觸控面板的位置檢測方法及觸控面板的制作方法
【專利摘要】一種觸控面板的位置檢測方法，所述觸控面板包括：第一電阻膜，在第一方向的兩端設(shè)有第一電極及第二電極；第二電阻膜，在與所述第一方向正交的第二方向的兩端設(shè)有第三電極及第四電極，其特征在于，在對所述第一電極施加電源電壓、并將所述第二電極接地的狀態(tài)下，測定所述第一電極的電位，求出所述第一方向上兩點接觸點的距離；于對所述第三電極施加電源電壓、并將所述第四電極接地的狀態(tài)下，測定所述第三電極的電位，求出所述第二方向上兩點接觸點的距離；并且基于由所述第三電極的電位所得到的所述第二方向上的兩點接觸點的距離，對由所述第一電極的電位所得到的所述第一方向上的兩點接觸點的距離進行校正。
【專利說明】觸控面板的位置檢測方法及觸控面板

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種觸控面板的位置檢測方法及觸控面板。

【背景技術(shù)】
[0002] 在現(xiàn)今普及的電子設(shè)備中，有很多是搭載有觸控面板的電子設(shè)備。觸控面板是可 通過使手指等直接接觸觸控面板而對電子設(shè)備進行信息輸入，作為簡易的信息輸入單元， 今后將可期望進一步的普及。
[0003] 然而，一般的觸控面板大部分是在接觸點為一點時進行接觸位置的位置檢測。因 此，當(dāng)觸控面板的接觸點為兩點以上時，無法檢測出正確的接觸點的位置信息。因此，需要 一種即便在接觸點為兩點時也可檢測出各個接觸點的正確的位置信息的方法。
[0004] 作為對觸控面板的接觸點為兩點時的接觸點進行檢測的方法，由下述專利文獻1 至17揭露了各種方法。具體而言，揭露了利用接觸第一點及第二點的微小的時間差的方 法、在觸控面板的導(dǎo)體膜連接電阻的方法、在X側(cè)電極與Y側(cè)電極之間施加電壓的方法等。
[0005] 另外，在下述專利文獻12中，揭露了檢測在兩點按下時的兩點間的距離信息的方 法。另外，在下述專利文獻14中，揭露了將電阻膜分割的結(jié)構(gòu)。另外，在下述專利文獻17 中，揭露了使用兩組電阻膜的結(jié)構(gòu)。另外，在下述專利文獻18、19中，揭露了對一點輸入中 的歪斜進行校正的方法。
[0006] 〈現(xiàn)有技術(shù)文獻〉
[0007] 〈專利文獻〉
[0008] 專利文獻1 :(日本）特許第3402858號公報
[0009] 專利文獻2 :(日本）特開2009-289157號公報
[0010] 專利文獻3 :(日本）特許第3397519號公報
[0011] 專利文獻4 :(日本）特開平8-54976號公報
[0012] 專利文獻5 :(日本）特開平3-77119號公報
[0013] 專利文獻6 :(日本）特開平10-171581號公報
[0014] 專利文獻7 :(日本）特開平11-95929號公報
[0015] 專利文獻8 :(日本）特開平1-269120號公報
[0016] 專利文獻9 :(日本）特開平8-241161號公報
[0017] 專利文獻10 :(日本）特開平8-54977號公報
[0018] 專利文獻11 :(日本）特開2007-156875號公報
[0019] 專利文獻12 :(日本）特開2009-176114號公報
[0020] 專利文獻13 :(日本）特許第3351080號公報
[0021] 專利文獻14 :(日本）特開平9-45184號公報
[0022] 專利文獻15 :(日本）特開2005-49978號公報
[0023] 專利文獻16 :(日本）特開2010-102627號公報
[0024] 專利文獻17 :(日本）特開平11-232023號公報
[0025] 專利文獻18 :(日本）特開2001-67186號公報
[0026] 專利文獻19 :(日本）特許第2554577號公報
[0027] 專利文獻20 :(日本）特開2011-76591號公報
[0028] 專利文獻21 :(日本）特開2011-123815號公報
[0029] 專利文獻22 :(日本）特開2011-134316號公報


【發(fā)明內(nèi)容】

[0030] 〈本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題〉
[0031] 在上述對觸控面板所接觸的兩點位置信息進行檢測的方法中，當(dāng)同時接觸兩點 時，存在無法正確地檢測出兩點的位置坐標(biāo)的問題，以及為了檢測出兩點的位置信息需要 形成分割電阻膜的結(jié)構(gòu)、或設(shè)置兩組電阻膜的結(jié)構(gòu)等特殊的構(gòu)造，在此情況下存在成本上 升的問題。
[0032] 因此，在以往使用的四線式觸控面板中，需要一種即便是在同時于兩點接觸時也 可簡單、低成本地檢測出各個坐標(biāo)位置的位置檢測方法。
[0033] 〈用于解決技術(shù)問題的方案〉
[0034] 根據(jù)本發(fā)明之一個方面，提供一種觸控面板的位置檢測方法，所述觸控面板包括： 第一電阻膜，在第一方向的兩端設(shè)有第一電極及一第二電極；第二電阻膜，在與所述第一方 向正交的第二方向的兩端設(shè)有第三電極及一第四電極，其特征在于，在對所述第一電極施 加電源電壓、并將所述第二電極接地的狀態(tài)下，測定所述第一電極的電位，求出所述第一方 向上兩點接觸點的距離；在對所述第三電極施加電源電壓、并將所述第四電極接地的狀態(tài) 下，測定所述第三電極的電位，求出所述第二方向上兩點接觸點的距離；并且基于由所述第 三電極的電位所得到的所述第二方向上的兩點接觸點的距離，對由所述第一電極的電位所 得到的所述第一方向上的兩點接觸點的距離進行校正。
[0035] 〈發(fā)明的效果〉
[0036] 根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，能夠提供一種在四線式的觸控面板中，即便是在同時 于兩點接觸時也可簡單、低成本地、更準(zhǔn)確地檢測出各個坐標(biāo)位置的觸控面板的位置檢測 方法及觸控面板。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0037] 圖1是用于本發(fā)明的觸控面板的結(jié)構(gòu)圖。
[0038] 圖2是第一實施方式中的位置檢測方法的流程圖。
[0039] 圖3是在第一實施方式中的觸控面板中一點接觸的說明圖（1)。
[0040] 圖4是在第一實施方式中的觸控面板中一點接觸的說明圖（2)。
[0041] 圖5是在第一實施方式中的觸控面板中兩點接觸的說明圖（1)。
[0042] 圖6是在第一實施方式中的觸控面板中兩點接觸的說明圖（2)。
[0043] 圖7是用于對利用有限要素法來解析觸控面板的按下點的說明圖。
[0044] 圖8(a)、8(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（1)。
[0045] 圖9 (a)、9 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（2)。
[0046] 圖10 (a)、10 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（3)。
[0047] 圖11 (a)、11 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（4)。
[0048] 圖12(a)、12(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（5)。
[0049] 圖13(a)、13(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（6)。
[0050] 圖14(a)、14(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（7)。
[0051] 圖15(a)、15(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（8)。
[0052] 圖16是第一實施方式中觸控面板的位置檢測方法的說明圖（1)。
[0053] 圖17(a)、17(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（9)。
[0054] 圖18是第一實施方式中觸控面板的位置檢測方法的說明圖（2)。
[0055] 圖19 (a)、19 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（10)。 [0056] 圖20(a)、20(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（11)。
[0057] 圖21 (a)、21 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（12)。
[0058] 圖22(a)、22(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（13)。
[0059] 圖23 (a)、23 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（14)。
[0060] 圖24(a)、24(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（15)。 [0061] 圖25(a)、25(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（16)。
[0062] 圖26是第一實施方式中觸控面板的位置檢測方法的說明圖（3)。
[0063] 圖27(a)、27(b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（17)。
[0064] 圖28是第一實施方式中觸控面板的位置檢測方法的說明圖（4)。
[0065] 圖29 (a)、29 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（18)。 [0066] 圖30 (a)、30 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（19)。
[0067] 圖31 (a)、31 (b)是利用有限要素法來解析觸控面板的說明圖（20)。
[0068] 圖32是兩點間的軸方向上的距離與XH電極上的電位的相關(guān)圖。
[0069] 圖33是兩點間的軸方向上的距離與（基準(zhǔn)電位一測定電位）的相關(guān)圖。
[0070] 圖34是第二實施方式中位置檢測方法的流程圖。
[0071] 圖35是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（1)。
[0072] 圖36是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（2)。
[0073] 圖37是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（3)。
[0074] 圖38是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（4)。
[0075] 圖39是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（5)。
[0076] 圖40是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（6)。
[0077] 圖41是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（7)。
[0078] 圖42是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（8)。
[0079] 圖43是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（9)。
[0080] 圖44是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（10)。
[0081] 圖45是第二實施方式中位置檢測方法的子流程（11)。
[0082] 圖46是第一觸控面板中連接的電阻值的比例與電位之差。
[0083] 圖47是第二觸控面板中連接的電阻值的比例與電位之差。
[0084] 圖48是第三觸控面板中連接的電阻值的比例與電位之差。
