一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的設(shè)計(jì)方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的設(shè)計(jì)方法，涉及計(jì)算機(jī)通信領(lǐng)域，將待測(cè)主板滿配無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，內(nèi)存條選為主板所能支持的最大頻率與容量。將主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片，通過I2C總線與CPU相連。系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過I2C總線設(shè)定初始內(nèi)存電源VDD電壓值。將主板上滿配插入的每個(gè)內(nèi)存條，通過SMBUS總線與CPU相連，系統(tǒng)開機(jī)后，CPU作為內(nèi)存信號(hào)的主控端，采用不同的數(shù)據(jù)發(fā)包模式，進(jìn)入信號(hào)連通性測(cè)試與信號(hào)間的碼間干擾測(cè)試，采用寫入與讀出數(shù)據(jù)對(duì)比的方式。調(diào)整內(nèi)存的供電電壓與內(nèi)存頻率，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性與系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性。
【專利說明】一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的設(shè)計(jì)方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)通信領(lǐng)域，具體是利用一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的設(shè)計(jì)方法，來解決當(dāng)前在服務(wù)器主板內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)過程中，單一依靠人工操作應(yīng)用軟件實(shí)現(xiàn)內(nèi)存試用的檢測(cè)方式，無法檢測(cè)出內(nèi)存信號(hào)設(shè)計(jì)的薄弱環(huán)節(jié)的問題。

【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)今的服務(wù)器內(nèi)存條的使用種類及數(shù)量越來越多，目前常見的服務(wù)器單板的內(nèi)存條數(shù)量為6-48條不等，主板上對(duì)應(yīng)放置6-48條內(nèi)存插槽，同時(shí)240個(gè)內(nèi)存必須信號(hào)需要同等傳遞到所有的內(nèi)存槽上。目前對(duì)于內(nèi)存高速信號(hào)走線設(shè)計(jì)，服務(wù)器主板內(nèi)存高速信號(hào)的layout走線需要經(jīng)過嚴(yán)格仿真，同時(shí)依靠設(shè)計(jì)人員對(duì)于高速信號(hào)的檢查經(jīng)驗(yàn)，防止跨參考層、信號(hào)抖動(dòng)等影響信號(hào)質(zhì)量。主板上的內(nèi)存信號(hào)質(zhì)量的穩(wěn)定影響服務(wù)器系統(tǒng)的穩(wěn)定性，內(nèi)存作為系統(tǒng)運(yùn)算的必要條件與基礎(chǔ)，內(nèi)存信號(hào)的不穩(wěn)定甚至可能造成服務(wù)器系統(tǒng)無法正常工作，運(yùn)算數(shù)據(jù)的丟失；為了保證當(dāng)前的服務(wù)器主板內(nèi)存系統(tǒng)信號(hào)穩(wěn)定性，服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)的檢測(cè)環(huán)節(jié)需要經(jīng)過嚴(yán)格的檢測(cè)驗(yàn)證，尤其是主板的設(shè)計(jì)之初，內(nèi)存信號(hào)的可靠檢測(cè)對(duì)于服務(wù)器系統(tǒng)整體設(shè)計(jì)質(zhì)量的穩(wěn)定起著至關(guān)重要的作用。
[0003]當(dāng)前對(duì)服務(wù)器主板的內(nèi)存信號(hào)設(shè)計(jì)質(zhì)量的檢測(cè)，逐漸成為影響服務(wù)器信號(hào)質(zhì)量安全的關(guān)鍵因素。當(dāng)前的通常做法是依靠檢測(cè)人員反復(fù)針對(duì)內(nèi)存條的操作試用，給內(nèi)存實(shí)現(xiàn)一定的讀寫數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)主板內(nèi)存信號(hào)設(shè)計(jì)質(zhì)量檢查，由于該方式存在片面因素，很大程度上依靠軟件對(duì)于內(nèi)存數(shù)據(jù)的讀寫吞吐水平，內(nèi)存物理區(qū)域的覆蓋率無法得到保證，無法實(shí)現(xiàn)真正全面的內(nèi)存質(zhì)量控制。這種單一依靠人工操作應(yīng)用軟件實(shí)現(xiàn)內(nèi)存試用的檢測(cè)方式，無法檢測(cè)出內(nèi)存信號(hào)設(shè)計(jì)的薄弱環(huán)節(jié)，更無法模擬實(shí)際用戶環(huán)境下的復(fù)雜使用條件，內(nèi)存信號(hào)的質(zhì)量沒有充足的設(shè)計(jì)裕量檢測(cè)作為前提保證，無法實(shí)現(xiàn)服務(wù)器系統(tǒng)的內(nèi)存信號(hào)質(zhì)量安全需求；由于需要人工實(shí)時(shí)跟進(jìn)測(cè)試，人力成本耗費(fèi)較高；隨著對(duì)服務(wù)器系統(tǒng)質(zhì)量安全要求不斷增加，為了保證服務(wù)器系統(tǒng)的內(nèi)存信號(hào)穩(wěn)定運(yùn)行，在實(shí)際主板的內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)操作過程中，如何實(shí)現(xiàn)服務(wù)器主板內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的高效、可靠設(shè)計(jì)尤為重要，并成為決定服務(wù)器質(zhì)量穩(wěn)定的關(guān)鍵要素之一。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)當(dāng)前服務(wù)器主板內(nèi)存檢測(cè)過程中遇到的上述問題，結(jié)合信號(hào)眼圖等關(guān)鍵電氣因素，通過深入分析，我們總結(jié)了一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)設(shè)計(jì)方法。
