本公開一般涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸控顯示面板及其驅(qū)動方法、觸控顯示裝置。

背景技術(shù)：

觸控顯示裝置可以通過觸控電極來檢測手指在觸控顯示裝置的顯示屏平面內(nèi)的坐標位置，并根據(jù)該坐標位置來進行相應的顯示。

目前的觸控顯示裝置中，觸控功能通常由觸控驅(qū)動電極和觸控感應電極來實現(xiàn)。其中，觸控驅(qū)動電極相互平行，觸控感應電極相互平行，且觸控驅(qū)動電極和觸控感應電極的方向相交。向觸控驅(qū)動電極施加觸控掃描信號，當人的手指接觸觸控顯示裝置的屏幕時，手指與屏幕上的某些觸控電極形成耦合電容，并從耦合電容的一個極板(觸控感應電極)流出漏電流。觸控探測電路通過檢測漏電流，確定兩層觸控電極上與手指形成耦合電容的觸控電極驅(qū)動電極和觸控感應電極，從而確定觸摸位置。

然而，當上述的觸控顯示裝置遇到惡劣環(huán)境(例如，沾水)時，觸控感應電極感應到的信號量將急劇減小，嚴重影響了觸摸檢測的精度和靈敏度。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷或不足，期望提供一種觸控顯示面板及其驅(qū)動方法、觸控顯示裝置，以期解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題。

第一方面，本申請實施例提供了一種觸控顯示面板，包括：多條沿第一方向延伸的掃描線；多條沿第二方向延伸的數(shù)據(jù)線；第一觸控電極層，包括多個沿第二方向延伸的第一觸控電極；第二觸控電極陣列，包括M行N列的第二觸控電極，其中，第二觸控電極陣列的行方向平行于第一方向；各第一觸控電極向第二觸控電極陣列的正投影與第二觸控電極陣列的其中一列的各第二觸控電極至少部分地重疊；多個開關(guān)單元，用于將同一行的各第二觸控電極相互電連接或斷開。

第二方面，本申請還提供了觸控顯示面板的驅(qū)動方法，用于驅(qū)動如上的觸控顯示面板，驅(qū)動方法包括：判斷觸控顯示面板的觸摸檢測模式，觸摸檢測模式包括自容檢測模式和互容檢測模式；若觸控顯示面板處于自容檢測模式，則控制各開關(guān)單元關(guān)斷，并在觸控掃描期間向各第二觸控電極分別施加觸控驅(qū)動信號。

第三方面，本申請還提供了觸控顯示裝置，包括如上的觸控顯示面板。

按照本申請實施例的方案，通過在同一行的第二觸控電極之間設(shè)置開關(guān)單元，并在控制端的輸入信號的控制下連接或斷開同一行的第二觸控電極，使得觸控顯示面板可以在互容式觸摸檢測架構(gòu)和自容式觸摸檢測架構(gòu)之間切換，從而提升觸控顯示面板在惡劣環(huán)境下的觸摸檢測精度和靈敏度，并使得觸控顯示面板既擁有自容檢測架構(gòu)觸摸檢測速度快等優(yōu)點又擁有互容檢測架構(gòu)精確度高等優(yōu)點。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細描述，本申請的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯：

圖1示出了本申請的觸控顯示面板的一個實施例的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖2示出了圖1的觸控顯示面板中，其中一行第二觸控電極和對應的開關(guān)單元的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖3示出了本申請的觸控顯示面板的另一個實施例的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖4示出了圖3所示實施例中，第一選通控制電路、第二選通控制電路和相應的第二觸控電極行的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖5示出了本申請的觸控顯示面板工作在互容架構(gòu)下時，各驅(qū)動信號的示意性時序圖；

圖6示出了本申請的觸控顯示面板工作在自容架構(gòu)下時，各驅(qū)動信號的示意性時序圖；

圖7示出了當觸控顯示面板為液晶顯示面板時，本申請的觸控顯示面板的一個實施例的示意性架構(gòu)圖；

圖8示出了本申請的觸控顯示裝置的一個實施例的示意性結(jié)構(gòu)圖；

圖9示出了本申請的觸控顯示面板的驅(qū)動方法的一個實施例的示意性流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本申請作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋相關(guān)發(fā)明，而非對該發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與發(fā)明相關(guān)的部分。

