1.一種系統(tǒng)，包括：
天線；
阻抗測量電路，電耦合至天線，其中阻抗測量電路被配置為被用于獲得指示天線的阻抗的測量值；
阻抗調(diào)諧電路，電耦合至天線，其中阻抗調(diào)諧電路包括一個或多個電抗元件，所述一個或多個電抗元件能夠被用于調(diào)節(jié)耦合至天線的阻抗；以及
控制器，被配置為：(i)使用阻抗測量電路來獲得指示天線的阻抗的測量值；(ii)基于所獲得的測量值確定對阻抗調(diào)諧電路的調(diào)節(jié)；以及(iii)使得阻抗調(diào)諧電路進行所確定的調(diào)節(jié)。
2.如權利要求1所述的系統(tǒng)，還包括：
收發(fā)器，通過阻抗調(diào)諧電路連接至天線，其中收發(fā)器被配置為使用天線來發(fā)送和接收信號，并且其中收發(fā)器具有預定阻抗；并且
其中控制器被配置為通過包括以下各項的過程確定對阻抗調(diào)諧電路的調(diào)節(jié)：(i)基于所獲得的測量值估計天線的阻抗；(ii)基于收發(fā)器的預定阻抗和所估計的天線的阻抗，確定阻抗調(diào)諧電路的目標阻抗；以及(iii)基于目標阻抗確定對阻抗調(diào)諧電路的一個或多個調(diào)節(jié)。
3.如權利要求1所述的系統(tǒng)，
其中阻抗測量電路包括：(i)測試電流源，被配置為通過天線傳送測試電流；以及(ii)電壓傳感器，被配置為在通過天線傳送測試電流時測量天線兩端的電壓；并且
其中控制器被配置為從電壓傳感器接收對天線兩端的電壓的一系列電壓測量值，其中所述一系列電壓測量值具有與測試電流的頻率相對應的采樣頻率。
4.如權利要求3所述的系統(tǒng)，其中阻抗調(diào)諧電路包括一個或多個開關，所述一個或多個開關將所述一個或多個電抗元件選擇性耦合至天線，并且其中控制器還被配置為：(i)使用所述一系列電壓測量值以及對測試電流的指示來確定天線和阻抗調(diào)諧電路的組合阻抗；(ii)基于一個或多個開關在測量期間的狀態(tài)確定阻抗調(diào)諧電路的依賴于狀態(tài)的阻抗；以及(iii)基于組合阻抗和依賴于狀態(tài)的阻抗估計天線的阻抗。
5.如權利要求1所述的系統(tǒng)，
其中阻抗測量電路包括：(i)測試電流源，被配置為通過天線傳送測試電流；(ii)電壓傳感器，被配置為在通過天線傳送測試電流時測量天線兩端的電壓；以及(iii)電流鏡，被配置為提供與通過天線傳送的測試電流成鏡像的復制電流；并且
其中控制器被配置為使用阻抗測量電路來通過包括以下各項的過程獲得測量值：(i)在通過天線傳送測試電流時從電壓傳感器獲得對天線兩端的電壓的一系列測量值；以及(ii)獲得對由電流鏡提供的復制電流的一系列測量值。
6.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其中控制器被配置為經(jīng)由將所述一個或多個電抗元件選擇性耦合至天線的一個或多個開關進行所確定的調(diào)節(jié)；并且其中阻抗調(diào)諧電路經(jīng)由天線引線電耦合至天線，并且其中所述一個或多個電抗元件包括以下各項中的至少一者：
并聯(lián)電容器，經(jīng)由所述一個或多個開關中的至少一個跨天線引線耦合；
串聯(lián)電容器，經(jīng)由所述一個或多個開關中的至少一個與所述天線引線中的一個串聯(lián)耦合；
旁路電感器，經(jīng)由所述一個或多個開關中的至少一個跨天線引線耦合；或
串聯(lián)電感器，經(jīng)由所述一個或多個開關中的至少一個與所述天線引線中的一個串聯(lián)耦合。
7.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其中控制器被配置為經(jīng)由將所述一個或多個電抗元件選擇性耦合至天線的一個或多個開關進行所確定的調(diào)節(jié)，并且其中所述一個或多個電抗元件包括具有相應的電容的多個并聯(lián)電容器，其中多個電容器中的每一個經(jīng)由所述一個或多個開關中的相應開關跨天線的引線耦合。
8.如權利要求1所述的系統(tǒng)，還包括：
聚合物材料，被形成為包括可體戴表面；以及
基板，至少部分嵌入在聚合物材料之內(nèi)，其中天線、阻抗測量電路、阻抗調(diào)諧電路和控制器被安置在基板上。
9.如權利要求8所述的系統(tǒng)，其中聚合物材料具有凹表面和凸表面，其中凹表面被配置為可移除地安裝在角膜表面上，并且凸表面被配置為當凹表面如此安裝時與眼瞼運動相容。