[0085] 圖49是第四實施方式中觸控面板的結(jié)構(gòu)圖。
[0086] 圖50是第四實施方式中觸控面板的說明圖。
[0087] 圖51是第四實施方式中觸控面板的電阻值的設(shè)定方法的流程圖。
[0088] 圖52是第五實施方式中觸控面板的結(jié)構(gòu)圖。
[0089] 圖53是第五實施方式中其他觸控面板的結(jié)構(gòu)圖。
[0090] 圖54是第五實施方式中觸控面板的電阻值的設(shè)定方法的流程圖。
[0091] 圖55是第六實施方式中觸控面板的結(jié)構(gòu)圖。
[0092] 圖56是第六實施方式中其他的觸控面板的結(jié)構(gòu)圖（1)。
[0093] 圖57是第六實施方式中其他的觸控面板的結(jié)構(gòu)圖（2)。
[0094] 圖58是第六實施方式中其他的觸控面板的結(jié)構(gòu)圖（3)。
[0095] 圖59是第七實施方式中觸控面板的說明圖。
[0096] 圖60是第七實施方式中觸控面板的初始化方法的說明圖。
[0097] 圖61是第七實施方式中觸控面板的初始化方法的流程圖（1)。
[0098] 圖62是第七實施方式中觸控面板的初始化方法的流程圖（2)。
[0099] 圖63是第七實施方式中觸控面板的初始化方法的流程圖（3)。
[0100] 圖64是第七實施方式中觸控面板的其他的初始化方法的說明圖。
[0101] 圖65(a)、65(b)是第八實施方式中觸控面板的說明圖。
[0102] 圖66(a)、66(b)是第八實施方式中其他的觸控面板的說明圖（1)。
[0103] 圖67是第八實施方式中其他的觸控面板的說明圖（2)。
[0104] 圖68是第九實施方式中觸控面板的按下點的說明圖。
[0105] 圖69是第九實施方式中觸控面板的位置檢測方法的說明圖（1)。
[0106] 圖70是第九實施方式中觸控面板的位置檢測方法的說明圖（2)。
[0107] 圖71是兩點之中一點的Y坐標(biāo)的位置與電壓下降的值的相關(guān)圖。
[0108] 圖72是兩點之中一點之Y坐標(biāo)的位置與校正系數(shù)KRx的相關(guān)圖。
[0109] 圖73是第九實施方式中觸控面板的位置檢測方法的流程圖（1)。
[0110] 圖74是第九實施方式中觸控面板的位置檢測方法的流程圖（2)。

【具體實施方式】
[0111] 以下對本發(fā)明的實施方式進行說明。需要說明的是，對于相同部件等，付予相同符 號并省略其說明。
[0112] [第一實施方式]
[0113] (觸控面板的構(gòu)造）
[0114] 根據(jù)圖1，對第一實施方式的觸控面板進行說明。本實施方式的觸控面板具有由 IT0(Indium Tin Oxide:氧化銦錫）等透明導(dǎo)電膜構(gòu)成之第一電阻膜10以及第二電阻膜 20。需要說明的是，第一電阻膜10及第二電阻膜20可形成在玻璃基板或透明薄膜等的表 面上，此時第一電阻膜10與第二電阻膜20相對地配置。在第一電阻膜10上，在X軸方向 的兩端的一個上沿Y軸方向形成XH電極11、在另一個上沿Y軸方向形成XL電極12。另 夕卜，在第二電阻膜20上，在Y軸方向的兩端的一個上沿X軸方向形成YH電極21、在另一個 上沿X軸方向形成YL電極22。
[0115] XH電極11為第一電極，與由連接于電源電位Vcc的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW1、以 及由透過電阻Rxl連接于Vcc的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW2連接，另外，透過電阻R與由連接 于接地電位的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW7連接，再有，與設(shè)置在控制部30內(nèi)的、用于在ADR 換器31中檢測電位的電位檢測部ADX1連接。
[0116] XL電極12為第二電極，與由連接于接地電位的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW3連接，另 夕卜，與用于在AD轉(zhuǎn)換器31中檢測電位的電位檢測部ADX2連接。
[0117] YH電極21為第三電極，與由連接于電源電位Vcc的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW4、以 及由透過電阻Ryl連接于Vcc的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW5連接，另外，與設(shè)置在控制部30 內(nèi)的、用于在AD轉(zhuǎn)換器31中檢測電位的電位檢測部ADY1連接。
[0118] YL電極22為第四電極，與由連接于接地電位的電晶體所構(gòu)成的開關(guān)SW6連接，另 夕卜，與用于在AD轉(zhuǎn)換器31中檢測電位的電位檢測部ADY2連接。
[0119] 需要說明的是，電阻Rxl為第一電阻，具有與電阻膜10中XH電極11與XL電極12 之間的電阻值大致相等值的電阻值，電阻Ryl為第二電阻，具有與電阻膜20中YH電極21 與YL電極22之間之電阻值大致相等值的電阻值。
[0120] 開關(guān)SW1、SW2、SW3、SW4、SW5、SW6及SW7與設(shè)置在控制部30中的SW1控制端子、 SW2控制端子、SW3控制端子、SW4控制端子、SW5控制端子、SW6控制端子及SW7控制端子連 接。
[0121] 需要說明的是，在控制部30內(nèi)，設(shè)有可存儲各種信息的存儲器32,另外，控制部30 連接于顯示裝置40。
[0122] (位置檢測方法）
[0123] 接著，對本實施方式中的觸控面板的位置檢測方法進行說明。本實施方式的觸控 面板的位置檢測方法是圖1所示結(jié)構(gòu)的觸控面板中的位置檢測方法，參照圖2進行說明。需 要說明的是，在對本實施方式進行說明時，作為例子，有時將電源電壓表示為5V，將接地電 位表示為0V。
[0124] 首先，在步驟S102中，進行第一 X方向電位檢測。具體而言，在第1圖所示的觸控 面板中，將開關(guān)SW2及SW3設(shè)為0N，將其余的開關(guān)設(shè)為OFF狀態(tài)，在電位檢測部ADX1中測定 電位。在此狀態(tài)下，由于透過電阻Rxl對XH電極11施加 Vcc的電壓、XL電極12接地，因 此在第一電阻膜10上沿X軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下利用電位檢測部ADX1測定電 位，將檢測出的電位作為信息存儲于存儲器32等中。需要說明的是，在電位檢測部ADX1中 所檢測出的電位為在第一電阻膜10上由XH電極11與XL電極12之間所形成的電阻成分 與電阻Rxl所分壓的值。另外，有時將步驟S102稱為第一測定步驟。
[0125] 接著，在步驟S104中，進行第一 Y方向電位檢測。具體而言，在圖1所示的觸控面 板中，將開關(guān)SW5及SW6設(shè)為0N，將其余的開關(guān)設(shè)為0FF，在電位檢測部ADY1中測定電位。 在此狀態(tài)下，由于透過電阻Ryl對YH電極21施加 Vcc的電壓、YL電極22接地，因此在第 二電阻膜20上沿X軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下利用電位檢測部ADY1測定電位，將 檢測出的電位作為信息存儲在存儲器32等中。需要說明的是，在電位檢測部ADY1中所檢 測出的電位為于第二電阻膜20上由YH電極21與YL電極22之間所形成的電阻成分與電 阻Ryl所分壓的值。另外，有時將步驟S104稱為第二測定步驟。
[0126] 接著，在步驟S106中，進行接觸點是否為一點的判斷。具體而言，通過判斷在步驟 S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位以及在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的 電位是否均為Vcc/2,來進行接觸點為一點還是兩點的判斷。
[0127] 更具體來說，在步驟S102中，當(dāng)?shù)谝浑娮枘?0與第二電阻膜20的接觸點僅為A 點一點時，如圖3所不，XH電極11與XL電極12之間的第一電阻膜10的電阻值為第一電 阻膜10的電阻成分R1與電阻成分R2串聯(lián)之值，該串聯(lián)電阻成分R1與電阻成分R2的電阻 值與電阻Rxl之值大致相等。因此，在電位檢測部ADX1所檢測出的電位為Vcc/2。
[0128] 在步驟S104中，當(dāng)?shù)谝浑娮枘?0與第二電阻膜20的接觸點僅為A點一點時，如 圖4所示，YH電極21與YL電極22之間的第二電阻膜20的電阻值為第一電阻膜10的電 阻成分R3與電阻成分R4串聯(lián)之值，該串聯(lián)電阻成分R3與電阻成分R4的電阻值與電阻Ryl 之值大致相等。因此，在電位檢測部ADY1所檢測出的電位為Vcc/2。
[0129] 另一方面，在步驟S102中，當(dāng)?shù)谝浑娮枘?0與第二電阻膜20的接觸點為A點和 B點兩點時，如圖5所示，A點與B點之間的電阻成分為第一電阻膜10的電阻成分R12與第 二電阻膜20的電阻成分R22并聯(lián)之值。由此，XL電極12與B點之間為第一電阻膜10的 電阻成分Rll，A點與B點之間為電阻成分R12與電阻成分R22并聯(lián)之電阻成分，A點與XH 電極11之間為第一電阻膜10的電阻成分R13的合成電阻。因此，由于包含電阻成分R12 與電阻成分R22并聯(lián)之電阻成分，因此該合成電阻之值低于電阻Rxl。由此，在電位檢測部 ADX1中所檢測出的電位為較Vcc/2更低的電位。
[0130] 另外，在步驟S104中，當(dāng)?shù)谝浑娮枘?0與第二電阻膜20的接觸點為A點和B點 兩點時，如圖6所示，A點與B點之間的電阻成分為第一電阻膜10的電阻成分R12與第二電 阻膜20的電阻成分R22并聯(lián)之值。由此，YL電極22與A點之間為第二電阻膜20的電阻 成分R21，A點與B點之間為電阻成分R12與電阻成分R22并聯(lián)之電阻成分，B點與YH電極 21之間為第二電阻膜20的電阻成分R23的合成電阻。因此，由于包含電阻成分R12與電 阻成分R22并聯(lián)的電阻成分，因此該合成電阻之值低于電阻Ryl。由此，在電位檢測部ADY1 中所檢測出的電位為較Vcc/2更低的電位。
[0131] 綜上所述，通過判斷在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位以及在步驟 S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位是否均為Vcc/2,從而可進行接觸點為一點或兩點 的判斷。
[0132] 作為通過判斷在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位以及在步驟S104 中由電位檢測部ADY1所測定的電位是否均為Vcc/2,從而可進行接觸點為一點或兩點的判 斷的根據(jù)，表示出利用有限要素法對觸控面板進行解析的結(jié)果。具體而言，如圖7所示假定 為正方形的形狀的觸控面板，對沿X方向及Y方向進行100分割之中、按下點為X方向上第 5、20、35、50、65、80、95個的位置（以下有時將該些位置稱為5的位置、20的位置、35的位 置、50的位置、65的位置、80的位置、95的位置）、以及Y方向上第5、20、35、50、65、80、95個 的位置（以下有時將該些位置稱為5的位置、20的位置、35的位置、50的位置、65的位置、 80的位置、95的位置）的情形進行解析。需要說明的是，對于間隔或距離等，有時使用各個 位置值之差進行表示。
[0133] 圖8是表示沿當(dāng)X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V的電 壓，將XL電極12接地時，對于觸控面板中的兩點的接觸位置，其Y坐標(biāo)均同為5的位置，X 軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖8(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的 坐標(biāo)位置，圖8(b)表示兩點間的間隔、即兩點間的距離與在電位檢測部ADX1所檢測出的電 位的關(guān)系。