需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實施例來詳細說明本申請。

參見圖1所示，為本申請的觸控顯示面板的一個實施例的示意性結(jié)構(gòu)圖。

本實施例的觸控顯示面板包括如下的結(jié)構(gòu)：

多條沿第一方向D1延伸的掃描線(圖中未示出)和多條沿第二方向D2延伸的數(shù)據(jù)線(圖中未示出)。

第一觸控電極層，包括多個沿第二方向D2延伸的第一觸控電極110。

第二觸控電極陣列，包括M行N列的第二觸控電極120，其中，第二觸控電極陣列的行方向平行于第一方向D1。

各第一觸控電極110向第二觸控電極陣列的正投影與第二觸控電極陣列的其中至少一列的各第二觸控電極120至少部分地重疊。

本實施例的觸控顯示面板還包括多個開關(guān)單元130。參見圖2所示，為第二觸控驅(qū)動電極陣列的其中一行第二觸控電極120與開關(guān)單元130之間的連接關(guān)系示意圖。

下面將結(jié)合圖1和圖2來進一步描述第二觸控電極120與開關(guān)單元130之間的連接關(guān)系。

如圖2所示，各開關(guān)單元130包括控制端131。開關(guān)單元130用于在控制端131的輸入信號的控制下將第二觸控電極陣列中同一行的各第二觸控電極120相互電連接或斷開。

這樣一來，當連接某一行的第二觸控電極120的各開關(guān)單元130在控制端131的控制下斷開時，該行的各個第二觸控電極120之間相互絕緣，在進行觸摸檢測時，第二觸控電極陣列中的各第二觸控電極120可以工作于自容檢測模式。也即是說，各第二觸控電極120可以獨立地接收觸控驅(qū)動信號，并且獨立地采集觸摸感應信號。

另一方面，當連接某一行的第二觸控電極120的各開關(guān)單元130在控制端131的控制下導通時，該行的各個第二觸控電極120之間相互電連接，該行的第二觸控電極120可以工作于互容檢測模式。在進行觸摸檢測時，該行的第二觸控電極120可以同時接收觸控驅(qū)動信號，例如，該行的第二觸控電極其中之一接收觸控驅(qū)動信號，并通過開關(guān)單元130來將該觸控驅(qū)動信號傳輸至該行的其它第二觸控電極120。同時，第一觸控電極110可以采集觸摸感應信號，通過檢測各第一觸控電極110和與該行的第二觸控電極120之間互電容的變化來判斷是否有觸摸。

從以上的描述可以看出，本實施例的觸控顯示面板，在各開關(guān)單元130的控制下，可以將同一行的各個第二觸控電極120電連接或斷開，從而實現(xiàn)觸控顯示面板在自容檢測架構(gòu)和互容檢測架構(gòu)下的相互切換，進而使得本實施例的觸控顯示面板既擁有自容檢測架構(gòu)觸摸檢測速度快等優(yōu)點又擁有互容檢測架構(gòu)精確度高等優(yōu)點。

返回繼續(xù)參見圖1所示，本實施例的觸控顯示面板還可以進一步包括集成電路140、多條第一觸控信號線(圖中未示出)以及多條第二觸控信號線150。

其中，集成電路(IC)140可用于在觸控掃描期間向各第二觸控電極120施加觸控驅(qū)動信號，并接收各第一觸控電極110或各第二觸控電極120采集的觸摸感應信號。

各第一觸控信號線(未示出)用于連接集成電路140和一個第一觸控電極110。各第二觸控信號線150用于連接集成電路140和一個第二觸控電極120。

在本實施例的一些可選的實現(xiàn)方式中，如圖2所示，各開關(guān)單元130可以連接同一行的第二觸控電極中的任意兩個相鄰的第二觸控電極120。這樣一來，通過同一個開關(guān)單元130來連接一行第二觸控電極120中的相鄰二者，可以減少兩兩電連接的第二觸控電極120之間的走線長度，進而減少這些走線所占觸控顯示面板的版圖面積，減少對顯示效果的不良影響。

