一種顯示面板的布線結構及顯示面板的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明實施例公開了一種顯示面板的布線結構及顯示面板，包括紅綠藍信號線，三條信號控制線；以及一開關控制線，開關控制線上設置有開關晶體管；其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管連接，且通過開關晶體管，與相應的信號控制線連接；開關晶體管包括一控制端，用于接收控制信號，控制信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。當該布線結構用作顯示面板的檢測系統(tǒng)時，取消了對信號線進行切斷的過程，且該布線結構可重復使用，大大的降低了制造成本，十分方便。
【專利說明】一種顯示面板的布線結構及顯示面板
【【技術領域】】
[0001]本發(fā)明涉及顯示面板【技術領域】，特別涉及一種顯示面板的布線結構及顯示面板?！尽颈尘凹夹g】】
[0002]液晶顯示裝置(LCD, Liquid Crystal Display)具有機身薄、省電、無福射等眾多優(yōu)點，得到了廣泛的應用。現(xiàn)有市場上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示器，其包括液晶顯示面板及背光模組(backlight module)。液晶顯示面板的工作原理是在兩片平行的玻璃基板中放置液晶分子，通過給玻璃基板的電路通電來控制液晶分子改變方向，將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。
[0003]現(xiàn)有技術中，在將所述液晶顯示面板組裝成液晶顯示裝置前，液晶顯示面板需要采用短路棒(Shorting Bar)技術進行良率檢測，以檢測液晶顯示面板是否有壞點(MURA)或亮點(D0T/LINE)等缺陷。例如在Data側，會將IXD信號線11 (即紅綠藍(R/G/B)信號線)通過氧化銦錫(ITO, Indium tin oxide)與對應的測試線12連接在一起,之后將測試線12外引并連接至對應的探針13進行良率檢測，可如圖1a所示；當面板檢測完成后，利用激光將LCD信號線11切斷，以斷開與測試線12的連接，即斷開與檢測系統(tǒng)的連接，可如圖1b所示；良率檢測完成后，在焊接區(qū)域14 (bonding area)對LCD信號線11進行相關焊接后，面板可進行正常操作。
[0004]可是在實踐中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有的顯示面板檢測系統(tǒng)在對顯示面板進行完良率檢測之后,顯示面板檢測系統(tǒng)可能就會直接丟棄掉,從而增加生產(chǎn)成本。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0005]本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板的布線結構及顯示面板，降低了制造成本。
[0006]為解決上述問題，本發(fā)明實施例的技術方案如下:
[0007]一種顯示面板的布線結構，其中包括:
[0008]紅綠藍信號線；
[0009]三條信號控制線；以及
[0010]一開關控制線，所述開關控制線上設置有開關晶體管；
[0011]其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管連接，且通過所述開關晶體管，與相應的信號控制線連接；
[0012]所述開關晶體管包括一控制端，用于接收控制信號，根據(jù)所述控制信號控制所述信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。
[0013]在上述顯示面板的布線結構中，當所述顯示面板的布線結構用于對所述顯示面板進行檢測時:所述信號控制線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通時，接收檢測信號，并根據(jù)所述檢測信號對與所述信號控制線相應連接的信號線進行檢測。
[0014]在上述顯示面板的布線結構中，當所述顯示面板的布線結構用于對觸控面板進行控制時:所述信號線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通，且所述顯示面板內(nèi)像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開時，接收并傳輸觸控信號，將所述觸控信號反饋至所述信號控制線。
