本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，特別涉及基于大CTP的電容檢測電路、基于小CTP的電容檢測電路和電容檢測裝置。

背景技術(shù)：
近年來，電容式觸摸屏由于其操作簡單方便，透光率高，耐磨等優(yōu)勢，在智能終端的設(shè)計(jì)中得到廣泛運(yùn)用，如單點(diǎn)觸摸、多點(diǎn)觸摸等等。電容式觸摸屏主要通過檢測屏上電容的變化來檢測是否有觸摸的發(fā)生。隨著電容技術(shù)的發(fā)展，對其靈敏度和精度都提出了更高的要求，如何準(zhǔn)確的判斷出輕微觸摸點(diǎn)的位置成為當(dāng)前需要解決的問題?，F(xiàn)有技術(shù)中，如圖1所示，檢測電路主要包括一個(gè)屏上電容CTP，反饋電容Cf以及一個(gè)運(yùn)算放大器101，電容檢測過程主要分為充電和轉(zhuǎn)換兩種模式，利用充電開關(guān)104、轉(zhuǎn)換開關(guān)105和充電開關(guān)106進(jìn)行控制。具體的說，充電模式中，充電開關(guān)104和充電開關(guān)106閉合，轉(zhuǎn)換開關(guān)105打開，其電路連接如圖2所示，此模式中，內(nèi)置偏置電壓VTP對屏上電容CTP進(jìn)行充電，而反饋電容Cf處于清零狀態(tài)；而在轉(zhuǎn)換模式中，充電開關(guān)104和充電開關(guān)106打開，轉(zhuǎn)換開關(guān)105閉合，電路結(jié)構(gòu)如圖3所示，利用電荷守恒定律可以得到運(yùn)放的輸出為：此時(shí)如果屏上電容變化△CTP，運(yùn)放的輸出變化為：由于在實(shí)際設(shè)計(jì)應(yīng)用中，考慮到芯片的成品，CTP都會遠(yuǎn)大于Cf，所以的值就較大，又由于VOUT的變化范圍最大為(0，VDD)，根據(jù)上式(1)可以得到，為保證VOUT不超出運(yùn)放輸出范圍，(VTP-VCM)需很小，再根據(jù)△Q＝(VCM-VTP)△CTP可以得到，△Q的變化范圍即會由于(VTP-VCM)的限制而變得很小，使得觸摸檢測時(shí)的輸入信噪比降低，抗干擾能力下降，導(dǎo)致電容檢測的靈敏度受限。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明的目的在于提供一種基于大CTP、小CTP的電容檢測電路和電容檢測裝置，使得電容檢測電路可以擴(kuò)大輸出共模電平擺幅，提高電容檢測靈敏度。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的實(shí)施方式提供了一種基于大CTP的電容檢測電路，包含：屏上電容CTP、反饋電容Cf和一運(yùn)算放大器；所述基于大CTP的電容檢測電路還包含：可編程電容陣列Cs、第一充電開關(guān)、第二充電開關(guān)、第一轉(zhuǎn)換開關(guān)和第二轉(zhuǎn)換開關(guān)；所述CTP的一端通過所述第一充電開關(guān)與第一偏置電壓連接，且通過所述第一轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接，所述CTP的另一端接地；所述Cs的一端通過所述第二充電開關(guān)與第二偏置電壓連接，且通過所述第二轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接，所述Cs的另一端接地；其中，所述第一偏置電壓小于所述第二偏置電壓。本發(fā)明的實(shí)施方式還提供了一種基于小CTP的電容檢測電路，包含：屏上電容CTP、反饋電容Cf和一運(yùn)算放大器；所述基于小CTP的電容檢測電路還包含：可編程電容陣列Cs、第一充電開關(guān)、第二充電開關(guān)、第一轉(zhuǎn)換開關(guān)和第二轉(zhuǎn)換開關(guān)；所述CTP的一端通過所述第一充電開關(guān)與第二偏置電壓連接，且通過所述第一轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接，所述CTP的另一端接地；所述Cs的一端通過所述第二充電開關(guān)與第一偏置電壓連接，且通過所述第二轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接，所述Cs的另一端接地；其中，所述第一偏置電壓小于所述第二偏置電壓。本發(fā)明的實(shí)施方式還提供了一種電容檢測裝置，包含：如上述的基于大CTP的電容檢測電路和如上述的基于小CTP的電容檢測電路，還包含一選擇器；在屏上電容CTP的值大于可編程電容陣列Cs的值時(shí)，所述選擇器連通所述基于大CTP的電容檢測電路；在屏上電容CTP的值小于可編程電容陣列Cs的值時(shí)，所述選擇器連通所述基于小CTP的電容檢測電路。