在本實施例的觸控顯示面板的一些可選的實現(xiàn)方式中，各開關(guān)單元可以為薄膜晶體管。在這些可選的實現(xiàn)方式中，開關(guān)單元的控制端可以是薄膜晶體管的柵極，而薄膜晶體管的源極和漏極可用于分別與同一行的第二觸控電極中任意兩個第二觸控電極電連接。

由于薄膜晶體管的響應速度快，采用薄膜晶體管來作為開關(guān)單元，可以使得本實施例的觸控顯示面板的觸摸檢測靈敏度更高，在自容和互容架構(gòu)之間切換時的響應速度也更快。

需要說明的是，本實施例的觸控顯示面板中，作為開關(guān)單元的薄膜晶體管可以為PMOS晶體管或者NMOS晶體管。

此外，在一些可選的實現(xiàn)方式中，本申請各實施例的觸控顯示面板的各開關(guān)單元130的控制端131可以與集成電路140電連接。

在這些可選的實現(xiàn)方式中，集成電路140可用于基于觸控顯示面板的觸摸檢測模式向各開關(guān)單元130的控制端131輸出選通控制信號或斷開控制信號。在這里，觸摸檢測模式例如可以包括但不限于自容檢測模式和互容檢測模式。

此外，在這些可選的實現(xiàn)方式的一些應用場景中，如圖1所示，與各行第二觸控電極120對應的開關(guān)單元130的控制端可以分別與集成電路140的不同信號端電連接，這樣一來，集成電路140可以分別向連接各行第二觸控電極120的開關(guān)單元130的控制端131發(fā)送控制信號，從而分別控制這些開關(guān)單元130的導通、關(guān)斷。在這些應用場景中，作為開關(guān)單元130的薄膜晶體管中，用于連接同一行第二觸控電極120的薄膜晶體管可同為NMOS晶體管或者同為PMOS晶體管。

或者，在這些可選的實現(xiàn)方式的另一些應用場景中，與各行第二觸控電極對應的開關(guān)單元的控制端可以與集成電路的同一個信號端電連接，這樣一來，各控制端可以由集成電路的同一個信號端的輸出信號進行控制，從而可以減少集成電路的端口數(shù)量并減輕集成電路的運算負擔。在這些應用場景中，觸控顯示面板中作為開關(guān)單元的全部薄膜晶體管可同為NMOS晶體管或者同為PMOS晶體管。以下，做舉例說明。

參見圖3所示，為本申請的觸控顯示面板的另一個實施例的示意性結(jié)構(gòu)圖。

與圖1所示的實施例類似，本實施例的觸控顯示面板同樣包括多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、第一觸控電極層、第二觸控電極陣列、多個開關(guān)單元330等。此外，本實施例的觸控顯示面板同樣還可以包括集成電路340、第一觸控信號線、第二觸控信號線350等。且這些部件的結(jié)構(gòu)與圖1所示實施例相同。

與圖1所示的實施例不同的是，本實施例的觸控顯示面板進一步包括柵極移位寄存器360。柵極移位寄存器360包括多個級聯(lián)的移位寄存單元，各掃描線與其中一級移位寄存單元的輸出端(如Si1、Si2、Si3…Si_M-1、Si_M)電連接以接收掃描信號。

本實施例中，開關(guān)單元330同樣可以是薄膜晶體管。薄膜晶體管包括柵極、第一極和第二極。

同一行中，與任意兩個相鄰的第二觸控電極320電連接的薄膜晶體管的柵極均與同一級移位寄存單元電連接，第一極和第二極分別與兩個相鄰的第二觸控電極320電連接。例如，本實施例中，用于電連接第一行的相鄰兩個第二觸控電極320的薄膜晶體管的柵極與移位寄存器中第i1級移位寄存單元的輸出端Si1電連接。類似地，用于電連接第M行的相鄰兩個第二觸控電極320的薄膜晶體管的柵極與移位寄存器中第i_M級移位寄存單元的輸出端Si_M電連接。

此外，同一行中，靠近移位寄存單元的一個第二觸控電極與移位寄存單元電連接。

例如，在一些可選的實現(xiàn)方式中，同一行中，任意兩個相鄰的第二觸控電極320電連接的薄膜晶體管的柵極通過第一選通控制電路與對應的移位寄存單元電連接，且同一行中，靠近移位寄存單元的一個第二觸控電極320通過第二選通控制電路與移位寄存單元電連接。

