本發(fā)明涉及系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，具體地說(shuō)是基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
：：目前，服務(wù)器的安全性能要求非常高，主要體現(xiàn)在ras性能上，ras代表reliability（可信）、availablity（可用）以及service-ability（服務(wù)能力），相對(duì)于一個(gè)服務(wù)器測(cè)試平臺(tái)，平臺(tái)的ras特性是一個(gè)可以設(shè)置的特性，這個(gè)特性可以增加平臺(tái)的可信度、可用性和服務(wù)能力；ras測(cè)試是為了測(cè)試平臺(tái)的故障處理和容錯(cuò)能力；ras特性設(shè)置的核心是硬件機(jī)制檢查體系(mcamachinecheckarchitecture)目的是通過偵測(cè)，校正，恢復(fù)錯(cuò)誤，這些需要處理器內(nèi)核處理機(jī)制支持，并且ras特性可通過平臺(tái)軟件正確配置，ras性能是個(gè)綜合性指標(biāo)，對(duì)于不同行業(yè)用戶而言，其對(duì)ras性能的要求是不盡相同的。pcie是服務(wù)器的重要組成部分，針對(duì)pcie方面的ras特性，如何能夠?qū)崿F(xiàn)基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試是目前存在的技術(shù)問題。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是提供基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)及方法，來(lái)解決pcie是服務(wù)器的重要組成部分，針對(duì)pcie方面的ras特性，如何能夠?qū)崿F(xiàn)基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試的問題。本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是按以下方式實(shí)現(xiàn)的，基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括待測(cè)服務(wù)器、pcie注錯(cuò)硬件工具和pcie注錯(cuò)軟件工具，所述pcie注錯(cuò)硬件工具安裝到待測(cè)服務(wù)器的pcie槽位，pcie注錯(cuò)軟件工具安裝到待測(cè)服務(wù)器上，待測(cè)服務(wù)器配置支持pcieras的cpu和至少一個(gè)硬盤，cpu至少有4g內(nèi)存，待測(cè)服務(wù)器上使用最新bios和bmc，bios支持最新ras特性。pcieras錯(cuò)誤注入測(cè)試ras錯(cuò)誤架構(gòu)源于intel處理器iioia和pcieio的aer錯(cuò)誤，一般來(lái)說(shuō)，pcieio總線毀壞和故障測(cè)試都可以通過pcieras注錯(cuò)測(cè)試覆蓋；pcie結(jié)構(gòu)概述術(shù)語(yǔ)解釋：pci-express的系統(tǒng)中分為rootcomplex,switch,pciebrige,endpoint四大類設(shè)備。rootcomplex是根復(fù)合體：就是pcie根控制器，多由cpu集成,rc的主要功能與pci總線中的host主橋類似，但是在host主橋的基礎(chǔ)上增加了許多功能，rc可以理解為一個(gè)pcie總線控制器，在x86處理器的體系結(jié)構(gòu)中，rc并不僅僅管理pcie設(shè)備的數(shù)據(jù)訪問，而且還包含訪問控制、錯(cuò)誤處理和虛擬化技術(shù)等一系列內(nèi)容。switch：是指交換器，可以擴(kuò)展pcie總線。pciebrige：是橋接，負(fù)責(zé)pcie和其他總線轉(zhuǎn)換。endpoint：是終結(jié)點(diǎn)，端點(diǎn)設(shè)備。如一般的pcie接口網(wǎng)卡設(shè)備，串口卡設(shè)備，存儲(chǔ)卡設(shè)備。整個(gè)pcieras注錯(cuò)測(cè)試方法是基于pcie協(xié)議中相關(guān)內(nèi)容，pcie協(xié)議是分層協(xié)議，分為物理層，數(shù)據(jù)鏈路層，傳輸層，命令層和應(yīng)用層，所有cmd/data由應(yīng)用層和命令層打下來(lái)，每向下走一層，多一層封裝和變換，最后通過差分總線傳輸出去，應(yīng)用層和命令層打下來(lái)的cmd/data以tlp的格式封裝起來(lái)，送給數(shù)據(jù)鏈路層，鏈路層給其加上sequence前綴和crc后綴，成為一個(gè)完整的數(shù)據(jù)報(bào)文結(jié)構(gòu)，送到物理層，經(jīng)過8b/10b或者128b/130b編碼后發(fā)送出去。當(dāng)處理器或者其他pcie設(shè)備訪問pcie設(shè)備時(shí)，所傳送的數(shù)據(jù)報(bào)文首先通過事務(wù)層被封裝為一個(gè)或者多個(gè)tlp，之后才能通過pcie總線的各個(gè)層次發(fā)送出去。一個(gè)完整的tlp由1個(gè)或者多個(gè)tlpprefix、tlp頭、datapayload(數(shù)據(jù)有效負(fù)載)和tlpdigest組成。tlp頭是tlp最重要的標(biāo)志，不同的tlp其頭的定義并不相同。tlp頭包含了當(dāng)前tlp的總線事務(wù)類型、路由信息等一系列信息。