本發(fā)明實(shí)施方式相對于現(xiàn)有技術(shù)而言，增加了可編程電容陣列Cs，在電容檢測的充電階段，利用不同的偏置電壓對CTP和Cs分別充電，在電容檢測的轉(zhuǎn)換階段，可以利用Cs吸收屏上電容CTP的部分電荷，以此調(diào)節(jié)運(yùn)放的輸出共模電平，擴(kuò)大輸出共模電平擺幅，提高電容檢測靈敏度。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述基于大CTP的電容檢測電路還包含：第三充電開關(guān)、第四充電開關(guān)和第三轉(zhuǎn)換開關(guān)；所述Cf的一端通過所述第三充電開關(guān)接地，且通過所述第三轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接，所述Cf的另一端通過所述第四充電開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接。利用充電開關(guān)和轉(zhuǎn)換開關(guān)調(diào)節(jié)Cf的連接，使得在充電階段，利用運(yùn)放的輸出電壓為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量，可以進(jìn)一步擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述基于大CTP的電容檢測電路還包含：第五充電開關(guān)、第六充電開關(guān)、第七充電開關(guān)、第四轉(zhuǎn)換開關(guān)和第五轉(zhuǎn)換開關(guān)；所述Cf的一端通過所述第五充電開關(guān)接地，且通過所述第四轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接；所述Cf的另一端通過所述第六充電開關(guān)連接第三偏置電壓Vs，且通過所述第五轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述運(yùn)算放大器的輸出端連接；所述運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端和輸出端之間通過所述第七充電開關(guān)連接。利用充電開關(guān)和轉(zhuǎn)換開關(guān)調(diào)節(jié)Cf的連接，使得在充電階段，利用一可控的偏置電壓Vs為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量，在進(jìn)一步擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍的同時(shí)，使得變化范圍更為可控。附圖說明圖1是根據(jù)背景技術(shù)中的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖2是根據(jù)背景技術(shù)中的電容檢測電路的充電狀態(tài)結(jié)構(gòu)圖；圖3是根據(jù)背景技術(shù)中的電容檢測電路的轉(zhuǎn)換狀態(tài)結(jié)構(gòu)圖；圖4是根據(jù)第一實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖5是根據(jù)第一實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路充電狀態(tài)結(jié)構(gòu)圖；圖6是根據(jù)第一實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路轉(zhuǎn)換狀態(tài)結(jié)構(gòu)圖；圖7是根據(jù)第二實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖8是根據(jù)第三實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖9是根據(jù)第四實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖10是根據(jù)第五實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖11是根據(jù)第六實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路結(jié)構(gòu)圖；圖12是根據(jù)第七實(shí)施方式中的電容檢測裝置結(jié)構(gòu)框圖；圖13是根據(jù)第七實(shí)施方式中的電容檢測裝置電路結(jié)構(gòu)圖。具體實(shí)施方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本發(fā)明各實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。本發(fā)明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在現(xiàn)有的電容檢測電路應(yīng)用中，不同的觸控屏對應(yīng)的電容CTP的變化較大，為使本發(fā)明的具有較寬的應(yīng)用范圍?？