本發(fā)明涉及暴力熱插拔安全技術領域，更具體的說，涉及一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)。

背景技術：

pcie(peripheralcomponentinterconnectexpress，一種高速串行計算機擴展總線標準)設備是一種支持暴力熱插拔功能的設備，比如現有技術中的pcie固態(tài)硬盤(solidstatedrives，ssd)，其暴力熱插拔功能主要通過pcieswitch芯片實現。pcieswitch芯片根據檢測到的pcie設備暴力熱插拔時的信號變化，對pcie設備的暴力熱插拔動作進行判定并進行相應的處理，以避免連接pcie設備的系統(tǒng)出現宕機等問題。為保證pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的可靠性，通常需要對pcieswitch芯片暴力熱插拔功能進行測試。

傳統(tǒng)測試方案中，一般將待測試pcieswitch芯片與nvme(non-volatilememoryexpress，一種接口協(xié)議)ssd連接，然后通過人工手動插拔nvmessd來檢測pcieswitch芯片的暴力熱插拔功能是否正常，實現對pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的測試。

然而，由于人工每次手動插拔nvmessd的過程都相對繁瑣和費力，因此，手動插拔到一定次數后，手臂都會有酸痛的感覺，所以如何提供一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，以解放人力是本領域技術人員亟需解決的技術問題。

技術實現要素：

有鑒于此，本發(fā)明公開一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，以實現人力解放，節(jié)約人力成本。

一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：復雜可編程邏輯器件cpld、以及分別與所述cpld連接的pcie設備和pcieswitch芯片，其中，所述cpld包括計數器和寄存器；

所述cpld用于將所述pcie設備被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，和所述pcie設備被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，按照預設周期在所述寄存器內交替更換，對所述pcie設備的暴力熱插拔場景進行模擬；

所述pcieswitch芯片用于從所述寄存器讀取設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息對應的設備動作，對所述pcie設備進行相應的處理，其中，所述設備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

優(yōu)選的，還包括：與所述pcieswitch芯片連接的中央處理器cpu；

所述cpu，用于在所述pcieswitch芯片確定讀取的設備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的中斷信息，并根據所述中斷信息中攜帶的所述pcie設備的標識，停止對所述pcie設備進行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設備已斷開連接；

所述cpu，還用于在所述pcieswitch芯片確定讀取的設備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的連接信息，并根據所述連接信息中攜帶的所述pcie設備的標識，對所述pcie設備進行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設備已連接。

一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法，所述方法由系統(tǒng)執(zhí)行，所述系統(tǒng)包括：復雜可編程邏輯器件cpld、以及分別與所述cpld連接的pcie設備和pcieswitch芯片，其中，所述cpld包括計數器和寄存器；

所述方法包括：

所述cpld將所述pcie設備被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，和所述pcie設備被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，按照預設周期在所述寄存器內交替更換，對所述pcie設備的暴力熱插拔場景進行模擬；

所述pcieswitch芯片從所述寄存器讀取設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息對應的設備動作，對所述pcie設備進行相應的處理，其中，所述設備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

優(yōu)選的，當所述系統(tǒng)還包括中央處理器cpu時，所述方法還包括：

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的中斷信息，并根據所述中斷信息中攜帶的所述pcie設備的標識，停止對所述pcie設備進行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設備已斷開連接；

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的連接信息，并根據所述連接信息中攜帶的所述pcie設備的標識，對所述pcie設備進行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設備已連接。

從上述的技術方案可知，本發(fā)明公開了一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：cpld、以及分別與cpld連接的pcie設備和pcieswitch芯片，cpld將pcie設備被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，和pcie設備被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，按照預設周期在寄存器內交替更換，對pcie設備的暴力熱插拔場景進行模擬，pcieswitch芯片從寄存器讀取設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息對應的設備動作，對pcie設備進行相應的處理。本發(fā)明通過cpld模擬pcie設備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設備的過程，從而不僅實現了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數，增加測試的可靠性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據公開的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結構示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例公開的另一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結構示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法流程圖。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

本發(fā)明實施例公開了一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，以實現人力解放，節(jié)約人力成本。

參見圖1，本發(fā)明一實施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結構示意圖，該系統(tǒng)包括：cpld(omplexprogrammablelogicdevice，復雜可編程邏輯器件)11、以及分別與cpld11連接的pcie設備12和pcieswitch芯片13，其中，cpld11包括計數器和寄存器；

具體的：

cpld11用于將所述pcie設備12被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，和所述pcie設備12被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，按照預設周期在所述寄存器內交替更換，對所述pcie設備12的暴力熱插拔場景進行模擬。

在實際中，cpld11與pcie設備12可以通過gpio(generalpurposeinputoutput，通用輸入/輸出)接口連接，當cpld11與pcie設備12連接后，cpld11首先會通過gpio接口讀取pcie設備12被暴力熱拔出時的設備在位信息，以及pcie設備12被暴力熱插入時的設備在位信息，并進行存儲；然后啟動計數器開始計時，將pcie設備12被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，通常為0，和pcie設備12被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，通過為1，按照預設周期在寄存器內交替更換，即，周期性的模擬pcie設備12的暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

pcieswitch芯片13用于從所述寄存器讀取設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息對應的設備動作，對所述pcie設備12進行相應的處理，其中，所述設備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

