本發(fā)明有關(guān)一種觸控系統(tǒng)，更特別有關(guān)一種使用差分感測的電容式觸控感測系統(tǒng)及其運作方法。
背景技術(shù)：
：電容式感測器(capacitivesensor)通常包含用以感測導(dǎo)體的一對電極。當所述導(dǎo)體存在時會造成所述對電極間的電荷移轉(zhuǎn)量(chargetransfer)發(fā)生改變，因此可根據(jù)電壓值變化來檢測所述導(dǎo)體的存在與否。將多個電極對排列成陣列則可形成感測陣列。圖1a及圖1b顯示一種已知電容式感測器的示意圖，其包含第一電極91、第二電極92、驅(qū)動電路93以及檢測電路94。所述驅(qū)動電路93用以輸入驅(qū)動信號x至所述第一電極91，所述第一電極91及所述第二電極92間會產(chǎn)生電場以將電荷轉(zhuǎn)移至所述第二電極92，所述檢測電路94則可檢測所述第二電極92的電荷轉(zhuǎn)移量y。當導(dǎo)體存在時，例如以等效電路8來表示，所述導(dǎo)體會擾亂所述第一電極91及所述第二電極92間的電場而降低電荷移轉(zhuǎn)量y'，所述檢測電路94則可檢測到電壓值變化，并據(jù)以判斷所述導(dǎo)體的存在。由于電容式感測器常應(yīng)用于各式電子裝置，例如液晶顯示器(lcd)，因而所述檢測電路94所檢測到電壓值變化會受到所述電子裝置的噪音干擾而影響檢測精確度。有鑒于此，有需要提出一種方案，以解決上述問題。技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的在于提供一種電容觸控系統(tǒng)及其運作方法，其將不同接收電極的檢測矩陣的數(shù)字分量進行差分運算，以降低噪音干擾。本發(fā)明提供一種電容觸控系統(tǒng)，包含驅(qū)動電路、電容感測陣列、編碼模組、調(diào)變模組、檢測電路、解碼模組、第一減法電路以及第二減法電路。所述驅(qū)動電路用以輸出驅(qū)動信號。所述電容感測陣列包含多個感測單元行列式地排列。所述編碼模組相對每列所述多個感測單元對所述驅(qū)動信號進行編碼，以輸出多個編碼后驅(qū)動信號。所述調(diào)變模組相對每列所述多個感測單元對所述多個編碼后驅(qū)動信號進行調(diào)變，以并行地輸出多個編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號至每列所述多個感測單元。所述檢測電路耦接所述電容感測陣列，用以根據(jù)每行所述多個感測單元的檢測信號分別產(chǎn)生檢測矩陣。所述解碼模組解碼所述多個檢測矩陣，以相對所述多個感測單元中的每一個輸出二維檢測向量。所述第一減法電路將所述多個感測單元中的第一感測單元的所述二維檢測向量的第一數(shù)字分量與所述多個感測單元中的第二感測單元的所述二維檢測向量的第一數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第一分量差。所述第二減法電路將所述第一感測單元的所述二維檢測向量的第二數(shù)字分量與所述第二感測單元的所述二維檢測向量的第二數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第二分量差。本發(fā)明還提供一種電容觸控系統(tǒng)的運作方法。所述電容觸控系統(tǒng)包含電容感測陣列。所述電容感測陣列包含多個驅(qū)動電極及多個接收電極。所述運作方法包含下列步驟：于所述電容感測陣列的幀期間的多個驅(qū)動時段的所述多個驅(qū)動時段中的每一個并行地對所述多個驅(qū)動電極輸入編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號；于所述幀期間內(nèi)依序檢測所述電容感測陣列的所述多個接收電極，以相對所述多個接收電極中的每一個分別產(chǎn)生檢測矩陣；解碼所述多個檢測矩陣以相對所述多個接收電極中的每一個產(chǎn)生多個二維檢測向量，其中所述多個二維檢測向量中的每一個具有第一數(shù)字分量及第二數(shù)字分量；依序?qū)λ龆鄠€接收電極中兩接收電極的所述多個二維檢測向量的第一數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第一分量差；以及依序?qū)λ龆鄠€接收電極中兩接收電極的所述多個二維檢測向量的第二數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第二分量差。本發(fā)明還提供一種電容觸控系統(tǒng)，包含電容感測陣列、驅(qū)動端、檢測電路、至少一解碼模組、第一減法電路以及第二減法電路。所述電容感測陣列包含多個驅(qū)動電極及多個接收電極。所述驅(qū)動端用以于所述電容感測陣列的幀期間的多個驅(qū)動時段的所述多個驅(qū)動時段中的每一個并行地對所述多個驅(qū)動電極輸入編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號。所述檢測電路于所述幀期間內(nèi)依序耦接所述多個接收電極的第一接收電極及第二接收電極，相對所述第一接收電極產(chǎn)生第一檢測矩陣并相對所述第二接收電極產(chǎn)生第二檢測矩陣。所述至少一解碼模組解碼所述第一檢測矩陣及所述第二檢測矩陣，以相對所述第一接收電極產(chǎn)生多個第一檢測向量并相對所述第二接收電極產(chǎn)生多個第二檢測向量。所述第一減法電路將所述多個第一檢測向量與所述多個第二檢測向量的第一數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第一分量差。所述第二減法電路將所述多個第一檢測向量與所述多個第二檢測向量的第二數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第二分量差。為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能更明顯，下文將配合所附圖示，詳細說明如下。此外，于本發(fā)明之說明中，相同的構(gòu)件以相同的符號表示，于此先述明。附圖說明圖1a-1b為已知電容式感測器的示意圖；圖2為本發(fā)明實施例的電容觸控感測裝置的方塊示意圖；圖3a-3b為本發(fā)明某些實施例的電容觸控感測裝置的方塊示意圖；圖4為根據(jù)本發(fā)明實施例的向量范數(shù)與閾值的示意圖；圖5為本發(fā)明實施例的電容觸控系統(tǒng)的示意圖；圖6顯示本發(fā)明第一實施例的并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)的各驅(qū)動時段中各頻道的驅(qū)動信號的示意圖；圖7顯示本發(fā)明第一實施例的并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)的示意圖；圖8為本發(fā)明第二實施例的電容觸控系統(tǒng)的示意圖；圖9為本發(fā)明第二實施例的電容觸控系統(tǒng)的運作方法的流程圖。