參見圖4所示，為本實施例的第一選通控制電路、第二選通控制電路以及一行第二觸控電極的示意性結(jié)構(gòu)圖。

圖4中，第一選通控制電路L1包括第一與非門401和第一非門402。

其中，第一與非門401的第一輸入端與對應的移位寄存單元的輸出端(例如，第i1極移位寄存單元的輸出端Si1)電連接，第一與非門401的第二輸入端與集成電路的選通控制信號端SWITCH電連接。

第一非門402的輸入端與第一與非門401的輸出端電連接，第一非門402的輸出端與對應的薄膜晶體管430的柵極電連接。也即是說，電連接一行中各第二觸控電極421的薄膜晶體管430的柵極均與第一非門402的輸出端電連接。

此外，第二選通控制電路L2包括第二與非門403和第二非門404。

其中，第二與非門403的第一輸入端與對應的移位寄存單元的輸出端(例如，第i1極移位寄存單元的輸出端Si1)電連接，第二與非門403的第二輸入端與集成電路的觸控驅(qū)動信號端TX_CKV電連接。第二非門404的輸入端與第二與非門403的輸出端電連接，第二非門404的輸出端與對應的第二觸控電極421電連接。例如，第二非門404的輸出端與一行第二觸控電極421中最靠近第i1級移位寄存單元的第二觸控電極421電連接。這樣一來，第二非門404與第二觸控電極421之間的走線可以相應地較短，從而減輕該走線對觸控顯示面板顯示效果的不良影響，并減輕該走線與觸控顯示面板的其它走線和/或電極之間的耦合干擾。

下面將結(jié)合圖5、圖6的示意性時序圖來分別描述本申請各實施例的觸控顯示面板分別處于互容檢測模式和自容檢測模式的工作原理。

首先，參見圖5所示，其示出了本申請的觸控顯示面板工作在互容架構(gòu)下時，各驅(qū)動信號的示意性時序圖。需要說明的是，圖5中，以第二觸控電極陣列包括M個第二觸控電極行TX1～TXM、一個幀周期(1FRAME)包括M個觸摸檢測子期間T1～T_M和M個顯示子期間Y1～Y_M，且作為開關(guān)單元的各薄膜晶體管為NMOS晶體管為例進行說明。

當觸控顯示面板處于互容檢測模式時，集成電路的選通控制信號端SWITCH輸出高電平信號。

在每一個觸摸檢測子期間(例如，圖5中的T1～T_M)，其中一行的第二觸控電極可以接收觸控驅(qū)動信號。

具體地，當觸控顯示面板處于互容檢測模式時，例如，在觸摸檢測子期間T1，第i1級移位寄存單元輸出控制信號Si1(高電平信號)，第一與非門401的兩個輸入端均輸入高電平信號，因此第一與非門401的輸出端輸出低電平信號，第一非門402輸出高電平信號。這樣一來，連接第一行各第二觸控電極的薄膜晶體管430的柵極接收高電平信號，并使該行的各第二觸控電極相互電連接。同時，在該觸摸檢測子期間T1，第二與非門403的一個輸入端接收第i1級移位寄存單元輸出控制信號Si1(高電平信號)，而另一個輸入端接收觸控驅(qū)動信號端TX_CKV輸出的方波信號，這樣一來，在方波信號的高電平階段，第二與非門403輸出低電平信號，第二非門404輸出高電平信號。在方波信號的低電平階段，第二與非門403輸出高電平信號，第二非門404輸出低電平信號，從而使得該行第二觸控電極中，靠近該級移位寄存單元的第二觸控電極421接收作為觸控驅(qū)動信號的方波信號。由于在此期間該行第二觸控電極相互電連接，因此，在該觸摸檢測子期間T1，與第i1級移位寄存單元電連接的第二觸控電極行接收觸控驅(qū)動信號。

同時，在觸摸檢測子期間T1，與其它行的第二觸控電極電連接的移位寄存單元不輸出控制信號，因此，即便此時集成電路的選通控制信號端SWITCH輸出高電平信號，與這些第二觸控電極行對應的第一選通控制電路仍輸出低電平信號，因而這些行的作為開關(guān)單元的薄膜晶體管不導通，同時，由于與這些行電連接的移位寄存單元不輸出控制信號，無論觸控驅(qū)動信號端TX_CKV輸出的方波信號為高電平還是低電平，第二非門404均輸出低電平信號。

