計手冊的要求來生成，

調(diào)試模塊在獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存電壓時，具體是從待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存控制器的寄存器中獲取，內(nèi)存控制器的多個寄存器中存儲當前內(nèi)存電壓，在獲取時，從多個寄存器中獲取當前內(nèi)存電壓，當前內(nèi)存電壓是一組值。

在本發(fā)明一實施例中，調(diào)試模塊對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前測試結(jié)果，具體可以通過以下步驟實現(xiàn)：

a1：調(diào)試模塊控制cpu對內(nèi)存進行寫操作，然后，控制cpu對內(nèi)存進行讀操作，比較寫入的數(shù)據(jù)與讀出的數(shù)據(jù)是否相同，如果是，執(zhí)行a2，否則，執(zhí)行a3；

a2：讀寫次數(shù)加一，判斷讀寫次數(shù)是否等于預設(shè)次數(shù)，如果是，則生成當前測試結(jié)果，其中，當前測試結(jié)果中包括：數(shù)據(jù)讀寫一致；否則，返回a1；

a3：生成當前測試結(jié)果，其中，當前測試結(jié)果中包括：數(shù)據(jù)讀寫不一致。

調(diào)試端根據(jù)當前測試結(jié)果，判斷當前內(nèi)存參數(shù)是否存在異常，具體可以通過以下步驟實現(xiàn)：

在當前測試結(jié)果為數(shù)據(jù)讀寫不一致時，調(diào)試端判斷當前內(nèi)存參數(shù)存在異常；

在當前測試結(jié)果為數(shù)據(jù)讀寫一致時，調(diào)試端判斷當前內(nèi)存參數(shù)不存在異常。

在本發(fā)明實施例中，當前測試結(jié)果可以是當前第一測試結(jié)果或者當前第二測試結(jié)果，該實施例可以用于對內(nèi)存阻抗或者內(nèi)存電壓調(diào)整。

通過該方式實現(xiàn)對內(nèi)存的讀寫測試，能夠測試出內(nèi)存參數(shù)對數(shù)據(jù)讀寫的影響，如果不能保證連續(xù)預設(shè)次數(shù)次讀寫操作均達到數(shù)據(jù)讀寫一致，則說明當前內(nèi)存參數(shù)會導致內(nèi)存數(shù)據(jù)的讀寫錯誤，需要進一步調(diào)整。

在本發(fā)明一實施例中，當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存時序時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存時序調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存時序；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則。

在本發(fā)明實施例中，內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則可以根據(jù)jdec(內(nèi)存規(guī)范)的規(guī)范來確定。在確定當前內(nèi)存時序是否存在異常時，可以通過內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則來確定。舉例來說，當前內(nèi)存時序不符合內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則，則說明當前內(nèi)存實現(xiàn)存在異常。

在本發(fā)明一實施例中，當所述調(diào)試端判斷出所述當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常時，執(zhí)行：

a1：所述調(diào)試端向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令，以使所述待調(diào)試設(shè)備根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)進入操作系統(tǒng)；

a2：當所述待調(diào)試設(shè)備成功進入所述操作系統(tǒng)時，所述調(diào)試模塊向所述調(diào)試端發(fā)送系統(tǒng)啟動成功的信息；

a3：所述調(diào)試端在接收到所述系統(tǒng)啟動成功的信息時，判斷系統(tǒng)啟動成功的次數(shù)是否為預設(shè)值，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)生成所述待調(diào)試設(shè)備的固件，否則，執(zhí)行a1。

在本發(fā)明實施例中，當?shù)谝淮螌Υ{(diào)試設(shè)備進行正常啟動時，可以先重啟待調(diào)試設(shè)備，使得待調(diào)試設(shè)備進入等待指令狀態(tài)，等待接收調(diào)試端發(fā)來的正常啟動指令，待調(diào)試設(shè)備在接收到正常啟動指令時，嘗試引導進入操作系統(tǒng)，進入操作系統(tǒng)后，調(diào)試端可以通過調(diào)試模塊給操作系統(tǒng)發(fā)送正常啟動指令。這里的預設(shè)值可以是200次。這里的固件可以用于大規(guī)模的測試驗證工作。