[0134] 另外，圖9是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V 的電壓，將XL電極12接地時，對于觸控面板中的兩點的接觸位置，其Y坐標(biāo)均同為50的位 置，X軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖9(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接 觸點的坐標(biāo)位置，圖9 (b)表示兩點間的間隔、即兩點間的距離與在電位檢測部ADX1所檢測 出的電位的關(guān)系。
[0135] 另外，圖10是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加 5V的電壓，將XL電極12接地時，對于觸控面板中的兩點的接觸位置，其Y坐標(biāo)均同為95的 位置，X軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖10(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點 接觸點的坐標(biāo)位置，圖10(b)表示兩點間的間隔、即兩點間之距離與在電位檢測部ADX1所 檢測出的電位的關(guān)系。
[0136] 如圖8至圖10所示，當(dāng)兩點的接觸位置的Y坐標(biāo)均為相同位置時，在電位檢測部 ADX1中所檢測出的電位為所施加電壓的5V的一半以下的電位，另外，隨著兩點間距離遠 離，在電位檢測部ADX1中所檢測出電位降低。換言之，若相對于施加電壓方向的平行方向 上作為接觸點的兩點間的距離遠離，則在電位檢測部ADX1中所檢測出的電位降低。對此， 沿Y軸方向施加電壓時也同樣，在該情形下，在電位檢測部ADY1中所檢測出的電位降低。
[0137] 圖11是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V的 電壓，將XL電極12接地時，對于觸控面板中的兩點的接觸位置，其X坐標(biāo)均同為5的位置， Y軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖11(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點 的坐標(biāo)位置，圖11(b)表示兩點間的間隔、即兩點間的距離與在電位檢測部ADX1所檢測出 的電位的關(guān)系。
[0138] 圖12表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V的電 壓，將XL電極12接地時，對于觸控面板中的兩點的接觸位置，其X坐標(biāo)均同為50的位置，Y 軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖12(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點 的坐標(biāo)位置，圖12(b)表示兩點間的間隔、即兩點間的距離與在電位檢測部ADX1所檢測出 的電位的關(guān)系。
[0139] 圖13是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V的電 壓，將XL電極12接地時，對于觸控面板中的兩點的接觸位置，其X坐標(biāo)均同為95的位置，Y 軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖13(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點 的坐標(biāo)位置，圖13(b)表示兩點間的間隔、即兩點間的距離與在電位檢測部ADX1所檢測出 的電位的關(guān)系。
[0140] 如圖11至圖13所示，當(dāng)兩點的接觸位置的X坐標(biāo)均為相同位置時，在電位檢測部 ADX1中所檢測出的電位為所施加電壓的5V的一半的電位，并不依存兩點間的距離而保持 一定。換言之，即便相對于施加電壓的方向的垂直方向上作為接觸點的兩點間的距離遠離， 在電位檢測部ADX1中所檢測出的電位也不發(fā)生變化而保持一定。對此，沿Y軸方向施加電 壓時也同樣。此時，在電位檢測部ADY1中所檢測出的電位不發(fā)生變化而保持一定。
[0141] 圖14是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V的 電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中的兩點的接觸位置沿斜方向、S卩非為X軸方向及 Y軸方向的右上方向（一個接觸點為較另一個接觸點離XL電極12及YH電極21均靠近的 位置、或另一個接觸點為較一個接觸點離XH電極11及YL電極22均靠近的位置的方向）， 使兩點間的X軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖14(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板 的兩點接觸點的坐標(biāo)位置，圖14(b)表示X軸方向上的兩點間的間隔、即兩點間的距離與在 電位檢測部ADX1所檢測出的電位的關(guān)系。
[0142] 圖15是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即透過電阻Rxl對XH電極11施加5V的 電壓，將XL電極12接地時，使觸控面板中的兩點的接觸位置沿斜方向、S卩非為X軸方向及 Y軸方向的左上方向（一個接觸點為較另一個接觸點離電極11及YH電極21均靠近的 位置、或另一個接觸點為較一個接觸點離XL電極12及YL電極22均靠近的位置的方向）， 使兩點間的X軸方向上的間隔變化為30、60、90的圖。圖15(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板 的兩點接觸點的坐標(biāo)位置，圖15(b)表示X軸方向上的兩點間的間隔、即兩點間的距離與在 電位檢測部ADX1所檢測出的電位的關(guān)系。
[0143] 如圖14及圖15所示，當(dāng)兩個接觸點是非X軸方向及Y軸方向時，在電位檢測部 ADX1中所檢測出的電位為所施加電壓的5V的一半以下的電位，隨著兩點間距離遠離，在電 位檢測部ADX1中所檢測出電位降低。換言之，若在相對于施加電壓方向的非平行方向非垂 直方向上，兩點間的距離遠離，則在電位檢測部ADX1中所檢測出的電位降低。對此，沿Y軸 方向施加電壓時也同樣，在該情形下，在電位檢測部ADY1中所檢測出的電位降低。
[0144] 具體而言，當(dāng)觸控面板的接觸點為零時、或為一點時，預(yù)先沿X軸方向產(chǎn)生電場分 布并在電位檢測部ADX1中對作為初始電位的電位進行測定，同樣，沿Y軸方向產(chǎn)生電場分 布并在電位檢測部ADY1中對作為初始電位的電位進行測定，將其存儲在存儲器32中。換 言之，當(dāng)觸控面板之接觸點為零時、或為一點時，使圖1所示的觸控面板的開關(guān)SW2及SW3 為0N、使其余的開關(guān)為OFF狀態(tài)，在電位檢測部ADX1中測定電位。在此狀態(tài)下，由于透過 電阻Rxl對XH電極11施加 Vcc的電壓，并將XL電極12接地，因此在第一電阻膜10上沿 X軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下利用電位檢測部ADX1測定電位，將檢測出的電位作為 初始電位存儲在存儲器32等中。同樣，使開關(guān)SW5及SW6為0N、使其余的開關(guān)為OFF狀態(tài)， 在電位檢測部ADY1中測定電位。在此狀態(tài)下，由于透過電阻Ryl對YH電極21施加 Vcc的 電壓，并將YL電極22接地，因此在第二電阻膜20上沿Y軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài) 下利用電位檢測部ADY1測定電位，將檢測出的電位作為初始電位存儲在存儲器32等中。
[0145] 通過將該初始電位的值與在步驟S102及S104中所測定的電位的值進行比較，可 判斷接觸點為一點還是兩點、當(dāng)為兩點時連接接觸點兩點的線段為平行于X軸方向還是平 行于Y軸方向（垂直于X軸方向）、還是為既不平行于X軸方向也不平行于Y軸方向的方 向。
[0146] 具體而言，當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位與在電位檢測部 ADX1中所測定的初始電位大致相同、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位與在 電位檢測部ADY1中所測定的初始電位大致相同時，判斷接觸點為一點；當(dāng)在步驟S102中 由電位檢測部ADX1所測定的電位較在電位檢測部ADX1中所測定的初始電位更低、在步驟 S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位與在電位檢測部ADY1中所測定的初始電位大致相 同時，判斷連接作為接觸點的兩點的線段為與X軸方向平行（垂直于Y軸方向）；當(dāng)在步驟 S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位與在電位檢測部ADX1中所測定的初始電位大致相 同、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位較在電位檢測部ADY1中所測定的初始 電位更低時，判斷連接作為接觸點的兩點的線段為與Y軸方向平行（垂直于X軸方向）；當(dāng) 在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位較在電位檢測部ADX1中所測定的初始電 位更低、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位較在電位檢測部ADY1中所測定的 初始電位更低時，判斷接觸點在既非X軸方向也非Y軸方向的斜方向上兩點接觸。
[0147] 更具體而言，在由電位檢測部ADX1及ADY1所測定的初始電位均為2. 5V的情況 下，當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位為2. 5V、在步驟S104中由電位檢測 部ADY1所測定的電位為2. 5V時，判斷接觸點為一點；當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1 所測定的電位為2. 5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位為2. 5V時，判 斷連接作為接觸點的兩點的線段為與X軸方向平行；當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1 所測定的電位為2. 5V、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位為2. 5V以下時，判 斷連接作為接觸點的兩點的線段為與Y軸方向平行（垂直于X軸方向）；當(dāng)在步驟S102中 由電位檢測部ADX1所測定的電位為2. 5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定 的電位為2. 5V以下時，判斷連接作為接觸點的兩點的線段為既非X軸方向也非Y軸方向的 斜方向。
[0148] 由此，可進行接觸點為一點或兩點、當(dāng)為兩點時連接接觸點兩點的線段為平行于X 軸方向或平行于Y軸方向（垂直于X軸方向）亦或為既不平行于X軸方向也不平行于Y軸 方向之方向的判斷。
[0149] 另外，作為不測定初始電位而進行接觸點是一點還是兩點之判斷的別的方法，可 當(dāng)在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2. 5V、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2. 5V 時，判斷接觸點為一點。另外，可當(dāng)在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2. 5V、在電位檢測 部ADY1中所檢測出電位為2. 5V以下時，判斷接觸點在與Y軸方向平行的方向上兩點接觸。 另外，可當(dāng)在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2. 5V以下、在電位檢測部ADY1中所檢測 出電位為2. 5V時，判斷接觸點在與X軸方向平行的方向上兩點接觸。再有，可當(dāng)在電位檢 測部ADX1中所檢測出電位為2. 5V以下、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2. 5V以下 時，判斷接觸點在既非X軸方向也非Y軸方向的斜方向上兩點接觸。