附圖標記說明10感測單元101、91第一電極102、92第二電極103耦合電容11時序控制器12、121～12n驅(qū)動電路13、94、23檢測電路130多工器131、131'混合器132、132'積分器133、133'模數(shù)轉(zhuǎn)換單元14處理單元15濾波電路2012～20n2感測單元27、27'解碼模組281～284減法電路29儲存元件93驅(qū)動電路8導(dǎo)體x(t)驅(qū)動信號y(t)檢測信號y1(t)、y2(t)調(diào)變后檢測信號sw1～swm、swn開關(guān)元件mx1、mx2混和信號md檢測矩陣i、q檢測向量的分量d1～dn驅(qū)動電極s2接收電極x1(tk)～xn(tk)驅(qū)動信號。具體實施方式請參照圖2所示，其為本發(fā)明實施例的電容觸控感測裝置的方塊示意圖。本實施例的電容觸控感測裝置包含感測單元10、驅(qū)動電路12、檢測電路13以及處理單元14。所述電容觸控感測裝置通過判斷所述感測單元10的電荷變化來檢測物體(例如，但不限于，手指、水滴或金屬等)是否接近所述感測單元10。檢測所述物體是否靠近所述感測單元10的方法已為已知，而并不限于上述方法。所述感測單元10包含第一電極101(例如驅(qū)動電極)及第二電極102(例如接收電極)，當電壓信號提供至所述第一電極101時，所述第一電極101與所述第二電極102間產(chǎn)生電場并形成耦合電容103。所述第一電極101與所述第二電極102可適當配置而并無特定限制，只要能形成所述耦合電容103即可(例如通過其間的介電層)；其中，所述第一電極101與所述第二電極102間產(chǎn)生電場及耦合電容103的原理已為已知，故于此不再贅述。所述驅(qū)動電路12例如為信號產(chǎn)生器，其可發(fā)出驅(qū)動信號x(t)至所述感測單元10的第一電極101。所述驅(qū)動信號x(t)可為時變信號，例如周期信號。其他實施例中，所述驅(qū)動信號x(t)也可為脈沖信號，例如方波、三角波等，但并不以此為限。所述驅(qū)動信號x(t)通過所述耦合電容103可耦合檢測信號y(t)至所述感測單元10的第二電極102。所述檢測電路13耦接所述感測單元10的第二電極102以接收所述檢測信號y(t)，并利用兩混合信號分別調(diào)變(或混合)所述檢測信號y(t)并產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號i、q以作為二維檢測向量(i,q)的兩分量。所述兩混合信號例如為彼此正交或非正交的連續(xù)信號或向量。一實施例中，所述兩混合信號包含正弦信號及余弦信號。所述處理單元14用以計算所述對調(diào)變后檢測信號的大小(scale)以作為所述二維檢測向量(i,q)的向量范數(shù)(normofvector)，并比較所述向量范數(shù)與閾值th以判斷碰觸事件(touchevent)。一實施例中，所述處理單元14可利用軟件的方式計算出所述向量范數(shù)另一實施例中，所述處理單元14也可利用硬件或固件的方式來進行計算，例如采用圖4所示的坐標旋轉(zhuǎn)數(shù)字計算機(cordic,coordinaterotationdigitalcomputer)來計算出所述向量范數(shù)其中，cordic為一種快速演算法。所述處理單元14例如為微處理器(mcu)、中央處理器(cpu)或特定功能集成電路(asic)等。圖4中，當沒有任何物體接近所述感測單元10時，假設(shè)所述處理單元14計算出的所述向量范數(shù)為r；當物體接近所述感測單元10時，所述向量范數(shù)減少為r'。若所述向量范數(shù)r'小于閾值th，所述處理單元14則可判定物體位于所述感測單元10附近并造成碰觸事件。必須說明的是，當其他物體，例如金屬，接近所述感測單元10時，也有可能導(dǎo)致所述向量范數(shù)r增加，因此所述處理單元14也可在所述向量范數(shù)超過另一預(yù)設(shè)閾值時判定為碰觸事件。某些實施例中，所述處理單元14可比較所述向量范數(shù)的變化量與變化閾值以判定碰觸事件。圖3a及3b為本發(fā)明某些實施例的電容觸控感測裝置的示意圖，其分別顯示檢測電路13的不同實施方式。圖3a中，所述檢測電路13包含模數(shù)轉(zhuǎn)換單元(adc)133、兩混合器131及131'、兩積分器132及132'，用以處理檢測信號y(t)以產(chǎn)生二維檢測向量(i,q)。所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元133用以將所述檢測信號y(t)轉(zhuǎn)換為數(shù)字檢測信號yd(t)。所述兩混合器131及131'用以分別將兩混合信號，例如此時顯示為以及與所述數(shù)字檢測信號yd(t)進行調(diào)變(或混合)以產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)。為了取樣所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)，所述兩積分器132及132'分別用以對所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)進行積分(或累積)以產(chǎn)生二維檢測向量的兩數(shù)字分量i、q；本實施例中，所述兩積分器132及132'的形式并無特定限制，例如可為電容器。所述兩混合信號除了上述兩連續(xù)信號外，也可為兩向量，例如mx1＝[10-10]且mx2＝[0-101]以簡化電路架構(gòu)。所述兩混合信號只要是能夠簡化調(diào)變過程的適當簡化向量均可，并無特定限制。由于所述兩數(shù)字分量i、q為所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)的累積值，本發(fā)明中，所述一對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)也可稱為二維檢測向量的兩數(shù)字分量。圖3b中，所述檢測電路13包含模數(shù)轉(zhuǎn)換單元133、混合器131及積分器132，而兩混合信號mx1及mx2經(jīng)過多工器130依序輸入所述混合器131以與所述模擬檢測信號yd(t)進行調(diào)變來產(chǎn)生兩調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)。此外，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元133、所述混合器131及所述積分器132的功能與圖3a類似，故于此不再贅述。