[0015]在上述顯示面板的布線結構中，所述開關控制線上設置有半導體層，所述半導體層上有所述開關晶體管。
[0016]在上述顯示面板的布線結構中，所述開關晶體管為薄膜場效應管或者金屬氧化層半導體場效晶體管。
[0017]為解決上述問題，本發(fā)明實施例的技術方案如下:
[0018]一種顯示面板，其中包括一布線結構，所述布線結構包括:
[0019]紅綠藍信號線；
[0020]三條信號控制線；以及
[0021]一開關控制線，所述開關控制線上設置有開關晶體管；
[0022]其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管連接，且通過所述開關晶體管，與相應的信號控制線連接；
[0023]所述開關晶體管包括一控制端，用于接收控制信號，根據(jù)所述控制信號控制所述信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。
[0024]在上述顯示面板中，當所述顯示面板的布線結構用于對所述顯示面板進行檢測時:所述信號控制線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通時，接收檢測信號，并根據(jù)所述檢測信號對與所述信號控制線相應連接的信號線進行檢測。
[0025]在上述顯示面板中，當所述顯示面板的布線結構用于對觸控面板進行控制時:所述信號線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通，且所述顯示面板內(nèi)像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開時，接收并傳輸觸控信號，將所述觸控信號反饋至所述信號控制線。
[0026]在上述顯示面板中，所述開關控制線上設置有半導體層，所述半導體層上有所述開關晶體管。
[0027]在上述顯示面板中，所述開關晶體管為薄膜場效應管或者金屬氧化層半導體場效晶體管。
[0028]相對現(xiàn)有技術，本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構及顯示面板，基于現(xiàn)有的顯示面板檢測系統(tǒng)，增加一開關控制線，并在開關控制線上設置開關晶體管，通過開關晶體管，控制信號控制線與相應的信號線之間的線路為導通或斷開，當所述布線結構用作檢測系統(tǒng)時，取消了對信號線進行切斷的過程，且所述布線結構可重復使用，大大的降低了制造成本，十分方便。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0029]下面結合附圖，通過對本發(fā)明的【具體實施方式】詳細描述，將使本發(fā)明的技術方案及其它有益效果顯而易見。
[0030]圖1a和圖1b均為現(xiàn)有技術中顯示面板檢測系統(tǒng)的示意圖；
[0031]圖2為本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構的示意圖；
[0032]圖3為本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構的另一示意圖；
[0033]圖4為本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構的另一示意圖；
[0034]圖5為本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構的另一示意圖；
[0035]圖6為本發(fā)明提供的顯示面板的結構示意圖。
【【具體實施方式】】
[0036]請參照圖式，其中相同的組件符號代表相同的組件，本發(fā)明的原理是以實施在一適當?shù)倪\算環(huán)境中來舉例說明。以下的說明是基于所例示的本發(fā)明具體實施例，其不應被視為限制本發(fā)明未在此詳述的其它具體實施例。
[0037]請參考圖2，圖2為本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構的結構示意圖，其中，所述顯示面板的布線結構包括:
[0038]紅綠藍(R/G/B)信號線、三條信號控制線，以及一開關控制線23，所述開關控制線23上設置有開關晶體管24 ；
[0039]其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管24連接，且通過所述開關晶體管24，與相應的信號控制線連接；
