柵格圖像處理器測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種柵格圖像處理器測(cè)試方法及系統(tǒng)，該方法包括：使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣；將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較；如果所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣，則確定所述待測(cè)試RIP合格；否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。利用本發(fā)明，可以實(shí)現(xiàn)針對(duì)柵格圖像處理器的可調(diào)控自動(dòng)測(cè)試。
【專利說(shuō)明】柵格圖像處理器測(cè)試方法及系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及印刷【技術(shù)領(lǐng)域】，具體而言，涉及一種柵格圖像處理器測(cè)試方法及系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]RIP (Raster Image Processor,柵格圖像處理器)是一種轉(zhuǎn)換處理器,用于將頁(yè)面描述語(yǔ)言所描述的版面信息解釋轉(zhuǎn)換為可供輸出設(shè)備輸出的數(shù)據(jù)信息(一般是位圖或點(diǎn)陣，亦即柵格圖像)。RIP是整個(gè)印前行業(yè)的核心軟件，一個(gè)桌面出版系統(tǒng)的輸出質(zhì)量、輸出速度和開(kāi)放性及兼容性在很大程度上取決于所用RIP的優(yōu)劣。
[0003]目前，對(duì)RIP產(chǎn)品的測(cè)試流程為:測(cè)試人員將測(cè)試樣例提交至待測(cè)試的RIP和作為對(duì)照基準(zhǔn)的RIP，經(jīng)RIP處理后，分別輸出點(diǎn)陣，然后比較二者的點(diǎn)陣是否存在差異。若測(cè)試人員在人眼可識(shí)別的范圍內(nèi)未發(fā)現(xiàn)差異，則認(rèn)為待測(cè)試的RIP正確處理了此測(cè)試樣例。若待測(cè)試的RIP對(duì)一個(gè)大的測(cè)試樣例集合均能正確處理，則認(rèn)為此RIP通過(guò)測(cè)試。
[0004]從上述RIP的測(cè)試流程可以看出手工測(cè)試的方法存在一系列缺陷，如測(cè)試樣例手動(dòng)提交較為繁瑣、樣例提交隨意性較大不利于回歸測(cè)試、測(cè)試結(jié)果的正確性認(rèn)定由人眼保證費(fèi)時(shí)費(fèi)力且可靠性難以評(píng)估等等。
[0005]針對(duì)上述缺陷，一種改進(jìn)方法是利用計(jì)算機(jī)檢查測(cè)試結(jié)果的正確性，將基準(zhǔn)RIP點(diǎn)陣和待測(cè)試RIP點(diǎn)陣之間的比較交由計(jì)算機(jī)去完成，這一方法大大減輕了人工干預(yù)的工作量，在一定程度上實(shí)現(xiàn)了對(duì)柵格圖像處理器的自動(dòng)測(cè)試。但是，其缺陷也很明顯，即該自動(dòng)測(cè)試方法對(duì)點(diǎn)陣差異沒(méi)有容忍度，無(wú)法調(diào)控用于判斷結(jié)果是否一致的點(diǎn)陣差異度，只要有一個(gè)像素存在差異，就會(huì)認(rèn)為點(diǎn)陣不同，從而報(bào)告待測(cè)試RIP出現(xiàn)異常。這一特性使得該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)過(guò)于靈敏，缺乏對(duì)因程序?qū)崿F(xiàn)代碼的輕微修改導(dǎo)致轉(zhuǎn)換處理結(jié)果產(chǎn)生輕微不同但并不影響結(jié)果正確性的現(xiàn)象的容忍，而RIP是經(jīng)常會(huì)進(jìn)行這一類輕微修改的，如此一來(lái)，測(cè)試人員會(huì)發(fā)現(xiàn)報(bào)告異常的樣例大部分情況下都不算是真正的異常，而只是極其輕微的、人眼難以發(fā)現(xiàn)的細(xì)小差異，完全可以忽略不計(jì)，于是，這樣一來(lái)，反而耗費(fèi)了更多了人工去排除這類“誤報(bào)”，從而使得測(cè)試人員逐漸失去了用該自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的熱情。顯然，上述情況是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能令人滿意的。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷，本發(fā)明實(shí)施例提出一種柵格圖像處理器測(cè)試方法，實(shí)現(xiàn)針對(duì)柵格圖像處理器的可調(diào)控自動(dòng)測(cè)試。
[0007]本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案是:
[0008]一種柵格圖像處理器測(cè)試方法，包括:
[0009]使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣；
[0010]將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0011]如果所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣，則確定所述待測(cè)試RIP合格；
[0012]否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0013]優(yōu)選地，將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較包括:
[0014]將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含；
[0015]將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
[0016]優(yōu)選地，所述方法還包括:
[0017]使用待測(cè)試RIP以設(shè)定的低分辨率處理測(cè)試樣例，得到低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣；
[0018]將所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0019]如果所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣的差異小于設(shè)定閾值，則確定所述待測(cè)試RIP合格；
[0020]否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0021]優(yōu)選地，所述方法還包括:
[0022]預(yù)先使用基準(zhǔn)RIP處理所述測(cè)試樣例，得到基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣；
[0023]將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣加寬一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣，以及將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣減細(xì)一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