本發(fā)明實施例的電容觸控感測裝置的檢測方法包含步驟：提供驅(qū)動信號至感測單元的第一電極；以兩混合信號分別調(diào)變所述驅(qū)動信號通過耦合電容耦合至第二電極的檢測信號以產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號；以及計算所述對調(diào)變后檢測信號的大小并據(jù)以判斷碰觸事件。例如參照圖3a或3b所示，所述驅(qū)動電路12輸入驅(qū)動信號x(t)至所述感測單元10的第一電極101后，所述驅(qū)動信號x(t)通過所述耦合電容103耦合檢測信號y(t)至所述感測單元10的第二電極102。接著，所述檢測電路13以兩混合信號mx1及mx2分別調(diào)變所述檢測信號y(t)以產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)。所述處理單元14計算所述一對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)的大小并據(jù)以判斷碰觸事件；其中，計算所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)的大小以及比較所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)的大小與至少一閾值的方式例如可參照圖4及其相關(guān)說明。此外，在計算所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)的大小前，可利用所述積分器132及/或132'累積所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)，以產(chǎn)生所述二維檢測向量(i,q)的兩數(shù)字分量i、q。請參照圖5所示，其為本發(fā)明實施例的電容觸控系統(tǒng)的示意圖。陣列排列的多個感測單元10形成電容感測陣列，每一列感測單元10分別由驅(qū)動電路121～12n驅(qū)動且所述檢測電路13例如通過多個開關(guān)元件sw1～swm檢測每一行感測單元10的輸出信號y(t)。圖5中，驅(qū)動電路121用以驅(qū)動第一列感測單元1011～101m；驅(qū)動電路122用以驅(qū)動第二列感測單元1021～102m；…；驅(qū)動電路12n用以驅(qū)動第n列感測單元10n1～10nm；其中，n及m為正整數(shù)且其數(shù)值根據(jù)電容感測陣列的尺寸及解析度決定，并無特定限制。本實施例中，每一感測單元10(此處以圓圈表示1011～10nm)均包含第一電極及第二電極用以形成耦合電容，如圖2、3a及3b所示。所述多個驅(qū)動電路121～12n分別耦接至列感測單元10的第一電極。例如時序控制器11用以控制所述多個驅(qū)動電路121～12n分別輸出驅(qū)動信號x(t)至所述多個感測單元10的第一電極。所述多個驅(qū)動電路121～12n可依序或并行驅(qū)動感測單元1011～10nm。所述檢測電路13通過多個開關(guān)元件sw1～swm分別耦接行感測單元10的第二電極，用以依序檢測所述驅(qū)動信號x(t)通過所述多個感測單元10的耦合電容耦合至所述第二電極的檢測信號y(t)，并利用兩混合信號分別調(diào)變所述檢測信號y(t)以產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號；其中，產(chǎn)生所述一對調(diào)變后檢測信號的方式已詳述于圖3a及3b及其相關(guān)說明，故于此不贅述。所述處理單元14則根據(jù)所述對調(diào)變后檢測信號判斷碰觸事件及碰觸位置。如前所述，所述處理單元14可計算所述對調(diào)變后檢測信號(例如i、q)所形成的二維檢測向量的向量范數(shù)，并比較所述向量范數(shù)與至少一閾值th以判定所述碰觸事件，如圖4所示。在依序驅(qū)動的實施例中，當所述時序控制器11控制所述驅(qū)動電路121輸出所述驅(qū)動信號x(t)至第一列感測單元1011～101m時，所述多個開關(guān)元件sw1～swm則依序被開啟以使所述檢測電路13能夠依序檢測第一列感測單元1011～101m的每一個感測單元所輸出的檢測信號y(t)。接著，所述時序控制器11依序控制其他驅(qū)動電路122～12n輸出所述驅(qū)動信號x(t)至每一列感測單元。當所述檢測電路13檢測過所有感測單元1011～10nm后，則完成一個掃描周期(scanperiod)。所述處理單元14則將發(fā)生所述碰觸事件的感測單元的位置判定為所述碰觸位置?？梢粤私獾氖牵雠鲇|位置可能不只發(fā)生于單一感測單元10，所述處理單元14可將多個感測單元10的位置均視作碰觸位置，或?qū)⒍鄠€感測單元10其中之一(例如中心或重心)的位置視作碰觸位置。某些實施例中，為了節(jié)省圖5中電容觸控系統(tǒng)的耗能，所述時序控制器11可控制所述多個驅(qū)動電路121～12n的至少一部分同時輸出所述驅(qū)動信號x(t)至相對應(yīng)列的感測單元。所述檢測電路13則以不同的兩混和信號mx1、mx2分別調(diào)變相對不同行的檢測信號y(t)。除此之外，判斷碰觸事件及碰觸位置的方式則類似圖5，故于此不再贅述。所述檢測電路13可還包含濾波器及/或放大器等元件，以增加信號品質(zhì)。此外，所述處理單元14也可與所述檢測電路13合并為單一元件，且其功能可利用軟件及/或硬件的方式實現(xiàn)。如前所述，信號傳輸過程中信號線上的電容所造成的相位差可通過計算二維檢測向量的向量范數(shù)(normofvector)被忽略；換句話說，如果各頻道的驅(qū)動信號x(t)間存在相位差，其也可以通過計算二維檢測向量的向量范數(shù)被忽略。因此，并行驅(qū)動的實施例中，可利用彼此具相位差的多個驅(qū)動信號在相同驅(qū)動時段(drivetimeslot)并行驅(qū)動(concurrentdrive)不同頻道(channel)，并在檢測端通過計算各頻道的二維檢測向量的向量范數(shù)來判定碰觸事件及/或碰觸位置。此外，于不同頻道的驅(qū)動信號x(t)實施相位偏移可有效利用模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動態(tài)范圍；其中，所述相位偏移例如可選擇使用隨機相位偏移(randomphaseoffset)或制定相位偏移(formulatedphaseoffset)實現(xiàn)，但并不以此為限。。請參照圖7所示，其顯示本發(fā)明第一實施例的并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)2的示意圖。所述并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)2包含驅(qū)動端2t、電容感測陣列200以及檢測端2r；其中，所述電容感測陣列200具有多個頻道。例如，所述電容感測陣列200包含多個感測單元(例如2011～20nn)行列式地排列，此處所述頻道指所述驅(qū)動端2t驅(qū)動的感測單元列。