[0040]所述開關晶體管24包括一控制端，用于接收控制信號，根據(jù)所述控制信號控制所述信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。
[0041]如圖2所示，其中，211為R信號線、212為G信號線、213為B信號線；由于每一所述信號線通過所述開關晶體管24與相應的信號控制線連接，對應的，信號控制線221與R信號線連接，信號控制線222與G信號線連接，信號控制線223與B信號線連接。
[0042]可以理解的是，紅綠藍信號線是通過氧化銦錫ITO與對應的信號控制線連接在一起的；另外，本發(fā)明實施例中，所述開關晶體管24為薄膜場效應管TFT(Thin FilmTransistor)或者金屬氧化層半導體場效晶體管MOSFET(Metal-Oxide-SemiconductorField-Effect Transistor)，此處不作具體限定。
[0043]優(yōu)選的，所述開關控制線23上設置有半導體層，所述半導體層上有所述開關晶體管24 ;進一步優(yōu)選的，所述開關晶體管24為TFT晶體管，所述開關控制線23可簡單稱為T線。所述TFT晶體管包括一控制端、一輸入端以及一輸出端，其中，所述開關控制線23向所述每一所述TFT晶體管的控制端輸入控制信號，并根據(jù)控制信號控制所述輸入端及所述輸出端之間的線路為導通或斷開。
[0044]容易想到的是，本發(fā)明對所述開關晶體管24的控制端、輸入端以及輸出端的內(nèi)部連接關系不作具體限定，只要實現(xiàn)所述控制端接收控制信號，所述輸入端及所述輸出端之間的線路為導通即代表所述信號控制線與相應的信號線之間為導通，所述輸入端及所述輸出端之間的線路為斷開即代表所述信號控制線與相應的信號線之間為斷開即可。
[0045]可以理解的是，本發(fā)明實施例所提供的顯示面板的布線結構是基于現(xiàn)有的檢測系統(tǒng)進行改變的，可一并參考圖1和圖2，在其基礎上，增加開關控制線23，并在所述開關控制線23上設置開關晶體管24，以使根據(jù)控制信號控制開關晶體管24的輸入端及所述輸出端之間的線路為導通或斷開。
[0046]在某些實施方式中，本發(fā)明實施例提供的顯示面板的布線結構，可作為一檢測系統(tǒng)，對顯示面板進行檢測；可以理解的是，在將液晶顯示面板組裝成液晶顯示裝置前，液晶顯示面板需要采用Shorting Bar技術進行良率檢測，本發(fā)明實施例中，該檢測系統(tǒng)為采用Shorting Bar技術檢測液晶顯示面板是否有壞點或亮點等缺陷的系統(tǒng)。優(yōu)選的,在Data偵牝如圖2所示的結構，通過ITO和開關晶體管24，將紅綠藍(R/G/B)信號線與對應的信號控制線(檢測系統(tǒng)中可稱為測試線)連接在一起，連接后，可將信號控制線外引并連接對應的探針進行良率檢測。
[0047]可具體的，如圖2所示，當所述顯示面板的布線結構用于對所述顯示面板進行檢測時，向所述開關控制線23輸入控制信號，且向所述信號控制線輸入檢測信號；其中，所述開關控制線23，接收控制信號，并根據(jù)所述控制信號控制開關晶體管24，以使得所述信號控制線與相應的信號線之間的線路導通；所述信號控制線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通時，接收檢測信號，并根據(jù)所述檢測信號對與所述信號控制線相應連接的信號線進行檢測。
[0048]容易想到的是，所述開關控制線23的一端可以設置有探針，以向開關晶體管24輸入控制信號；所述信號控制線的一端也可以設置有探針，以輸入所述檢測信號，此處不作具體限定。
[0049]良率檢測完成后，所述開關控制線23，接收控制信號，并根據(jù)所述控制信號控制開關晶體管24，以使得所述信號控制線與相應的信號線之間斷開，如圖3所示，其后，在焊接區(qū)域25 (bonding area)對信號線進行相關焊接后，顯示面板可進行正常操作。
[0050]由上述可知，本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構，基于現(xiàn)有的顯示面板檢測系統(tǒng)，增加一開關控制線23，并在所述開關控制線23上設置的開關晶體管24，并且根據(jù)控制信號控制開關晶體管24的輸入端及所述輸出端之間的線路為導通或斷開，即控制所述信號控制線與相應的信號線之間為導通或斷開，從而取消了現(xiàn)有利用激光(laser)對信號線進行切斷的過程，當所述布線結構用作檢測系統(tǒng)時，所述布線結構可重復使用，大大的降低了制造成本，十分方便。