在一個(gè)tlp中，datapayload的長(zhǎng)度可變，最小為0，最大為1024dw；tlp頭由3個(gè)或者4個(gè)雙字(dw)組成。其中第一個(gè)雙字中保存通用tlp頭，其他字段與通用tlp頭的type字段相關(guān)。一個(gè)通用tlp頭由fmt、type、tc、length等字段組成，pcie總線規(guī)范使用fmt字段區(qū)分讀寫請(qǐng)求，當(dāng)fmt字段是“帶數(shù)據(jù)”的報(bào)文，一定是“寫報(bào)文”；當(dāng)fmt字段是“不帶數(shù)據(jù)”的報(bào)文，一定是“讀報(bào)文”。fmt和type字段確認(rèn)當(dāng)前tlp使用的總線事務(wù)，tlp頭的大小是由3個(gè)雙字還是4個(gè)雙字組成，當(dāng)前tlp是否包含有效負(fù)載。pcieras錯(cuò)誤類型包括三種，后面測(cè)試方法會(huì)覆蓋這三種錯(cuò)誤：（1）、可修正錯(cuò)誤（correctible）；（2）、不可修正錯(cuò)誤：非致命錯(cuò)誤（uncorrectable：non-fatal）；（3）、不可修正錯(cuò)誤：致命錯(cuò)誤（uncorrectable：fatal）。作為優(yōu)選，所述pcie注錯(cuò)硬件工具采用agilenthwcardmodel:agilentu4305apcie協(xié)議分析儀。作為優(yōu)選，所述pcie注錯(cuò)軟件工具采用agilentex3softwareforagilentu4305a和pcie_ras_gui_2。基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試方法，該方法包括如下步驟：（1）、將安捷倫測(cè)試治具安裝到待測(cè)服務(wù)器的pcie槽位，待測(cè)服務(wù)器上電開機(jī)；（2）、建立測(cè)試連接，步驟如下：（a）、待測(cè)服務(wù)器系統(tǒng)下運(yùn)行pcie_ras_gui_2_8，并單擊opensession；（b）、安捷倫測(cè)試治具和pcie控制器間建立連接，連接建立成功會(huì)有如下提示：（?。?、控制臺(tái)會(huì)自動(dòng)打開命令窗口；（ⅱ）、命令窗口文本的狀態(tài)：addingporttosession–pleasewait；（ⅲ）、如果測(cè)試通過命令窗口將提示connectedtosession，否則測(cè)試不通過；（3）、運(yùn)行readlink狀態(tài)測(cè)試，readlinkstate測(cè)試用于驗(yàn)證安捷倫測(cè)試治具連接狀態(tài)和對(duì)待測(cè)服務(wù)器的pcie槽位進(jìn)行健康度檢查，步驟如下：（a）、在pcie_ras_gui_2_8界面下單擊readlinkstate圖標(biāo)；（b）、安捷倫測(cè)試治具（治具本身為pciex1卡）將讀取當(dāng)前pcie槽位的鏈接速度和鏈接帶寬：（ⅰ）、控制臺(tái)自動(dòng)打開，打開對(duì)話框上會(huì)輸出狀態(tài)信息；（ⅱ）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：命令窗口提示x1linkwidth和linkisactive；例如待測(cè)pcie槽位為pciegen3槽位，測(cè)試通過結(jié)果為：x1linkwidthand8gt/s；（4）、lcrc后綴錯(cuò)誤容忍度測(cè)試，lcrc循環(huán)冗余校驗(yàn)碼，pcielcrc測(cè)試是通過lcrc校驗(yàn)和連續(xù)性校驗(yàn)驗(yàn)證pcie數(shù)據(jù)連接層數(shù)據(jù)連接層交換信息在傳輸過程中對(duì)電子噪音干擾的承受度；測(cè)試類型：可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectlcrcerror，進(jìn)行l(wèi)crc錯(cuò)誤注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（ⅰ）、可修正錯(cuò)誤注入后將不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼lcrc錯(cuò)誤并將lcrc錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：lcrcerrorhasoccurredonthepciedev1/funtion3；（5）、sequence前綴錯(cuò)誤容忍度測(cè)試，pcie信號(hào)序列錯(cuò)位是通過軟件注入錯(cuò)誤序列碼實(shí)現(xiàn)；測(cè)試類型：可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectbadsequence，進(jìn)行badsequence錯(cuò)誤注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、可修正錯(cuò)誤注入后將不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼badsequence錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportsacorrectible:pciexpressbadtllperror；（6）、payloadsize容忍度測(cè)試，payloadsize參數(shù)決定了一個(gè)數(shù)據(jù)鏈接層采用按序的交換層信息包報(bào)文可能使用的最大有效負(fù)載，pcie總線規(guī)定payloadsize的最大值為4096b，但是許多pcie設(shè)備不一定能夠支持這么大的負(fù)載。