[0150] 根據(jù)以上內(nèi)容在步驟S106中，可判斷本實施方式之觸控面板的接觸點為一點還 是兩點。需要說明的是，對于為2. 5V還是為2. 5V以下的判斷，以2. 5V為基準(zhǔn)設(shè)定用于決 定預(yù)定范圍的閾值，若所測定的電位在預(yù)定范圍內(nèi)，則判斷電位為2. 5V，若超出預(yù)定范圍， 則判斷電位為2. 5V以下。需要說明的是，對于該些判斷的信息，根據(jù)需要存儲在控制部30 的存儲器32等中。
[0151] 在步驟S106中，當(dāng)判斷觸控面板的接觸點為一點時，移動至步驟S108,另外，當(dāng)判 斷接觸點為兩點時，移動至步驟S110。
[0152] 接著，在步驟S108中，檢測出觸控面板的接觸點為一點時的接觸點的位置坐標(biāo)。 對于該位置坐標(biāo)的檢測，由于接觸點為一點，因此可利用通常的位置檢測方法來進行接觸 點的位置坐標(biāo)的檢測。例如，在對XH電極11施加5V的電位，將XL電極12接地的狀態(tài)下， 利用電位檢測部ADY1等檢測出X軸方向上的電位，基于該電位檢測出接觸點的X坐標(biāo)的位 置。另外，在對YH電極21施加5V的電位，將YL電極22接地的狀態(tài)下，利用電位檢測部 ADX1等檢測出Y軸方向上的電位，基于該電位檢測出接觸點的Y坐標(biāo)的位置。
[0153] 接著，在步驟S110中，進行第二X方向電位檢測。具體而言，在圖1所示的觸控面 板中，使開關(guān)SW1及SW3為0N，使其余的開關(guān)為OFF狀態(tài)，在電位檢測部ADY1及ADY2中測 定電位。在此狀態(tài)下，由于對XH電極11施加 Vcc的電壓，XL電極12接地，因此在第一電 阻膜10上沿X軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下于電位檢測部ADY1及ADY2中測定電位， 將檢測出的電位作為信息存儲在存儲器32等中。需要說明的是，有時將步驟S110稱為第 三測定步驟。
[0154] 接著，在步驟S112中，進行第二Y方向電位檢測。具體而言，在圖1所示的觸控面 板中，使開關(guān)SW4及SW6為0N，使其余的開關(guān)為OFF狀態(tài)，在電位檢測部ADX1及ADX2中測 定電位。在此狀態(tài)下，由于對YH電極21施加 Vcc的電壓，YL電極22接地，因此在第二電 阻膜20上沿Y軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下于電位檢測部ADX1及ADX2中測定電位， 將檢測出的電位作為信息存儲在存儲器32等中。需要說明的是，有時將步驟S112稱為第 四測定步驟。
[0155] 接著，在步驟S114中，對連接在觸控面板中接觸的兩點的線段的傾斜進行檢測。 具體而言，對連接在觸控面板中接觸的兩點的線段是否平行于X軸方向或Y軸方向、以及不 平行時是右上傾斜還是左上傾斜進行判斷。換言之，如上所述，當(dāng)觸控面板的接觸點為零 時、或為一點時，預(yù)先沿X軸方向產(chǎn)生電場分布并在電位檢測部ADX1中對作為初始電位的 電位進行測定，同樣，沿Y軸方向產(chǎn)生電場分布并在電位檢測部ADY1中對作為初始電位的 電位進行測定，將其存儲在存儲器32中。具體而言，當(dāng)觸控面板之接觸點為零時、或為一點 時，使圖1所示的觸控面板的開關(guān)SW2及SW3為0N、使其余的開關(guān)為OFF狀態(tài)，在電位檢測 部ADX1中測定電位。在此狀態(tài)下，由于透過電阻Rxl對XH電極11施加 Vcc的電壓，并將 XL電極12接地，因此在第一電阻膜10上沿X軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下利用電位 檢測部ADX1測定電位，將檢測出的電位作為初始電位存儲在存儲器32等中。同樣，使開關(guān) SW5及SW6為0N、使其余的開關(guān)為OFF狀態(tài)，在電位檢測部ADY1中測定電位。在此狀態(tài)下， 由于透過電阻Ryl對YH電極21施加 Vcc的電壓，并將YL電極22接地，因此在第二電阻膜 20上沿Y軸方向產(chǎn)生電位分布。在此狀態(tài)下利用電位檢測部ADY1測定電位，將檢測出的電 位作為初始電位存儲在存儲器32等中。
[0156] 通過將初始電位的值與在步驟S102及S104中所測定的電位的值進行比較，可判 斷連接接觸點兩點的線段為平行于X軸方向還是平行于Y軸方向（垂直于X軸方向）。
[0157] 具體而言，當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位較在電位檢測部 ADX1中所測定的初始電位更低、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位與在電位 檢測部ADY1中所測定的初始電位大致相同時，可判斷連接作為接觸點的兩點的線段為與X 軸方向平行（垂直于Y軸方向）；當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位與在 電位檢測部ADX1中所測定的初始電位大致相同、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定 的電位較在電位檢測部ADY1中所測定的初始電位更低時，可判斷連接作為接觸點的兩點 的線段為與Y軸方向平行（垂直于X軸方向）。此時，當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1 所測定的電位較在電位檢測部ADX1中所測定的初始電位更低、在步驟S104中由電位檢測 部ADY1所測定的電位較在電位檢測部ADY1中所測定的初始電位更低時，可判斷接觸點在 既非X軸方向也非Y軸方向的斜方向上兩點接觸。
[0158] 更具體而言，當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位為2. 5V以下、在 步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位為2. 5V時，判斷連接作為接觸點的兩點的線 段為與X軸方向平行；當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測定的電位為2. 5V、在步驟 S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位為2. 5V以下時，判斷連接作為接觸點的兩點的線 段為與Y軸方向平行（垂直于X軸方向）。此時，當(dāng)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所測 定的電位為2. 5V以下、在步驟S104中由電位檢測部ADY1所測定的電位為2. 5V以下時，可 判斷連接作為接觸點的兩點的線段為既非X軸方向也非Y軸方向的斜方向。
[0159] 由此，可進行判斷連接作為接觸點的兩點的線段為平行于X軸方向還是平行于Y 軸方向。
[0160] 另外，作為不測定初始電位而進行同樣判斷的別的方法，可當(dāng)在電位檢測部ADX1 中所檢測出電位為2. 5V、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2. 5V以下時，換言之，當(dāng)電 位檢測部ADY1所檢測出電位較電位檢測部ADX1所檢測出電位更低時，判斷接觸點在與Y 軸方向平行的方向上兩點接觸。另外，可當(dāng)在電位檢測部ADX1中所檢測出電位為2. 5V以 下、在電位檢測部ADY1中所檢測出電位為2. 5V時，換言之，當(dāng)電位檢測部ADY1所檢測出電 位較電位檢測部ADX1所檢測出電位更高時，判斷接觸點在與X軸方向平行的方向上兩點接 觸。
[0161] 對于線段不平行的情況，具體而言，在步驟S110中，如圖16所示，對于作為觸控面 板的接觸點的兩點的A點及B點，當(dāng)B點較A點更靠近XL電極12及YH電極21時，對于電 位檢測部ADY1及ADY2中所檢測出的電位，如圖17所示，在電位檢測部ADY2中所得到的電 位較在電位檢測部ADY1中所得到的電位更高。
[0162] 圖17是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時，觸控面板中的兩點的接觸位置在一定間隔的右上的直線上時，使接觸位置變 化的圖。圖17(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的坐標(biāo)位置，圖17(b)表示兩點 的中點的X坐標(biāo)位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出的電位的關(guān)系。
[0163] 推測其原因是：由于A點靠近在第一電阻膜10上施加5V的電壓的XH電極11，因 此受其影響，與靠近A點的第二電阻膜20的YL電極22連接的電位檢測部ADY2更易檢測 出較高的電位；由于B點靠近在第一電阻膜10上接地的XL電極12,因此受其影響，與靠近 B點的第二電阻膜20的YH電極21連接的電位檢測部ADY1更易檢測出較低的電位。
[0164] 在步驟S110中，如圖18所示，對于作為觸控面板的接觸點的兩點的A點及B點， 當(dāng)A點較B點更靠近XH電極11及YH電極21時，對于電位檢測部ADY1及ADY2中所檢測 出的電位，如圖19所示，在電位檢測部ADY2中所得到的電位較在電位檢測部ADY1中所得 到的電位更低。
[0165] 圖19是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時，觸控面板中的兩點的接觸位置在一定間隔的左上的直線上時，使接觸位置變 化的圖。圖19(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的坐標(biāo)位置，圖19(b)表示兩點 的中點的X坐標(biāo)位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出的電位的關(guān)系。
[0166] 推測其原因是：由于A點靠近在第一電阻膜10上施加5V的電壓的XH電極11，因 此強烈地受到XH電極11的影響，與靠近A點的第二電阻膜20的YH電極21連接的電位檢 測部ADY1更易檢測出較高的電位；由于B點靠近在第一電阻膜10上接地的XL電極12,因 此強烈地受到XL電極12的影響，與靠近B點的第二電阻膜20的YL電極22連接的電位檢 測部ADY2更易檢測出較低的電位。
[0167] 綜上所述，可判斷連接接觸于觸控面板的兩點的線段的傾斜為右上還是左上。
[0168] 另外，還可根據(jù)在步驟S110中檢測出的電位，判斷接觸的兩點為平行于X軸方向、 還是平行于Y軸方向。
[0169] 具體而言，由于當(dāng)兩點在與作為電壓施加方向的X軸方向平行的位置接觸時、以 及當(dāng)兩點在與作為電壓施加方向的X軸方向垂直的位置接觸時，電位檢測部ADY1及ADY2 所檢測出的電位的值如下所述為相等，因此當(dāng)電位檢測部ADY1及ADY2所檢測的電位的值 相等時，可判斷觸控面板中兩點的接觸位置平行于X軸方向或平行于Y軸方向。
[0170] 圖20是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時,使觸控面板中的兩點的接觸位置的Y坐標(biāo)為相同坐標(biāo)位置、使兩點的接觸位 置的X軸方向的間隔為90的方式為一定時（兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為5的位置和95的 位置時），使Y坐標(biāo)上坐標(biāo)位置變化的圖。圖20(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點 的坐標(biāo)位置，圖20 (b)表示接觸點的Y坐標(biāo)的位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出 的電位的關(guān)系。