[0051]在某些實施方式中，本發(fā)明實施例提供的顯示面板的布線結構，可用于對觸控面板進行控制；可以理解的是，目前電容式的觸控可以分為互電容和自電容兩種，互電容方式有兩個電極，即Tx和Rx，其中，Tx發(fā)送訊號，Rx接收訊號，觸摸物體(如手指)會改變Tx/Rx之間的電容值，進而可以得知手指的位置。自電容就只有一種電極，可以視為只有Rx，而手指會改變Rx的電容值。
[0052]可具體的，如圖4所示，為本發(fā)明所述顯示面板的布線結構用于對觸控面板進行觸控時的結構示意圖，向所述開關控制線23輸入控制信號，所述開關控制線23，接收控制信號，并根據(jù)所述控制信號控制開關晶體管24，以使得所述信號控制線與相應的信號線之間導通；所述信號線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通，且所述顯示面板內(nèi)部26像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開時，接收并傳輸觸控信號Rx，將所述觸控信號Rx反饋至所述信號控制線。
[0053]可以理解的是，由于所述顯示面板內(nèi)部26像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開，因此，可以將信號線用于觸控信號Rx傳輸，當信號控制線23上的開關晶體管24的輸入端及所述輸出端之間的線路為導通，觸摸物體(如手指)作用在觸控單位(即相對于顯示面板內(nèi)部26)時，信號線將觸控信號Rx反饋到信號控制線，即觸控會改變Rx的電容值，進而可以得知觸控的位置，此處對其具體工作過程不作限定。
[0054]可一并參考圖5，為本發(fā)明所述顯示面板的布線結構用于對觸控面板進行觸控時的另一結構示意圖，區(qū)別于如4所示的布線結構，該顯示面板的布線結構是在LCD信號線bonding時將觸控的信號線一起bonding在焊接區(qū)域25內(nèi)，不需另外bonding觸控,更加簡化了布線的布局。
[0055]本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構可視為是結合LCD信號線和檢測系統(tǒng)走線的一種觸控電極設計，并不限定運用在自電容或互電容，本發(fā)明僅以自電容，視為只有Rx接收訊號為例進行說明，不構成對本發(fā)明的限定。在互電容應用上，可以將部分區(qū)域的訊號線作為Tx，部分區(qū)域的訊號線作為Rx?；蚴菍⒂嵦柧€作為Rx，而驅動線作為Tx，方式和Rx相同，此處不作具體描述。
[0056]為便于更好的實施本發(fā)明實施例提供的顯示面板的布線結構，本發(fā)明實施例還提供一種顯示面板。其中名詞的含義與上述顯示面板的布線結構中相同，具體實現(xiàn)細節(jié)可以參考顯示面板的布線結構實施例中的說明。
[0057]請參考圖6，圖6為本發(fā)明提供的顯示面板600的結構示意圖，所述顯示面板600包括一布線結構601，其中，所述布線結構601為上述實施例提供的顯示面板的布線結構，可請參考圖2,所述布線結構601包括:
[0058]紅綠藍(R/G/B)信號線、三條信號控制線，以及一開關控制線23，所述開關控制線23上設置有開關晶體管24 ；
[0059]其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管24連接，且通過所述開關晶體管24，與相應的信號控制線連接；
[0060]所述開關晶體管24包括一控制端，用于接收控制信號，根據(jù)所述控制信號控制所述信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。
[0061]如圖2所不,其中，211為R信號線、212為G信號線、213為B信號線；由于每一所述信號線通過所述開關晶體管24與相應的信號控制線連接，對應的，信號控制線221與R信號線連接，信號控制線222與G信號線連接，信號控制線223與B信號線連接。
[0062]可以理解的是，紅綠藍信號線是通過氧化銦錫ITO與對應的信號控制線連接在一起的；另外，本發(fā)明實施例中，所述開關晶體管24為TFT薄膜場效應管或者MOSFET金氧半場效晶體管，此處不作具體限定。