[0024]優(yōu)選地，所述方法還包括:
[0025]預(yù)先使用所述基準(zhǔn)RIP以所述低分辨率處理所述測(cè)試樣例，得到所述基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣。
[0026]一種柵格圖像處理器測(cè)試系統(tǒng)，包括:
[0027]輪廓處理模塊，用于使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣；
[0028]輪廓比較模塊，用于將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0029]結(jié)果輸出模塊，用于在所述輪廓比較模塊的比較結(jié)果是所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣時(shí)，確定所述待測(cè)試RIP合格；否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0030]優(yōu)選地，所述輪廓比較模塊，具體用于將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含；將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
[0031 ] 優(yōu)選地，所述系統(tǒng)還包括:
[0032]灰度處理模塊，用于使用待測(cè)試RIP以設(shè)定的低分辨率處理測(cè)試樣例，得到低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣；
[0033]灰度比較模塊，用于將所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0034]所述結(jié)果輸出模塊，還用于在所述灰度比較模塊的比較結(jié)果是所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣的差異小于設(shè)定閾值時(shí)，確定所述待測(cè)試RIP合格；否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0035]優(yōu)選地，所述輪廓處理模塊，還用于預(yù)先使用基準(zhǔn)RIP處理所述測(cè)試樣例，得到基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣；將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣加寬一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣，以及將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣減細(xì)一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
[0036]優(yōu)選地，所述灰度處理模塊，還用于預(yù)先使用所述基準(zhǔn)RIP以所述低分辨率處理所述測(cè)試樣例，得到所述基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣。
[0037]本發(fā)明實(shí)施例提供的柵格圖像處理器測(cè)試方法及系統(tǒng)，將柵格圖像處理器的結(jié)果點(diǎn)陣分為輪廓點(diǎn)陣和灰度點(diǎn)陣，對(duì)于測(cè)試優(yōu)先級(jí)更高的輪廓點(diǎn)陣引入加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣來(lái)對(duì)待測(cè)試的輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行限制，從而檢測(cè)待測(cè)試的輪廓所發(fā)生的變化是否在容忍范圍之內(nèi)，大大降低了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)差異的敏感性，提高了測(cè)試人員的工作效率。進(jìn)一步地，對(duì)于測(cè)試優(yōu)先級(jí)較低的灰度點(diǎn)陣，則只需檢測(cè)是否存在圖像顯示錯(cuò)誤導(dǎo)致丟圖或顯示不全等存在明顯的灰度差異的情況即可，于是采用降低分辨率的方法使得這一處理的效率也大為提高，還防止了漏報(bào)和誤報(bào)。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0038]此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0039]圖1是本發(fā)明實(shí)施例柵格圖像處理器測(cè)試方法的流程圖；
[0040]圖2是某樣例示意圖；
[0041]圖3是某樣例在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣；
[0042]圖4是某樣例在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行畫(huà)線得到圖元的畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣；
[0043]圖5是某樣例在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行處理得到圖元的加粗輪廓點(diǎn)陣；
[0044]圖6是某樣例在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行處理得到圖元的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣；
[0045]圖7是某樣例在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣；
[0046]圖8是某樣例在待測(cè)RIPl上進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣；
[0047]圖9是某樣例在待測(cè)RIPl上進(jìn)行處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣；
[0048]圖10是某樣例在待測(cè)RIP2上進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣；
[0049]圖11是某樣例在待測(cè)RIP2上進(jìn)行處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣；
[0050]圖12是本發(fā)明實(shí)施例柵格圖像處理器測(cè)試系統(tǒng)的一種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0051]圖13是本發(fā)明實(shí)施例柵格圖像處理器測(cè)試系統(tǒng)的另一種結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0052]下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例，進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明。