在實(shí)際應(yīng)用中，pcie設(shè)備的支持的payloadsize參數(shù)通常是鏈路兩端的pcie設(shè)備進(jìn)行協(xié)商，確定的實(shí)際使用值，通過injectincorrectpayloadsize注錯(cuò)有效的驗(yàn)證pcie鏈路對(duì)超負(fù)載的承受度；測(cè)試類型：可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectincorrectpayloadsize，進(jìn)行payload超負(fù)載注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、可修正錯(cuò)誤注入后將不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciexpressbadtllperror；（7）、tlp包錯(cuò)誤測(cè)試，fmt和type字段確認(rèn)當(dāng)前tlp使用的總線事務(wù)，tlp包錯(cuò)誤測(cè)試通過設(shè)置fmt超出spec范圍來(lái)模擬tlp報(bào)錯(cuò)誤用于驗(yàn)證tlp錯(cuò)誤容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectmalformedtlp，進(jìn)行tlpfmt溢出數(shù)值注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、系統(tǒng)將停止運(yùn)行，并產(chǎn)生不可屏蔽中斷導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)死機(jī)宕機(jī)藍(lán)屏的現(xiàn)象；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：malformedtlp；（8）、poisonedtlp硬件錯(cuò)誤注入測(cè)試；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectpoisonedtlp，進(jìn)行poisonedtlp注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（ⅰ）、錯(cuò)誤注入后系統(tǒng)將正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportspoisonedtlp；（9）、數(shù)據(jù)鏈路層surprisedown錯(cuò)誤注入測(cè)試，通過發(fā)送linkdownerr_fatal到pcie根控制器停止響應(yīng)服務(wù)器，幾秒后恢復(fù)pcielink重新online用于驗(yàn)證pcilinkdown對(duì)系統(tǒng)的影響度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectsurpriselinkdown，進(jìn)行pcielinkdown指令注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、系統(tǒng)將停止運(yùn)行，并產(chǎn)生不可屏蔽中斷導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)死機(jī)宕機(jī)藍(lán)屏的現(xiàn)象；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：criticalevent:pciefatsensorreportsafatalpciexpresssurpriselinkdownerror；（10）、終端硬件錯(cuò)誤注入測(cè)試，硬件錯(cuò)誤注入測(cè)試是基于tlp發(fā)出去后，如果接收正確，接收端回復(fù)一個(gè)ack命令正確應(yīng)答（tlps能通過lcrc校驗(yàn)和連續(xù)性校驗(yàn)的稱為ack），如果接收端接收到錯(cuò)誤的tlp，則回復(fù)nack沒有應(yīng)答，沒有應(yīng)答的tlps或者等待超時(shí)的tlps會(huì)被重新傳輸，本測(cè)試通過模擬pcie根控制器無(wú)響應(yīng)用于驗(yàn)證無(wú)應(yīng)答用于驗(yàn)證終端錯(cuò)誤指令注入系統(tǒng)容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectsurpriselinkdown，進(jìn)行pcielinkdown指令注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、系統(tǒng)將停止運(yùn)行，并產(chǎn)生不可屏蔽中斷導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)死機(jī)宕機(jī)藍(lán)屏的現(xiàn)象；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportscompletionabort；（11）、pcie數(shù)據(jù)夭折驗(yàn)證，status字段保存當(dāng)前完成報(bào)文的完成狀態(tài)，表示當(dāng)前tlp是正確地將數(shù)據(jù)傳遞給數(shù)據(jù)請(qǐng)求端或者在數(shù)據(jù)傳遞過程中出現(xiàn)錯(cuò)誤或者要求數(shù)據(jù)請(qǐng)求方進(jìn)行重試；pcie總線規(guī)定了幾類完成狀態(tài)，ca(completionabort)，數(shù)據(jù)夭折是其中一種狀態(tài)。