[0063]優(yōu)選的，所述開關控制線23上設置有半導體層，所述半導體層上有所述開關晶體管24 ;進一步優(yōu)選的，所述開關晶體管24為TFT晶體管，所述開關控制線23可簡單稱為T線。所述TFT晶體管包括一控制端、一輸入端以及一輸出端，其中，所述開關控制線23向所述每一所述TFT晶體管的控制端輸入控制信號，并根據(jù)控制信號控制所述輸入端及所述輸出端之間的線路為導通或斷開。
[0064]容易想到的是，本發(fā)明對所述開關晶體管24的控制端、輸入端以及輸出端的內(nèi)部連接關系不作具體限定，只要實現(xiàn)所述控制端接收控制信號，所述輸入端及所述輸出端之間的線路為導通即代表所述信號控制線與相應的信號線之間為導通，所述輸入端及所述輸出端之間的線路為斷開即代表所述信號控制線與相應的信號線之間為斷開即可。
[0065]可以理解的是，本發(fā)明實施例所提供的顯示面板的布線結構是基于現(xiàn)有的檢測系統(tǒng)進行改變的，可一并參考圖1和圖2，在其基礎上，增加開關控制線23，并在所述開關控制線23上設置的開關晶體管24，以使根據(jù)控制信號控制開關晶體管24的輸入端及所述輸出端之間的線路為導通或斷開。
[0066]在某些實施方式中，本發(fā)明實施例提供的顯示面板的布線結構，可作為一檢測系統(tǒng)，當所述顯示面板的布線結構用于對所述顯示面板進行檢測時，向所述開關控制線23輸入控制信號，且向所述信號控制線輸入檢測信號；其中，所述開關控制線23，接收控制信號，并根據(jù)所述控制信號控制開關晶體管24，以使得所述信號控制線與相應的信號線之間導通；所述信號控制線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通時，接收檢測信號，并根據(jù)所述檢測信號對與所述信號控制線相應連接的信號線進行檢測。
[0067]在某些實施方式中，本發(fā)明實施例提供的顯示面板的布線結構，可用于對觸控面板進行控制，所述開關控制線23，接收控制信號，并根據(jù)所述控制信號控制開關晶體管24，以使得所述信號控制線與相應的信號線之間導通；所述信號線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通，且所述顯示面板內(nèi)部26像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開時，接收并傳輸觸控信號Rx，將所述觸控信號Rx反饋至所述信號控制線。
[0068]由上述可知，本發(fā)明提供的顯示面板的布線結構，基于現(xiàn)有的顯示面板檢測系統(tǒng)，增加一開關控制線23，并在所述開關控制線23上設置的開關晶體管24，并且根據(jù)控制信號控制開關晶體管24的輸入端及所述輸出端之間的線路為導通或斷開，即控制所述信號控制線與相應的信號線之間為導通或斷開，從而取消了現(xiàn)有利用激光(laser)對信號線進行切斷的過程，當所述布線結構用作檢測系統(tǒng)時，所述布線結構可重復使用，大大的降低了制造成本，十分方便；并且，該布線結構可視為是結合LCD信號線和檢測系統(tǒng)走線的一種觸控電極設計，可用于對觸控面板進行控制。
[0069]在上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見上文相關的詳細描述，此處不再贅述。
[0070]本領域技術人員將認識到，本文所使用的詞語“優(yōu)選的”意指用作實例、示例或例證。奉文描述為“優(yōu)選的”任意方面或設計不必被解釋為比其他方面或設計更有利。相反，詞語“優(yōu)選的”的使用旨在以具體方式提出概念。如本申請中所使用的術語“或”旨在意指包含的“或”而非排除的“或”。即，除非另外指定或從上下文中清楚，“X使用101或102”意指自然包括排列的任意一個。即，如果X使用ιο? ;X使用102 ;或乂使用101和102 二者，則“X使用101或102”在前述任一示例中得到滿足。
[0071]而且，盡管已經(jīng)相對于一個或多個實現(xiàn)方式示出并描述了本公開，但是本領域技術人員基于對本說明書和附圖的閱讀和理解將會想到等價變型和修改。本公開包括所有這樣的修改和變型，并且僅由所附權利要求的范圍限制。特別地關于由上述組件(例如元件、資源等)執(zhí)行的各種功能，用于描述這樣的組件的術語旨在對應于執(zhí)行所述組件的指定功能(例如其在功能上是等價的)的任意組件(除非另外指示)，即使在結構上與執(zhí)行本文所示的本公開的示范性實現(xiàn)方式中的功能的公開結構不等同。此外，盡管本公開的特定特征已經(jīng)相對于若干實現(xiàn)方式中的僅一個被公開，但是這種特征可以與如可以對給定或特定應用而言是期望和有利的其他實現(xiàn)方式的一個或多個其他特征組合。而且，就術語“包括”、“具有”、“含有”或其變形被用在【具體實施方式】或權利要求中而言，這樣的術語旨在以與術語“包含”相似的方式包括。