在本發(fā)明一實施例中，所述調(diào)試模塊部署在所述待調(diào)試設(shè)備的bios中。

在本發(fā)明實施例中，調(diào)試模塊作為待調(diào)試設(shè)備的bios的一部分，這樣調(diào)試模塊可以對待調(diào)試設(shè)備進行操作。

在本發(fā)明一實施例中，所述s5中，所述將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，包括：

將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)寫入所述待調(diào)試設(shè)備的flash中，使得所述待調(diào)試設(shè)備利用所述flash中的所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)啟動。

在本發(fā)明實施例中，通過將調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)保存到flash中，使得調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)在待調(diào)試設(shè)備啟動時能夠被使用。

在本發(fā)明實施例中，待調(diào)試設(shè)備的處理器可以是國產(chǎn)處理器。通過本發(fā)明實施例提供的方案，可以對安裝國產(chǎn)處理器的待調(diào)試設(shè)備進行內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整。

在本發(fā)明實施例中，可以使用該方法分別對內(nèi)存時序、內(nèi)存阻抗和內(nèi)存電壓進行調(diào)整，獲取不存在異常的內(nèi)存時序、內(nèi)存阻抗和內(nèi)存電壓。在進行調(diào)整時，可以先調(diào)整內(nèi)存時序，在獲取不存在異常的內(nèi)存時序后，基于不存在異常的內(nèi)存時序?qū)?nèi)存阻抗和內(nèi)存電壓進行調(diào)整。

如圖2所示，本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法，該方法可以包括以下步驟：

步驟200：預先設(shè)置內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則。

具體地，內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則可以根據(jù)用戶的經(jīng)驗設(shè)置，也可以根據(jù)內(nèi)存的相關(guān)規(guī)范來設(shè)置。針對不同的內(nèi)存參數(shù)設(shè)置不動的調(diào)整規(guī)則。

步驟201：部署在待調(diào)試設(shè)備中的調(diào)試模塊向調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息，其中，待調(diào)試設(shè)備按照當前內(nèi)存參數(shù)運行。

具體地，調(diào)試模塊可以獲取待調(diào)試設(shè)備的狀態(tài)信息，當根據(jù)該狀態(tài)信息可以確定出待調(diào)試設(shè)備已經(jīng)準備就緒，則發(fā)送待調(diào)試信息。

具體地，待調(diào)試信息可以是待調(diào)試設(shè)備準備就緒的信息，通知調(diào)試端可以進行后續(xù)的內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整處理。

該步驟在內(nèi)存控制器初始化執(zhí)行，可以通過串口向調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息，并暫停待調(diào)試設(shè)備，等待調(diào)試端的內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令。

步驟202：調(diào)試端根據(jù)待調(diào)試信息，向調(diào)試模塊發(fā)送內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令。

具體地，調(diào)試端在接收到待調(diào)試信息后，確定待調(diào)試設(shè)備已經(jīng)準備就緒，可以發(fā)送內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令。

步驟203：調(diào)試模塊在接收到內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)，將當前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給調(diào)試端。

步驟204：調(diào)試端判斷當前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，依次執(zhí)行步驟205、步驟206，否則，執(zhí)行步驟207。

具體地，可以預先設(shè)置用于判斷當前內(nèi)存參數(shù)是否存在異常的判斷規(guī)則，該判斷規(guī)則可以根據(jù)內(nèi)存參數(shù)相關(guān)規(guī)范來設(shè)置。

步驟205：根據(jù)當前內(nèi)存參數(shù)和內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給調(diào)試模塊。

具體地，可以在當前內(nèi)存參數(shù)的基礎(chǔ)上，基于內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整，例如：當內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時，當前內(nèi)存電壓中包括：4個電壓值，可以根據(jù)內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則，針對每個電壓值，對當前電壓值加上一個電壓增量，實現(xiàn)對當前電壓值的調(diào)整，這里的電壓增量可以是正數(shù)、0或負數(shù)。

步驟206：調(diào)試模塊接收調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為當前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動待調(diào)試設(shè)備，返回步驟201。