所述驅(qū)動端2t用以于所述電容感測陣列200的掃描周期(或稱幀期間)的多個驅(qū)動時段的所述多個驅(qū)動時段中的每一個并行地對多個頻道(或多個驅(qū)動電極d1～dn)輸入編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號。所述檢測端2r于所述幀期間內(nèi)依序耦接所述電容感測陣列200的所述多個頻道(或多個接收電極s1～sn)，并解碼檢測所述多個頻道所求得的多個檢測矩陣md以相對所述多個頻道中的每一個產(chǎn)生二維檢測向量，并計算所述多個二維檢測向量的向量范數(shù)；其中，所述多個檢測矩陣md的每一矩陣元素(matrixelement)所述多個驅(qū)動時段中的每一個中求得的相對一個接收電極的檢測信號，且所述檢測矩陣md為一維矩陣。所述多個檢測矩陣md的產(chǎn)生方式例如參照圖3a及3b。例如，所述檢測端2r利用兩混和信號mx1及mx2調(diào)變所述多個接收電極s1～sn的多個檢測信號y(t)以分別產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號y1(t)、y2(t)，并以積分器累積所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)、y2(t)以產(chǎn)生所述多個檢測矩陣md。此外，所述檢測端2r還比較所述向量范數(shù)與閾值以判斷碰觸事件及/或碰觸位置(如圖4)。一實施例中，所述多個驅(qū)動時段的數(shù)目等于所述多個頻道(或所述多個驅(qū)動電極d1～dn)的數(shù)目。本實施例中，所述編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號可使用哈達馬矩陣(hadamardmatrix)進行編碼，也即，所述驅(qū)動端2t使用哈達馬矩陣對驅(qū)動信號x(t)進行編碼。所述檢測端2r則使用所述哈達馬矩陣的反哈達馬矩陣解碼所述檢測矩陣md。所述編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號可僅進行相位調(diào)變，或同時進行相位及振幅調(diào)變，例如可使用正交振幅調(diào)變(qam)來實現(xiàn)。一實施例中，所述并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)2包含驅(qū)動電路22、編碼模組25、調(diào)變模組26、所述電容感測陣列200、檢測電路23、解碼模組27以及處理單元24。一實施例中，所述驅(qū)動電路22、所述編碼模組25及所述調(diào)變模組26共同組成所述驅(qū)動端2t；而所述檢測電路23、所述解碼模組27及所述處理單元24共同組成所述檢測端2r。某些實施例中，所述驅(qū)動端2t及所述檢測端2r系同步運作，但并不限于此。另一實施例中，所述編碼模組25及所述調(diào)變模組26可組合成單一編碼調(diào)變模組；所述解碼模組27也可包含于所述處理單元24或所述檢測電路23內(nèi)。所述驅(qū)動電路22輸出驅(qū)動信號x(t)至所述編碼模組25，例如x(t)＝vd×exp(jwt)；其中，vd為驅(qū)動電壓值、w為驅(qū)動頻率而t為時間。如前一實施例中所述，所述驅(qū)動信號x(t)并不限于連續(xù)信號。所述編碼模組25相對每列感測單元(或每一驅(qū)動電極d1～dn)對所述驅(qū)動信號x(t)進行編碼，以輸出多個編碼后驅(qū)動信號xc(t)。一實施例中，所述編碼模組25可使用編碼矩陣，例如哈達馬矩陣對所述多個驅(qū)動信號x(t)進行編碼?？梢粤私獾氖牵灰悄軌蚴垢黝l道通過編碼進行區(qū)別，也可使用其他編碼矩陣。此外，所述編碼矩陣的尺寸可根據(jù)頻道數(shù)而定。所述調(diào)變模組26相對每列感測單元(或每一驅(qū)動電極d1～dn)對所述多個編碼后驅(qū)動信號xc(t)進行相位調(diào)變，以并行地輸出多個編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號至每列感測單元(或每一驅(qū)動電極d1～dn)；所述相位調(diào)變使輸入至每列感測單元的所述編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號彼此間具有相位差；藉此，可抑制所述檢測電路23中的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元(adc)的輸入電壓(如圖3a及3b)，以避免超出模數(shù)轉(zhuǎn)換單元的動態(tài)范圍。其他實施例中，也可對編碼后驅(qū)動信號xc(t)同時進行振幅及相位調(diào)變，例如使用正交振幅調(diào)變。例如圖7中，所述調(diào)變模組26輸出編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)至第一頻道、編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x2(tk)至第二頻道…以及編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號xn(tk)至第n頻道；其中，k表示掃描周期的各驅(qū)動時段。編碼矩陣例如可利用式(1)所示的矩陣表示且各矩陣元素可以ars表示，其中，各矩陣元素ars的下標r相對于各驅(qū)動時段(例如k1～kn)而各矩陣元素ars的下標s相對于各頻道，調(diào)變模組26的運作可利用數(shù)學式(2)所示的對角矩陣(diagonalmatrix)表示，其中，x1～xn為多個(complexnumber)且較佳彼此間具有相位差。x1～xn用以分別對不同頻道進行相位調(diào)變。當使用正交振幅調(diào)變(qam)作為調(diào)變機制時，x1～xn彼此間具有振幅差以及相位差；其中，x1～xn的下標相對于各頻道。請同時參照圖6及7所示，根據(jù)式(1)及式(2)，所述調(diào)變模組26例如于第一時段k＝1同時輸出驅(qū)動信號x(t)a11x1至第一頻道(或驅(qū)動電極d1)、驅(qū)動信號x(t)a12x2至第二頻道(或驅(qū)動電極d2)…以及驅(qū)動信號x(t)a1nxn至第n頻道(或驅(qū)動電極dn)；所述調(diào)變模組26于第二時段k＝2同時輸出驅(qū)動信號x(t)a21x1至第一頻道、驅(qū)動信號x(t)a22x2至第二頻道…以及驅(qū)動信號x(t)a2nxn至第n頻道；所述調(diào)變模組26于第n時段k＝n同時輸出驅(qū)動信號x(t)an1x1至第一頻道、驅(qū)動信號x(t)an2x2至第二頻道…以及驅(qū)動信號x(t)annxn至第n頻道。