[0005]本發(fā)明是以信號(hào)眼圖理論支撐點(diǎn)，具體是利用一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)設(shè)計(jì)方法，來解決當(dāng)前在服務(wù)器主板內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)過程中，單一依靠人工操作應(yīng)用軟件實(shí)現(xiàn)內(nèi)存試用的檢測(cè)方式，無法檢測(cè)出內(nèi)存信號(hào)設(shè)計(jì)的薄弱環(huán)節(jié)的問題。本方法保證了服務(wù)器主板內(nèi)存檢測(cè)的智能化與批量化，實(shí)現(xiàn)服務(wù)器主板內(nèi)存檢測(cè)的可靠性、安全性設(shè)計(jì)，對(duì)于服務(wù)器主板的內(nèi)存信號(hào)質(zhì)量可靠性設(shè)計(jì)具有重要意義，具體
【發(fā)明內(nèi)容】
可以分為如下幾個(gè)方面:
1、①將待測(cè)主板滿配無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，內(nèi)存條選為主板所能支持的最大頻率與容量。
[0006]②將主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片，通過I2C總線與CPU相連，CPU可通過I2C總線控制內(nèi)存電壓的高低變化。系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過I2C總線設(shè)定初始內(nèi)存電源VDD電壓值。
[0007]③將主板上滿配插入的每個(gè)內(nèi)存條，通過SMBUS總線與CPU相連，系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過SMBUS總線獲取內(nèi)存的容量、電壓預(yù)定值、讀寫時(shí)間等關(guān)鍵信息，作為內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的前提。
[0008]④系統(tǒng)開機(jī)后，CPU作為內(nèi)存信號(hào)的主控端，采用不同的數(shù)據(jù)發(fā)包模式，進(jìn)入信號(hào)連通性測(cè)試與信號(hào)間的碼間干擾測(cè)試，采用寫入與讀出數(shù)據(jù)對(duì)比的方式，確認(rèn)測(cè)試的一致有效性。
[0009]⑤調(diào)整內(nèi)存的供電電壓與內(nèi)存頻率，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性與系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性。
[0010]2、將待測(cè)主板滿配無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，內(nèi)存條選為主板所能支持的最大頻率與容量，滿配前確認(rèn)無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，需要經(jīng)過DOS系統(tǒng),針對(duì)每一個(gè)內(nèi)存物理單元的讀寫測(cè)試，帥選出全部讀寫數(shù)據(jù)一致的內(nèi)存條，即作為主板內(nèi)存信號(hào)測(cè)試使用；選擇最大支持的內(nèi)存頻率，可以通過信號(hào)的走線高速仿真數(shù)據(jù)獲取，通常選為2133MHZ。
[0011]3、所述的將主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片，通過I2C總線與CPU相連，CPU可通過I2C總線控制內(nèi)存電壓的高低變化，CPU將內(nèi)存電壓波動(dòng)區(qū)間進(jìn)行128級(jí)細(xì)分，由CPU根據(jù)測(cè)試需要發(fā)出具體的波動(dòng)細(xì)分值。系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過I2C總線設(shè)定初始內(nèi)存電源VDD電壓值1.5伏。
[0012]4、所述的將主板上滿配插入的每個(gè)內(nèi)存條，通過SMBUS總線與CPU相連，由于每個(gè)內(nèi)存條與同一組SMBUS總線連接，為區(qū)分不同的地址，在CPU與內(nèi)存條之間加入具有不同地址SMBUS總線地址緩沖器，進(jìn)而區(qū)分內(nèi)存的不同物理位置，系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過SMBUS總線直接讀取內(nèi)存條上SPD EEPROM內(nèi)容信息，獲取內(nèi)存的容量、電壓預(yù)定值、讀寫時(shí)間等關(guān)鍵信息，作為內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的前提。