[0053]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)柵格圖像處理器的自動(dòng)測(cè)試的缺點(diǎn)，本發(fā)明實(shí)施例提供一種柵格圖像處理器測(cè)試方法及系統(tǒng)，將柵格圖像處理器的結(jié)果點(diǎn)陣分為輪廓點(diǎn)陣和灰度點(diǎn)陣，對(duì)于測(cè)試優(yōu)先級(jí)更高的輪廓點(diǎn)陣引入加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣來(lái)對(duì)待測(cè)試的輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行限制，從而檢測(cè)待測(cè)試的輪廓所發(fā)生的變化是否在容忍范圍之內(nèi)，大大降低了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)差異的敏感性，提高了測(cè)試人員的工作效率。
[0054]如圖1所示，是本發(fā)明實(shí)施例柵格圖像處理器測(cè)試方法的流程圖，包括以下步驟:
[0055]步驟101，使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣；
[0056]步驟102，將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0057]具體地，可以將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含；將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
[0058]步驟103，如果所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣，則確定所述待測(cè)試RIP合格；否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0059]進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例的方法還可對(duì)測(cè)試優(yōu)先級(jí)較低的灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較，采用降低分辨率的方式，檢測(cè)是否存在圖像顯示錯(cuò)誤導(dǎo)致丟圖或顯示不全等存在明顯的灰度差異的情況。
[0060]下面對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中輪廓點(diǎn)陣及灰度點(diǎn)陣的生成及比較做進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0061]I)基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣的生成和記錄:
[0062]1.1)根據(jù)圖元輪廓描述由基準(zhǔn)RIP進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣；
[0063]1.2)根據(jù)閾值確定一個(gè)線寬；
[0064]1.3)根據(jù)圖元輪廓描述和線寬由基準(zhǔn)RIP進(jìn)行畫(huà)線得到圖元的畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣；
[0065]1.4)將填充輪廓點(diǎn)陣和畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求并運(yùn)算，得到加粗輪廓點(diǎn)陣；
[0066]1.5)將填充輪廓點(diǎn)陣和畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求差運(yùn)算，得到減細(xì)輪廓點(diǎn)陣；
[0067]1.6)將加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣記錄到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中；
[0068]2)基準(zhǔn)圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣的生成和記錄:
[0069]2.1)根據(jù)閾值確定一個(gè)較低的RIP處理分辨率；
[0070]2.2)根據(jù)圖像描述和上述分辨率由基準(zhǔn)RIP進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣；
[0071]2.3)將圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣記錄到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中；
[0072]3 )對(duì)待測(cè)RIP與基準(zhǔn)RIP的比較:
[0073]3.1)對(duì)輪廓點(diǎn)陣的比較:
[0074]3.1.1)根據(jù)圖元輪廓描述由待測(cè)RIP進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣；
[0075]3.1.2)將待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣與對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較:
[0076]3.1.2.1)將待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣與對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣完全相同，則說(shuō)明待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣被對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣完全包含在內(nèi)；否則說(shuō)明待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣未能被對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣完全包含在內(nèi)；
[0077]3.1.2.2)將待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣與對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)RIP的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與基準(zhǔn)RIP的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣完全相同，則說(shuō)明基準(zhǔn)RIP的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣被對(duì)應(yīng)的待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣完全包含在內(nèi)；否則說(shuō)明基準(zhǔn)RIP的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣未能被對(duì)應(yīng)的待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣完全包含在內(nèi)；