當所有時段k＝1～k＝n的編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)輸入至所述電容感測陣列200后，則完成一個驅(qū)動幀的動作。本實施例中，所述多個時段k1～kn在時間軸上為連續(xù)或相隔預(yù)設(shè)時間區(qū)間。如前所述，所述電容感測陣列200包含第一列感測單元2011～201n、第二列感測單元2021～202n…以及第n列感測單元20n1～20nn(即頻道1～n)。所述多個驅(qū)動信號x(t)a11x1、x(t)a12x2～x(t)a1nxn于第一時段k＝1時分別輸入至第一列感測單元2011～201n、第二列感測單元2021～202n…以及第n列感測單元20n1～20nn。其他時段k＝2～k＝n輸入至每列感測單元的驅(qū)動信號也顯示于圖6。此外，所述電容感測陣列200中的信號線路相對于不同頻道的驅(qū)動信號具有不同的電抗，其例如可使用一維矩陣[y1y2…yn]t數(shù)學地表示所述電容感測陣列200的電抗矩陣。在掃描周期內(nèi)，若所述電容感測陣列200未被碰觸，所述電抗矩陣大致維持不變；而當發(fā)生碰觸事件時，所述電抗矩陣的至少一個矩陣元素出現(xiàn)變化，因而改變所述檢測信號y(t)。如圖7所示，所述電容感測陣列200的每行感測單元分別通過開關(guān)元件sw1～swn耦接至所述檢測電路23。于掃描周期的每一驅(qū)動時段k1～kn內(nèi)，所述多個開關(guān)元件sw1～swn依序耦接相對應(yīng)的一行感測單元至所述檢測電路23，以使所述檢測電路23耦接所述電容感測陣列200，并根據(jù)每行感測單元的檢測信號y(t)相對每行感測單元分別產(chǎn)生檢測矩陣。例如圖7顯示開關(guān)元件sw2將所述電容感測陣列200的第二行感測單元耦接至所述檢測電路23以產(chǎn)生相對所述第二接收電極s2的檢測矩陣md。所述檢測矩陣md的每一矩陣元素(i1+jq1)～(in+jqn)的產(chǎn)生方式例如參照圖3a及3b。例如，所述檢測電路23利用兩混和信號mx1及mx2調(diào)變每一驅(qū)動時段k1～kn的檢測信號y(t)以分別產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號y1(t)、y2(t)，并以積分器(例如132,132')累積相對每一驅(qū)動時段k1～kn的所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)、y2(t)以產(chǎn)生所述檢測矩陣md。因此，掃描周期完成(即一張幀)后，從所述電容感測陣列200的每行感測單元所輸出的檢測信號y(t)則可以數(shù)學地表示成式(3)所示的x(t)×[編碼矩陣]×[調(diào)變矩陣]×[電抗矩陣]；其中，編碼矩陣的矩陣元素由所使用的編碼方式而定；調(diào)變矩陣的矩陣元素由調(diào)變機制而定而電抗矩陣的矩陣元素則由電容感測陣列200決定。如前所述，所述檢測電路23包含至少一積分器(例如圖3a、3b所示)，用以根據(jù)所述檢測信號y(t)求得二維檢測向量(i+jq)的兩數(shù)字分量，例如(i1,q1)～(in,qn)。因此，所述檢測電路23在掃描周期完成后所輸出的相對每行感測單元的二維檢測向量可以檢測矩陣md＝[(i1+jq1)(i2+jq2)…(in+jqn)]t表示；其中，(i1+jq1)為根據(jù)一行(例如第二行)感測單元于第一驅(qū)動時段k＝1的檢測信號y(t)所求得的二維檢測向量，由于編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)于所述第一驅(qū)動時段k＝1內(nèi)分別輸入各頻道，因此所述二維檢測向量(i1+jq1)為包含了第一驅(qū)動時段k＝1內(nèi)所有頻道的檢測信號的疊加(superposition)，而為疊加檢測向量。同理，(i2+jq2)為根據(jù)一行感測單元于第二驅(qū)動時段k＝2的檢測信號y(t)所求得的二維檢測向量且為第二驅(qū)動時段k＝2內(nèi)所有頻道的疊加檢測向量；…；in+jqn為根據(jù)一行感測單元于第n驅(qū)動時段k＝n的檢測信號y(t)所求得的二維檢測向量且為第n驅(qū)動時段k＝n內(nèi)所有頻道的迭加檢測向量。為了去耦合(decoupling)各頻道的迭加檢測向量，所述檢測電路23將所述檢測矩陣md傳送至所述解碼模組27以進行解碼，以相對所述多個感測單元(例如2011～20nn)中的每一個產(chǎn)生二維檢測向量。例如，所述解碼模組27輸出一行(例如第二行)感測單元中每一頻道(即感測單元)的二維檢測向量，如式(4)所示為產(chǎn)生一行感測單元中每一頻道的二維檢測向量的方式；例如，相對第二行感測單元的頻道1的二維檢測向量表示為(i12+jq12)、相對第二行感測單元的頻道2的二維檢測向量表示為(i22+jq22)…以及相對第二行感測單元的頻道n的二維檢測向量表示為(in2+jqn2)；其中，i及q為二維檢測向量的兩數(shù)字分量，(i12+jq12)～(in2+jqn2)為去耦合檢測向量。相對其他行感測單元的頻道1～n的表現(xiàn)方式顯示于圖7中。圖7中，掃描周期完成后，所述解碼模組27可相對每一行感測單元(或每一接收電極)輸出一組二維檢測向量(i+jq)，也即此時為n組去耦合檢測向量[(i1+jq1)(i2+jq2)…(in+jqn)]t。所述解碼模組27使用所述編碼矩陣的反矩陣來對迭加檢測向量(即所述多個檢測矩陣)解碼以去耦合疊加檢測向量；例如，哈達馬矩陣的反矩陣。最后，所述處理單元24可計算每一個二維檢測向量，例如(i11+jq11)～(inn+jqnn)，的向量范數(shù)，并將求得的所述向量范數(shù)與閾值th進行比較，如圖4所示。藉此，在一個掃描周期完成后，所述處理單元24則可根據(jù)n×n個向量范數(shù)與閾值th的比較結(jié)果判斷所述電容感測陣列200的碰觸事件及/或碰觸位置；其中，n表示陣列尺寸。此外，當本實施例中所述驅(qū)動信號x(t)還實施振幅調(diào)變時，所述處理單元24可還包含自動準位控制(alc)來消除振幅偏移。例如，所述處理單元24內(nèi)(或另行設(shè)置儲存單元)可事先儲存有所述電容感測陣列200未被觸壓時所述自動準位控制的控制參數(shù)，其使各感測單元的檢測結(jié)果大致相同。藉此，當發(fā)生碰觸時，則可精確的判定碰觸事件。此外，如前所述，所述多個感測單元(2011～20nn)中的每一個包含第一電極101及第二電極102用以形成耦合電容103(如圖2、3a及3b)。所述編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)耦接至所述第一電極101；所述檢測電路23耦接所述第二電極102，用以檢測所述編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)通過所述耦合電容103耦合至所述第二電極102的所述檢測信號y(t)。