以此類推，在其它觸摸檢測子期間(T2～T_M)，第2～第M行中其中一行的第二觸控電極可以在其中一個觸摸檢測子期間接收觸控驅(qū)動信號，從而完成觸摸檢測。

此外，在幀周期的各個觸摸檢測子期間T1～T_M，第一觸控電極RX均采集觸摸感應信號。根據(jù)采集到的觸摸感應信號，可以確定觸控顯示面板是否有觸摸、觸摸位置在何處。

接著，請繼續(xù)參見圖6所示，其示出了本申請的觸控顯示面板工作在自容架構(gòu)下時，各驅(qū)動信號的示意性時序圖。

當觸控顯示面板工作在自容架構(gòu)下時，一個幀周期(1FRAME)可以包括k個觸摸檢測階段T1～T_K以及k個顯示階段Y1～Y_K，在這里，K為正整數(shù)，且K≥1。集成電路的選通控制信號端SWITCH和觸控驅(qū)動信號端TX_CKV均輸出低電平信號。

這樣一來，無論與各行第二觸控電極TX電連接的移位寄存單元是否輸出控制信號，第一選通控制電路、第二選通控制電路均輸出低電平信號，同一行的第二觸控電極相互絕緣。在一個幀周期(1FRAME)中的各個觸摸檢測子期間(T1～T_K)，各第二觸控信號線可以向與之電連接的各第二觸控電極施加觸控驅(qū)動信號，并接收各第二觸控電極采集的觸摸感應信號。根據(jù)采集到的觸摸感應信號，可以確定觸控顯示面板是否有觸摸、觸摸位置在何處。

在本申請各實施例的觸控顯示面板的一些可選的實現(xiàn)方式中，如圖1和圖3中的第一觸控電極110、310可以是金屬網(wǎng)狀電極。例如，第一觸控電極110、310可以是由多個金屬網(wǎng)格相互連接形成的網(wǎng)狀電極。采用金屬網(wǎng)狀的第一觸控電極，其電阻值更小，采集到的觸摸感應信號的信號衰減也更小，相應地觸摸感應信號的信噪比更高，使得觸摸檢測的精度更高。

參見圖7所示，為當觸控顯示面板為液晶顯示面板時，本申請的觸控顯示面板的一個實施例的示意性架構(gòu)圖。

觸控顯示面板包括陣列基板720和與陣列基板720相對設(shè)置的彩膜基板710。

其中，第一觸控電極層設(shè)置在彩膜基板710上，第二觸控電極陣列設(shè)置在陣列基板720上。

在一些可選的實現(xiàn)方式中，第一觸控電極層可設(shè)置在彩膜基板710遠離陣列基板720的一側(cè)(如圖7所示，第一觸控電極層設(shè)置在彩膜基板710的上表面)，而第二觸控電極陣列可以設(shè)置在陣列基板720朝向彩膜基板710的一側(cè)。

此外，陣列基板720上還設(shè)置有多條掃描線(圖中未示出)和多條數(shù)據(jù)線(圖中未示出)。

其中，各掃描線可以沿第一方向D1延伸，各數(shù)據(jù)線可沿第二方向D2延伸。第二方向D2可以為第一觸控電極711的延伸方向。

在一些可選的實現(xiàn)方式中，第二觸控電極721在顯示階段可以復用為公共電極。在這些可選的實現(xiàn)方式中，在顯示階段，集成電路722可以通過第二觸控信號線723向各第二觸控電極721傳輸公共電壓信號，使得形成在彩膜基板710和陣列基板720之間的液晶層(圖中未示出)中的液晶分子可以在公共電極和像素電極(圖中未示出)之間形成的電場作用下偏轉(zhuǎn)，從而實現(xiàn)預定畫面的顯示。

此外，當本實施例的觸控顯示面板工作在自容檢測模式時，連接在第二觸控電極721之間的開關(guān)單元可以處于斷開狀態(tài)，集成電路722可以通過第二觸控信號線723向各第二觸控電極721施加觸控驅(qū)動信號并接收各第二觸控電極721采集的觸摸感應信號。