[0171] 圖21是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時,使觸控面板中的兩點的接觸位置的Y坐標(biāo)為相同坐標(biāo)位置、使兩點的接觸位 置的X軸方向的間隔為15的方式為一定時（兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為20的位置和35 的位置時），使Y坐標(biāo)上坐標(biāo)位置變化的圖。圖21 (a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸 點的坐標(biāo)位置，第21 (b)圖表示接觸點的Y坐標(biāo)的位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢 測出的電位的關(guān)系。
[0172] 圖22是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時,使觸控面板中的兩點的接觸位置的Y坐標(biāo)為相同坐標(biāo)位置、使兩點的接觸位 置的X軸方向的間隔為15的方式為一定時（兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為65的位置和80 的位置時），使Y坐標(biāo)上坐標(biāo)位置變化的圖。圖22(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸 點的坐標(biāo)位置，圖22 (b)表示接觸點的Y坐標(biāo)的位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢測 出的電位的關(guān)系。
[0173] 如圖20至圖22所示，當(dāng)兩點的接觸位置的Y坐標(biāo)均為相同位置時，電位檢測部 ADY1及ADY2所檢測出的電位均為相同值，該值為對應(yīng)A點與B點的中點的電位。例如，圖 20的情況下，由于中點的X坐標(biāo)的位置為50的位置，因此電位檢測部ADY1及ADY2檢測出 所施加的電壓的5V的電位的一半的2. 5的值。另外，圖21的情況下，中點的X坐標(biāo)的位置 為相當(dāng)于27. 5的位置，圖21的情況下，中點的X坐標(biāo)的位置為相當(dāng)于72. 5的位置，電位檢 測部ADY1及ADY2檢測出與該些位置相當(dāng)?shù)碾娢弧?br> [0174] 另外，圖23是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將 XL電極12接地時,使觸控面板中的兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為相同坐標(biāo)位置、使兩點的接 觸位置的Y軸方向的間隔為90的方式為一定時（兩點的接觸位置的Y坐標(biāo)為5的位置和 95的位置時），使X坐標(biāo)上坐標(biāo)位置變化的圖。圖23(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點 接觸點的坐標(biāo)位置，圖23 (b)表示接觸點的X坐標(biāo)的位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所 檢測出的電位的關(guān)系。
[0175] 圖24是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時,使觸控面板中的兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為相同坐標(biāo)位置、使兩點的接觸位 置的Y軸方向的間隔為15的方式為一定時（兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為65的位置和80 的位置時），使X坐標(biāo)上坐標(biāo)位置變化的圖。圖24(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸 點的坐標(biāo)位置，圖24(b)表示接觸點的X坐標(biāo)的位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢測 出的電位的關(guān)系。
[0176] 圖25是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對ΧΗ電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時,使觸控面板中的兩點的接觸位置的坐標(biāo)為相同坐標(biāo)位置、使兩點的接觸位置 的Y軸方向的間隔為15的方式為一定時（兩點的接觸位置的X坐標(biāo)為20的位置和35的 位置時），使X坐標(biāo)上坐標(biāo)位置變化的圖。圖25(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點 的坐標(biāo)位置，圖25 (b)表示接觸點的X坐標(biāo)的位置與在電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出 的電位的關(guān)系。
[0177] 如圖23至圖25所示，當(dāng)兩點的接觸位置之Y坐標(biāo)均為相同位置時，電位檢測部 ADY1及ADY2所檢測出的電位均為相同值，檢測出與A點和B點的X坐標(biāo)對應(yīng)的電位。換 言之，當(dāng)兩點在與Y軸方向平行的方向上接觸時，不依存于A點與B點的間隔，電位檢測部 ADY1及ADY2檢測出與A點和B點的X坐標(biāo)對應(yīng)的電位。
[0178] 以上，對沿X軸方向施加電壓的情形進行了說明，對于沿Y軸方向施加電壓的情形 也可利用同樣的方法來判斷連接在觸控面板上接觸的兩點的線段是否平行于X軸方向及Y 軸方向。
[0179] 如上所述，利用電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出的電位是否為相同值，可根據(jù)在 步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出的電位及在步驟S104中由電位檢測部ADY1所檢 測出的電位，來判斷觸控面板中的兩點接觸點是否平行于X軸方向或Y軸方向，并可利用電 位檢測部ADY1及ADY2所檢測出之電位的大小關(guān)系，來判斷連接所接觸兩點的線段之傾斜 為右上的傾斜還是左上的傾斜。
[0180] 換言之，當(dāng)電位檢測部ADY1所檢測出的電位為較電位檢測部ADY2所檢測出的電 位更低的電位時，判斷連接兩點的線段的傾斜為右上。另外，當(dāng)電位檢測部ADY1所檢測出 的電位為較電位檢測部ADY2所檢測出的電位更高的電位時，判斷連接兩點的線段的傾斜 為左上。另外，當(dāng)電位檢測部ADY1所檢測出的電位與電位檢測部ADY2所檢測出的電位相 等時，判斷連接兩點的線段為平行于X軸方向或Y軸方向。
[0181] 需要說明的是，對于觸控面板的兩點接觸點是否為平行于X軸方向或Y軸方向的 判斷，對基于步驟S110及S112中所檢測出的電位、即在第三測定步驟及第四測定步驟中所 得到的信息進行判斷的情形進行了說明，但也可基于步驟S102及S104中所檢測出的電位、 即在第一測定步驟及第二測定步驟中所得到的信息進行判斷。
[0182] 另外，當(dāng)進行連接觸控面板的兩點接觸點的線段的傾斜為右上還是左上的判斷 時，對沿X軸方向施加電壓的情形進行了說明，但沿Y軸方向施加電壓時也可同樣地進行。
[0183] 具體而言，如圖26所示，當(dāng)對YH電極21施加 Vcc(5V)的電壓、使YL電極22接地 (0V)時，對于作為觸控面板的接觸點的兩點的A點及B點，當(dāng)A點較B點更靠近XH電極11 及YL電極22時，對于電位檢測部ADX1及ADX2中所檢測出的電位，如圖27所示，在電位檢 測部ADX2中所得到的電位較在電位檢測部ADX1中所得到的電位更高。
[0184] 需要說明的是，圖27是表示當(dāng)沿Y軸方向施加電壓時，即對YH電極21施加5V 的電壓，將YL電極22接地時，觸控面板中的兩點的接觸位置在一定間隔的右上的直線上 時，使接觸位置變化的圖。圖27(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的坐標(biāo)位置，圖 27 (b)表示兩點的中點的X坐標(biāo)位置與在電位檢測部ADX1及ADX2所檢測出的電位的關(guān)系。
[0185] 推測其原因是：由于A點靠近在第二電阻膜20上接地的YL電極22,因此強烈地 受到Y(jié)L電極22的影響，與靠近A點的第一電阻膜10的XH電極11連接的電位檢測部ADX1 更易檢測出較低的電位；由于B點靠近在第二電阻膜20上施加5V的電位的YH電極21，因 此受其影響，與靠近B點的第二電阻膜20的XL電極12連接的電位檢測部ADX2更易檢測 出較高的電位。
[0186] 另外，如圖28所示，當(dāng)對YH電極21施加 Vcc(5V)的電壓、使YL電極22接地（0V) 時，對于作為觸控面板的接觸點的兩點的A點及B點，當(dāng)A點較B點更靠近XH電極11及YH 電極21時，對于電位檢測部ADX1及ADX2中所檢測出的電位，如圖29所示，在電位檢測部 ADX2中所得到的電位較在電位檢測部ADX1中所得到的電位更低。
[0187] 需要說明的是，圖29是表示當(dāng)沿Y軸方向施加電壓時，即對YH電極21施加5V 的電壓，將YL電極22接地時，觸控面板中的兩點的接觸位置在一定間隔的左上的直線上 時，使接觸位置變化的圖。圖29(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的坐標(biāo)位置，圖 29 (b)表示兩點的中點的X坐標(biāo)位置與在電位檢測部ADX1及ADX2所檢測出的電位的關(guān)系。
[0188] 推測其原因是：由于A點靠近在第二電阻膜20上接地的YH電極21，因此強烈地受 到Y(jié)H電極21影響，與靠近A點的第一電阻膜10的XH電極11連接的電位檢測部ADX1更 易檢測出較高的電位；由于B點靠近在第二電阻膜20上的YL電極22,因此受其影響，與靠 近B點的第一電阻膜10的XL電極12連接的電位檢測部ADX2更易檢測出較低的電位。
[0189] 如此一來，即便是沿X軸方向施加電壓時，也可同樣地判斷連接觸控面板中兩點 接觸時的兩點接觸點的線段為右上還是左上。
[0190] 接著，如步驟S116所示，算出觸控面板上接觸的兩點的中點。具體而言，通過基于 在步驟S110及S112中測定的電位（在第三測定步驟及第四測定步驟中測定的電位）來計 算出各個電位的中點，從而計算出觸控面板中接觸的兩點的坐標(biāo)的中點。
[0191] 參照圖30及圖31對其進行說明。
[0192] 圖30是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時，觸控面板中的兩點的接觸位置存在于右上的直線上時，以兩點接觸點的中點 為50的方式使間隔變化時的圖。圖30(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的坐標(biāo) 位置，圖30(b)表示X坐標(biāo)的兩點間的距離（或Y坐標(biāo)的兩點間的距離）與在電位檢測部 ADY1及ADY2所檢測出的電位及其平均的關(guān)系。
[0193] 圖31是表示當(dāng)沿X軸方向施加電壓時，即對XH電極11施加5V的電壓，將XL電 極12接地時，觸控面板中的兩點的接觸位置存在于左上的直線上時，以兩點接觸點的中點 為50的方式使間隔變化時的圖。圖31(a)表示此狀態(tài)下的觸控面板的兩點接觸點的坐標(biāo) 位置，圖31(b)表示X坐標(biāo)的兩點間的距離（或Y坐標(biāo)的兩點間的距離）與在電位檢測部 ADY1及ADY2所檢測出的電位及其平均的關(guān)系。
[0194] 如圖30及圖31所示，處于隨著兩點間之間隔變寬，電位檢測部ADY1所檢測出的 電位與電位檢測部ADY2所檢測出的電位之差變寬的趨勢。然而，電位檢測部ADY1所檢測 出電位與電位檢測部ADY2所檢測出的電位的平均表不出一定的值，該值表不觸控面板的 兩點接觸點的中點的值。
[0195] 由此，通過計算出電位檢測部ADY1所檢測出的電位與電位檢測部ADY2所檢測出 的電位的平均值，可得到對應(yīng)觸控面板的兩點接觸點的中點的X坐標(biāo)的電位，并可根據(jù)所 得到的電位得到中點的X坐標(biāo)。