[0078]3.1.2.3)若待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣被對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣完全包含在內(nèi)，并且基準(zhǔn)RIP的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣被對(duì)應(yīng)的待測(cè)RIP的填充輪廓點(diǎn)陣完全包含在內(nèi)，則表示此圖元通過(guò)了輪廓點(diǎn)陣的比較測(cè)試，意味著在所設(shè)閾值的容忍度之內(nèi)可以認(rèn)為此圖元在待測(cè)RIP中的輪廓轉(zhuǎn)換處理結(jié)果與基準(zhǔn)RIP相比沒(méi)有明顯差異；否則，表示此圖元未能通過(guò)輪廓點(diǎn)陣的比較測(cè)試，需要報(bào)告相關(guān)異常信息并記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)中；
[0079]3.2)對(duì)灰度點(diǎn)陣的比較:
[0080]3.2.1)根據(jù)閾值確定一個(gè)較低的RIP處理分辨率(同2.1);
[0081]3.2.1)根據(jù)圖像描述和上述分辨率由待測(cè)RIP進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣；
[0082]3.2.2)將上述待測(cè)圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣與對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較，若兩者差異不超過(guò)閾值，則表示此圖像通過(guò)了灰度點(diǎn)陣的比較測(cè)試，意味著在所設(shè)閾值的容忍度之內(nèi)可以認(rèn)為此圖像在待測(cè)RIP中的灰度轉(zhuǎn)換處理結(jié)果與基準(zhǔn)RIP相比沒(méi)有明顯差異；否則，表示此圖像未能通過(guò)灰度點(diǎn)陣的比較測(cè)試，需要報(bào)告相關(guān)異常信息并記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)中；
[0083]由此可見(jiàn)，本發(fā)明實(shí)施例柵格圖像處理器測(cè)試方法，通過(guò)一個(gè)閾值來(lái)控制可以容忍的點(diǎn)陣差異，在閾值之內(nèi)的點(diǎn)陣差異認(rèn)為可以接受，不再報(bào)告出現(xiàn)異常，從而過(guò)濾掉細(xì)小差異，只對(duì)可能是代碼修改錯(cuò)誤產(chǎn)生的真正明顯的差異進(jìn)行異常報(bào)告，進(jìn)而達(dá)到節(jié)省人工、真正使測(cè)試人員樂(lè)于且便于使用的目的。
[0084]下面再以某樣例某頁(yè)面中的圖元描述為例，對(duì)上述處理流程作進(jìn)一步闡釋。
[0085]假設(shè)頁(yè)面中有3個(gè)圖元，分別是文字(M)、圖形(圓環(huán))和圖像(小鳥(niǎo))，其示意圖如圖2所示。
[0086]首先，在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣，如圖3所示；
[0087]然后，根據(jù)由閾值確定的線寬在基準(zhǔn)RIP上進(jìn)行畫(huà)線得到圖元的畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣，如圖4所示；
[0088]然后，將填充輪廓點(diǎn)陣和畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求并運(yùn)算，得到加粗輪廓點(diǎn)陣，如圖5所示；
[0089]然后，將填充輪廓點(diǎn)陣和畫(huà)線輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求差運(yùn)算，得到減細(xì)輪廓點(diǎn)陣，如圖6所示；
[0090]然后，將加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣記錄到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中；
[0091]同時(shí)，根據(jù)由閾值確定的低分辨率由基準(zhǔn)RIP進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣，如圖7所示，并將其記錄到基準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中；
[0092]假設(shè)有兩個(gè)不同的待測(cè)RIP，分別稱為待測(cè)RIPl和待測(cè)RIP2，相對(duì)于基準(zhǔn)RIP而言，待測(cè)RIPl所作的修改對(duì)結(jié)果影響很小，而待測(cè)RIP2所作的修改對(duì)結(jié)果影響較大；
[0093]接下來(lái)，在待測(cè)RIPl上進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣，如圖8所示；
[0094]然后，通過(guò)點(diǎn)陣求交運(yùn)算可以確定，待測(cè)RIPl的填充輪廓點(diǎn)陣既完全被基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣包含在內(nèi)，又完全將基準(zhǔn)RIP的減細(xì)輪廓點(diǎn)陣包含在內(nèi)，即它正好介于基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣之間，這就表明待測(cè)RIPl通過(guò)了輪廓點(diǎn)陣的比較測(cè)試；
[0095]接下來(lái)，在待測(cè)RIPl上根據(jù)由閾值確定的低分辨率進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣，如圖9所示；
[0096]然后，將待測(cè)RIPl的圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)RIP的圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較，其差異在閾值的容忍范圍之內(nèi)，這就表明待測(cè)RIPl也通過(guò)了灰度點(diǎn)陣的比較測(cè)試，于是，待測(cè)RIPl便通過(guò)了本樣例本頁(yè)面的比較測(cè)試，亦即驗(yàn)證了待測(cè)RIPl和基準(zhǔn)RIP相比確實(shí)差別很??；
[0097]接下來(lái)，在待測(cè)RIP2上進(jìn)行填充得到圖元的填充輪廓點(diǎn)陣，如圖10所示；