10.一種方法，包括：
獲得指示天線的阻抗的測量值；
基于所獲得的測量值確定對耦合至天線的阻抗調(diào)諧電路的調(diào)節(jié)，其中阻抗調(diào)諧電路包括一個或多個電抗元件，所述一個或多個電抗元件能夠被用于調(diào)節(jié)耦合至天線的阻抗；以及
使得阻抗調(diào)諧電路進行所確定的調(diào)節(jié)。
11.如權利要求10所述的方法，還包括：
基于所獲得的測量值估計天線的阻抗；
基于所估計的天線的阻抗和通過阻抗調(diào)諧電路耦合至天線的收發(fā)器的預定阻抗，確定阻抗調(diào)諧電路的目標阻抗；以及
基于目標阻抗確定對阻抗調(diào)諧電路的一個或多個調(diào)節(jié)。
12.如權利要求10所述的方法，其中獲得測量值包括：
通過天線傳送測試電流；以及
在通過天線傳送測試電流時測量天線兩端的電壓，其中所獲得的測量值包括測量的電壓。
13.如權利要求12所述的方法，其中獲得測量值還包括：
在通過天線傳送測試電流時獲得對天線兩端的電壓的一系列電壓測量值，其中所述一系列電壓測量值具有與測試電流的頻率相對應的采樣頻率。
14.如權利要求13所述的方法，其中所述一個或多個電抗元件能夠經(jīng)由一個或多個開關選擇性耦合至天線，所述方法還包括：
使用所述一系列電壓測量值和對所施加的測試電流的指示來確定天線和阻抗調(diào)諧電路的組合阻抗；
基于所述一個或多個開關的狀態(tài)，確定阻抗調(diào)諧電路的依賴于狀態(tài)的阻抗；以及
基于組合阻抗和依賴于狀態(tài)的阻抗，估計天線的阻抗。
15.如權利要求10所述的方法，其中獲得測量值包括：
在通過天線傳送測試電流時從電壓傳感器獲得天線兩端的電壓的一系列電壓測量值；以及
獲得對由電流鏡提供的復制電流的一系列電流測量值，其中復制與通過天線傳送的測試電流成鏡像。
16.一種可體戴設備，包括：
聚合物材料，被成形為包括可體戴表面；
基板，至少部分被嵌入在聚合物材料內(nèi)；
天線，安置在基板上；
阻抗測量電路，安置在基板上，其中阻抗測量電路耦合至天線，其中阻抗測量電路被配置為用于獲得指示天線的阻抗的測量值；
阻抗調(diào)諧電路，安置在基板上，其中阻抗調(diào)諧電路耦合至天線，其中阻抗調(diào)諧電路包括一個或多個電抗元件，所述一個或多個電抗元件能夠被用于調(diào)節(jié)耦合至天線的阻抗；以及
控制器，安置在基板上，其中控制器被配置為：(i)使用阻抗測量電路來獲得指示天線的阻抗的測量值；(ii)基于所獲得的測量值確定對阻抗調(diào)諧電路的調(diào)節(jié)；以及(iii)使得阻抗調(diào)諧電路進行所確定的調(diào)節(jié)。
17.如權利要求16所述的可體戴設備，還包括：
收發(fā)器，安置在基板上，其中收發(fā)器通過阻抗調(diào)諧電路連接至天線，其中收發(fā)器被配置為使用天線來發(fā)送和接收信號，并且其中收發(fā)器具有預定阻抗；并且
其中控制器被配置為通過包括以下各項的過程確定對阻抗調(diào)諧電路的調(diào)節(jié)：(i)基于所獲得的測量值估計天線的阻抗；(ii)基于收發(fā)器的預定阻抗和估計的天線的阻抗確定阻抗調(diào)諧電路的目標阻抗；以及(iii)基于目標阻抗確定對阻抗調(diào)諧電路的一個或多個調(diào)節(jié)。
18.如權利要求16所述的可體戴設備，
其中阻抗調(diào)諧電路包括：(i)測試電流源，被配置為通過天線傳送測試電流；以及(ii)電壓傳感器，被配置為在通過天線傳送測試電流時測量天線兩端的電壓；并且
其中控制器被配置為從電壓傳感器接收對天線兩端的電壓的一系列電壓測量值，其中所述一系列電壓測量值具有與測試電流的頻率相對應的采樣頻率。
19.如權利要求18所述的可體戴設備，其中阻抗調(diào)諧電路包括一個或多個開關，所述一個或多個開關將所述一個或多個電抗元件選擇性耦合至天線，并且其中控制器還被配置為：(i)使用所述一系列電壓測量值以及對測試電流的指示來確定天線和阻抗調(diào)諧電路的組合阻抗；(ii)基于所述一個或多個開關在測量期間的狀態(tài)確定阻抗調(diào)諧電路的依賴于狀態(tài)的阻抗；以及(iii)基于組合阻抗和依賴于狀態(tài)的阻抗估計天線的阻抗。
20.如權利要求16所述的可體戴設備，其中聚合物材料具有凹表面和凸表面，其中凹表面被配置為可移除地安裝在角膜表面上，并且凸表面被配置為當凹表面如此安裝時與眼瞼運動相容。