[0072]綜上所述，雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實施例揭露如上，但上述優(yōu)選實施例并非用以限制本發(fā)明，本領域的普通技術人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍以權利要求界定的范圍為準。
【權利要求】
1.一種顯示面板的布線結構，其特征在于，包括: 紅綠藍信號線； 三條信號控制線；以及 一開關控制線，所述開關控制線上設置有開關晶體管； 其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管連接，且通過所述開關晶體管，與相應的信號控制線連接； 所述開關晶體管包括一控制端，用于接收控制信號，根據(jù)所述控制信號控制所述信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。
2.根據(jù)權利要求1所述的顯示面板的布線結構，其特征在于，當所述顯示面板的布線結構用于對所述顯示面板進行檢測時: 所述信號控制線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通時，接收檢測信號，并根據(jù)所述檢測信號對與所述信號控制線相應連接的信號線進行檢測。
3.根據(jù)權利要求1所述的顯示面板的布線結構，其特征在于，當所述顯示面板的布線結構用于對觸控面板進行控制時: 所述信號線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通，且所述顯示面板內(nèi)部像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開時，接收并傳輸觸控信號，將所述觸控信號反饋至所述信號控制線。
4.根據(jù)權利要求1所述的顯示面板的布線結構，其特征在于，所述開關控制線上設置有半導體層，所述半導體層上有所述開關晶體管。
5.根據(jù)權利要求1所述的顯示面板的布線結構，其特征在于，所述開關晶體管為薄膜場效應管或者金屬氧化層半導體場效晶體管。
6.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括一布線結構，所述布線結構包括: 紅綠藍信號線； 三條信號控制線；以及 一開關控制線，所述開關控制線上設置有開關晶體管； 其中，每一所述信號線一端與相應的開關晶體管連接，且通過所述開關晶體管，與相應的信號控制線連接； 所述開關晶體管包括一控制端，用于接收控制信號，根據(jù)所述控制信號控制所述信號控制線與相應的信號線之間的導通或者斷開。
7.根據(jù)權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，當所述顯示面板的布線結構用于對所述顯示面板進行檢測時: 所述信號控制線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通時，接收檢測信號，并根據(jù)所述檢測信號對與所述信號控制線相應連接的信號線進行檢測。
8.根據(jù)權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，當所述顯示面板的布線結構用于對觸控面板進行控制時: 所述信號線，用于在所述信號控制線與相應的信號線之間導通，且所述顯示面板內(nèi)像素單元和與其相連的薄膜晶體管之間斷開時，接收并傳輸觸控信號，將所述觸控信號反饋至所述信號控制線。
9.根據(jù)權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述開關控制線上設置有半導體層，所述半導體層上有所述開關晶體管。
10.根據(jù)權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述開關晶體管為薄膜場效應管或者金屬氧化層半導體場效晶體管。
【文檔編號】G06F3/041GK104280914SQ201410548617
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年10月16日 優(yōu)先權日:2014年10月16日
【發(fā)明者】張君愷 申請人:深圳市華星光電技術有限公司