具體地，調(diào)試模塊在接收到調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)配置到相應的內(nèi)存控制器的寄存器中。例如：當內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時，當前內(nèi)存電壓中包括：4個電壓值，其中，電壓值a是從寄存器a中獲取的，這時，對電壓值a進行調(diào)整后得到電壓值a1，調(diào)整模塊將電壓值a1保存到寄存器a中。重新啟動待調(diào)試設(shè)備，待調(diào)試設(shè)備會根據(jù)調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)啟動。

步驟207：調(diào)試端向調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令，以使待調(diào)試設(shè)備根據(jù)當前內(nèi)存參數(shù)進入操作系統(tǒng)。

具體地，為了驗證當前內(nèi)存參數(shù)是否能夠引導待調(diào)試設(shè)備進入操作系統(tǒng)，調(diào)試端向調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令。

步驟208：調(diào)試模塊判斷待調(diào)試設(shè)備是否成功進入操作系統(tǒng)，如果是，則，執(zhí)行步驟209，否則，執(zhí)行步驟210，

具體地，通過系統(tǒng)啟動成功的信息可以通知調(diào)試端當前內(nèi)存參數(shù)的運行情況，使得調(diào)試端能夠進行后續(xù)處理。

步驟209：調(diào)試模塊向調(diào)試端發(fā)送系統(tǒng)啟動成功的信息，執(zhí)行步驟211。

步驟210：調(diào)試模塊確定調(diào)試失敗，結(jié)束當前流程。

調(diào)試模塊在確定出調(diào)試失敗后，可以通知調(diào)試端調(diào)試失敗。調(diào)試端在確定調(diào)試失敗后，結(jié)束當前流程，并可以通知相關(guān)工作人員。

步驟211：調(diào)試端在接收到系統(tǒng)啟動成功的信息時，判斷系統(tǒng)啟動成功的次數(shù)是否為預設(shè)值，如果是，執(zhí)行步驟212，則否則，執(zhí)行步驟207。

具體地，為了保證當前內(nèi)存參數(shù)的穩(wěn)定性，需要進行多次啟動測試，只有連續(xù)預設(shè)值次使得待調(diào)試設(shè)備成功進入操作系統(tǒng)，當前內(nèi)存參數(shù)才是穩(wěn)定的，可以生成待調(diào)試設(shè)備的固件，進行廣泛使用。如果不能連續(xù)預設(shè)值次使得待調(diào)試設(shè)備成功進入操作系統(tǒng)，則當前內(nèi)存參數(shù)是不穩(wěn)定的，需要重新調(diào)試。

步驟212：根據(jù)當前內(nèi)存參數(shù)生成待調(diào)試設(shè)備的固件。

具體地，可以將該固件安裝在各個相同配置的設(shè)備上。

在本發(fā)明實施例中，調(diào)試端可以運行在調(diào)試用的計算機，該計算機可以通過串口數(shù)據(jù)線與待調(diào)試設(shè)備相連。

待調(diào)試設(shè)備設(shè)置的處理器可以是國產(chǎn)處理器，針對不同的國產(chǎn)處理器，只需修改相應的內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則即可，可以使用同一調(diào)試平臺完成不同國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)適配工作。

在本發(fā)明實施例中，通過部署在待調(diào)試設(shè)備上的調(diào)試模塊、調(diào)試端以及預先設(shè)置的內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則，可以對待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存參數(shù)進行調(diào)試，以使的調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)能夠適配于待調(diào)試設(shè)備，無需人工進行調(diào)試，有效提高了產(chǎn)品研發(fā)階段固件的調(diào)試效率。

如圖3所示，本發(fā)明實施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的裝置，包括：

調(diào)試模塊301和調(diào)試端302；

所述調(diào)試模塊301部署在待調(diào)試設(shè)備中，其中，所述待調(diào)試設(shè)備按照當前內(nèi)存參數(shù)運行；

所述調(diào)試模塊301，用于向所述調(diào)試端302發(fā)送待調(diào)試信息；在接收到所述調(diào)試端302發(fā)來的內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存參數(shù)，將所述當前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試端302；在接收到所述調(diào)試端302發(fā)來的調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)后，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回所述向所述調(diào)試端302發(fā)送待調(diào)試信息；

所述調(diào)試端302，用于保存內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則，在接收到所述調(diào)試模塊301發(fā)來的所述待調(diào)試信息后，向所述調(diào)試模塊301發(fā)送所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令；在接收到所述調(diào)試模塊301發(fā)來的所述當前內(nèi)存參數(shù)后，判斷所述當前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)和所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試模塊301。