[0196] 圖30及圖31對計算觸控面板上接觸的兩點接觸點的中點的X坐標(biāo)的情形進行了 說明，但當(dāng)沿Y方向施加電壓時、即對YH電極21施加5V的電壓、將YL電極22接地時，可 通過檢測出電位檢測部ADY1及ADY2所檢測出的電位，并可同樣地根據(jù)檢測出的電位，而得 到觸控面板中接觸的兩點接觸點的中點的Y坐標(biāo)。
[0197] 綜上所述，可得到觸控面板上接觸的兩點接觸點的中點的坐標(biāo)。
[0198] 接著，在步驟S118中，計算出觸控面板中接觸的兩點間的距離。具體而言，根據(jù)在 步驟S102及步驟S104中測定的電位（在第一測定步驟及第二測定步驟中所測定的電位）， 來計算出觸控面板中接觸的兩點間的距離。
[0199] 參照圖32對兩點間距離的計算進行說明。圖32表示出步驟S102的狀態(tài)、即圖5 所示的狀態(tài)下的兩點間的X坐標(biāo)的距離與連接于XH電極11的電位檢測部ADX1所檢測出的 電位的關(guān)系。如圖32所示，隨著兩點間的距離變寬，電位檢測部ADX1所檢測出的電位的值 降低。另外，當(dāng)兩點存在于在與施加電壓的方向平行的、即平行于X軸方向的方向上時，與 兩點不存在于平行于X軸方向的方向上、即兩點存在于右上方向或左上方向的方向上時， 兩點間的距離與電位檢測部ADX1所檢測出的電位的關(guān)系不同。
[0200] 由此，對應(yīng)在步驟S114中檢測出的觸控面板中接觸的兩點的位置關(guān)系、即兩點是 否存在于與X軸方向平行的方向，選擇圖32所示的兩點間的距離與在步驟S102中由電位 檢測部ADX1所檢測出的電位的關(guān)系，并可基于所選擇的關(guān)系而得到X軸方向上的兩點間的 距離。
[0201] 具體而言，當(dāng)觸控面板的兩點接觸點存在于與X軸方向平行的方向的直線上時， 可使用圖32中線32A所示的曲線，根據(jù)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出的電位 而計算出兩點的X軸方向的距離。另外，當(dāng)觸控面板的兩點接觸點未存在于與X軸方向平 行的方向的直線上時、即觸控面板的兩點接觸點存在于右上或左上的直線上時，可使用圖 32中線32B所示的曲線，根據(jù)在步驟S102中由電位檢測部ADX1所檢測出的電位而計算出 兩點的X軸方向的距離等。
[0202] 需要說明的是，圖33表示出2. 5V與由電位檢測部ADX1等所檢測出電位之差、與X 軸方向上兩點間的距離的關(guān)系。同樣，基于該相關(guān)關(guān)系，可利用2. 5V與由電位檢測部ADX1 所檢測出電位的差，來得到X軸方向的距離。
[0203] 對于Y軸方向上的距離，也可利用與上述相同的方法，基于在步驟S104中由電位 檢測部ADY1所檢測出電位來得到。
[0204] 需要說明的是，與2. 5V之電壓的差V、與各個軸方向的距離L1?L4(需要說明的 是，對于L1?L4,有時表示為X軸方向的距離Lx、Y軸方向之距離Ly)的關(guān)系如數(shù)學(xué)式1 所示。也可使用該數(shù)學(xué)式1所示的式子計算出各個軸方向的距離L。需要說明的是，下述 ?心、1^?Υ8、δ5?δ8可基于圖32或圖33預(yù)先計算出，也可由實驗等 而決定。再有，該些值可存儲在控制部30等中。
[0205] [數(shù)學(xué)式1]
[0206] 平行方向近似式Α = α Ζ+ β J+ γ 1
[0207] 斜 X 方向近似式：L2 = a 2V2+ β 2V+ Y 2
[0208] 垂直方向近似式：L3 = α 3V 2+ β 3V+ Υ 3
[0209] 斜 Y 方向近似式：L4 = a 4V 2+ β 4V+ Y 4
[0210] 另外，也可使用如數(shù)學(xué)式2所示的三次式來計算。
[0211] [數(shù)學(xué)式2]
[0212] 平打方向近似式：Q = δ 5V3+a 5V2+β 5V+γ 5
[0213] 斜 X 方向近似式：L2 = δ6ν3+α6ν2+β6ν+γ 6
[0214] 垂直方向近似式：L3 = δ7ν3+α7ν2+β7ν+ Υτ
[0215] 斜 Υ 方向近似式：L4 = δ8ν3+α8ν2+β8ν+γ 8
[0216] 接著，在步驟S120中，計算出觸控面板中接觸的兩點的位置坐標(biāo)。
[0217] 具體而言，根據(jù)觸控面板中接觸的兩點的位置關(guān)系、兩點的中點的位置、以及兩點 間的各個軸方向上的距離來計算出觸控面板中接觸的兩點的位置坐標(biāo)。
[0218] 具體而言，根據(jù)觸控面板中接觸的兩點的中點的位置、兩點間的各個軸方向的距 離來計算出觸控面板中接觸的兩點的位置坐標(biāo)。具體而言，當(dāng)以X軸方向的距離為Lx、以 Y軸方向的距離為Ly進行計算、以觸控面板中接觸的兩點的中點位置為（Xc、Yc)進行計算 時，兩點的坐標(biāo)由數(shù)學(xué)式3或數(shù)學(xué)式4所示的式子表示。需要說明的是，數(shù)學(xué)式3表示兩點 存在于右上的傾斜的情形，數(shù)學(xué)式4表示兩點存在于左上的傾斜的情形，數(shù)學(xué)式5表示平行 于X軸方向的情形，數(shù)學(xué)式6表示平行于Y軸方向的情形。
[0219] [數(shù)學(xué)式3]
[0220] (Xc+Lx/2, Yc+Ly/2), (Xc-Lx/2, Yc-Ly/2)
[0221] [數(shù)學(xué)式4]
[0222] (Xc+Lx/2, Yc-Ly/2)，（Xc-Lx/2, Yc+Ly/2)
[0223] [數(shù)學(xué)式5]
[0224] (Xc+Lx/2, Yc)，（Xc-Lx/2, Yc)
[0225] [數(shù)學(xué)式6]
[0226] (Xc, Yc+Ly/2), (Xc, Yc-Ly/2)
[0227] 綜上所述，本實施方式的觸控面板的位置檢測方法結(jié)束。在本實施方式的觸控面 板的位置檢測方法中，即使是在觸控面板的接觸點為兩點時，也可容易地正確地計算出兩 點接觸點的坐標(biāo)位置。
[0228] [第二實施方式]
[0229] 接著，對第二實施方式進行說明。本實施方式是觸控面板的位置檢測方法，具有與 第一實施方式一部分不同的步驟。
[0230] 對于本實施方式的觸控面板的位置檢測方法，參照圖34進行說明。
[0231] 首先，在步驟S202中，進行觸控面板的初始化。對于該初始化的具體內(nèi)容下面將 敘述。
[0232] 接著，在步驟S204中，檢測在觸控面板上是否有由手指等的按下而進行的接觸， 當(dāng)有由手指等進行的接觸時，移動至步驟S206,當(dāng)沒有由手指等進行的接觸時，直到有由手 指等進行的接觸為止，重復(fù)步驟S204。具體而言，當(dāng)在對第一電阻膜10施加電壓的狀態(tài)下， 透過第二電阻膜20檢測出電位時，或者當(dāng)在對第二電阻膜20施加電壓的狀態(tài)下，透過第一 電阻膜10檢測出電位時，作為有由手指等進行的接觸，移動至步驟S206。
[0233] 接著，在步驟S206中，進行識別為一點按下還是兩點按下的步驟。
[0234] 接著，在步驟S208中，進行是否為兩點按下的判斷。具體而言，根據(jù)在步驟S206 中一點按下還是兩點按下的識別信息，判斷是一點按下還是兩點按下。當(dāng)為一點按下時，移 動至步驟S210,當(dāng)為兩點按下時，移動至步驟S212。
[0235] 接著，在步驟S210中，計算位置坐標(biāo)。具體而言，由于在步驟S208中判斷為一點按 下，因此利用通常的4線式的觸控面板的位置檢測，來計算出一點按下的坐標(biāo)位置。之后， 圖34的位置檢測結(jié)束。
[0236] 在步驟S212中，識別連接在觸控面板上所按下兩點的線段的方向（傾斜）。對于 步驟S212的步驟的詳細內(nèi)容后面將敘述。
[0237] 接著，在步驟S214中，計算在觸控面板上所按下兩點間的距離。
[0238] 接著，在步驟S216中，進行連接所按下兩點的線段是否平行于X軸方向的判斷。 具體而言，根據(jù)步驟S212中所得到的信息來判斷連接所按下兩點的線段是否平行于X軸方 向。當(dāng)判斷為連接所按下兩點的線段是平行于X軸方向（平行方向）時，移動至步驟S218， 當(dāng)判斷為連接所按下兩點的線段不平行于X軸方向時，移動至步驟S220。
[0239] 接著，在步驟S218中，計算所按下的平行方向的兩點的坐標(biāo)位置，之后，圖34的位 置檢測結(jié)束。對于該步驟的詳細內(nèi)容后面將敘述。
[0240] 另一方面，當(dāng)步驟S216為否時，在步驟S220中，連接進行所按下兩點的線段是否 垂直于X軸方向的判斷。具體而言，根據(jù)步驟S212中所得到的信息來判斷連接所按下兩點 的線段是否垂直于X軸方向。當(dāng)判斷為連接所按下兩點的線段是垂直于X軸方向（垂直方 向）時，移動至步驟S222,當(dāng)判斷為連接所按下兩點的線段不垂直于X軸方向時，移動至步 驟 S224。
[0241] 接著，在步驟S222中，計算所按下的兩點的坐標(biāo)位置，之后，第34圖的位置檢測結(jié) 束。對于該步驟的詳細內(nèi)容后面將敘述。
[0242] 接著，在步驟S224中，檢測在觸控面板上所按下兩點的中點的坐標(biāo)。對于該步驟 的詳細內(nèi)容后面將敘述。
[0243] 接著，在步驟S226中，計算連接在觸控面板上所按下兩點的線段的傾斜方向。對 于該步驟之詳細內(nèi)容后面將敘述。
[0244] 接著，在步驟S228中，計算在觸控面板上所按下兩點的位置坐標(biāo)。對于該步驟的 詳細內(nèi)容后面將敘述。
[0245] 如上，本實施方式的觸控面板的位置檢測結(jié)束。
[0246] 接著，根據(jù)圖35對步驟S202中初始化的子流程進行說明。
[0247] 首先，在步驟S302中，在電阻Rxl與、XH電極11與XL電極12之間的第一電阻膜 10為串聯(lián)之狀態(tài)下對XH電極11施加電源電壓。換言之，如圖3所示，透過電阻Rxl對XH 電極11施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。需要說明的是，在此狀態(tài)下，為觸控面板未 接觸或于一點接觸。
[0248] 接著，在步驟S304中，利用與XH電極11連接的電位檢測部ADX1檢測電位。
[0249] 接著，在步驟S306中，將利用電位檢測部ADX1所檢測出的電位作為X軸的初始電 位存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0250] 接著，在步驟S308中，在電阻Ryl與、YH電極21與YL電極22之間的第二電阻膜 20為串聯(lián)的狀態(tài)下施加電源電壓。換言之，如圖4所示，透過電阻Ryl對YH電極21施加電 源電壓Vcc，將YL電極22接地。需要說明的是，在此狀態(tài)下，為觸控面板未接觸或于一點接 觸。
[0251] 接著，在步驟S310中，利用與YH電極21連接的電位檢測部ADY1檢測電位。
[0252] 接著，在步驟S312中，將利用電位檢測部ADY1所檢測出的電位作為Y軸的初始電 位存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0253] 需要說明的是，步驟S302至S306與步驟S308至S312之順序也可相反。
[0254] 如下，圖35的子流程結(jié)束。
[0255] 接著，參照圖36對步驟S206中之識別是一點按下還是兩點按下的子流程進行說 明。
[0256] 首先，在步驟S322中，在電阻Rxl與、XH電極11與XL電極12之間的第一電阻膜 10為串聯(lián)的狀態(tài)下對電阻Rxl施加電源電壓。換言之，如圖3或圖5所示，在電阻Rxl上 于未與XH電極11連接側(cè)施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。需要說明的是，在此狀態(tài) 下，觸控面板為一點接觸或兩點接觸。
[0257] 接著，在步驟S324中，利用與XH電極11連接的電位檢測部ADX1檢測電位。
[0258] 接著，在步驟S326中，在電阻Ryl與、YH電極21與YL電極22之間的第二電阻膜 20為串聯(lián)的狀態(tài)下施加電源電壓。換言之，如圖4或圖6所示，在電阻Ryl上于未與YH電 極21連接側(cè)施加電源電壓Vcc，將YL電極22接地。需要說明的是，在此狀態(tài)下，觸控面板 為一點接觸或兩點接觸。