[0013]5、所述的系統(tǒng)開機(jī)后，CPU作為內(nèi)存信號(hào)的主控端，采用不同的數(shù)據(jù)發(fā)包模式，進(jìn)入信號(hào)連通性測(cè)試與信號(hào)間的碼間干擾測(cè)試，采用寫入與讀出數(shù)據(jù)對(duì)比的方式，確認(rèn)測(cè)試的一致有效性。信號(hào)連通性測(cè)試即順序?qū)⒐潭?、1間隔的16位二進(jìn)制數(shù)據(jù)寫入每個(gè)內(nèi)存的物理地址，寫入完成后順序依次讀出數(shù)據(jù)，比對(duì)兩者結(jié)果是否一致，如果出現(xiàn)偏差，標(biāo)明內(nèi)存讀寫路徑存在異常。為測(cè)試信號(hào)間的碼間干擾，采用連續(xù)O、中間單個(gè)I的16位二進(jìn)制據(jù)寫入內(nèi)存物理單元中，測(cè)試數(shù)據(jù)突然出現(xiàn)高位，信號(hào)線需要充電時(shí)的總線質(zhì)量，立即讀出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較確認(rèn)；采用連續(xù)1、中間單個(gè)O的16位二進(jìn)制據(jù)寫入內(nèi)存物理單元中，測(cè)試數(shù)據(jù)突然出現(xiàn)低位，信號(hào)線需要放電時(shí)的總線質(zhì)量，立即讀出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較確認(rèn)。
[0014]6、所述的調(diào)整內(nèi)存的供電電壓與內(nèi)存頻率，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性與系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性，CPU控制主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片上調(diào)或下調(diào)電壓，模擬系統(tǒng)在電壓不穩(wěn)定的環(huán)境工作，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性；隨機(jī)調(diào)整內(nèi)存工作頻率，使內(nèi)存頻率在一段時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷由低到高、由高到低的變化，在此期間，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性。
[0015]本方法保證了服務(wù)器主板內(nèi)存檢測(cè)的智能化與批量化，實(shí)現(xiàn)服務(wù)器主板內(nèi)存檢測(cè)的可靠性、安全性設(shè)計(jì)，對(duì)于服務(wù)器主板的內(nèi)存信號(hào)質(zhì)量可靠性設(shè)計(jì)具有重要意義。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]附圖1是本發(fā)明的實(shí)施流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0017]下面對(duì)本發(fā)明的內(nèi)容進(jìn)行更加詳細(xì)的闡述:
①采用全覆蓋的內(nèi)存物理地址區(qū)域讀寫測(cè)試，選取無質(zhì)量問題的內(nèi)存條，將待測(cè)主板滿配選定的無質(zhì)量問題內(nèi)存條，內(nèi)存頻率選為2133MHZ。
[0018]②將主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片，通過I2C總線與CPU相連。系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過I2C總線設(shè)定初始內(nèi)存電源VDD電壓值為1.5伏。
[0019]③將主板上滿配插入的每個(gè)內(nèi)存條，通過SMBUS總線與CPU相連，系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過SMBUS總線讀取內(nèi)存條的SPD EEPROM信息，獲取內(nèi)存的容量、電壓預(yù)定值、讀寫時(shí)間等關(guān)鍵信息。
[0020]④系統(tǒng)開機(jī)后，CPU作為內(nèi)存信號(hào)的主控端，采用不同的數(shù)據(jù)發(fā)包模式，進(jìn)行信號(hào)連通性測(cè)試與信號(hào)間的碼間干擾測(cè)試。
[0021]⑤變換內(nèi)存工作條件，調(diào)整內(nèi)存的供電電壓與內(nèi)存頻率，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性與系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性。
[0022]經(jīng)過上面詳細(xì)的實(shí)施，我們可以很方便的實(shí)現(xiàn)服務(wù)器主板內(nèi)存信號(hào)的質(zhì)量檢測(cè)，不僅達(dá)到了可靠性要求，而且實(shí)現(xiàn)低成本要求，實(shí)現(xiàn)服務(wù)器主板內(nèi)存信號(hào)質(zhì)量的可靠性、穩(wěn)定性。
【權(quán)利要求】
1.一種服務(wù)器內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的設(shè)計(jì)方法，其特征在于分為如下幾個(gè)方面: ①將待測(cè)主板滿配無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，內(nèi)存條選為主板所能支持的最大頻率與容量; ②將主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片，通過I2C總線與CPU相連，CPU可通過I2C總線控制內(nèi)存電壓的高低變化；系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過I2C總線設(shè)定初始內(nèi)存電源VDD電壓值； ③將主板上滿配插入的每個(gè)內(nèi)存條，通過SMBUS總線與CPU相連，系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過SMBUS總線獲取內(nèi)存的容量、電壓預(yù)定值、讀寫時(shí)間等關(guān)鍵信息，作為內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