在本發(fā)明一實施例中，當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存阻抗時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存阻抗調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存阻抗；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存阻抗，將所述當前內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊，進一步用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第一測試結(jié)果，將所述當前第一測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試端，用于當接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的所述當前內(nèi)存阻抗和所述當前第一測試結(jié)果后，根據(jù)所述當前第一測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存阻抗是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存阻抗和所述內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗后，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗作為所述當前內(nèi)存阻抗，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回所述向所述調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息。

在本發(fā)明一實施例中，當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存電壓調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存電壓；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當前內(nèi)存電壓，將所述當前內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊，進一步用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進行讀寫測試，確定讀寫測試的當前第二測試結(jié)果，將所述當前第二測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試端，用于當接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的所述當前內(nèi)存電壓和所述當前第二測試結(jié)果后，根據(jù)所述當前第二測試結(jié)果，判斷所述當前內(nèi)存電壓是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存電壓和所述內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述調(diào)試模塊，用于在接收到所述調(diào)試端發(fā)來的所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓后，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓作為所述當前內(nèi)存電壓，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回所述向所述調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息。

在本發(fā)明一實施例中，所述調(diào)試端，進一步用于當判斷出所述當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常時，向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令，以使所述待調(diào)試設(shè)備根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)進入操作系統(tǒng)；在接收到所述調(diào)試模塊發(fā)來的系統(tǒng)啟動成功的信息時，判斷系統(tǒng)啟動成功的次數(shù)是否為預設(shè)值，如果是，則根據(jù)所述當前內(nèi)存參數(shù)生成所述待調(diào)試設(shè)備的固件，否則，返回所述向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令；

所述調(diào)試模塊，進一步用于當所述待調(diào)試設(shè)備成功進入所述操作系統(tǒng)時，向所述調(diào)試端發(fā)送所述系統(tǒng)啟動成功的信息。

在本發(fā)明一實施例中，當所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存時序時，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存時序調(diào)試指令；

所述當前內(nèi)存參數(shù)為當前內(nèi)存時序；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存時序的調(diào)整規(guī)則。

在本發(fā)明一實施例中，所述調(diào)試模塊部署在所述待調(diào)試設(shè)備的bios中。

在本發(fā)明一實施例中，所述調(diào)試模塊，用于將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)寫入所述待調(diào)試設(shè)備的flash中，使得所述待調(diào)試設(shè)備利用所述flash中的所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)啟動。

在本發(fā)明實施例中，調(diào)試端與待調(diào)試設(shè)備可以通過串口數(shù)據(jù)線相連。

上述裝置內(nèi)的各單元之間的信息交互、執(zhí)行過程等內(nèi)容，由于與本發(fā)明方法實施例基于同一構(gòu)思，具體內(nèi)容可參見本發(fā)明方法實施例中的敘述，此處不再贅述。

本發(fā)明各個實施例至少具有如下有益效果：

1、在本發(fā)明實施例中，通過調(diào)試模塊獲取待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)，通過調(diào)試端判斷出當前內(nèi)存參數(shù)有異常時，根據(jù)預先設(shè)置的內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則和當前內(nèi)存參數(shù)進行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，直到待調(diào)試設(shè)備的當前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常，無需通過人工進行調(diào)整，能夠更加簡單地調(diào)整內(nèi)存參數(shù)。

2、在本發(fā)明實施例中，可以使用該方法分別對內(nèi)存時序、內(nèi)存阻抗和內(nèi)存電壓進行調(diào)整，獲取不存在異常的內(nèi)存時序、內(nèi)存阻抗和內(nèi)存電壓。在進行調(diào)整時，可以先調(diào)整內(nèi)存時序，在獲取不存在異常的內(nèi)存時序后，基于不存在異常的內(nèi)存時序?qū)?nèi)存阻抗和內(nèi)存電壓進行調(diào)整。

需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個······”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同因素。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲在計算機可讀取的存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括：rom、ram、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)中。

最后需要說明的是：以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案，并非用于限定本發(fā)明的保護范圍。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所做的任何修改、等同替換、改進等，均包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。