請參照圖8所示，其為本發(fā)明第二實施例的電容觸控系統(tǒng)的示意圖。圖8對應(yīng)于圖7的并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)2，其中所述檢測電路23通過開關(guān)元件sw2電性耦接接收電極s2。也即，圖8的電容觸控系統(tǒng)同樣包含電容感測陣列200、驅(qū)動端2t及檢測端2r。如圖7所示，所述電容感測陣列200包含多個驅(qū)動電極d1～dn及多個接收電極s1～sn，以形成多個感測單元2011～20nn行列式地排列。由于圖8顯示所述檢測端2r的檢測電路23耦接所述接收電極s2的運作狀態(tài)，故僅顯示出第二行感測單元2012～20n2，并省略其他感測單元。如前一實施例所述，所述驅(qū)動端2t用以于所述電容感測陣列200運作時的幀期間的多個驅(qū)動時段(例如k1～kn)的所述多個驅(qū)動時段中的每一個并行地對所述多個驅(qū)動電極d1～dn輸入編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)。例如，此處顯示多個驅(qū)動電路121～12n并行地輸出多個編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)至所述多個驅(qū)動電極d1～dn。圖8中，所述檢測端2r包含濾波器15、模數(shù)轉(zhuǎn)換單元133、檢測電路23、解碼模組(或解碼器)27及27'、多個減法電路281～284以及處理單元14；其中，雖然圖8顯示兩解碼模組27及27'，然其僅用以說明而非用以限定本發(fā)明。如圖7所示，所述檢測端2r可僅包含單一解碼模組。所述濾波器15例如為可程式化帶通濾波器(programmablebandpassfilter)，用以對所述檢測信號y(t)進行濾波以提高信噪比。所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元133耦接于所述電容感測陣列200與所述檢測電路23間，用以將所述檢測信號y(t)轉(zhuǎn)換為數(shù)字檢測信號yd(t)。本發(fā)明中，由于所述數(shù)字檢測信號yd(t)為所述檢測信號y(t)的數(shù)字化信號，因此有時將所述數(shù)字檢測信號yd(t)稱為檢測信號。所述檢測電路23于所述幀期間內(nèi)依序耦接所述電容感測陣列200的各接收電極s1～sn，例如第一接收電極s1及第二接收電極s2，以相對所述第一接收電極s1產(chǎn)生第一檢測矩陣并相對所述第二接收電極s2產(chǎn)生第二檢測矩陣，其中所述第一接收電極s1相鄰所述第二接收電極s2。所述解碼模組27、27'解碼所述第一檢測矩陣及所述第二檢測矩陣(例如md)，以相對所述第一接收電極產(chǎn)生多個第一檢測向量，例如(i11+iq11)～(in1+jqn1)并相對所述第二接收電極產(chǎn)生多個第二檢測向量(i12+iq12)～(in2+jqn2)，如圖7所示。必須說明的是，所述第一接收電極及所述第二接收電極并不限于s1、s2。所述第一接收電極及所述第二接收電極可依序選擇為s1和s2、s2和s3、…、sn-1和sn。第二實施例的所述濾波器15及所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元133也可應(yīng)用于圖7之并行驅(qū)動電容觸控系統(tǒng)2，且所述檢測電路23及所述解碼模組27、27'的功能類似于圖7的檢測電路23及解碼模組27，故于此不再贅述。第二實施例與第一實施例的差異在于，第二實施例的檢測端2r還包含第一減法電路281，將所述多個第一檢測向量(例如i11+jq11)的第一數(shù)字分量(例如i11)與所述多個第二檢測向量(例如i12+jq12)的第一數(shù)字分量(例如i12)進行減法運算以產(chǎn)生第一分量差δi＝i11-i12；并包含第二減法電路282將所述多個第一檢測向量的第二數(shù)字分量(例如q11)與所述多個第二檢測向量的第二數(shù)字分量(例如q12)進行減法運算以產(chǎn)生第二分量差δq＝q11-q12。本實施例中，所述第一數(shù)字分量，例如i11也可稱為感測單元2011的二維檢測向量的第一數(shù)字分量；所述第一數(shù)字分量，例如i12也可稱為感測單元2012的二維檢測向量的第一數(shù)字分量；所述第二數(shù)字分量，例如q11也可稱為感測單元2011的二維檢測向量的第二數(shù)字分量；所述第二數(shù)字分量，例如q12也可稱為感測單元2012的二維檢測向量的第二數(shù)字分量；其中，所述感測單元2011與所述感測單元2012為兩相鄰感測單元行中的兩相鄰感測單元，如圖7所示。更詳言之，本發(fā)明中，所述第一減法電路281及所述第二減法電路282用以依序?qū)蓛上噜徑邮针姌O輸出的檢測向量的兩數(shù)字分量分別進行減法運算，例如依序計算接收電極s1及s2、接收電極s2及s3、…、接收電極sn-1及sn的減法運算。進行減法運算的原因在于，兩兩相鄰接收電極于所述電容感測陣列中所受到的噪音干擾相似，經(jīng)由減法運算，則可有效消除外界的噪音干擾。為了提升判斷精度，本實施例中電容觸控系統(tǒng)可還包含儲存元件29用以儲存所述第一檢測向量(即二維檢測向量)的第一基值分量(例如i11_bs)與所述第二檢測向量(即二維檢測向量)的第一基值分量(例如i12_bs)的第一基值分量差δibs，以及所述第一檢測向量(即二維檢測向量)的第二基值分量(例如q11_bs)與所述第二檢測向量(即二維檢測向量)的第二基值分量(例如q12_bs)的第二基值分量差δqbs；其中，所述第一基值分量差δibs及所述第二基值分量差δqbs可稱為理想值，用以消除信號中的固有噪音，并以查找表的形式儲存于所述儲存元件29中(如下表1所示)。所述儲存元件29例如為揮發(fā)性儲存體或緩沖器。所述檢測端2r還包含第三減法電路283及第四減法電路284。所述第三減法電路283用以將所述第一分量差δi與所述第一基值分量差δibs進行減法運算以產(chǎn)生第三分量差δi'。所述第四減法電路284用以將所述第二分量差δq與所述第二基值分量差δqbs進行減法運算以產(chǎn)生第四分量差δq'。最后，所述處理單元14用以計算所述第三分量差δi'與所述第四分量差δq'的向量范數(shù)所述處理單元14并比較所述向量范數(shù)與至少一閾值以判定碰觸事件，如圖4所示。更詳言之，第二實施例中，所述處理單元14并非直接計算所述解碼模組27輸出的所述多個二維檢測向量(i11+iq11)～(inn+jqnn)的向量范數(shù)，而是先將鄰近的感測單元的二維檢測向量的各數(shù)字分量先進行減法運算后，再計算差分數(shù)字分量的向量范數(shù)。請參照表1所示，其為本發(fā)明第二實施例的實施方式，此處以6條接收電極s1～s6為例進行說明。