梢猿浞掷脤TP充電電平的調(diào)節(jié)，使得檢測的電容范圍最大。另外，由于屏上電容較大或較小時(shí)，其輸出共模電平的變化范圍可能不同，如果設(shè)計(jì)針對不同屏上電容值的電容檢測電路，即可充分放大運(yùn)算放大器的輸出動態(tài)范圍，又由于測試人員即可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)獲知應(yīng)用的電容屏的屏上電容值大致為大還是小，所以根據(jù)不同的屏上電容電容值，設(shè)計(jì)不同的電容檢測電路，可以有效擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍。本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及一種基于大CTP的電容檢測電路，其電路結(jié)構(gòu)如圖4所示，具體包含：屏上電容CTP、反饋電容Cf、運(yùn)算放大器101、電阻102、電容103、可編程電容陣列Cs、第一充電開關(guān)201、第二充電開關(guān)203、充電開關(guān)205、第一轉(zhuǎn)換開關(guān)202和第二轉(zhuǎn)換開關(guān)204。本實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路具體連接如下：電阻102連接在運(yùn)算放大器101正輸入端與偏置電壓VCM間，電容103連接在運(yùn)算放大器101正輸入端與接地端之間；Cf連接在運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端與輸出端之間，同時(shí)將充電開關(guān)205并聯(lián)在Cf的兩端；CTP的一端通過第一充電開關(guān)201與第一偏置電壓V1連接，且通過第一轉(zhuǎn)換開關(guān)202與運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端連接，CTP的另一端接地；Cs的一端通過第二充電開關(guān)203與第二偏置電壓V2連接，且通過第二轉(zhuǎn)換開關(guān)204與運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端連接，Cs的另一端接地。需要說明的是，本實(shí)施方式中的第一偏置電壓V1小于第二偏置電壓V2。在實(shí)際應(yīng)用中，在充電階段，分別將第一充電開關(guān)201、第二充電開關(guān)203和充電開關(guān)205閉合，第一轉(zhuǎn)換開關(guān)202和第二轉(zhuǎn)換開關(guān)204打開，電路結(jié)構(gòu)變化為如圖5所示；此時(shí)，CTP連接在第一偏置電壓V1與接地端之間，Cf兩端短路連接，第一偏置電壓V1為CTP充電，第二偏置電壓V2為Cs充電，同時(shí)Cf清零。在轉(zhuǎn)換階段，分別將第一充電開關(guān)201、第二充電開關(guān)203和充電開關(guān)205打開，第一轉(zhuǎn)換開關(guān)202和第二轉(zhuǎn)換開關(guān)204閉合，電路結(jié)構(gòu)變化為如圖6所示；CTP連接在運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端與接地端之間，Cs連接在運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端與接地端之間，Cf直接連接在運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端和輸出端之間，CTP的電荷分別傳遞至Cf和Cs。具體的說，本實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路在轉(zhuǎn)換階段，根據(jù)電荷守恒和運(yùn)放的虛短特性可以得到最終的運(yùn)放輸出如下式(3)：如果屏上電容變化為CTP+△CTP，運(yùn)放的輸出變化為下式(4)從上式(3)式可以看出，屏上電容CTP的一部分電荷將被電容陣列Cs來吸收，因而運(yùn)放的輸出共模電平可以簡單的調(diào)節(jié)，也就是通過調(diào)節(jié)Cs的大小來抵消電路的直流工作狀態(tài)對輸出共模電平的限制。因此，在電路進(jìn)行檢測工作的時(shí)候，需要對可編程電容陣列Cs進(jìn)行一個(gè)初始化的“調(diào)頻”過程，其目的就是為了使運(yùn)放輸出為共模電平VCM，也就是使得式(3)中的VOUT＝VCM。此時(shí)，上式(4)即可變化為下式(5)：其中的(VCM-V1)即可不受限制而增大，也就是說，輸出共模電平的變化將不受電路的直流工作狀態(tài)限制而擴(kuò)大，也就提高了電容檢測電路的靈敏度。