表示目標(biāo)設(shè)備無(wú)法完成本次數(shù)據(jù)請(qǐng)求，pcie數(shù)據(jù)夭折測(cè)試通過安捷倫測(cè)試治具傳送一個(gè)數(shù)據(jù)夭折信息，用于驗(yàn)證pcie數(shù)據(jù)夭折后服務(wù)器的容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：非致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行sendaca（completerabort）completioncode，進(jìn)行ca指令注入（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、錯(cuò)誤注入后系統(tǒng)將正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportsacompletionabort；（12）、pcie不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求，status字段保存當(dāng)前完成報(bào)文的完成狀態(tài)，表示當(dāng)前tlp是正確地將數(shù)據(jù)傳遞給數(shù)據(jù)請(qǐng)求端或者在數(shù)據(jù)傳遞過程中出現(xiàn)錯(cuò)誤或者要求數(shù)據(jù)請(qǐng)求方進(jìn)行重試；pcie總線規(guī)定了幾類完成狀態(tài)，ur(unsupportedrequest)，不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求是其中一種狀態(tài)。不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求表示目標(biāo)設(shè)備不支持該數(shù)據(jù)請(qǐng)求，通過安捷倫測(cè)試治具傳送一個(gè)不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求，用于驗(yàn)證pcie不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求服務(wù)器的容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：非致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行sendaca（completerabort）completioncode，進(jìn)行ca指令注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、錯(cuò)誤注入后系統(tǒng)將正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportsacorrectible:pciexpressbadtllperror；作為優(yōu)選，所述步驟（2）建立測(cè)試連接前的準(zhǔn)備包括如下內(nèi)容：（1）、確認(rèn)當(dāng)前使用的bios是最新版發(fā)布bios；（2）、清除cmos；（3）、進(jìn)入biossetup界面，按f9使用最優(yōu)默認(rèn)設(shè)置，確認(rèn)numa選項(xiàng)設(shè)置為enbaled；（4）、設(shè)置日期和時(shí)間；（5）、關(guān)閉quietboot功能，并啟用posterrorpause選項(xiàng)；（6）、清空bmc下sel日志信息；（7）、配置安捷倫pcie協(xié)議分析儀測(cè)試工具：（a）、待測(cè)pcie槽位安裝安捷倫測(cè)試治具；（b）、獲取最新的agilent_pcieexerciser_build.exe，在待測(cè)機(jī)器安裝安捷倫測(cè)試治具軟件，所有設(shè)置使用默認(rèn)即可；（c）、工具安裝完成重啟待測(cè)服務(wù)器；（d）、重啟后，雙擊系統(tǒng)桌面上sptlanuchpad圖標(biāo)用于檢查安捷倫測(cè)試治具軟件是否安裝完全；整個(gè)過程全部使用默認(rèn)設(shè)置，全部單擊next直至結(jié)束；（e）、sptlanuchpad應(yīng)用正常執(zhí)行并提示系統(tǒng)下有可用的pcieerrorinjectorcards存在，此時(shí)可以確認(rèn)安捷倫測(cè)試治具及軟件安裝成功；（9）、配置測(cè)試軟件pcie_ras_gui_2_8，需要系統(tǒng)下安裝，按照默認(rèn)安裝即可。本發(fā)明的基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)及方法具有以下優(yōu)點(diǎn)：通過pcieras注錯(cuò)測(cè)試，有效的評(píng)測(cè)服務(wù)器pcie設(shè)計(jì)的故障處理和容錯(cuò)能力，為客戶提供高安全服務(wù)器提供了有力的后端保障，提高產(chǎn)品ras性能，客戶滿意度和產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。附圖說(shuō)明下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明。附圖1為基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。