[0259] 接著，在步驟S328中，利用與YH電極21連接的電位檢測部ADY1檢測電位。
[0260] 接著，在步驟S330中，計算作為初始化中求得的X軸的初始電位與步驟S324中檢 測出的電位之差的X電位差。
[0261] 接著，在步驟S332中，計算作為初始化中求得的Y軸的初始電位與步驟S328中檢 測出的電位之差的Y電位差。
[0262] 接著，在步驟S334中，判斷在步驟S332中所計算出的Y電位差是否小于預(yù)定的Y 閾值。當(dāng)Y電位差小于預(yù)定的Y閾值時，移動至步驟S336,當(dāng)Y電位差不是小于（大于等 于）預(yù)定的Y閾值時，移動至步驟S338。需要說明的是，Y閾值是用于識別觸控面板的接觸 是否為一點還是兩點的預(yù)先設(shè)定的值，是考慮誤差等的值。
[0263] 接著，在步驟S336中，判斷在步驟S330中所計算出的X電位差是否小于預(yù)定的X 閾值。當(dāng)X電位差小于預(yù)定的X閾值時，移動至步驟S340,當(dāng)X電位差不是小于（大于等 于）預(yù)定的X閾值時，移動至步驟S338。需要說明的是，X閾值是用于識別觸控面板的接觸 是否為一點還是兩點的預(yù)先設(shè)定的值，是考慮誤差等的值。
[0264] 接著，在步驟S338中，當(dāng)判斷為觸控面板中由手指等進行的接觸為兩點時，因此 將表示兩點接觸的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0265] 接著，在步驟S340中，當(dāng)判斷為觸控面板中由手指等進行的接觸為一點時，因此 將表示一點接觸的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0266] 如上，圖36的子流程結(jié)束。
[0267] 接著，參照圖37,對用于識別連接步驟212中觸控面板上所按下兩點的線段的方 向（傾斜）的子流程進行說明。
[0268] 首先，在步驟S362中，判斷在步驟S330中所計算出的X電位差是否小于預(yù)定的X 閾值。當(dāng)X電位差小于預(yù)定的X閾值時，移動至步驟S366,當(dāng)X電位差不是小于（大于等 于）預(yù)定的X閾值時，移動至步驟S364。
[0269] 接著，在步驟S364中，判斷在步驟S332中所計算出的Y電位差是否小于預(yù)定的Y 閾值。當(dāng)Y電位差小于預(yù)定的Y閾值時，移動至步驟S368,當(dāng)Y電位差不是小于（大于等 于）預(yù)定的Y閾值時，移動至步驟370。
[0270] 當(dāng)步驟S362為是時，判斷為觸控面板上由手指等進行的兩點接觸點存在于平行 于與X軸方向垂直的Y軸方向的直線上，并作為兩點為垂直方向，在步驟S366中將表不兩 點為垂直方向的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0271] 接著，在步驟S368中，判斷為觸控面板上由手指等進行的兩點接觸點存在于相對 于X軸方向為垂直方向（相對于Y軸方向的平行方向）的直線上，并作為兩點為平行方向， 將表示兩點為平行方向的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0272] 接著，在步驟S370中，判斷為觸控面板上由手指等進行的兩點接觸點存在于相對 于X軸方向既非平行也非垂直的斜方向的直線上，并作為兩點為斜方向，將表示兩點為斜 方向的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0273] 如上，識別連接兩點的線段的方向的子流程結(jié)束。
[0274] 接著，參照圖38對步驟S214中計算作為接觸點的兩點的距離的子流程進行說明。
[0275] 首先，在步驟S382中，計算觸控面板上兩點接觸點的X坐標(biāo)的距離、即兩點接觸點 的X坐標(biāo)之差。具體而言，根據(jù)圖32、圖33或數(shù)學(xué)式1、數(shù)學(xué)式2所示的式子，計算出與在 步驟S330中所計算出的X電位差對應(yīng)的X坐標(biāo)的距離Lx。
[0276] 接著，在步驟S384中，計算觸控面板上兩點接觸點的Y坐標(biāo)的距離、即兩點接觸點 的Y坐標(biāo)之差。具體而言，根據(jù)圖32、圖33或數(shù)學(xué)式1、數(shù)學(xué)式2所示的式子，計算出與在 步驟S332中所計算出的Y電位差對應(yīng)的Y坐標(biāo)的距離Ly。
[0277] 如上，計算兩點距離的子流程結(jié)束。
[0278] 接著，參照圖39,對步驟S218中計算平行方向的兩點接觸點的位置坐標(biāo)的子流程 進行說明。
[0279] 首先，在步驟S402中，利用通常的4線式的位置檢測方法進行坐標(biāo)檢測。由此，得 到X坐標(biāo)Xa及Y坐標(biāo)Ya。在此，由于兩點按下點存在于垂直方向、即垂直于X軸方向的方 向，因此兩個按下點的X坐標(biāo)為相同。由此，X坐標(biāo)為X1、X2。另外，Y坐標(biāo)為兩個按下點的 中點的坐標(biāo)。
[0280] 接著，在步驟S404中，將觸控面板的兩點按下點之中一個按下點的X坐標(biāo)XI作為 在步驟S402中檢測出的坐標(biāo)Xa。
[0281] 接著，在步驟S406中，將觸控面板的兩點按下點之中另一個按下點的X坐標(biāo)X2作 為在步驟S402中檢測出的坐標(biāo)Xa。
[0282] 接著，在步驟S408中，計算觸控面板的兩個按下點之中一個按下點的Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S384中得到的Y坐標(biāo)的兩點間的距離Ly，由Y1 = Ya+Ly/2計算出一個 按下點的Y坐標(biāo)。
[0283] 接著，在步驟S410中，計算觸控面板的兩個按下點之中另一個按下點的Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S384中得到的Y坐標(biāo)的距離Ly，由Y2 = Ya - Ly/2計算出另一個按下 點的γ坐標(biāo)。
[0284] 如上，本子流程結(jié)束。
[0285] 接著，參照圖40,對步驟S222中計算垂直方向的兩點接觸點的位置坐標(biāo)的子流程 進行說明。
[0286] 首先，在步驟S422中，利用通常的4線式的位置檢測方法進行坐標(biāo)檢測。由此，得 到X坐標(biāo)Xa及Y坐標(biāo)Ya。此時，由于兩個按下點存在于平行方向、即平行于X軸方向的方 向，因此Y坐標(biāo)的位置為相同。由此，Y坐標(biāo)Ya為兩點按下點的Y坐標(biāo)Y1、Y2。另外，Χ坐 標(biāo)Xa為兩個按下點的中點的坐標(biāo)。
[0287] 接著，在步驟S424中，計算觸控面板的兩個按下點之中一個按下點的X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S382中得到的X坐標(biāo)的距離Lx，由XI = Xa - Lx/2計算出一個按下點 的X坐標(biāo)。
[0288] 接著，在步驟S426中，計算觸控面板的兩個按下點之中另一個按下點的X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S382中得到的X坐標(biāo)的距離Lx，由X2 = Xa+Lx/2計算出另一個按下點 的X坐標(biāo)。
[0289] 接著，在步驟S428中，將觸控面板的兩點按下點之中一個按下點的Y坐標(biāo)Y1作為 在步驟S422中檢測出的坐標(biāo)Ya。
[0290] 接著，在步驟S430中，將觸控面板的兩點按下點之中另一個按下點的Y坐標(biāo)Y2作 為在步驟S422中檢測出的坐標(biāo)Ya。
[0291] 如上，本子流程結(jié)束。
[0292] 接著，根據(jù)圖41，對步驟S224中計算接觸點為兩點時的中點坐標(biāo)的子流程進行說 明。
[0293] 首先，在步驟S442中，對XH電極11與XL電極12之間的第一電阻膜10施加電源 電壓。換言之，如圖16或圖18所示，對XH電極11施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。
[0294] 接著，在步驟S444中，由與第二電阻膜20的YH電極21連接的電位檢測部ADY1 檢測電位。
[0295] 接著，在步驟S446中，由與第二電阻膜20的YL電極22連接的電位檢測部ADY2 檢測電位。
[0296] 接著，在步驟S448中，對YH電極21與YL電極22之間的第二電阻膜20施加電源 電壓。換言之，如圖26或圖28所示，對YH電極21施加電源電壓Vcc，將YL電極22接地。
[0297] 接著，在步驟S450中，由與第一電阻膜10的XH電極11連接的電位檢測部ADX1 檢測電位。
[0298] 接著，在步驟S452中，由與第一電阻膜10的XL電極12連接的電位檢測部ADX2 檢測電位。
[0299] 接著，在步驟S454中，計算在步驟S450中由電位檢測部ADX1所檢測出電位與在 步驟S452中由電位檢測部ADX2所檢測出電位的平均值，并根據(jù)電位的平均值之值來計算 中點的X坐標(biāo)Xc。
[0300] 接著，在步驟S456中，計算在步驟S444中由電位檢測部ADY1所檢測出電位與在 步驟S446中由電位檢測部ADY2所檢測出電位的平均值，并根據(jù)該平均值之值來計算中點 的Y坐標(biāo)Yc。
[0301] 如上，本子流程接觸。
[0302] 接著，參照圖42,對步驟S226中調(diào)查連接兩點接觸點的線段的傾斜的方向的子流 程進行說明。
[0303] 首先，在步驟S462中，對XH電極11與XL電極12之間的第一電阻膜10施加電源 電壓。換言之，如圖16或圖18所示，對XH電極施加電源電壓Vcc，將XL電極12接地。
[0304] 接著，在步驟S464中，由與第二電阻膜20的YH電極21連接的電位檢測部ADY1 檢測電位。
[0305] 接著，在步驟S466中，由與第二電阻膜20的YL電極22連接的電位檢測部ADY2 檢測電位。
[0306] 接著，在步驟S468中，判斷由電位檢測部ADY1所檢測出的電位與由電位檢測部 ADY2所檢測出的電位的大小關(guān)系。具體而言，當(dāng)由電位檢測部ADY1所檢測出的電位大于由 電位檢測部ADY2所檢測出的電位時，移動至步驟S470。另外，當(dāng)由電位檢測部ADY2所檢測 出的電位大于由電位檢測部ADY1所檢測出的電位時，移動至步驟S472。
[0307] 接著，在步驟S470中，由于判斷為連接兩個接觸點的線段為右上，因此將連接兩 個接觸點的線段為右上的意思的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0308] 接著，在步驟S472中，由于判斷為連接兩個接觸點的線段為左上，因此將連接兩 個接觸點的線段為左上的意思的信息存儲在控制部30的存儲器32等中。
[0309] 如上，本子流程結(jié)束。需要說明的是，由于本子流程之步驟S462至步驟S466與圖 41所示的子流程重復(fù)，因此在圖41所示的子流程中，可將由電位檢測部ADY1所檢測出的電 位及由電位檢測部ADY2所檢測出的電位先存儲在控制部30的存儲器32等中，并根據(jù)該信 息來進行步驟S468之后的步驟。
[0310] 接著，參照圖43,對步驟S228中計算兩點接觸點的位置坐標(biāo)的子流程進行說明。
[0311] 首先，在步驟S482中，根據(jù)存儲在存儲器部32中的信息，判斷連接兩點接觸點的 線段是否為右上。當(dāng)判斷為傾斜是右上時，移動至步驟S484,當(dāng)判斷為傾斜不是右上時，移 動至步驟S492。
[0312] 接著，在步驟S484中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點的X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S454中得到的兩點按下點的中點的X坐標(biāo)Xc、與在步驟S382中得到的 X坐標(biāo)的距離Lx，由XI = Xc - Lx/2計算一個按下點的X坐標(biāo)。