另外，由于VOUT＝VCM，可得到下式(6)：在本實(shí)施方式中，一般大CTP理解為其電容值滿足CTP>Cs，其動態(tài)輸出范圍為從VCM至VDD，即可以通過降低共模電平VCM來調(diào)節(jié)運(yùn)放的直流工作電壓。舉例來說，假設(shè)此時(shí)CTP＝80pF(電容值較大)，同時(shí)，可以設(shè)置V1＝0，V2＝VDD，VCM＝VDD/3，Cs＝40pF來使得運(yùn)放輸出VOUT＝VCM。此后當(dāng)有手指觸摸時(shí)，屏上電容增加△CTP，運(yùn)放輸出增加由于此時(shí)共模電平VCM＝VDD/3，其輸出的動態(tài)檢測范圍即為從VDD/3至VDD，最大可有2*VDD/3的變化量，因而可以通過調(diào)節(jié)Cf來增強(qiáng)檢測的靈敏度，根據(jù)上式(5)可知，其大小為：其中，△CTP,max為屏上電容最大的變化幅度?？梢缘玫阶罱K電容到電壓的轉(zhuǎn)換增益為本實(shí)施方式相對于現(xiàn)有技術(shù)而言，增加了可編程電容陣列Cs，在電容檢測的充電階段，利用不同的偏置電壓對CTP和Cs分別充電，在電容檢測的轉(zhuǎn)換階段，可以利用Cs吸收屏上電容CTP的部分電荷，以此消除電路直流工作狀態(tài)對電容檢測電路的輸出動態(tài)范圍的影響，調(diào)節(jié)運(yùn)放的輸出共模電平，擴(kuò)大輸出共模電平擺幅，提高檢測靈敏度。本發(fā)明的第二實(shí)施方式涉及一種基于大CTP的電容檢測電路。第二實(shí)施方式是在第一實(shí)施方式的基礎(chǔ)上做了進(jìn)一步改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：在第一實(shí)施方式的充電階段中，Cf兩端短路連接，使得Cf清零。而在本發(fā)明第二實(shí)施方式中，利用充電開關(guān)和轉(zhuǎn)換開關(guān)調(diào)節(jié)Cf的連接，使得在充電階段，利用運(yùn)放的輸出電壓為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量，可以進(jìn)一步擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍。具體的說，本實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路如圖7所示，還包含：第三充電開關(guān)206、第四充電開關(guān)208和第三轉(zhuǎn)換開關(guān)207；Cf的一端通過第三充電開關(guān)206接地，且通過第三轉(zhuǎn)換開關(guān)207與運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端連接，Cf的另一端通過第四充電開關(guān)208與運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端連接。由于Cf在充電階段被連接在運(yùn)放的輸出端和接地端之間，也就是在充電階段，Cf被預(yù)充了反向的電荷，同樣根據(jù)電荷守恒和運(yùn)放的虛短特性可以得到，VOUT的變化下限將更低，其變化范圍也就更大，本實(shí)施方式中基于大CTP的電容檢測電路的靈敏度將更高。本發(fā)明的第三實(shí)施方式同樣涉及一種基于大CTP的電容檢測電路。第三實(shí)施方式是在第一實(shí)施方式的基礎(chǔ)上做了進(jìn)一步改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：在第一實(shí)施方式中，充電階段Cf兩端短路連接，使得Cf清零。而在本發(fā)明第三實(shí)施方式中，利用可控的偏置電壓Vs為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量，在進(jìn)一步擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍的同時(shí)，使得變化范圍更為可控。本發(fā)明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在第二實(shí)施方式中，雖然運(yùn)放的輸出已經(jīng)調(diào)節(jié)為(VCM～VDD)，其擺幅仍然留有一定裕量，可以通過充分利用Cf預(yù)沖的電荷量，以致進(jìn)一步增加輸出的擺幅。具體的說，本實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路如圖8所示，還包含：第五充電開關(guān)212、第六充電開關(guān)210、第七充電開關(guān)213、第四轉(zhuǎn)換開關(guān)209和第五轉(zhuǎn)換開關(guān)211。