可以了解的是，接收電極的數(shù)目及表1中的數(shù)值僅為例示，并非用以限定本發(fā)明。必須說明的是，表1雖以列感測單元為例進行說明，其他列感測單元的運作也相同。表1接收電極s1s2s3s4s5s6int(n)500148004612458844664300qnt(n)8660989811078121631326914370變化比,r0.900.950.991.010.900.85it(n)450145604566463440193655qt(n)7794940310967122851194212215δibs＝int(n)-int(n+1)20118824122166δqbs＝qnt(n)-qnt(n+1)-1238-1180-1085-1106-1101δi＝it(n)-it(n+1)-59-6-68615364δq＝qt(n)-qt(n+1)-1609-1564-1318343-273δi'＝δi-δibs-260-194-92493198δq'＝δq-δqbs-371-384-2331449828向量范數(shù)453430251-1531-851累積和-1248-1701-2131-2382-8510調(diào)整后向量范數(shù)1134681251015312382補償因子268442440322370206491917417896補償后向量范數(shù)18581014343017922602第二列的int(n)為電容感測陣列未被碰觸時，各接收電極s1～s6的感測單元的二維檢測向量的第一基值分量的初始值，例如int(1)＝i11_bs～int(6)＝i16_bs、int(1)＝i21_bs～int(6)＝i26_bs、…、int(1)＝in1_bs～int(6)＝in6_bs。int(n)例如在開機程序或重置程序等初始化程序中所感測。第三列的qnt(n)為電容感測陣列未被碰觸時，各接收電極s1～s6的感測單元的二維檢測向量的第二基值分量的初始值，例如qnt(1)＝q11_bs～qnt(6)＝q16_bs、qnt(1)＝q21_bs～qnt(6)＝q26_bs、…、qnt(1)＝qn1_bs～qnt(6)＝qn6_bs。qnt(n)同樣在初始化程序中所感測。第四列為所述多個二維檢測向量的碰觸分量值與未碰觸分量值的變化比r。第五列的it(n)為電容感測陣列發(fā)生碰觸時，各接收電極s1～s6的感測單元的二維檢測向量的第一數(shù)字分量的目前值，例如it(1)＝i11～it(6)＝i16、it(1)＝i21～it(6)＝i26、…、it(1)＝in1～it(6)＝in6。it(n)例如為運作時所感測，且it(n)＝int(n)×r。第六列的qt(n)為電容感測陣列發(fā)生碰觸時，各接收電極s1～s6的感測單元的二維檢測向量的第二數(shù)字分量的目前值，例如qt(1)＝q11～qt(6)＝q16、qt(1)＝q21～qt(6)＝q26、…、qt(1)＝qn1～qt(6)＝qn6。qt(n)例如為運作時所感測，且qt(n)＝qnt(n)×r?；旧?，int(n)與it(n)以及qnt(n)與qt(n)以相同方式所檢測而得，只是int(n)及qnt(n)是在未碰觸時所檢測而it(n)及qt(n)是在碰觸時所檢測。因此，int(n)及qnt(n)作為it(n)及qt(n)的基準值。第七列的δibs為電容感測陣列未被碰觸時，兩兩相鄰接收電極的感測單元的二維檢測向量的第一基值分量的第一基值分量差，例如i11_bs-i12_bs、i12_bs-i13_bs、…、i15_bs-i16_bs，其他列也同。也即，δibs＝int(n)-int(n+1)，其例如由所述第一減法電路281所事先計算并暫存于所述儲存元件29中。第八列的δqbs為電容感測陣列未被碰觸時，兩兩相鄰接收電極的感測單元的二維檢測向量的第二基值分量的第二基值分量差，例如q11_bs-q12_bs、q12_bs-q13_bs、…、q15_bs-q16_bs，其他列也同。也即，δqbs＝qnt(n)-qnt(n+1)，其例如由所述第二減法電路282所事先計算并暫存于所述儲存元件29中。第九列的δi為電容感測陣列發(fā)生碰觸時，兩兩相鄰接收電極的感測單元的二維檢測向量的第一數(shù)字分量的第一分量差，例如i11-i12、i12-i13、…、i15-i16，其他列也同。也即，δi＝it(n)-it(n+1)，其例如由所述第一減法電路281于系統(tǒng)運作時所計算的目前分量差。第十列的δq為電容感測陣列發(fā)生碰觸時，兩兩相鄰接收電極的感測單元的二維檢測向量的第二數(shù)字分量的第二分量差，例如q11-q12、q12-q13、…、q15-q16，其他列也同。也即，δq＝qt(n)-qt(n+1)，其例如由所述第二減法電路282于系統(tǒng)運作時所計算的目前分量差。第十一列的δi'為所述第一分量差δi與所述第一基值分量差δibs的減法運算，其例如由所述第三減法電路283于系統(tǒng)運作時所計算。此運算主要是計算量測值與初始值的差異。所述第一分量差δi為目前檢測值而所述第一基值分量差δibs暫存于所述儲存元件29。必須說明的是，雖然表1顯示δi'＝δi-δibs，然而其僅用以說明而非用以限定本發(fā)明。另一實施例中，δi'＝δibs-δi。此時，僅δi'的符號相反而運算過程則類似。第十二列的δq'為所述第二分量差δq與所述第二基值分量差δqbs的減法運算，其例如由所述第四減法電路284于系統(tǒng)運作時所計算。此運算主要是計算量測值與初始值的差異。所述第二分量差δq為目前檢測值而所述第二基值分量差δqbs暫存于所述儲存元件29。必須說明的是，雖然表1顯示δq'＝δq-δqbs，然而其僅用以說明而非用以限定本發(fā)明。另一實施例中，δq'＝δqbs-δq。此時，僅δq'的符號相反而運算過程則類似。第十三列為δi'與δq'的向量范數(shù)由所述處理單元14所計算。所述向量范數(shù)的正負值則由二維向量(δibs,δqbs)、(δi,δq)及(δi',δq')所共同決定。決定兩二維向量及差值的正負值的方式定義為函數(shù)當sign((u2×v1)-(u1×v2))大于0則為正而當sign((u2×v1)-(u1×v2))小于0則為負。本實施例中，向量范數(shù)的正負值可由sign((qnt(n+1)×int(n))-(int(n+1)×qnt(n))與sign((δqbs×δi)-(δq×δibs)所共同決定。利用本實施例的差分檢測會出現(xiàn)向量范數(shù)的數(shù)目比接收電極的數(shù)目少一個的情形。因此，須調(diào)整第十三列所求得的向量范數(shù)以恢復(fù)為與接收電極的數(shù)目相同。首先，如第十四列所示將最后一個接收電極(例如s6)的數(shù)值定為0。接著，從第十四列的最后一個值(即0)開始，加上第十三列的前一個值以得到累積和；也即，0+(-851)＝-851,(-851)+(-1531)＝-2382,(-2382)+251＝-2131,(-2131)+430＝-1701以及(-1701)+453＝-1248。