技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種紅外圖像中暗弱點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)方法，采用8個(gè)方向5×5維度的結(jié)構(gòu)元素來(lái)提取所有可能的不同尺度的目標(biāo)；經(jīng)過(guò)自適應(yīng)閾值處理得到目標(biāo)感興趣區(qū)域，有效提高目標(biāo)信噪比；采用背景邊緣點(diǎn)與點(diǎn)目標(biāo)在局部鄰域分布的判決準(zhǔn)則，將殘余的背景邊緣點(diǎn)剔除；依據(jù)幀間匹配關(guān)系來(lái)剔除噪點(diǎn)并且獲得目標(biāo)運(yùn)動(dòng)軌跡；算法復(fù)雜度不高，滿足實(shí)時(shí)性要求；結(jié)果表明本發(fā)明目標(biāo)檢測(cè)概率高，同時(shí)虛警率較低，具有重要的應(yīng)用價(jià)值。

技術(shù)研發(fā)人員：王德江;劉讓;賈平;車鑫
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.21
技術(shù)公布日：2017.11.07