其中，Cf的一端通過第五充電開關(guān)212接地，且通過第四轉(zhuǎn)換開關(guān)209與運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端連接；Cf的另一端通過第六充電開關(guān)210連接第三偏置電壓Vs，且通過第五轉(zhuǎn)換開關(guān)211與運(yùn)算放大器101的輸出端連接；運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端和輸出端之間通過第七充電開關(guān)213連接。與第二實(shí)施方式相似，由于Cf在充電階段被連接在運(yùn)放的輸出端和接地端之間，也就是在充電階段，Cf被預(yù)充了反向的電荷，同樣根據(jù)電荷守恒和運(yùn)放的虛短特性可以將上式(3)變化為：可見，運(yùn)放的輸出變?yōu)?VCM-VS～VDD)，VOUT的下限將更低，其變化范圍也就更大，靈敏度進(jìn)一步提高。舉例來說，此時(shí)如果設(shè)VCM＝VS＝VDD/2，運(yùn)放的擺幅能達(dá)到(0～VDD)。本發(fā)明的第四實(shí)施方式涉及一種基于小CTP的電容檢測電路，其電路結(jié)構(gòu)如圖9所示，具體包含：屏上電容CTP、反饋電容Cf、運(yùn)算放大器101、電阻102、電容103、可編程電容陣列Cs、第一充電開關(guān)201、第二充電開關(guān)203、充電開關(guān)205、第一轉(zhuǎn)換開關(guān)202和第二轉(zhuǎn)換開關(guān)204。由于本實(shí)施方式中電容檢測電路是基于小CTP的電容檢測電路，其連接結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施方式相比，區(qū)別僅在于在充電階段由第二偏置電壓V2為CTP充電，由第一偏置電壓V1為Cs充電，由于在小CTP的檢測前提下，為保證運(yùn)放的正常工作，需要使得為CTP充電的偏置電壓大于為Cs充電的偏置電壓。其他連接結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)原理均與第一實(shí)施方式相類似，在此不再贅述。本發(fā)明的第五實(shí)施方式涉及一種基于小CTP的電容檢測電路。第五實(shí)施方式是在第四實(shí)施方式的基礎(chǔ)上做了進(jìn)一步改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：在第四實(shí)施方式中，充電階段Cf兩端短路連接，使得Cf清零。而在本發(fā)明第五實(shí)施方式中，利用充電開關(guān)和轉(zhuǎn)換開關(guān)調(diào)節(jié)Cf的連接，使得在充電階段，利用運(yùn)放的輸出電壓為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量，可以進(jìn)一步擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍。具體的說，本實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路的電路如圖10所示，其連接結(jié)構(gòu)與第二實(shí)施方式中的圖7大致相同，主要區(qū)別在于，本實(shí)施方式中，基于小CTP的電容檢測電路還包含：第三充電開關(guān)206、第四充電開關(guān)208和第三轉(zhuǎn)換開關(guān)207；Cf的一端通過第三充電開關(guān)接地，且通過第三轉(zhuǎn)換開關(guān)與運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接，Cf的另一端通過第四充電開關(guān)與運(yùn)算放大器的負(fù)輸入端連接。充電階段中，為CTP充電的偏置電壓大于為Cs充電的偏置電壓。也就是說，在充電階段，利用運(yùn)放的輸出電壓為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量；在轉(zhuǎn)換階段，其連接與第一實(shí)施方式中的圖6相同，根據(jù)電荷守恒和運(yùn)放的虛短特性可以得到最終的運(yùn)放輸出為：此時(shí)，如果屏上電容變化為CTP+△CTP，運(yùn)放的輸出變化為：此時(shí)為調(diào)節(jié)運(yùn)放輸出共模電平，需要使得Cs滿足：舉例來說，假設(shè)需要檢測的電容大小為CTP＝20pF，此時(shí)可以設(shè)置V1＝0，V2＝VDD，VCM＝VDD/3，Cs＝40pF來使得運(yùn)放輸出VOUT＝2*VCM。從(8)式可以看出，此時(shí)如果屏上電容增加△CTP，運(yùn)放輸出將減小由于此時(shí)的運(yùn)放輸出直流電平為2*VDD/3，其輸出仍有2*VDD/3的動態(tài)檢測范圍，此時(shí)的反饋電容Cf大小可以設(shè)置為：其中△CTP,max為此時(shí)屏上電容最大的變化幅度。若設(shè)VCM＝VDD/2，則運(yùn)放的輸出擺幅即可達(dá)到從VDD至0的最大范圍。