[0313] 接著，在步驟S486中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點的X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S454中得到的兩點按下點的中點的X坐標(biāo)Xc、與在步驟S382中得到的 X坐標(biāo)的距離Lx ( S卩，在步驟S330中所計算出的與X電位差對應(yīng)的X坐標(biāo)的距離Lx)，由X2 =Xc+Lx/2計算另一個按下點的X坐標(biāo)。
[0314] 接著，在步驟S488中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點的Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S456中得到的兩點按下點的中點的Y坐標(biāo)Yc、與在步驟S384中得到的 Y坐標(biāo)的距離Ly，由Y1 = Yc - L2/2計算一個按下點的Y坐標(biāo)。
[0315] 接著，在步驟S490中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點的Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S456中得到的兩點按下點的中點的Y坐標(biāo)Yc、與在步驟S384中得到的 Y坐標(biāo)的距離Ly，由Y2 = YC+L2/2計算一個按下點的Y坐標(biāo)。
[0316] 接著，在步驟S492中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點的X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S454中得到的兩點按下點的中點的X坐標(biāo)Xc、與在步驟S382中得到的 X坐標(biāo)的距離Lx，由XI = Xc - Lx/2計算一個按下點的X坐標(biāo)。
[0317] 接著，在步驟S494中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點之X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S454中得到的兩點按下點的中點的X坐標(biāo)Xc、與在步驟S382中得到的 X坐標(biāo)的距離Lx，由X2 = Xc+Lx/2計算另一個按下點的X坐標(biāo)。
[0318] 接著，在步驟S496中，計算控制面板上兩點按下點之中一個按下點之Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S456中得到的兩點按下點的中點的Y坐標(biāo)Yc、與在步驟S384中得到的 Y坐標(biāo)的距離Ly，由Y1 = YC+L2/2計算一個按下點的Y坐標(biāo)。
[0319] 接著，在步驟S498中，計算控制面板上兩點按下點之中另一個按下點的Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S456中得到的兩點按下點的中點的Y坐標(biāo)Yc、與在步驟S384中得到的 Y坐標(biāo)的距離Ly，由Y2 = Yc - L2/2計算一個按下點的Y坐標(biāo)。
[0320] 如上，本子流程結(jié)束。
[0321] 需要說明的是，也可代替步驟S218及步驟S222中如圖39及圖40所示之子流程， 而進行如圖44及圖45所示的子流程。
[0322] 參照圖44,對步驟S218中計算平行方向的兩點接觸點的位置坐標(biāo)的其他的子流 程進行說明。
[0323] 在步驟S502中，進行圖41所示的觸控面板的接觸點為兩點時的中點檢測的子流 程。由此，得到X坐標(biāo)Xc及Y坐標(biāo)Yc。在此，由于認為兩個按下點存在于垂直方向、即垂直 于X軸方向的方向，因此X坐標(biāo)為相同值。由此，X坐標(biāo)Xc為兩個按下點的X坐標(biāo)XI、X2。 另外，Y坐標(biāo)Yc為兩個按下點的中點的坐標(biāo)。
[0324] 接著，在步驟S504中，將觸控面板中兩個按下點之中一個按下點的X坐標(biāo)XI作為 在步驟S502中檢測出的坐標(biāo)Xc。
[0325] 接著，在步驟S506中，將觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點的X坐標(biāo)X2作 為在步驟S502中檢測出的坐標(biāo)Xc。
[0326] 接著，在步驟S508中，計算出觸控面板中兩個按下點之中一個按下點的Y坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S384中得到的Y坐標(biāo)的距離Ly，由Y1 = Yc+Ly/2計算出一個按下點的 Y坐標(biāo)。
[0327] 接著，在步驟S510中，計算出觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點的Y坐標(biāo)。 具體而言，根據(jù)在步驟S384中得到的Y坐標(biāo)之距離Ly，由Y2 = Yc - Ly/2計算出另一個按 下點的Y坐標(biāo)。
[0328] 如上，本子流程結(jié)束。
[0329] 參照圖45,對步驟S222中計算垂直方向的兩點接觸點的位置坐標(biāo)的其他的子流 程進行說明。
[0330] 首先，在步驟S522中，進行第41圖所示的觸控面板的接觸點為兩點時的中點檢測 的子流程。由此，得到X坐標(biāo)Xc及Y坐標(biāo)Yc。在此，由于兩個按下點存在于平行方向、即 平行于X軸方向的方向，因此Y坐標(biāo)為相同值。由此，Y坐標(biāo)Yc為兩個按下點的Y坐標(biāo)Y1、 Y2。另外，X坐標(biāo)Xc為兩個按下點的中點的坐標(biāo)。
[0331] 接著，在步驟S524中，計算出觸控面板中兩個按下點之中一個按下點的X坐標(biāo)。具 體而言，根據(jù)在步驟S382中得到的X坐標(biāo)的距離Lx，由XI = Xc - Lx/2計算出一個按下點 的X坐標(biāo)。
[0332] 接著，在步驟S526中，計算出觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點的X坐標(biāo)。 具體而言，根據(jù)在步驟S382中得到的X坐標(biāo)的距離Lx，由X2 = Xc+Lx/2計算出另一個按下 點的X坐標(biāo)。
[0333] 接著，在步驟S528中，將觸控面板中兩個按下點之中一個按下點的Y坐標(biāo)Y1作為 在步驟S422中檢測出的坐標(biāo)Yc。
[0334] 接著，在步驟S530中，將觸控面板中兩個按下點之中另一個按下點的Y坐標(biāo)Y2作 為在步驟S422中檢測出的坐標(biāo)Yc。
[0335] 如上，本子流程結(jié)束。
[0336] 本實施方式的觸控面板的位置檢測方法，與第一實施方式相同，即使于觸控面板 上接觸的接觸點為兩點時，也能夠正確地利用簡單的方法進行位置檢測。
[0337] 需要說明的是，對于上述以外的內(nèi)容，與第一實施方式相同。
[0338] [第三實施方式]
[0339] 接著，對第三實施方式進行說明。本實施方式是可使用第一實施方式及第二實施 方式的位置檢測方法的觸控面板的一例。
[0340] 首先，對在圖1所示的觸控面板中，第一電阻膜10、第二電阻膜20與電阻Rxl、Ryl 的關(guān)系進行說明。需要說明的是，在觸控面板中，一點按下時所檢測出的電位與兩點按下時 所檢測出的電位之差越大，越能夠容易地進行觸控面板的接觸點為一點按下還是兩點按下 的判斷。
[0341] (第一觸控面板）
[0342] 對于第一觸控面板，是在圖1所示的觸控面板上，以X軸方向的長度為91. 0mm、Y 軸方向為75. 0mm的方式形成第一電阻膜10及第二電阻膜20。第一電阻膜10的XH電極 11與XL電極12之間的電阻值為351. 4 Ω，第二電阻膜20的YH電極21與YL電極22之間 的電阻值為210. 0Ω。對于在該第一觸控面板中，針對電阻Rxl及Ryl的值、一點按下時與 兩點按下時所檢測出的電位進行調(diào)查的結(jié)果進行說明。
[0343] 表1示出了在第一觸控面板中，電阻Rxl及Ryl的值、以各個電阻膜的電極間的電 阻值為基準(zhǔn)的電阻Rxl及Ryl的值的比例、以及在一點按下時與兩點按下時所檢測出的電 位及該些電位之差。需要說明的是，Vcc為5V。
[0344] [表 1]
[0345]

【權(quán)利要求】
1. 一種觸控面板的位置檢測方法，所述觸控面板包括：第一電阻膜，在第一方向的兩 端設(shè)有第一電極及第二電極；第二電阻膜，在與所述第一方向正交的第二方向的兩端設(shè)有 第三電極及第四電極，其特征在于， 在對所述第一電極施加電源電壓、并將所述第二電極接地的狀態(tài)下，測定所述第一電 極的電位，求出所述第一方向上兩點接觸點的距離； 在對所述第三電極施加電源電壓、并將所述第四電極接地的狀態(tài)下，測定所述第三電 極的電位，求出所述第二方向上兩點接觸點的距離；并且 基于由所述第三電極的電位所得到的所述第二方向上的兩點接觸點的距離，對由所述 第一電極的電位所得到的所述第一方向上的兩點接觸點的距離進行校正。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板的位置檢測方法，其中，在所述接觸點的距離的校 正時，將所述第一方向上的兩點接觸點的距離乘以校正系數(shù)，所述校正系數(shù)根據(jù)所述第二 方向上的兩點接觸點的間隔而確定。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控面板的位置檢測方法，其中，基于所述該第一電極的電 位所得到的所述第一方向上的兩點接觸點的距離，對所述第二方向上的兩點接觸點的距離 進行校正。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的觸控面板的位置檢測方法，其中，在所述第二方向上的兩點 接觸點的距離的校正時，將所述第二方向上的兩點接觸點的距離乘以校正系數(shù)，所述校正 系數(shù)根據(jù)所述兩點接觸點的第一方向上的間隔而確定。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控面板的位置檢測方法，其中，所述校正系數(shù)是所述兩點 接觸點的所述第一方向上的距離或所述第二方向上的距離的二次多項式。
6. -種觸控面板的位置檢測方法，所述觸控面板包括：第一電阻膜，在第一方向的兩 端設(shè)有第一電極及第二電極；第二電阻膜，在與所述第一方向正交的第二方向的兩端設(shè)有 第三電極及第四電極，其特征在于， 不對所述第三電極施加電壓、對所述第一電極施加電壓，對所述觸控面板在兩點接觸 時的所述第一電極的電位進行測定； 不對所述第一電極施加電壓、對所述第三電極施加電壓，對所述觸控面板在兩點接觸 時的所述第三電極的電位進行測定；并且 基于由所述第一電極的電位所得到的所述第一方向上的兩點接觸點的距離、與由所述 第三電極的電位所得到的所述第二方向上的兩點接觸點的距離，對兩點接觸點間的距離進 行校正。
7. -種觸控面板，其包括： 第一電阻膜，在第一方向的兩端設(shè)有第一電極及第二電極； 第二電阻膜，在與所述第一方向正交的第二方向的兩端設(shè)有第三電極及第四電極； 控制部；以及 存儲部，其特征在于， 當(dāng)所述觸控面板的接觸點為兩點時，所述控制部進行以下步驟： 在對所述第一電極施加電源電壓、將所述第二電極接地的狀態(tài)下，測定所述第一電極 的電位，基于所述第一電極的電位計算所述第一方向上的兩點接觸點的距離； 在對所述第三電極施加電源電壓、將所述第四電極接地的狀態(tài)下，測定所述第三電極 的電位，基于所述第三電極的電位計算與所述第一方向正交的所述第二方向上的兩點接觸 點的距離；并且 根據(jù)基于所述第二方向上的兩點接觸點的距離的校正系數(shù)，對所述第一方向上的兩點 接觸點的距離進行校正， 所述校正系數(shù)存儲在所述存儲部中。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控面板，其中所述存儲部存儲所述第二方向上的兩點接觸 點的距離與所述校正系數(shù)的相關(guān)關(guān)系。
【文檔編號】G06F3/041GK104094208SQ201380007180
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2013年1月29日 優(yōu)先權(quán)日:2012年1月31日
【發(fā)明者】藤田憲一 申請人:富士通電子零件有限公司