具體實(shí)施方式參照說(shuō)明書附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)及方法作以下詳細(xì)地說(shuō)明。實(shí)施例1：如附圖1所示，本發(fā)明的基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試系統(tǒng)及方法,其結(jié)構(gòu)包括包括待測(cè)服務(wù)器、pcie注錯(cuò)硬件工具和pcie注錯(cuò)軟件工具，pcie注錯(cuò)硬件工具安裝到待測(cè)服務(wù)器的pcie槽位，pcie注錯(cuò)軟件工具安裝到待測(cè)服務(wù)器上，待測(cè)服務(wù)器配置支持pcieras的cpu和至少一個(gè)硬盤，cpu至少有4g內(nèi)存，待測(cè)服務(wù)器上使用最新bios和bmc，bios支持最新ras特性。pcie注錯(cuò)硬件工具采用agilenthwcardmodel:agilentu4305apcie協(xié)議分析儀。pcie注錯(cuò)軟件工具采用agilentex3softwareforagilentu4305a和pcie_ras_gui_2。實(shí)施例2：本發(fā)明的基于pcie協(xié)議分析儀的pcieras注錯(cuò)測(cè)試方法，該方法包括如下步驟：（1）、將安捷倫測(cè)試治具安裝到待測(cè)服務(wù)器的pcie槽位，待測(cè)服務(wù)器上電開機(jī)；（2）、建立測(cè)試連接，步驟如下：（a）、待測(cè)服務(wù)器系統(tǒng)下運(yùn)行pcie_ras_gui_2_8，并單擊opensession；（b）、安捷倫測(cè)試治具和pcie控制器間建立連接，連接建立成功會(huì)有如下提示：（ⅰ）、控制臺(tái)會(huì)自動(dòng)打開命令窗口；（ⅱ）、命令窗口文本的狀態(tài)：addingporttosession–pleasewait；（ⅲ）、如果測(cè)試通過命令窗口將提示connectedtosession，否則測(cè)試不通過；（3）、運(yùn)行readlink狀態(tài)測(cè)試，readlinkstate測(cè)試用于驗(yàn)證安捷倫測(cè)試治具連接狀態(tài)和對(duì)待測(cè)服務(wù)器的pcie槽位進(jìn)行健康度檢查，步驟如下：（a）、在pcie_ras_gui_2_8界面下單擊readlinkstate圖標(biāo)；（b）、安捷倫測(cè)試治具（治具本身為pciex1卡）將讀取當(dāng)前pcie槽位的鏈接速度和鏈接帶寬：（?。⒖刂婆_(tái)自動(dòng)打開，打開對(duì)話框上會(huì)輸出狀態(tài)信息；（ⅱ）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：命令窗口提示x1linkwidth和linkisactive；例如待測(cè)pcie槽位為pciegen3槽位，測(cè)試通過結(jié)果為：x1linkwidthand8gt/s；（4）、lcrc后綴錯(cuò)誤容忍度測(cè)試，lcrc循環(huán)冗余校驗(yàn)碼，pcielcrc測(cè)試是通過lcrc校驗(yàn)和連續(xù)性校驗(yàn)驗(yàn)證pcie數(shù)據(jù)連接層數(shù)據(jù)連接層交換信息在傳輸過程中對(duì)電子噪音干擾的承受度；測(cè)試類型：可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectlcrcerror，進(jìn)行l(wèi)crc錯(cuò)誤注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、可修正錯(cuò)誤注入后將不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼lcrc錯(cuò)誤并將lcrc錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：lcrcerrorhasoccurredonthepciedev1/funtion3；（5）、sequence前綴錯(cuò)誤容忍度測(cè)試，pcie信號(hào)序列錯(cuò)位是通過軟件注入錯(cuò)誤序列碼實(shí)現(xiàn)；測(cè)試類型：可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectbadsequence，進(jìn)行badsequence錯(cuò)誤注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（ⅰ）、可修正錯(cuò)誤注入后將不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼badsequence錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportsacorrectible:pciexpressbadtllperror；（6）、payloadsize容忍度測(cè)試，payloadsize參數(shù)決定了一個(gè)數(shù)據(jù)鏈接層采用按序的交換層信息包報(bào)文可能使用的最大有效負(fù)載，pcie總線規(guī)定payloadsize的最大值為4096b，但是許多pcie設(shè)備不一定能夠支持這么大的負(fù)載。