而當本實施例的觸控顯示面板工作在互容檢測模式時，連接在第二觸控電極721之間的開關(guān)單元可以處于導通狀態(tài)。集成電路722可以分時向各行的第二觸控電極721施加觸控驅(qū)動信號(例如，通過各信號端直接向各行的第二觸控電極721施加觸控驅(qū)動信號，或者，通過移位寄存器來向各行的第二觸控電極721施加觸控驅(qū)動信號)，并通過柔性線路板713來將第一觸控電極711采集的觸摸感應信號傳輸至集成電路722。這樣一來，集成電路722可以基于采集到的觸摸感應信號來確定是否發(fā)生觸摸以及發(fā)生觸摸的位置。

本申請還公開了一種觸控顯示裝置，如圖8中所示。其中，觸控顯示裝置800可包括如上所述的觸控顯示面板。本領(lǐng)域技術(shù)人員應當理解，觸控顯示裝置除了包括如上所述的觸控顯示面板之外，還可以包括一些其它的公知的結(jié)構(gòu)。為了不模糊本申請的重點，將不再對這些公知的結(jié)構(gòu)進行進一步描述。

本申請的觸控顯示裝置可以是任何包含如上所述的觸控顯示面板的裝置，包括但不限于如圖8所示的蜂窩式移動電話、平板電腦、計算機的顯示器、應用于智能穿戴設(shè)備上的顯示器、應用于汽車等交通工具上的顯示裝置等等。只要觸控顯示裝置包含了本申請公開的觸控顯示面板的結(jié)構(gòu)，便視為落入了本申請的保護范圍之內(nèi)。

參見圖9所示，為本申請的觸控顯示面板的驅(qū)動方法的一個實施例的示意性流程圖。本實施例的驅(qū)動方法可以用于驅(qū)動如上任意一個實施例描述的觸控顯示面板。

本實施例的驅(qū)動方法包括：

步驟910，判斷觸控顯示面板的觸摸檢測模式，觸摸檢測模式包括自容檢測模式和互容檢測模式。

在一些可選的實現(xiàn)方式中，例如可以由外部控制模塊向觸控顯示面板的集成電路發(fā)送控制指令，以控制觸控顯示面板的觸摸檢測模式。

當觸控顯示面板處于自容檢測模式時，則在步驟920中，控制各開關(guān)單元關(guān)斷，并在觸控掃描期間向各第二觸控電極分別施加觸控驅(qū)動信號。

當觸控顯示面板處于自容檢測模式時，本實施例的驅(qū)動方法還可以進一步包括：

在觸控掃描期間，接收第二觸控電極采集的觸摸感應信號。

這樣一來，集成電路可以基于第二觸控電極采集的觸摸感應信號確定出觸摸位置。

當觸控顯示面板處于互容檢測模式時，在一個幀周期內(nèi)，觸控掃描期間可以包括m個觸控掃描子期間，其中，m為整數(shù)，且m＞1。

此時，本實施例的驅(qū)動方法還可以進一步包括：

步驟930：在一個幀周期的第i個觸控掃描子期間中，向第二觸控電極陣列的第j行第二觸控電極施加觸控驅(qū)動信號，并接收各第一觸控電極采集的觸摸感應信號，其中1≤i,j≤m。

本實施例的驅(qū)動方法，可以根據(jù)觸控顯示面板所采用的觸摸檢測模式來相應地調(diào)整觸摸檢測的實現(xiàn)方式，使得觸控顯示面板在互容式觸摸檢測架構(gòu)和自容式觸摸檢測架構(gòu)之間切換，從而提升觸控顯示面板在惡劣環(huán)境下的觸摸檢測精度和靈敏度，并使得觸控顯示面板既擁有自容檢測架構(gòu)觸摸檢測速度快等優(yōu)點又擁有互容檢測架構(gòu)精確度高等優(yōu)點。

本領(lǐng)域技術(shù)人員應當理解，本申請中所涉及的發(fā)明范圍，并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案，同時也應涵蓋在不脫離所述發(fā)明構(gòu)思的情況下，由上述技術(shù)特征或其等同特征進行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請中公開的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進行互相替換而形成的技術(shù)方案。