的前提; ④系統(tǒng)開機(jī)后，CPU作為內(nèi)存信號(hào)的主控端，采用不同的數(shù)據(jù)發(fā)包模式，進(jìn)入信號(hào)連通性測(cè)試與信號(hào)間的碼間干擾測(cè)試，采用寫入與讀出數(shù)據(jù)對(duì)比的方式，確認(rèn)測(cè)試的一致有效性； ⑤調(diào)整內(nèi)存的供電電壓與內(nèi)存頻率，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性與系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于將待測(cè)主板滿配無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，內(nèi)存條選為主板所能支持的最大頻率與容量，滿配前確認(rèn)無質(zhì)量的問題內(nèi)存條，需要經(jīng)過DOS系統(tǒng)，針對(duì)每一個(gè)內(nèi)存物理單元的讀寫測(cè)試，帥選出全部讀寫數(shù)據(jù)一致的內(nèi)存條，即作為主板內(nèi)存信號(hào)測(cè)試使用；選擇最大支持的內(nèi)存頻率，可以通過信號(hào)的走線高速仿真數(shù)據(jù)獲取，通常選為2133MHZ。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于將主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片，通過I2C總線與CPU相連，CPU可通過I2C總線控制內(nèi)存電壓的高低變化，CPU將內(nèi)存電壓波動(dòng)區(qū)間進(jìn)行128級(jí)細(xì)分，由CPU根據(jù)測(cè)試需要發(fā)出具體的波動(dòng)細(xì)分值；系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過I2C總線設(shè)定初始內(nèi)存電源VDD電壓值1.5伏。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于將主板上滿配插入的每個(gè)內(nèi)存條，通過SMBUS總線與CPU相連，由于每個(gè)內(nèi)存條與同一組SMBUS總線連接，為區(qū)分不同的地址，在CPU與內(nèi)存條之間加入具有不同地址SMBUS總線地址緩沖器，進(jìn)而區(qū)分內(nèi)存的不同物理位置，系統(tǒng)開機(jī)后，CPU通過SMBUS總線直接讀取內(nèi)存條上SPD EEPR0M內(nèi)容信息，獲取內(nèi)存的容量、電壓預(yù)定值、讀寫時(shí)間等關(guān)鍵信息，作為內(nèi)存信號(hào)檢測(cè)的前提。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于系統(tǒng)開機(jī)后，CPU作為內(nèi)存信號(hào)的主控端，采用不同的數(shù)據(jù)發(fā)包模式，進(jìn)入信號(hào)連通性測(cè)試與信號(hào)間的碼間干擾測(cè)試，采用寫入與讀出數(shù)據(jù)對(duì)比的方式，確認(rèn)測(cè)試的一致有效性；信號(hào)連通性測(cè)試即順序?qū)⒐潭?、1間隔的16位二進(jìn)制數(shù)據(jù)寫入每個(gè)內(nèi)存的物理地址，寫入完成后順序依次讀出數(shù)據(jù)，比對(duì)兩者結(jié)果是否一致，如果出現(xiàn)偏差，標(biāo)明內(nèi)存讀寫路徑存在異常；為測(cè)試信號(hào)間的碼間干擾，采用連續(xù)0、中間單個(gè)1的16位二進(jìn)制據(jù)寫入內(nèi)存物理單元中，測(cè)試數(shù)據(jù)突然出現(xiàn)高位，信號(hào)線需要充電時(shí)的總線質(zhì)量，立即讀出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較確認(rèn)；采用連續(xù)1、中間單個(gè)0的16位二進(jìn)制據(jù)寫入內(nèi)存物理單元中，測(cè)試數(shù)據(jù)突然出現(xiàn)低位，信號(hào)線需要放電時(shí)的總線質(zhì)量，立即讀出數(shù)據(jù)進(jìn)行比較確認(rèn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于調(diào)整內(nèi)存的供電電壓與內(nèi)存頻率，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性與系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性，CPU控制主板上內(nèi)存電源VDD的供電芯片上調(diào)或下調(diào)電壓，模擬系統(tǒng)在電壓不穩(wěn)定的環(huán)境工作，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的電壓波動(dòng)中數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性；隨機(jī)調(diào)整內(nèi)存工作頻率，使內(nèi)存頻率在一段時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷由低到高、由高到低的變化，在此期間，系統(tǒng)下進(jìn)行持續(xù)的寫入、讀出內(nèi)存隨機(jī)數(shù)據(jù)的操作，得出系統(tǒng)的針對(duì)不同內(nèi)存頻率的數(shù)據(jù)讀寫穩(wěn)定性。
【文檔編號(hào)】G06F11/22GK104268042SQ201410493674
【公開日】2015年1月7日 申請(qǐng)日期:2014年9月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月24日
【發(fā)明者】劉濤 申請(qǐng)人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司