在實(shí)際應(yīng)用中，pcie設(shè)備的支持的payloadsize參數(shù)通常是鏈路兩端的pcie設(shè)備進(jìn)行協(xié)商，確定的實(shí)際使用值，通過injectincorrectpayloadsize注錯(cuò)有效的驗(yàn)證pcie鏈路對(duì)超負(fù)載的承受度；測(cè)試類型：可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectincorrectpayloadsize，進(jìn)行payload超負(fù)載注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。⒖尚拚e(cuò)誤注入后將不影響系統(tǒng)正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciexpressbadtllperror；（7）、tlp包錯(cuò)誤測(cè)試，fmt和type字段確認(rèn)當(dāng)前tlp使用的總線事務(wù)，tlp包錯(cuò)誤測(cè)試通過設(shè)置fmt超出spec范圍來(lái)模擬tlp報(bào)錯(cuò)誤用于驗(yàn)證tlp錯(cuò)誤容忍度，fmt范圍如下表所示：fmt[2:0]tlp的格式0b000tlp大小為3個(gè)雙字，不帶數(shù)據(jù)。0b001tlp大小為4個(gè)雙字，不帶數(shù)據(jù)。0b010tlp大小為3個(gè)雙字，帶數(shù)據(jù)。0b011tlp大小為4個(gè)雙字，帶數(shù)據(jù)。0b100tlpprefix測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectmalformedtlp，進(jìn)行tlpfmt溢出數(shù)值注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、系統(tǒng)將停止運(yùn)行，并產(chǎn)生不可屏蔽中斷導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)死機(jī)宕機(jī)藍(lán)屏的現(xiàn)象；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：malformedtlp；（8）poisonedtlp硬件錯(cuò)誤注入測(cè)試；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：不致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectpoisonedtlp，進(jìn)行poisonedtlp注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、錯(cuò)誤注入后系統(tǒng)將正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportspoisonedtlp；（9）、數(shù)據(jù)鏈路層surprisedown錯(cuò)誤注入測(cè)試，通過發(fā)送linkdownerr_fatal到pcie根控制器停止響應(yīng)服務(wù)器，幾秒后恢復(fù)pcielink重新online用于驗(yàn)證pcilinkdown對(duì)系統(tǒng)的影響度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectsurpriselinkdown，進(jìn)行pcielinkdown指令注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。⑾到y(tǒng)將停止運(yùn)行，并產(chǎn)生不可屏蔽中斷導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)死機(jī)宕機(jī)藍(lán)屏的現(xiàn)象；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：criticalevent:pciefatsensorreportsafatalpciexpresssurpriselinkdownerror；（10）、終端硬件錯(cuò)誤注入測(cè)試，硬件錯(cuò)誤注入測(cè)試是基于tlp發(fā)出去后，如果接收正確，接收端回復(fù)一個(gè)ack命令正確應(yīng)答（tlps能通過lcrc校驗(yàn)和連續(xù)性校驗(yàn)的稱為ack），如果接收端接收到錯(cuò)誤的tlp，則回復(fù)nack沒有應(yīng)答，沒有應(yīng)答的tlps或者等待超時(shí)的tlps會(huì)被重新傳輸，本測(cè)試通過模擬pcie根控制器無(wú)響應(yīng)用于驗(yàn)證無(wú)應(yīng)答用于驗(yàn)證終端錯(cuò)誤指令注入系統(tǒng)容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行injectsurpriselinkdown，進(jìn)行pcielinkdown指令注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、系統(tǒng)將停止運(yùn)行，并產(chǎn)生不可屏蔽中斷導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)死機(jī)宕機(jī)藍(lán)屏的現(xiàn)象；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportscompletionabort；（11）、pcie數(shù)據(jù)夭折驗(yàn)證，status字段保存當(dāng)前完成報(bào)文的完成狀態(tài)，表示當(dāng)前tlp是正確地將數(shù)據(jù)傳遞給數(shù)據(jù)請(qǐng)求端或者在數(shù)據(jù)傳遞過程中出現(xiàn)錯(cuò)誤或者要求數(shù)據(jù)請(qǐng)求方進(jìn)行重試；pcie總線規(guī)定了幾類完成狀態(tài)，ca(completionabort)，數(shù)據(jù)夭折是其中一種狀態(tài)。