[0098]然后，通過(guò)點(diǎn)陣求交運(yùn)算可以確定，待測(cè)RIP2的填充輪廓點(diǎn)陣未能完全被基準(zhǔn)RIP的加粗輪廓點(diǎn)陣包含在內(nèi)，這就表明待測(cè)RIP2未能通過(guò)輪廓點(diǎn)陣的比較測(cè)試，于是，需要報(bào)告相關(guān)異常信息并記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)中，這也意味著待測(cè)RIP2未能通過(guò)本樣例本頁(yè)面的比較測(cè)試，亦即待測(cè)RIP2和基準(zhǔn)RIP相比確實(shí)差別較大，需要進(jìn)一步核查造成這一較大差別的原因；
[0099]最后，假如上一步待測(cè)RIP2通過(guò)了輪廓點(diǎn)陣的比較測(cè)試，那么還需要在待測(cè)RIP2上根據(jù)由閾值確定的低分辨率進(jìn)行轉(zhuǎn)換處理得到圖像的低分辨率灰度點(diǎn)陣，如圖11所示；
[0100]然后，將待測(cè)RIP2的圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)RIP的圖像低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較，其差異超出了閾值的容忍范圍，這就表明待測(cè)RIP2未能通過(guò)灰度點(diǎn)陣的比較測(cè)試，于是，需要報(bào)告相關(guān)異常信息并記錄到數(shù)據(jù)庫(kù)中，這也意味著待測(cè)RIP2未能通過(guò)本樣例本頁(yè)面的比較測(cè)試，亦即待測(cè)RIP2和基準(zhǔn)RIP相比確實(shí)差別較大，需要進(jìn)一步核查造成這一較大差別的原因。
[0101]相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種柵格圖像處理器測(cè)試系統(tǒng)，如圖12所示，該系統(tǒng)包括:
[0102]輪廓處理模塊121，用于使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣；
[0103]輪廓比較模塊122，用于將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0104]結(jié)果輸出模塊123，用于在所述輪廓比較模塊122的比較結(jié)果是所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣時(shí)，確定所述待測(cè)試RIP合格；否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0105]其中，所述輪廓比較模塊122，具體用于將測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含；將測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行求交運(yùn)算，若結(jié)果點(diǎn)陣與基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣完全相同，則確定測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
[0106]在本發(fā)明柵格圖像處理器測(cè)試系統(tǒng)的另一實(shí)施例中，如圖13所示，還進(jìn)一步包括:
[0107]灰度處理模塊131，用于使用待測(cè)試RIP以設(shè)定的低分辨率處理測(cè)試樣例，得到低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣；
[0108]灰度比較模塊132，用于將所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較；
[0109]相應(yīng)地，在該實(shí)施例中，結(jié)果輸出模塊123，還用于在所述灰度比較模塊132的比較結(jié)果是所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣的差異小于設(shè)定閾值時(shí)，確定所述待測(cè)試RIP合格；否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
[0110]需要說(shuō)明的是，上述輪廓處理模塊121還用于預(yù)先使用基準(zhǔn)RIP處理所述測(cè)試樣例，得到基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣；將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣加寬一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣，以及將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣減細(xì)一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。上述灰度處理模塊131還用于預(yù)先使用所述基準(zhǔn)RIP以所述低分辨率處理所述測(cè)試樣例，得到所述基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣。
[0111]在本發(fā)明中，加粗輪廓點(diǎn)陣和減細(xì)輪廓點(diǎn)陣的生成和比較是可調(diào)控的自動(dòng)測(cè)試柵格圖像處理器的方法及系統(tǒng)的關(guān)鍵，其算法與數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的實(shí)現(xiàn)非常精致高效，通過(guò)恰當(dāng)?shù)目刂坪驼{(diào)節(jié)，可以方便地驗(yàn)證各種容忍度下柵格圖像處理器的正確性。采用本發(fā)明的方法，能夠在很大程度上降低自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)RIP處理結(jié)果差異的敏感性，提高測(cè)試人員的工作效率，從而使得柵格圖像處理器的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在實(shí)踐中能發(fā)揮更大的作用。
[0112]需要說(shuō)明的是，由于輪廓點(diǎn)陣表示結(jié)果內(nèi)容的位置，灰度點(diǎn)陣表示結(jié)果內(nèi)容的色值，因此，在實(shí)際應(yīng)用中，可以根據(jù)測(cè)試樣例的實(shí)際情況決定是只進(jìn)行輪廓點(diǎn)陣或灰度點(diǎn)陣的比較，還是同時(shí)進(jìn)行輪廓點(diǎn)陣和灰度點(diǎn)陣的比較。比如，如果測(cè)試樣例是黑白二值圖元，不涉及灰度和色值，在這種情況下只需對(duì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較，不用對(duì)灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較；如果測(cè)試樣例只包含圖像點(diǎn)陣，不涉及輪廓和圖形，在這種情況下只需對(duì)灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較，不用對(duì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較；在其他的情況下，則都需要對(duì)兩種點(diǎn)陣進(jìn)行比較。