本發(fā)明的第六實(shí)施方式同樣涉及一種基于小CTP的電容檢測電路。第六實(shí)施方式是在第四實(shí)施方式的基礎(chǔ)上做了進(jìn)一步改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：在第四實(shí)施方式的充電階段中，Cf兩端短路連接，使得Cf清零。而在本發(fā)明第六實(shí)施方式中的充電階段中，利用可控的偏置電壓Vs為Cf充電，Cf被反向預(yù)充一定電量，在進(jìn)一步擴(kuò)大輸出共模電平的變化范圍的同時(shí)，使得變化范圍更為可控。具體的說，本實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路如圖11所示，其連接結(jié)構(gòu)與第三實(shí)施方式中的圖8大致相同，主要區(qū)別在于，本實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路還包含：第五充電開關(guān)212、第六充電開關(guān)210、第七充電開關(guān)213、第四轉(zhuǎn)換開關(guān)209和第五轉(zhuǎn)換開關(guān)211。其中，Cf的一端通過第五充電開關(guān)212接地，且通過第四轉(zhuǎn)換開關(guān)209與運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端連接；Cf的另一端通過第六充電開關(guān)210連接第三偏置電壓Vs，且通過第五轉(zhuǎn)換開關(guān)211與運(yùn)算放大器101的輸出端連接；運(yùn)算放大器101的負(fù)輸入端和輸出端之間通過第七充電開關(guān)213連接。充電階段中，為CTP充電的偏置電壓大于為Cs充電的偏置電壓。也就是說，在充電階段，利用一可控的第三偏置電壓Vs為Cf充電；在轉(zhuǎn)換階段，其連接與第一實(shí)施方式中的圖6相同，根據(jù)電荷守恒和運(yùn)放的虛短特性可以得到，VOUT的變化下限在更低的同時(shí)將可控，其變化范圍也就更大，靈敏度進(jìn)一步提高。本發(fā)明的第七實(shí)施方式涉及一種電容檢測裝置。其結(jié)構(gòu)框圖如圖12所示，具體包含：如第一實(shí)施方式至第三實(shí)施方式中任意一個(gè)基于大CTP的電容檢測電路和如第四實(shí)施方式至第六實(shí)施方式中任意一個(gè)基于小CTP的電容檢測電路，還包含一選擇器。利用選擇器整合基于大CTP的電容檢測電路和基于小CTP的電容檢測電路，使得電容檢測芯片在生產(chǎn)時(shí)，其中的元器件可以大量復(fù)用，同時(shí)，也可以根據(jù)不同的CTP值，靈活變化電容檢測電路，擴(kuò)大其應(yīng)用場景。具體的說，在屏上電容CTP的值大于可編程電容陣列Cs的值時(shí)，選擇器連通基于大CTP的電容檢測電路；在屏上電容CTP的值小于可編程電容陣列Cs的值時(shí)，選擇器連通基于小CTP的電容檢測電路。需要說明的是，由于電容檢測技術(shù)人員可以根據(jù)經(jīng)驗(yàn)獲知CTP值的大致范圍，也可以利用模擬開關(guān)實(shí)現(xiàn)本實(shí)施方式中選擇器的功能，本實(shí)施方式中，以利用第一實(shí)施方式中的基于大CTP的電容檢測電路和第四實(shí)施方式中的基于小CTP的電容檢測電路為例，其結(jié)構(gòu)如圖13所示，具體的說，本實(shí)施方式中的選擇器30可以包含：第一開關(guān)301、第二開關(guān)302、第三開關(guān)303和第四開關(guān)304；其中，第二偏置電壓V2通過第一開關(guān)301與第一充電開關(guān)201連接，第二偏置電壓V2通過第二開關(guān)302與第二充電開關(guān)203連接；第一偏置電壓V1通過第三開關(guān)303與第一充電開關(guān)201連接，第二偏置電壓V2通過第四開關(guān)304與第二充電開關(guān)203連接。在實(shí)際應(yīng)用中，在第二開關(guān)302和第三開關(guān)303閉合，第一開關(guān)301和第四開關(guān)304打開時(shí)，連通第一電容檢測電路；在第二開關(guān)302和第三開關(guān)303打開，第一開關(guān)301和第四開關(guān)304閉合時(shí)，連通第二電容檢測電路。值得一提的是，本實(shí)施方式中的選擇器還可以利用數(shù)控方式實(shí)現(xiàn)，先對CTP的值進(jìn)行檢測，判斷其大小，再連通不同的電容檢測電路。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的具體實(shí)施例，而在實(shí)際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對其作各種改變，而不偏離本發(fā)明的精神和范圍。