表示目標(biāo)設(shè)備無(wú)法完成本次數(shù)據(jù)請(qǐng)求，pcie數(shù)據(jù)夭折測(cè)試通過安捷倫測(cè)試治具傳送一個(gè)數(shù)據(jù)夭折信息，用于驗(yàn)證pcie數(shù)據(jù)夭折后服務(wù)器的容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：非致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行sendaca（completerabort）completioncode，進(jìn)行ca指令注入（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、錯(cuò)誤注入后系統(tǒng)將正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportsacompletionabort；（12）、pcie不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求，status字段保存當(dāng)前完成報(bào)文的完成狀態(tài)，表示當(dāng)前tlp是正確地將數(shù)據(jù)傳遞給數(shù)據(jù)請(qǐng)求端或者在數(shù)據(jù)傳遞過程中出現(xiàn)錯(cuò)誤或者要求數(shù)據(jù)請(qǐng)求方進(jìn)行重試；pcie總線規(guī)定了幾類完成狀態(tài)，ur(unsupportedrequest)，不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求是其中一種狀態(tài)。不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求表示目標(biāo)設(shè)備不支持該數(shù)據(jù)請(qǐng)求，通過安捷倫測(cè)試治具傳送一個(gè)不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求，用于驗(yàn)證pcie不支持的數(shù)據(jù)請(qǐng)求服務(wù)器的容忍度；測(cè)試類型：不可修正錯(cuò)誤，嚴(yán)重程度：非致命；測(cè)試步驟如下：（a）、單擊并運(yùn)行sendaca（completerabort）completioncode，進(jìn)行ca指令注入；（b）、測(cè)試通過標(biāo)準(zhǔn)：（?。?、錯(cuò)誤注入后系統(tǒng)將正常運(yùn)行；（ⅱ）、bios解碼錯(cuò)誤并將錯(cuò)誤告知bmc，在bmc的sellog下將會(huì)出現(xiàn)如下日志，例如：pciecorsensorreportsacorrectible:pciexpressbadtllperror；其中，步驟（2）建立測(cè)試連接前的準(zhǔn)備包括如下內(nèi)容：（1）、確認(rèn)當(dāng)前使用的bios是最新版發(fā)布bios；（2）、清除cmos；（3）、進(jìn)入biossetup界面，按f9使用最優(yōu)默認(rèn)設(shè)置，確認(rèn)numa選項(xiàng)設(shè)置為enbaled；（4）、設(shè)置日期和時(shí)間；（5）、關(guān)閉quietboot功能，并啟用posterrorpause選項(xiàng)；（6）、清空bmc下sel日志信息；（7）、配置安捷倫pcie協(xié)議分析儀測(cè)試工具：（a）、待測(cè)pcie槽位安裝安捷倫測(cè)試治具；（b）、獲取最新的agilent_pcieexerciser_build.exe，在待測(cè)機(jī)器安裝安捷倫測(cè)試治具軟件，所有設(shè)置使用默認(rèn)即可；（c）、工具安裝完成重啟待測(cè)服務(wù)器；（d）、重啟后，雙擊系統(tǒng)桌面上sptlanuchpad圖標(biāo)用于檢查安捷倫測(cè)試治具軟件是否安裝完全；整個(gè)過程全部使用默認(rèn)設(shè)置，全部單擊next直至結(jié)束；（e）、sptlanuchpad應(yīng)用正常執(zhí)行并提示系統(tǒng)下有可用的pcieerrorinjectorcards存在，此時(shí)可以確認(rèn)安捷倫測(cè)試治具及軟件安裝成功；（9）、配置測(cè)試軟件pcie_ras_gui_2_8，需要系統(tǒng)下安裝，按照默認(rèn)安裝即可。通過上面具體實(shí)施方式，所述
技術(shù)領(lǐng)域：
：的技術(shù)人員可容易的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。但是應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明并不限于上述的2種具體實(shí)施方式。在公開的實(shí)施方式的基礎(chǔ)上，所述
技術(shù)領(lǐng)域：
：的技術(shù)人員可任意組合不同的技術(shù)特征，從而實(shí)現(xiàn)不同的技術(shù)方案。除說(shuō)明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。當(dāng)前第1頁(yè)12當(dāng)前第1頁(yè)12