在因接觸所發(fā)生的接觸變化均為正數(shù)的假設(shè)下，向量范數(shù)應(yīng)所述大于等于0。一種實施例中，可將第十四列的累積和的最小值調(diào)整為0，接著將其他累積和同時進行調(diào)整則可得到第十五列的調(diào)整后向量范數(shù)。例如，此時將第十四列的每個累積和均加上2382，則可到第十五列的調(diào)整后向量范數(shù)。必須說明的是，計算調(diào)整后向量范數(shù)并不限于本發(fā)明中所舉出者，例如可將與第一個接收電極(例如s1)相關(guān)的數(shù)值定為0，然后反向運算，只要能將第十三列的向量范數(shù)的數(shù)目恢復(fù)且使數(shù)值皆大于等于零即可，并無特定限制。如前所述，由于電容感測陣列的各感測單元于發(fā)生碰觸時會有不同變化量，因此若相對不同感測單元設(shè)定不同的閾值(如圖4的th)，所述處理單元14則可直接比較第十五列的調(diào)整后向量范數(shù)與相對各感測單元的閾值，以判斷各感測單元的感測狀態(tài)。某些實施例中，可進一步對所述多個調(diào)整后向量范數(shù)相對各感測單元進行補償，以使所述處理單元14可比較第十七列的補償后向量范數(shù)與單一閾值。第十六列例如提供一種補償因子(compensationfactor)。接著，第十七列的補償后向量范數(shù)＝(調(diào)整后向量范數(shù)×補償因子)/214?？梢粤私獾氖牵a償所述多個調(diào)整后向量范數(shù)的方式并不限于本發(fā)明中所舉出者。最后，所述處理單元14可將補償后向量范數(shù)與至少一預(yù)設(shè)閾值比較，以判定碰觸事件以及碰觸位置。本實施例中，第十三列至第十七列的運算可由所述處理單元14進行，且可以軟件及/或硬件實現(xiàn)。請參照圖9所示，其為本發(fā)明第二實施例的電容觸控系統(tǒng)的運作方法的流程圖，包含下列步驟：于電容感測陣列的幀期間的多個驅(qū)動時段的所述多個驅(qū)動時段中的每一個并行地對多個驅(qū)動電極輸入編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號(步驟s91)；于所述幀期間內(nèi)依序檢測所述電容感測陣列的多個接收電極，以相對所述多個接收電極中的每一個分別產(chǎn)生檢測矩陣(步驟s92)；解碼所述多個檢測矩陣以相對所述多個接收電極中的每一個產(chǎn)生多個二維檢測向量，其中所述多個二維檢測向量中的每一個具有第一數(shù)字分量及第二數(shù)字分量(步驟s93)；依序?qū)λ龆鄠€接收電極中兩兩相鄰接收電極的所述多個二維檢測向量的第一數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第一分量差(步驟s94)；以及依序?qū)λ龆鄠€接收電極中兩兩相鄰接收電極的所述多個二維檢測向量的第二數(shù)字分量進行減法運算以產(chǎn)生第二分量差(步驟s95)。本運作方法已詳述于前，例如步驟s91系由驅(qū)動端2t所執(zhí)行，而步驟s92～s95系由檢測端2r所執(zhí)行。例如在步驟s94及s95中，所述第一減法電路281依序計算(i11-i12)、(i12-i13)、(i13-i14)…以得到第一分量差δi；所述第二減法電路282依序計算(q11-q12)、(q12-q13)、(q13-q14)…以得到第二分量差δq，如表1所示，據(jù)以實現(xiàn)依序?qū)λ龆鄠€接收電極中兩兩相鄰接收電極的所述多個二維檢測向量的數(shù)字分量進行減法運算。在步驟s92中，如圖7及8所示，所述多個檢測矩陣md利用兩混和信號mx1及mx2調(diào)變檢測所述多個接收電極s1～sn的多個檢測信號y(t)以相對每一驅(qū)動時段k1～kn分別產(chǎn)生一對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)，以及利用積分器132及132'累積相對每一驅(qū)動時段k1～kn的所述對調(diào)變后檢測信號y1(t)及y2(t)所產(chǎn)生的。所述儲存元件29中則依序儲存(例如于初始化程序)有所述多個接收電極s1～sn中兩兩相鄰接收電極的所述多個二維檢測向量的第一基值分量的第一基值分量差δibs，以及依序儲存所述多個接收電極中兩兩相鄰接收電極的所述多個二維檢測向量的第二基值分量的第二基值分量差δqbs，如表1所示。所述第三減法電路283則計算所述第一分量差δi與所述第一基值分量差δibs的第三分量差δi'。所述第四減法電路284則計算所述第二分量差δq與所述第二基值分量差δqbs的第四分量差δq'。最后，所述處理單元29則計算所述第三分量差δi'與所述第四分量差δq'的向量范數(shù)并相對每一感測單元均可求得向量范數(shù)，也即n×n個向量范數(shù)。所述處理單元29并比較所述多個向量范數(shù)與至少一閾值(如圖4所示)以判定碰觸事件。如前所述，所述向量范數(shù)可被補償或不被補償，端視其應(yīng)用而定。雖然上述實施例僅以互容式觸控系統(tǒng)為例進行說明，然而本發(fā)明并不以此為限。更詳言之，當所述多個編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)輸入至所述多個驅(qū)動電極d1～dn且所述電容觸控系統(tǒng)用作為互容式系統(tǒng)時，所述第一接收電極及所述第二接收電極為所述多個接收電極s1～sn中的兩者。當所述多個編碼及調(diào)變后驅(qū)動信號x1(tk)～xn(tk)輸入至所述多個驅(qū)動電極d1～dn且所述電容觸控系統(tǒng)用作為自容式系統(tǒng)時，所述第一接收電極及所述第二接收電極為所述多個驅(qū)動電極d1～dn中的兩者。必須說明的是，雖然此處以兩相鄰感測單元行中的兩相鄰感測單元(或兩相鄰接收電極)為例進行說明，然而其僅用以說明而非用以限定本發(fā)明。其他實施例中，所述兩感測單元(或兩接收電極)可彼此不相鄰而被至少一個其他的感測單元(或接收電極)所分隔。如上所述，當電容式感測器應(yīng)用于不同電子裝置時，會受到所述電子裝置的噪音干擾而降低檢測精確度。因此，本發(fā)明還提出一種電容觸控系統(tǒng)(圖7-8)及其運作方法(圖9)，其利用計算相鄰接收電極產(chǎn)生的檢測矩陣的數(shù)字分量的減法運算，以消除噪音干擾而提高檢測精度。雖然本發(fā)明已通過前述實例披露，但是其并非用以限定本發(fā)明，任何本發(fā)明所屬
技術(shù)領(lǐng)域：
中具有通常知識的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作各種的更動與修改。因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的權(quán)利要求所界定的范圍為準。當前第1頁12