[0113]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，上述的本發(fā)明的各模塊或各步驟可以用通用的計(jì)算裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)，它們可以集中在單個(gè)的計(jì)算裝置上，或者分布在多個(gè)計(jì)算裝置所組成的網(wǎng)絡(luò)上，可選地，它們可以用計(jì)算裝置可執(zhí)行的程序代碼來(lái)實(shí)現(xiàn)，從而，可以將它們存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置中由計(jì)算裝置來(lái)執(zhí)行，或者將它們分別制作成各個(gè)集成電路模塊，或者將它們中的多個(gè)模塊或步驟制作成單個(gè)集成電路模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結(jié)合。
[0114]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種柵格圖像處理器測(cè)試方法，其特征在于，包括: 使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣； 將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較； 如果所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣，則確定所述待測(cè)試RIP合格； 否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較包括: 判斷所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣是否完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，以及是否完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括: 使用待測(cè)試RIP以設(shè)定的低分辨率處理測(cè)試樣例，得到低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣； 將所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較； 如果所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣的差異小于設(shè)定閾值，則確定所述待測(cè)試RIP合格； 否則，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，還包括: 預(yù)先使用基準(zhǔn)RIP處理所述測(cè)試樣例，得到基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣； 將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣加寬一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣，以及將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣減細(xì)一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，還包括: 預(yù)先使用所述基準(zhǔn)RIP以所述低分辨率處理所述測(cè)試樣例，得到所述基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣。
6.一種柵格圖像處理器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 輪廓處理模塊，用于使用待測(cè)試RIP處理測(cè)試樣例，得到測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣； 輪廓比較模塊，用于將所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣與基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣以及基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣進(jìn)行比較； 結(jié)果輸出模塊，用于在所述輪廓比較模塊的比較結(jié)果是所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，且完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣時(shí)，確定所述待測(cè)試RIP合格；否貝U，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述輪廓比較模塊，具體用于判斷所述測(cè)試圖元輪廓點(diǎn)陣是否完全被基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣包含，以及是否完全包含基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括: 灰度處理模塊，用于使用待測(cè)試RIP以設(shè)定的低分辨率處理測(cè)試樣例，得到低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣； 灰度比較模塊，用于將所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣進(jìn)行比較； 所述結(jié)果輸出模塊，還用于在所述灰度比較模塊的比較結(jié)果是所述低分辨率測(cè)試圖元灰度點(diǎn)陣與基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣的差異小于設(shè)定閾值時(shí)，確定所述待測(cè)試RIP合格；否貝U，確定所述待測(cè)試RIP不合格。
9.根據(jù)權(quán)利要求6至8任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述輪廓處理模塊，還用于預(yù)先使用基準(zhǔn)RIP處理所述測(cè)試樣例，得到基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣；將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣加寬一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)加粗輪廓點(diǎn)陣，以及將所述基準(zhǔn)輪廓點(diǎn)陣減細(xì)一個(gè)幅度得到所述基準(zhǔn)減細(xì)輪廓點(diǎn)陣。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于， 所述灰度處理模塊，還用于預(yù)先使用所述基準(zhǔn)RIP以所述低分辨率處理所述測(cè)試樣例，得到所述基準(zhǔn)低分辨率灰度點(diǎn)陣。
【文檔編號(hào)】G06F11/36GK104424091SQ201310370092
【公開(kāi)日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2013年8月22日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月22日
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