在實際中，pcieswitch芯片13通過與cpld11的連接總線，從寄存器讀取寄存器的值，從而得到與寄存器的值相對應的設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息確定pcie設備12的設備動作，從而對pcie設備12進行相應的處理。

需要說明的是，pcie設備12的作用是：當pcieswitch芯片13獲得設備在位信息后，與pcie設備12建立重新連接。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設備的過程，從而不僅實現了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數，增加測試的可靠性。

為進一步優(yōu)化上述實施例，參見圖2，本發(fā)明另一實施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結構示意圖，在圖1所示實施例的基礎上，還包括：cpu(centralprocessingunit，中央處理器)14；

cpu14與pcieswitch芯片13連接，用于在pcieswitch芯片13確定讀取的設備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片13生成并輸出的中斷信息，并根據所述中斷信息中攜帶的所述pcie設備的標識，停止對所述pcie設備12進行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片13與所述pcie設備12已斷開連接；

可選地，作為本發(fā)明的一個實施例，當cpu14接收pcieswitch芯片13發(fā)送的中斷信息時，cpu14仍保留pcie設備12的pcie資源，其中，pcie資源包括pcie設備12對應的廠商的身份標識符id、pcie設備的id、pcie設備所需的總線的id、pcie設備所具有的功能的id和pcie設備的內存空間的地址資源。

所述cpu14，還用于在所述pcieswitch芯片13確定讀取的設備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片13生成并輸出的連接信息，并根據所述連接信息中攜帶的所述pcie設備12的標識，對所述pcie設備12進行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片13與所述pcie設備12已連接。

本發(fā)明實施例中對cpld11的數量不做限定，可以為一個、兩個或多個。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設備的過程，從而不僅實現了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數，增加測試的可靠性。

與上述系統(tǒng)實施例相對應，本發(fā)明還公開了一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法。

參見圖3，本發(fā)明一實施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法流程圖，該方法由系統(tǒng)執(zhí)行，所述系統(tǒng)包括：cpld(omplexprogrammablelogicdevice，復雜可編程邏輯器件)、以及分別與所述cpld連接的pcie設備和pcieswitch芯片，其中，所述cpld包括計數器和寄存器；

所述方法包括：

步驟s101、所述cpld將所述pcie設備被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，和所述pcie設備被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，按照預設周期在所述寄存器內交替更換，對所述pcie設備的暴力熱插拔場景進行模擬；

在實際中，cpld11與pcie設備12可以通過gpio(generalpurposeinputoutput，通用輸入/輸出)接口連接，當cpld11與pcie設備12連接后，cpld11首先會通過gpio接口獲取pcie設備12被暴力熱拔出時的設備在位信息，以及pcie設備12被暴力熱插入時的設備在位信息，并進行存儲；然后啟動計數器開始計時，將pcie設備12被暴力熱拔出時的設備在位信息對應的寄存器的值，和pcie設備12被暴力熱插入時的設備在位信息對應的寄存器的值，按照預設周期在寄存器內交替更換，即，周期性的模擬pcie設備12的暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

步驟s102、所述pcieswitch芯片從所述寄存器讀取設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息對應的設備動作，對所述pcie設備進行相應的處理，其中，所述設備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

在實際中，pcieswitch芯片13通過與cpld11的連接總線，從寄存器讀取寄存器的值，從而得到與寄存器的值相對應的設備在位信息，并根據讀取的設備在位信息確定pcie設備12的設備動作，從而對pcie設備12進行相應的處理。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設備的過程，從而不僅實現了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數，增加測試的可靠性。

為進一步優(yōu)化上述實施例，當系統(tǒng)還包括中央處理器cpu時，所述方法還包括：

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的中斷信息，并根據所述中斷信息中攜帶的所述pcie設備的標識，停止對所述pcie設備進行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設備已斷開連接；

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的連接信息，并根據所述連接信息中攜帶的所述pcie設備的標識，對所述pcie設備進行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設備已連接。

可選地，作為本發(fā)明的一個實施例，當cpu接收pcieswitch芯片發(fā)送的中斷信息時，cpu仍保留pcie設備的pcie資源，其中，pcie資源包括pcie設備對應的廠商的身份標識符id、pcie設備的id、pcie設備所需的總線的id、pcie設備所具有的功能的id和pcie設備的內存空間的地址資源。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設備的過程，從而不僅實現了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數，增加測試的可靠性。

最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關系術語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關系或者順序。而且，術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設備中還存在另外的相同要素。

本說明書中各個實施例采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似部分互相參見即可。

對所公開的實施例的上述說明，使本領域專業(yè)技術人員能夠實現或使用本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領域的專業(yè)技術人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。